JP2000330192A - カメラ - Google Patents
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- JP2000330192A JP2000330192A JP11137208A JP13720899A JP2000330192A JP 2000330192 A JP2000330192 A JP 2000330192A JP 11137208 A JP11137208 A JP 11137208A JP 13720899 A JP13720899 A JP 13720899A JP 2000330192 A JP2000330192 A JP 2000330192A
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Abstract
ラを提供する。 【解決手段】 本発明のカメラには、光学系と、この光
学系内の光路を通過する光束を反射または透過させる光
学素子(ミラー液晶:3a)と、この光学素子に電圧を印加
することでその光学素子の反射率及び透過率を変更する
ための制御を行う光学素子制御手段(CPU:1)とが備
えられる。そしてこの光学素子制御手段は、所定の動作
(測距/測光・撮影・撮像動作)に対応してその光学素
子に印加する電圧を例えばパルス状に適宜なタイミング
で変えることで透過/非透過状態(反射状態)を制御し
て光路分割を行う。
Description
るカメラに関する。
おいては一般的な自動焦点(AF)機能付き一眼レフ(S
LR)カメラがあり、その光路分割のためにハーフミラ
ーが使われることが多くみられる。近年ではこのハーフ
ミラーとして例えば通常は反射するが電圧を印加するこ
とで透過状態に変化するような液晶素子の一種(以後こ
の素子を「ミラー液晶」と称す)が開発され、これが専
門誌Nature vol392 pp4762 Ap
ril 1998 に発表されている。
ラ分野での広い応用が充分に考えられ、その一例として
カメラの光路分割手段にも利用可能である。ただし、ハ
ーフミラーとして光学的に透過率が決まると電気的にそ
の透過率を安易には変更することができず、透過または
反射のうちの一方に光量(透過/反射光量)を多く採る
とその他方は相対的に光量(反射/透過光量)が少なく
なってしまうという欠点がある。また、カメラのファイ
ンダ系とその他の機能系(例えばAF系、AE系、撮像
系など)に光量を分割する場合はその他の機能系が動作
する時間は非常に少ないが多くの光量が必要になる場合
が多く、透過対反射のバランス設定がそのカメラの仕様
に大きい影響を与える。
ー液晶は、印加する電圧によって例えば透過率90%の
透明板の如き状態と、透過率10%で残りを反射させる
鏡板の如き状態とに機能変更が可能な液晶素子ではある
が、AF系を有する通常の自動焦点一眼レフ(AF−S
LR)カメラでは、クイックリターンミラーとして働く
メインミラーの面全体ではなく通常その中央部がハーフ
ミラーになるように設計されているため、ファインダ系
を介して被写体を見た時には実際よりもかなり暗く見
え、特に暗い状況下の被写体を観察するには充分な光が
得られず見ずらいという不具合がある。
ミラーの占める面積を拡大することによりある程度改善
されるが、しかしその分、AF系やAE系などへの光量
が減ってしまい、これでは根本的な問題解決にはなり得
ない。
メラ)にこのハーフミラーを用いた場合でも同様な不具
合が生じる。例えばファインダ系と電子撮像系とに光路
を分割するため従来のハーフミラーを採用したとして
も、ファインダ系を明るくすると電子撮像系への光量が
相対的に減少してしまう。撮像素子の感度を向上させる
にはコスト上の新たな問題が生ずる。よって現在、コス
ト上昇を招かずできるだけ明るいファインダ系をもちそ
の他の機能系の性能に悪影響を与えないカメラが求めら
れている。
いカメラ用ファインダを有するカメラを提供することに
ある。
に鑑みて成されたものであり、上記課題を解決し目的を
達成するため次のような手段を講じている。第1の本発
明によれば、光学系と、この光学系内の光路を通過する
光束を反射または透過させる光学素子と、この光学素子
に電圧を印加することにより、当該光学素子の上記光束
に対する反射率を変更する制御を行う光学素子制御手段
とを備えたことを特徴とするカメラを提案する。
と、この撮影光学系内を通過する光束で撮像する撮像手
段と、上記光束を用いて所定の検出動作を行う検出手段
と、ファインダ光学系と、この撮影光学系内を通過する
光束を上記検出手段及び上記ファインダ光学系に導くよ
うに分割する光学素子と、この光学素子に電圧を印加す
ることにより、当該光学素子の上記光束に対する反射率
及び透過率を変更する制御を行う光学素子制御手段とを
備えたことを特徴とするカメラを提案する。そして、上
記光学素子制御手段は、上記検出手段が少なくとも検出
動作をしている期間、または上記撮像手段が撮像動作を
行っている期間は、上記光学素子の上記光束に対する反
射率及び透過率を変更する制御を行うことを特徴とする
ものである。
て本発明の要旨について詳しく説明する。 (第1実施形態例)図1には、本発明の第1実施形態例
に係わる一眼レフタイプのカメラの構成図を示す。図示
の如くこの一眼レフカメラは、このカメラを統括制御す
る制御手段としてのCPU1と、撮影レンズやこのレン
ズの駆動機構、その為のアクチュエータなどを含む撮影
光学系2と、この撮影光学系2を通過した光束を分岐さ
せるための光路分割手段としてのミラーユニット3と、
例えば銀塩フィルム等が含まれそのフィルム面に露光・
撮像するための撮像手段としての撮像ユニット4と、自
動焦点機能を有する特に焦点の検出手段としてのAFユ
ニット5と、例えばペンタプリズム、接眼レンズ及びフ
ォーカシングスクリーンを含むファインダ光学ユニット
6とを備えている。
ミラーとして動くメインミラー3aおよび、光束の一部
をAFユニット5に導くサブミラー3bを一体的に有し
て、ミラー駆動機構によって2ndレリーズ操作に連動し
回動軸3cを中心にクイックリターン動作(ミラーアッ
プ)するように構成されている。このメインミラー3a
にはミラー液晶が採用され、電気的に制御可能にCPU
1に接続されている。
ーケンスプログラムの中に、ミラー液晶を電気的に制御
するための光学素子制御手段(又はミラー制御手段)と
しての所定の制御プログラムステップを含んでいる。な
おこの撮像ユニット4は、銀塩フィルムに露光する形式
のものに限らず、CCD等で撮像する形式のカメラ場合
は、画像処理回路や画像データ記憶回路(メモリ媒体)
などで構成されていてもよい。
SW、2ndレリーズSWおよびメインSW18のそれぞ
れの状態を監視しながら、所定のタイミング(詳細後
述)で各ユニット2,3,4,5,6を制御している。
特に、メインミラー3aの動作および透過/非透過(反
射)を制御できるように構成されている。つまりこのメ
インミラー3aは前述のミラー液晶で部分的に形成され
ている。詳しくは、所定の大きさのシート状のミラー液
晶を透明ガラス板で挟み込み、その電極に続くリード線
を回動軸3c付近から引き出してCPU1で制御可能に
接続する。そして印加電圧がプログラム制御可能に構成
されている。なお、このミラー液晶がメインミラー3a
に占める割合は、その一部でも全部でもよく、コスト対
効果により任意に決められる。このよう構成することに
よって、メインミラー3aの透過率を所定のタイミング
で所定の状態に変更制御できるようになっていることが
わかる。
ラは、図2(a),(b)にそれぞれ示したようなタイ
ミングで動作する。但し、図2(b)に示すタイミング
チャートは図2(a)の一変形例として後に詳しく述べ
る。
は、1stレリーズ動作から、撮影動作までの動作タイミ
ングが図示されている。1stレリーズSWがON状態に
なると、ミラー液晶にパルス性の電圧が印加され、ミラ
ーの透過率が周期的に変化して、透過状態と反射状態が
交互に繰り返される。この期間内にAF機能が働き、所
定の焦点検出動作が行われる。この期間の見せかけの透
過率は、ほぼ半分のレベルの透過率(半透過状態)を示
して、実質的にハーフミラーと等価な状態となる。
ックミラーのダウン状態はこの後、2ndレリーズSWの
ON状態になった時を継起として回動軸を中心に回動さ
れ、ミラーアップ状態となり、直進する光束で銀塩フィ
ルム面に露光される。つまり、ミラー液晶はAF検出期
間中のみハーフミラーとなることがわかる。なお、この
ミラー液晶の透過率や反射率は、周期的に印加される電
圧のパルス幅で決まる。
カメラの動作について説明する。図3に示すフローチャ
ートには、カメラ全体の動作手順(カメラシーケンス)
を示している。まずステップS10において、メモリ内
容などの初期化(イニシャライズ)処理を行う(S1
0)。
源スイッチであるメインSWがON状態であるか否かを
判定する(S20)。もし否であればステップS90に
分岐して当ルーチンを終了する。一方、メインSWがO
N状態であるとステップS30において、1stレリーズ
SWがON状態にされたか否かを判定する(S30)。
もし否(OFF状態)であれば、上記ステップS20に
戻る。一方、1stレリーズSWがON状態にされると、
ステップS40において、後述するサブルーチン「A
F」を実行する(S40)。
ズSWがON状態にされたか否かを判定し(S50)、
もし否(OFF状態)であれば上記ステップS20に戻
る。一方、1stレリーズSWがON状態にされると、続
くステップS60において、2ndレリーズSWがON状
態にされたか否かを判定する(S60)。もし否(OF
F状態)であれば、上記ステップS50に戻る。一方、
2ndレリーズSWがON状態にされると、ステップS7
0において、画像取込み動作を行う(S70)。そして
再び、前述のステップS20に戻って、一連の処理ステ
ップを繰り返す。
(AF)のタイミングの動作手順を、ミラー液晶への通
電(電圧印加)に対比して示したサブルーチン(S4
0)である。最初はミラー液晶へは通電していない状態
(OFF状態)、即ち非透過状態の反射機能をもつ状態
から当ルーチンは始まる。
の初期状態を変更してデュティ駆動する(S41)。即
ち、所定の電圧を印加することで(ON状態)、このミ
ラー液晶をハーフミラー状態(透明状態)にし、サブミ
ラー3bを経由してAFユニット5に光束を供給する。
そしてステップS42では、このミラー液晶によって分
割された光束に基づき所定のAF処理を行う(S4
2)。
の電極に対する印加電圧を遮断する(OFF状態)こと
でこのミラー液晶を初期の様な反射状態にする(S4
3)。その後、ステップS49において、前述のメイン
ルーチン「カメラシーケンス」のステップS40の次ス
テップにリターンする(S49)。
ハーフミラーとして機能するメインミラー3aを用いて
自動焦点調節(AF)を行うカメラシステムにおいて、
ハーフミラー部にミラー液晶を兼用して用い、AF動作
中にはこのミラー液晶を透過状態に制御する。ハーフミ
ラー部をミラー液晶で構成し、AF処理中には、時分割
制御にて透過/反射を交互に繰り返す。つまり、AF動
作中にはこれを実質的に半透過状態にする。
御によって、ミラー液晶はAF動作を行う期間にはハー
フミラーとして作用するので、この一眼レフカメラの光
学系はAFのためにはこのミラー液晶が反射鏡となって
光路が変えられる。この時、このミラー液晶は光路分割
手段として利用できている。
メラの光路分割手段としてミラー液晶を用いて実施した
ことで以下のメリットが得られる。すなわち、ハーフミ
ラー部を有するメインミラーにミラー液晶を応用したこ
とで、自動焦点検出の場合のみハーフミラーとして使
え、そのほかの場合では光路分割の為のミラーとして使
うことで明るいファインダを実現できる。また、透過/
反射に係わる光量を変えることができるので、AF動作
に要する時間を短くすることも可能になる。
として使うこともでき、1stレリーズ動作時のみは透過
率を更に上げることで見やすいファインダを提供できる
と同時に、2ndレリーズ動作時にファインダ内の視野を
一瞬暗くすることで露光時間の告知も可能にである。
光などを行うカメラの場合は、測光時間だけ反射機能す
ることで、通常は明るいファインダ系が実現できる。さ
らに露光タイミングを知らせる手段として透過率を任意
に変えることもできる。所望によれば、一時的なスーパ
ーインポーズも実現できる。
変形実施してもよい。例えば、 (変形例1)図2(b)に示すタイミングチャートに
は、前述の図2(a)の変形例としての動作タイミング
が例示されている。このチャートに示す如く、この変形
例の場合は、ミラー液晶に一定の電圧が印加され、ミラ
ーの透過率が変化して透過状態になる。そしてこの期間
内にAF機能が働いて焦点検出動作が行われる。この期
間の見せかけの透過率は、ほぼ100%に近い透過率を
示し、ミラーは実質的に透明な状態となる。
を発揮できる。特にこの場合は、ほぼ完全な透過状態と
なるので、良好な状態で焦点検出が行える。またこの
時、ファインダの視野は一瞬ほぼ真っ暗になるが、一
方、焦点検出は暗い被写体でも可能となり、その検出精
度も向上しやすくなるので有益である。これによっても
前述の実施形態例と同等またはそれ以上の効果が期待で
きる。また、メインミラー3a及びサブミラー3bをこ
のミラー液晶を用いてペリクルミラーとしてもよい。
2実施形態例に係わる電子撮像カメラ(ディジタルカメ
ラ)の構成を概略的に示している。このディジタルカメ
ラの構成においては、前述の第1実施形態例の構成に類
する同じ符号のユニットが在るほか、電子撮像機能を有
したカメラである故に、ミラー系(ミラーユニット1
3)と撮像系(撮像ユニット14)が次のように異な
る。
晶から成るメインミラー13aを有するもので、クイッ
クリターン機能は不要な構造(即ちミラー固定構造)の
カメラであり、光路分割機能は前述同様にCPU1によ
って電気的制御で行われるものである。また、被写体像
の撮像を電子的に行う電子撮像ユニット14は、二次元
のCCDまたはMOS等のセンサを含む撮像ユニットで
ある。
レリーズ動作からの動作タイミングが例示されている。
1stレリーズSWがON状態になると、ミラー液晶で成
るメインミラー13aにパルス性の電圧が周期的に印加
され、そのミラー液晶の透過率も周期的に変化して透過
状態と反射状態が交互に繰り返される(デュティD
x)。この期間内において、AF機能および/又はAE
機能(自動露光機能)が働き、焦点検出動作および/又
は測光動作が行われる。この期間の見せかけの透過率
は、ほぼ半分のレベルの透過率(半透過状態)を示し、
実質的にハーフミラーと同じ状態となる。
た時を継起として、今度はそのミラー液晶にデュティD
xの時とは僅かに長い周期でパルス性の電圧が印加さ
れ、ミラーの透過率が周期的に変化して透過状態と反射
状態が交互に繰り返される(デュティDy)。そしてこ
の期間内に撮像素子の積分動作が起動されて一連の撮像
が完了する。
中のみならず電子撮像中に、このミラー液晶が透明な状
態のハーフミラーとなる。そしてこの電子撮像ではより
多くの光量を二次元センサに導くことができることがわ
かる。なお、ミラー液晶の透過率や反射率は、印加する
電圧のパルス幅で決まる。さらにAF動作時と測光・撮
影時の透過・反射率は任意に変えることができ、理論的
にはまったく透明にすることも可能である。
ップ/ダウンしないディジタルカメラの「画像取込み動
作」の手順が例示されている。ただし、「カメラシーケ
ンス」の手順は、図3に例示したものと実質的に同様で
あり、画像取込みシーケンスが主に異なるのでその部分
を中心に説明する。なお、この画像取込みシーケンスも
図4の「AF」と類似している。
ステップS71において、ミラー液晶をデュティ駆動す
る。すなわち所定の電圧を電極に印加してこのミラー液
晶を透明状態にする(S71)。メインミラー13aの
透明状態にて、ステップS72では、その後方に配置さ
れた電子撮像ユニット14の二次元センサにより撮像す
ることができる(S72)。
73においては、それまでの印加電圧を遮断すること
で、このミラー液晶を初期の反射状態に戻す(S7
3)。そしてステップS79において、メインルーチン
にリターンする(S79)。
レリーズ動作からの動作タイミングを例示している。1
stレリーズSWがON状態になると、ミラー液晶には所
定の電圧Vxが印加され、ミラー液晶の透過率が変化し
透過状態および反射状態が共存して発揮される。この期
間内においては、焦点検出動作(AF機能)および/又
は測光動作(AE機能)が働く。なお、この期間におけ
るミラーの透過率は、ほぼ半分のレベルの透過率(半透
過状態)を示し、実質的にハーフミラーと同じ状態とな
る。
了すると、印加電圧はゼロとなる。また、2ndレリーズ
SWのON状態になった時を継起として、そのミラー液
晶には電圧Vxとは僅かに高い所定の電圧Vyが印加さ
れ、ミラーの透過率が変化して透過状態に極めて近くな
る。そしてこの期間内に、撮像素子の積分動作が起動さ
れて撮像が完了する。つまり、AF検出中と撮影中にお
いてこのミラー液晶はハーフミラー機能を発揮する。
加する電圧値で決まる。さらにAF時と撮影時の透過・
反射率は所望の程度に変えることができる。この例の場
合は、前述した例に比べて、撮影時(電子撮像時)では
ミラー液晶を介してより多くの光量を撮像素子に導いて
いる。
例の電子撮像カメラではミラー液晶を用い、光学素子制
御手段によって上述の如く適宜制御することによって、
撮像時に効率的な透過率を実現し、透明なガラス板を介
する如く充分な光量を撮像素子に供給する。
F処理時間が短縮できる。またAF動作期間以外ではフ
ァインダの視野が明るくできる。さらにこれは電気的な
制御なので透過/反射の変更が早い。
に要する充分な光量が得られるので、少々暗い被写体で
も鮮明に撮像することができるようになる。さらに、ミ
ラー液晶を従来のペリクルミラーの代用として使うこと
で、レリーズ時のみは透過率を上げることもでき、見や
すいファインダを提供すると同時に、ファインダ内の視
野が一瞬暗くなることで露光時間の告知も可能になり、
とかく撮像の瞬間がわかりにくいデジタルカメラには特
に有効である。さらに、撮影時以外はセンサに不要な光
が当たらないのでセンサ上で電荷があふれることを防止
できる。
次のように変形実施してもよい。例えば、撮像時の透過
率を高めに設定して、その分、感度の相対的に低い安価
な例えばCCD等の撮像素子を採用することによって、
カメラ全体のコストを押さえることも可能である。これ
により第2実施形態例と同等な性能を維持しながら良好
なコスト効果が期待できる。
のような二者択一的ではなく、その印加電圧値を徐々に
増加または減少するようなアナログ的に制御してもよい
し、所望する透明状態になるまでその値を監視しながら
増減させて調整してもよい。また、メインミラー13a
をこのミラー液晶を用いてペリクルミラーとすることも
可能である。
3実施形態例に係わる非TTL(Through The Lens)型の
ファインダ系を有する装置の構成図が示されている。フ
ァインダ光学ユニット16は、透過または反射機能を発
揮するハーフミラー(ミラー液晶)16aを含み、この
ハーフミラー16aで反射された光束に基づき、AEユ
ニット27は所定の自動露光処理を行うように、前述同
様の光学素子制御手段としてのCPU1に接続されてい
る。また、CPU1にはメインSWおよび各レリーズS
Wが接続され、それらの各スイッチの状態を監視しなが
ら、CPU1は対応する制御を行う。例えば、1stレリ
ーズ操作に伴ないミラー液晶にパルス性の電圧を所定周
期で印加することで、ファインダ光路をセンサ(光学セ
ンサ)側に分岐するように構成されている。
光学ユニット16の構成を示す。このファインダ光学ユ
ニット16には、ミラー液晶のハーフミラー16aを有
している。また、被写体像をこのファインダ系に取り込
むための凸レンズ16bと、複数プリズム要素が複合さ
れたホロプリズム16cと、ハーフミラー16aにより
分岐した光束に基づいて例えば所定の光を検知するセン
サユニット16dと、このファインダ系の接眼レンズ群
16eからこのファインダ光学ユニット16が構成され
ている。
の例における1stレリーズ動作からの動作タイミングが
示されている。1stレリーズSWがON状態になると、
ミラー液晶にパルス性の電圧が印加され、ミラーの透過
率が周期的に変化し透過状態と反射状態が交互に繰り返
される。この期間内にAE機能が働く。つまりこの場
合、AE検出中のみこのミラー液晶はハーフミラー機能
を発揮して透明に変化することがわかる。なお、ミラー
液晶の透過率や反射率は、印加する電圧のパルス幅で決
まる。
を第3実施形態例に示した非TTL型のファインダ系を
有する例えばカメラのファインダ装置にも同様に適用す
ることによって、前述した第2実施形態例とほぼ同様な
効果が得られる。また、ミラー液晶をはじめとしてこの
ファインダ装置の筐体内に必要な各ユニットをコンパク
トに収納することもでき、小型軽量で低コストに提供す
ることができる。
うに変形実施してもよい。この例を例えばAF系、補助
光発光部またはリモートコントローラに応用してもよ
い。すなわち、上記センサユニット6dは所望する用途
によって、AF系又はAE系のものでもよく、例えばカ
メラのアクティブAF機能のための赤外線発光素子を有
していてもよい。また、上記センサユニット6dは例え
ばリモートコントローラ用の補助光を発するランプで置
き換えてもよく、この用途の場合のファインダ系は発光
機能を有するアクティブユニットとして使用できる。逆
にこれを受光素子に置き換えても勿論よいし、これらを
併用してもよい。これら変形によっても、第3実施形態
例と同等な効果が期待できる。
の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能であ
る。
き本発明の要旨を説明したが、本明細書中には次の発明
が含まれている。 [1] 光学系と、この光学系内を通過する光束を反射
または透過させる光学素子と、この光学素子に電圧を印
加することにより、該光学素子の上記光束に対する反射
率及び透過率を変更する制御を行う光学素子制御手段
と、を具備するカメラを提供できる。
を通過する光束を撮像する撮像手段と、上記光束を用い
て所定の検出動作を行う検出手段と、ファインダ光学系
と、この光学系内を通過する光束を上記検出手段及び上
記ファインダ光学系に導くように分割する光学素子と、
この光学素子に電圧を印加することにより、該光学素子
の上記光束に対する反射率及び透過率を変更する制御を
行う光学素子制御手段と、を具備するカメラを提供でき
る。
ファインダ光学系であることを特徴とする[1]記載の
カメラである。 [4] 上記光学素子は、上記光学素子制御手段による
印加電圧の出力に応じて、上記光束に対する反射率の増
大に伴いその透過率が減少し、上記光束に対する反射率
の減少に伴いその透過率が増大することを特徴とする
[1]または[2]に記載のカメラを提供できる。
のための受光センサであることを特徴とする[2]に記
載のカメラである。 [6] 上記光学素子は、液晶素子であることを特徴と
する[1]または[2]記載のカメラである。
率・透過率を可変可能な液晶素子を有し、上記撮影光学
系からの光束を分割するミラー手段と、上記ミラー手段
の反射率・透過率を制御するミラー制御手段と、から構
成されるカメラを提供できる。 [8] ファインダ光学系と、電圧によって反射率・透
過率を可変可能な液晶素子を有し、上記ファインダ光学
系からの光束を分割するミラー手段と、上記ミラー手段
の反射率・透過率を制御するミラー制御手段と、から構
成されるカメラを提供できる。
光束を撮像する撮像手段と、ファインダ光学系と、電圧
によって反射率・透過率を可変可能な液晶素子を有し、
上記撮影光学系からの光束を上記撮像手段と上記ファイ
ンダ光学系とに分割するミラー手段と、上記ミラー手段
の反射率・透過率を制御するミラー制御手段と、から構
成されるカメラを提供できる。
の光束を撮像する撮像手段と、ファインダ光学系と、上
記撮像光学系の光束の一部を用いて測距する測距手段
と、電圧によって反射率・透過率を可変可能な液晶素子
を有し、撮影光学系からの光束を上記測距手段と上記フ
ァインダ光学系とに分割するミラー手段と、上記測距手
段が少なくとも測距に必要な時間のみ、上記ミラーの反
射率・透過率を可変制御するミラー制御手段と、から構
成されるカメラを提供できる。
の光束を撮像する撮像手段と、ファインダ光学系と、電
圧によって反射率・透過率を可変可能な液晶素子を有
し、上記撮影光学系からの光束を上記撮像手段と上記フ
ァインダ光学系とに分割するミラー手段と、上記撮像手
段が少なくとも撮像に関する動作を行っている時間の
み、上記ミラーの反射率・透過率を可変制御するミラー
制御手段と、から構成されるカメラを提供できる。
において、上記ミラー手段の反射率・透過率を可変する
ことを特徴とする[7]〜[11]に記載のカメラであ
る。 [13] ミラー制御手段は所定電圧パルスのパルス幅
にて、上記ミラー手段の反射率・透過率を可変すること
を特徴とする[7]〜[12]に記載のカメラである。
カメラにおいて、メインミラーにミラー液晶を用い、フ
ァインダ系とAF系およびAE系の分割するか又は、フ
ァインダ系と撮像系の分割を行うことを特徴とするカメ
ラを提供できる。
カメラにおいて、ミラーにミラー液晶を用い、ファイン
ダ光学系からの光路分岐を行い、ファインダ系とAF系
およびAE系の分割を行うことを特徴とするカメラを提
供できる。
に構成し、撮像時とAF・AE検出時で透過率または反
射率を変えることを特徴とする[15]に記載のカメラ
である。 [17] 上記ミラー液晶の透過率を可変に構成し、時
分割にて透過率または反射率を変えることを特徴とする
[15]に記載のカメラである。 [18] 上記ミラー液晶の透過率を可変に構成し、電
圧にて透過率または反射率を変えることを特徴とする
[15]に記載のカメラである。
自動焦点一眼レフカメラにおいて、メインミラー及びサ
ブミラーにミラー液晶を用いてペリクルミラーを構成す
ることを特徴とするカメラを提供できる。
自動焦点一眼レフカメラにおいて、AF動作のための光
取り入れミラー部にミラー液晶が採用されていることを
特徴とするカメラを提供できる。 [21] 上記ミラーをAF動作時のみハーフミラーに
するため、時分割的に光路分割を行うことを特徴とする
[20]に記載のカメラである。
ァインダを有するカメラを提供することができる。
レフタイプのカメラの構成図。
ングチャート、図2(b)は、図2(a)の変形例とし
てのタイミングチャート。
ャート。
ルーチンのフローチャート。
ジタルカメラの構成図。
ャート。
のフローチャート。
ャート。
TL型のファインダ系を含むカメラの構成図。
トの構成図。
グチャート。
Claims (3)
- 【請求項1】 光学系と、 この光学系内の光路を通過する光束を反射または透過さ
せる光学素子と、 この光学素子に電圧を印加することにより、当該光学素
子の上記光束に対する反射率を変更する制御を行う光学
素子制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。 - 【請求項2】 撮影光学系と、 この撮影光学系内を通過する光束で撮像する撮像手段
と、 上記光束を用いて所定の検出動作を行う検出手段と、 ファインダ光学系と、 この撮影光学系内を通過する光束を上記検出手段及び上
記ファインダ光学系に導くように分割する光学素子と、 この光学素子に電圧を印加することにより、当該光学素
子の上記光束に対する反射率及び透過率を変更する制御
を行う光学素子制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。 - 【請求項3】 上記光学素子制御手段は、 上記検出手段が少なくとも検出動作をしている期間、ま
たは上記撮像手段が撮像動作を行っている期間は、上記
光学素子の上記光束に対する反射率及び透過率を変更す
る制御を行うことを特徴とする、請求項2に記載のカメ
ラ。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008152193A (ja) * | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Nikon Corp | デジタル一眼レフカメラ |
JP2008199269A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Nikon Corp | カメラ |
CN102621777A (zh) * | 2011-01-31 | 2012-08-01 | 佳能株式会社 | 摄像设备 |
JP2013218241A (ja) * | 2012-04-12 | 2013-10-24 | Canon Inc | 撮像装置、その制御方法、および制御プログラム |
-
1999
- 1999-05-18 JP JP13720899A patent/JP4327940B2/ja not_active Expired - Fee Related
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