JP2000323273A - エレクトロルミネッセンス素子 - Google Patents
エレクトロルミネッセンス素子Info
- Publication number
- JP2000323273A JP2000323273A JP11127206A JP12720699A JP2000323273A JP 2000323273 A JP2000323273 A JP 2000323273A JP 11127206 A JP11127206 A JP 11127206A JP 12720699 A JP12720699 A JP 12720699A JP 2000323273 A JP2000323273 A JP 2000323273A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- film
- electrode
- barrier
- base material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 86
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 78
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 190
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 42
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 44
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 89
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 description 30
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 22
- -1 thiophene ring Compound Chemical class 0.000 description 22
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 20
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 20
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 19
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 18
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 18
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 17
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 15
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 14
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 14
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 14
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 14
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 13
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 11
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 11
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 10
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 10
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 10
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 10
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 8
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 8
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 7
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 7
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 6
- 239000000047 product Substances 0.000 description 6
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 6
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 5
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- KWEKXPWNFQBJAY-UHFFFAOYSA-N (dimethyl-$l^{3}-silanyl)oxy-dimethylsilicon Chemical compound C[Si](C)O[Si](C)C KWEKXPWNFQBJAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000009820 dry lamination Methods 0.000 description 4
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 4
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 4
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 4
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N acetaldehyde Diethyl Acetal Natural products CCOC(C)OCC DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 3
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- FWDBOZPQNFPOLF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(triethoxy)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)C=C FWDBOZPQNFPOLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C=C NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 3
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 3
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 3
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 2-phenylpyridine Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UJOBWOGCFQCDNV-UHFFFAOYSA-N 9H-carbazole Chemical compound C1=CC=C2C3=CC=CC=C3NC2=C1 UJOBWOGCFQCDNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N Iron oxide Chemical compound [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 2
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical group C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001241 acetals Chemical class 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 2
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- UCXUKTLCVSGCNR-UHFFFAOYSA-N diethylsilane Chemical compound CC[SiH2]CC UCXUKTLCVSGCNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UBHZUDXTHNMNLD-UHFFFAOYSA-N dimethylsilane Chemical compound C[SiH2]C UBHZUDXTHNMNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 150000002081 enamines Chemical class 0.000 description 2
- GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C=C GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- GEAWFZNTIFJMHR-UHFFFAOYSA-N hepta-1,6-diene Chemical compound C=CCCCC=C GEAWFZNTIFJMHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NEXSMEBSBIABKL-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilane Chemical compound C[Si](C)(C)[Si](C)(C)C NEXSMEBSBIABKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000007857 hydrazones Chemical class 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIUXUFNYAYAMOE-UHFFFAOYSA-N methylsilane Chemical compound [SiH3]C UIUXUFNYAYAMOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- HMMGMWAXVFQUOA-UHFFFAOYSA-N octamethylcyclotetrasiloxane Chemical compound C[Si]1(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O1 HMMGMWAXVFQUOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N oxadiazole Chemical compound C1=CON=N1 WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004866 oxadiazoles Chemical class 0.000 description 2
- PARWUHTVGZSQPD-UHFFFAOYSA-N phenylsilane Chemical compound [SiH3]C1=CC=CC=C1 PARWUHTVGZSQPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 2
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 description 2
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 2
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIDUKLCLJMXFEO-UHFFFAOYSA-N propylsilane Chemical compound CCC[SiH3] UIDUKLCLJMXFEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000003219 pyrazolines Chemical class 0.000 description 2
- PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N stilbene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C=CC1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N strontium oxide Chemical compound [O-2].[Sr+2] IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 2
- NLDYACGHTUPAQU-UHFFFAOYSA-N tetracyanoethylene Chemical compound N#CC(C#N)=C(C#N)C#N NLDYACGHTUPAQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QHGNHLZPVBIIPX-UHFFFAOYSA-N tin(ii) oxide Chemical compound [Sn]=O QHGNHLZPVBIIPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PQDJYEQOELDLCP-UHFFFAOYSA-N trimethylsilane Chemical compound C[SiH](C)C PQDJYEQOELDLCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 1,2-bis[(e)-2-phenylethenyl]benzene Chemical class C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1\C=C\C1=CC=CC=C1 NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 0.000 description 1
- SHXCHSNZIGEBFL-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzothiazole;zinc Chemical compound [Zn].C1=CC=C2SC=NC2=C1 SHXCHSNZIGEBFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RETDKIXQRINZEF-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzoxazole;zinc Chemical compound [Zn].C1=CC=C2OC=NC2=C1 RETDKIXQRINZEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 1,4,4-triphenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical class C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)=CC=C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006017 1-propenyl group Chemical group 0.000 description 1
- UIWLITBBFICQKW-UHFFFAOYSA-N 1h-benzo[h]quinolin-2-one Chemical compound C1=CC=C2C3=NC(O)=CC=C3C=CC2=C1 UIWLITBBFICQKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DWYHDSLIWMUSOO-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1h-benzimidazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NC2=CC=CC=C2N1 DWYHDSLIWMUSOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001494 2-propynyl group Chemical group [H]C#CC([H])([H])* 0.000 description 1
- XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOC(=O)C(C)=C XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KFDVPJUYSDEJTH-UHFFFAOYSA-N 4-ethenylpyridine Chemical compound C=CC1=CC=NC=C1 KFDVPJUYSDEJTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SOHCOYTZIXDCCO-UHFFFAOYSA-N 6-thiabicyclo[3.1.1]hepta-1(7),2,4-triene Chemical compound C=1C2=CC=CC=1S2 SOHCOYTZIXDCCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001148 Al-Li alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 1
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N Aniline Chemical compound NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UXYHZIYEDDINQH-UHFFFAOYSA-N C1=CNC2=C3C=NN=C3C=CC2=C1 Chemical class C1=CNC2=C3C=NN=C3C=CC2=C1 UXYHZIYEDDINQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 241000284156 Clerodendrum quadriloculare Species 0.000 description 1
- 229920000219 Ethylene vinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N Oxazole Chemical compound C1=COC=N1 ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002845 Poly(methacrylic acid) Polymers 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical class N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PJANXHGTPQOBST-VAWYXSNFSA-N Stilbene Natural products C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N Thiazole Chemical compound C1=CSC=N1 FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MBHRHUJRKGNOKX-UHFFFAOYSA-N [(4,6-diamino-1,3,5-triazin-2-yl)amino]methanol Chemical compound NC1=NC(N)=NC(NCO)=N1 MBHRHUJRKGNOKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N [Li].[Al] Chemical compound [Li].[Al] JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RMKZLFMHXZAGTM-UHFFFAOYSA-N [dimethoxy(propyl)silyl]oxymethyl prop-2-enoate Chemical compound CCC[Si](OC)(OC)OCOC(=O)C=C RMKZLFMHXZAGTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011354 acetal resin Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004448 alkyl carbonyl group Chemical group 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APLQAVQJYBLXDR-UHFFFAOYSA-N aluminum quinoline Chemical compound [Al+3].N1=CC=CC2=CC=CC=C12.N1=CC=CC2=CC=CC=C12.N1=CC=CC2=CC=CC=C12 APLQAVQJYBLXDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004369 butenyl group Chemical group C(=CCC)* 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004202 carbamide Substances 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 150000001893 coumarin derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 238000007766 curtain coating Methods 0.000 description 1
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N cyclopentadiene Chemical class C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CUIWZLHUNCCYBL-UHFFFAOYSA-N decacyclene Chemical compound C12=C([C]34)C=CC=C4C=CC=C3C2=C2C(=C34)C=C[CH]C4=CC=CC3=C2C2=C1C1=CC=CC3=CC=CC2=C31 CUIWZLHUNCCYBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 150000001983 dialkylethers Chemical class 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N dimethylbenzylamine Chemical compound CN(C)CC1=CC=CC=C1 XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- WOXXJEVNDJOOLV-UHFFFAOYSA-N ethenyl-tris(2-methoxyethoxy)silane Chemical compound COCCO[Si](OCCOC)(OCCOC)C=C WOXXJEVNDJOOLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003754 ethoxycarbonyl group Chemical group C(=O)(OCC)* 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000004672 ethylcarbonyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C(*)=O 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 1
- 125000002485 formyl group Chemical class [H]C(*)=O 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- JVZRCNQLWOELDU-UHFFFAOYSA-N gamma-Phenylpyridine Natural products C1=CC=CC=C1C1=CC=NC=C1 JVZRCNQLWOELDU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000003301 hydrolyzing effect Effects 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 150000007529 inorganic bases Chemical class 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 238000012690 ionic polymerization Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 description 1
- 150000002513 isocyanates Chemical class 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N mesitylene Substances CC1=CC(C)=CC(C)=C1 AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001827 mesitylenyl group Chemical group [H]C1=C(C(*)=C(C([H])=C1C([H])([H])[H])C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001160 methoxycarbonyl group Chemical group [H]C([H])([H])OC(*)=O 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000002808 molecular sieve Substances 0.000 description 1
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000007530 organic bases Chemical class 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000003961 organosilicon compounds Chemical class 0.000 description 1
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 1
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- DGBWPZSGHAXYGK-UHFFFAOYSA-N perinone Chemical class C12=NC3=CC=CC=C3N2C(=O)C2=CC=C3C4=C2C1=CC=C4C(=O)N1C2=CC=CC=C2N=C13 DGBWPZSGHAXYGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- FIZIRKROSLGMPL-UHFFFAOYSA-N phenoxazin-1-one Chemical compound C1=CC=C2N=C3C(=O)C=CC=C3OC2=C1 FIZIRKROSLGMPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UOMHBFAJZRZNQD-UHFFFAOYSA-N phenoxazone Natural products C1=CC=C2OC3=CC(=O)C=CC3=NC2=C1 UOMHBFAJZRZNQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920002863 poly(1,4-phenylene oxide) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000765 poly(2-oxazolines) Polymers 0.000 description 1
- 229920002006 poly(N-vinylimidazole) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000233 poly(alkylene oxides) Polymers 0.000 description 1
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001083 polybutene Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 1
- 229920000015 polydiacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 229920001289 polyvinyl ether Polymers 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- 150000004033 porphyrin derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000004032 porphyrins Chemical class 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- DNXIASIHZYFFRO-UHFFFAOYSA-N pyrazoline Chemical compound C1CN=NC1 DNXIASIHZYFFRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002943 quinolinyl group Chemical group N1=C(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012429 reaction media Substances 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical class C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001925 ruthenium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N silanol Chemical compound [SiH3]O SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003967 siloles Chemical class 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N sodium aluminosilicate Chemical compound [Na+].[Al+3].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940006186 sodium polystyrene sulfonate Drugs 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 235000021286 stilbenes Nutrition 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L strontium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Sr+2] FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001637 strontium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005017 substituted alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- GJBRNHKUVLOCEB-UHFFFAOYSA-N tert-butyl benzenecarboperoxoate Chemical compound CC(C)(C)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 GJBRNHKUVLOCEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003518 tetracenes Chemical class 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N thiadiazole Chemical compound C1=CSN=N1.C1=CSN=N1 VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- WOZZOSDBXABUFO-UHFFFAOYSA-N tri(butan-2-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].CCC(C)[O-].CCC(C)[O-].CCC(C)[O-] WOZZOSDBXABUFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 150000003852 triazoles Chemical class 0.000 description 1
- GQIUQDDJKHLHTB-UHFFFAOYSA-N trichloro(ethenyl)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)C=C GQIUQDDJKHLHTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N triethoxy(phenyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)C1=CC=CC=C1 JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNOCGWVLWPVKAO-UHFFFAOYSA-N trimethoxy(phenyl)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C1=CC=CC=C1 ZNOCGWVLWPVKAO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOCC1CO1 BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006617 triphenylamine group Chemical group 0.000 description 1
- AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N triphenylmethane Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 229920001567 vinyl ester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005050 vinyl trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐湿性に優れ信頼性の高いエレクトロルミネ
ッセンス素子を提供する。 【解決手段】 エレクトロルミネッセンス層の両面に電
極を設け、一方の電極を覆うように基材を配設し、他方
の電極を覆うように保護層を配設して積層構造体とし、
上記の基材および保護層を、バリア層を備える積層体と
することにより、エレクトロルミネッセンス素子とす
る。
ッセンス素子を提供する。 【解決手段】 エレクトロルミネッセンス層の両面に電
極を設け、一方の電極を覆うように基材を配設し、他方
の電極を覆うように保護層を配設して積層構造体とし、
上記の基材および保護層を、バリア層を備える積層体と
することにより、エレクトロルミネッセンス素子とす
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はエレクトロルミネッ
センス素子に係り、特にディスプレー装置に使用される
薄膜型のエレクトロルミネッセンス素子に関する。
センス素子に係り、特にディスプレー装置に使用される
薄膜型のエレクトロルミネッセンス素子に関する。
【0002】
【従来の技術】エレクトロルミネッセンス(EL)素子
は、自己発色による視認性の高さ、液晶ディスプレーと
異なり全固体ディスプレーであること、温度変化の影響
をあまり受けない、視野角が大きい等の利点をもってお
り、近年、ディスプレー装置の画素、および、液晶ディ
スプレーの背面光源等としての実用化が進んでいる。
は、自己発色による視認性の高さ、液晶ディスプレーと
異なり全固体ディスプレーであること、温度変化の影響
をあまり受けない、視野角が大きい等の利点をもってお
り、近年、ディスプレー装置の画素、および、液晶ディ
スプレーの背面光源等としての実用化が進んでいる。
【0003】EL素子には、無機EL素子と有機EL素
子とがある。無機EL素子は、例えば、硫化亜鉛にマン
ガンを添加した発光層の両面を強誘電体層で挟んでEL
層を構成し、このEL層の一方の面に短冊状透明電極
を、他方の面に短冊状電極を設け、短冊状透明電極側に
ガラス基板を配したような構造である。また、有機EL
素子は、例えば、アルミニウムキノリン錯体等からなる
発光層にジアミン等からなる正孔注入層を積層してEL
層を構成し、このEL層の一方の面に短冊状透明電極
を、他方の面に短冊状電極を設け、短冊状透明電極側に
ガラス基板を配したような構造である。有機EL素子と
しては、また、上記の発光層にぺリレン誘導体等からな
る電子注入層を積層したEL層を有するもの、発光層を
正孔注入層と電子注入層で挟んだ構造のEL層を有する
ものもある。
子とがある。無機EL素子は、例えば、硫化亜鉛にマン
ガンを添加した発光層の両面を強誘電体層で挟んでEL
層を構成し、このEL層の一方の面に短冊状透明電極
を、他方の面に短冊状電極を設け、短冊状透明電極側に
ガラス基板を配したような構造である。また、有機EL
素子は、例えば、アルミニウムキノリン錯体等からなる
発光層にジアミン等からなる正孔注入層を積層してEL
層を構成し、このEL層の一方の面に短冊状透明電極
を、他方の面に短冊状電極を設け、短冊状透明電極側に
ガラス基板を配したような構造である。有機EL素子と
しては、また、上記の発光層にぺリレン誘導体等からな
る電子注入層を積層したEL層を有するもの、発光層を
正孔注入層と電子注入層で挟んだ構造のEL層を有する
ものもある。
【0004】しかし、上述のような無機EL素子および
有機EL素子は、いずれも湿気による耐久性の低下が問
題となっている。例えば、外部からEL素子中に湿気が
侵入すると、動作通電による温度上昇に伴い湿気が気化
して膨張し、EL層と電極との剥離が生じる。このよう
な剥離が発生すると、電圧がEL層に印加されなくな
り、発光せずに黒点欠陥となる。
有機EL素子は、いずれも湿気による耐久性の低下が問
題となっている。例えば、外部からEL素子中に湿気が
侵入すると、動作通電による温度上昇に伴い湿気が気化
して膨張し、EL層と電極との剥離が生じる。このよう
な剥離が発生すると、電圧がEL層に印加されなくな
り、発光せずに黒点欠陥となる。
【0005】このような問題を解消するために、防湿シ
ートと吸湿シートによりEL層と電極を覆うような構造
のEL素子(特開平2−24992号)、ゾル−ゲル法
により有機金属化合物から合成された高分子量化ゾルを
バインダーとして使用することにより耐湿性を向上させ
たEL素子(特開平2−33888号)、電極上に吸水
性樹脂フィルムと防湿性樹脂フィルムを積層した構造の
EL素子(特開平2−260388号)、EL層と電極
をフッ素系高分子薄膜によって被覆した構造のEL素子
(特開平4−355096号)等が提案されている。
ートと吸湿シートによりEL層と電極を覆うような構造
のEL素子(特開平2−24992号)、ゾル−ゲル法
により有機金属化合物から合成された高分子量化ゾルを
バインダーとして使用することにより耐湿性を向上させ
たEL素子(特開平2−33888号)、電極上に吸水
性樹脂フィルムと防湿性樹脂フィルムを積層した構造の
EL素子(特開平2−260388号)、EL層と電極
をフッ素系高分子薄膜によって被覆した構造のEL素子
(特開平4−355096号)等が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来のEL素子は、湿気による問題を完全には排
除しきれていない、あるいは、製造が煩雑であったり、
製造コストが高い等の問題があった。
ような従来のEL素子は、湿気による問題を完全には排
除しきれていない、あるいは、製造が煩雑であったり、
製造コストが高い等の問題があった。
【0007】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、耐湿性に優れ信頼性の高いエレクトロル
ミネッセンス素子を提供することを目的とする。
たものであり、耐湿性に優れ信頼性の高いエレクトロル
ミネッセンス素子を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、エレクトロルミネッセンス素子の第1の発明
は、エレクトロルミネッセンス層と、該エレクトロルミ
ネッセンス層の両面に設けられた電極と、一方の電極を
覆うように配設された基材と、他方の電極を覆うように
配設された保護層とからなる積層構造体を有し、前記基
材および前記保護層はバリア層を備える積層体であるよ
うな構成とした。
るために、エレクトロルミネッセンス素子の第1の発明
は、エレクトロルミネッセンス層と、該エレクトロルミ
ネッセンス層の両面に設けられた電極と、一方の電極を
覆うように配設された基材と、他方の電極を覆うように
配設された保護層とからなる積層構造体を有し、前記基
材および前記保護層はバリア層を備える積層体であるよ
うな構成とした。
【0009】エレクトロルミネッセンス素子の第2の発
明は、エレクトロルミネッセンス層と、該エレクトロル
ミネッセンス層の両面に設けられた電極と、一方の電極
を覆うように配設された基材と、他方の電極を覆うよう
に配設された保護層とからなる積層構造体を有し、バリ
ア層を備えたバリアフィルムにより前記積層構造体が被
覆されているような構成とした。
明は、エレクトロルミネッセンス層と、該エレクトロル
ミネッセンス層の両面に設けられた電極と、一方の電極
を覆うように配設された基材と、他方の電極を覆うよう
に配設された保護層とからなる積層構造体を有し、バリ
ア層を備えたバリアフィルムにより前記積層構造体が被
覆されているような構成とした。
【0010】また、第2の発明のエレクトロルミネッセ
ンス素子において、前記基材および前記保護層の少なく
とも一方がバリア層を備える積層フィルムであるような
構成とした。
ンス素子において、前記基材および前記保護層の少なく
とも一方がバリア層を備える積層フィルムであるような
構成とした。
【0011】上記のような本発明では、バリア層が水蒸
気の透過を確実に防止するので、エレクトロルミネッセ
ンス素子の内部は湿気を排除した状態に保たれる。
気の透過を確実に防止するので、エレクトロルミネッセ
ンス素子の内部は湿気を排除した状態に保たれる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【0013】第1の発明 図1は、エレクトロルミネッセンス(EL)素子の第1
の発明の一例を示す概略断面図である。図1において、
EL素子1は、EL層3の両面に所定のパターンで設け
られた電極4,5と、一方の電極4を覆うように配設さ
れた基材6と、他方の電極5を覆うように配設された保
護層7とからなる積層構造体2を備えるものである。そ
して、基材6はバリア層6aを中間層として備える積層
体であり、保護層7はバリア層7aを中間層として備え
る積層体である。
の発明の一例を示す概略断面図である。図1において、
EL素子1は、EL層3の両面に所定のパターンで設け
られた電極4,5と、一方の電極4を覆うように配設さ
れた基材6と、他方の電極5を覆うように配設された保
護層7とからなる積層構造体2を備えるものである。そ
して、基材6はバリア層6aを中間層として備える積層
体であり、保護層7はバリア層7aを中間層として備え
る積層体である。
【0014】また、図2は、EL素子の第1の発明の他
の例を示す概略断面図である。図2において、EL素子
11は、EL層13の両面に所定のパターンで設けられ
た電極14,15と、一方の電極14を覆うように配設
された基材16と、他方の電極15を覆うように配設さ
れた保護層17とからなる積層構造体12を備えるもの
である。そして、基材16は電極14との界面に位置す
るバリア層16aを備えた積層体であり、保護層17は
電極15との界面に位置するバリア層17aを備えた積
層体である。
の例を示す概略断面図である。図2において、EL素子
11は、EL層13の両面に所定のパターンで設けられ
た電極14,15と、一方の電極14を覆うように配設
された基材16と、他方の電極15を覆うように配設さ
れた保護層17とからなる積層構造体12を備えるもの
である。そして、基材16は電極14との界面に位置す
るバリア層16aを備えた積層体であり、保護層17は
電極15との界面に位置するバリア層17aを備えた積
層体である。
【0015】上述のEL素子1,11は、いずれもEL
層3,13における発光を基材6,16側から視認する
例である。
層3,13における発光を基材6,16側から視認する
例である。
【0016】以下に、上述のEL素子1,11の構成部
材を説明する。 [EL層]上述のEL素子1,11を構成するEL層
3,13は、発光層のみの単層でもよいが、正孔輸送
層、正孔注入層、電子輸送層、電子注入層等を、例え
ば、下記のように組み合わせた多層構成であってもよ
い。尚、正孔輸送層、正孔注入層、電子輸送層、電子注
入層等の各層は、単層構造、多層構造いずれであっても
よい。 (アノード電極)/正孔注入層/発光層/(カソード電
極) (アノード電極)/発光層/電子注入層/(カソード電
極) (アノード電極)/正孔注入層/発光層/電子注入層/
(カソード電極)
材を説明する。 [EL層]上述のEL素子1,11を構成するEL層
3,13は、発光層のみの単層でもよいが、正孔輸送
層、正孔注入層、電子輸送層、電子注入層等を、例え
ば、下記のように組み合わせた多層構成であってもよ
い。尚、正孔輸送層、正孔注入層、電子輸送層、電子注
入層等の各層は、単層構造、多層構造いずれであっても
よい。 (アノード電極)/正孔注入層/発光層/(カソード電
極) (アノード電極)/発光層/電子注入層/(カソード電
極) (アノード電極)/正孔注入層/発光層/電子注入層/
(カソード電極)
【0017】また、発光波長を調整したり、発光効率を
向上させる等の目的で、上記の各層に適当な材料をドー
ピングすることもできる。
向上させる等の目的で、上記の各層に適当な材料をドー
ピングすることもできる。
【0018】EL層3,13の各層に用いる発色材料、
ドーピング材料、正孔輸送材料、正孔注入材料、電子注
入材料等は、下記に例示するような無機材料、有機材料
いずれでもよい。また、EL層3,13の各層は、蒸
着、スパッタリング等の真空成膜法、あるいは、上記材
料を用いた塗布液を塗布、乾燥する方法により成膜する
ことができ、湿気の排除と膜厚の均一性の点から、真空
成膜法が好ましい。
ドーピング材料、正孔輸送材料、正孔注入材料、電子注
入材料等は、下記に例示するような無機材料、有機材料
いずれでもよい。また、EL層3,13の各層は、蒸
着、スパッタリング等の真空成膜法、あるいは、上記材
料を用いた塗布液を塗布、乾燥する方法により成膜する
ことができ、湿気の排除と膜厚の均一性の点から、真空
成膜法が好ましい。
【0019】(発色材料) 色素系発色材料 シクロペンタジエン誘導体、テトラフェニルブタジエン
誘導体、トリフェニルアミン誘導体、オキサジアゾール
誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルベンゼン
誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体、シロール誘導
体、チオフェン環化合物、ピリジン環化合物、ペリノン
誘導体、ペリレン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、ト
リフマニルアミン誘導体、オキサジアゾールダイマー、
ピラゾリンダイマー等が挙げられる。
誘導体、トリフェニルアミン誘導体、オキサジアゾール
誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルベンゼン
誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体、シロール誘導
体、チオフェン環化合物、ピリジン環化合物、ペリノン
誘導体、ペリレン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、ト
リフマニルアミン誘導体、オキサジアゾールダイマー、
ピラゾリンダイマー等が挙げられる。
【0020】金属錯体系発色材料 アルミキノリノール錯体、ベンゾキノリノールベリリウ
ム錯体、ベンゾオキサゾール亜鉛錯体、ベンゾチアゾー
ル亜鉛錯体、アゾメチル亜鉛錯体、ポリフィリン亜鉛錯
体、ユーロピウム錯体等、中心金属にAl、Zn、Be
等、または、Tb、Eu、Dy等の希土類金属を有し、
配位子にオキサジアゾール、チアジアゾール、フェニル
ピリジン、フェニルベンゾイミダゾール、キノリン構造
等を有する金属錯体が挙げられる。
ム錯体、ベンゾオキサゾール亜鉛錯体、ベンゾチアゾー
ル亜鉛錯体、アゾメチル亜鉛錯体、ポリフィリン亜鉛錯
体、ユーロピウム錯体等、中心金属にAl、Zn、Be
等、または、Tb、Eu、Dy等の希土類金属を有し、
配位子にオキサジアゾール、チアジアゾール、フェニル
ピリジン、フェニルベンゾイミダゾール、キノリン構造
等を有する金属錯体が挙げられる。
【0021】高分子系発色材料 ポリパラフェニレンビニレン錯体、ポリチオフェン錯
体、ポリパラフェニレン錯体、ポリシラン錯体、ポリア
セチレン錯体、ポリビニルカルバゾール、ポリフルオレ
ン錯体等が挙げられる。
体、ポリパラフェニレン錯体、ポリシラン錯体、ポリア
セチレン錯体、ポリビニルカルバゾール、ポリフルオレ
ン錯体等が挙げられる。
【0022】(ドーピング材料)ペリレン誘導体、クマ
リン誘導体、ルブレン誘導体、キナクリドン誘導体、ス
クアリウム誘導体、ポリフィリン誘導体、スチリル系色
素、テトラセン誘導体、ピラゾリン誘導体、デカシクレ
ン、フェノキサゾン等が挙げられる。
リン誘導体、ルブレン誘導体、キナクリドン誘導体、ス
クアリウム誘導体、ポリフィリン誘導体、スチリル系色
素、テトラセン誘導体、ピラゾリン誘導体、デカシクレ
ン、フェノキサゾン等が挙げられる。
【0023】(正孔輸送材料)オキサジアゾール系、オ
キサゾール系、トリアゾール系、チアゾール系、トリフ
ェニルメタン系、スチリル系、ピラゾリン系、ヒドラゾ
ン系、芳香族アミン系、カルバゾール系、ポリビニルカ
ルバゾール系、スチルベン系、エナミン系、アジン系、
トリフェニルアミン系、ブタジエン系、多環芳香族化合
物系、スチルベン二量体等が挙げられる。
キサゾール系、トリアゾール系、チアゾール系、トリフ
ェニルメタン系、スチリル系、ピラゾリン系、ヒドラゾ
ン系、芳香族アミン系、カルバゾール系、ポリビニルカ
ルバゾール系、スチルベン系、エナミン系、アジン系、
トリフェニルアミン系、ブタジエン系、多環芳香族化合
物系、スチルベン二量体等が挙げられる。
【0024】また、π共役系高分子として、ポリアセチ
レン、ポリジアセチレン、ポリ(P−フェニレン)、ポ
リ(P−フェニレンスルフィド)、ポリ(P−フェニレ
ンオキシド)、ポリ(1,6−ヘプタジエン)、ポリ
(P−フェニレンビニレン)、ポリ(2,5−チエニレ
ン)、ポリ(2,5−ピロール)、ポリ(m−フェニレ
ンスルフィド)、ポリ(4,4′−ビフェニレン)等が
挙げられる。
レン、ポリジアセチレン、ポリ(P−フェニレン)、ポ
リ(P−フェニレンスルフィド)、ポリ(P−フェニレ
ンオキシド)、ポリ(1,6−ヘプタジエン)、ポリ
(P−フェニレンビニレン)、ポリ(2,5−チエニレ
ン)、ポリ(2,5−ピロール)、ポリ(m−フェニレ
ンスルフィド)、ポリ(4,4′−ビフェニレン)等が
挙げられる。
【0025】また、電荷移動高分子錯体として、ポリス
チレン・AgC104、ポリビニルナフタレン・TCN
E、ポリビニルナフタレン・P−CA、ポリビニルナフ
タレン・DDQ、ポリビニルメシチレン・TCNE、ポ
リナフタアセチレン・TCNE、ポリビニルアントラセ
ン・Br2、ポリビニルアントラセン・I2、ポリビニ
ルアントラセン・TNB、ポリジメチルアミノスチレン
・CA、ポリビニルイミダゾール・CQ、ポリ−P−フ
ェニレン・I2、ポリ−1−ビニルピリジン・I2、ポ
リ−4−ビニルピリジン・I2、ポリ−P−1−フェニ
レン・I2、ポリビニルピリジウム・TCNQ等が挙げ
られ、さらに、電荷移動低分子錯体として、TCNQ−
TTF等が、高分子金属錯体としては、ポリ銅フタロシ
アニン等が挙げられる。
チレン・AgC104、ポリビニルナフタレン・TCN
E、ポリビニルナフタレン・P−CA、ポリビニルナフ
タレン・DDQ、ポリビニルメシチレン・TCNE、ポ
リナフタアセチレン・TCNE、ポリビニルアントラセ
ン・Br2、ポリビニルアントラセン・I2、ポリビニ
ルアントラセン・TNB、ポリジメチルアミノスチレン
・CA、ポリビニルイミダゾール・CQ、ポリ−P−フ
ェニレン・I2、ポリ−1−ビニルピリジン・I2、ポ
リ−4−ビニルピリジン・I2、ポリ−P−1−フェニ
レン・I2、ポリビニルピリジウム・TCNQ等が挙げ
られ、さらに、電荷移動低分子錯体として、TCNQ−
TTF等が、高分子金属錯体としては、ポリ銅フタロシ
アニン等が挙げられる。
【0026】正孔輸送材料としては、イオン化ポテンシ
ャルの小さい材料が好ましく、特に、ブタジエン系、エ
ナミン系、ヒドラゾン系、トリフェニルアミン系が好ま
しい。
ャルの小さい材料が好ましく、特に、ブタジエン系、エ
ナミン系、ヒドラゾン系、トリフェニルアミン系が好ま
しい。
【0027】(正孔注入材料)フェニルアミン系、スタ
ーバースト型アミン系、フタロシアニン系、酸化バナジ
ウム、酸化モリブデン、酸化ルテニウム、酸化アルミニ
ウム等の酸化物、アモルファスカーボン、ポリアニリ
ン、ポリチオフェン誘導体等が挙げられる。
ーバースト型アミン系、フタロシアニン系、酸化バナジ
ウム、酸化モリブデン、酸化ルテニウム、酸化アルミニ
ウム等の酸化物、アモルファスカーボン、ポリアニリ
ン、ポリチオフェン誘導体等が挙げられる。
【0028】(電子注入材料)アルミリチウム、フッ化
リチウム、ストロンチウム、酸化マグネシウム、フッ化
マグネシウム、フッ化ストロンチウム、フッ化カルシウ
ム、フッ化バリウム、酸化アルミニウム、酸化ストロン
チウム、酸化カルシウム、ポリメチルメタクリレート、
ポリスチレンスルホン酸ナトリウム等が挙げられる。
リチウム、ストロンチウム、酸化マグネシウム、フッ化
マグネシウム、フッ化ストロンチウム、フッ化カルシウ
ム、フッ化バリウム、酸化アルミニウム、酸化ストロン
チウム、酸化カルシウム、ポリメチルメタクリレート、
ポリスチレンスルホン酸ナトリウム等が挙げられる。
【0029】[電極]電極4,14はアノード電極また
はカソード電極であり、これに対応して、電極5,15
はカソード電極またはアノード電極となる。アノード電
極としては、正孔を注入し易いように仕事関数の大きい
導電性材料が好ましく、逆にカソード電極としては、電
子を注入し易いように仕事関数の小さい導電性材料が好
ましい。また、電極4,5および電極14,15は、複
数の導電材料を組み合わせて形成してもよい。ただし、
いずれの電極も、電気抵抗はできるだけ小さいものが好
ましく、一般には、金属材料が用いられるが、有機物あ
るいは無機化合物を用いてもよい。具体的には、酸化イ
ンジウムスズ(ITO)、酸化インジウム、酸化亜鉛、
酸化第2スズ、金、ポリアニリン、マグネシウム合金
(MgAg等)、アルミニウム合金(AlLi、AlC
a、AlMg等)、金属カルシウム等の、従来公知の材
料を挙げることができる。
はカソード電極であり、これに対応して、電極5,15
はカソード電極またはアノード電極となる。アノード電
極としては、正孔を注入し易いように仕事関数の大きい
導電性材料が好ましく、逆にカソード電極としては、電
子を注入し易いように仕事関数の小さい導電性材料が好
ましい。また、電極4,5および電極14,15は、複
数の導電材料を組み合わせて形成してもよい。ただし、
いずれの電極も、電気抵抗はできるだけ小さいものが好
ましく、一般には、金属材料が用いられるが、有機物あ
るいは無機化合物を用いてもよい。具体的には、酸化イ
ンジウムスズ(ITO)、酸化インジウム、酸化亜鉛、
酸化第2スズ、金、ポリアニリン、マグネシウム合金
(MgAg等)、アルミニウム合金(AlLi、AlC
a、AlMg等)、金属カルシウム等の、従来公知の材
料を挙げることができる。
【0030】電極4,14はアノード電極、カソード電
極いずれであってもよいが、EL層3,13からの発光
の基材6,16側への透過率を良好とするために、IT
O、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化第2スズ等の導電
材料を用いて、蒸着、スパッタリング等の真空成膜法に
より形成した透明電極とする。尚、電極5,15は、蒸
着、スパッタリング等の真空成膜法、めっき法、印刷法
等、いずれの方法でも形成することができるが、湿気排
除の点から、真空成膜法がこのましい。
極いずれであってもよいが、EL層3,13からの発光
の基材6,16側への透過率を良好とするために、IT
O、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化第2スズ等の導電
材料を用いて、蒸着、スパッタリング等の真空成膜法に
より形成した透明電極とする。尚、電極5,15は、蒸
着、スパッタリング等の真空成膜法、めっき法、印刷法
等、いずれの方法でも形成することができるが、湿気排
除の点から、真空成膜法がこのましい。
【0031】電極4,5および電極14,15の形状
は、EL素子1,11の使用目的等に応じて、短冊状の
パターン電極、面電極等、適宜設定することができる。
は、EL素子1,11の使用目的等に応じて、短冊状の
パターン電極、面電極等、適宜設定することができる。
【0032】また、電極4,5および電極14,15の
厚みは、真空成膜法により形成した場合、10〜100
0nm、塗布方法により形成した場合、0.05〜20
μm程度の範囲で設定することができる。
厚みは、真空成膜法により形成した場合、10〜100
0nm、塗布方法により形成した場合、0.05〜20
μm程度の範囲で設定することができる。
【0033】[基材]上述のEL素子1を構成する基材
6は、バリア層6aを中間層として備え、外側に基材層
6b、内側に基材層6cを備える積層体である。また、
上述のEL素子11を構成する基材16は、バリア層1
6aと基材層16bとの積層体であり、電極14との界
面にバリア層16aが位置するものである。
6は、バリア層6aを中間層として備え、外側に基材層
6b、内側に基材層6cを備える積層体である。また、
上述のEL素子11を構成する基材16は、バリア層1
6aと基材層16bとの積層体であり、電極14との界
面にバリア層16aが位置するものである。
【0034】(基材のバリア層)バリア層6a,16a
は、室温40℃、相対湿度100%での水蒸気透過度が
2.0g/m2・day・atm以下、室温25℃、相
対湿度90%での酸素透過度が2.0cc/m2・da
y・atm以下の透明なバリア層であり、具体例とし
て、下記の〜のバリア層を挙げることができる。
は、室温40℃、相対湿度100%での水蒸気透過度が
2.0g/m2・day・atm以下、室温25℃、相
対湿度90%での酸素透過度が2.0cc/m2・da
y・atm以下の透明なバリア層であり、具体例とし
て、下記の〜のバリア層を挙げることができる。
【0035】 無機(酸化)物薄膜と無機酸化物を含
む被覆層との積層バリア層 気相成長法により成膜された無機物あるいは無機酸化物
からなる薄膜層と、下記の一般式(1)で表される珪素
化合物の加水分解による重縮合物を少なくとも含む塗料
を塗布し成膜された被覆層と、の積層薄膜をバリア層と
することができる。 R′SiR3 … (1) (上記一般式(1)において、R′は加水分解に対して
安定で、熱および/または電離放射線の照射により重合
可能な基、RはOH基および/または加水分解を受けや
すい基)
む被覆層との積層バリア層 気相成長法により成膜された無機物あるいは無機酸化物
からなる薄膜層と、下記の一般式(1)で表される珪素
化合物の加水分解による重縮合物を少なくとも含む塗料
を塗布し成膜された被覆層と、の積層薄膜をバリア層と
することができる。 R′SiR3 … (1) (上記一般式(1)において、R′は加水分解に対して
安定で、熱および/または電離放射線の照射により重合
可能な基、RはOH基および/または加水分解を受けや
すい基)
【0036】上記の無機物あるいは無機酸化物からなる
膜層は、化学気相蒸着(CVD)法、物理気相蒸着(P
VD)法により成膜することができる。
膜層は、化学気相蒸着(CVD)法、物理気相蒸着(P
VD)法により成膜することができる。
【0037】CVD法により成膜する場合に使用するモ
ノマーガスとしては、1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン、ヘキサメチルジシロキサン、ビニルトリメチルシ
ラン、メチルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラ
ン、メチルシラン、ジメチルシラン、トリメチルシラ
ン、ジエチルシラン、プロピルシラン、フェニルシラ
ン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシ
ラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、
フェニルトリエトキシシラン、メチルトリエトキシシラ
ン、オクタメチルシクロテトラシロキサン等を挙げるこ
とができ、特に1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、
ヘキサメチルジシロキサンが好ましく用いられる。
ノマーガスとしては、1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン、ヘキサメチルジシロキサン、ビニルトリメチルシ
ラン、メチルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラ
ン、メチルシラン、ジメチルシラン、トリメチルシラ
ン、ジエチルシラン、プロピルシラン、フェニルシラ
ン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシ
ラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、
フェニルトリエトキシシラン、メチルトリエトキシシラ
ン、オクタメチルシクロテトラシロキサン等を挙げるこ
とができ、特に1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、
ヘキサメチルジシロキサンが好ましく用いられる。
【0038】CVD法により形成する薄膜は、珪素酸化
物SiOxを主体とする連続薄膜であり、透明性の点か
らSiOx(X=1.3〜2.0)である薄膜が好まし
い。また、この薄膜の厚みは400Å以下、好ましくは
100〜250Å程度である。
物SiOxを主体とする連続薄膜であり、透明性の点か
らSiOx(X=1.3〜2.0)である薄膜が好まし
い。また、この薄膜の厚みは400Å以下、好ましくは
100〜250Å程度である。
【0039】一方、PVD法により薄膜を形成する場
合、蒸着材料として酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化
マグネシウム、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化
ジルコニウム、酸化鉄等の金属酸化物を使用することが
でき、蒸着方法としては、真空蒸着、イオンプレーティ
ング、スパッタリング、イオンクラスタビーム等が挙げ
られる。また、蒸着材料の加熱方式として、抵抗加熱、
高周波誘導加熱、エレクトロンビーム(EB)加熱等が
挙げられる。さらに、上記の蒸着材料を直接加熱して蒸
着膜を成膜する他に、加熱蒸発させた蒸着材料を気相あ
るいはプラズマ気相中で酸素ガスと反応させる、反応性
蒸着法により薄膜を形成してもよい。
合、蒸着材料として酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化
マグネシウム、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化
ジルコニウム、酸化鉄等の金属酸化物を使用することが
でき、蒸着方法としては、真空蒸着、イオンプレーティ
ング、スパッタリング、イオンクラスタビーム等が挙げ
られる。また、蒸着材料の加熱方式として、抵抗加熱、
高周波誘導加熱、エレクトロンビーム(EB)加熱等が
挙げられる。さらに、上記の蒸着材料を直接加熱して蒸
着膜を成膜する他に、加熱蒸発させた蒸着材料を気相あ
るいはプラズマ気相中で酸素ガスと反応させる、反応性
蒸着法により薄膜を形成してもよい。
【0040】PVD法により形成する薄膜の厚みは、1
00〜1000Å、好ましくは、200〜500Å程度
である。
00〜1000Å、好ましくは、200〜500Å程度
である。
【0041】被覆層について、上記の一般式(1)の基
R′としては、例えば、下記のエポキシ原子団、炭素二
重結合を含む基を挙げることができる。 ・エポキシ原子団 : グリシジルオキシアルキル基、
特にアルキル部に1〜4個の炭素原子団をもつ基であ
り、特に好ましい例として、γ−グリシジルオキシプロ
ピルが挙げられる。 炭素二重結合を含む基 : 選択的に置換したアルケニ
ル基およびアルキニル基であり、例えば、2〜20個、
好ましくは2〜10個の炭素原子、および少なくとも1
つの炭素二重結合をもつ直鎖または環状基で、特にビニ
ル、1−および2−プロペニル、ブテニル、イソブテニ
ル、スチレルおよびプロパルギルのような低級アルケニ
ル基、およびアルキニル基、あるいは、メタクリルまた
はアクリル基を含む原子団が特に好ましい。
R′としては、例えば、下記のエポキシ原子団、炭素二
重結合を含む基を挙げることができる。 ・エポキシ原子団 : グリシジルオキシアルキル基、
特にアルキル部に1〜4個の炭素原子団をもつ基であ
り、特に好ましい例として、γ−グリシジルオキシプロ
ピルが挙げられる。 炭素二重結合を含む基 : 選択的に置換したアルケニ
ル基およびアルキニル基であり、例えば、2〜20個、
好ましくは2〜10個の炭素原子、および少なくとも1
つの炭素二重結合をもつ直鎖または環状基で、特にビニ
ル、1−および2−プロペニル、ブテニル、イソブテニ
ル、スチレルおよびプロパルギルのような低級アルケニ
ル基、およびアルキニル基、あるいは、メタクリルまた
はアクリル基を含む原子団が特に好ましい。
【0042】また、一般式(1)における基Rは、例え
ば、水素、ハロゲン、アルコキシ、ヒドロキシル、アル
キルカルボニルであり、より具体的には、メトキシ、エ
トキシ、n−プロポキシ、i−プロポキシ、n−ブトキ
シ、sec−ブトキシ、tert−ブトキシ、イソブト
キシ、β−メトキシエトキシ、アセチルオキシ、プロピ
オニルオキシ、モノメチルアミノ、モノエチルアミノ、
ジメチルアミノ、ジエチルアミノ、N−エチルアニリ
ノ、メチルカルボニル、エチルカルボニル、メトキシカ
ルボニル、エトキシカルボニル等が挙げられる。一般式
(1)の基Rは、最終生成物の中には存在せず、加水分
解により失われ、その加水分解生成物も、直ちに、ある
いは、後に適当な方法で除去しなけらばならないので、
置換基をもたず、メタノール、エタノール、プロパノー
ルおよびブタノール等の低級アルコール類のような低分
子量の加水分解生成物を生じるような基が好ましい。
ば、水素、ハロゲン、アルコキシ、ヒドロキシル、アル
キルカルボニルであり、より具体的には、メトキシ、エ
トキシ、n−プロポキシ、i−プロポキシ、n−ブトキ
シ、sec−ブトキシ、tert−ブトキシ、イソブト
キシ、β−メトキシエトキシ、アセチルオキシ、プロピ
オニルオキシ、モノメチルアミノ、モノエチルアミノ、
ジメチルアミノ、ジエチルアミノ、N−エチルアニリ
ノ、メチルカルボニル、エチルカルボニル、メトキシカ
ルボニル、エトキシカルボニル等が挙げられる。一般式
(1)の基Rは、最終生成物の中には存在せず、加水分
解により失われ、その加水分解生成物も、直ちに、ある
いは、後に適当な方法で除去しなけらばならないので、
置換基をもたず、メタノール、エタノール、プロパノー
ルおよびブタノール等の低級アルコール類のような低分
子量の加水分解生成物を生じるような基が好ましい。
【0043】一般式(1)の化合物は、全部またはその
一部を予備縮合の形で、すなわち、一般式(1)の化合
物の部分加水分解により生じた化合物を単独で、また
は、下記のような他の加水分解性化合物と混合して使用
することができる。そのようなオリゴマーは、好ましく
は反応媒体に可溶で、直鎖または環状の縮合度が約2〜
100、特に2〜6である低分子量の部分縮合物(ポリ
オルガノシロキサン)が好ましい。
一部を予備縮合の形で、すなわち、一般式(1)の化合
物の部分加水分解により生じた化合物を単独で、また
は、下記のような他の加水分解性化合物と混合して使用
することができる。そのようなオリゴマーは、好ましく
は反応媒体に可溶で、直鎖または環状の縮合度が約2〜
100、特に2〜6である低分子量の部分縮合物(ポリ
オルガノシロキサン)が好ましい。
【0044】一般式(1)の化合物の例としては、γ−
(メタ)アクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、
ビニルトリクロロシラン、ビニルトリメトキシシラン、
ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(β−メトキ
シエトキシ)シラン、γ−グリシジルオキシプロピルト
リメトキシシラン等を挙げることができる。
(メタ)アクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、
ビニルトリクロロシラン、ビニルトリメトキシシラン、
ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(β−メトキ
シエトキシ)シラン、γ−グリシジルオキシプロピルト
リメトキシシラン等を挙げることができる。
【0045】また、一般式(1)の化合物は、下記の一
般式(2)で表される化合物と混合し、これらの化合物
を加水分解、好ましくは完全加水分解により、相当する
酸化物の水和物に転換することができる。 MRn … (2) (上記一般式(2)において、Mは珪素、アルミニウ
ム、チタン、ジルコニウム、バナジウム、ホウ素、スズ
から選ばれる金属元素、RはOH基および/または加水
分解を受けやすい基、nは金属元素の価数)
般式(2)で表される化合物と混合し、これらの化合物
を加水分解、好ましくは完全加水分解により、相当する
酸化物の水和物に転換することができる。 MRn … (2) (上記一般式(2)において、Mは珪素、アルミニウ
ム、チタン、ジルコニウム、バナジウム、ホウ素、スズ
から選ばれる金属元素、RはOH基および/または加水
分解を受けやすい基、nは金属元素の価数)
【0046】一般式(2)における基Rは、一般式
(1)における基Rと同一でも異なっていてもよい。ま
た、一般式(2)で示される化合物は、一般式(1)の
珪素化合物と、モル比で1:99〜99:1の割合で混
合させることが可能である。
(1)における基Rと同一でも異なっていてもよい。ま
た、一般式(2)で示される化合物は、一般式(1)の
珪素化合物と、モル比で1:99〜99:1の割合で混
合させることが可能である。
【0047】バリア層を構成する被覆層には、一般式
(1)、(2)で示される化合物の他に、バインダー成
分として、水素結合形成基を有する樹脂を含むことも可
能である。水素結合形成基を有する樹脂の例としては、
ヒドロキシル基を有するポリマーとその誘導体(ポリビ
ニルアルコール、ポリビニルアセタール、エチレン−ビ
ニルアルコール共重合体、フェノール樹脂、メチロール
メラミン等とその誘導体);カルボキシル基を有するポ
リマーとその誘導体(ポリ(メタ)アクリル酸、無水マ
レイン酸、イタコン酸等の重合性不飽和酸の単位を含む
単独または共重合体と、これらのポリマーのエステル化
物(酢酸ビニル等のビニルエステル、メタクリル酸メチ
ル等の(メタ)アクリル酸エステル等の単位を含む単独
または共重合体)等);エーテル結合を有するポリマー
(ポリアルキレンオキサイド、ポリオキシアルキレング
リコール、ポリビニルエーテル、珪素樹脂等);アミド
結合を有するポリマー(>N(COR)−結合(式中、
Rは水素原子、置換基を有していてもよいアルキル基、
置換基を有していてもよいアリール基を示す)を有する
ポリオキサゾリンやポリアルキレンイミンのN−アシル
化物);>NC(O)−結合を有するポリビニルピロリ
ドンとその誘導体;ウレタン結合を有するポリウレタ
ン;尿素結合を有するポリマー等を挙げることができ
る。
(1)、(2)で示される化合物の他に、バインダー成
分として、水素結合形成基を有する樹脂を含むことも可
能である。水素結合形成基を有する樹脂の例としては、
ヒドロキシル基を有するポリマーとその誘導体(ポリビ
ニルアルコール、ポリビニルアセタール、エチレン−ビ
ニルアルコール共重合体、フェノール樹脂、メチロール
メラミン等とその誘導体);カルボキシル基を有するポ
リマーとその誘導体(ポリ(メタ)アクリル酸、無水マ
レイン酸、イタコン酸等の重合性不飽和酸の単位を含む
単独または共重合体と、これらのポリマーのエステル化
物(酢酸ビニル等のビニルエステル、メタクリル酸メチ
ル等の(メタ)アクリル酸エステル等の単位を含む単独
または共重合体)等);エーテル結合を有するポリマー
(ポリアルキレンオキサイド、ポリオキシアルキレング
リコール、ポリビニルエーテル、珪素樹脂等);アミド
結合を有するポリマー(>N(COR)−結合(式中、
Rは水素原子、置換基を有していてもよいアルキル基、
置換基を有していてもよいアリール基を示す)を有する
ポリオキサゾリンやポリアルキレンイミンのN−アシル
化物);>NC(O)−結合を有するポリビニルピロリ
ドンとその誘導体;ウレタン結合を有するポリウレタ
ン;尿素結合を有するポリマー等を挙げることができ
る。
【0048】上記のような水素結合形成基を有する樹脂
は、一般式(1)、(2)で示される化合物100重量
部に対して、1〜1000重量部、好ましくは5〜30
重量部の範囲で使用することができる。
は、一般式(1)、(2)で示される化合物100重量
部に対して、1〜1000重量部、好ましくは5〜30
重量部の範囲で使用することができる。
【0049】被覆層形成用の塗布液は、従来公知の方法
により調製することができる。例えば、原料をエタノー
ルやプロパノール等の適当な溶剤に溶解し、それを化学
量論的に必要な量の水、好ましくは1部または数部過剰
の水と接触させる。使用する溶剤は、上記の低級脂肪族
アルコールの他に、アセトン、メチルイソブチルケトン
等の低級ジアルキルケトン類、エステル類、好ましくは
ジエチルエーテルのような低級ジアルキルエーテル、T
HF、アミド類、エステル類、特に酢酸エチル、ジメチ
ルホルムアミド、および、それらの混合物が挙げられ
る。
により調製することができる。例えば、原料をエタノー
ルやプロパノール等の適当な溶剤に溶解し、それを化学
量論的に必要な量の水、好ましくは1部または数部過剰
の水と接触させる。使用する溶剤は、上記の低級脂肪族
アルコールの他に、アセトン、メチルイソブチルケトン
等の低級ジアルキルケトン類、エステル類、好ましくは
ジエチルエーテルのような低級ジアルキルエーテル、T
HF、アミド類、エステル類、特に酢酸エチル、ジメチ
ルホルムアミド、および、それらの混合物が挙げられ
る。
【0050】加水分解は一般に−20〜130℃、好ま
しくは0〜30℃の温度、あるいは、使用する溶剤の沸
点で行う。接触させる方法は、使用する原料の反応性に
応じて適宜設定することができ、例えば、溶解した原料
を水にゆっくり滴下する方法、溶解した原料に水を一度
に、または数回に分けて加える方法等がある。また、水
をそのまま加えるのではなく、水を含む無機系物質(モ
レキュラーシーブ等の水を含む吸着材等)あるいは有機
系物質(80%濃度のエタノール等)を使用して水を反
応混合物に導入することできる。さらに、水が形成され
る反応、例えば、酸とアルコールからエステルを形成す
る反応により水を加えることもできる。
しくは0〜30℃の温度、あるいは、使用する溶剤の沸
点で行う。接触させる方法は、使用する原料の反応性に
応じて適宜設定することができ、例えば、溶解した原料
を水にゆっくり滴下する方法、溶解した原料に水を一度
に、または数回に分けて加える方法等がある。また、水
をそのまま加えるのではなく、水を含む無機系物質(モ
レキュラーシーブ等の水を含む吸着材等)あるいは有機
系物質(80%濃度のエタノール等)を使用して水を反
応混合物に導入することできる。さらに、水が形成され
る反応、例えば、酸とアルコールからエステルを形成す
る反応により水を加えることもできる。
【0051】重縮合は、触媒、例えば、プロトンまたは
ヒドロキシルイオンを放出する化合物、または、アミン
類を加えて行うことができる。触媒濃度は、1リットル
当たり3モル以下が好ましい。原料化合物の全量が加水
分解(重縮合)開示時に存在する必要はなく、原料化合
物の一部だけを最初に水と接触させ、その後、残りの原
料化合物を加えてもよい。
ヒドロキシルイオンを放出する化合物、または、アミン
類を加えて行うことができる。触媒濃度は、1リットル
当たり3モル以下が好ましい。原料化合物の全量が加水
分解(重縮合)開示時に存在する必要はなく、原料化合
物の一部だけを最初に水と接触させ、その後、残りの原
料化合物を加えてもよい。
【0052】反応に要する時間が原料化合物、使用する
触媒、反応温度等に応じて適宜設定することができる。
また、反応時の圧力は、通常、大気圧とするが、加圧あ
るいは減圧下としてもよい。
触媒、反応温度等に応じて適宜設定することができる。
また、反応時の圧力は、通常、大気圧とするが、加圧あ
るいは減圧下としてもよい。
【0053】尚、塗布液に市販の光重合開始剤を添加す
ることにより、電離放射線により硬化可能な塗布液とす
ることができる。また、塗布液に熱反応開始剤(例え
ば、過酸化ジベンゾイル、過安息香酸tert−ブチ
ル、アゾビスイソブチロニトリル等)を添加することに
より、熱硬化可能な塗布液とすることができる。さら
に、塗布液にイオン重合反応を開始する開始剤を添加す
ることもできる。このような反応開始剤を添加する場
合、添加量は0.5〜2重量%程度が好ましい。
ることにより、電離放射線により硬化可能な塗布液とす
ることができる。また、塗布液に熱反応開始剤(例え
ば、過酸化ジベンゾイル、過安息香酸tert−ブチ
ル、アゾビスイソブチロニトリル等)を添加することに
より、熱硬化可能な塗布液とすることができる。さら
に、塗布液にイオン重合反応を開始する開始剤を添加す
ることもできる。このような反応開始剤を添加する場
合、添加量は0.5〜2重量%程度が好ましい。
【0054】バリア層を構成する被覆層の形成は、上述
のように調製した塗布液をディップコート、フローコー
ト、カーテンコート、スピンコート、スプレイコート、
バーコート等により塗布し乾燥、硬化することにより行
うことができる。この被覆層の厚みは0.01〜1.0
μm程度とすることが好ましい。
のように調製した塗布液をディップコート、フローコー
ト、カーテンコート、スピンコート、スプレイコート、
バーコート等により塗布し乾燥、硬化することにより行
うことができる。この被覆層の厚みは0.01〜1.0
μm程度とすることが好ましい。
【0055】 CVD法により形成した薄膜からなる
バリア層 少なくとも有機珪素化合物の蒸気と酸素とを含有するガ
スを用いてプラズマCVD法により形成した薄膜であ
り、珪素酸化物SiOx(x=1〜2)を主体とし、炭
素、水素、珪素および酸素のなかの1種以上の元素から
成る化合物を少なくとも1種含有したものである。
バリア層 少なくとも有機珪素化合物の蒸気と酸素とを含有するガ
スを用いてプラズマCVD法により形成した薄膜であ
り、珪素酸化物SiOx(x=1〜2)を主体とし、炭
素、水素、珪素および酸素のなかの1種以上の元素から
成る化合物を少なくとも1種含有したものである。
【0056】原料の有機珪素化合物としては、1,1,3,3
−テトラメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサ
ン、ビニルトリメチルシラン、メチルトリメトキシシラ
ン、ヘキサメチルジシラン、メチルシラン、ジメチルシ
ラン、トリメチルシラン、ジエチルシラン、プロピルシ
ラン、フェニルシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビ
ニルトリメトキシシラン、テトラメトキシシラン、テト
ラエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチ
ルトリエトキシシラン、オクタメチルシクロテトラシロ
キサン等を挙げることができ、特に1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサンが好まし
く用いられる。
−テトラメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサ
ン、ビニルトリメチルシラン、メチルトリメトキシシラ
ン、ヘキサメチルジシラン、メチルシラン、ジメチルシ
ラン、トリメチルシラン、ジエチルシラン、プロピルシ
ラン、フェニルシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビ
ニルトリメトキシシラン、テトラメトキシシラン、テト
ラエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチ
ルトリエトキシシラン、オクタメチルシクロテトラシロ
キサン等を挙げることができ、特に1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサンが好まし
く用いられる。
【0057】珪素酸化物SiOxの厚みは、10〜30
00Å、好ましくは60〜400Åであり、透明性の点
から、珪素酸化物SiOx(x=1.3〜2)であるこ
とが好ましい。
00Å、好ましくは60〜400Åであり、透明性の点
から、珪素酸化物SiOx(x=1.3〜2)であるこ
とが好ましい。
【0058】また、バリア層中に珪素酸化物SiOxと
ともに存在する化合物としては、例えば、C−H結合を
有する化合物、Si−H結合を有する化合物、または、
炭素単体がグラファイト状、ダイヤモンド状、フラーレ
ン状になっている場合、さらに原料の有機珪素化合物や
それらの誘導体を含む場合がある。具体的には、CH 3
部位をもつハイドロカーボン、SiH3シリル、SiH2
シリレン等のハイドロシリカ、SiH2OHシラノール
等の水酸基誘導体等を挙げることができる。上記以外で
も、蒸着過程の条件を変化させることにより、バリア層
に含有される化合物の種類、量等を変化させることがで
きる。これらの化合物のバリア層中における含有率は、
0.1〜50重量%、好ましくは5〜20重量%程度で
ある。
ともに存在する化合物としては、例えば、C−H結合を
有する化合物、Si−H結合を有する化合物、または、
炭素単体がグラファイト状、ダイヤモンド状、フラーレ
ン状になっている場合、さらに原料の有機珪素化合物や
それらの誘導体を含む場合がある。具体的には、CH 3
部位をもつハイドロカーボン、SiH3シリル、SiH2
シリレン等のハイドロシリカ、SiH2OHシラノール
等の水酸基誘導体等を挙げることができる。上記以外で
も、蒸着過程の条件を変化させることにより、バリア層
に含有される化合物の種類、量等を変化させることがで
きる。これらの化合物のバリア層中における含有率は、
0.1〜50重量%、好ましくは5〜20重量%程度で
ある。
【0059】 酸化珪素薄膜と無機・有機ハイブリッ
ト膜との積層バリア層 酸化珪素SiOx(x=1〜2)を蒸着源とし、酸化珪
素の蒸発ガスとともに必要ならば酸素ガスを同時に供給
し、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプ
レーティング法、クラスターイオンビーム法等のPVD
法、あるいは、プラズマCVD法、熱CVD法、光CV
D法等を利用して、厚み50〜3000Å程度の酸化珪
素薄膜を形成する。この酸化珪素薄膜上に、ゾルゲル成
膜による無機・有機ハイブリット膜を形成してバリア層
とする。無機・有機ハイブリット膜は、有機珪素化合物
の加水分解反応で得られる珪素―酸素―珪素の結合から
なる金属酸化物重合体を部分的に有機修飾した有機・無
機複合体を使用した薄膜である。
ト膜との積層バリア層 酸化珪素SiOx(x=1〜2)を蒸着源とし、酸化珪
素の蒸発ガスとともに必要ならば酸素ガスを同時に供給
し、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプ
レーティング法、クラスターイオンビーム法等のPVD
法、あるいは、プラズマCVD法、熱CVD法、光CV
D法等を利用して、厚み50〜3000Å程度の酸化珪
素薄膜を形成する。この酸化珪素薄膜上に、ゾルゲル成
膜による無機・有機ハイブリット膜を形成してバリア層
とする。無機・有機ハイブリット膜は、有機珪素化合物
の加水分解反応で得られる珪素―酸素―珪素の結合から
なる金属酸化物重合体を部分的に有機修飾した有機・無
機複合体を使用した薄膜である。
【0060】上記の無機・有機ハイブリット膜の形成は
以下のように行うことができる。まず、一般式、M(O
R)n(ただし、式中、MはSi、Al、Sr、Ba、
Pb、Ti、Zr、La、Na等の金属元素、Rはメチ
ル、エチル、プロピル、ブチル等の炭素数が1〜8個の
アルキル基を示す)で示される金属アルコキシドの1種
または2種以上を使用し、これを水、アルコールの共存
下で加水分解反応および縮重合反応を起こし、あるい
は、この反応の過程、または、反応終了後に、有機物や
触媒を添加し、高分子量化してゾル状のコート液を調製
する。このコート液をグラビアコート、ロールコート、
リバースコート、ナイフコート等の方法により酸化珪素
薄膜上にコートし、70〜200℃程度の温度範囲で加
熱すると、非結晶性のセラミックス質の透明な無機・有
機ハイブリット膜が得られる。この無機・有機ハイブリ
ット膜の厚みは、1000Å〜50μm程度とする。
以下のように行うことができる。まず、一般式、M(O
R)n(ただし、式中、MはSi、Al、Sr、Ba、
Pb、Ti、Zr、La、Na等の金属元素、Rはメチ
ル、エチル、プロピル、ブチル等の炭素数が1〜8個の
アルキル基を示す)で示される金属アルコキシドの1種
または2種以上を使用し、これを水、アルコールの共存
下で加水分解反応および縮重合反応を起こし、あるい
は、この反応の過程、または、反応終了後に、有機物や
触媒を添加し、高分子量化してゾル状のコート液を調製
する。このコート液をグラビアコート、ロールコート、
リバースコート、ナイフコート等の方法により酸化珪素
薄膜上にコートし、70〜200℃程度の温度範囲で加
熱すると、非結晶性のセラミックス質の透明な無機・有
機ハイブリット膜が得られる。この無機・有機ハイブリ
ット膜の厚みは、1000Å〜50μm程度とする。
【0061】上記のゾルゲル成膜において、反応系に添
加する有機物としては、例えば、アルコール、アルデヒ
ド、カルボン酸、アミド、アミン、イソシアネート等の
化学反応性に富む官能基を有する低分子物ないし高分子
物を使用することができる。また、触媒としては、有機
酸、有機塩基、無機酸、無機塩基、金属酸化物等を使用
することができる。上記のゾルゲル成膜により形成され
た無機・有機ハイブリット膜は、酸化珪素薄膜とともに
極めて良好なバリア性を発現する。
加する有機物としては、例えば、アルコール、アルデヒ
ド、カルボン酸、アミド、アミン、イソシアネート等の
化学反応性に富む官能基を有する低分子物ないし高分子
物を使用することができる。また、触媒としては、有機
酸、有機塩基、無機酸、無機塩基、金属酸化物等を使用
することができる。上記のゾルゲル成膜により形成され
た無機・有機ハイブリット膜は、酸化珪素薄膜とともに
極めて良好なバリア性を発現する。
【0062】(基材の基材層)基材6を構成する基材層
6b,6c、および、基材16を構成する基材層16b
は、光透過性を有するガラス材料、樹脂材料、これらの
複合材料等により形成することができ、基材層に可撓性
を有する樹脂フィルムを用いることにより、積層フィル
ムからなる基材が得られる。また、各基材層6b,6
c、16bは単層構造であってもよく、2種以上の材料
からなる多層構造であってもよい。このような基材層6
b,6c、16bの厚みは、基材6や基材16に要求さ
れる機械的強度や加工適性等を考慮して、5〜25μm
の範囲内で適宜設定することができる。
6b,6c、および、基材16を構成する基材層16b
は、光透過性を有するガラス材料、樹脂材料、これらの
複合材料等により形成することができ、基材層に可撓性
を有する樹脂フィルムを用いることにより、積層フィル
ムからなる基材が得られる。また、各基材層6b,6
c、16bは単層構造であってもよく、2種以上の材料
からなる多層構造であってもよい。このような基材層6
b,6c、16bの厚みは、基材6や基材16に要求さ
れる機械的強度や加工適性等を考慮して、5〜25μm
の範囲内で適宜設定することができる。
【0063】[保護層]上述のEL素子1を構成する保
護層7は、バリア層7aを中間層として備え、外側に基
材層7b、内側に基材層7cを備える積層体である。ま
た、上述のEL素子11を構成する保護層17は、バリ
ア層17aと基材層17bとの積層体であり、電極15
との界面にバリア層17aが位置するものである。
護層7は、バリア層7aを中間層として備え、外側に基
材層7b、内側に基材層7cを備える積層体である。ま
た、上述のEL素子11を構成する保護層17は、バリ
ア層17aと基材層17bとの積層体であり、電極15
との界面にバリア層17aが位置するものである。
【0064】(保護層のバリア層)バリア層7a,17
aは、室温40℃、相対湿度100%での水蒸気透過度
が2.0g/m2・day・atm以下、室温25℃、
相対湿度90%での酸素透過度が2.0cc/m2・d
ay・atm以下のバリア層であり、上述のバリア層6
a,16aと同様のバリア層とすることができる。ま
た、EL素子1,11の例は、いずれも、EL層3,1
3における発光を基材6,16側から視認する例であ
り、バリア層7a,17aに透明性は要求されない。
aは、室温40℃、相対湿度100%での水蒸気透過度
が2.0g/m2・day・atm以下、室温25℃、
相対湿度90%での酸素透過度が2.0cc/m2・d
ay・atm以下のバリア層であり、上述のバリア層6
a,16aと同様のバリア層とすることができる。ま
た、EL素子1,11の例は、いずれも、EL層3,1
3における発光を基材6,16側から視認する例であ
り、バリア層7a,17aに透明性は要求されない。
【0065】(保護層の基材層)保護層7を構成する基
材層7b,7c、および、保護層17を構成する基材層
17bは、ガラス材料、樹脂材料、これらの複合材料等
により形成することができ、基材層に可撓性を有する樹
脂フィルムを用いることにより、積層フィルムからなる
保護層とすることができる。また、各基材層7b,7
c、17bは単層構造であってもよく、2種以上の材料
からなる多層構造であってもよく、特に透明性は要求さ
れない。このような基材層7b,7c、17bの厚み
は、保護層7や保護層17に要求される機械的強度や加
工適性等を考慮して、5〜25μmの範囲内で適宜設定
することができる。
材層7b,7c、および、保護層17を構成する基材層
17bは、ガラス材料、樹脂材料、これらの複合材料等
により形成することができ、基材層に可撓性を有する樹
脂フィルムを用いることにより、積層フィルムからなる
保護層とすることができる。また、各基材層7b,7
c、17bは単層構造であってもよく、2種以上の材料
からなる多層構造であってもよく、特に透明性は要求さ
れない。このような基材層7b,7c、17bの厚み
は、保護層7や保護層17に要求される機械的強度や加
工適性等を考慮して、5〜25μmの範囲内で適宜設定
することができる。
【0066】尚、上述のようなEL素子1において、基
材6をEL素子11の基材16と同様の構成としてもよ
く、また、保護層7をEL素子11の保護層17と同様
の構成としてもよい。
材6をEL素子11の基材16と同様の構成としてもよ
く、また、保護層7をEL素子11の保護層17と同様
の構成としてもよい。
【0067】第2の発明 図3は、エレクトロルミネッセンス(EL)素子の第2
の発明の一例を示す概略断面図である。図3において、
EL素子21は、EL層23の両面に所定のパターンで
設けられた電極24,25と、一方の電極24を覆うよ
うに配設された基材26と、他方の電極25を覆うよう
に配設された保護層27とからなる積層構造体22を備
え、この積層構造体22はバリアフィルム28,29に
より被覆されている。バリアフィルム28,29は、そ
れぞれバリア層28a,29aを中間層として備える積
層フィルムであり、その周辺部において相互に固着され
ている。上述のEL素子21は、EL層23における発
光を基材26側から視認する例である。
の発明の一例を示す概略断面図である。図3において、
EL素子21は、EL層23の両面に所定のパターンで
設けられた電極24,25と、一方の電極24を覆うよ
うに配設された基材26と、他方の電極25を覆うよう
に配設された保護層27とからなる積層構造体22を備
え、この積層構造体22はバリアフィルム28,29に
より被覆されている。バリアフィルム28,29は、そ
れぞれバリア層28a,29aを中間層として備える積
層フィルムであり、その周辺部において相互に固着され
ている。上述のEL素子21は、EL層23における発
光を基材26側から視認する例である。
【0068】以下に、上述のEL素子21の構成部材を
説明する。 [EL層]EL素子21を構成するEL層23は、上述
のEL素子1,11を構成するEL層3,13と同様と
することができ、ここでの説明は省略する。
説明する。 [EL層]EL素子21を構成するEL層23は、上述
のEL素子1,11を構成するEL層3,13と同様と
することができ、ここでの説明は省略する。
【0069】[電極]EL素子21を構成する電極24
はアノード電極またはカソード電極であり、これに対応
して、電極25はカソード電極またはアノード電極とな
る。電極24はEL層23からの発光を基材26側へ透
過しやすくするために、透明電極とする。このような電
極24は、上述のEL素子1を構成する電極4、あるい
は、EL素子11を構成する電極14と同様とすること
ができ、また、電極25は、上述のEL素子1を構成す
る電極5、あるいは、EL素子11を構成する電極15
と同様とすることができ、ここでの説明は省略する。
はアノード電極またはカソード電極であり、これに対応
して、電極25はカソード電極またはアノード電極とな
る。電極24はEL層23からの発光を基材26側へ透
過しやすくするために、透明電極とする。このような電
極24は、上述のEL素子1を構成する電極4、あるい
は、EL素子11を構成する電極14と同様とすること
ができ、また、電極25は、上述のEL素子1を構成す
る電極5、あるいは、EL素子11を構成する電極15
と同様とすることができ、ここでの説明は省略する。
【0070】[基材]基材26は、光透過性を有するガ
ラス材料、樹脂材料、これらの複合材料等により形成す
ることができ、単層構造であってもよく、2種以上の材
料からなる多層構造であってもよい。このような基材2
6の厚みは、要求される機械的強度や加工適性等を考慮
して、5〜25μmの範囲内で適宜設定することができ
る。
ラス材料、樹脂材料、これらの複合材料等により形成す
ることができ、単層構造であってもよく、2種以上の材
料からなる多層構造であってもよい。このような基材2
6の厚みは、要求される機械的強度や加工適性等を考慮
して、5〜25μmの範囲内で適宜設定することができ
る。
【0071】[保護層]保護層27は、ガラス材料、樹
脂材料、これらの複合材料等により形成することがで
き、単層構造であってもよく、2種以上の材料からなる
多層構造であってもよい。保護層27は、特に透明性は
要求されず、その厚みは、保護層27に要求される機械
的強度や加工適性等を考慮して、5〜25μmの範囲内
で適宜設定することができる。
脂材料、これらの複合材料等により形成することがで
き、単層構造であってもよく、2種以上の材料からなる
多層構造であってもよい。保護層27は、特に透明性は
要求されず、その厚みは、保護層27に要求される機械
的強度や加工適性等を考慮して、5〜25μmの範囲内
で適宜設定することができる。
【0072】[バリアフィルム]上述のEL素子21を
構成するバリアフィルム28は、バリア層28aを中間
層として備え、外側に基材フィルム28b、内側に基材
フィルム28cを備える積層フィルムである。また、バ
リアフィルム29は、バリア層29aを中間層として備
え、外側に基材フィルム29b、内側に基材フィルム2
9cを備える積層フィルムである。
構成するバリアフィルム28は、バリア層28aを中間
層として備え、外側に基材フィルム28b、内側に基材
フィルム28cを備える積層フィルムである。また、バ
リアフィルム29は、バリア層29aを中間層として備
え、外側に基材フィルム29b、内側に基材フィルム2
9cを備える積層フィルムである。
【0073】(バリアフィルムのバリア層)バリア層2
8a,29aは、室温40℃、相対湿度100%での水
蒸気透過度が2.0g/m2・day・atm以下、室
温25℃、相対湿度90%での酸素透過度が2.0cc
/m2・day・atm以下のバリア層であり、上述の
EL素子1,11を構成するバリア層6a,16aと同
様のバリア層とすることができる。尚、EL素子21の
例は、EL層23における発光を基材26側から視認す
る例であり、バリア層29aに透明性は要求されない。
8a,29aは、室温40℃、相対湿度100%での水
蒸気透過度が2.0g/m2・day・atm以下、室
温25℃、相対湿度90%での酸素透過度が2.0cc
/m2・day・atm以下のバリア層であり、上述の
EL素子1,11を構成するバリア層6a,16aと同
様のバリア層とすることができる。尚、EL素子21の
例は、EL層23における発光を基材26側から視認す
る例であり、バリア層29aに透明性は要求されない。
【0074】(バリアフィルムの基材フィルム)バリア
フィルム28を構成する基材フィルム28b,28c
は、光透過性を有するフィルムである。具体的には、ポ
リエチレン、ポリプロピレン、ポリブテン等のポリオレ
フィン系樹脂、(メタ)アクリル系樹脂、ポリ塩化ビニ
ル系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリ塩化ビニリデン系
樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体ケン化物、ポリビ
ニルアルコール、ポリカーボネート系樹脂、フッ素系樹
脂、ポリ酢酸ビニル系樹脂、アセタール系樹脂、ポリエ
ステル系樹脂、ポリアミド系樹脂等の延伸(一軸ないし
二軸)または未延伸の可撓性樹脂フィルムを用いること
ができる。基材フィルム28b,28cの厚みは、5〜
25μmの範囲内で適宜設定することができる。
フィルム28を構成する基材フィルム28b,28c
は、光透過性を有するフィルムである。具体的には、ポ
リエチレン、ポリプロピレン、ポリブテン等のポリオレ
フィン系樹脂、(メタ)アクリル系樹脂、ポリ塩化ビニ
ル系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリ塩化ビニリデン系
樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体ケン化物、ポリビ
ニルアルコール、ポリカーボネート系樹脂、フッ素系樹
脂、ポリ酢酸ビニル系樹脂、アセタール系樹脂、ポリエ
ステル系樹脂、ポリアミド系樹脂等の延伸(一軸ないし
二軸)または未延伸の可撓性樹脂フィルムを用いること
ができる。基材フィルム28b,28cの厚みは、5〜
25μmの範囲内で適宜設定することができる。
【0075】バリアフィルム29を構成する基材フィル
ム29b,29cは、上述の基材フィルム28b,28
cと同様に可撓性樹脂フィルムとすることができるが、
光透過性は必要ではない。このような基材フィルム29
b,29cの厚みは、5〜25μmの範囲内で適宜設定
することができる。
ム29b,29cは、上述の基材フィルム28b,28
cと同様に可撓性樹脂フィルムとすることができるが、
光透過性は必要ではない。このような基材フィルム29
b,29cの厚みは、5〜25μmの範囲内で適宜設定
することができる。
【0076】上記の基材フィルム28cと基材フィルム
29cとして、熱融着性を有する樹脂フィルムを使用す
ることにより、バリアフィルム28,29による積層構
造体22の被覆時のバリアフィルム周辺部の固着を熱溶
融により行うことができる。
29cとして、熱融着性を有する樹脂フィルムを使用す
ることにより、バリアフィルム28,29による積層構
造体22の被覆時のバリアフィルム周辺部の固着を熱溶
融により行うことができる。
【0077】尚、上述のEL素子21において、バリア
フィルム28をバリア層28aと、その外側に位置する
基材フィルム28bの2層構成とし、バリアフィルム2
9をバリア層29aと、その外側に位置する基材フィル
ム29bの2層構成としてもよい。この場合、バリアフ
ィルム28,29による積層構造体22の被覆時のバリ
アフィルム周辺部の固着は、接着剤を用いて行なわれ
る。
フィルム28をバリア層28aと、その外側に位置する
基材フィルム28bの2層構成とし、バリアフィルム2
9をバリア層29aと、その外側に位置する基材フィル
ム29bの2層構成としてもよい。この場合、バリアフ
ィルム28,29による積層構造体22の被覆時のバリ
アフィルム周辺部の固着は、接着剤を用いて行なわれ
る。
【0078】また、基材26を、EL素子1を構成する
基材6またはEL素子11を構成する基材16と同様の
ものとしてもよい。さらに、保護層27を、EL素子1
を構成する保護層6またはEL素子11を構成する保護
層16と同様のものとしてもよい。
基材6またはEL素子11を構成する基材16と同様の
ものとしてもよい。さらに、保護層27を、EL素子1
を構成する保護層6またはEL素子11を構成する保護
層16と同様のものとしてもよい。
【0079】
【実施例】次に、実施例を示して本発明を更に詳細に説
明する。
明する。
【0080】[実施例1]基材Aの作製 まず、基材層として厚み25μmのポリエチレンテレフ
タレート(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片
面コロナ処理品)を準備し、このPETフィルムのコロ
ナ処理面に、CVD法により下記の条件で厚み120Å
の薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成した。これ
を基材Aとした。尚、薄膜層の厚みは、蛍光X線分析装
置((株)理学電気製RIX2000)を用いて、ファ
ンダメンタルパラメータ法により測定した。 (CVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/10/10 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・冷却電極ドラム供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:80m/分
タレート(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片
面コロナ処理品)を準備し、このPETフィルムのコロ
ナ処理面に、CVD法により下記の条件で厚み120Å
の薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成した。これ
を基材Aとした。尚、薄膜層の厚みは、蛍光X線分析装
置((株)理学電気製RIX2000)を用いて、ファ
ンダメンタルパラメータ法により測定した。 (CVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/10/10 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・冷却電極ドラム供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:80m/分
【0081】基材Bの作製 メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン113
g、および、メチルトリメトキシシラン41gを室温で
容器に入れて混合した。この混合物を攪拌しながら、ア
ルミニウムsec−ブチラート62gをゆっくり滴下し
た。滴下が完了した後、さらに5分間攪拌し、その後、
この混合物を15℃に冷却した。次に、上記混合物の完
全加水分解に必要な化学量論的な量の1/16の量の水
を、混合物を攪拌しながら徐々に滴下して加えた。この
混合物をさらに5分間攪拌し、その後、8℃に冷却し
た。さらに、上記の完全加水分解に必要な化学量論的な
量の2/16の量の水を、混合物を攪拌しながら徐々に
滴下して加え、この混合物を15分間攪拌した。次い
で、上記の完全加水分解に必要な化学量論的な量に相当
する水を、混合物を攪拌しながら徐々に滴下(添加した
水の総量は、完全加水分解に必要な化学量論的な量より
も3/16過剰な量である)し、その後、2時間攪拌し
て被覆層用塗布液1を得た。
g、および、メチルトリメトキシシラン41gを室温で
容器に入れて混合した。この混合物を攪拌しながら、ア
ルミニウムsec−ブチラート62gをゆっくり滴下し
た。滴下が完了した後、さらに5分間攪拌し、その後、
この混合物を15℃に冷却した。次に、上記混合物の完
全加水分解に必要な化学量論的な量の1/16の量の水
を、混合物を攪拌しながら徐々に滴下して加えた。この
混合物をさらに5分間攪拌し、その後、8℃に冷却し
た。さらに、上記の完全加水分解に必要な化学量論的な
量の2/16の量の水を、混合物を攪拌しながら徐々に
滴下して加え、この混合物を15分間攪拌した。次い
で、上記の完全加水分解に必要な化学量論的な量に相当
する水を、混合物を攪拌しながら徐々に滴下(添加した
水の総量は、完全加水分解に必要な化学量論的な量より
も3/16過剰な量である)し、その後、2時間攪拌し
て被覆層用塗布液1を得た。
【0082】次いで、上記の基材Aの薄膜層上に、上記
の被覆層用塗布液1をバーコート法により塗布し乾燥
(120℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形
成した。これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜から
なるバリア層を形成して、基材Bとした。
の被覆層用塗布液1をバーコート法により塗布し乾燥
(120℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形
成した。これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜から
なるバリア層を形成して、基材Bとした。
【0083】基材Cの作製 まず、エチルシリケート25g、エタノール25g、2
N塩酸1.86gおよび水1.5gを混合し、80℃で
1時間攪拌した。この混合物において、エチルシリケー
トと水のモル比は1:1.51である。次いで、エポキ
シシラン(東レダウコーニング(株)製SH604)
2.5gを加えて攪拌した。この混合物に、水素結合形
成基を有する樹脂としてポリビニルアセタール(クラレ
(株)製(重合度2000))を10重量%含む水溶液
17.4g加え、1時間攪拌して透明となった時点で、
N,N−ジメチルベンジルアミンを35重量%含むエタ
ノール溶液0.1gを加えて攪拌して被覆層用塗布液2
を得た。
N塩酸1.86gおよび水1.5gを混合し、80℃で
1時間攪拌した。この混合物において、エチルシリケー
トと水のモル比は1:1.51である。次いで、エポキ
シシラン(東レダウコーニング(株)製SH604)
2.5gを加えて攪拌した。この混合物に、水素結合形
成基を有する樹脂としてポリビニルアセタール(クラレ
(株)製(重合度2000))を10重量%含む水溶液
17.4g加え、1時間攪拌して透明となった時点で、
N,N−ジメチルベンジルアミンを35重量%含むエタ
ノール溶液0.1gを加えて攪拌して被覆層用塗布液2
を得た。
【0084】次いで、上記の基材Aの薄膜層上に、上記
の被覆層用塗布液2をバーコート法により塗布し乾燥
(120℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形
成した。これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜から
なるバリア層を形成して、基材Cとした。
の被覆層用塗布液2をバーコート法により塗布し乾燥
(120℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形
成した。これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜から
なるバリア層を形成して、基材Cとした。
【0085】基材Dの作製 上記の基材Bのバリア層上に、基材層として、厚み1
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Dを
作製した。
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Dを
作製した。
【0086】基材Eの作製 上記の基材Cのバリア層上に、基材層として、厚み1
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Eを
作製した。
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Eを
作製した。
【0087】基材Fの作製 まず、基材層として厚み25μmのポリエチレンテレフ
タレート(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片
面コロナ処理品)を準備し、このPETフィルムのコロ
ナ処理面に、プラズマCVD法により下記の条件で厚み
800Åの薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成
し、基材Fを得た。 (プラズマCVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/3/3 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・電極−塗布ドラム間供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:110m/分
タレート(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片
面コロナ処理品)を準備し、このPETフィルムのコロ
ナ処理面に、プラズマCVD法により下記の条件で厚み
800Åの薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成
し、基材Fを得た。 (プラズマCVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/3/3 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・電極−塗布ドラム間供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:110m/分
【0088】基材Gの作製 上記の基材Fのバリア層上に、基材層として、厚み1
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Gを
作製した。
2.5μmのPETフィルム(帝人(株)製NSC)を
ドライラミネーションによりラミネートして、基材Gを
作製した。
【0089】さらに、基材として、厚み25μmのPE
Tフィルム(帝人(株)製NSC)のみからなるPET
基材を準備した。
Tフィルム(帝人(株)製NSC)のみからなるPET
基材を準備した。
【0090】これらの基材A〜G、PET基材につい
て、下記の方法により酸素透過度および水蒸気透過度を
測定し、結果を下記の表1に示した。 (酸素透過度)酸素ガス透過度測定装置(モダンコント
ロール社製MOCON OX−TRAN2/20)を用
いて、温度25℃、湿度90%RHで測定した。 (水蒸気透過度)水蒸気透過度測定装置(モダンコント
ロール社製MOCON PERMATRAN)を用い
て、温度40℃、湿度100%RHで測定した。
て、下記の方法により酸素透過度および水蒸気透過度を
測定し、結果を下記の表1に示した。 (酸素透過度)酸素ガス透過度測定装置(モダンコント
ロール社製MOCON OX−TRAN2/20)を用
いて、温度25℃、湿度90%RHで測定した。 (水蒸気透過度)水蒸気透過度測定装置(モダンコント
ロール社製MOCON PERMATRAN)を用い
て、温度40℃、湿度100%RHで測定した。
【0091】
【表1】 電極とEL層の形成 上述のように作製した基材A〜G、および、PET基材
を用い、これらの基材上(基材A〜C、Fにおいてはバ
リア層上)に、エレクトロンビーム蒸着法によって、面
積抵抗20Ω/cm2、膜厚500nmの酸化インジウ
ムスズ(ITO)電極を形成し、その後、UV照射洗浄
機で洗浄した。
を用い、これらの基材上(基材A〜C、Fにおいてはバ
リア層上)に、エレクトロンビーム蒸着法によって、面
積抵抗20Ω/cm2、膜厚500nmの酸化インジウ
ムスズ(ITO)電極を形成し、その後、UV照射洗浄
機で洗浄した。
【0092】次いで、このように形成したITO電極
(アノード電極)上に、下記の構造式(I)で示される
正孔輸送材料(N,N′−ジフェニル[1,1′−ビフ
ェニル]−4,4′−ジアミン)を1×10-6torr
の真空度で5nm/秒の速度で蒸着して、厚み60nm
の正孔輸送層を形成した。
(アノード電極)上に、下記の構造式(I)で示される
正孔輸送材料(N,N′−ジフェニル[1,1′−ビフ
ェニル]−4,4′−ジアミン)を1×10-6torr
の真空度で5nm/秒の速度で蒸着して、厚み60nm
の正孔輸送層を形成した。
【0093】
【化1】 次に、この正孔輸送層上に、下記の構造式(II)で示さ
れるトリス(8キノリノレート)アルミニウムを1×1
0-6torrの真空度で5nm/秒の速度で蒸着して、
厚み60nmの発光層を形成した。
れるトリス(8キノリノレート)アルミニウムを1×1
0-6torrの真空度で5nm/秒の速度で蒸着して、
厚み60nmの発光層を形成した。
【0094】
【化2】 次いで、上記のように形成した発光層上に、MgAg
(Mg:Ag=10:1)を1×10-6torrの真空
度で5nm/秒の速度で蒸着して、面積0.16c
m2、厚み100nmのカソード電極を形成した。
(Mg:Ag=10:1)を1×10-6torrの真空
度で5nm/秒の速度で蒸着して、面積0.16c
m2、厚み100nmのカソード電極を形成した。
【0095】保護層用のフィルムの作製 基材A〜Gと同様にして、保護層用のフィルムA〜Gを
作製した。さらに、厚み25μmのPETフィルム(帝
人(株)製NSC)からなる保護層用PETフィルムを
準備した。
作製した。さらに、厚み25μmのPETフィルム(帝
人(株)製NSC)からなる保護層用PETフィルムを
準備した。
【0096】EL素子の作製 基材Aを用いて形成したアノード電極/EL層/カソー
ド電極からなる積層上に、保護層用フィルムAを重ね、
120℃で熱圧着することにより、図2に示されるよう
な層構造を有するEL素子(試料1)を作製した。
ド電極からなる積層上に、保護層用フィルムAを重ね、
120℃で熱圧着することにより、図2に示されるよう
な層構造を有するEL素子(試料1)を作製した。
【0097】同様に、基材B,C,Fを用いて形成した
アノード電極/EL層/カソード電極からなる積層上
に、対応する保護層用フィルムB,C,Fを重ね、12
0℃で熱圧着することにより、図2に示されるような層
構造を有するEL素子(試料2,3,6)を作製した。
アノード電極/EL層/カソード電極からなる積層上
に、対応する保護層用フィルムB,C,Fを重ね、12
0℃で熱圧着することにより、図2に示されるような層
構造を有するEL素子(試料2,3,6)を作製した。
【0098】また、基材Dを用いて形成したアノード電
極/EL層/カソード電極からなる積層上に、バリア層
がカソード電極の当接するように保護層用フィルムDを
重ね、120℃で熱圧着することにより、図1に示され
るような層構造を有するEL素子(試料4)を作製し
た。
極/EL層/カソード電極からなる積層上に、バリア層
がカソード電極の当接するように保護層用フィルムDを
重ね、120℃で熱圧着することにより、図1に示され
るような層構造を有するEL素子(試料4)を作製し
た。
【0099】同様に、基材E,Gを用いて形成したアノ
ード電極/EL層/カソード電極からなる積層上に、対
応する保護層用フィルムE,Gを重ね、120℃で熱圧
着することにより、図1に示されるような層構造を有す
るEL素子(試料5,7)を作製した。
ード電極/EL層/カソード電極からなる積層上に、対
応する保護層用フィルムE,Gを重ね、120℃で熱圧
着することにより、図1に示されるような層構造を有す
るEL素子(試料5,7)を作製した。
【0100】さらに、PET基材を用いて形成したアノ
ード電極/EL層/カソード電極からなる積層上に、保
護層用PETフィルムを重ね、120℃で熱圧着するこ
とによりEL素子(試料8)を作製した。
ード電極/EL層/カソード電極からなる積層上に、保
護層用PETフィルムを重ね、120℃で熱圧着するこ
とによりEL素子(試料8)を作製した。
【0101】EL素子の発光特性の評価 図4に示される発光測定装置を用いて、上述の各EL素
子(試料1〜3)の発光特性を評価した。すなわち、発
光測定装置は、パソコン51にソースメータ52(ケー
スレー(株)製2400)と輝度計53(トプコン
(株)製BM−8)を接続した構成とした。そして、E
L素子のアノード電極をソースメータ52の正極に、カ
ソード電極をソースメータ52の負極に接続し、輝度計
53により下記の方法で発光輝度を測定し、結果を下記
の表2に示した。 (発光輝度測定方法)EL素子の両極間に直流電圧を印
加して、輝度計で測定した初期の発光輝度を200cd
/m2とし、20℃、Rh80%の雰囲気下で連続的に
発光させ、35時間経過後、70時間経過後における発
光輝度を測定した。
子(試料1〜3)の発光特性を評価した。すなわち、発
光測定装置は、パソコン51にソースメータ52(ケー
スレー(株)製2400)と輝度計53(トプコン
(株)製BM−8)を接続した構成とした。そして、E
L素子のアノード電極をソースメータ52の正極に、カ
ソード電極をソースメータ52の負極に接続し、輝度計
53により下記の方法で発光輝度を測定し、結果を下記
の表2に示した。 (発光輝度測定方法)EL素子の両極間に直流電圧を印
加して、輝度計で測定した初期の発光輝度を200cd
/m2とし、20℃、Rh80%の雰囲気下で連続的に
発光させ、35時間経過後、70時間経過後における発
光輝度を測定した。
【0102】
【表2】 表2に示されるように、試料2〜7は、高湿度雰囲気下
においても安定した発光特性を維持し、信頼性が極めて
高いことが確認された。また、試料1は基材および保護
層のバリア層の特性がやや低く、耐湿性が試料2〜7に
比べてやや劣るものであった。これに対して、試料8は
耐湿性が大幅に劣るものであった。
においても安定した発光特性を維持し、信頼性が極めて
高いことが確認された。また、試料1は基材および保護
層のバリア層の特性がやや低く、耐湿性が試料2〜7に
比べてやや劣るものであった。これに対して、試料8は
耐湿性が大幅に劣るものであった。
【0103】[実施例2]電極とEL層の形成 基材として、厚み25μmのポリエチレンテレフタレー
ト(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片面コロ
ナ処理品)からなる基材を用い、この基材上に、実施例
1と同様にして、ITO電極(アノード電極)、正孔輸
送層、発光層、MgAg電極(カソード電極)を積層し
た。
ト(PET)フィルム(帝人(株)製NSC、片面コロ
ナ処理品)からなる基材を用い、この基材上に、実施例
1と同様にして、ITO電極(アノード電極)、正孔輸
送層、発光層、MgAg電極(カソード電極)を積層し
た。
【0104】積層構造体の作製 次に、厚み25μmのポリエチレンテレフタレート(P
ET)フィルム(帝人(株)製NSC、片面コロナ処理
品)からなる保護層用フィルムを準備し、上記のように
形成したアノード電極/EL層/カソード電極からなる
積層上に、保護層用フィルムを重ね、120℃で熱圧着
することにより、図3に示されるような積層構造体を作
製した。
ET)フィルム(帝人(株)製NSC、片面コロナ処理
品)からなる保護層用フィルムを準備し、上記のように
形成したアノード電極/EL層/カソード電極からなる
積層上に、保護層用フィルムを重ね、120℃で熱圧着
することにより、図3に示されるような積層構造体を作
製した。
【0105】バリアフィルムの作製 まず、基材フィルムとして厚み25μmのポリエチレン
テレフタレート(PET)フィルム(帝人(株)製NS
C)の一方の面に、CVD法により下記の条件で厚み1
20Åの薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成し
た。 (CVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/10/10 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・冷却電極ドラム供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:80m/分
テレフタレート(PET)フィルム(帝人(株)製NS
C)の一方の面に、CVD法により下記の条件で厚み1
20Åの薄膜層(SiOx(X=1.6))を形成し
た。 (CVD成膜条件) ・反応ガス混合比(単位=slm):ヘキサメチルジシ
ロキサン/酸素ガス/ヘリウム=1/10/10 ・真空チャンバー内の真空度:5.5×10-6mbar ・蒸着チャンバー内の真空度:6.5×10-2mbar ・冷却電極ドラム供給電力:18kW ・PETフィルム搬送速度:80m/分
【0106】次いで、上記の薄膜層上に、実施例1にお
いて調製した被覆層用塗布液1を塗布し乾燥(120
℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形成した。
これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜からなるバリ
ア層を形成した。
いて調製した被覆層用塗布液1を塗布し乾燥(120
℃、1時間)して、厚み約2μmの被覆層を形成した。
これにより、薄膜層と被覆層との積層薄膜からなるバリ
ア層を形成した。
【0107】次に、上記のバリア層上に、基材層とし
て、厚み12.5μmのPETフィルム(帝人(株)製
NSC)をドライラミネーションによりラミネートし
て、バリアフィルムAを作製した。
て、厚み12.5μmのPETフィルム(帝人(株)製
NSC)をドライラミネーションによりラミネートし
て、バリアフィルムAを作製した。
【0108】EL素子の作製 上述の積層構造体を1組のバリアフィルムAによって被
覆し、バリアフィルムAの周囲を120℃にて熱融着す
ることにより、図3に示されるようなEL素子(試料
I)を作製した。また、バリアフィルムとして、厚み2
5μmのPET(帝人(株)製NSC)を用い、上記と
同様にしてEL素子(試料II)を作製した。
覆し、バリアフィルムAの周囲を120℃にて熱融着す
ることにより、図3に示されるようなEL素子(試料
I)を作製した。また、バリアフィルムとして、厚み2
5μmのPET(帝人(株)製NSC)を用い、上記と
同様にしてEL素子(試料II)を作製した。
【0109】EL素子の発光特性の評価 実施例1と同様にして、上述の各EL素子(試料I、I
I)の発光特性を評価し、結果を下記の表3に示した。
I)の発光特性を評価し、結果を下記の表3に示した。
【0110】
【表3】 表3に示されるように、本発明のEL素子である試料I
は、高湿度雰囲気下においても安定した発光特性を維持
し、信頼性が極めて高いことが確認された。
は、高湿度雰囲気下においても安定した発光特性を維持
し、信頼性が極めて高いことが確認された。
【0111】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればバ
リア層によって外部から水蒸気がエレクトロルミネッセ
ンス素子内に侵入することが防止され、これによりエレ
クトロルミネッセンス素子内部での湿気の気化、膨張に
よる欠陥の発生が阻止され、耐湿性に優れ信頼性の高い
エレクトロルミネッセンス素子となる。
リア層によって外部から水蒸気がエレクトロルミネッセ
ンス素子内に侵入することが防止され、これによりエレ
クトロルミネッセンス素子内部での湿気の気化、膨張に
よる欠陥の発生が阻止され、耐湿性に優れ信頼性の高い
エレクトロルミネッセンス素子となる。
【図1】本発明のエレクトロルミネッセンス素子の一実
施形態を示す概略断面図である。
施形態を示す概略断面図である。
【図2】本発明のエレクトロルミネッセンス素子の他の
実施形態を示す概略断面図である。
実施形態を示す概略断面図である。
【図3】本発明のエレクトロルミネッセンス素子の他の
実施形態を示す概略断面図である。
実施形態を示す概略断面図である。
【図4】実施例において用いる発光測定装置の構成図で
ある。
ある。
1,11,21…エレクトロルミネッセンス(EL)素
子 2,12,22…積層構造体 3,13,23…エレクトロルミネッセンス(EL)層 4,14,24…電極 5,15,25…電極 6,16,26…基材 6a,16a…バリア層 7,17,27…保護層 7a,17a…バリア層 28,29…バリアフィルム 28a,29a…バリア層
子 2,12,22…積層構造体 3,13,23…エレクトロルミネッセンス(EL)層 4,14,24…電極 5,15,25…電極 6,16,26…基材 6a,16a…バリア層 7,17,27…保護層 7a,17a…バリア層 28,29…バリアフィルム 28a,29a…バリア層
Claims (3)
- 【請求項1】 エレクトロルミネッセンス層と、該エレ
クトロルミネッセンス層の両面に設けられた電極と、一
方の電極を覆うように配設された基材と、他方の電極を
覆うように配設された保護層とからなる積層構造体を有
し、前記基材および前記保護層はバリア層を備える積層
体であることを特徴とするエレクトロルミネッセンス素
子。 - 【請求項2】 エレクトロルミネッセンス層と、該エレ
クトロルミネッセンス層の両面に設けられた電極と、一
方の電極を覆うように配設された基材と、他方の電極を
覆うように配設された保護層とからなる積層構造体を有
し、バリア層を備えたバリアフィルムにより前記積層構
造体が被覆されていることを特徴とするエレクトロルミ
ネッセンス素子。 - 【請求項3】 前記基材および前記保護層の少なくとも
一方はバリア層を備える積層フィルムであることを特徴
とする請求項2に記載のエレクトロルミネッセンス素
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11127206A JP2000323273A (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | エレクトロルミネッセンス素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11127206A JP2000323273A (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | エレクトロルミネッセンス素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000323273A true JP2000323273A (ja) | 2000-11-24 |
Family
ID=14954356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11127206A Pending JP2000323273A (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | エレクトロルミネッセンス素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000323273A (ja) |
Cited By (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001230071A (ja) * | 2000-02-17 | 2001-08-24 | Toppan Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス表示素子およびその製造方法 |
JP2002237381A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Nagase Inteko Kk | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2002373777A (ja) * | 2001-06-18 | 2002-12-26 | Toppan Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
JP2003031357A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Toppan Printing Co Ltd | エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2003100450A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-04-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
JP2003142262A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器 |
US7211838B2 (en) | 2001-12-27 | 2007-05-01 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for manufacturing electro-optical devices |
US7443097B2 (en) | 2001-02-21 | 2008-10-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic equipment |
EP2033988A2 (en) | 2007-09-05 | 2009-03-11 | Fujifilm Corporation | Gas-barrier film, and method for sealing display device with gas-barrier film |
EP2036717A2 (en) | 2007-09-14 | 2009-03-18 | Fujifilm Corporation | Gas barrier film, and display device comprising the same |
EP2040315A2 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Environment-sensitive device, and method for sealing environment-sensitive element |
EP2040314A1 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Light-emitting device or display device, and method for producing them |
EP2040318A2 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Patterning method and display device |
EP2050780A2 (en) | 2007-10-16 | 2009-04-22 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, barrier film substrate, device, and method for producing barrier laminate |
EP2085496A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-05 | FUJIFILM Corporation | Method for producing functional film |
EP2085497A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-05 | FUJIFILM Corporation | Method for producing functional film |
EP2110403A1 (en) | 2008-04-14 | 2009-10-21 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, barrier film substrate and device |
EP2113310A1 (en) | 2008-05-02 | 2009-11-04 | FUJIFILM Corporation | Film depositing apparatus |
EP2128191A1 (en) | 2008-05-30 | 2009-12-02 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, device, and method for producing barrier laminate |
EP2128192A1 (en) | 2008-05-29 | 2009-12-02 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device using the same |
EP2138533A1 (en) | 2008-06-26 | 2009-12-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device using the same |
EP2138532A1 (en) | 2008-06-25 | 2009-12-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device |
EP2141190A1 (en) | 2008-06-30 | 2010-01-06 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, device and method for producing barrier laminate |
EP2172988A2 (en) | 2008-10-01 | 2010-04-07 | Fujifilm Corporation | Organic solar cell device |
EP2175495A1 (en) | 2008-10-10 | 2010-04-14 | Fujifilm Corporation | Sealed device |
US7728326B2 (en) | 2001-06-20 | 2010-06-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic apparatus |
WO2010095514A1 (en) | 2009-02-20 | 2010-08-26 | Fujifilm Corporation | Optical member, and organic electroluminescence display device provided with the optical member |
EP2228846A1 (en) | 2009-03-03 | 2010-09-15 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, and device using the same |
EP2289983A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-02 | Fujifilm Corporation | Composite film |
WO2011027902A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-10 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and method for manufacturing the barrier laminate |
EP2298551A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-23 | Fujifilm Corporation | Gas barrier film and device |
EP2301748A1 (en) | 2009-09-14 | 2011-03-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate and gas barrier film using the same |
US7952101B2 (en) | 2001-06-20 | 2011-05-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
WO2011070717A1 (ja) | 2009-12-08 | 2011-06-16 | シャープ株式会社 | ワーク表面の異物研磨方法及び異物研磨装置 |
EP2426164A1 (en) | 2010-08-31 | 2012-03-07 | Fujifilm Corporation | Functional film and method of manufacturing functional film |
WO2012046742A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
WO2012046738A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
WO2012046741A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
WO2012046736A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置及びその製造方法 |
JP2012084353A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2014135286A (ja) * | 2014-03-14 | 2014-07-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
JP2015007292A (ja) * | 2008-05-07 | 2015-01-15 | ザ、トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシティ | 電子デバイス又は他の物品上のコーティングに使用するハイブリッド層 |
JP2015128074A (ja) * | 2015-02-27 | 2015-07-09 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
WO2018025823A1 (ja) | 2016-08-02 | 2018-02-08 | 日本ゼオン株式会社 | 太陽電池モジュール |
WO2018047550A1 (ja) | 2016-09-06 | 2018-03-15 | 日本ゼオン株式会社 | 太陽電池モジュール |
US10658536B2 (en) | 2016-08-02 | 2020-05-19 | Zeon Corporation | Solar cell module |
-
1999
- 1999-05-07 JP JP11127206A patent/JP2000323273A/ja active Pending
Cited By (65)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4491894B2 (ja) * | 2000-02-17 | 2010-06-30 | 凸版印刷株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス表示素子およびその製造方法 |
JP2001230071A (ja) * | 2000-02-17 | 2001-08-24 | Toppan Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス表示素子およびその製造方法 |
JP2002237381A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Nagase Inteko Kk | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
US7443097B2 (en) | 2001-02-21 | 2008-10-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic equipment |
JP2002373777A (ja) * | 2001-06-18 | 2002-12-26 | Toppan Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
JP2003100450A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-04-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
US8415660B2 (en) | 2001-06-20 | 2013-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US8822982B2 (en) | 2001-06-20 | 2014-09-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic apparatus |
US7952101B2 (en) | 2001-06-20 | 2011-05-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US9166180B2 (en) | 2001-06-20 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device having an organic light emitting diode that emits white light |
US9178168B2 (en) | 2001-06-20 | 2015-11-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | White light emitting device |
US9276224B2 (en) | 2001-06-20 | 2016-03-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic light emitting device having dual flexible substrates |
US7728326B2 (en) | 2001-06-20 | 2010-06-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic apparatus |
JP2003031357A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Toppan Printing Co Ltd | エレクトロルミネッセンス素子 |
US7362515B2 (en) | 2001-11-06 | 2008-04-22 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, film member, laminated film, low refractivity film, laminated multilayer film and electronic appliances |
JP2003142262A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器 |
US7211838B2 (en) | 2001-12-27 | 2007-05-01 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for manufacturing electro-optical devices |
US7714328B2 (en) | 2001-12-27 | 2010-05-11 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for manufacturing electro-optical devices |
EP2033988A2 (en) | 2007-09-05 | 2009-03-11 | Fujifilm Corporation | Gas-barrier film, and method for sealing display device with gas-barrier film |
EP2036717A2 (en) | 2007-09-14 | 2009-03-18 | Fujifilm Corporation | Gas barrier film, and display device comprising the same |
EP2040314A1 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Light-emitting device or display device, and method for producing them |
EP2040318A2 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Patterning method and display device |
EP2040315A2 (en) | 2007-09-19 | 2009-03-25 | Fujifilm Corporation | Environment-sensitive device, and method for sealing environment-sensitive element |
EP2050780A2 (en) | 2007-10-16 | 2009-04-22 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, barrier film substrate, device, and method for producing barrier laminate |
EP2085497A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-05 | FUJIFILM Corporation | Method for producing functional film |
EP2085496A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-05 | FUJIFILM Corporation | Method for producing functional film |
EP2110403A1 (en) | 2008-04-14 | 2009-10-21 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, barrier film substrate and device |
EP2113310A1 (en) | 2008-05-02 | 2009-11-04 | FUJIFILM Corporation | Film depositing apparatus |
JP2017122283A (ja) * | 2008-05-07 | 2017-07-13 | ザ、トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシティ | 電子デバイス又は他の物品上のコーティングに使用するハイブリッド層 |
US9882167B2 (en) | 2008-05-07 | 2018-01-30 | The Trustees Of Princeton University | Hybrid layers for use in coatings on electronic devices or other articles |
JP2015007292A (ja) * | 2008-05-07 | 2015-01-15 | ザ、トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシティ | 電子デバイス又は他の物品上のコーティングに使用するハイブリッド層 |
EP2128192A1 (en) | 2008-05-29 | 2009-12-02 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device using the same |
EP2128191A1 (en) | 2008-05-30 | 2009-12-02 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, device, and method for producing barrier laminate |
EP2138532A1 (en) | 2008-06-25 | 2009-12-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device |
EP2138533A1 (en) | 2008-06-26 | 2009-12-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and device using the same |
EP2141190A1 (en) | 2008-06-30 | 2010-01-06 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, device and method for producing barrier laminate |
EP2172988A2 (en) | 2008-10-01 | 2010-04-07 | Fujifilm Corporation | Organic solar cell device |
EP2175495A1 (en) | 2008-10-10 | 2010-04-14 | Fujifilm Corporation | Sealed device |
WO2010095514A1 (en) | 2009-02-20 | 2010-08-26 | Fujifilm Corporation | Optical member, and organic electroluminescence display device provided with the optical member |
US8329306B2 (en) | 2009-03-03 | 2012-12-11 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, and device using the same |
EP2228846A1 (en) | 2009-03-03 | 2010-09-15 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film, and device using the same |
EP2289983A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-02 | Fujifilm Corporation | Composite film |
WO2011027902A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-10 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate, gas barrier film and method for manufacturing the barrier laminate |
EP2298551A1 (en) | 2009-09-01 | 2011-03-23 | Fujifilm Corporation | Gas barrier film and device |
US8697235B2 (en) | 2009-09-14 | 2014-04-15 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate and gas barrier film using the same |
EP2301748A1 (en) | 2009-09-14 | 2011-03-30 | Fujifilm Corporation | Barrier laminate and gas barrier film using the same |
WO2011070717A1 (ja) | 2009-12-08 | 2011-06-16 | シャープ株式会社 | ワーク表面の異物研磨方法及び異物研磨装置 |
EP2426164A1 (en) | 2010-08-31 | 2012-03-07 | Fujifilm Corporation | Functional film and method of manufacturing functional film |
JP2012084306A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機el装置 |
WO2012046741A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
WO2012046742A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
WO2012046736A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置及びその製造方法 |
JP2012084307A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機el装置 |
JP2012084308A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機el装置 |
JP2012084305A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機el装置 |
JP2012084353A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
WO2012046738A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | 住友化学株式会社 | 有機el装置 |
CN103155701A (zh) * | 2010-10-08 | 2013-06-12 | 住友化学株式会社 | 有机el装置 |
JP2014135286A (ja) * | 2014-03-14 | 2014-07-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
JP2015128074A (ja) * | 2015-02-27 | 2015-07-09 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
WO2018025823A1 (ja) | 2016-08-02 | 2018-02-08 | 日本ゼオン株式会社 | 太陽電池モジュール |
US10658536B2 (en) | 2016-08-02 | 2020-05-19 | Zeon Corporation | Solar cell module |
US10998140B2 (en) | 2016-08-02 | 2021-05-04 | Zeon Corporation | Solar cell module |
WO2018047550A1 (ja) | 2016-09-06 | 2018-03-15 | 日本ゼオン株式会社 | 太陽電池モジュール |
US10923609B2 (en) | 2016-09-06 | 2021-02-16 | Zeon Corporation | Solar cell module |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000323273A (ja) | エレクトロルミネッセンス素子 | |
US6781148B2 (en) | Light emitting device | |
KR100902706B1 (ko) | 기판 및 그 기판을 갖는 유기 전계 발광 소자 | |
JP4716773B2 (ja) | ガスバリアフィルムとそれを用いた有機デバイス | |
JP6156366B2 (ja) | ガスバリア性フィルム、電子デバイス用基板および電子デバイス | |
JP4040850B2 (ja) | 発光素子 | |
US6660409B1 (en) | Electronic device and process for producing the same | |
KR101828662B1 (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 조명 장치 | |
US7625596B2 (en) | Adhesion promoter, electroactive layer and electroactive device comprising same, and method | |
KR20070007736A (ko) | 가스 배리어성 필름, 기재 필름 및 유기일렉트로루미네선스 소자 | |
JP4508219B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び有機エレクトロルミネッセンス表示素子の封止方法 | |
JP2007118564A (ja) | ガスバリア材料およびその製造方法、並びに、ガスバリア層の設置方法 | |
US20020153523A1 (en) | Organic light emitting diodes on plastic substrates | |
JP4172230B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置等に用いる基板および有機エレクトロルミネッセンス表示装置 | |
JP4225030B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
WO2012063445A1 (ja) | 有機el表示装置およびその製造方法 | |
JP2010013735A (ja) | 樹脂フィルムの製造方法及び該樹脂フィルムを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JP4273798B2 (ja) | 基板及びその基板を有する有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JP2003059643A (ja) | エレクトロルミネッセント素子 | |
JP2015080855A (ja) | 封止フィルム、その製造方法及び封止フィルムで封止された機能素子 | |
JP5542072B2 (ja) | ガスバリアフィルムとそれを用いた有機デバイス | |
JP4154898B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び有機エレクトロルミネッセンス表示素子の封止方法 | |
JP2004079300A (ja) | 発光素子及びその製造方法 | |
JP2008021575A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子および該素子の製造方法 | |
WO2016084791A1 (ja) | 封止フィルム、機能素子及び封止フィルムの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060414 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090312 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090317 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090714 |