JP2000286223A - 基板の搬送装置及び処理装置 - Google Patents
基板の搬送装置及び処理装置Info
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- JP2000286223A JP2000286223A JP8850699A JP8850699A JP2000286223A JP 2000286223 A JP2000286223 A JP 2000286223A JP 8850699 A JP8850699 A JP 8850699A JP 8850699 A JP8850699 A JP 8850699A JP 2000286223 A JP2000286223 A JP 2000286223A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
く加熱乾燥することができるよう搬送する搬送装置を提
供することにある。 【解決手段】 一端側に上記基板の搬入口12、他端側
に搬出口13が形成された処理槽14と、この処理槽内
に上記基板の搬送方向に沿って所定間隔で配置された複
数の回転軸16と、各回転軸に接離方向にスライド可能
に装着されたそれぞれ一対の搬送ローラ22a,22b
と、上記回転軸を回転駆動することで上記基板に転接す
る上記搬送ローラによって上記基板を搬送させる駆動源
19a,19bとを具備し、各一対の搬送ローラを上記
回転軸に離間して設けるときに、各一対の搬送ローラの
対向する端面間の隙間の位置を、上記基板の搬送方向に
対してその搬送方向と交差する方向にずらしたことを特
徴とする。
Description
に搬送するための搬送装置及びその搬送装置が用いられ
た処理装置に関する。
製造工程においては、液晶用ガラス基板や半導体ウエハ
などの基板に回路パタ−ンを形成する成膜プロセスやフ
ォトプロセスがある。これらのプロセスにおいては、上
記基板を洗浄液で洗浄処理した後、加圧気体を噴射して
乾燥処理し、さらに基板に付着した水分などを確実に除
去するために上記基板を加熱して乾燥処理するというこ
とが行われている。
部は搬入口と搬出口とが形成された処理槽を有し、この
処理槽内には上記搬入口から搬入された基板を搬出口へ
搬送する搬送装置およびこの搬送装置によって搬送され
る基板を加熱して乾燥させるヒータが設けられている。
着された搬送ローラを有し、上記基板は回転軸とともに
回転される搬送ローラに接触して搬送されるようになっ
ている。
が変更されることがある。そのため、上記搬送装置は基
板サイズの変更に対応できるようになっている。つま
り、回転軸に設けられる搬送ローラを2つに分割し、こ
の一対の搬送ローラを上記回転軸に接離する方向に移動
できるように設け、これら一対の搬送ローラの間隔を設
定することで、サイズの異なる基板に対応できるように
している。
けられる一対の搬送ローラを所定の間隔で離間させた場
合、基板の搬送ローラに接触する部分と接触しない部分
とでは温度差が生じることになる。つまり、基板の搬送
ローラに接触する部分は接触しない部分に比べて温度上
昇が遅い。そのため、基板は温度上昇にむらが生じるこ
とになるから、乾燥も均一に行われないということがあ
るばかりか、搬送ローラに全く接触しない部分は加熱さ
れ過ぎる虞もある。
設けて基板を搬送する場合、その基板を均一に加熱でき
るようにした搬送装置及びその搬送装置が用いられた処
理装置を提供することにある。
を処理するための搬送装置において、一端側に上記基板
の搬入口、他端側に搬出口が形成された処理槽と、この
処理槽内に上記基板の搬送方向に沿って所定間隔で配置
された複数の回転軸と、各回転軸に接離方向にスライド
可能に装着されたそれぞれ一対の搬送ローラと、上記回
転軸を回転駆動することで上記基板に転接する上記搬送
ローラによって上記基板を搬送させる駆動手段とを具備
し、各一対の搬送ローラを上記回転軸に離間して設ける
ときに、各一対の搬送ローラの対向する端面間の隙間の
位置を、上記基板の搬送方向と交差する方向にずらした
ことを特徴とする。
て、上記回転軸は複数のグループに分けられており、各
グループの回転軸に設けられた一対の搬送ローラの対向
する端面間の隙間の位置は、グループ毎に上記基板の搬
送方向と交差する方向にずらしたことを特徴とする。
燥する処理装置において、上記基板を洗浄処理する洗浄
処理部と、この洗浄処理部で洗浄処理されることで上記
基板に付着した洗浄液を加圧気体によって除去する第1
の乾燥処理部と、この第1の乾燥処理部で処理された基
板を加熱して乾燥処理する第2の乾燥処理部とを具備
し、上記第2の乾燥処理部には基板を搬送するための搬
送装置が設けられ、この搬送装置は請求項1に記載され
た構成であることを特徴とする。
搬送ローラの対向する端面間の隙間の位置を、上記基板
の搬送方向に対して交差する方向にずらすことで、搬送
される基板に対して上記搬送ローラが接触しない部分が
基板の幅方向においてほぼ均一に分布することになるか
ら、基板が部分的に加熱され過ぎたり、加熱むらが発生
するのを防止することができる。
至図5を参照して説明する。
どの基板を洗浄してから乾燥処理するこの発明の処理装
置を示す。この処理装置は洗浄処理部1と乾燥処理部2
とを備えている。
たブラシ洗浄部3、第1の純水シャワー部4、キャビテ
ィション・ジェット部5及び第2の純水シャワー部6を
有し、上記ブラシ洗浄部3の上流側には紫外線照射部7
が配置されている。したがって、処理装置で処理される
基板Wは上記紫外線照射部で紫外線が照射され、その表
面に付着した有機物が分解されてから上記洗浄処理部1
のブラシ洗浄部3に搬入されるようになっている。
の純水シャワー部4、キャビティーション・ジェット部
5及び第2の純水シャワー部6で順次洗浄処理された基
板Wは上記乾燥処理部2で乾燥処理されるようになって
いる。
洗浄処理された基板に付着した洗浄液を加圧気体で除去
するエアナイフ処理部8と、このエアナイフ処理部8で
の処理によって洗浄液が除去された基板を加熱乾燥する
加熱処理部9からなる。そして、加熱処理部9で加熱処
理された基板は冷却装置11によって冷却された後、こ
の冷却装置11から搬出されて次工程へ受け渡されるよ
うになっている。
うに一端面に搬入口12、他端面に搬出口13が形成さ
れた処理槽14を有する。この処理槽14内には基板W
を同図に矢印方向、つまり搬入口12から搬出口13方
向へ搬送する搬送装置15が設けられている。この搬送
装置15は上記基板Wの搬送方向に沿って所定間隔で配
置された複数の回転軸16を備えている。
両側壁に設けられた軸受20に回転自在に支持されてい
る。回転軸16の一端部は処理槽14の一方の側壁から
外部へ突出し、その突出端には従動プーリ17が嵌着さ
れている。各回転軸16に設けられた従動プーリ17は
2つのセクションに分けられ、各セクションの従動プー
リ17にはそれぞれ回転が伝達されるようにベルト18
が張設されている。
は2本のベルト18によって回転が伝達されるようにな
っており、他方のセクションの回転軸16は1本のベル
ト18によって回転が伝達されるようになっている。
れ駆動源19a,19bによって回転駆動されるように
なっている。それによって、従動プーリ17が嵌着され
た各回転軸16が同方向に回転駆動されるようになって
いる。
ストッパ21がねじ21a(図3に示す)によって固定
され、一対のストッパ21の軸方向内側には筒状の一対
の搬送ローラ22a,22bが移動可能に外嵌されてい
る。一対の搬送ローラ22a,22bの長さ寸法は一対
のストッパ21間の寸法よりも短く設定されている。ま
た、搬送ローラ22a,22bの一端部には鍔23が形
成され、この鍔23によって後述するごとく搬送される
基板Wが搬送方向と交差する幅方向に振れるのを防止す
るようになっている。
れぞれ上記ストッパ21に当接させると、これら搬送ロ
ーラ22a,22bの他端面間には所定寸法の隙間24
が形成されるようになっている。
22a,22b間に隙間24が形成された状態と、図4
(b)に示すように一対の搬送ローラ22の他端面を接
合させた状態とでは一対の鍔23の間隔が異なるから、
その間隔に応じたサイズの基板W1 ,W2 を搬送で
きることになる。つまり、隙間24が形成されるように
一対の搬送ローラ22を位置決めすれば、隙間24が形
成されていない場合に比べて幅寸法の大きな基板W1
を搬送できることになる。
22a,22bの位置決めは、図3に示すように各搬送
ローラ22a,22bの鍔23の部分に設けられたロッ
クねじ25及び回転軸16に形成されロックねじ25を
捩じ込むことでその先端部が係合する凹部26とによっ
て行われる。
は、これらをストッパ21に当接させた状態と、端面を
接合させた状態との2段階に限られず、その途中の状態
で位置決め可能な構造としても差し支えないこと勿論で
ある。
(a)に示すようにこれらの一端面をストッパ21に当
接させ、対向する他端面間に隙間24を形成した状態で
位置決めした場合、その隙間24は後述するように、基
板Wの搬送方向に対してその搬送方向と交差する基板W
の幅方向に位置をずらして形成されるようになってい
る。
ように複数のグループ、この実施の形態では第1乃至第
5の5つのグループG1〜G5に分けられ、第1のグル
ープG1と第5のグループG4は4本の回転軸16から
なり、第2乃至第4のグループG2〜G4は6本の回転
軸16からなる。そして、各グループの回転軸16の軸
方向一端側に位置する一方の搬送ローラ22aは基板W
の搬送方向に沿って長さ寸法が順次短く設定され、他方
の搬送ローラ22bは基板Wの搬送方向に沿って長さ寸
法が順次長く設定されている。
隙間24は、図1に示すようにそれぞれの回転軸16の
各グループG1〜G5において、基板Wの搬送方向に対
してその搬送方向と交差する幅方向の位置を順次ずらし
ている。そのため、基板Wが搬送ローラと接触しない部
分は、基板Wが搬送されることで、その幅方向に沿って
順次移動することになる。
搬送装置15の上方と下方とにそれぞれたとえば遠赤外
線ヒータなどのヒータ31が配設されている。したがっ
て、上記処理槽14内を搬送される基板Wは上記ヒータ
31によって加熱乾燥されるようになっている。
Wを洗浄して乾燥処理する場合の手順について説明す
る。
理部9の一対の搬送ローラ22a,22bの長さ寸法よ
りも大きな場合には、各回転軸16に装着された一対の
搬送ローラ22a,22bを一端面がそれぞれストッパ
21に当たる位置まで移動させて固定する。それによっ
て、各回転軸16に装着された一対の搬送ローラ22
a,22bの他端面間には隙間24が形成され、その隙
間24は、図1に示すようにその位置を、基板Wの搬送
方向に対し、その搬送方向と交差する方向に順次ずらす
ことになる。
されると、ここで基板Wに紫外線が照射されることで、
その基板Wに付着した有機物が分解される。基板Wは紫
外線照射部7からブラシ洗浄部3に搬送されてブラシ洗
浄された後、第1の純水シャワー部4、キャビティーシ
ョン・ジェット部5及び第2の純水シャワー部6で順次
洗浄処理されてエアナイフ処理部8に搬入される。
面に向けて加圧気体が噴射される。それによって、洗浄
処理部1で処理されることによって基板Wに付着した洗
浄液が除去される。
基板Wは加熱処理部9の搬入口12からその内部に搬入
され、搬出口13から搬出される。基板Wはその搬送過
程で処理槽14内に設けられたヒータ31によって加熱
乾燥される。つまり、エアナイフ処理部8で洗浄液を除
去しただけでは確実に乾燥されずに水分などが残留する
ため、加熱処理することで確実に乾燥させるようになっ
ている。
送するための搬送装置15は、各回転軸16の一対の搬
送ローラ22a,22bの端面間に形成された隙間24
が、基板Wの搬送方向に対してその搬送方向と交差する
幅方向に順次位置をずらしている。
の基板Wが搬送ローラ22a,22bと接触しない部分
は、各回転軸16に形成された隙間24の位置が基板W
の搬送方向と交差する幅方向にずれていることで、その
ずれに対応して搬送される基板Wの幅方向に順次ずれる
ことになる。
22bとの接触度合は、基板Wの幅方向のどの位置でも
ほぼ均一になるから、その接触度合に応じて基板Wはほ
ぼ均一に加熱されて乾燥処理される。つまり、一対の搬
送ローラ22a,22b間に隙間24を形成して基板W
を搬送するようにしても、その隙間24は基板Wの幅方
向に変化し、一定位置にならないから、基板Wが部分的
に加熱され過ぎるのを防止することができる。
〜G5に分け、一対の搬送ローラ22a,22b間の隙
間24の位置を、各グループ毎で繰り返してずらしたの
で、基板Wの搬送ローラ22a,22bと接触しない部
分は、基板Wがそれぞれのグループに移行する毎にその
幅方向において繰り返されることになる。
2bと接触しない部分がその搬送方向と交差する方向に
対して変化する度合が高くなるから、回転軸15をグル
ープ分けしない場合に比べて基板Wが部分的に加熱され
にくくなる。つまり、基板Wをほぼ均一に加熱すること
ができる。
れた基板Wは、冷却装置11に搬入され、ここで冷却さ
れたのち、図示しない次工程に受け渡されることにな
る。
ず、種々変形可能である。たとえば、上記一実施の形態
では回転軸を5つのグループに分け、それぞれのグルー
プ毎に一対の搬送ローラの対向面間の隙間を基板の搬送
方向と交差する方向に順次ずらすようにしたが、回転軸
のグループ分けは5つに限られず、4つ以下あるいは6
つ以上であってもよく、要は搬送される基板の一部が他
の部分に比べて加熱され過ぎることがないよう、一対の
搬送ローラと接触しない部分が基板の幅方向にずれるよ
うにしてあればよい。
転軸に設けられる各一対の搬送ローラの対向する端面間
の隙間の位置を、上記基板の搬送方向に対して交差する
方向にずらすようにした。
送ローラが接触しない部分が基板の幅方向においてほぼ
均一に分布することになるから、基板が部分的に加熱さ
れ過ぎたり、加熱むらが発生するのを防止することがで
きる。
グループに分け、グループ毎に一対の搬送ローラの対向
面間の隙間を順次繰り返してずらすようにした。
部分がその搬送方向と交差する方向に対して変化する度
合が高くなるから、基板が部分的に加熱されにくくな
る。
断面図。
するための拡大断面図。
状態の説明図、(b)は同じく隙間を形成しない状態の
説明図。
Claims (3)
- 【請求項1】 基板を処理するための搬送装置におい
て、 一端側に上記基板の搬入口、他端側に搬出口が形成され
た処理槽と、 この処理槽内に上記基板の搬送方向に沿って所定間隔で
配置された複数の回転軸と、 各回転軸に接離方向にスライド可能に装着されたそれぞ
れ一対の搬送ローラと、 上記回転軸を回転駆動することで上記基板に転接する上
記搬送ローラによって上記基板を搬送させる駆動手段と
を具備し、 各一対の搬送ローラを上記回転軸に離間して設けるとき
に、各一対の搬送ローラの対向する端面間の隙間の位置
を、上記基板の搬送方向と交差する方向にずらしたこと
を特徴とする基板の搬送装置。 - 【請求項2】 上記回転軸は複数のグループに分けられ
ており、各グループの回転軸に設けられた一対の搬送ロ
ーラの対向する端面間の隙間の位置は、グループ毎に上
記基板の搬送方向と交差する方向に順次ずらしたことを
特徴とする請求項1記載の基板の搬送装置。 - 【請求項3】 基板を洗浄してから乾燥する処理装置に
おいて、 上記基板を洗浄処理する洗浄処理部と、 この洗浄処理部で洗浄処理されることで上記基板に付着
した洗浄液を加圧気体によって除去する第1の乾燥処理
部と、 この第1の乾燥処理部で処理された基板を加熱して乾燥
処理する第2の乾燥処理部とを具備し、 上記第2の乾燥処理部には基板を搬送するための搬送装
置が設けられ、この搬送装置は請求項1に記載された構
成であることを特徴とする基板の処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8850699A JP4217339B2 (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 基板の搬送装置及び処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8850699A JP4217339B2 (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 基板の搬送装置及び処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000286223A true JP2000286223A (ja) | 2000-10-13 |
JP4217339B2 JP4217339B2 (ja) | 2009-01-28 |
Family
ID=13944721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8850699A Expired - Fee Related JP4217339B2 (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 基板の搬送装置及び処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4217339B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002319547A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Sony Corp | 表示パネル用基板の加熱処理装置 |
WO2004097928A1 (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-11 | Sang-Ki Lee | Support holder of the substrate and device for centering or feeding using the same |
JP2010056359A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置 |
WO2012043272A1 (ja) * | 2010-09-28 | 2012-04-05 | 積水化学工業株式会社 | 表面処理用搬送装置 |
-
1999
- 1999-03-30 JP JP8850699A patent/JP4217339B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4715019B2 (ja) * | 2001-04-23 | 2011-07-06 | ソニー株式会社 | 表示パネル用基板の加熱処理装置 |
WO2004097928A1 (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-11 | Sang-Ki Lee | Support holder of the substrate and device for centering or feeding using the same |
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JP4675401B2 (ja) * | 2008-08-29 | 2011-04-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送装置 |
WO2012043272A1 (ja) * | 2010-09-28 | 2012-04-05 | 積水化学工業株式会社 | 表面処理用搬送装置 |
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