JP2000294622A - ウエーハ保持用チャック - Google Patents

ウエーハ保持用チャック

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JP2000294622A
JP2000294622A JP9681599A JP9681599A JP2000294622A JP 2000294622 A JP2000294622 A JP 2000294622A JP 9681599 A JP9681599 A JP 9681599A JP 9681599 A JP9681599 A JP 9681599A JP 2000294622 A JP2000294622 A JP 2000294622A
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JP
Japan
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wafer
groove
base
vacuum suction
hole
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Withdrawn
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JP9681599A
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English (en)
Inventor
Masaya Goto
真哉 後藤
Tsukasa Taniwaki
吏 谷脇
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SpeedFam-IPEC Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam-IPEC Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基盤からウエーハを簡単かつ短時間で引き剥
がす。 【解決手段】 表面に真空吸着用の溝3が設けられると
ともに、中心部に表面側から裏面側に貫通する真空吸着
用の溝3に連通する流体孔7が設けられる基盤2の部分
に、表面側から裏面側に貫通する捨て孔8を複数箇所に
設ける。基盤2の表面にウエーハ15を載置し、流体孔
7を介して真空吸着用の溝3から空気を抜き出すこと
で、基盤2の表面にウエーハ15が真空吸着される。流
体孔7を介して真空吸着用の溝3内に破壊水を圧送する
と、破壊水の一部は真空吸着用の溝3内から溢れ出て捨
て孔8内に流入し、捨て孔8を介して基盤2の裏面側に
流出し、ウエーハ15に作用する破壊水による張力が低
減される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はウエーハ保持用チ
ャックに関し、特に、真空吸着によってウエーハを保持
するとともに、破壊水によって真空吸着状態を破壊して
ウエーハを引き剥がすように構成したウエーハ保持用チ
ャックに関するものである。
【0002】
【従来技術およびその問題点】一般に、この種のウエー
ハ保持用チャックは、図4〜図6に示すように構成され
ている。
【0003】すなわち、このウエーハ保持用チャック2
1は、円盤状の基盤22の表面に2つの環状の溝24、
25と両環状の溝24、25間を連通する十字状の溝2
6とからなる真空吸着用の溝23を設けるとともに、基
盤22の中心部に表面側から裏面側に貫通する前記真空
吸着用の溝23に連通する流体孔27を設けたものであ
る。
【0004】この場合、流体孔27には配管(図示せ
ず)を介して真空ポンプ(図示せず)及び破壊水供給ポ
ンプ(図示せず)が接続され、真空吸着用の溝23及び
流体孔27を除く基盤22の表面の部分にはNFパッド
のようなバッキングパッド30が設けられるようになっ
ている。
【0005】そして、上記のように構成したウエーハ保
持用チャック21の基盤22の表面にウエーハ15を載
置し、真空ポンプを作動させて流体孔27を介して真空
吸着用の溝23内から空気を抜き出し、基盤22の表面
にウエーハ15を真空吸着し、図示しないエッジポリッ
シャーを作動させてウエーハ15の研磨作業を行う。
【0006】そして、ウエーハ15の研磨作業が終了し
た後に、真空ポンプを停止させるとともに、破壊水供給
用のポンプを作動させて流体孔27を介して真空吸着用
の溝23内に破壊水を圧送し、ウエーハ15の真空吸着
状態を破壊し、ウエーハ15の端部をハンドチャック3
1で掴持してハンドチャック31を上昇させることで、
ウエーハ15を基盤22の表面から引き剥がすことがで
きるものである。
【0007】しかしながら、上記のように構成した従来
のウエーハ保持用チャック21にあっては、破壊水を真
空吸着用の溝23内に圧送した際、ウエーハ15は破壊
水による大きな張力を受けるため、ハンドチャック31
によってウエーハ15を基盤22の表面から引き剥がそ
うとした場合に、ウエーハ15が湾曲したり破損したり
するおそれがある。このため、破壊水の圧送を長時間続
けて、ウエーハ15が基盤22の表面から完全に離れた
のを確認した後にハンドチャック31を上昇させてウエ
ーハ15を基盤22の表面から引き剥がさなければなら
ず、ウエーハ15の引き剥がしに長時間を要することに
なる。
【0008】この発明は前記のような従来のもののもつ
問題点を解決したものであって、湾曲したり破損したり
することなく、簡単に短時間でウエーハを引き剥がすこ
とができるウエーハ保持用チャックを提供することを目
的とするものである。
【0009】
【問題点を解決するための手段】上記の問題点を解決す
るためにこの発明は、表面に真空吸着用の溝を有すると
ともに、該真空吸着用の溝に連通する流体孔を有する基
盤の前記表面にウエーハを載置し、前記流体孔を介して
前記真空吸着用の溝内から空気を抜き出して前記ウエー
ハを前記基盤の表面に真空吸着し、この後、前記流体孔
を介して前記真空吸着用の溝内に破壊水を圧送して前記
ウエーハの真空吸着状態を破壊し、前記基盤の表面から
前記ウエーハを引き剥がすようになっているウエーハ保
持用チャックにおいて、前記真空吸着用の溝の近傍に基
盤の表面側から裏面側に貫通する捨て孔を設けて、該捨
て孔を介して前記真空吸着用の溝から溢れ出た破壊水の
一部を基盤の裏面側に流出させるように構成した手段を
採用したものである。また、前記基盤の捨て孔内に、四
フッ化エチレン樹脂等の合成樹脂からなる筒状のブッシ
ュを先端部が基盤の表面から突出しないように嵌合した
手段を採用したものである。
【0010】
【作用】この発明は前記のように構成したことにより、
基盤の表面にウエーハを載置し、流体孔を介して真空吸
着用の溝内から空気を抜き出すことにより、基盤の表面
にウエーハが真空吸着される。そして、流体孔を介して
真空吸着用の溝内に破壊水を圧送すると、真空吸着用の
溝から溢れ出た破壊水が捨て孔内に流入して捨て孔を介
して基盤の裏面側に流出し、ウエーハに作用する破壊水
による張力が低減される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面に示すこの発明の実施
の形態について説明する。図1〜図3には、この発明に
よるウエーハ保持用チャックの一実施の形態が示されて
いて、このウエーハ保持用チャック1は、円盤状の基盤
2と、基盤2の表面に設けられるNFパッドのようなバ
ッキングパッド10とから構成されている。
【0012】基盤2の表面側には2つの環状の溝4、5
と両環状の溝4、5間を連通する十字状の溝6とからな
る真空吸着用の溝3が設けられるとともに、基盤2の中
心部には表面側から裏面側に貫通する流体孔7が設けら
れ、流体孔7の上端部は基盤2の表面側において真空吸
着用の溝3に連通するようになっている。
【0013】流体孔7には配管(図示せず)を介して真
空ポンプ(図示せず)及び破壊水供給ポンプ(図示せ
ず)が接続され、真空ポンプと破壊水供給ポンプとは切
換弁(図示せず)を介して切り換えられるようになって
いる。
【0014】真空吸着用の溝3の2つの環状の溝4、5
と十字状の溝6とによって囲まれる基盤2の部分(4箇
所)には、表面側から裏面側に貫通する捨て孔8がそれ
ぞれ設けられるようになっている。なお、捨て孔8はこ
れ以外の基盤2の部分に設けてもよいものである。
【0015】各捨て孔8内には四フッ化エチレン樹脂等
の合成樹脂からなる筒状のブッシュ9が嵌合されてい
る。この場合、ブッシュ9は、上端部が基盤2の表面か
ら突出しないように、かつ下端部が基盤2の裏面から少
し(5mm程度)突出するように嵌合されている。な
お、図示はしないが流体孔7内にも前記と同様の構成の
ブッシュ9を嵌合してもよいものである。
【0016】そして、このように各捨て孔8内にブッシ
ュ9を嵌合することによって、基盤2の表面にウエーハ
15を吸着した場合に、各捨て孔8に対応するウエーハ
15の部分に捨て孔8の形状の染みや汚れが形成される
のを防止できるものである。
【0017】バッキングパッド10は、真空吸着用の溝
3、流体孔7及び捨て孔8を除いた基盤2の表面の部分
に設けられ、このバッキングパッド10によってウエー
ハ15に作用する衝撃等が緩和され、ウエーハ15の表
面に傷等が形成されるのを防止するようになっている。
【0018】基盤2の外側の部分にはハンドチャック1
1が上下方向に移動可能かつ所定の位置に位置決め可能
に設けられ、このハンドチャック11によってウエーハ
15の端部を掴持してウエーハ15を基盤2の表面に載
置したり、ウエーハ15を基盤2の表面から引き剥がし
たりすることができるようになっている。
【0019】そして、上記のように構成したこの実施の
形態によるウエーハ保持用チャック1の基盤2の表面に
ウエーハ15を載置し、真空ポンプを作動させて真空吸
着用の溝3内から空気を抜き出し、基盤2の表面にウエ
ーハ15を真空吸着する。
【0020】そして、図示しないエッジポリッシャーを
作動させてウエーハ15の研磨作業を行い、ウエーハ1
5の研磨作業が終了した後に、真空ポンプを停止させて
ハンドチャック11でウエーハ15の端部を掴持し、破
壊水供給用のポンプを作動させて、流体孔7を介して真
空吸着用の溝3内に破壊水を圧送し、真空吸着状態を破
壊し、ハンドチャック11を上昇させて、ウエーハ15
を基盤の表面から引き剥がす。
【0021】この場合、破壊水の一部は真空吸着用の溝
3内から溢れ出て各捨て孔8内に流入し、各捨て孔8を
介して基盤2の裏面側に流出することになるので、ウエ
ーハ15に作用する破壊水による張力を低減させること
ができることになる。
【0022】したがって、ハンドチャック11を上昇さ
せてウエーハ15を基盤2の表面から引き剥がす際に、
ウエーハ15に破壊水による大きな張力が作用してウエ
ーハ15が湾曲したり破損したりするようなことはな
く、ウエーハ15を基盤2の表面から簡単かつ短時間で
引き剥がすことができることになる。
【0023】
【発明の効果】この発明は請求項1のように構成したこ
とにより、真空吸着用の溝内に圧送した破壊水の一部
は、真空吸着用の溝から溢れ出て捨て孔内に流入し、捨
て孔を介して基盤の裏面側に流出することになる。した
がって、ウエーハに作用する破壊水による張力を低減さ
せることができるので、ウエーハを基盤から引き剥がす
際に、破壊水による大きな張力がウエーハに作用してウ
エーハが湾曲したり破損したりするようなことはなくな
る。また、ウエーハに作用する破壊水による張力を低減
させることができるので、破壊水による圧送を長時間行
う必要がなくなり、短時間でウエーハを基盤から引き剥
がすことができることになる。また、請求項2のように
構成したことにより、ウエーハを基盤の表面に真空吸着
した際に、捨て孔に対応するウエーハの部分に染みや汚
れが形成されるようなことはなくなり、ウエーハの表面
を綺麗な状態に保つことができることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるウエーハ保持用チャックの一実
施の形態を示した概略断面図であって、基盤の表面にウ
エーハを真空吸着した状態を示した説明図である。
【図2】図1に示すものの基盤の表面からウエーハを引
き剥がした状態を示した説明図である。
【図3】図1に示すものの基盤の平面図である。
【図4】従来のウエーハ保持用チャックの一例を示した
概略断面図であって、基盤の表面にウエーハを真空吸着
した状態を示した説明図である。
【図5】図4に示すものの基盤の表面からウエーハを引
き剥がした状態を示した説明図である。
【図6】図4に示すものの基盤の平面図である。
【符号の説明】
1、21……ウエーハ保持用チャック 2、22……基盤 3、23……真空吸着用の溝 4、5、24、25……環状の溝 6、26……十字状の溝 7、27……流体孔 8……捨て孔 9……ブッシュ 10、30……バッキングパッド 11、31……ハンドチャック 15……ウエーハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3C058 AA07 AA09 AB03 AB04 AC01 BA05 BB03 BB04 CB02 CB03 DA17 5F031 CA02 HA13 HA32 MA22 PA20

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に真空吸着用の溝を有するととも
    に、該真空吸着用の溝に連通する流体孔を有する基盤の
    前記表面にウエーハを載置し、前記流体孔を介して前記
    真空吸着用の溝内から空気を抜き出して前記ウエーハを
    前記基盤の表面に真空吸着し、この後、前記流体孔を介
    して前記真空吸着用の溝内に破壊水を圧送して前記ウエ
    ーハの真空吸着状態を破壊し、前記基盤の表面から前記
    ウエーハを引き剥がすようになっているウエーハ保持用
    チャックにおいて、 前記真空吸着用の溝の近傍に基盤の表面側から裏面側に
    貫通する捨て孔を設けて、該捨て孔を介して前記真空吸
    着用の溝から溢れ出た破壊水の一部を基盤の裏面側に流
    出させるように構成したことを特徴とするウエーハ保持
    用チャック。
  2. 【請求項2】 前記基盤の捨て孔内に、四フッ化エチレ
    ン樹脂等の合成樹脂からなる筒状のブッシュを先端部が
    基盤の表面から突出しないように嵌合した請求項1記載
    のウエーハ保持用チャック。
JP9681599A 1999-04-02 1999-04-02 ウエーハ保持用チャック Withdrawn JP2000294622A (ja)

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