JP2016200583A - 測定用治具、補正値測定方法および補正方法 - Google Patents
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Abstract
Description
3 保持部
4 移動機構
5 カバー部
5a 支軸
6 移動規制部
13 溝部
13a 底部
13b 測定位置
14 凹部
14a 底面
21g 構成部品
24 スプリング
25 当接板
50a,50b プローブ部
61 支持部
62 スリーブ
63 スピンドル
63a 先端部
63b 基端部
64 シンブル
71 第1目盛り
72 第2目盛り
100 チップ部品
101a,101b 電極
La 離間距離
Lb 突出量
Claims (8)
- 測定対象の電気部品を載置可能な溝部を有して当該溝部に載置された当該電気部品を保持する保持部と、一対のプローブ部の少なくとも一方を移動対象として前記溝部の長さ方向に当該移動対象のプローブを移動させて前記保持部によって保持されている前記電気部品における対向する一対の被接触部に当該各プローブ部をそれぞれ接触させる移動機構とを備えた測定用治具であって、
前記移動機構は、前記各プローブ部が互いに近接する第1の向きへの付勢力によって前記移動対象のプローブ部を当該第1の向きに移動可能に構成され、
前記各プローブ部の各先端部同士を任意の離間距離だけ離間させた状態で前記第1の向きへの前記移動対象のプローブ部の移動を規制する移動規制部を備えている測定用治具。 - 前記移動機構は、前記移動対象のプローブ部を保持するプローブ保持部と、当該プローブ保持部と共に移動する当接部とを備えて構成され、
前記移動規制部は、支持部と、当該支持部に固定されると共に第1目盛りが設けられたスリーブと、当該スリーブに回転可能に支持されると共に回転量に応じて前記支持部からの先端部の突出量が変化するように形成されて当該先端部に前記当接部が当接したときに前記第1の向きへの前記移動対象のプローブ部の移動を規制するスピンドルと、当該スピンドルの基端部に取り付けられて前記第1目盛と共に前記突出量を示す第2目盛りが設けられたシンブルとを備えて構成されている請求項1記載の測定用治具。 - 前記電気部品の前記被接触部に前記各プローブ部がそれぞれ接触するときに前記溝部において当該電気部品が位置する測定位置を覆うカバー部を備え、
前記カバー部は、前記移動機構による前記移動対象のプローブの移動動作に連動して、前記測定位置を開放する第1状態と前記測定位置を覆う第2状態とを切り替え可能に構成されて、前記移動対象のプローブが初期位置に位置している状態において前記第1状態に維持され、前記電気部品の前記各被接触部に前記各プローブ部がそれぞれ接触するときに前記第2状態に切り替えられる請求項1または2記載の測定用治具。 - 前記カバー部は、支軸によって回動可能に軸支されて、前記移動動作に連動して回動することによって前記第1状態と前記第2状態とを切り替え可能に構成されている請求項3記載の測定用治具。
- 前記保持部は、底面が平坦に形成されると共に当該底面が前記溝部の底部と同じ深さに規定されて、前記溝部における前記測定位置を除く部分に連続するように形成された凹部を備えている請求項1から4のいずれかに記載の測定用治具。
- 電気部品における対向する一対の被接触部に一対のプローブ部をそれぞれ接触させて測定した当該電気部品の被測定量の測定値を補正するための補正値を測定する補正値測定方法であって、
前記測定対象の電気部品を載置可能な溝部を有して当該溝部に載置された当該電気部品を保持する保持部と、前記各プローブ部の少なくとも一方を移動対象として前記溝部の長さ方向における当該各プローブ部が互いに近接する第1の向きへの付勢力によって当該移動対象のプローブを当該第1の向きに移動可能に構成されて前記保持部によって保持されている前記電気部品の前記各被接触部に当該各プローブ部をそれぞれ接触させる移動機構と、前記各プローブ部の各先端部同士を任意の離間距離だけ離間させた状態で前記第1の向きへの前記移動対象のプローブ部の移動を規制する移動規制部とを備えた測定用治具を用いて、
前記移動規制部によって前記各プローブ部の各先端部同士を前記離間距離だけ離間させた状態で前記補正値を測定する補正値測定方法。 - 前記移動対象のプローブ部を保持するプローブ保持部、および当該プローブ保持部と共に移動する当接部を有する前記移動機構と、支持部、当該支持部に固定されると共に第1目盛りが設けられたスリーブ、当該スリーブに回転可能に支持されると共に回転量に応じて前記支持部からの先端部の突出量が変化するように形成されて当該先端部に前記当接部が当接したときに前記第1の向きへの前記移動対象のプローブ部の移動を規制するスピンドル、および当該スピンドルの基端部に取り付けられて前記第1目盛と共に前記突出量を示す第2目盛りが設けられたシンブルを有する前記移動規制部とを備えた前記測定用治具を用いて、
前記第1目盛りおよび前記第2目盛りによって示される前記突出量が前記離間距離としての前記一対の被接触部間の長さに対応する突出量となるように前記スピンドルを回転させて、前記先端部に前記当接部を当接させた状態で前記補正値を測定する請求項6記載の補正値測定方法。 - 請求項6または7記載の補正値測定方法で測定した前記補正値を用いて前記電気部品の前記被測定量の前記測定値を補正する補正方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023119417A1 (ja) * | 2021-12-21 | 2023-06-29 | 株式会社Fuji | 電気的特性取得装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0495778A (ja) * | 1990-08-06 | 1992-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップ型電子部品の挟持装置 |
JP2000230951A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 低インダクタンス測定用治具 |
JP2003172754A (ja) * | 2001-12-10 | 2003-06-20 | Hioki Ee Corp | 回路素子測定器 |
US20120268150A1 (en) * | 2011-04-22 | 2012-10-25 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Capacitor test fixture and test system employing the same |
-
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Patent Citations (4)
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