JP2000230951A - 低インダクタンス測定用治具 - Google Patents
低インダクタンス測定用治具Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ｎＨオーダーの微小なインダクタンスを、所
定の接触圧力、測定点間距離で高精度にかつ容易に測定
できるようにする。 【解決手段】 接触・接続導体11a と外部導体12a とを
備えた接触・接続コネクタ10a を台座20に保持固定す
る。接触・接続導体11b と外部導体12b とを備えた接触
・接続コネクタ10b を、台座20上に移動可能なように保
持された可動ステージ30に、接触・接続導体11a,11b の
一端が互いに相対向するように保持固定する。外部導体
12a,12b 間は接地導通部材50で電気的に接続する。マイ
クロメータヘッド41を備えた測定点間隔調整計測機構部
40により可動ステージ30を移動させて接触・接続導体11
a,11b 間の距離を調整、計測し、接触・接続導体11a,11
b 間に被測定部材を挟み込み、他端側は測定装置に直接
接続する。
定の接触圧力、測定点間距離で高精度にかつ容易に測定
できるようにする。 【解決手段】 接触・接続導体11a と外部導体12a とを
備えた接触・接続コネクタ10a を台座20に保持固定す
る。接触・接続導体11b と外部導体12b とを備えた接触
・接続コネクタ10b を、台座20上に移動可能なように保
持された可動ステージ30に、接触・接続導体11a,11b の
一端が互いに相対向するように保持固定する。外部導体
12a,12b 間は接地導通部材50で電気的に接続する。マイ
クロメータヘッド41を備えた測定点間隔調整計測機構部
40により可動ステージ30を移動させて接触・接続導体11
a,11b 間の距離を調整、計測し、接触・接続導体11a,11
b 間に被測定部材を挟み込み、他端側は測定装置に直接
接続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は低インダクタンス測
定用治具に関し、特にｎＨオーダーの微小なインダクタ
ンス測定の際に被測定部材を保持して測定装置に接続す
るための低インダクタンス測定用治具に属する。
定用治具に関し、特にｎＨオーダーの微小なインダクタ
ンス測定の際に被測定部材を保持して測定装置に接続す
るための低インダクタンス測定用治具に属する。
【０００２】
【従来の技術】ソケット・コンタクトなどの微小なイン
ダクタンスを測定する場合に、これらソケット・コンタ
クトなどの被測定部材を保持して測定装置に接続するた
めの測定用治具が必要となる。このような低インダクタ
ンス測定用治具の従来の一例を図３に示す。
ダクタンスを測定する場合に、これらソケット・コンタ
クトなどの被測定部材を保持して測定装置に接続するた
めの測定用治具が必要となる。このような低インダクタ
ンス測定用治具の従来の一例を図３に示す。
【０００３】この低インダクタンス測定用治具２００
は、所定の厚さを有し長方形に形成された固定シャーシ
２１０と、この固定シャーシ２１０の表面上に、お互い
の間隔が調整可能なように、複数のねじ２８０にて固定
される２枚の移動シャーシ２２０，２３０とこれら移動
シャーシ２２０，２３０それぞれの表面に保持固定され
て、その上面にマイクロストリップライン型の５０Ω整
合用の整合回路２４１，２５１が形成された誘電体基板
２４０，２５０と、これら誘電体基板２４０，２５０そ
れぞれの整合回路２４１，２５１の一方の端に、中心導
体を半田付けしてこれら誘電体基板２４０，２５０に保
持固定されたＲＦ用同軸型のコネクタ２６０，２７０
と、を有し、誘電体基板２４０，２５０の整合回路２４
１，２５１の他方の端間に被測定部材１００を半田付け
し（半田付け部１５０）、コネクタ２６０，２７０を介
して測定装置に接続する構成、構造となっている（例え
ば、実開昭６１−８７３６８号公報参照）。
は、所定の厚さを有し長方形に形成された固定シャーシ
２１０と、この固定シャーシ２１０の表面上に、お互い
の間隔が調整可能なように、複数のねじ２８０にて固定
される２枚の移動シャーシ２２０，２３０とこれら移動
シャーシ２２０，２３０それぞれの表面に保持固定され
て、その上面にマイクロストリップライン型の５０Ω整
合用の整合回路２４１，２５１が形成された誘電体基板
２４０，２５０と、これら誘電体基板２４０，２５０そ
れぞれの整合回路２４１，２５１の一方の端に、中心導
体を半田付けしてこれら誘電体基板２４０，２５０に保
持固定されたＲＦ用同軸型のコネクタ２６０，２７０
と、を有し、誘電体基板２４０，２５０の整合回路２４
１，２５１の他方の端間に被測定部材１００を半田付け
し（半田付け部１５０）、コネクタ２６０，２７０を介
して測定装置に接続する構成、構造となっている（例え
ば、実開昭６１−８７３６８号公報参照）。
【０００４】このような微小なインダクタンスを測定す
る方法の１つとして、ＴＤＲ（TimeDomain Reflectomet
ry ）測定器を用いる方法がある。このＴＤＲ測定器を
用いた方法により、前述の低インダクタンス測定用治具
２００を使って、被測定部材１００のインダクタンスを
測定するときの接続図を図４に示す。
る方法の１つとして、ＴＤＲ（TimeDomain Reflectomet
ry ）測定器を用いる方法がある。このＴＤＲ測定器を
用いた方法により、前述の低インダクタンス測定用治具
２００を使って、被測定部材１００のインダクタンスを
測定するときの接続図を図４に示す。
【０００５】ＴＤＲ測定器３００は、ＴＤＲ測定器本体
３１０、５０Ω終端器３２０、及び５０Ωの同軸ケーブ
ル３３０から成り、５０Ω終端器３２０を低インダクタ
ンス測定用治具２００の一方のコネクタ２７０に接続
し、他方のコネクタ２６０は、同軸ケーブル３３０によ
りＴＤＲ測定器本体３１０に接続する。
３１０、５０Ω終端器３２０、及び５０Ωの同軸ケーブ
ル３３０から成り、５０Ω終端器３２０を低インダクタ
ンス測定用治具２００の一方のコネクタ２７０に接続
し、他方のコネクタ２６０は、同軸ケーブル３３０によ
りＴＤＲ測定器本体３１０に接続する。
【０００６】このＴＤＲ測定器３００によるインダクタ
ンス測定方法について説明する。インダクタンス（Ｌ）
は、被測定部材１００等からの最大反射電圧をＶｒ、被
測定部材１００等への入射パルス電圧の傾きをｍとする
と、近似式として、 Ｌ＝１００Ｖｒ／ｍ …………（１） が成立することが分かっている。ここで、傾きｍは、入
射パルス電圧の電圧値をＶｉとし、パルス立上り時間を
ｔｒとすると、 ｍ＝０．８Ｖｉ／ｔｒ …………（２） と表わすことができる。従って、上記（１）式及び
（２）式から、 Ｌ＝１２５Ｖｒ・ｔｒ／Ｖｉ …………（３） となり、ＴＤＲ測定器により、入射パルス電圧の電圧値
Ｖｉ及びパルス立上り時間を設定し、最大反射電圧Ｖｒ
を求めて（３）式に代入すれば、インダクタンスＬを測
定することができる。
ンス測定方法について説明する。インダクタンス（Ｌ）
は、被測定部材１００等からの最大反射電圧をＶｒ、被
測定部材１００等への入射パルス電圧の傾きをｍとする
と、近似式として、 Ｌ＝１００Ｖｒ／ｍ …………（１） が成立することが分かっている。ここで、傾きｍは、入
射パルス電圧の電圧値をＶｉとし、パルス立上り時間を
ｔｒとすると、 ｍ＝０．８Ｖｉ／ｔｒ …………（２） と表わすことができる。従って、上記（１）式及び
（２）式から、 Ｌ＝１２５Ｖｒ・ｔｒ／Ｖｉ …………（３） となり、ＴＤＲ測定器により、入射パルス電圧の電圧値
Ｖｉ及びパルス立上り時間を設定し、最大反射電圧Ｖｒ
を求めて（３）式に代入すれば、インダクタンスＬを測
定することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の低イン
ダクタンス測定用治具２００は、誘電体基板２４０，２
５０の上面に形成された整合回路２４１，２５１に被測
定部材１００を半田付けしてそのインダクタンスを測定
するようにしているので、半田付け部分によるインダク
タンスの変化や、整合回路２４１，２５１によるインピ
ーダンスの不整合などのために、１ｎＨ程度の微小なイ
ンダクタンスの測定では、これらによる誤差成分、外乱
成分が多くなりすぎて被測定部材１００の正確なインダ
クタンス測定ができないという問題点がある。
ダクタンス測定用治具２００は、誘電体基板２４０，２
５０の上面に形成された整合回路２４１，２５１に被測
定部材１００を半田付けしてそのインダクタンスを測定
するようにしているので、半田付け部分によるインダク
タンスの変化や、整合回路２４１，２５１によるインピ
ーダンスの不整合などのために、１ｎＨ程度の微小なイ
ンダクタンスの測定では、これらによる誤差成分、外乱
成分が多くなりすぎて被測定部材１００の正確なインダ
クタンス測定ができないという問題点がある。
【０００８】また、被測定部材１００を半田付けし固定
して測定するため、ばね性を有する各種形状の被測定部
材に対する、予め定められた接触圧力、接触（測定点
間）距離におけるインダクタンスの測定ができないとい
う問題点がある。
して測定するため、ばね性を有する各種形状の被測定部
材に対する、予め定められた接触圧力、接触（測定点
間）距離におけるインダクタンスの測定ができないとい
う問題点がある。
【０００９】更に、精度の高い整合回路２４１，２５１
を必要とする上、被測定部材１００の半田付けや移動シ
ャーシ２２０，２３０の位置決め等に時間がかかり、治
具製作費用及び測定費用が高くなるという問題点があ
る。
を必要とする上、被測定部材１００の半田付けや移動シ
ャーシ２２０，２３０の位置決め等に時間がかかり、治
具製作費用及び測定費用が高くなるという問題点があ
る。
【００１０】本発明の目的は、上記従来技術の問題に鑑
みて、微小なインダクタンスを高精度に測定することが
でき、かつ、ばね性を有するもの等の所定の接触圧力、
接触距離における測定もでき、しかも治具製作費、測定
費用が安い低インダクタンス測定用治具を提供すること
にある。
みて、微小なインダクタンスを高精度に測定することが
でき、かつ、ばね性を有するもの等の所定の接触圧力、
接触距離における測定もでき、しかも治具製作費、測定
費用が安い低インダクタンス測定用治具を提供すること
にある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の低インダクタン
ス測定用治具は、被測定部材の２点間の微小なインダク
タンスを測定するために、前記被測定部材の２点に接触
してこれら２点をインダクタンス測定装置に接続する低
インダクタンス測定用治具であって、上記の目的を達成
するために次の各構成を有することを特徴とする。 （イ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの一方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第１の接触・
接続コネクタ （ロ）前記第１の接触・接続コネクタを保持、固定する
台座 （ハ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの他方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第２の接触・
接続コネクタ （ニ）前記第２の接触・接続コネクタを、その接触・接
続導体の一端と前記第１の接触・接続コネクタの接触・
接続導体の一端とが相対向するように保持、固定し、前
記台座上に移動可能なように保持された可動ステージ （ホ）マイクロメータヘッドを備え、このマイクロメー
タヘッドにより前記可動ステージを移動させて前記第１
の接触・接続コネクタの接触・接続導体と前記第２の接
触・接続コネクタの接触・接続導体との間の距離を調整
し、これら接触・接続導体間に前記被測定部材を挟み込
んで保持すると同時に、これら接触・接続導体間の距離
を計測、表示する測定点間隔調整計測機構部 （ヘ）前記第１の接触・接続コネクタの外部導体と前記
第２の接触・接続コネクタの外部導体との間を電気的に
接続する接地導通用部材
ス測定用治具は、被測定部材の２点間の微小なインダク
タンスを測定するために、前記被測定部材の２点に接触
してこれら２点をインダクタンス測定装置に接続する低
インダクタンス測定用治具であって、上記の目的を達成
するために次の各構成を有することを特徴とする。 （イ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの一方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第１の接触・
接続コネクタ （ロ）前記第１の接触・接続コネクタを保持、固定する
台座 （ハ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの他方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第２の接触・
接続コネクタ （ニ）前記第２の接触・接続コネクタを、その接触・接
続導体の一端と前記第１の接触・接続コネクタの接触・
接続導体の一端とが相対向するように保持、固定し、前
記台座上に移動可能なように保持された可動ステージ （ホ）マイクロメータヘッドを備え、このマイクロメー
タヘッドにより前記可動ステージを移動させて前記第１
の接触・接続コネクタの接触・接続導体と前記第２の接
触・接続コネクタの接触・接続導体との間の距離を調整
し、これら接触・接続導体間に前記被測定部材を挟み込
んで保持すると同時に、これら接触・接続導体間の距離
を計測、表示する測定点間隔調整計測機構部 （ヘ）前記第１の接触・接続コネクタの外部導体と前記
第２の接触・接続コネクタの外部導体との間を電気的に
接続する接地導通用部材
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態は、一端が
被測定部材のインダクタンス測定点２点のうちの一方に
接触し他端がインダクタンス測定装置に接続される接触
・接続導体、及びこの接触・接続導体を絶縁部材を介し
て保持する外部導体を備えた第１の接触・接続コネクタ
と、この第１の接触・接続コネクタを保持固定する台座
と、一端が上記被測定部材のインダクタンス測定点２点
のうちの他方に接触し他端が上記インダクタンス測定装
置に接続される接触・接続導体、及びこの接触・接続導
体を絶縁部材を介して保持する外部導体を備えた第２の
接触・接続コネクタと、この第２の接触・接続コネクタ
を、その接触・接続導体の一端と上記第１の接触・接続
コネクタの接触・接続導体の一端とが相対向するように
保持、固定し、上記台座上に移動可能なように保持され
た可動ステージと、マイクロメータヘッドを備え、この
マイクロメータヘッドにより上記台座上の可動ステージ
を移動させ、上記第１の接触・接続コネクタ及び第２の
接触・接続コネクタの接触・接続導体間の距離を調整し
てこれらの間に被測定部材を挟み込んで保持すると同時
にこれら接触・接続導体間の距離を計測、表示する測定
点間隔調整計測機構部と、上記第１，第２の接触・接続
コネクタの外部導体間を互いに電気的に接続する接地導
通用部材と、を有する構成となっている。
被測定部材のインダクタンス測定点２点のうちの一方に
接触し他端がインダクタンス測定装置に接続される接触
・接続導体、及びこの接触・接続導体を絶縁部材を介し
て保持する外部導体を備えた第１の接触・接続コネクタ
と、この第１の接触・接続コネクタを保持固定する台座
と、一端が上記被測定部材のインダクタンス測定点２点
のうちの他方に接触し他端が上記インダクタンス測定装
置に接続される接触・接続導体、及びこの接触・接続導
体を絶縁部材を介して保持する外部導体を備えた第２の
接触・接続コネクタと、この第２の接触・接続コネクタ
を、その接触・接続導体の一端と上記第１の接触・接続
コネクタの接触・接続導体の一端とが相対向するように
保持、固定し、上記台座上に移動可能なように保持され
た可動ステージと、マイクロメータヘッドを備え、この
マイクロメータヘッドにより上記台座上の可動ステージ
を移動させ、上記第１の接触・接続コネクタ及び第２の
接触・接続コネクタの接触・接続導体間の距離を調整し
てこれらの間に被測定部材を挟み込んで保持すると同時
にこれら接触・接続導体間の距離を計測、表示する測定
点間隔調整計測機構部と、上記第１，第２の接触・接続
コネクタの外部導体間を互いに電気的に接続する接地導
通用部材と、を有する構成となっている。
【００１３】このような構成、構造とすることにより、
第１の接触・接続コネクタ及び第２の接触・接続コネク
タの接触・接続導体間に被測定部材を挟み込んで保持
し、かつ被測定部材の２つのインダクタンス測定点を直
接（インピーダンスの整合回路なしに、かつ半田付けな
しに）インダクタンス測定装置に接続することができ
て、外乱要因を除去することができるので、ｎＨオーダ
ーのインダクタンスを高精度で測定することができる。
第１の接触・接続コネクタ及び第２の接触・接続コネク
タの接触・接続導体間に被測定部材を挟み込んで保持
し、かつ被測定部材の２つのインダクタンス測定点を直
接（インピーダンスの整合回路なしに、かつ半田付けな
しに）インダクタンス測定装置に接続することができ
て、外乱要因を除去することができるので、ｎＨオーダ
ーのインダクタンスを高精度で測定することができる。
【００１４】また、接触・接続導体間を、マイクロメー
タヘッドにより微調整することができるので、ばね性を
有するものなどのインダクタンスを、予め定められた接
触圧力、接触距離で正確に測定することができる。
タヘッドにより微調整することができるので、ばね性を
有するものなどのインダクタンスを、予め定められた接
触圧力、接触距離で正確に測定することができる。
【００１５】しかも、高精度で高価なインピーダンス整
合回路などが不要で治具製作費も安くでき、かつ、被測
定部材の半田付けが不要で接触間隔の設定も容易である
ので、測定に要する時間が短くなり、測定費用を安くす
ることができる。
合回路などが不要で治具製作費も安くでき、かつ、被測
定部材の半田付けが不要で接触間隔の設定も容易である
ので、測定に要する時間が短くなり、測定費用を安くす
ることができる。
【００１６】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を
示す側面図及び斜視図、図２はこの実施例のものに被測
定部材を取り付けたときの一例を示す拡大側面図であ
る。この実施例は、第１及び第２の接触・接続コネクタ
１０ａ，１０ｂ、台座２０、可動ステージ３０、測定点
間隔調整計測機構部４０、接地導通部材５０、及びコネ
クタ保持部６０ａ，６０ｂで構成され、これら各部の詳
細、及び相互関係は次のとおりである。
て説明する。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を
示す側面図及び斜視図、図２はこの実施例のものに被測
定部材を取り付けたときの一例を示す拡大側面図であ
る。この実施例は、第１及び第２の接触・接続コネクタ
１０ａ，１０ｂ、台座２０、可動ステージ３０、測定点
間隔調整計測機構部４０、接地導通部材５０、及びコネ
クタ保持部６０ａ，６０ｂで構成され、これら各部の詳
細、及び相互関係は次のとおりである。
【００１７】第１，第２の接触・接続コネクタ１０ａ，
１０ｂは、一端が被測定部材１００のインダクタンス測
定点２点のうちの一方に接触し他端がインダクタンス測
定装置に接続される接触・接続導体１１ａ，１１ｂと、
接触・接続導体１１ａ，１１ｂを絶縁部材を介して保持
する外部導体１２ａ，１２ｂとを備えたＲＦ用同軸型コ
ネクタである。
１０ｂは、一端が被測定部材１００のインダクタンス測
定点２点のうちの一方に接触し他端がインダクタンス測
定装置に接続される接触・接続導体１１ａ，１１ｂと、
接触・接続導体１１ａ，１１ｂを絶縁部材を介して保持
する外部導体１２ａ，１２ｂとを備えたＲＦ用同軸型コ
ネクタである。
【００１８】台座２０は、その上面に、絶縁材料製のコ
ネクタ保持部６０ａにより、第１の接触・接続コネクタ
１０ａを保持、固定する。可動ステージ３０は、絶縁材
料製のコネクタ保持部６０ｂにより、第２の接触・接続
コネクタ１０ｂを、その接触・接続導体１１ｂの一端と
第１の接触・接続コネクタ１０ａの接触・接続導体１１
ａの一端とが相対向するように保持、固定し、台座２０
上に移動可能なように保持される。
ネクタ保持部６０ａにより、第１の接触・接続コネクタ
１０ａを保持、固定する。可動ステージ３０は、絶縁材
料製のコネクタ保持部６０ｂにより、第２の接触・接続
コネクタ１０ｂを、その接触・接続導体１１ｂの一端と
第１の接触・接続コネクタ１０ａの接触・接続導体１１
ａの一端とが相対向するように保持、固定し、台座２０
上に移動可能なように保持される。
【００１９】測定点間隔調整計測機構部４０は、２つの
マイクロメータヘッド４１を備え、これらマイクロメー
タヘッド４１により、可動ステージ３０を移動させて第
１の接触・接続コネクタ１０ａの接触・接続導体１１ａ
と第２の接触・接続コネクタ１０ｂの接触・接続導体１
１ｂとの間の距離を調整し、これら接触・接続導体１１
ａ，１１ｂ間に被測定部材１００を挟み込んで保持する
と同時に、これら接触・接続導体１１ａ，１１ｂ間の距
離を計測し表示する。
マイクロメータヘッド４１を備え、これらマイクロメー
タヘッド４１により、可動ステージ３０を移動させて第
１の接触・接続コネクタ１０ａの接触・接続導体１１ａ
と第２の接触・接続コネクタ１０ｂの接触・接続導体１
１ｂとの間の距離を調整し、これら接触・接続導体１１
ａ，１１ｂ間に被測定部材１００を挟み込んで保持する
と同時に、これら接触・接続導体１１ａ，１１ｂ間の距
離を計測し表示する。
【００２０】また、接地導通部材５０は、金属棒５１及
びスプリング５２から成り、第１，第２の接触・接続コ
ネクタ１０ａ，１０ｂの外部導体１２ａ，１２ｂ（フラ
ンジ）間を互いに電気的に接続する。なお、金属棒５１
は、一端を外部導体（例えば１２ｂ）に固定し、他端側
は外部導体（１２ａ）に対し接触、スライドするように
して可動ステージ３０の移動を妨げないようにする。
びスプリング５２から成り、第１，第２の接触・接続コ
ネクタ１０ａ，１０ｂの外部導体１２ａ，１２ｂ（フラ
ンジ）間を互いに電気的に接続する。なお、金属棒５１
は、一端を外部導体（例えば１２ｂ）に固定し、他端側
は外部導体（１２ａ）に対し接触、スライドするように
して可動ステージ３０の移動を妨げないようにする。
【００２１】この実施例による低インダクタンス測定用
治具を使い、ＴＤＲ測定器を使用して被測定部材１００
のインダクタンスを測定するには、例えば、接触・接続
コネクタ１０ｂに５０Ω終端器（３２０）を直接接続
し、接触・接続コネクタ１０ａは、同軸ケーブル（３３
０）によりＴＤＲ測定器本体（３１０）に接続する。
治具を使い、ＴＤＲ測定器を使用して被測定部材１００
のインダクタンスを測定するには、例えば、接触・接続
コネクタ１０ｂに５０Ω終端器（３２０）を直接接続
し、接触・接続コネクタ１０ａは、同軸ケーブル（３３
０）によりＴＤＲ測定器本体（３１０）に接続する。
【００２２】この実施例では、第１，第２の接触・接続
コネクタ１０ａ，１０ｂの接触・接続導体１１ａ，１１
ｂ間に被測定部材１００を挟み込んで保持し（従来例の
ように半田付けなしに）、かつ、被測定部材１００のイ
ンダクタンス測定点２点を直接（従来例のようにインピ
ーダンスの整合回路なしに）、インダクタンス測定装置
（ＴＤＲ測定器）に接続することができるので、半田付
けや整合回路等の外乱要因を除去することができ、１ｎ
Ｈオーダーの微小なインダクタンスを高い精度で測定す
ることができる。
コネクタ１０ａ，１０ｂの接触・接続導体１１ａ，１１
ｂ間に被測定部材１００を挟み込んで保持し（従来例の
ように半田付けなしに）、かつ、被測定部材１００のイ
ンダクタンス測定点２点を直接（従来例のようにインピ
ーダンスの整合回路なしに）、インダクタンス測定装置
（ＴＤＲ測定器）に接続することができるので、半田付
けや整合回路等の外乱要因を除去することができ、１ｎ
Ｈオーダーの微小なインダクタンスを高い精度で測定す
ることができる。
【００２３】また、接触・接続導体１１ａ，１１ｂ間、
従って被測定部材１００のインダクタンス測定点２点間
の間隔（距離）を、マイクロメータヘッド４１により微
調整することができるので、ばね性を有する被測定部材
のインダクタンスを、予め定められた接触圧力、接触距
離に設定して高精度に測定することができる。
従って被測定部材１００のインダクタンス測定点２点間
の間隔（距離）を、マイクロメータヘッド４１により微
調整することができるので、ばね性を有する被測定部材
のインダクタンスを、予め定められた接触圧力、接触距
離に設定して高精度に測定することができる。
【００２４】更に、従来例で必要としていた、高精度で
高価なインピーダンス整合回路などが不要となるので、
治具製作費が安くなり、その上、被測定部材１００に対
する半田付けが不要で、測定点間隔の設定、微調整も極
めて容易にできるので、測定に要する時間を短くするこ
とができ、測定費用を安くすることができる。
高価なインピーダンス整合回路などが不要となるので、
治具製作費が安くなり、その上、被測定部材１００に対
する半田付けが不要で、測定点間隔の設定、微調整も極
めて容易にできるので、測定に要する時間を短くするこ
とができ、測定費用を安くすることができる。
【００２５】なお、この実施例において、図２には、被
測定部材１００として例えばソケット・コンタクト単体
をイメージしてこれを保持した状態が示されているが、
測定対象のコンタクトに接触・接続導体１１ａ，１１ｂ
が接触すれば、ハウジングに組込み済みの状態でも測定
することができる。また、接地導通部材５０を、金属棒
５１及びスプリング５２から成る構成としたが、接触・
接続コネクタ１０ａ，１０ｂの外部導体１２ａ，１２ｂ
間が確実に電気的に接続され、かつ可動ステージ３０の
移動を妨げない構成、構造であれば、この実施例以外の
構成、構造であってもよい。
測定部材１００として例えばソケット・コンタクト単体
をイメージしてこれを保持した状態が示されているが、
測定対象のコンタクトに接触・接続導体１１ａ，１１ｂ
が接触すれば、ハウジングに組込み済みの状態でも測定
することができる。また、接地導通部材５０を、金属棒
５１及びスプリング５２から成る構成としたが、接触・
接続コネクタ１０ａ，１０ｂの外部導体１２ａ，１２ｂ
間が確実に電気的に接続され、かつ可動ステージ３０の
移動を妨げない構成、構造であれば、この実施例以外の
構成、構造であってもよい。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、接触・接
続導体及び外部導体を備えた第１の接触・接続コネクタ
を台座に保持固定し、接触・接続導体及び外部導体を備
えた第２の接触・接続コネクタを、台座上に移動可能な
ように保持された可動ステージに、これら接触・接続コ
ネクタの接触・接続導体の一端が相対向するように保持
固定してこれら接触・接続コネクタの外部導体間を電気
的に接続し、マイクロメータヘッドを備えた測定点間隔
調整計測機構部により、可動ステージを移動させて接触
・接続導体間の距離を調整、計測し、これら接触・接続
導体間に被測定部材を挟み込んで保持し、接触・接続導
体の他端は直接、インダクタンス測定装置に接続する構
成、構造とすることにより、半田付けしなくても被測定
部材を保持、接続することができ、かつインピーダンス
整合回路も不要であるので、これらによる外乱要因を除
去することができてｎＨオーダーの微小なインダクタン
スを高い精度で測定することができ、かつ、被測定部材
のインダクタンス測定点２点間の距離を、マイクロメー
タヘッドにより微調整することができるので、ばね性を
有する被測定部材のインダクタンスを、予め定められた
接触圧力、測定点間距離に設定して高い精度で測定する
ことができ、しかも、インピーダンス整合回路等の高精
度で高価な部材が不要となって治具製作費が安くなり、
その上、被測定部材に対する半田付けが不要で測定点間
隔の設定、微調整も極めて容易にできるので、測定に要
する時間が短縮されて測定費用が安くなる、という効果
がある。
続導体及び外部導体を備えた第１の接触・接続コネクタ
を台座に保持固定し、接触・接続導体及び外部導体を備
えた第２の接触・接続コネクタを、台座上に移動可能な
ように保持された可動ステージに、これら接触・接続コ
ネクタの接触・接続導体の一端が相対向するように保持
固定してこれら接触・接続コネクタの外部導体間を電気
的に接続し、マイクロメータヘッドを備えた測定点間隔
調整計測機構部により、可動ステージを移動させて接触
・接続導体間の距離を調整、計測し、これら接触・接続
導体間に被測定部材を挟み込んで保持し、接触・接続導
体の他端は直接、インダクタンス測定装置に接続する構
成、構造とすることにより、半田付けしなくても被測定
部材を保持、接続することができ、かつインピーダンス
整合回路も不要であるので、これらによる外乱要因を除
去することができてｎＨオーダーの微小なインダクタン
スを高い精度で測定することができ、かつ、被測定部材
のインダクタンス測定点２点間の距離を、マイクロメー
タヘッドにより微調整することができるので、ばね性を
有する被測定部材のインダクタンスを、予め定められた
接触圧力、測定点間距離に設定して高い精度で測定する
ことができ、しかも、インピーダンス整合回路等の高精
度で高価な部材が不要となって治具製作費が安くなり、
その上、被測定部材に対する半田付けが不要で測定点間
隔の設定、微調整も極めて容易にできるので、測定に要
する時間が短縮されて測定費用が安くなる、という効果
がある。
【図１】本発明の一実施例を示す側面図及び斜視図であ
る。
る。
【図２】図１に示された実施例の低インダクタンス測定
用治具に被測定部材を接触保持させた状態を示す拡大側
面図である。
用治具に被測定部材を接触保持させた状態を示す拡大側
面図である。
【図３】従来の低インダクタンス測定用治具の一例を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図４】図３に示された低インダクタンス測定用治具を
使い、ＴＤＲ測定器を使用して被測定部材のインダクタ
ンスを測定するときの接続図である。
使い、ＴＤＲ測定器を使用して被測定部材のインダクタ
ンスを測定するときの接続図である。
１０ａ，１０ｂ 接触・接続コネクタ １１ａ，１１ｂ 接触・接続導体 １２ａ，１２ｂ 外部導体 ２０ 台座 ３０ 可動ステージ ４０ 測定点間隔調整計測機構部 ４１ マイクロメートヘッド ５０ 接地導通部材 ６０ａ，６０ｂ コネクタ保持部 １００ 被測定部材 ２００ 低インダクタンス測定用治具 ２１０ 固定シャーシ ２２０，２３０ 移動シャーシ ２４０，２５０ 誘電体基板 ２４１，２５１ 整合回路 ２６０，２７０ コネクタ ２８０ ねじ
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定部材の２点間の微小なインダクタ
ンスを測定するために、前記被測定部材の２点に接触し
てこれら２点をインダクタンス測定装置に接続する低イ
ンダクタンス測定用治具であって、次の各構成を有する
ことを特徴とする低インダクタンス測定用治具。 （イ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの一方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第１の接触・
接続コネクタ （ロ）前記第１の接触・接続コネクタを保持、固定する
台座 （ハ）一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点２
点のうちの他方に接触し他端が前記インダクタンス測定
装置に接続される接触・接続導体を備えた第２の接触・
接続コネクタ （ニ）前記第２の接触・接続コネクタを、その接触・接
続導体の一端と前記第１の接触・接続コネクタの接触・
接続導体の一端とが相対向するように保持、固定し、前
記台座上に移動可能なように保持された可動ステージ （ホ）マイクロメータヘッドを備え、このマイクロメー
タヘッドにより前記可動ステージを移動させて前記第１
の接触・接続コネクタの接触・接続導体と前記第２の接
触・接続コネクタの接触・接続導体との間の距離を調整
し、これら接触・接続導体間に前記被測定部材を挟み込
んで保持すると同時に、これら接触・接続導体間の距離
を計測、表示する測定点間隔調整計測機構部 （ヘ）前記第１の接触・接続コネクタの外部導体と前記
第２の接触・接続コネクタの外部導体との間を電気的に
接続する接地導通用部材
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11030856A JP2000230951A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 低インダクタンス測定用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11030856A JP2000230951A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 低インダクタンス測定用治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000230951A true JP2000230951A (ja) | 2000-08-22 |
Family
ID=12315369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11030856A Pending JP2000230951A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 低インダクタンス測定用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000230951A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016200583A (ja) * | 2015-04-08 | 2016-12-01 | 日置電機株式会社 | 測定用治具、補正値測定方法および補正方法 |
| JP2020094824A (ja) * | 2018-12-10 | 2020-06-18 | 矢崎総業株式会社 | インピーダンス測定治具及びインピーダンス測定方法 |
-
1999
- 1999-02-09 JP JP11030856A patent/JP2000230951A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016200583A (ja) * | 2015-04-08 | 2016-12-01 | 日置電機株式会社 | 測定用治具、補正値測定方法および補正方法 |
| JP2020094824A (ja) * | 2018-12-10 | 2020-06-18 | 矢崎総業株式会社 | インピーダンス測定治具及びインピーダンス測定方法 |
| JP7221670B2 (ja) | 2018-12-10 | 2023-02-14 | 矢崎総業株式会社 | インピーダンス測定治具及びインピーダンス測定方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050912 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080318 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080715 |