JP2000224049A - 誤り検出装置およびその方法 - Google Patents

誤り検出装置およびその方法

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JP2000224049A JP11013468A JP1346899A JP2000224049A JP 2000224049 A JP2000224049 A JP 2000224049A JP 11013468 A JP11013468 A JP 11013468A JP 1346899 A JP1346899 A JP 1346899A JP 2000224049 A JP2000224049 A JP 2000224049A
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    • E02F3/04—Dredgers; Soil-shifting machines mechanically-driven
    • E02F3/28—Dredgers; Soil-shifting machines mechanically-driven with digging tools mounted on a dipper- or bucket-arm, i.e. there is either one arm or a pair of arms, e.g. dippers, buckets
    • E02F3/36—Component parts
    • E02F3/40—Dippers; Buckets ; Grab devices, e.g. manufacturing processes for buckets, form, geometry or material of buckets
    • E02F3/402—Dippers; Buckets ; Grab devices, e.g. manufacturing processes for buckets, form, geometry or material of buckets with means for facilitating the loading thereof, e.g. conveyors
    • E02F3/404—Dippers; Buckets ; Grab devices, e.g. manufacturing processes for buckets, form, geometry or material of buckets with means for facilitating the loading thereof, e.g. conveyors comprising two parts movable relative to each other, e.g. for gripping

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短い処理時間で誤訂正を検出し、誤り訂正を
行う。 【解決手段】 本発明の誤り訂正装置は、ＤＶＤ等のよ
うに、ＥＤＣとＥＣＣとが付加されたＥＣＣブロックに
対する誤り検出を行う。誤り訂正装置は、ＥＤＣ１行分
と、この行のパリティＰＩとに対し、順次、誤りを検出
し、その大きさを算出する。さらに、ＥＤＣブロックの
各行の一定位置に一定の大きさの誤りが生じている場合
のＥＤＣシンドロームを初期値とし、誤りの値に応じて
初期値を順次、修正する。さらに、ＥＤＣブロック全体
のＥＤＣシンドロームを算出し、ＥＤＣブロックに含ま
れる全ての行について、誤りを検出し、その誤りの大き
さを算出すると、算出されたＥＤＣシンドロームと、Ｅ
ＤＣシンドローム修正手段が修正したＥＤＣシンドロー
ムとを比較し、一致していない場合に誤りを検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＤＶＤ等の記録媒体か
らデータを再生するために用いられる誤り検出装置およ
びその方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、ＤＶＤにおいては、データは、
誤り訂正符号（ＥＣＣ）を付加されて記録され、ＤＶＤ
から読み出したデータは、ＥＣＣブロックと呼ばれる単
位ごとに誤り訂正処理される。例えば、特開平７−２３
０３８８号公報、特開平５−３１５９７４号公報および
特開平７−５０５９５号公報は、記録媒体等から得られ
たデータに対して、誤り訂正を行う装置・方法を開示す
る。
【０００３】例えば、ＤＶＤからデータを読み出す場
合、バーストエラーに関して規格化されている誤り訂正
能力を実現するためには、データに付加された誤り訂正
符号を、その能力の限界まで用いて誤り訂正処理を行わ
なければならない。誤り訂正符号を、能力の限界まで用
いて誤り訂正処理を行うと、誤訂正の発生確率が高くな
るので、誤訂正の発生を検出する必要がある。
【０００４】この誤訂正の検出のためには、ＥＤＣと呼
ばれる方法が用いられる。このＥＤＣの処理は、従来、
誤り訂正処理が完了した後に、ＥＣＣブロックをバッフ
ァから読み出して、スクランブルの解除、ＥＤＣの値の
計算、読み込まれたＥＤＣと計算されたＥＤＣとの値の
比較、および、誤訂正の判定という手順で行われてき
た。この手順でＥＤＣ処理を行うと、ＥＣＣブロックを
バッファから読み出さなければならない等、処理のオー
バーヘッドが大きく、処理時間が長くなってしまう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した従
来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、処理にお
けるオーバーヘッドが少なく、短い処理時間で誤訂正を
検出し、誤り訂正を行うことができる誤り検出装置およ
びその方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を達成するための手段】［誤り検出装置］上記目
的を達成するために、本発明にかかる誤り検出装置は、
誤り訂正の対象となるＥＣＣブロックに生じた誤りを検
出する誤り検出装置であって、前記ＥＣＣブロックは、
それぞれ誤り検出符号（ＥＤＣ）が付加された１つ以上
のＥＤＣブロックに対して、誤り訂正符号（ＥＣＣ）が
付加されることにより生成され、前記ＥＣＣブロックに
含まれ、それぞれ前記ＥＣＣを含むデータ系列それぞれ
に対して、データ系列それぞれに含まれる前記ＥＣＣを
用いて誤りの値を算出する誤り値算出手段と、前記デー
タ系列の誤りの値が算出されるたびに、算出された誤り
の値に応じて前記ＥＤＣのシンドロームの値を修正する
ＥＤＣシンドローム修正手段と、修正された前記ＥＤＣ
のシンドロームに基づいて、前記ＥＤＣブロックにおけ
る誤の発生を検出する誤り検出手段とを有する。
【０００７】好適には、前記ＥＤＣブロックは、１つ以
上の行と１つ以上の列から構成され、前記誤り訂正符号
は、前記ＥＤＣブロックの行または列それぞれに対して
付加され、前記データ系列は、それぞれ前記ＥＤＣブロ
ックの１行または１列、および、およびこのＥＤＣブロ
ックの１行または１列に対して付加されたＥＣＣとを含
み、前記誤り値算出手段は、前記データ系列を１つずつ
処理して誤りの値を算出し、前記ＥＤＣシンドローム修
正手段は、所定のＥＤＣシンドロームの初期値を、前記
誤りの値が算出されるたびに、順次、修正し、前記誤り
検出手段は、１つの前記ＥＤＣブロックに対応するデー
タ系列に対する誤りの値の算出が終わるたびに、前記修
正されたＥＤＣシンドロームに基づいて、当該ＥＤＣブ
ロックにおける誤りの発生を検出する。
【０００８】好適には、前記ＥＤＣシンドローム修正手
段は、前記データ系列それぞれの一定の位置に一定の誤
りが生じている場合のＥＤＣシンドロームを前記初期値
とし、算出された前記誤りの値に応じて、前記初期値を
順次、修正する。
【０００９】好適には、前記ＥＤＣブロックそれぞれの
ＥＤＣを算出するＥＤＣ算出手段を有し、前記誤り検出
手段は、１つの前記ＥＤＣブロックに対応するデータ系
列に対する誤りの値の算出が終了するたびに、前記算出
されたＥＤＣと、修正された前記ＥＤＣシンドロームと
を比較して、当該ＥＤＣブロックにおける誤りの発生を
検出する。
【００１０】［誤り訂正装置の作用］本発明にかかる誤
り訂正装置は、例えば、ＤＶＤに記録されるデータブロ
ックのように、まず、誤り検出に用いられるＥＤＣが付
加された複数のＥＤＣブロックに対して、さらに、２種
類のパリティＰＩ，ＰＯ（積符号；ＥＣＣ）を付加した
ＥＣＣブロックに対する誤り検出に用いられる。以下、
ＥＤＣが、ＥＤＣブロックの所定の位置に、パリティＰ
Ｉと同じ行方向に付加される場合を例として説明する。
【００１１】［誤り値算出手段］誤り値算出手段は、Ｅ
ＣＣブロックから、ＥＤＣ１行分と、この行に付加され
たパリティＰＩとを含むデータ系列を、順次、取り出
し、取り出したデータ系列それぞれに対して、パリティ
ＰＩ用いて、ＥＤＣブロック１行分に対して誤りの検出
処理および誤りの大きさ（誤り値）の算出処理を行う。
【００１２】［ＥＤＣシンドローム修正手段］ＥＤＣシ
ンドローム修正手段は、まず、ＥＤＣブロックの各行の
一定の位置に一定の大きさの誤りが生じている場合のＥ
ＤＣシンドロームを初期値に設定する。さらに、ＥＤＣ
シンドローム修正手段は、誤り値算出手段が、データ系
列それぞれの誤りの値を計算するたびに、誤りの値に応
じて、上記初期値を順次、修正する。
【００１３】［ＥＤＣ算出手段］ＥＤＣ算出手段は、Ｅ
ＤＣブロック全体のＥＤＣシンドロームを算出する。
【００１４】［誤り検出手段］誤り検出手段は、誤り値
検出手段が、ＥＤＣブロックに含まれる全ての行につい
て、誤り検出処理および誤りの大きさの算出処理を終了
すると、ＥＤＣ算出手段が算出したＥＤＣシンドローム
と、ＥＤＣシンドローム修正手段が修正したＥＤＣシン
ドロームとを比較し、一致していない場合に誤りを検出
する。この誤り検出は、誤り訂正処理に用いられる。
【００１５】［データ誤り検出方法］誤り訂正の対象と
なるＥＣＣブロックに生じた誤りを検出する誤り検出方
法であって、前記ＥＣＣブロックは、それぞれ誤り検出
符号（ＥＤＣ）が付加された１つ以上のＥＤＣブロック
に対して、誤り訂正符号（ＥＣＣ）が付加されることに
より生成され、前記ＥＣＣブロックに含まれ、それぞれ
前記ＥＣＣを含むデータ系列それぞれに対して、データ
系列それぞれに含まれる前記ＥＣＣを用いて誤りの値を
算出し、前記データ系列の誤りの値が算出されるたび
に、算出された誤りの値に応じて前記ＥＤＣのシンドロ
ームの値を修正し、修正された前記ＥＤＣのシンドロー
ムに基づいて、前記ＥＤＣブロックにおける誤の発生を
検出する。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を説明す
る。まず、本発明にかかる誤り訂正装置１の理解を容易
にするために、ＥＣＣブロック、符号化、誤りが存在す
るか否か（誤りの存在性）の判断、誤り位置、誤り位置
方程式およびチェーンサーチ(Chien Search)等の事項に
ついて説明する。
【００１７】［ＥＣＣブロック］図１は、ＤＶＤに記録
されるデータを生成する処理（Ｓ１０）を示す図であ
る。図２は、図１に示したデータユニット１（ＥＤＣブ
ロック）を示す図である。図３は、図１に示したＥＣＣ
ブロックを示す図である。
【００１８】図１に示すように、ホストシステムから２
０４８バイトのメインデータが入力され、ＤＶＤコント
ローラから、それぞれ４バイト、２バイトおよび６バイ
トのＩＤ／ＩＥＤ（パリティ）／ＲＥＶ（リザーブエリ
ア）が入力されると、ステップ２００（Ｓ２００）の処
理において、メインデータのＩＤエリアに、ＩＤ／ＩＥ
Ｄ／ＲＥＶが付加される。
【００１９】さらに、ステップ２０２（Ｓ２０２）にお
いて、ＥＤＣが付加され、さらに、図２に示すように、
１７２バイト×１２行（１２行×１７２列）構成のデー
タユニット１とされる。この行および列は説明の便宜を
図るための区別であって、本発明に対して本質的な意味
を有さないが、説明の明確化のために、以下、行および
列を図２および図３に示すように区別する。
【００２０】以下、図２に示したデータユニット１をＥ
ＤＣブロックと呼ぶ。図２に示すように、ＥＤＣブロッ
クは、それぞれ１７２バイトの行を１２個含み、第１行
には４バイトのＥＤＣを含み、第１行〜第１２行に２０
４８バイト（＃０〜＃２０４７）のメインデータを含
み、第１２行にはデータＩＤ／ＩＥＤ／ＲＳＶを含む。
【００２１】ステップ２０４（Ｓ２０４）において、Ｅ
ＤＣブロックは、疑似乱数系列と排他的論理和を取るク
ランブル処理がなされる。ステップ２０６（Ｓ２０６）
において、スクランブル処理されたＥＤＣブロックが１
６個集められ、これら１６個のデータユニット１の列方
向、つまり、１２列×１６バイト＝１９２バイトそれぞ
れに、１６バイトのＰ０パリティ（外符号）が付加され
る。
【００２２】さらに、これまでの処理により得られた１
７２バイト×（１９２＋１６）行構成のデータブロック
（１６個のＥＤＣブロックおよびＰ０パリティ）に、こ
のデータブロックの行方向に１０バイトのＰ１パリティ
（内符号）が付加される。このように、ＥＤＣブロック
に付加されるＰ０，Ｐ１パリティは、積符号とも呼ばれ
る。
【００２３】以上のように１８２バイト×１３行に拡張
されたＥＤＣブロックはセクタとも呼ばれ、１６セクタ
が、図３に示す（１７２＋１０）バイト×（１９２＋１
６）行構成のＥＣＣブロックを構成し、このＥＣＣブロ
ックが、ＤＶＤに対する記録・再生の最小単位とされ
る。
【００２４】［符号化処理］ＥＤＣブロックに対してパ
リティＰＯ，ＰＩを付加する符号化処理をさらに説明す
る。ＤＶＤでは、ガロア体ＧＦ（２8）上で定義される
リードソロモン符号が誤り訂正符号として用いられる。
このリードソロモン符号では、データ系列を、８ビット
（１バイト）ずつシンボルに区切って、このシンボルに
対して所定の計算手続きを行うことによりパリティを生
成し、このパリティをデータ系列に付加する。パリティ
を付加されたデータ系列は、符号語と呼ばれる。
【００２５】この計算手続きは、多項式の除算として実
現され、例えば、８ビットデータ""００００００１０を
原始根αとすると、ＰＩ，ＰＯそれぞれで用いられる１
０次・１６次の除多項式は、下式１−１，１ー２で表わ
され、符号の生成多項式とも呼ばれる。データ系列に対
してＸ10を乗算し、下式１−１に示す生成多項式で除算
して得られる余りがパリティＰＩとなり、データ系列に
対してＸ16を乗算し、下式１−２に示す生成多項式で除
算して得られる余りがパリティＰＯとなる。
【００２６】
【数１】 ＰＩ：（ｘ−α0）・（ｘ−α1）・・・（ｘ−α9） （１−１） ＰＯ：（ｘ−α0）・（ｘ−α1）・・・（ｘ−α15） （１−２）
【００２７】［誤り検出］ここまで説明した符号化処理
から明らかなように、符号語（ＥＣＣブロック）におい
ては、除算の残りがパリティとしてＥＣＣブロックに付
加されている。ガロア体ＧＦ（２５６）上では、加算と
減算（ＸＯＲ）とは同じなので、除算の余りの付加は、
余りをデータ系列から減算したことに等しく、符号語を
除多項式（式１−１，１−２）で除算すると割り切れ、
余りはでない。
【００２８】従って、符号語を除多項式で割り切れない
場合には、符号語にノイズ等に起因する誤りが生じてい
ると判定することができ、符号語を除多項式で割り切れ
るか否かが、符号語における誤りの存在性を検証するた
めの十分条件となる。
【００２９】［シンドローム］実際には、誤りの存在性
の検証（誤り検出）だけではなく、後述する誤り訂正で
必要となる計算値を得るために、生成多項式で割り切れ
ることを検査するのと同等な、シンドロームと呼ばれる
計算値が計算される。
【００３０】シンドロームは、生成多項式の根を符号語
Ｆに代入して得られる値であって、符号語ＦがＰＩの生
成多項式で割り切れるということ（Ｆ（α0）＝Ｆ
（α1）＝・・・・＝Ｆ（α9）＝０）は、符号語Ｆに誤
りがないことと等価である。また、符号語ＦがＰＯの生
成多項式で割り切れるということ（Ｆ（α0）＝Ｆ
（α1）＝・・・・＝Ｆ（α15）＝０）は、符号語Ｆに
誤りがないことと等価である。
【００３１】［誤り位置］ここで、誤り位置とは、図３
に示したＥＣＣブロックにおいて、パリティＰＩの最後
のシンボルを０として、パリティＰＩから離れた位置の
シンボル（バイト）であればあるほど値が大きくなるよ
うにカウントされる値であり、誤りが生じているシンボ
ルの位置を示す。なお、誤りの大きさとは、シンボルが
誤っている場合に、誤ったシンボルの値と正しいシンボ
ルの値とを排他的論理和演算（ＸＯＲ、差分とも記す）
した結果により表わされ、例えば、位置ｎに誤りが生じ
ており（誤り位置＝ｎ）、位置ｎの誤ったシンボルの値
が"０１０１１０１０"であり、正しいシンボルの値が"
１０１００１０１"である場合には、誤りの大きさは"１
１１１１１１１"である。
【００３２】［誤り位置方程式およびその定義域］上述
したシンドロームを用いると、所定の計算手続きによ
り、誤り位置の情報を含んだ方程式を導出することがで
きる。この多項式は、誤り位置多項式(ErrorLocator Po
lynomial)と呼ばれ、下式２のように定義される。
【００３３】
【数２】 （１−αm1ｘ）・（１−αm2ｘ）・・・（１−αmkｘ）
＝１＋Ｐ1ｘ＋Ｐ2Ｘ2＋・・・＋ＰkＸk （２） ただし、ｍ1〜ｍkは誤り位置、αは原始根である。
【００３４】ただし、実際には、式２の相反の下式３−
１に示す方程式が用いられることが多く、式３−１から
得られる下式３−２が誤り位置方程式として用いられ
る。
【００３５】
【数３】 （ｚ−αm1）・（ｚ−αm2）・・・（ｚ−αmk） ＝ｚk＋Ｐ1・ｚk-1＋・・・＋Ｐk （３−１） ｚk＋Ｐ1・ｚk-1＋・・・＋Ｐk＝０ （３−２）
【００３６】誤り位置方程式か可解である場合には、そ
の根αm1，αm2，・・・αmkが得られ、これらの根の対
数値を求めることにより誤り位置ｍ1〜ｍkを求めること
ができる。誤り位置方程式の根は８ビットのシンボルと
して得られ、その対数値は０〜２５４の範囲内の値にな
る。一方、パリティＰＩ，ＰＯはそれぞれ０〜１８１
（１８２−１），０〜２０７（２０８−１）の範囲内に
なるので、パリティＰＩ，ＰＯの誤り方程式の定義域
は、それぞれα0〜α181，α0〜α207となる。
【００３７】［チェーンサーチ(Chien Search)法］図４
は、チェーンサーチ法を示す図である。多くの誤りを含
む符号語の訂正には、チェーンサーチと呼ばれる方法を
用いるのが一般的である。チェーンサーチ法は、誤り位
置方程式の定義域の要素を方程式に逐次代入して、代入
の結果として得られた値が０になるか否かを調べること
により、誤り位置方程式を解いてゆく。
【００３８】［本発明におけるチェーンサーチの方向］
誤り位置方程式に代入する値は、数値１（原始根αの０
乗）を初期値として、代入値に原始根αを順次、乗算す
ることにより求められるので、図４に示すように、従来
の方法によるチェーンサーチは、パリティの末尾からデ
ータの先頭方向に向かって行われるのが普通である。こ
れに対し、本発明にかかる誤り訂正装置１においては、
チェーンサーチは、図４に示すように、データの先頭か
らパリティの末尾に向かって行われ、また、誤り多項式
に代入する値が、初期値をα181またはα207として、原
始根αを順次、除算することにより求められことが特徴
となっている。
【００３９】［シンドロームと修正差分］例えば、下式
４に示すように、符号語ｃn，ｃn-1，・・・，ｃ0に、
３つの誤りｅｍ1〜ｅｍ3が加わり、受信語ｄn，ｄn-1，
・・・，ｄ0が受信された場合を考える。
【００４０】
【数４】 ｃn，ｃn-1・・ｃm1 ，・ｃm2，・ｃm3，・・，ｃ0 ＋０ ，・・・０ ・・ｅm1，・ｅm2， ｅm3，・・， ０ ＝ｄn，ｄn-1，・ｄm1，・ｄm2，・ｄm3，・・，ｄ0 （４）
【００４１】ここで、Ｄ（ｘ）＝ｄnｘn＋ｄn-1ｘn-1＋
・・・＋ｄ0、Ｃ（ｘ）＝ｃnｘn＋ｃn-1ｘn-1＋・・・
＋ｃ0とすると、シンドロームＳ0〜Ｓkは、下式５の通
りとなる。
【００４２】
【数５】 Ｓ0＝Ｄ（α0）＝Σｄi＝Σｃi＋ｅm1＋ｅm2＋ｅm3 Ｓ0＝Ｄ（α1）＝Σｄiαi ＝Σｃiαi ＋ｅm1αm1＋ｅm2αm2＋ｅm3αm3 ・ ・ Ｓk＝Ｄ（α1）＝Σｄiαk ＝Σｃiαk ＋ｅm1αkm1＋ｅm2αkm2＋ｅm3αkm3 ただし、ｉ＝１〜ｎ （５）
【００４３】ここで、符号語の定義より、式５におい
て、Σｃi〜Σｃiαkの値は０になるので、シンドロー
ムＳ0〜Ｓkの値は、下式６に示す通りになる。
【００４４】
【数６】 Ｓ0＝ｅm1＋ｅm2＋ｅm3 Ｓ0＝ｅm1αm1＋ｅm2αm2＋ｅm3αm3 ・ ・ Ｓk＝ｅm1αkm1＋ｅm2αkm2＋ｅm3αkm3 （６）
【００４５】複合処理の過程において、誤り位置および
誤りの大きさが１組ずつ見つかるごとに、その誤り位置
にのみ、値が誤りの大きさのシンボルを含み、残りのシ
ンボルが０であるようなデータ系列（０，０，・・・，
ｅm，・・・０）に対するシンドロームを修正差分と定
義すると、各修正差分Ｓ0’，Ｓ1’，・・・，Ｓk’
は、下式７−１〜７−ｋの通りとなり、シンドロームは
全修正差分の和と一致する（Ｓi＝ΣＳi mj、ただし、こ
のΣはｊに関する総和を示す）。
【００４６】
【数７】 Ｓ0 m1’＝ｅm1 Ｓ1 m1’＝ｅm1αm1 ・ Ｓk m1’＝ｅm1αkm1 （７−１） Ｓ0 m2’＝ｅm2 Ｓ1 m2’＝ｅm2αm2 ・ Ｓk m2’＝ｅm2αkm2 （７−２） ・ ・ Ｓ0 mk’＝ｅmk Ｓ1 mk’＝ｅmkαmk ・ Ｓk mk’＝ｅmkαkmk （７−ｋ）
【００４７】［ＥＤＣと修正差分］上述したシンドロー
ムに対する修正差分と同様に、ＥＤＣに対する修正差分
を定義することができる。ただし、パリティＰＯを用い
た誤り処理の際には、チェーンサーチにおける評価対象
の位置が、ＥＤＣを定義する符号系列上で離散的になる
ので、ＥＤＣの修正差分を求めることは難しい。
【００４８】［本発明におけるＥＤＣに対する修正差分
（標準修正差分）］これに対し、本発明におけるＥＤＣ
に対する修正差分（以下、ＥＤＣ修正差分とも記す）の
算出は、評価の対象となっているＥＤＣの定義域におけ
る大きさ０００００００１（０１ｈ）であって、他のＥ
ＤＣの定義域における誤りの大きさが０となる誤りに対
するＥＤＣの値（標準修正差分）を導出し、その値を誤
りの大きさの分だけ乗算することにより、修正差分を算
出する。
【００４９】ここで、セクタＮの行０〜１１（図２参
照）の内、行１にのみ誤り大きさｅの誤りが生じている
場合を具体例として、本発明におけるＥＤＣ修正差分算
出方法を説明する。本発明にかかるＥＤＣ修正差分算出
においては、評価対象が行０の場合には、行０には誤り
が生じていないので、セクタＮとセクタＮ−１との境界
で、セクタＮ−１のＥＤＣ修正差分をセーブし、セクタ
Ｎの修正差分をロードする。
【００５０】評価対象が行１に移ると、行１には誤りが
生じているので、ＥＤＣの標準修正差分＃１と、誤りの
大きさｅとから修正差分を算出し、得られた値を修正差
分計算用ワークレジスタ（このレジスタは、以下の説明
と必ずしも対応しない）に加算する。評価対象が行２〜
１０の間は、誤りが発生していないので修正差分計算用
のワークレジスタに対する加算処理は行われない。評価
対象が行１１の場合には、セクタＮとセクタＮ＋１との
境界なので、修正差分計算用ワークレジスタ内の数値
を、セクタＮの修正差分レジスタ（このレジスタは以下
の説明と必ずしも対応しない）にストアする。
【００５１】［誤り訂正装置１］図５は、本発明にかか
る誤り訂正装置１の構成を示す図である。以下、図５を
参照して、本発明にかかる誤り訂正装置１を説明する。
誤り訂正装置１は、図５に示すように、誤り訂正ブロッ
ク１０、誤訂正検出ブロック１２および制御部２０から
構成される。
【００５２】誤り訂正ブロック１０は、記憶装置１０
０、読み出し／書き込み制御部１０２、シンドローム／
ＥＤＣ計算部１０４、誤り位置多項式／誤り評価多項式
導出部１０６、誤り消失位置制御部１０８、位置カウン
タ１１０、チェーンサーチ部１１２、誤り大きさ計算部
１１４および訂正制御部１１６から構成される。誤訂正
検出ブロック１２は、ＥＤＣ修正差分計算部１４ａ，１
４ｂ、ＥＤＣ標準修正差分計算部１６、シンドローム修
正差分計算部１８、比較回路１２０，１２４、誤訂正検
出部１２２およびセレクタ１２６，１２８から構成され
る。誤り訂正装置１は、これらの構成部分により、例え
ばＤＶＤプレイヤー（図示せず）がＤＶＤから読み出
し、順次、誤り訂正装置１に対して供給するＥＣＣブロ
ック（図３）に対して誤り訂正処理を行う。
【００５３】［制御部２０］制御部２０は、誤り訂正装
置１の各構成部分の演算処理動作を制御する。
【００５４】［誤り訂正ブロック１０］以下、誤り訂正
ブロック１０の各構成部分を説明する。
【００５５】［記憶装置１００，読み出し／書き込み制
御部１０２］誤り訂正ブロック１０において、記憶装置
１００は、読み出し／書き込み制御部１０２の制御に従
って動作し、順次、供給されるＥＣＣブロック（図３）
を記憶し、記憶したＥＣＣブロックそれぞれを行単位に
第０行から第２０７行の順で、または、列単位に第１８
１列から第０列の順で読み出し、読み出しデータとして
読み出し／書き込み制御部１０２に供給する。また、記
憶装置１００は、読み出し／書き込み制御部１０２から
供給される訂正データに従って、ＥＣＣブロックに生じ
た誤りを訂正し、訂正したデータを他の情報処理装置お
よび記録装置（いずれも図示せず）に供給する。
【００５６】読み出し／書き込み制御部１０２は、記憶
装置１００の動作を制御するとともに、記憶装置１００
から入力された読み出しデータをシンドローム／ＥＤＣ
計算部１０４に対して出力し、また、訂正制御部１１６
から入力される訂正データを記憶装置１００に対して出
力し、誤りが生じたデータを訂正させる。
【００５７】［シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４］シ
ンドローム／ＥＤＣ計算部１０４は、記憶装置１００か
ら読み出しデータが行単位に１２行分、入力されるごと
に、読み出し／書き込み制御部１０２から入力される読
み出しデータからシンドロームおよびＥＤＣを算出す
る。シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４は、算出したシ
ンドロームを誤り訂正ブロック１０の誤り位置多項式／
誤り評価多項式導出部１０６および誤訂正検出ブロック
１２の比較回路１２４に対して出力し、また、算出した
ＥＤＣを誤訂正検出ブロック１２の比較回路１２０に対
して出力する。
【００５８】［誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部
１０６］誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部１０６
は、シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力された
シンドロームから、下式８−１，８−２に示す誤り位置
多項式および誤り評価多項式を導出し、さらに、訂正不
能データを生成する。
【００５９】
【数８】 σ（ｘ）＝（ｘ−αm1）・・・（ｘ−αmk） ８−１ ω（ｘ）＝ΣｅmiΠj≠i（ｘ−αmj） ８−２
【００６０】また、誤り位置多項式／誤り評価多項式導
出部１０６は、導出した誤り位置方程式をチェーンサー
チ部１１２に対して出力し、訂正不能データを誤り消失
位置制御部１０８に対して出力し、誤り位置方程式およ
び誤り評価方程式を、誤り大きさ計算部１１４に対して
出力する。
【００６１】なお、消失位置データは、誤りが発生して
いることはわかっているが、誤りの大きさが不明のシン
ボル（消失）の位置を示し、パリティＰＩまたはパリテ
ィＰＯを処理した時、ある行または列で誤りを計算でき
なかったときに、その行番号または列番号がパリティＰ
ＯまたはパリティＰＩに対する消失位置となる。また、
訂正不能データは、ある行または列で、誤り位置多項式
および誤り評価多項式を求められなかったことを示す。
また、誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部１０６
は、２つの多項式を求める計算が終了したことを示すス
タート信号を位置カウンタ１１０に対して出力する。
【００６２】［誤り消失位置制御部１０８］誤り消失位
置制御部１０８は、誤り位置多項式／誤り評価多項式導
出部１０６から入力される訂正不能データから消失位置
データを生成し、誤り位置多項式／誤り評価多項式導出
部１０６に対して出力する。
【００６３】［位置カウンタ１１０］位置カウンタ１１
０は、誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部１０６か
ら入力されるスタート信号に従って、チェーンサーチに
おいてσ（αi）を順次計算するのに必要なクロックを
生成し、その生成回数を i として保持する（ ｉ はＰ
Ｉの時、１８１〜０ の値をとり、ＰＯの場合，２０７
〜０の値をとる）。位置カウンターは 保持した ｉ を
誤訂正検出ブロック１２のＥＤＣ標準修正差分計算部１
６と、誤り訂正ブロック１０のチェーンサーチ部１１２
と、誤訂正検出ブロック１２のセレクタ１２６と、誤り
訂正ブロック１０の訂正制御部１１６とに対して出力す
る。また POの場合、列の最後まで処理が終わった時に
ＥＤＣ標準修正差分の更新を要求する信号をＥＤＣ標準
修正差分計算部１６に出力する。
【００６４】［チェーンサーチ部１１２］チェーンサー
チ部１１２は、誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部
１０６から入力される誤り位置方程式と、位置カウンタ
１１０から入力されるクロックおよび代入データとに基
づいて、σ（αi）を PI の時は i =181 ,180, .... P
Oの時、i = 207, 206, .... の順に計算し、σ（αi）
＝０を与える根αi を検出し、誤り位置を示す検出デー
タ（αi）を誤り大きさ計算部１１４および訂正制御部
１１６に対して出力する。また、チェーンサーチ部１１
２は、検出データをセレクタ１２６，１２８に対して出
力し、セレクタ１２６，１２８それぞれのデータ選択を
制御する。
【００６５】［誤り大きさ計算部１１４］誤り大きさ計
算部１１４は、チェーンサーチ部１１２から入力される
検出データから誤りの大きさを算出し、誤りの大きさを
示す大きさデータを訂正制御部１１６に対して出力す
る。
【００６６】［訂正制御部１１６］訂正制御部１１６
は、位置カウンタ１１０から入力される位置データ（α
i）、チェーンサーチ部１１２から入力される位置デー
タ、誤り大きさ計算部１１４から入力される大きさデー
タ、および、誤訂正検出ブロック１２の誤訂正検出部１
２２から入力される誤訂正検出データから、訂正データ
を生成し、読み出し／書き込み制御部１０２に対して出
力する。
【００６７】［誤訂正検出ブロック１２］以下、誤訂正
検出ブロック１２の各構成部分を説明する。
【００６８】［ＥＤＣ標準修正差分計算部１６］図６
は、図５に示したＥＤＣ標準修正差分計算部１６の構成
を示す図である。ＥＤＣ標準修正差分計算部１６は、図
１６に示す構成部分により、位置カウンタ１１０から入
力される更新データを用いて、ＥＤＣ標準修正差分を計
算し、ＥＤＣ修正差分計算部１４ａ，１４ｂに対して出
力する。
【００６９】［セレクタ１２６］セレクタ１２６は、誤
り訂正ブロック１０のチェーンサーチ部１１２の制御に
従って動作し、検出データが誤りがないことを示してい
る場合には数値０を選択し、これ以外の場合、つまり、
検出データが誤りがあることを示している場合には位置
カウンタ１１０から入力される根を選択してＥＤＣ修正
差分計算部１４ａ，１４ｂおよびシンドローム修正差分
計算部１８に対して出力する。
【００７０】［セレクタ１２８］セレクタ１２８は、誤
り訂正ブロック１０のチェーンサーチ部１１２の制御に
従って動作し、検出データが誤りがないことを示してい
る場合には数値０を選択し、これ以外の場合、つまり、
検出データが誤りがあることを示している場合には誤り
大きさ計算部１１４から入力される大きさデータを選択
してＥＤＣ修正差分計算部１４ａ，１４ｂおよびシンド
ローム修正差分計算部１８に対して出力する。
【００７１】［ＰＯ方向用ＥＤＣ修正差分計算部１４
ａ］図７は、図５に示した第１のＥＤＣ修正差分計算部
１４ａの構成を示す図である。図８は、図５に示した第
１のＥＤＣ修正差分計算部１４ａによるＥＤＣ修正差分
算出の演算の方向を示す図である。ＥＤＣ修正差分計算
部１４ａは、図７に示す構成部分により、ＥＤＣ標準修
正差分計算部１６から入力される標準修正差分データ、
および、セレクタ１２６，１２８から入力される位置デ
ータ、大きさデータまたは数値０を用いて、図２に示し
たＥＤＣブロックに対して、図８に矢印で示す方向で演
算を行い、ＥＤＣ標準修正差分を算出する。
【００７２】［ＰＩ方向用ＥＤＣ修正差分計算部１４
ｂ］図９は、図５に示した第２のＥＤＣ修正差分計算部
１４ｂの構成を示す図である。ＥＤＣ修正差分計算部１
４ｂは、図９に示す構成部分により、ＥＤＣ標準修正差
分計算部１６から入力される標準修正差分データ、およ
び、セレクタ１２６，１２８から入力される位置デー
タ、大きさデータまたは数値０を用いて、図２に示した
ＥＤＣブロックに対してパリティＰＩの方向（行方向）
に演算を行い、ＥＤＣ標準修正差分を算出する。
【００７３】［シンドローム修正差分計算部１８］図１
０は、図５に示したシンドローム修正差分計算部１８の
構成を示す図である。シンドローム修正差分計算部１８
は、図１０に示す構成部分により、セレクタ１２６，１
２８から入力される位置データ、大きさデータまたは数
値０を用いて修正差分を算出し、比較回路１２４に対し
て出力する。
【００７４】［比較回路１２０］比較回路１２０は、シ
ンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力されるＥＤＣ
と、ＥＤＣ修正差分計算部１４ａ，１４ｂから入力され
る修正差分との排他的論理和をとることにより比較し、
比較結果を誤訂正検出部１２２に対して出力する。
【００７５】［比較回路１２４］比較回路１２４は、シ
ンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力されるシンド
ロームと、シンドローム修正差分計算部１８から入力さ
れる修正差分とをの排他的論理和をとることにより比較
し、比較結果を誤訂正検出部１２２に対して出力する。
【００７６】［誤訂正検出部１２２］誤訂正検出部１２
２は、比較回路１２０，１２４それぞれから入力される
比較結果を用いて、訂正の誤り（誤訂正）を検出し、シ
ンドロームと修正差分とが一致しないことを示す誤訂正
データを生成し、訂正制御部１１６に対して出力する。
【００７７】［誤り訂正装置１におけるＰＩ（横）方向
の処理］以下、図１１〜図１９をさらに参照して、誤り
訂正装置１のＰＩ方向の処理を説明する。図１１は、誤
り訂正装置１のＰＩ方向の処理を示す図である。図１２
は、図１１に示した誤り訂正装置１のステップ３（Ｓｔ
ｅｐ３）の処理を示す図である。図１３は、図１１に示
した誤り訂正装置１のステップ５（Ｓｔｅｐ５）の処理
を示す図である。図１４は、図１１に示した誤り訂正装
置１のステップ６（Ｓｔｅｐ６）の処理を示す図であ
る。図１５〜１６は、図１１に示した誤り訂正装置１の
ステップ７，８（Ｓｔｅｐ７，８）の処理を示す図であ
る。図１８は、図１１に示した誤り訂正装置１のステッ
プ９（Ｓｔｅｐ９）の処理を示す図である。図１９は、
図１１に示した誤り訂正装置１のステップ１１（Ｓｔｅ
ｐ１１）の処理を示す図である。
【００７８】図１１に示すように、ステップ（Ｓｔｅ
ｐ）０において、誤り訂正装置１（図５）の読み出し／
書き込み制御部１０２は、変数ｉに初期値を代入（ｉ＝
０）し、ステップ１の処理に進む。
【００７９】ステップ１において、読み出し／書き込み
制御部１０２は、ＥＤＣのシンドロームをストアするレ
ジスタをクリアし、ステップ２の処理に進む。
【００８０】ステップ２において、シンドローム修正差
分計算１８は、初期化処理を行い、初期状態に戻る。
【００８１】ステップ３において、シンドローム／ＥＤ
Ｃ計算部１０４は、図１２に示すように、読み出し／書
き込み制御部１０２からＥＣＣブロック（図３）の第ｉ
行目のデータを読み込み、誤り訂正符号のシンドローム
を計算し、ステップ４の処理に進む。
【００８２】ステップ４において、シンドローム／ＥＤ
Ｃ計算部１０４は、ステップ３の処理において算出した
シンドロームの値が数値０であるか否かを判断し、シン
ドロームの値が数値０でない場合にはステップ５の処理
にすすみ、これ以外の場合には変数ｉに数値１を加え
（インクリメントし；ｉ＝ｉ＋１）、ステップ２の処理
に戻る。
【００８３】ステップ５において、誤り位置多項式／誤
り評価多項式導出部１０６は、図１３に示すように、シ
ンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力されるシンド
ロームの値から誤り多項式を計算し、変数Ｌ（チェーン
サーチで使われるαi）に数値α181（Ｌ＝α181）を代
入する。
【００８４】ステップ６において、図１４に示すよう
に、位置カウンターが与える 変数Lの初期値とチェーン
サーチ部１１２は、位置カウンター１１０が与える 変
数Lの初期値とクロックを用いてチェーンサーチを行
い、変数 Ｌ すなわち αi が、誤り位置多項式の根か
否かを判断する。根である場合には、誤り大きさ計算部
１１４は、その位置における誤りの大きさを計算し、ス
テップ７の処理に進む。
【００８５】ステップ７において、Ｌが根である場合に
は、セレクタ１２８は誤り大きさ計算部１１４から入力
された誤りの大きさを選択してシンドローム修正差分計
算１８とＥＤＣ修正差分回路１４ｂに対して出力する。
また根でない場合は０をシンドローム修正差分計算１
８、EDC修正差分回路１４ｂに対して出力する。シンド
ローム修正差分計算１８とEDC修正差分回路１４ｂは、
入力値を用いてそれぞれの修正差分に対する寄与を算出
し、ステップ ８a の処理に進む。
【００８６】ステップ８において、図１７に示すよう
に、セレクタ１２８は、誤り大きさ計算部１１４から入
力された誤りの大きさを選択してＥＤＣ修正差分計算部
１４ｂに対して出力し、ＥＤＣ修正差分計算部１４ｂ
（図９）は、修正差分を算出する。チェーンサーチが第
ｉ行の最後まで来ていたらステップ９の処理に進み、こ
れ以外の場合には変数Ｌの値をＬ×α-1に更新し、ステ
ップ６の処理に進む（ステップ８ａ）。
【００８７】ステップ９において、図１８に示すよう
に、比較回路１２４は、シンドローム／ＥＤＣ計算部１
０４から入力されるシンドロームと、シンドローム修正
差分計算１８から入力される修正差分とを比較する。誤
訂正検出回路１２２は、比較結果が一致を示す場合に
は、誤訂正検出データを誤訂正が生じなかったことを示
す値とし、これ以外の場合には誤訂正検出データを誤訂
正が生じたことを示す値にして訂正制御部１１６に対し
て出力する。訂正制御部１１６は、誤訂正検出データ
が、誤訂正が生じたことを示している場合には読み出し
／書き込み制御部１０２のバッファ（図示せず）上で誤
り訂正を行い、これ以外の場合には誤り訂正を行わな
い。
【００８８】ステップ１０において、読み出し／書き出
し制御部１０２は、ＥＤＣブロック（図２）の最後の行
を処理したか否かを判断し、最後の行を処理した場合に
はステップ１１の処理に進み、これ以外の場合にはステ
ップ３の処理に進む。
【００８９】ステップ１１において、比較回路１２０
は、シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力された
ＥＤＣと、ＥＤＣ修正差分計算部１４ｂから入力された
修正差分とを比較し、比較結果が一致を示す場合には、
誤訂正検出データを訂正不能を示す値にして訂正制御部
１１６に対して出力し、これ以外の場合には、誤訂正検
出データを訂正可能を示す値にしてステップ１２の処理
に進む。
【００９０】ステップ１２において、比較回路１２０
は、最後のＥＤＣブロックを処理したか否かを判断し、
最後のＥＤＣブロックを処理した場合には処理を終了
し、これ以外の場合にはステップ１の処理に戻る。
【００９１】以上説明したように、誤り訂正装置１にお
いては、ＰＩ方向の誤り訂正のチェーンサーチは、行の
先頭から実行される。つまり、ＰＩ方向のチェーンサー
チにおいては、まず、誤り位置多項式にα18 1，
α180，．．．，α0の各数値が順次、代入されて根であ
るか否かを判定され、根である場合には、誤りの大きさ
が計算される。
【００９２】また、シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４
は、ＥＣＣブロックのデータを行の先頭側から処理し、
また、修正差分は、１つの誤りのシンドロームに対する
影響の和を順次、計算することにより求めることができ
る。従って、チェーンサーチにおいて誤りが発見され、
その大きさが計算された場合にその値を、それ以外の場
合には数値０をシンドローム修正差分計算１８およびＥ
ＤＣ修正差分計算部１４ｂに入力することにより、シン
ドロームの修正差分を得ることができる。従って、誤り
訂正装置１におけるＰＩ方向の処理は、標準修正差分な
しに行われ得る。
【００９３】［誤り訂正装置１におけるＰＯ（縦）方向
の処理］例えば、第１ＥＤＣブロック 第 3行、 ＥＣＣ
ブロック 第 179列に誤り 0ｘ94が生じた第１ＥＤＣブ
ロック（図２）におけるシンドロームの修正差分は、下
式１０に示すｅ（ｘ）より、ｅ（ｘ） ｍｏｄ ｇ
（ｘ）によって与えられる。これを計算するために、下
式１０に示すｅ（ｘ）より、ｅ（ｘ） ｍｏｄ ｇ
（ｘ）を計算する必要がある。
【００９４】
【数１０】 ｅ（ｘ）＝（ｘ7＋ｘ4＋ｘ2）＊ｘ{(2*172+169)*8} (１０）
【００９５】このためには、まず、標準修正差分Ｎ
jを、下式１１に示すように定義する。これらの標準修
正差分Ｎjは、それぞれＥＤＣブロックの第１７０列目
に、大きさ０ｘ０１の誤りが生じている場合に、ＥＤＣ
がシンドロームに与える寄与を示す。
【００９６】
【数１１】 Ｎ12＝Ｘ{(169+172*11)*8} mod g(x) Ｎ11＝Ｘ{(169+172*10)*8} mod g(x) ・ ・ Ｎ3＝Ｘ{(169+172*2)*8} mod g(x) Ｎ2＝Ｘ{(169+172*1)*8} mod g(x) Ｎ1＝Ｘ{(169+172*0)*8} mod g(x) ただし、Ｎxは、ＥＤＣの第ｘ番目の標準修正差分を示す。 （１０）
【００９７】図５のチェーンサーチ部１１２ と位置カ
ウンター１１０と誤り大きさ計算回路１１４は、第１７
９列の処理において誤りの位置１９８と誤りの大きさ０
ｘ９４を出力する。第１ＥＤＣブロック 第 ３行、 Ｅ
ＣＣブロック 第１７９列に発生した誤り０ｘ９４は、
１２＊１５＋１６−１＝１９８（１ＥＤＣブロックは１
２行、EDCブロックは全部で１６個、行は０行から始ま
る、ＰＯのパリティは １６行ある。）であることよ
り、ECCブロック第１９８行に位置するので、誤り訂正
回路から計算される誤りの位置は１９８（１９９行）で
あることがわかる。また、ＥＤＣブロック上の誤りの位
置は、（１９９−１）＝１２＊１５＋３より、ＥＣＣブ
ロック（図３）の第１のＥＤＣブロック（図２）の第３
行目であることがわかる。また、誤りの大きさが０ｘ９
４であることもわかるので、ｅ（ｘ）＝（ｘ7＋ｘ4＋ｘ
2）＊ｘ{(2*172+169)*8}。この時、修正差分Ｓ（ｘ）
は、ＥＤＣブロックの第３行に誤りが生じていることか
ら、式１１に示した標準修正差分Ｎ3を用いて、下式１
２のように示すことができる。
【００９８】
【数１２】 Ｓ（ｘ）＝（ｘ7＋ｘ4＋ｘ2）＊ｘ{(2*172+169)*8} mod ｇ（ｘ） ＝ ｘ7＊ｘ{(2*172+169)*8} mod ｇ（ｘ） ｘ4＊ｘ{(2*172+169)*8} mod ｇ（ｘ） ｘ2＊ｘ{(2*172+169)*8} mod ｇ（ｘ） ＝ ［ｘ7＊Ｎ3］ mod ｇ（ｘ） ［ｘ4＊Ｎ3］ mod ｇ（ｘ） ［ｘ2＊Ｎ3］ mod ｇ（ｘ） （１２） ただし、（Ａ＋Ｂ）mod ｇ＝Ａ mod g ＋Ｂ mod g （Ａ＊Ｂ）mod ｇ＝｛Ｂ＊（Ａ mod g）｝mod g
【００９９】このとき、［ｘ7＊Ｎ3］ mod ｇ（ｘ）を
算出する回路は、ランダムロジックでハードウェアによ
り容易に構成することができ、あるいは、同等の演算処
理はソフトウェア的に容易に実現可能である。
【０１００】図７に示したＥＤＣ修正差分計算部１４ａ
において、誤りの大きさ０ｘ９４に対応するように、Ｂ
7＝１，Ｂ4＝１，Ｂ2＝１、他は０とすると、ＥＤＣ修
正差分計算部１４ａの加算器の出力は、修正差分Ｓ
（ｘ）となる。
【０１０１】以上の説明を一般化し、第 ｉ 列における
ＥＤＣの第１〜第１２の標準修正差分を下式１３のよ
うに定義する。第１８０列に誤りがあった場合には、式
１３に ｉ＝１８０を代入した下式１４ で示される標準
修正差分が使用され
【０１０２】
【数１３】 Ｎ12＝Ｘ{(i-10+172*11)*8} mod g(x) Ｎ11＝Ｘ{(i-10+172*10)*8} mod g(x) ・ ・ Ｎ3＝Ｘ{(i-10+172*2)*8} mod g(x) Ｎ2＝Ｘ{(i-10+172*1)*8} mod g(x) Ｎ1＝Ｘ{(i-10+172*0)*8} mod g(x) （１３）
【０１０３】
【数１４】 Ｎ11＝Ｘ{(170+172*10)*8} mod g(x) ・ ・ Ｎ3＝Ｘ{(170+172*2)*8} mod g(x) Ｎ2＝Ｘ{(170+172*1)*8} mod g(x) Ｎ1＝Ｘ{(170+172*0)*8} mod g(x) （１４）
【０１０４】式１３，１４より新たな標準修正差分Ｎ'j
は、下式１５の通りに表すことができ、この値を用いて
第１８１列目の誤りに対して同様の計算を行うことがで
きる。最終的に、１６個の修正差分を記憶するレジスタ
と、その途中結果を記憶するレジスタとが必要になるの
で、ＥＤＣ修正差分計算部１４ａは、図７に示した通り
の構成をとる。
【０１０５】
【数１５】 Ｎ'j＝（ｘ8*Ｎj） mod ｇ（ｘ） （１５）
【０１０６】以下、図２０〜図３０をさらに参照して、
誤り訂正装置１におけるＰＯ方向の処理を説明する。図
２０は、誤り訂正装置１（図５）のＰＯ方向の処理を示
す図である。図２１は、図２０に示した誤り訂正装置１
（図５）のＥＤＣ標準修正差分計算部１６（図６）のス
テップ１００（Ｓｔｅｐ１００）における処理を示す図
である。図２２は、図２０に示した誤り訂正装置１のス
テップ１０１（Ｓｔｅｐ１０１）における処理を示す図
である。図２３は、図２０に示した誤り訂正装置１のス
テップ１０３（Ｓｔｅｐ１０３）における処理を示す図
である。図２４は、図２０に示した誤り訂正装置１のス
テップ１０４（Ｓｔｅｐ１０４）における処理を示す図
である。図２５は、図２０に示した誤り訂正装置１のス
テップ１０７（Ｓｔｅｐ１０７）における処理を示す図
である。図２６は、図２０に示した誤り訂正装置１のＥ
ＤＣ修正差分計算部１４ａ（図７）のステップ１０７
（Ｓｔｅｐ１０７）における処理を示す図である。図２
７は、図２０に示した誤り訂正装置１のＥＤＣ修正差分
計算部１４ａ（図７）のステップ１０８（Ｓｔｅｐ１０
８）における処理を示す図である。図２８は、図２０に
示した誤り訂正装置１のステップ１１０（Ｓｔｅｐ１１
０）における処理を示す図である。図２９は、図２０に
示した誤り訂正装置１のＥＤＣ標準修正差分計算部１６
（図６）のステップ１１１（Ｓｔｅｐ１１１）における
処理を示す図である。図３０は、図２０に示した誤り訂
正装置１のステップ１１２（Ｓｔｅｐ１１２）における
処理を示す図である。
【０１０７】図２０に示すように、ステップ１００にお
いて、ＥＤＣ標準修正差分計算部１６は、変数ｉに初期
値１０（変数ｉの初期値が１０になるのは、ＰＩパリテ
ィはＥＤＣブロックに含まれないため）を代入し、下式
１６に示す予め計算されている最初の標準修正差分Ｎj
（ｊ＝１，．．．，１２）を算出し、ＥＤＣのシンドロ
ームを記憶するシンドローム修正差分計算部１４ａ内の
レジスタ（図示せず）をクリアし、シンドローム／ＥＤ
Ｃ計算部１０４（誤り訂正符号のシンドローム生成回
路）を初期化し、ステップ１０１の処理に進む。
【０１０８】
【数１６】 Ｎ12＝Ｘ{(i-10+172*11)*8} mod g(x) Ｎ11＝Ｘ{(i-10+172*10)*8} mod g(x) ・ ・ Ｎ3＝Ｘ{(i-10+172*2)*8} mod g(x) Ｎ2＝Ｘ{(i-10+172*1)*8} mod g(x) Ｎ1＝Ｘ{(i-10+172*0)*8} mod g(x) （１６）
【０１０９】ステップ１０１において、図２２に示すよ
うに、シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４（図５）は、
ＥＤＣブロック（図２）の第ｉ列の誤り訂正符号のシン
ドロームを計算し、ステップ１０２の処理に進む。
【０１１０】ステップ１０２において、誤り位置多項式
／誤り評価多項式導出部１０６は、ステップ１０１の処
理において計算したシンドロームの値が数値０でない場
合にはステップ１０３の処理に進み、これ以外の場合に
は、変数ｉに数値１を加え（インクリメントし）、下式
１７によって標準修正差分の値を更新して、ステップ１
０１の処理に戻る。
【０１１１】
【数１７】 Ｎj＝（Ｎj*ｘ8）mod ｇ（ｘ） （１７）
【０１１２】ステップ１０３において、図２３に示すよ
うに、誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部１０６
は、ステップ１０１の処理において計算されたシンドロ
ームの値から誤り位置多項式を計算し、変数Ｌの値にα
207を代入し、ステップ１０４の処理に進む。
【０１１３】ステップ１０４において、図２４に示すよ
うに、チェーンサーチ部１１２は、チェーンサーチを行
って変数Ｌの値が誤り位置多項式の根か否かを判断す
る。誤り大きさ計算部１１４は、変数Ｌが誤り位置多項
式の根である場合には誤りの大きさを計算し、これ以外
の場合には誤りの大きさの値を０とする。
【０１１４】ステップ１０５において、シンドローム修
正差分計算１８は、ステップ１０４の処理において求め
られた誤りの大きさの値から修正差分を算出し、ステッ
プ１０６の処理に進む。
【０１１５】ステップ１０６において、チェーンサーチ
部１１２ と位置カウンター１１０によって求められた
誤りの位置から、誤りがＥＣＣブロック（図３）に含ま
れるいずれのＥＤＣブロック（図２）の何行目に発生し
たかを判定し、ステップ１０７の処理に進
【０１１６】ステップ１０７において、ＥＤＣ修正差分
計算部１４ａは、図２５および図２６に示すように、ス
テップ１０６の処理において誤りが発生していると判定
されたＥＤＣブロックの第ｊ番目の行に対応する標準修
正差分Ｎjを選び、誤りの大きさＢk（ｋ＝０〜７；Ｂk
＝１または０）を用いて、下式１８の計算を行い、ステ
ップ１０８の処理に進む。
【０１１７】
【数１８】 ΣＢk*(Ｎj k mod ｇ（ｘ）) （１８） ただし、Σはｋ＝０〜７に関する総和を示す。
【０１１８】ステップ１０８において、ＥＤＣ修正差分
計算部１４ａは、図２７に示すように、ステップ１０７
の処理における計算結果（式１８）を用いて、ステップ
１０６で求められたＥＤＣブロックに対応するシンドロ
ームの修正差分を更新し、ステップ１０９の処理に進
【０１１９】ステップ１０９において、チェーンサーチ
部１１２は、チェーンサーチがＥＤＣブロックの第ｉ列
の最後まで終了した場合にはＳ１１０の処理に進み、こ
れ以外の場合には変数Ｌに数値α-1を乗算し、ステップ
１０４の処理に戻る。
【０１２０】ステップ１１０において、図２８に示すよ
うに、比較回路１２４は、シンドローム／ＥＤＣ計算部
１０４から入力されるシンドロームと、ステップ１０３
から１０９の処理においてシンドローム修正差分計算１
８が算出した修正差分の値とを比較し、これらが一致し
ている場合には、誤訂正検出回路１２２は、シンドロー
ムの修正差分が正当であると判断し、訂正制御部１１６
は読み出し／書き込み制御部１０２のバッファ（図示せ
ず）上で誤り訂正を行い、ステップ１１１の処理に進
む。これ以外の場合には、誤訂正検出回路１２２は、誤
訂正検出データに訂正不能のフラグをセットし、訂正制
御部１１６は、誤り訂正を行わずにステップ１１１の処
理に進む。
【０１２１】ステップ１１１において、図２９に示すよ
うに、ＥＤＣ標準修正差分計算部１６は、誤りの位置と
大きさの計算をＥＣＣブロックの最後の列まで行ったか
否かを判断し、最後の列に対する計算を行った場合には
ステップ１１２の処理に進み、これ以外の場合にはＳ１
０１の処理に戻る。
【０１２２】ステップ１１２において、比較回路１２０
は、シンドローム／ＥＤＣ計算部１０４から入力される
ＥＤＣと、ＥＤＣ修正差分計算部１４ａがステップ１０
１から１１２の処理において算出した修正差分とを比較
し、誤訂正検出回路１２２は、これらが一致する場合に
は処理を終了し、これ以外の場合には誤訂正検出データ
に訂正不能フラグをセットして処理を終了する。
【０１２３】以上説明したように、本発明にかかる誤り
訂正装置においては、誤りの位置および大きさの計算
と、誤り訂正により値が変化するＥＤＣのシンドローム
との計算とが、同時に行うことができるので、誤り訂正
の確率を低くすることができる。また、バッファからデ
ータを読み出す回数を従来よりも少なくすることができ
るので、誤り訂正処理に要する時間が短くて済む。
【０１２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる誤
り検出装置およびその方法によれば、処理におけるオー
バーヘッドを少なくすることができるので、短い処理時
間で誤訂正を検出し、誤り訂正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＤＶＤに記録されるデータを生成する処理（Ｓ
１０）を示す図である。
【図２】図１に示したデータユニット１（ＥＤＣブロッ
ク）を示す図である。
【図３】図１に示したＥＣＣブロックを示す図である。
【図４】チェーンサーチ法を示す図である。
【図５】本発明にかかる誤り訂正装置の構成を示す図で
ある。
【図６】図５に示したＥＤＣ標準修正差分計算部の構成
を示す図である。
【図７】図５に示した第１のＥＤＣ修正差分計算部（１
４ａ）の構成を示す図である。
【図８】図５に示した第１のＥＤＣ修正差分計算部（１
４ａ）によるＥＤＣ修正差分算出の演算の方向を示す図
である。
【図９】図５に示した第２のＥＤＣ修正差分計算部（１
４ｂ）の構成を示す図である。
【図１０】図５に示したシンドローム修正差分計算部の
構成を示す図である。
【図１１】誤り訂正装置のＰＩ方向の処理を示す図であ
る。
【図１２】図１１に示した誤り訂正装置のステップ３
（Ｓｔｅｐ３）の処理を示す図である
【図１３】図１１に示した誤り訂正装置のステップ５
（Ｓｔｅｐ５）の処理を示す図である。
【図１４】図１１に示した誤り訂正装置のステップ６
（Ｓｔｅｐ６）の処理を示す図である。
【図１５】図１１に示した誤り訂正装置のステップ７，
８（Ｓｔｅｐ７，８）の処理を示す第１の図である。
【図１６】図１１に示した誤り訂正装置のステップ７，
８（Ｓｔｅｐ７，８）の処理を示す第２の図である。
【図１７】図１１に示した誤り訂正装置のステップ７，
８（Ｓｔｅｐ７，８）の処理を示す第３の図である。
【図１８】図１１に示した誤り訂正装置のステップ９
（Ｓｔｅｐ９）の処理を示す図である。
【図１９】図１１に示した誤り訂正装置のステップ１１
（Ｓｔｅｐ１１）の処理を示す図である。
【図２０】誤り訂正装置（図５）のＰＯ方向の処理を示
す図である。
【図２１】図２０に示した誤り訂正装置（図５）のＥＤ
Ｃ標準修正差分計算部（図６）のステップ１００（Ｓｔ
ｅｐ１００）における処理を示す図である。
【図２２】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１０
１（Ｓｔｅｐ１０１）における処理を示す図である。
【図２３】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１０
３（Ｓｔｅｐ１０３）における処理を示す図である。
【図２４】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１０
４（Ｓｔｅｐ１０４）における処理を示す図である。
【図２５】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１０
７（Ｓｔｅｐ１０７）における処理を示す図である。
【図２６】図２０に示した誤り訂正装置の第１のＥＤＣ
修正差分計算部（１４ａ（図７））のステップ１０７
（Ｓｔｅｐ１０７）における処理を示す図である。
【図２７】図２０に示した誤り訂正装置の第１のＥＤＣ
修正差分計算部（１４ａ（図７））のステップ１０８
（Ｓｔｅｐ１０８）における処理を示す図である。
【図２８】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１１
０（Ｓｔｅｐ１１０）における処理を示す図である。
【図２９】図２０に示した誤り訂正装置のＥＤＣ標準修
正差分計算部（図６）のステップ１１１（Ｓｔｅｐ１１
１）における処理を示す図である。
【図３０】図２０に示した誤り訂正装置のステップ１１
２（Ｓｔｅｐ１１２）における処理を示す図である。
【符号の説明】
１・・・誤り訂正装置 １０・・・誤り訂正ブロック １００・・・記憶装置 １０２・・・読み出し／書き込み制御部 １０４・・・シンドローム／ＥＤＣ計算部 １０６・・・誤り位置多項式／誤り評価多項式導出部 １０８・・・誤り消失位置制御部 １１０・・・位置カウンタ １１２・・・チェーンサーチ部 １１４・・・誤り大きさ計算部 １１６・・・訂正制御部 １２・・・誤訂正検出ブロック １２０・・・比較回路 １２２・・・誤訂正検出回路 １２４・・・比較回路 １２６・・・セレクタ １２８・・・セレクタ １４ａ，１４ｂ・・・ＥＤＣ修正差分計算部 １６・・・ＥＤＣ標準修正差分計算部 １８・・・シンドローム修正差分計算 ２０・・・制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田村 哲也 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内 (72)発明者 出村 雅之 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】誤り訂正の対象となるＥＣＣブロックに生
    じた誤りを検出する誤り検出装置であって、前記ＥＣＣ
    ブロックは、それぞれ誤り検出符号（ＥＤＣ）が付加さ
    れた１つ以上のＥＤＣブロックに対して、誤り訂正符号
    （ＥＣＣ）が付加されることにより生成され、 前記ＥＣＣブロックに含まれ、それぞれ前記ＥＣＣを含
    むデータ系列それぞれに対して、データ系列それぞれに
    含まれる前記ＥＣＣを用いて誤りの値を算出する誤り値
    算出手段と、 前記データ系列の誤りの値が算出されるたびに、算出さ
    れた誤りの値に応じて前記ＥＤＣのシンドロームの値を
    修正するＥＤＣシンドローム修正手段と、 修正された前記ＥＤＣのシンドロームに基づいて、前記
    ＥＤＣブロックにおける誤りの発生を検出する誤り検出
    手段とを有する誤り検出装置。
  2. 【請求項２】前記ＥＤＣブロックは、１つ以上の行と１
    つ以上の列から構成され、前記誤り訂正符号は、前記Ｅ
    ＤＣブロックの行または列それぞれに対して付加され、
    前記データ系列は、それぞれ前記ＥＤＣブロックの１行
    または１列、および、およびこのＥＤＣブロックの１行
    または１列に対して付加されたＥＣＣとを含み、 前記誤り値算出手段は、前記データ系列を１つずつ処理
    して誤りの値を算出し、 前記ＥＤＣシンドローム修正手段は、所定のＥＤＣシン
    ドロームの初期値を、前記誤りの値が算出されるたび
    に、順次、修正し、 前記誤り検出手段は、１つの前記ＥＤＣブロックに対応
    するデータ系列に対する誤りの値の算出が終わるたび
    に、前記修正されたＥＤＣシンドロームに基づいて、当
    該ＥＤＣブロックにおける誤りの発生を検出する請求項
    １に記載の誤り検出装置。
  3. 【請求項３】前記ＥＤＣシンドローム修正手段は、 前記データ系列それぞれの一定の位置に一定の誤りが生
    じている場合のＥＤＣシンドロームを前記初期値とし、 算出された前記誤りの値に応じて、前記初期値を順次、
    修正する請求項２に記載の誤り検出装置。
  4. 【請求項４】前記ＥＤＣブロックそれぞれのＥＤＣを算
    出するＥＤＣ算出手段を有し、 前記誤り検出手段は、１つの前記ＥＤＣブロックに対応
    するデータ系列に対する誤りの値の算出が終了するたび
    に、前記算出されたＥＤＣと、修正された前記ＥＤＣシ
    ンドロームとを比較して、当該ＥＤＣブロックにおける
    誤りの発生を検出する請求項３に記載の誤り検出装置。
  5. 【請求項５】誤り訂正の対象となるＥＣＣブロックに生
    じた誤りを検出する誤り検出方法であって、前記ＥＣＣ
    ブロックは、それぞれ誤り検出符号（ＥＤＣ）が付加さ
    れた１つ以上のＥＤＣブロックに対して、誤り訂正符号
    （ＥＣＣ）が付加されることにより生成され、 前記ＥＣＣブロックに含まれ、それぞれ前記ＥＣＣを含
    むデータ系列それぞれに対して、データ系列それぞれに
    含まれる前記ＥＣＣを用いて誤りの値を算出し、 前記データ系列の誤りの値が算出されるたびに、算出さ
    れた誤りの値に応じて前記ＥＤＣのシンドロームの値を
    修正し、 修正された前記ＥＤＣのシンドロームに基づいて、前記
    ＥＤＣブロックにおける誤りの発生を検出する誤り検出
    方法。
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