JP3305585B2 - 表面実装型電子部品の測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は表面実装型電子部品
の電気的特性を効率良く正確に測定するための測定装置
に関し、詳しくは安定した電気的接続が行なえる測定治
具部を有する表面実装型電子部品の測定装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】近年、無線電話や携帯電話を始めとする
移動体通信機等の小型電子機器の需要の増大に伴い、そ
れらに使用される電子部品にも小型化・薄型化・軽量化
ならびに高密度実装に対応することが要求されている。
そのような電子部品として表面実装型の電子部品の需要
が飛躍的に伸びており、その結果としてそれら表面実装
型電子部品の電気的特性をどのようにして正確かつ簡易
に測定するかが課題となっている。

【０００３】これら表面実装型電子部品の電気的特性を
測定するための通常の測定装置においては、測定機器に
接続されたフィクスチャといわれる測定治具部に測定対
象である表面実装型電子部品を保持して電気的・機械的
に接続することが必要となる。中でも高周波帯用の表面
実装型電子部品に対しては、測定治具部に表面実装型電
子部品を機械的に保持することにより、測定治具部の測
定治具基板に設けられたグランド電極と表面実装型電子
部品のグランド端子とが接続されるとともに、測定機器
の信号線が接続されたマイクロストリップ線路等から成
る測定治具部の非同軸伝送ラインと表面実装型電子部品
の入出力端子とが接続されている。

【０００４】このような従来の測定装置ならびに測定治
具部の例について図６〜図９により説明する。

【０００５】図６は従来の測定装置の例を示す外観斜視
図であり、同図の測定装置１において２は台座板、３は
保持測定部、４は表面実装型電子部品を保持測定部３に
固定するための押さえ機構部である。５は保持測定部３
で表面実装型電子部品を保持するとともに電気的に接続
するための測定治具部であり、６は外部の測定機器と電
気的に接続するためのコネクタ、７は測定治具部５の台
座である。また、８は押さえ機構部４において表面実装
型電子部品を測定治具部５に固定するための押さえ部、
９は押さえ部８を上下させるための押さえ棒である。

【０００６】このような測定装置１により、測定治具部
５上に表面実装型電子部品（図示せず）を位置決めして
載置し、押さえ棒９を操作して押さえ部８により表面実
装型電子部品を押さえて固定して、コネクタ６に測定機
器の信号線を接続して表面実装型電子部品の電気的特性
を測定する。

【０００７】図７は測定治具部５の部分拡大斜視図であ
る。同図において10は金属等の導体から成る測定治具基
板であり、測定治具基板10のほぼ中央には凹部10ａが形
成されている。凹部10ａの周りには表面実装型電子部品
の電極端子と接続される端子板等が配置されており、11
は電子部品の電極端子のうちグランド端子と接続される
金属端子板、12は電子部品の入出力端子と接続される伝
送線路（マイクロストリップ線路）であり、伝送線路12
はセラミック等の誘電体などから成る絶縁基体12ａと、
上面に形成された伝送線路層12ｂと、下面に形成された
グランド導体層12ｃとから成る。これら金属端子板11お
よび伝送線路12はそれぞれ平坦度を出して電子部品の電
極端子と接続させるために測定治具基板10に対してスプ
リング等を利用して弾性的に取り付けられている。13は
電子部品の位置決めをするためのガイド板、14はコネク
タ６を保持するコネクタ保持具である。なお、金属端子
板11はグランド（接地）に接続されており、コネクタ６
は伝送線路12と電気的に接続されて測定機器の信号線に
接続されている。

【０００８】一方、図８は上記測定装置１により測定さ
れる表面実装型電子部品の例を示す下面（実装面）側か
ら見た外観斜視図であり、同図において15は表面実装型
電子部品、16ａおよび16ｂは電極端子であり、この電子
部品15においては、電極端子16ａ・16ｂのうち16ａはグ
ランド端子、16ｂは入出力端子に割り当てられている。
そして、この表面実装型電子部品15が上記測定治具部５
にガイド板13により位置決めされて載置され、押さえ部
８によりクランプされて保持されることにより、グラン
ド端子16ａと金属端子板11、および入出力端子16ｂと伝
送線路12の伝送線路層12ｂがそれぞれ接触して電気的に
接続される。

【０００９】この接続状態を図９（ａ）および（ｂ）に
それぞれ断面図で示す。同図（ａ）は伝送線路12に垂直
な断面を示しており、（ｂ）は伝送線路12に沿った断面
を示している。これらの図に示すように、測定治具部５
の上にガイド板13により位置決めされて保持された表面
実装型電子部品15は、グランド端子16ａと金属端子板1
1、および入出力端子16ｂと伝送線路12の伝送線路層12
ｂがそれぞれ接触して電気的に接続された状態となる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところで、表面実装型
電子部品には、図９に示したような電極端子の配置のも
の以外にも種々の電極配置を有するものがある。例えば
図10に下面（実装面）側から見た外観斜視図で示す表面
実装型電子部品17のように、下面の４辺に電極端子18ａ
・18ｂを有し、そのうち18ａをグランド端子に、対向す
る２辺のそれぞれ対向する角側に配置された18ｂに入出
力端子を割り当てたもの、あるいは図11に同じく外観斜
視図で示す表面実装型電子部品19のように、下面の３辺
に電極端子20ａ・20ｂを有し、そのうち20ａをグランド
端子に、対向する２辺の片側同士に配置された20ｂを入
出力端子に割り当てたものなどがある。なお、表面実装
型電子部品19においては、電極端子20ａ・20ｂが電子部
品本体の下面に対して凹状に形成されている例を示して
いる。

【００１１】しかしながら、従来の測定装置１では、こ
れらのように電極端子配置の異なる表面実装型電子部品
17・19に対しては、表面実装型電子部品15の電極端子配
置に合わせて凹部10ａ・金属端子板11・伝送線路12を配
置した測定治具部５によっては伝送線路12と表面実装型
電子部品の入出力端子とが電気的に接続できなくなり、
その都度凹部10ａの形状・寸法および伝送線路12・金属
端子板11の配置を変更して形成した測定治具基板を用意
して、台座７上の測定治具部５をコネクタ６およびコネ
クタ保持具14ごと交換しなければ、それらの電子部品を
測定することができないという問題点があった。

【００１２】また、測定治具基板10上に金属端子板11を
スプリング等を介して弾性を持たせて配設したことによ
り、寄生インダクタンスの影響でグランドが同電位にな
らず、そのために正確な測定ができなくなるという問題
点もあった。

【００１３】本発明は、上記問題点を解決すべく完成さ
れたものであり、その目的は、電極端子配置の異なる表
面実装型電子部品に対しても、測定治具基板を交換する
程度の簡単な変更で測定が可能であり、かつグランド端
子とグランドとの電気的な接続が安定していて正確で再
現性の良い測定が可能な測定治具部を有する表面実装型
電子部品の測定装置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明の表面実装型電子
部品の測定装置は、上面に表面実装型電子部品が載置さ
れ、かつ上面に前記表面実装型電子部品の下面側に形成
された一対の入出力端子に対応するように一対の嵌合用
溝が形成されている電気的に接地された導体から成る測
定治具基板と、それぞれ調整部材に保持されて前記嵌合
用溝に嵌合して固定される、上側に開口部を有するＵ字
状の一対の導体溝部材と、それぞれ前記調整部材に保持
されて前記一対の導体溝部材中に電気的に絶縁されて配
置され、前記測定治具基板上面に載置される前記表面実
装型電子部品の前記一対の入出力端子と当接するように
少なくとも一部が前記測定治具基板上面に露出している
一対のマイクロストリップ線路とを具備して成り、前記
調整部材は、前記一対の導体溝部材を前記測定治具基板
の前記一対の嵌合用溝にそれぞれ嵌合させるべく相対位
置を調整することができる可動台座に取着されているこ
とを特徴とするものである。

【００１５】本発明の表面実装型電子部品の測定装置に
よれば、表面実装型電子部品の一対の入出力端子と当接
させる一対のマイクロストリップ線路をそれぞれ上側に
開口部を有するＵ字状の一対の導体溝部材中に導体溝部
材とは電気的に絶縁して配置し、それらを可動台座に取
着されている調整部材にそれぞれ保持して相対位置を調
整し、導体から成る電気的に接地された測定治具基板に
表面実装型電子部品の入出力端子に対応させて形成され
た一対の嵌合用溝に嵌合せしめて固定する構成としたこ
とから、表面実装型電子部品の入出力端子がそれぞれマ
イクロストリップ線路の伝送線路層と電気的に接触する
とともに、その他の電極端子（グランド端子）が接地さ
れた導体から成る測定治具基板またはその基板の嵌合用
溝に嵌合し固定されて電気的に同電位となる導体溝部材
と直接電気的に接触することにより、それぞれの電気的
な接続が安定していて正確で再現性の良い測定が可能と
なる。

【００１６】また、本発明の測定装置によれば、それぞ
れ相対位置を調整することができる可動台座に取着さ
れ、嵌合用溝に嵌合させる導体溝部材とマイクロストリ
ップ線路とが取着された調整部材により、一対のマイク
ロストリップ線路と一対の導体溝部材とを嵌合用溝の形
成位置に合わせて移動できるようにしたことから、電極
端子の配置が異なる表面実装型電子部品に対しても、測
定対象の電子部品の形状・寸法に応じて測定治具基板上
の保持位置にその入出力端子の配置に対応させて嵌合用
溝を形成した測定治具基板を用意して交換し、その嵌合
用溝の位置関係に合わせて、可動台座に取着された調整
部材により導体溝部材およびマイクロストリップ線路の
位置を調整することによってそれぞれの表面実装型電子
部品の入出力端子の配置に対応することができ、種々の
表面実装型電子部品の電気的特性の測定に簡単に対応す
ることが可能となる。

【００１７】その結果、本発明の表面実装型電子部品の
測定装置によれば、電極端子配置の異なる表面実装型電
子部品に対しても、測定治具基板を交換する程度の簡単
な変更で測定が可能であり、かつグランド端子とグラン
ドとの電気的な接続が安定していて正確で再現性の良い
測定が可能な測定治具部を有する表面実装型電子部品の
測定装置を提供することができる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の表面実装型電子部
品の測定装置について図面を参照しながら詳細に説明す
る。

【００１９】図１は本発明の表面実装型電子部品の測定
装置の一実施形態を示す図６と同様の外観斜視図であ
り、図２はその測定装置における測定治具部の一実施形
態を示す図７と同様の部分拡大斜視図である。

【００２０】図１および図２において、21は表面実装型
電子部品の測定装置、22は台座板、23は保持測定部、24
は表面実装型電子部品を保持測定部23に固定するための
押さえ機構部である。25は保持測定部23で表面実装型電
子部品を保持するとともに電気的に接続するための測定
治具部、26は外部の測定機器と電気的に接続するための
コネクタ、27は測定治具部25の台座であり、台座27は固
定台座27ａ・27ｃおよび可動台座27ｂ・連結部材27ｄな
どから成る。また、28は押さえ機構部24において表面実
装型電子部品を測定治具部25に固定するための押さえ
部、29は押さえ部28を上下させるための押さえ棒であ
る。

【００２１】また、30は金属等の直方体状の導体から成
る測定治具基板であり、電気的に接地されているととも
に、その２辺から中央部の電子部品の保持位置にかけ
て、導体溝部材31を嵌合して固定するための嵌合用溝30
ａが形成されている。31は金属等の導体から成り上側に
開口部を有するＵ字状の導体溝部材、32は導体溝部材31
中に電気的に絶縁されて配置された電子部品の入出力端
子と当接するマイクロストリップ線路であり、マイクロ
ストリップ線路32はセラミックス等の誘電体などから成
る絶縁基体32ａと、その上面に形成された伝送線路層32
ｂと、下面に形成されたグランド導体層32ｃとから成
る。これら導体溝部材31とマイクロストリップ線路32と
は、導体溝部材31が嵌合用溝30ａに嵌合せしめられてそ
の先端が電子部品の保持位置において電子部品の入出力
端子に対応するように測定治具基板30に固定されてお
り、表面実装型電子部品を載置固定した場合に電子部品
の入出力端子と伝送線路層32ｂとが当接するように、導
体溝部材31の開口部からマイクロストリップ線路32が測
定治具基板30上面にわずかに突き出て露出するように弾
性的に組み合わされている。なお、導体溝部材31はコネ
クタ26の接地線と接続することならびに測定治具基板30
と嵌合することにより電気的に接地に接続されており、
またコネクタ26の信号線はマイクロストリップ線路32と
電気的に接続されて測定機器の信号線に接続されてい
る。

【００２２】また、33は表面実装型電子部品の位置決め
をするためのガイド板、34ａ・34ｂは測定治具基板30が
載置固定されるとともに一対の導体溝部材31および一対
のマイクロストリップ線路32が取着され、それらを嵌合
用溝30ａに合わせて移動させるための調整部材であり、
それぞれ台座27上に取着されてその機能を果している。
そしてこの例では、一方の調整部材34ｂは可動台座27ｂ
に取着されており、可動台座27ｂを連結部材27ｄ方向に
移動させ、調整部材34ｂを可動台座27ｂ上でそれと垂直
方向に移動させることにより図中の矢印方向にそれぞれ
動かすことができ、同一平面上でもう一方の調整部材34
ａとの相対位置を調整することができ、両者に取着され
た導体溝部材31およびマイクロストリップ線路32同士の
相対位置を測定治具基板30の嵌合用溝30ａを設けた位置
に応じて調整することができる。

【００２３】なお、台座27の可動範囲や機構を変更する
ことにより、嵌合用溝30ａを測定治具基板30の隣合う２
辺に形成した場合にも容易に対応させることができる。

【００２４】このような本発明の表面実装型電子部品の
測定装置21によれば、測定治具部25上に表面実装型電子
部品（図示せず）を位置決めして載置し、押さえ棒29を
操作して押さえ部28により表面実装型電子部品を押さえ
て固定して、表面実装型電子部品の入出力端子にマイク
ロストリップ線路32を、またその他の端子（グランド端
子）に導体溝部材31または測定治具基板30を直接接触さ
せて電気的に接続し、コネクタ26に測定機器の信号線を
接続して表面実装型電子部品の電気的特性を測定する。

【００２５】本発明の測定装置21における測定治具部25
と表面実装型電子部品との接続状態を、図３（ａ）およ
び（ｂ）にそれぞれ図９と同様の断面図で示す。図３
（ａ）はマイクロストリップ線路32に垂直な断面を示し
ており、（ｂ）はマイクロストリップ線路32に沿った断
面を示している。また、表面実装型電子部品としては図
８に示した表面実装型電子部品15を例に示している。こ
れらの図に示すように、測定治具部25の上にガイド板33
により位置決めされて保持された表面実装型電子部品15
は、グランド端子16ａと導体溝部材31または測定治具基
板30、および入出力端子16ｂとマイクロストリップ線路
32の伝送線路層32ｂがそれぞれ接触して電気的に接続さ
れた状態となる。なお、図３（ａ）においてはグランド
端子16ａが測定治具基板30と接触している例を示してい
るが、導体溝部材31を幅広の形状として上述のようにグ
ランド端子16ａと導体溝部材31とが接触するようにして
もよい。

【００２６】また、本発明の表面実装型電子部品の測定
装置によれば、表面実装型電子部品の電極端子の配置が
図10に示した表面実装型電子部品17や図11に示した表面
実装型電子部品19のように異なる場合であっても、それ
らの表面実装型電子部品17・19の入出力端子18ｂ・20ｂ
の配置に対応した位置に嵌合用溝30ａを設けた測定治具
基板30を用意し、その嵌合用溝30ａの位置に合わせて調
整部材34ｂの位置を調整してマイクロストリップ線路32
の位置を調整することにより、それら表面実装型電子部
品17・19についても同様に入出力端子18ｂ・20ｂとマイ
クロストリップ線路32とを電気的に接続して電気的特性
の測定を行なうことができる。

【００２７】さらに、表面実装型電子部品の測定対象で
ある入出力端子が電子部品本体の対向する２辺の対角位
置に設けられているものに対しても、図４に外観斜視図
で示す測定治具部35の一部のように、直方体状の導体か
ら成る測定用治具基板36の対向する２辺の対角位置から
中央部の電子部品の保持位置にかけて電子部品の入出力
端子に対応させて嵌合用溝36ａを形成することにより、
その対角位置に導体溝部材37およびマイクロストリップ
線路38を配置させて固定することができ、このようにし
て種々の電極端子配置の表面実装型電子部品についても
簡単に対応して測定することができる。

【００２８】なお、図４においても39は表面実装型電子
部品の位置決めをするためのガイド板であり、マイクロ
ストリップ線路38は絶縁基体38ａと、その上面に形成さ
れた伝送線路層38ｂと、下面に形成されたグランド導体
層38ｃとから成る。

【００２９】また、図11に示した表面実装型電子部品19
のように電極端子20ａ・20ｂが電子部品本体の下面に対
して凹状に形成されている場合には、図５に外観斜視図
で示す測定治具基板40のように、電子部品19の入出力端
子20ｂに対応させて嵌合用溝40ａを形成するとともにグ
ランド端子20ａに対応する位置に凸状部40ｂを形成する
ことにより、入出力端子20ｂとマイクロストリップ線路
の伝送線路層およびグランド端子20ａと接地された測定
治具基板40のそれぞれの電気的な接触を良好に行なうこ
とができるものとなる。なお、図11においては測定治具
基板40のみを図示している。また、測定治具基板40の上
面に点線で示した領域はガイド板が取着されて電子部品
の保持位置となる部分である。

【００３０】そして、本発明の測定装置21によれば、測
定治具部25の測定治具基板30を測定治具基板40と交換し
て導体溝部材31およびマイクロストリップ線路32の位置
を調整することによって、表面実装型電子部品19にも容
易に対応できて正確で再現性の良い測定が可能である。

【００３１】本発明の表面実装型電子部品の測定装置に
おいて、測定治具基板30・36・40は、金属等の導体を用
い、導体溝部材31・37を嵌合せしめて固定させるための
嵌合用溝30ａ・36ａ・40ａが形成された、表面実装型電
子部品の電極端子の配置と下面側の構造に適合したもの
であり、台座27ならびに調整部材34ａ・34ｂにより位置
決めした導体溝部材31・37が嵌合され、金属等の導体を
使用したＬ字型の形状の調整部材34ａ・34ｂにはめ込む
などして保持される。また、嵌合用溝30ａ・36ａは、表
面実装型電子部品の入出力端子の位置に対応させて、導
体溝部材31・37が嵌合できるような形状に、導体溝部材
31・37の高さと同じ深さもしくは導体溝部材31・37がや
や突出するような深さとなるように形成すればよい。

【００３２】また導体溝部材31・37は金属等の導体を使
用し、開口部側の上面が平坦で中に配置されるマイクロ
ストリップ線路を囲むような位置・寸法とすればよく、
コネクタ26の接地線とは半田等で接続する。

【００３３】また、マイクロストリップ線路32・38は、
絶縁基板32ａ・38ａにセラミック等の高誘電率の誘電体
材料が、伝送線路層32ｂ・38ｂおよびグランド導体層32
ｃ・38ｃには銅などの金属導体が用いられ、コネクタ26
の信号線と伝送線路層32ｂ・38ｂおよびコネクタ26の接
地線とグランド導体層32ｃ・38ｃとの接続は半田等にて
行なう。

【００３４】コネクタ26は例えばＳＭＡコネクタ等であ
り、ネジまたは半田等によって調整部材34ａ・34ｂに取
り付けられ、外部の測定機器と接続される。

【００３５】ガイド板33・39は表面実装型電子部品の入
出力端子とマイクロストリップ線路32・38とが当接して
電気的に接続されるよう電子部品を位置決めできるよう
に配置する。電子部品を保持して位置決めできれば種々
の形状や寸法としてよく、ネジや接着剤等により測定治
具基板に固定すればよい。

【００３６】一方、押さえ機構24において、押さえ部28
は例えばプラスチック等を使用して電子部品を保持・固
定できるような平坦な形状であればよく、測定者が押さ
え棒29を操作して保持測定部23との間で表面実装型電子
部品を保持して、各入出力端子とマイクロストリップ線
路、およびグランド端子と導体溝部材または測定治具基
板が安定して接触して電気的に確実に接続されるように
している。

【００３７】

【発明の効果】以上のように本発明の表面実装型電子部
品の測定装置によれば、表面実装型電子部品の一対の入
出力端子と接触させる一対のマイクロストリップ線路を
それぞれ上側に開口部を有するＵ字状の一対の導体溝部
材中にその導体溝部材とは電気的に絶縁して配置し、そ
れらを可動台座に取着されている調整部材にそれぞれ保
持して相対位置を調整し、電気的に接地された導体から
成る測定治具基板上面にその基板中央の保持位置にかけ
て形成された一対の嵌合用溝に嵌合せしめて固定して、
マイクロストリップ線路の少なくとも一部を測定治具基
板上面に載置される表面実装型電子部品の下面側に形成
された一対の入出力端子と当接するように測定治具基板
上面に露出した構成としたことから、表面実装型電子部
品の入出力端子がそれぞれマイクロストリップ線路の伝
送線路層と確実に接触して電気的に接続されるととも
に、その他の電極端子（グランド端子）が接地された導
体から成る測定治具基板またはその基板の嵌合用溝に嵌
合し固定されて電気的に同電位となる導体溝部材と直接
接触して電気的に接続されることにより、それぞれを簡
単にかつ安定して電気的に接続させることができ、正確
で再現性の良い測定が可能となった。

【００３８】また、本発明の表面実装型電子部品の測定
装置によれば、それぞれ相対位置を調整することができ
る可動台座に取着され、測定治具基板が載置固定される
とともにその嵌合用溝に嵌合させる導体溝部材とマイク
ロストリップ線路とが取着された調整部材により、一対
のマイクロストリップ線路と一対の導体溝部材とを嵌合
用溝の形成位置に合わせてその相対位置を同一平面内で
調整できるようにしたことから、電極端子の配置が異な
る表面実装型電子部品に対しても、測定対象の電子部品
の形状・寸法ならびに入出力端子の配置に対応した位置
の嵌合用溝を形成した測定治具基板を用意して交換する
だけで、その嵌合用溝の位置関係に合わせて、可動台座
に取着された調整部材により導体溝部材およびマイクロ
ストリップ線路の位置を調整することによってそれぞれ
の表面実装型電子部品の入出力端子の配置に対応するこ
とができ、種々の表面実装型電子部品の電気的特性の測
定に簡単に対応することが可能となった。

【００３９】その結果、本発明の表面実装型電子部品の
測定装置によれば、電極端子配置の異なる表面実装型電
子部品に対しても、測定治具基板を交換する程度の簡単
な変更で測定が可能であり、かつグランド端子とグラン
ドとの電気的な接続が安定していて正確で再現性の良い
測定が可能な測定治具部を有する表面実装型電子部品の
測定装置を提供することができた。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の表面実装型電子部品の測定装置の一実
施形態を示す外観斜視図である。

【図２】本発明の表面実装型電子部品の測定装置の測定
治具部の一実施形態を示す部分拡大斜視図である。

【図３】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ本発明の表面実
装型電子部品の測定装置における測定治具部と表面実装
型電子部品との接続状態を示す断面図である。

【図４】本発明の表面実装型電子部品の測定装置の測定
治具部の他の実施形態を示す外観斜視図である。

【図５】本発明の表面実装型電子部品の測定装置の測定
治具基板の他の実施形態を示す外観斜視図である。

【図６】従来の表面実装型電子部品の測定装置の例を示
す外観斜視図である。

【図７】従来の表面実装型電子部品の測定装置の測定治
具部を示す部分拡大斜視図である。

【図８】表面実装型電子部品の例を示す外観斜視図であ
る。

【図９】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ従来の表面実装
型電子部品の測定装置における測定治具部と表面実装型
電子部品との接続状態を示す断面図である。

【図１０】表面実装型電子部品の他の例を示す外観斜視
図である。

【図１１】表面実装型電子部品の他の例を示す外観斜視
図である。

【符号の説明】

15、17、19・・・・・・・・表面実装型電子部品 16、18、20・・・・・・・・電極端子 16ｂ、18ｂ、20ｂ・・・入出力端子 21・・・・・・・・・・・・表面実装型電子部品の測定
装置 25、35・・・・・・・・・・測定治具部 30、36、40・・・・・・・・測定治具基板 30ａ、36ａ、40ａ・・・嵌合用溝 31、37・・・・・・・・・・嵌合溝部材 32、38・・・・・・・・・・マイクロストリップ線路 34ａ、34ｂ・・・・・・・・調整部材

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 上面に表面実装型電子部品が載置され、
   かつ上面に前記表面実装型電子部品の下面側に形成され
   た一対の入出力端子に対応するように一対の嵌合用溝が
   形成されている電気的に接地された導体から成る測定治
   具基板と、それぞれ調整部材に保持されて前記嵌合用溝
   に嵌合して固定される、上側に開口部を有するＵ字状の
   一対の導体溝部材と、それぞれ前記調整部材に保持され
   て前記一対の導体溝部材中に電気的に絶縁されて配置さ
   れ、前記測定治具基板上面に載置される前記表面実装型
   電子部品の前記一対の入出力端子と当接するように少な
   くとも一部が前記測定治具基板上面に露出している一対
   のマイクロストリップ線路とを具備して成り、前記調整
   部材は、前記一対の導体溝部材を前記測定治具基板の前
   記一対の嵌合用溝にそれぞれ嵌合させるべく相対位置を
   調整することができる可動台座に取着されていることを
   特徴とする表面実装型電子部品の測定装置。