JP6651132B2 - 撮影装置及び撮影方法 - Google Patents

Description

本発明は、撮影装置及び撮影方法に関する。

ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサの動作モードとして、グローバルリセット方式の動作モードが知られている。グローバルリセット方式の動作モードでは、全画素の電荷が一斉にリセット（グローバルリセット）され、所定の露光制御によって蓄積された電荷が画素行毎に順次読み出し（ローリング読み出し）される。グローバルリセット方式の動作モードでは、電荷の蓄積時間が画素行毎に異なるため、（例えば、画像上部から画像下部に向かってローリング読み出しが行われる場合、垂直方向の）暗電流シェーディングが発生する。

この種の暗電流シェーディングの発生を防ぐため、ローリングリセット方式の動作モードが知られている。例えば特許文献１に、ローリングリセット方式で動作可能な撮影装置の具体的構成が記載されている。ローリングリセット方式では、各画素の蓄積電荷が画素行毎に順次リセット（ローリングリセット）され、所定の露光制御によって蓄積された各画素行の電荷がローリング読み出しされる。

特開２０１３−１７９４８８号公報

特許文献１をはじめとする従来の撮影装置では、撮影に必要な機構（絞りやミラー等）の動作が完了してからローリングリセットが開始される。そのため、ユーザによるレリーズ操作から撮影が完了するまでのタイムラグ（以下、「レリーズタイムラグ」と記す。）が大きいという問題が指摘される。

本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、暗電流シェーディングを抑制すると共にレリーズタイムラグを短く抑えるのに好適な撮影装置及び撮影方法を提供することである。

本発明の一実施形態に係る撮影装置は、蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、画素行のリセット期間中に遮蔽部材を含む複数の機構部材について撮影に必要な動作を開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、固体撮像素子及び該機構部材を制御する制御手段とを備える。

また、本発明の一実施形態に係る撮影装置は、蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、遮蔽部材を含む機構部材の動作期間中に画素行のリセットを開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、固体撮像素子及び該機構部材を制御する制御手段とを備える。

また、本発明の一実施形態において、固体撮像素子は、例えば、蓄積電荷のリセットから読み出しまでに掛かる時間が各画素行で同じである。

また、本発明の一実施形態に係る撮影装置は、固体撮像素子への入射光路を遮蔽部材で遮蔽及び遮蔽解除することによって該固体撮像素子の露光を機械的に制御するモード、及び該固体撮像素子の露光を電子的に制御するモードを含む複数のモードを有する構成としてもよい。この構成において、固体撮像素子は、複数のモードの各々で、蓄積電荷のリセットから読み出しまでに掛かる時間が各画素行で同じである。

また、本発明の一実施形態に係る撮影装置は、複数のモードの各々で同一の補正プログラム及び補正パラメータを用いて画像を補正する補正手段を備える構成としてもよい。

また、本発明の一実施形態において、遮蔽部材は、例えば、フォーカルプレーンシャッタである。この場合、上記の所定の開口状態は、先幕の走行が完了した状態である。

また、本発明の一実施形態において、機構部材は、例えば、遮蔽部材以外に、絞り部材、ミラーの少なくとも１つを含む。

また、本発明の一実施形態に係る撮影方法は、蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、該固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、を備える撮影装置で実行される方法であり、画素行のリセット期間中に遮蔽部材を含む複数の機構部材について撮影に必要な動作を開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、固体撮像素子及び該機構部材を制御するステップを含む。

また、本発明の一実施形態に係る撮影方法は、蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、該固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、を備える撮影装置で実行される方法であり、遮蔽部材を含む機構部材の動作期間中に画素行のリセットを開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、固体撮像素子及び該機構部材を制御するステップを含む。

本発明の一実施形態によれば、暗電流シェーディングを抑制すると共にレリーズタイムラグを短く抑えるのに好適な撮影装置及び撮影方法が提供される。

本発明の一実施形態に係る撮影装置の構成を示すブロック図である。 本発明の撮影動作例１の撮影シーケンスを示す図である。 本発明の撮影動作例１のフローチャートを示す図である。 本発明の撮影動作例２の撮影シーケンスを示す図である。 本発明の撮影動作例２のフローチャートを示す図である。 本発明の撮影動作例３の撮影シーケンスを示す図である。 本発明の撮影動作例３のフローチャートを示す図である。

以下、本発明の一実施形態に係る撮影装置について図面を参照しながら説明する。以下においては、本発明の一実施形態として、デジタル一眼レフカメラについて説明する。なお、撮影装置は、デジタル一眼レフカメラに限らず、例えば、ミラーレス一眼カメラ、コンパクトデジタルカメラ、ビデオカメラ、カムコーダ、タブレット端末、ＰＨＳ（Personal Handy phone System）、スマートフォン、フィーチャフォン、携帯ゲーム機など、撮影機能を有する別の形態の装置に置き換えてもよい。

［撮影装置１の構成］
図１は、本発明の一実施形態に係る撮影装置１の構成を示すブロック図である。図１に示されるように、撮影装置１は、撮影レンズ系１０（撮影レンズ１１及び１２）を備えている。撮影レンズ１１と撮影レンズ１２との間には絞り１３が配置されている。撮影レンズ系１０の後方には、ミラー１４が配置されている。ミラー１４はハーフミラーであり、ハーフミラー面が撮影レンズ系１０の光軸ＡＸに対して約４５°をなす姿勢で配置されている。

被写体からの光束（被写体光束）は、撮影レンズ系１０を透過してミラー１４に入射される。ミラー１４の後方には、ミラー１４側から順に、フォーカルプレーンシャッタ１５、固体撮像素子１６が配置されている。ミラー１４の上方には、ミラー１４側から順に、拡散板（焦点板又はピント板）１８、ペンタプリズム１７が配置されている。

ミラー１４に入射された被写体光束の一部はミラー１４により反射され、拡散板１８を介してペンタプリズム１７に入射される。拡散板１８は、固体撮像素子１６の撮像面と等価な位置に配置されている。そのため、拡散板１８には、撮影レンズ系１０を通過した被写体光束が結像する。ペンタプリズム１７は、複数の反射面を持ち、拡散板１８に結像して入射した被写体像を各反射面で反射させることで正立像とし、接眼レンズ１９に向けて射出する。接眼レンズ１９は、拡散板１８上に結像されてペンタプリズム１７により正立化された被写体像を、撮影者の観察に適する虚像に再結像する。これにより、撮影者は、接眼レンズ１９を覗くことで被写体像を観察することができる。

操作部材３２には、電源スイッチやレリーズスイッチ、撮影モードスイッチ、ズームスイッチなど、ユーザが撮影装置１を操作するために必要な各種スイッチが含まれる。ユーザにより電源スイッチが押されると、図示省略されたバッテリから撮影装置１の各種回路に電源ラインを通じて電源供給が行われる。ＣＰＵ（Central Processing Unit）３１は電源供給後、所定のメモリ領域（不図示）にアクセスして制御プログラムを読み出してワークエリアにロードし、ロードされた制御プログラムを実行することにより、撮影装置１全体の制御を行う。

ＣＰＵ３１は、固体撮像素子１６により撮像された画像に基づいて計算された測光値や測光センサ２６で測定された測光値に基づき適正露出が得られるように、絞り駆動回路２２を介して絞り１３を駆動制御する。状態表示装置３３（例えばＬＣＤ（Liquid Crystal Display））には、撮影モードやその時点での適正な露光時間、Ｆ値等が表示される。

レリーズスイッチが半押し操作されると、ＣＰＵ３１は、ＡＦ（Autofocus）センサ２５の検出結果に基づきレンズ制御回路２１を介して、光軸ＡＸ上における撮影レンズ１１と撮影レンズ１２の位置及び位置関係を制御する。これにより、撮影レンズ系１０の合焦状態が調整される。次いで、レリーズスイッチが全押し操作されると、ＣＰＵ３１は、シャッタ駆動回路２４を介してフォーカルプレーンシャッタ１５を駆動制御すると共にミラー１４をクイックリターンさせる。すなわち、ＣＰＵ３１は、フォーカルプレーンシャッタ１５の先幕走行開始直前から後幕走行終了直後の期間に限り、ミラー駆動回路２３を介してミラー１４をアップすることにより、撮影レンズ系１０の光軸ＡＸと平行な光路からミラー１４を退避させる。

撮影レンズ系１０を透過した被写体光束は、フォーカルプレーンシャッタ１５が開いている期間中、固体撮像素子１６の撮像面上で結像される。固体撮像素子１６は、例えばＣＭＯＳイメージセンサであり、撮像面上の各画素で結像した光学像を光量に応じた電荷として蓄積する。固体撮像素子１６は、蓄積された電荷をフローティングディフュージョンアンプにて電圧（ここでは「画素信号」と記す。）に変換し、変換された画素信号をＡ／Ｄ変換回路２７に出力する。Ａ／Ｄ変換回路２７は、入力された画素信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ（Digital Signal Processor）４１に出力する。

ＤＳＰ４１は、固体撮像素子１６の電荷蓄積動作及び画素信号の読み出し動作を制御すると共に、Ａ／Ｄ変換回路２７より入力される画素信号に対して所定の信号処理を施す。具体的には、ＤＳＰ４１は、Ａ／Ｄ変換回路２７より入力される画素信号に対して色補間、マトリックス演算、Ｙ／Ｃ分離等の所定の信号処理を施して輝度信号Ｙ、色差信号Ｃｂ、Ｃｒを生成し、ＪＰＥＧ（Joint Photographic Experts Group）等の所定のフォーマットで圧縮する。バッファメモリ４２は、例えば、ＤＳＰ４１による処理の実行時、処理データの一時的な保存場所として用いられる。

カードインタフェース４３のカードスロットにはメモリカード５０が着脱可能に装填される。ＤＳＰ４１は、カードインタフェース４３を介してメモリカード５０と通信可能である。ＤＳＰ４１は、生成された圧縮画像信号（撮影画像データ）をメモリカード５０（又は撮影装置１に備えられる不図示の内蔵メモリ）に保存する。

また、ＤＳＰ４１は、Ｙ／Ｃ分離後の信号に所定の信号処理を施して、フレームメモリ（不図示）にフレーム単位でバッファリングする。ＤＳＰ４１は、バッファリングされた信号を所定のタイミングで各フレームメモリから掃き出して所定のフォーマットのビデオ信号に変換し、モニタインタフェース４４を介してＬＣＤ制御回路４５に出力する。ＬＣＤ制御回路４５は、ＤＳＰ４１より入力される撮影画像データを基に液晶を変調制御すると共にバックライト４７を発光制御する。これにより、被写体の撮影画像がＬＣＤ４６の表示画面に表示される。ユーザは、適正なピントで撮影された適正な輝度のリアルタイムのスルー画をＬＣＤ４６の表示画面を通じて視認することができる。

［具体的撮影動作例］
次に、具体的撮影動作を３例説明する。撮影装置１は、何れの撮影動作例においてもローリングリセット方式で動作する。

［撮影動作例１］
図２は、本動作例１の撮影シーケンスを示す図であり、図３は、本動作例１のフローチャートを示す図である。図２（ａ）は、レリーズスイッチのオン／オフを示し、図２（ｂ）は、ミラー１４のアップ／ダウンを示し、図２（ｃ）は、絞り１３の開口状態を示し、図２（ｄ）は、後述のカウンタの状態を示し、図２（ｅ）は、フォーカルプレーンシャッタ１５の動作を示し、図２（ｆ）は、固体撮像素子１６の動作を示す。

本動作例１は、ローリングリセット時間（及びローリング読み出し時間）が機構動作時間よりも長い場合の動作例である。

ここで、ローリングリセット時間は、固体撮像素子１６においてローリングリセットが開始（最初の画素行のリセットが開始）されてから完了（最後の画素行のリセットが完了）するまでに掛かる時間である。また、ローリング読み出し時間は、固体撮像素子１６においてローリング読み出しが開始（最初の画素行の読み出しが開始）されてから完了（最後の画素行の読み出しが完了）するまでに掛かる時間である。

ローリングリセット時間とローリング読み出し時間は等しいため、電荷蓄積時間は各画素行で実質的に同じとなる。なお、本動作例１では、画像上部から画像下部に向かってローリングリセット及びローリング読み出しが行われるが、本発明はこれに限らない。別の動作例では、電荷蓄積時間が各画素行で同一であれば、他の方向や他の順序でローリングリセット及びローリング読み出しが行われてもよい。

機構動作時間は、レリーズ操作後、各種機構部材（絞り１３、ミラー１４及びフォーカルプレーンシャッタ１５）のうち少なくとも１つの動作が開始されてからこれら機構部材の全ての動作（すなわち、固体撮像素子１６の全画素への露光条件が整うまでの、撮影に必要な撮影準備動作）が完了するまでに掛かる時間である。より詳細には、機構動作時間は、ミラー１４のアップ動作、所定の絞り値に達するまでの絞り１３の動作及びフォーカルプレーンシャッタ１５の先幕の走行が完了するまでに掛かる時間である。一般に、各種機構部材の動作期間は一部が重複する。従って、機構動作時間は、各種機構部材の動作時間の単純な和ではなく、少なくとも１つの機構部材の動作が開始されてから全ての機構部材の撮影準備動作が完了するまでに掛かる時間となっている。

ローリングリセット時間及びローリング読み出し時間並びに機構動作時間は既知の値である。なお、機構動作時間は、機構の動作に掛かる理想的な時間ではなく、撮影環境や製品個体差を考慮した時間としてもよい。また、機構動作時間は、撮影条件（環境温度等）により変動することがある。そこで、温度毎の機構動作時間を予めテーブルとして保持してもよい。この場合、機構動作時間は、上記テーブルに保持された、温度センサ２８により検知されたレリーズ操作時の温度に対応する値となる。

［図３のＳ１１（レリーズ操作の判定）］
本処理ステップＳ１１では、レリーズ操作されたか否かが判定される。

［図３のＳ１２（ローリングリセットの開始）］
本処理ステップＳ１２は、処理ステップＳ１１（レリーズ操作の判定）にてレリーズ操作されたと判定された場合（Ｓ１１：ＹＥＳ）に実行される（図２（ａ）参照）。本処理ステップＳ１２では、固体撮像素子１６においてローリングリセットが開始される（図２（ｆ）参照）。

［図３のＳ１３（カウントの開始）］
本処理ステップＳ１３では、ＣＰＵ３１等に内蔵されたカウンタのカウントアップが開始される（図２（ｄ）参照）。

［図３のＳ１４（機構部材の動作開始判定）］
本処理ステップＳ１４では、機構部材の動作を開始すべきか否かが判定される。

［図３のＳ１５（機構部材の撮影準備動作の開始）］
本処理ステップＳ１５は、処理ステップＳ１４（機構部材の動作開始判定）にて機構部材の動作を開始すべきと判定された場合（Ｓ１４：ＹＥＳ）に実行される。本動作例１では、カウンタが所定値までカウントアップされた時、機構部材の動作を開始すべきと判定される。本動作例１において、カウンタの所定値は、ローリングリセット時間（又はローリング読み出し時間）から機構動作時間を差し引いた差分時間に相当する値である。すなわち、処理ステップＳ１４（機構部材の動作開始判定）では、固体撮像素子１６においてローリングリセットが開始されてから差分時間が経過した時点（図２（ｄ）参照）で機構部材の動作を開始すべきと判定される。

本処理ステップＳ１５では、機構部材の撮影準備動作が開始される。具体的には、絞り１３の可変動作が開始されると共にミラー１４のアップ動作が開始される（図２（ｂ）及び図２（ｃ）参照）。

［図３のＳ１６（絞り及びミラーの撮影準備動作の完了判定）］
本処理ステップＳ１６では、絞り１３及びミラー１４の撮影準備動作が完了したか否か、すなわち、絞り１３が所定の絞り値に達すると共にミラー１４が所定の退避位置までアップして光軸ＡＸと平行な光路から完全に退避したか否かが判定される。

［図３のＳ１７（先幕の走行開始）］
本処理ステップＳ１７は、処理ステップＳ１６（絞り及びミラーの撮影準備動作の完了判定）にて絞り１３及びミラー１４の撮影準備動作が完了したと判定された場合（Ｓ１６：ＹＥＳ）に実行される。本処理ステップＳ１７では、フォーカルプレーンシャッタ１５の先幕の走行が開始される（図２（ｅ）参照）。

固体撮像素子１６においてローリングリセットが完了するタイミングは、フォーカルプレーンシャッタ１５の先幕の走行が完了するタイミングよりも前（又は少なくとも同時）である必要がある。ここで、ローリングリセット完了から先幕走行完了までの時間が長いほど、レリーズタイムラグが長くなると共に固体撮像素子１６の電荷蓄積時間が長くなって暗電流が増加する。そこで、本動作例１では、先幕走行完了時点からローリングリセット時間（又はローリング読み出し時間）遡った時点がローリングリセットの開始時点に設定されている（図２（ｅ）及び図２（ｆ）参照）。これにより、ローリングリセット完了と同時に先幕の走行が完了するため、レリーズタイムラグが短く抑えられると共に暗電流の増加が抑制される。

なお、撮影環境や製品個体差を考慮するため、先幕走行完了時点からローリングリセット時間（又はローリング読み出し時間）よりも極僅かに長い時間遡った時点がローリングリセットの開始時点に設定されてもよい。この場合、ローリングリセット完了後、僅かな遅延時間をもって、フォーカルプレーンシャッタ１５の先幕の走行が完了する。

［図３のＳ１８（露光時間の経過判定）］
本処理ステップＳ１８では、プログラムＡＥ（Automatic Exposure）等により設定された露光時間が経過したか否かが判定される。

［図３のＳ１９（後幕の走行開始）］
本処理ステップＳ１９は、処理ステップＳ１８（露光時間の経過判定）にてプログラムＡＥ等により設定された露光時間が経過したと判定された場合（Ｓ１８：ＹＥＳ）に実行される。本処理ステップＳ１９では、フォーカルプレーンシャッタ１５の後幕の走行が開始される（図２（ｅ）参照）。

［図３のＳ２０（ミラーのダウン動作）］
本処理ステップＳ２０では、フォーカルプレーンシャッタ１５の後幕の走行が完了すると、ミラー１４が光軸ＡＸと平行な光路に挿入されて所定の初期位置に復帰（ダウン動作）されると共にローリング読み出しが行われる。

固体撮像素子１６の出力は、フォーカルプレーンシャッタ１５開放時の露光成分と電荷蓄積時間中の暗電流成分の積算値となる。本動作例１によれば、ローリングリセット方式を採用することにより、各画素行において電荷蓄積時間が同じになるため、暗電流成分が等しくなり、電荷蓄積時間の差による暗電流シェーディングが実質的に生じない。また、ローリングリセット期間と機構動作期間を一部重ねることにより、レリーズタイムラグが短く抑えられる。

［撮影動作例２］
図４は、本動作例２の撮影シーケンスを示す図であり、図５は、本動作例２のフローチャートを示す図である。図４（ａ）は、レリーズスイッチのオン／オフを示し、図４（ｂ）は、ミラー１４のアップ／ダウンを示し、図４（ｃ）は、絞り１３の開口状態を示し、図４（ｄ）は、カウンタの状態を示し、図４（ｅ）は、フォーカルプレーンシャッタ１５の動作を示し、図４（ｆ）は、固体撮像素子１６の動作を示す。

本動作例２は、ローリングリセット時間（及びローリング読み出し時間）が機構動作時間よりも短い場合の動作例である。

［図５のＳ１１１（レリーズ操作の判定）］
本処理ステップＳ１１１では、レリーズ操作されたか否かが判定される。

［図５のＳ１１２（機構部材の撮影準備動作の開始）］
本処理ステップＳ１１２は、処理ステップＳ１１１（レリーズ操作の判定）にてレリーズ操作されたと判定された場合（Ｓ１１１：ＹＥＳ）に実行される（図４（ａ）参照）。本処理ステップＳ１１２では、機構部材の撮影準備動作が開始される。具体的には、絞り１３の可変動作が開始されると共にミラー１４のアップ動作が開始される（図４（ｂ）及び図４（ｃ）参照）。

［図５のＳ１１３（カウントの開始）］
本処理ステップＳ１１３では、ＣＰＵ３１等に内蔵されたカウンタのカウントアップが開始される（図４（ｄ）参照）。

［図５のＳ１１４（ローリングリセット開始の判定）］
本処理ステップＳ１１４では、固体撮像素子１６においてローリングリセットを開始すべきか否かが判定される。

［図５のＳ１１５（ローリングリセットの開始）］
本処理ステップＳ１１５は、処理ステップＳ１１４（ローリングリセット開始の判定）にてローリングリセットを開始すべきと判定された場合（Ｓ１１４：ＹＥＳ）に実行される。本動作例２では、カウンタが所定値までカウントアップされた時、ローリングリセットを開始すべきと判定される。本動作例２において、カウンタの所定値は、機構動作時間からローリングリセット時間（又はローリング読み出し時間）を差し引いた差分時間に相当する値である。すなわち、処理ステップＳ１１４（ローリングリセット開始の判定）では、機構部材の撮影準備動作が開始されてから差分時間が経過した時点（図４（ｄ）参照）でローリングリセットを開始すべきと判定される。

本処理ステップＳ１１５では、固体撮像素子１６においてローリングリセットが開始される（図４（ｆ）参照）。

［図５のＳ１１６以降］
本動作例２の処理ステップＳ１１６〜Ｓ１２０は、本動作例１の処理ステップＳ１６〜Ｓ２０と同じであるため、その説明を省略する。本動作例２によれば、本動作例１と同様に、ローリングリセット方式を採用することにより、各画素行において電荷蓄積時間が同じになるため、暗電流成分が等しくなり、電荷蓄積時間の差による暗電流シェーディングが実質的に生じない。また、ローリングリセット期間と機構動作期間を一部重ねることにより、レリーズタイムラグが短く抑えられる。

［撮影動作例３］
図６は、本動作例３の撮影シーケンスを示す図であり、図７は、本動作例３のフローチャートを示す図である。図６（ａ）は、レリーズスイッチのオン／オフを示し、図６（ｂ）は、ミラー１４のアップ／ダウンを示し、図６（ｃ）は、絞り１３の開口状態を示し、図６（ｄ）は、カウンタの状態を示し、図６（ｅ）は、フォーカルプレーンシャッタ１５の動作を示し、図６（ｆ）は、固体撮像素子１６の動作を示す。

本動作例３は、電子シャッタを用いた場合の動作例である。図６（ｂ）に示されるように、電子シャッタモードでは、ミラー１４は、当該モード移行時にアップ動作し、当該モードが解除されるまでアップ状態を継続する。

［図７のＳ２１１（レリーズ操作の判定）］
本処理ステップＳ２１１では、レリーズ操作されたか否かが判定される。

［図７のＳ２１２（機構部材の撮影準備動作の開始）］
本処理ステップＳ２１２は、処理ステップＳ２１１（レリーズ操作の判定）にてレリーズ操作されたと判定された場合（Ｓ２１１：ＹＥＳ）に実行される（図６（ａ）参照）。本処理ステップＳ２１２では、機構部材の撮影準備動作が開始される。具体的には、絞り１３の可変動作が開始される（図６（ｃ）参照）。

［図７のＳ２１３（機構部材の撮影準備動作の完了判定）］
本処理ステップＳ２１３では、絞り１３の撮影準備動作が完了したか否か、すなわち、絞り１３が所定の絞り値に達したか否かが判定される。

［図７のＳ２１４（ローリングリセットの開始）］
本処理ステップＳ２１４は、処理ステップＳ２１３（絞りの撮影準備動作の完了判定）にて絞り１３の撮影準備動作が完了したと判定された場合（Ｓ２１３：ＹＥＳ）に実行される。本処理ステップＳ２１４では、固体撮像素子１６においてローリングリセットが開始される（図６（ｆ）参照）。

［図７のＳ２１５（露光時間の経過判定）］
本処理ステップＳ２１５では、プログラムＡＥ等により設定された露光時間が経過したか否かが判定される。

［図７のＳ２１６（ローリング読み出し）］
本処理ステップＳ２１６は、処理ステップＳ２１５（露光時間の経過判定）にてプログラムＡＥ等により設定された露光時間が経過したと判定された場合（Ｓ２１５：ＹＥＳ）に実行される。本処理ステップＳ２１６では、ローリング読み出しが行われる（図６（ｆ）参照）。

本動作例３によれば、本動作例１及び２と同様に、ローリングリセット方式を採用することにより、各画素行において電荷蓄積時間が同じになるため、暗電流成分が等しくなり、電荷蓄積時間の差による暗電流シェーディングが抑制される。

また、本実施形態によれば、メカシャッタ・電子シャッタの何れの撮影モードにおいても、ローリングリセット方式を採用することにより、電荷蓄積時間の差による暗電流シェーディングが実質的に生じない。そのため、他の要因でシェーディング（暗電流ムラ）が生じる場合であっても、メカシャッタ・電子シャッタの何れの撮影モードにおいても、同一の補正プログラムで同一の補正パラメータを用いてシェーディング補正を行うことができる。すなわち、撮影モード毎に別個の補正パラメータや補正プログラムを用意する必要が無いため、補正プログラムの簡素化、補正パラメータの作成負担の軽減、補正プログラム及び補正パラメータの保存に必要なメモリ容量の軽減等の効果が得られる。

以上が本発明の例示的な実施形態の説明である。本発明の実施形態は、上記に説明したものに限定されず、本発明の技術的思想の範囲において様々な変形が可能である。例えば明細書中に例示的に明示される実施形態等又は自明な実施形態等を適宜組み合わせた内容も本発明の実施形態に含まれる。

１ 撮影装置
１０ 撮影レンズ系
１１、１２ 撮影レンズ
１３ 絞り
１４ ミラー
１５ フォーカルプレーンシャッタ
１６ 撮像素子
１７ ペンタプリズム
１８ 拡散板
１９ 接眼レンズ
２１ レンズ制御回路
２２ 絞り駆動回路
２３ ミラー駆動回路
２４ シャッタ駆動回路
２５ ＡＦセンサ
２６ 測光センサ
２７ Ａ／Ｄ変換回路
２８ 温度センサ
３１ ＣＰＵ
３２ 操作部材
３３ 状態表示装置
４１ ＤＳＰ
４２ バッファメモリ
４３ カードインタフェース
４４ モニタインタフェース
４５ ＬＣＤ制御回路
４６ ＬＣＤ
４７ バックライト
５０ メモリカード

Claims (9)

1. 蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、
   開口状態を変化させることにより、前記固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、
   画素行のリセット期間中に前記遮蔽部材を含む複数の機構部材について撮影に必要な動作を開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、前記固体撮像素子及び該機構部材を制御する制御手段と、
   を備える、
   撮影装置。
2. 蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、
   開口状態を変化させることにより、前記固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、
   前記遮蔽部材を含む機構部材の動作期間中に画素行のリセットを開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、前記固体撮像素子及び該機構部材を制御する制御手段と、
   を備える、
   撮影装置。
3. 前記固体撮像素子は、
   蓄積電荷のリセットから読み出しまでに掛かる時間が各画素行で同じである、
   請求項１又は請求項２に記載の撮影装置。
4. 前記固体撮像素子への入射光路を前記遮蔽部材で遮蔽及び遮蔽解除することによって該固体撮像素子の露光を機械的に制御するモード、及び該固体撮像素子の露光を電子的に制御するモードを含む複数のモードを有しており、
   前記固体撮像素子は、
   前記複数のモードの各々で、蓄積電荷のリセットから読み出しまでに掛かる時間が各画素行で同じである、
   請求項１から請求項３の何れか一項に記載の撮影装置。
5. 前記複数のモードの各々で同一の補正プログラム及び補正パラメータを用いて画像を補正する補正手段
   を備える、
   請求項４に記載の撮影装置。
6. 前記遮蔽部材は、
   フォーカルプレーンシャッタであり、
   前記所定の開口状態は、
   先幕の走行が完了した状態である、
   請求項１から請求項５の何れか一項に記載の撮影装置。
7. 前記機構部材は、
   前記遮蔽部材以外に、絞り部材、ミラーの少なくとも１つを含む、
   請求項１から請求項６の何れか一項に記載の撮影装置。
8. 蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、該固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、を備える撮影装置で実行される撮影方法であって、
   画素行のリセット期間中に前記遮蔽部材を含む複数の機構部材について撮影に必要な動作を開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、前記固体撮像素子及び該機構部材を制御するステップ
   を含む、
   撮影方法。
9. 蓄積された電荷を画素行毎に順次リセット可能な固体撮像素子と、開口状態を変化させることにより、該固体撮像素子への入射光路を遮蔽及び遮蔽解除可能な遮蔽部材と、を備える撮影装置で実行される撮影方法であって、
   前記遮蔽部材を含む機構部材の動作期間中に画素行のリセットを開始すると共に、該遮蔽部材が所定の開口状態に達する前又は達すると同時に全画素行の蓄積電荷のリセットが完了するように、前記固体撮像素子及び該機構部材を制御するステップ
   を含む、
   撮影方法。

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