JP2000312433A - スイッチング・デバイス - Google Patents

スイッチング・デバイス

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JP2000312433A
JP2000312433A JP2000016686A JP2000016686A JP2000312433A JP 2000312433 A JP2000312433 A JP 2000312433A JP 2000016686 A JP2000016686 A JP 2000016686A JP 2000016686 A JP2000016686 A JP 2000016686A JP 2000312433 A JP2000312433 A JP 2000312433A
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Japan
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power supply
circuit
fet
drive
signal
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JP2000016686A
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Kazuyoshi Ogasawara
一賀 小笠原
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Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K17/082Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
    • H03K17/0822Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K2017/0806Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage against excessive temperature

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  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡素化したスイッチング・デバイスを提供す
る。 【解決手段】 負荷の駆動を指令する指令手段813,
Q51、駆動指令信号に応答して駆動信号を出力する駆
動手段111、電源101と負荷102とを結ぶ電源回
路中に挿入されて駆動信号により導通して電源回路を閉
じる第1のスイッチング手段QA、電源から電流の供給
を受けて基準電圧を発生する基準抵抗Rr1,2、電源
と基準抵抗Rr1,2とを結ぶ分流回路中に挿入されて
駆動信号により導通して分流回路を閉じる第2のスイッ
チング手段QB, QC、第1のスイッチング手段QAの
出力電圧と基準電圧とを比較して異常を判定する異常判
定手段CMP1, 2、異常の判定信号に応答して駆動手
段111に入力される駆動指令信号を停止指令信号に変
更してラッチする遮断ラッチ手段306, Q53、そし
て駆動手段111に入力される指令信号の状態により負
荷102の状態を監視する監視手段811を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スイッチング・デ
バイスに係り、特に、異常を検出して電源から負荷への
電力供給を制御するスイッチング・デバイスに関する。
【0002】
【従来の技術】スイッチング・デバイスは、例えば自動
車などにおいて電源から各負荷への電力供給を制御する
のに用いられており、従来のスイッチング・デバイス
は、電力の供給と遮断を切り換える半導体素子とその駆
動回路、短絡などの異常時の電流を検出するため、電源
と半導体素子の間に挿入されたシャント抵抗とシャント
抵抗前後の電圧を比較するコンパレータなどからなる異
常判定回路、異常判定回路からの判定信号をアナログ−
デジタル変換するためのA/D変換器、そして変換され
た判定信号に基づき駆動回路に指令して半導体素子のオ
ン/オフを制御するマイクロコンピュータ(以下マイコ
ンと略称する)などの制御手段などで構成されている。
【0003】制御手段からの指令信号に応答して駆動回
路が駆動信号を出力することで半導体素子がオンされ、
電源から負荷への電源回路が閉じ、負荷へ電力が供給さ
れる。このとき、過電流などの異常が発生すると、シャ
ント抵抗の電圧降下に基づき異常判定回路で正常値を上
回る異常電流が発生したことを検知し、制御手段が駆動
信号の出力を停止し、半導体素子をオフ、すなわち非導
通状態にすることで、半導体素子や負荷を保護してい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のスイッ
チング・デバイスでは、マイコンなどの制御手段、シャ
ント抵抗を含む異常判定回路、A/D変換器などが必要
であるため、装置が複雑化するという問題がある。
【0005】本発明の課題は、簡素化されたスイッチン
グ・デバイスを提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】ここで、本発明の基本と
なるスイッチング・デバイスとして、指令信号に応答し
て駆動信号を出力する駆動回路、電源と負荷とを結ぶ電
源回路中に挿入されて駆動信号により導通して電源回路
を閉じる第1のスイッチング手段、電源から電流の供給
を受けて基準電圧を発生する基準抵抗、電源と基準抵抗
とを結ぶ分流回路中に挿入されて駆動信号により導通し
て分流回路を閉じる第2のスイッチング手段、第1のス
イッチング手段の出力電圧と基準電圧を比較して異常を
判定し、駆動回路に駆動信号の出力を停止させる異常判
定手段、第1のスイッチング手段の状態を監視して負荷
の状態によって第1のスイッチング手段が導通・非導通
を設定回数繰り返したときにラッチ指令信号を出力する
ON/OFF計数回路、そしてラッチ指令信号に応答し
て第1のスイッチング手段を非導通状態にするとともに
この非導通状態をラッチする遮断ラッチ回路などから構
成されるものが考えられている。
【0007】このようなスイッチング・デバイスでは、
例えば電源回路の短絡などの異常時に、正常時よりも大
きな電流が電源回路に流れると、第1のスイッチング手
段の出力電圧が基準電圧よりも低くなることで異常判定
手段が異常を示す判定信号を駆動回路に出力する。駆動
回路は、駆動信号の出力を停止し、第1のスイッチング
手段がオフ、すなわち非導通状態になり、電源から負荷
への電力の供給が停止される。電力の供給が停止され、
第1のスイッチング手段の出力電圧と第2のスイッチン
グ手段の出力電圧がほぼ同じになるまで降下すると、異
常判定手段は、正常を示す判定信号を出力し、駆動手段
が再び駆動信号を出力することで、第1のスイッチング
手段がオンし、負荷に電力が供給される。このような、
駆動信号の出力と停止を繰り返すことにより、第1のス
イッチング手段が導通・非導通を繰り返し、この繰返し
の回数をON/OFF計数回路が計数し、所定の回数に
達すると遮断ラッチ回路により第1のスイッチング手段
がオフ状態にラッチされる。つまり、負荷への電力の供
給と異常時の電力供給の遮断などの制御を、マイコンな
どの制御手段、シャント抵抗を含む異常判定回路、A/
D変換器などを用いずに、ハードウエア回路のみで行な
っている。さらに、スイッチング・デバイスを構成する
ハードウエア回路などのほとんどの構成要素を1つの半
導体チップに集積化することができる。すなわち、スイ
ッチング・デバイスを簡素化することができる。
【0008】ところで、この本発明の基本となるスイッ
チング・デバイスでは、異常判定手段からの判定信号や
遮断ラッチ手段でのラッチの実施の情報は、半導体チッ
プ外部の、例えば各負荷のスイッチングを管理している
マイコンなどに出力するようになっており、半導体チッ
プには、これらの出力端子を含め複数端子が設けられて
いる。
【0009】したがって、本発明のスイッチング・デバ
イスは、負荷の駆動を指令する指令手段と、指令手段か
らの駆動指令信号に応答して駆動信号を出力する駆動手
段と、電源と負荷とを結ぶ電源回路中に挿入されて駆動
信号により導通して電源回路を閉じる第1のスイッチン
グ手段と、電源から電流の供給を受けて基準電圧を発生
する基準抵抗と、電源と基準抵抗とを結ぶ分流回路中に
挿入されて駆動信号により導通して分流回路を閉じる第
2のスイッチング手段と、第1のスイッチング手段の出
力電圧と基準電圧とを比較して異常を判定する異常判定
手段と、異常判定手段の異常の判定信号に応答して駆動
手段に出力される駆動指令信号を停止指令信号に変更し
てラッチする遮断ラッチ手段と、駆動手段に入力される
指令信号の状態により負荷の状態を監視する監視手段と
を備える構成としている。
【0010】このようにスイッチング・デバイスを構成
すれば、負荷での異常が発生すると、異常判定手段から
の信号により、遮断ラッチ回路が駆動指令信号を停止指
令信号に変更し、駆動手段を駆動信号の出力が停止した
状態にラッチする。さらに、駆動手段への指令信号が駆
動指令信号と停止指令信号のどちらかを監視手段で監視
し、監視手段は、指令手段が駆動を指令しているとき
に、駆動手段に入力される指令信号が停止指令信号に変
更されることで異常の発生と、第1のスイッチング手段
が、非導通状態にラッチされていることを検知すること
ができる。このため、異常判定やラッチの実施の情報出
力は、駆動手段に指令信号を与えるための端子で行なえ
るようになり、異常判定手段からの判定信号の出力や、
遮断ラッチ手段でのラッチ実施の情報出力端子が必要な
くなる。つまり、接続を増やし装置を複雑化させる半導
体チップの端子数を削減できる。すなわち、さらにスイ
ッチング・デバイスを簡素化できる。
【0011】また、異常判定手段は、第1のスイッチン
グ手段の出力電圧が基準電圧よりも低いときに異常と判
定する第1の異常判定手段である。
【0012】さらに、第1のスイッチング手段の出力電
圧が基準電圧よりも高いときに異常と判定する第2の異
常判定手段を備えていてもよい。
【0013】
【発明の実施の形態】まず、本発明の実施の形態を説明
する前に、本発明の基本となる電流振動型遮断機能付き
スイッチング・デバイスの概略構成およびその動作の概
略について図1乃至図3を参照して説明する。図1は、
本発明を適用してなる電流振動型遮断機能付きスイッチ
ング・デバイスのブロック構成図である。図2は、スイ
ッチング・デバイスの要部回路構成図である。図3
(a)は、スイッチング・デバイスの作用を説明するた
めの負荷電流の波形図、(b)は、FETQAのドレイ
ン・ソース端子間の電圧の波形図である。
【0014】電流振動型遮断機能付きスイッチング・デ
バイスは、図1に示すように、半導体チップ110上に
各種の回路素子を集積化した半導体集積回路(パワーI
C)として構成されており、電源端子T1が出力電圧V
B(例えば+12ボルト)の電源101に接続され、接
地端子T2が接地され、出力端子T3が負荷102に接
続されている。
【0015】この半導体チップ110上には、感熱遮断
機能を有する半導体素子(パワーデバイス)として、n
チャネル温度センサー内蔵FETQAが集積化されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、ドレイン電極
がドレイン端子D、電源端子T1を介して電源101に
接続され、ソース電極がソース端子S、出力端子T3を
介して負荷102に接続され、ゲート電極がゲート端子
TG、抵抗RGを介して駆動回路111に接続されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、電源101と
負荷102とを結ぶ電源回路中に挿入されてゲート端子
TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)に応答し
て導通(オン)して、電源回路を閉じる第1のスイッチ
ング手段として構成されている。そしてこの温度センサ
ー内蔵FETQAと並列に基準デバイスとして、nチャ
ネルFETQB、FETQCが集積化されている。
【0016】FETQBはドレイン電極がドレイン端子
D、電源端子T1を介して電源101に接続され、ソー
ス電極が出力端子T4を介して第1の基準抵抗Rr1に
接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介して抵抗R
Gに接続されている。FETQCは、ドレイン電極がド
レイン端子D、電源端子T1を介して電源101に接続
され、ソース電極が出力端子T5を介して第2の基準抵
抗Rr2に接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介
して抵抗RGに接続されている。FETQBは、ゲート
端子TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)によ
り導通して、電源端子T1と第1の基準抵抗Rr1とを
結ぶ分流回路を閉じる第2のスイッチング手段として構
成されている。FETQCは、ゲート端子TGに入力さ
れる駆動信号(オンパルス信号)により導通して、電源
端子T1と第2の基準抵抗Rr2とを結ぶ分流回路を閉
じる第3のスイッチング手段として構成されている。
【0017】FETQA、QB、QCとしては、例え
ば、DMOS構造、VMOS構造あるいはUMOS構造
のパワーMOSFETやこれらと類似な構造のMOSF
ETを用いることができるとともに、EST、MCTな
どのMOS複合型デバイスやIGBTなど他の絶縁ゲー
ト型パワーデバイスを用いることができる。また、常に
ゲートを逆バイアスで使うものであれば、接合型FE
T、接合型SITやSIサイリスタなどを使用すること
もできる。さらに、パワーICに用いるFETQA、Q
B、QCとしては、nチャネル型でもpチャネル型でも
用いることができる。
【0018】また、温度センサー内蔵FETQA、Q
B、QCは、例えば、複数個のユニットセル(単位セ
ル)が並列接続されたマルチ・チャネル構造のパワーデ
バイスを用いて構成されており、各FETが隣接して配
置されている。そしてFETQB、QCの電流容量はF
ETQAの電流容量よりも小さく設定されている。この
設定は、FETQB、QCを構成する並列接続のユニッ
トセル数で調整されている。例えば、FETQBのユニ
ットセル数1に対して、FETQAのユニットセル数が
1000となるように構成されており、FETQBとF
ETQAのチャネル幅Wの比は、例えば1:1000と
なっている。
【0019】さらに、FETQAのソース端子Sはコン
パレータCMP1とコンパレータCMP2のプラス入力
端子にそれぞれ接続されており、FETQBのソース電
極はコンパレータCMP1のマイナス入力端子に接続さ
れ、FETQCのソース電極はコンパレータCMP2の
マイナス入力端子に接続されている。コンパレータCM
P1の出力端子は駆動回路111に接続され、コンパレ
ータCMP2の出力端子は半導体チップ110の出力端
子T6を介して、過小電流検出、ランプ断線検出、オー
プン検出を行なう異常検出部501に接続されている。
なお、FETQAのソース端子Sはツェナーダイオード
ZD1を介して駆動回路111に接続されており、この
ツェナーダイオードZD1は、FETQA、FETQ
B、FETQCのゲート端子TG・ソース端子S間を1
2ボルトに保ち、ゲート端子TGに過電圧が印加された
ときに、この過電圧をバイパスするように構成されてい
る。
【0020】一方、半導体チップ110上の他の領域に
は、電源Enable部302、マスキング回路30
3、ON/OFF計数回路304、チャージポンプ回路
305、遮断ラッチ回路306(特開平6−24441
4号公報参照)が集積化されており、電源Enable
部302が端子T7に接続され、マスキング回路303
が端子T8を介してコンデンサC11に接続され、ON
/OFF計数回路304が端子T9を介してコンデンサ
C12に接続され、駆動回路111が入力端子T10を
介してスイッチSW1と抵抗R11に接続され、遮断ラ
ッチ回路306が出力端子T11を介してダイアグ出力
部(診断結果出力部)502に接続されている。
【0021】なお、マスキング回路303は、FETQ
Aがオンされ負荷に電流が流れ始めたときに生ずる突入
電流をなくす、すなわちマスキングするためのものであ
り、突入電流が問題とならない場合には、マスキング回
路303とこれに付随する端子T8やコンデンサC11
は備えていなくてもよい。また、ダイアグ出力部(診断
結果出力部)502とこれに付随する端子T11は、診
断結果出力の必要がなければ備えていなくてもよい。
【0022】駆動回路111は、図2に示すように、ソ
ーストランジスタQ5とシンクトランジスタQ6を備え
ているとともに、各トランジスタをオンオフ制御する駆
動素子とインバータなどを備えており、各トランジスタ
Q5、Q6が互いに直列接続されている。そしてソース
トランジスタQ5のコレクタが電位VPの端子に接続さ
れ、エミッタが抵抗RGを介してゲート端子TGに接続
されている。シンクトランジスタQ6はコレクタが抵抗
RGを介してゲート端子TGに接続され、エミッタが接
地電位(GND)に接続されている。電位VPの端子
は、チャージポンプ回路305に接続されており、この
端子の電位VPは、チャージポンプ回路305の出力に
よって、電源101よりも高い電圧、例えば、電源10
1の電圧を12Vとしたとき、12V+10Vに設定さ
れている。
【0023】駆動回路111は、スイッチSW1が投入
されて入力端子T10がスイッチSW1を介して接地さ
れたときに、入力端子T10からの指令信号に応答して
ソーストランジスタQ5がオンになり、出力端子(トラ
ンジスタQ5とトランジスタQ6との接続点)にハイレ
ベルの駆動信号(オンパルス信号)を出力する駆動手段
として構成されている。一方、スイッチSW1が開かれ
たときには、入力端子T10に抵抗R11を介して電源
101の電圧が印加されるので、シンクトランジスタQ
6がオンになって出力端子(トランジスタQ5とトラン
ジスタQ6との接続点)のレベルをローレベルに遷移さ
せるようになっている。なお、駆動回路111として
は、バイポーラトランジスタの代わりに、CMOSFE
Tを用いて構成することも可能である。
【0024】上記構成による駆動回路111からの駆動
信号(オンパルス信号)がゲート端子TGに入力される
と各FETQA、QB、QCは導通し、図3に示すよう
に、各FETのドレイン・ソース電極間の電圧701
は、2V以下に低下する。このとき負荷102が正常状
態の場合、駆動回路111から駆動信号が出力されてい
る間は各FETのドレイン・ソース電極間は2V以下に
維持され、FETQAのドレイン電流705が一定にな
る。
【0025】ここで、負荷102などが短絡すると、負
荷102などに大電流が流れ、負荷102やFETQA
が損傷する恐れがある。そこで、FETQA、QBのソ
ース電圧をコンパレータCMP1で監視し、両者の電圧
が閾値を超えたときには駆動回路111に駆動信号の出
力を強制的に停止させる構成が採用されている。
【0026】すなわち、コンパレータCMP1のプラス
入力端子には、FETQAのソース電圧が入力されてお
り、マイナス入力端子にはFETQBのソース電圧が入
力されている。そしてコンパレータCMP1は、プラス
入力端子およびマイナス入力端子に入力された電圧を比
較し、FETQAのソース電圧がFETQBのソース電
圧よりも高いかほぼ等しいときには“H”レベルの出力
信号を出力し、FETQAのソース電圧がFETQBの
ソース電圧よりも低くなったとき、例えば、負荷102
に通常よりも大きな電流が流れ、第1の基準抵抗Rr1
によるFETQBのソース電圧、すなわち閾値電圧より
も、FETQAのソース電圧の方が低くなると、FET
QAに異常電流が流れたとして“L”レベルの信号を駆
動回路111に出力するようになっている。駆動回路1
11はコンパレータCMP1から“H”レベルの信号が
入力されているときには駆動信号の出力が可能になって
いるが、“L”レベルの信号が入力されたときには駆動
信号の出力が強制的に停止されるようになっている。こ
のように、コンパレータCMP1は、駆動回路111に
駆動信号の出力を強制的に停止させるための異常判定手
段として構成されている。なお、閾値電圧は、負荷の抵
抗をL、検出したい異常により負荷を流れる電流値を通
常時の電流値のα倍、FETQBとFETQAの個数
比、すなわちチャネル幅Wの比1:Nとすると、基準抵
抗Rr1の抵抗値をN・L/αに設定することで決ま
る。
【0027】コンパレータCMP2も同様に、プラス入
力端子には、FETQAのソース電圧が、マイナス入力
端子には、FETQCのソース電圧が入力されている。
そして、プラス入力端子およびマイナス入力端子に入力
された電圧を比較し、FETQAのソース電圧がFET
QCのソース電圧よりも低いかほぼ等しいときには
“L”レベルの出力信号を出力し、FETQAのソース
電圧がFETQCのソース電圧よりも高いとき、例え
ば、負荷102が複数の電球であり、電球の1つが断線
することにより通常よりも小さな電流が流れ、第2の基
準抵抗Rr2のFETQCのソース電圧、すなわち閾値
電圧よりも、FETQAのソース電圧の方が高くなる
と、FETQAに異常電流が流れたとして“H”レベル
の信号を異常検出部501に出力するようになってい
る。このようにコンパレータCMP2は、異常の検出を
異常検出部501に出力する異常判定手段として構成さ
れている。なお、閾値電圧は、負荷の抵抗をL、検出し
たい異常により負荷を流れる電流値を通常時の電流値の
1/β倍、FETQBとFETQAの個数比、すなわち
チャネル幅Wの比1:Nとすると、基準抵抗Rr2の抵
抗値をβ・N・Lに設定することで決まる。
【0028】一方、FETQAがオン状態からオフ状態
に遷移すると、トランジスタQ6がオンになることによ
ってダイオードD1が導通する。この結果、抵抗R1、
ダイオードD1の経路で電流が流れ、コンパレータCM
P1のプラス入力端子の電位は駆動回路111がオン制
御しているときよりも低下する。したがって、オフ状態
に遷移した直後より小さい特定のドレイン・ソース間電
圧の差が生じるまで、すなわちFETQAのソース電圧
がFETQBのソース電圧とほぼ同じになるまで、FE
TQAはオフ状態に維持される。
【0029】ところが、配線の短絡などでFETQAが
オフ状態になった場合でも、ドレイン電流が増加し、F
ETQAは、ピンチオフ領域を経由して、例えば、3極
管特性領域での動作状態を経てオフ状態へ遷移する。こ
の結果、一定時間経過後には、コンパレータCMP1の
プラス入力端子の電位が高くなり、コンパレータCMP
1の出力レベルは“L”レベルから“H”レベルに変化
し、FETQAは再びオン状態に遷移する。図3に示す
ように、このような負荷102の短絡などの異常時のF
ETQAのドレイン・ソース間電圧703の周期的な遷
移は、スイッチSW1が閉じている間は継続され、これ
により、FETQAのドレイン電流707が周期的に変
動する。FETQAのドレイン・ソース間電圧703の
遷移の周期は配線のインダクタンスや配線抵抗、FET
QAのコンデンサ容量などに基づく時定数によって決定
される。
【0030】そこで、FETQAがオンオフする回数を
計数し、この計数値が設定値に達したときにはFETQ
Aを強制的に遮断し、この遮断状態を保持することとし
ている。
【0031】具体的には、FETQAのオンオフ状態を
計数するための回路としてON/OFF計数回路304
と遮断ラッチ回路306が設けられている。
【0032】ON/OFF計数回路304は、図2に示
すように、バイポーラトランジスタQ41、Q42、Q
43、nチャネルFETQ44、ダイオードD41、D
42、D43、ツェナーダイオードZD41、抵抗R4
1〜R46を備えて構成されている。
【0033】ツェナーダイオードZD41のカソード側
はFETQAのソース端子Sに接続されており、ソース
端子Sの電圧が正常状態にあるときにはトランジスタQ
43のベースには順バイアス電圧が印加され、トランジ
スタQ43はオン状態にある。このためトランジスタQ
42もオン状態にある。一方、トランジスタQ41はベ
ースが抵抗R41、ダイオードD42を介して駆動回路
111の出力端子に接続されているため、トランジスタ
Q5がオンのとき、すなわち、FETQAがオンのとき
には、トランジスタQ41はオフの状態にある。
【0034】一方、トランジスタQ6がオンになったと
き、すなわちFETQAがオフになったときにはダイオ
ードD42がトランジスタQ6を介して接地されるた
め、トランジスタQ41がオンになる。トランジスタQ
41がオンになると電源101からの電流がトランジス
タQ41、Q42、抵抗R44を介してコンデンサC1
2に流れ、コンデンサC12が充電される。
【0035】次に、トランジスタQ5がオフからオンに
遷移するとトランジスタQ41がオフとなり、コンデン
サC12に充電された電荷は抵抗R46を介して放電す
る。このあと再びトランジスタQ6がオンとなってトラ
ンジスタQ41がオンになると、コンデンサC12がさ
らに充電される。
【0036】このようなオンオフ動作を繰り返す過程
で、コンデンサC12に充電された電荷によってFET
Q44のゲート電圧がしきい値を超えると、FETQ4
4がオンになり、ダイオードD42が導通する。これに
より、温度センサ121の両端がダイオードD43を介
して短絡され、遮断ラッチ回路306にラッチ指令信号
が出力されることになる。すなわち、ON/OFF計数
回路304はラッチ指令手段として構成されている。な
お、ON/OFF回数が設定値に達するまでの時間は、
抵抗R46とコンデンサC12による時定数によって調
整することができる。
【0037】遮断ラッチ回路306は、nチャネルFE
TQS、Q11、Q12、Q13、Q14、温度センサ
121、抵抗R31〜R35を備えて構成されており、
FETQSのドレイン電極がFETQAのゲート端子T
Gに接続され、ソース電極がFETQAのソース端子S
に接続されている。温度センサ121は、4個のダイオ
ードが直列接続されて構成されており、半導体チップ1
10の温度が設定温度を超えたときには、両端の電圧が
設定電圧よりも低くなるように構成されている。すなわ
ち、温度センサ121の両端の電圧は、正常時には、F
ETQ11のソース・ゲート電極間のしきい値よりも高
く設定されており、FETQ11は常時オン状態に維持
されている。そして、FETQ11がオンのときには、
FETQ14はオフに、FETQ13がオンに、FET
Q12、FETQSがオフ状態に維持されている。
【0038】一方、FETQ44がオンになって温度セ
ンサ121の両端がダイオードD43を介して短絡され
たり、あるいは半導体チップ110の温度が設定温度を
超えて温度センサ121の両端の電圧が設定電圧以下に
低下したりすると、FETQ11がオンからオフになっ
て、FETQ14がオンになる。FETQ14がオンに
なると、FETQ13がオンになるとともにFETQS
がオンになり、FETQAのソース・ゲート電極間がF
ETQSによって短絡され、FETQAが遮断状態にな
る。この短絡状態はラッチ回路を構成するFETQ1
2、Q13によってラッチされる。すなわち、遮断ラッ
チ回路306は、ON/OFF計数回路304のON/
OFF回数が設定値に達したとき、あるいは温度センサ
121によて半導体チップ110の温度が前述のように
周期的に変動する電流707(電流振動)による加熱に
より設定温度を超えたときに、FETQAを非導通状態
にするとともに、この非導通状態をラッチする遮断ラッ
チ手段として構成されている。
【0039】このように、半導体チップ110を用いた
スイッチング・デバイスでは、ハードウエア回路で、過
電流や過小電流などの異常電流を検出し、その異常の状
態に応じてFETQAを非導通状態にラッチしたり、ま
た異常の発生を示す信号を外部、例えば、負荷全体のス
イッチングを管理する制御手段などに出力することがで
きる。つまり、従来のように、マイコンなどの制御手
段、シャント抵抗を含む異常判定回路、A/D変換器な
どが不用となり、負荷への電力の供給と異常時の電力供
給の遮断などの制御がハードウエア回路のみで行なえ、
さらにスイッチング・デバイスを構成するハードウエア
回路などのほとんどの構成要素を1つの半導体チップに
集積化することができる。すなわち、スイッチング・デ
バイスを簡素化できる。
【0040】次に、本発明を適用してなるスイッチング
・デバイスの一実施形態と本発明の特徴部について図4
及び図5を参照して説明する。図4は、本実施形態のス
イッチング・デバイスのブロック構成図である。図5
は、各ポート電圧、FET負荷出力状態、電源の状態を
示す図である。本実施形態のスイッチング・デバイス
は、構成及び動作において基本的に前述の図1のスイッ
チング・デバイスと同じであるが、図4に示すように、
SW1の代わりにトランジスタQ51を備え、べースが
マイコンなどからなる制御部811のコントロールポー
ト813に、エミッタが抵抗R11に、そしてコレクタ
が指令信号を入力する端子T10と制御部811の監視
ポート815に接続されている。さらに、本実施形態の
駆動回路111は、前述の本発明の基本となるスイッチ
ング・デバイスとは異なり、ハイレベルの指令信号が入
力されることにより駆動信号を出力する構成となってい
る。また、本実施形態の半導体チップ810は、基本的
に前述の図1の半導体チップ110と同じであるが、電
源Enable302、コンパレータCMP1、コンパ
レータCMP2の出力が直接遮断ラッチ回路306に作
用するように構成されている。さらに、半導体チップ8
10には、トランジスタQ53が集積化されており、ベ
ースが遮断ラッチ回路306からのラッチ信号端子に、
コレクタが端子T10に、そしてエミッタが接地電位に
接続されている。すなわち、制御部811とトランジス
タQ51が負荷の駆動を指令する指令手段として機能
し、さらに、制御部811は、指令信号の状態により負
荷の状態を監視する監視手段としても機能している。ま
た、トランジスタQ53は、遮断ラッチ回路と共に、遮
断ラッチ手段を構成している。なお、トランジスタQ5
1とQ53は、バイポーラトランジスタの代わりに、C
MOSFETを用いることも可能である。
【0041】本実施形態のスイッチング・デバイスで
は、図5に示すように、制御部811が負荷の駆動を指
令するため、コントロールポート813をローレベルに
すると、トランジスタQ51が導通する。トランジスタ
Q51が導通することによって、ハイレベルの駆動指令
信号が駆動回路111に入力され、駆動回路111から
ハイレベルの駆動信号がFETQAに出力される。駆動
信号によりFETQAは、導通状態、すなわちFETQ
Aの負荷出力がオンになる。ここで、異常が発生する
と、過電流の場合にはコンパレータCMP1が “L”
レベルの判定信号を、過小電流の場合にはコンパレータ
CMP2が“H”レベルの判定信号を遮断ラッチ回路3
06に出力する。これらの判定信号により、遮断ラッチ
回路306は、トランジスタQ53のベースにハイレベ
ルのラッチ信号を出力してトランジスタQ53を導通さ
せ、駆動回路111に入力されているハイレベルの駆動
指令信号を接地電位に遷移させてローレベルの停止指令
信号に変更して駆動回路111の出力を停止し、FET
QAを非導通状態にラッチする。一方、制御部811
は、監視ポート815で端子T10の電圧、すなわち指
令信号を監視しており、コントロールポート813より
負荷の駆動を指令しているときに、端子T10の電圧が
ローレベル、すなわち停止指令信号に遷移したことで異
常が発生し、FETQAが非導通状態になったことを検
知する。異常発生から所定時間経過後、制御部811
は、コントロールポート813の電圧をローレベルに
し、負荷の駆動指令を解除する。遮断ラッチ回路306
のリセット、すなわちラッチ状態の解除は、電源がオフ
されるか、または端子T7からスタンバイ信号が入力さ
れ電源Enable302がスタンバイモードになるこ
とで行なわれる。
【0042】このように、本実施形態のスイッチング・
デバイスでは、制御部811が、端子T10の指令信号
の状態を監視して、FETQAが非導通状態になったこ
とを検知するため、図1の半導体チップ110の過小電
流検出などのための異常検出部501を接続する端子T
6やダイアグ出力部502を接続する端子T11をなく
すことができる。つまり、接続を増やし装置を複雑化さ
せる半導体チップの端子数を削減することができるの
で、スイッチング・デバイスを簡素化することができ
る。また、半導体チップのコストは、端子数に比例する
ため、端子数が減ることにより、半導体チップ、すなわ
ちスイッチング・デバイスのコストを低減することもで
きる。
【0043】また、本実施形態では、コントロールポー
ト813と監視ポート815を同じ各負荷のスイッチン
グを制御している制御部811に設けたが、各々別個の
回路や制御部811以外の制御手段などに設けてもよ
い。
【0044】また、本実施形態では、コンパレータCM
P1とコンパレータCMP2の両方を備えているが、ス
イッチング・デバイスの用途に応じコンパレータCMP
2を備えていなくてもよい。
【0045】また、本実施形態は、直流回路であるが、
本発明のスイッチング・デバイスは、交流回路にも適用
することができる。
【0046】
【発明の効果】本発明によれば、スイッチング・デバイ
スを簡素化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本となる電流振動型遮断機能付きス
イッチング・デバイスの一実施形態のブロック構成図で
ある。
【図2】図1に示すスイッチング・デバイスの要部回路
構成図である。
【図3】(a)は、図1に示すスイッチング・デバイス
の作用を説明するための負荷電流の波形図、(b)は、
FETQAのドレイン・ソース端子間の電圧の波形図で
ある。
【図4】本発明を適用してなるスイッチング・デバイス
の一実施形態のブロック構成図である。
【図5】各ポート電圧、FET負荷出力状態、電源の状
態を示す図である。
【符号の説明】
101 電源 102 負荷 110, 810 半導体チップ 111 駆動回路 306 遮断ラッチ回路 811 制御部 QA,QB,QC FET Q51, Q53 トランジスタ Rr1, Rr2 基準抵抗 CMP1, CMP2 コンパレータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 負荷の駆動を指令する指令手段と、前記
    指令手段からの駆動指令信号に応答して駆動信号を出力
    する駆動手段と、電源と負荷とを結ぶ電源回路中に挿入
    されて前記駆動信号により導通して前記電源回路を閉じ
    る第1のスイッチング手段と、前記電源から電流の供給
    を受けて基準電圧を発生する基準抵抗と、前記電源と前
    記基準抵抗とを結ぶ分流回路中に挿入されて前記駆動信
    号により導通して前記分流回路を閉じる第2のスイッチ
    ング手段と、前記第1のスイッチング手段の出力電圧と
    前記基準電圧とを比較して異常を判定する異常判定手段
    と、前記異常判定手段の異常の判定信号に応答して前記
    駆動手段に出力される前記駆動指令信号を停止指令信号
    に変更してラッチする遮断ラッチ手段と、前記駆動手段
    に入力される指令信号の状態により負荷の状態を監視す
    る監視手段とを備えるスイッチング・デバイス。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7046073B2 (en) 2003-02-14 2006-05-16 Autonetworks Technologies, Ltd. Load drive circuit
JP2010220394A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Ricoh Co Ltd 過電流保護装置
US7835126B2 (en) 2007-07-03 2010-11-16 Kyocera Corporation Resettable short-circuit protection circuit
JP2012070047A (ja) * 2010-09-21 2012-04-05 Yazaki Corp 負荷駆動装置
WO2014034052A1 (ja) * 2012-09-03 2014-03-06 パナソニック株式会社 点灯装置およびそれを備える照明装置
WO2024075407A1 (ja) * 2022-10-06 2024-04-11 ローム株式会社 スイッチ装置、電子機器、車両

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4267865B2 (ja) * 2002-04-19 2009-05-27 株式会社デンソー 負荷駆動装置
JP2004248454A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 過電流制限回路
US7498786B2 (en) * 2003-12-01 2009-03-03 Fairchild Semiconductor Corporation Digital control of switching voltage regulators
JP4504222B2 (ja) * 2005-02-21 2010-07-14 矢崎総業株式会社 過電流検出装置
JP4895623B2 (ja) * 2006-01-25 2012-03-14 株式会社オートネットワーク技術研究所 電力供給制御装置
WO2007139108A1 (ja) * 2006-06-01 2007-12-06 Autonetworks Technologies, Ltd. 電力供給制御装置
GB2440974B (en) * 2006-08-04 2011-06-01 Zetex Semiconductors Plc Power supply circuit
KR101079900B1 (ko) * 2007-10-31 2011-11-04 주식회사 케이티 선택스위치 장치, 이를 이용한 전원공급장치 및 그 스위칭 방법
JP5087441B2 (ja) * 2008-03-19 2012-12-05 矢崎総業株式会社 電力供給装置
JP5294335B2 (ja) * 2010-06-18 2013-09-18 三菱電機株式会社 半導体装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2745663B2 (ja) 1989-04-04 1998-04-28 松下電器産業株式会社 充電制御回路
JPH079442B2 (ja) * 1989-09-20 1995-02-01 株式会社東芝 電流検出回路
JPH03262209A (ja) 1990-03-12 1991-11-21 Nec Kansai Ltd 電流検出回路
JPH04134271A (ja) 1990-09-27 1992-05-08 Nec Corp 出力回路
JP2570523B2 (ja) 1991-08-23 1997-01-08 日本モトローラ株式会社 電流検出回路
JP2527875B2 (ja) 1992-02-07 1996-08-28 富士通テン株式会社 誘導性負荷の電流検出回路
JPH06244693A (ja) 1992-03-03 1994-09-02 Nec Corp Mos電界効果トランジスタスイッチ回路
JP3313773B2 (ja) 1992-08-06 2002-08-12 株式会社デンソー 半導体装置
JPH06188704A (ja) 1992-12-18 1994-07-08 Fujitsu Ten Ltd 負荷駆動装置
JP3018816B2 (ja) 1993-02-22 2000-03-13 株式会社日立製作所 半導体素子の保護回路ならびにこれを有する半導体装置
JPH09145749A (ja) 1995-11-29 1997-06-06 Toyota Motor Corp 電流検出回路
JPH11227520A (ja) 1998-02-16 1999-08-24 Naitou Yoriko トラック荷台用のシート
JP2000312143A (ja) * 1999-02-26 2000-11-07 Yazaki Corp スイッチング・デバイス

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7046073B2 (en) 2003-02-14 2006-05-16 Autonetworks Technologies, Ltd. Load drive circuit
US7835126B2 (en) 2007-07-03 2010-11-16 Kyocera Corporation Resettable short-circuit protection circuit
JP2010220394A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Ricoh Co Ltd 過電流保護装置
JP2012070047A (ja) * 2010-09-21 2012-04-05 Yazaki Corp 負荷駆動装置
WO2014034052A1 (ja) * 2012-09-03 2014-03-06 パナソニック株式会社 点灯装置およびそれを備える照明装置
WO2024075407A1 (ja) * 2022-10-06 2024-04-11 ローム株式会社 スイッチ装置、電子機器、車両

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US6377428B1 (en) 2002-04-23

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