JP2000156092A - 同期式バースト不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents

同期式バースト不揮発性半導体記憶装置

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JP2000156092A JP32911598A JP32911598A JP2000156092A JP 2000156092 A JP2000156092 A JP 2000156092A JP 32911598 A JP32911598 A JP 32911598A JP 32911598 A JP32911598 A JP 32911598A JP 2000156092 A JP2000156092 A JP 2000156092A
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    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 同期式バースト不揮発性半導体記憶装置
では、メモリセルからのデータを格納する第1のラッチ
回路にアドレス信号を出力する為に、第1及び第2のア
ドレスカウンタ回路27、28及びセレクト回路22を
有する。セレクト回路22によって、バースト制御信号
BSに応答して、第1及び第2のアドレスカウンタ回路
27、28のいずれかが交互に選択される。本発明で
は、アドレスカウンタ回路27、28のどちらかが絶え
ず選択されており、バースト制御信号BSが生成される
以前から、外部からのアドレス信号(バーストアドレス
信号の最初の信号)に基づくバーストアドレス信号がラ
ッチ回路に出力される。 【効果】 クロックからの遅れがバースト制御信号BS
に生じていても、第1のラッチ回路の後段の第2のラッ
チ回路がクロックに応答して、正しいデータをラッチで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体記憶装置に関し、
特に同期式バースト不揮発性半導体記憶装置の読み出し
を行う回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】同期式バースト不揮発性半導体記憶装置
であるシンクロナスROMは、複数のメモリセルがマト
リクス状に配置されたメモリセルアレイと、メモリセル
アレイの一部から非同期的に読み出した複数のデータを
格納しておき、順次与えられるアドレス信号に応答し
て、アドレス信号が示しているアドレスに格納された各
データを順次出力する第1のラッチ回路と、第1のラッ
チ回路に順次データを出力させるために、バースト制御
信号とクロック信号とに応答して、第1のラッチ回路へ
連続的なアドレス信号(バーストアドレス信号と称す
る)を出力するアドレス生成制御回路と、第1のラッチ
回路からの出力を内部クロック信号に同期して出力する
第2のラッチ回路を備えている。
【0003】ここで、アドレス生成制御回路は、アドレ
スカウンタ及びデコーダ回路を備えている。アドレスカ
ウンタは、外部からのバイナリデータであるバーストア
ドレス信号BA(バーストアドレス信号の最初のアドレ
ス信号)がカラムラッチ回路から与えられている状態
で、かつタイミング制御回路からHレベルのバースト制
御信号BSを入力することにより、このカラムラッチ回
路からのバーストアドレス信号BAをラッチし、これを
デコーダ回路へ出力する。デコーダ回路は、アドレスカ
ウンタからの信号をデコードし、デコードした信号を第
1のラッチ回路へ出力する。またアドレスカウンタは、
バーストアドレス信号BAの出力に続いて、バースト制
御回路からのバースト制御信号BURSTがHレベルの
間、内部クロック信号に同期して連続的にバーストアド
レス信号を生成し、順次、第1のラッチ回路へ出力す
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シンク
ロナスROMにおけるタイミング制御回路は内部クロッ
ク信号に同期して動作するため、そこから出力されるバ
ースト制御信号BSは内部クロック信号からの遅延を有
している。
【0005】よって、バーストアドレス信号BAがバー
スト制御信号BSによってアドレスカウンタにラッチさ
れ、このバーストアドレス信号をデコーダ回路によっ
て、デコードしたバーストアドレス信号が第1のラッチ
回路に与えられるタイミングは内部クロック信号に対し
て遅れる。
【0006】バーストアドレス信号BAが、アドレスカ
ウンタ及びデコーダ回路を経由して、ラッチ回路に到達
するまでの時間が長くなってしまうと、第2のラッチ回
路が誤データをラッチしてしまい、正しいデータを外部
に出力できないという問題を生じる。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明の同期式バースト不揮発性半導体記憶装置
は、データを格納するメモリセルと、アドレス信号が与
えられる入力端子群と、第1の出力端子群と、第2の出
力端子群と、前記メモリセルから読み出されたデータを
格納し、かつ前記第1の出力端子群に与えられる信号が
示すアドレスから前記データを出力するラッチ回路と、
第1のバースト制御信号に応答して、第1のアドレスカ
ウンタ回路及び第2のアドレスカウンタ回路のいずれか
を交互に選択する選択信号を出力するセレクト回路と、
前記第1のアドレスカウンタ回路及び前記第2のアドレ
スカウンタ回路の各アドレスカウンタ回路は、前記入力
端子群及び第2の出力端子群に接続され、第1のレベル
の第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前記選択信
号によって選択された場合、前記入力端子群に入力され
るアドレス信号をラッチし、ラッチしたアドレス信号を
前記第2の出力端子群に出力し、かつ自身が生成したア
ドレス信号を前記第2の出力端子群に出力し、第2のレ
ベルの前記第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前
記選択信号によって選択されている場合、前記入力端子
群に与えられているアドレス信号を前記第2の出力端子
群に出力する前記第1のアドレスカウンタ回路及び前記
第2のアドレスカウンタ回路と、前記第2の出力端子に
与えられる信号をデコードし、第1の出力端子へ出力す
るデコーダ回路とを有する。
【0008】
【発明の実施の形態】図2は本発明の1実施の形態のシ
ンクロナスROMの概略図である。
【0009】図3は1実施の形態のシンクロナスROM
を構成する各構成要素が出力する信号のタイミングチャ
ートである。
【0010】図2及び図3を参照して1実施の形態のシ
ンクロナスROMの概略的な動作を説明する。
【0011】本実施の形態のROMは、複数のビット線
に対して1つのセンスアンプを共有するタイプのもので
ある。本実施の形態のROMでは、そのようなセンスア
ンプを複数備えており、各センスアンプは、対応する複
数のビット線の内、カラムデコーダによって選択された
1つのビット線に接続されるものである。
【0012】また、本実施の形態のシンクロナスROM
は、第1のラッチ回路11が設けられており、メモリセ
ルアレイ4から、センスアンプ群8を介して、非同期的
に読み出された複数のデータを第1のラッチ回路11に
格納し、その後、アドレス生成制御回路から順次出力さ
れるバーストアドレス信号が示すアドレスから順次デー
タを出力するものである。
【0013】アドレスバッファ1は、コマンド制御回路
9からの信号ABEによって、予め外部アドレス信号A
DDに基づき内部アドレス信号ADD1を出力してい
る。
【0014】コマンド制御回路9は、RAS、CAS等
の外部からの信号によってリードコマンドreadを設定す
ると、信号CAS1を出力する。
【0015】カラムラッチ回路6は信号CAS1に応答
し、内部アドレスADD1をラッチし、カラムデコーダ
7にカラムアドレス信号YA及びアドレス生成制御回路
12にアドレス信号BA(バーストアドレス信号の最初
のアドレス信号)を出力する。
【0016】モードレジスタ5には、リードコマンドre
adが与えられてからデータが外部へ出力されるまでのク
ロック数であるCASレイテンシが設定されている。
【0017】タイミング制御回路10は信号CAL1が
与えられると、内部クロック信号CLK1に同期して、
CASレイテンシで設定されたクロック数をクロックバ
ッファ13が出力する期間内の一定期間に動作し、その
期間に信号SEを出力する。
【0018】センスアンプ群8は信号SEによって動作
状態となり、メモリセルアレイ4内に格納された一部の
データが非同期的に読み出され、第1のラッチ回路11
へ出力される。
【0019】タイミング制御回路10はCAS1を入力
してから、一定期間後にHレベルのバースト制御信号B
Sを出力する。
【0020】またモードレジスタ5は、第1のラッチ回
路から所望する数のデータを出力させるためにバースト
長が設定されている。
【0021】バースト制御回路14は、Hレベルのバー
スト制御信号BSに応答して、第1のラッチ回路11か
らバースト長の期間(第1のラッチ回路11から所望す
る数のデータを出力させるため、アドレス生成制御回路
12が、その所望する数のアドレス信号を出力する期間
に対応)、バースト制御信号BURSTを出力する。
【0022】第1のラッチ回路11は、バースト制御信
号BSが与えられると、センスアンプ群8から並列に与
えられているパラレルデータをラッチする。第1のラッ
チ回路11は、アドレス生成制御回路12から順次送ら
れてくるバーストアドレス信号ZAにより示されている
アドレスにラッチされているデータLDをシリアルに出
力する。
【0023】第2のラッチ回路は、シリアルデータLD
を内部クロックに同期して、順次、出力バッファに、デ
ータLD2として出力する。
【0024】出力バッファはバースト制御回路14が出
力する出力制御信号OEに基づいてデータLD2を外部
に出力する。
【0025】図1は本発明の第1の実施の形態のアドレ
ス生成制御回路12の回路図である。
【0026】図1を用いて本発明の第1の実施の形態の
アドレス生成制御回路12について説明をする。
【0027】アドレス生成制御回路12は、第1のアドレ
スカウンタ回路27と第2のアドレスカウンタ回路28
とカウンタセレクト回路22とデコーダ回路30とから
なる。
【0028】カウンタセレクト回路22は、バースト制
御信号BSが与えられる端子に接続される。カウンタセ
レクト回路22は第1のアドレスカウンタ回路27及び
第2のアドレスカウンタ回路28のいずれかを交互に選
択する(及び非選択にする)選択信号23、24を出力
する回路である。すなわちカウンタセレクト回路22
は、バーストアドレス信号BSがHレベルになる毎に、
選択信号23、24のレベルを交互に切替えて出力す
る。
【0029】アドレスカウンタ回路27、28は、カラ
ムラッチ回路6からのバーストアドレス信号BA(バー
ストアドレス信号の最初のアドレス信号)が与えられる
入力端子25と、カウンタセレクト回路22と出力端子
29に接続される。
【0030】アドレスカウンタ回路27、28は、Hレ
ベルの選択信号を入力し、かつHレベルのバースト制御
信号BURSTを入力することにより、入力端子25か
ら与えられているアドレス信号BAをラッチして出力端
子29に出力し、その後、Hレベルのバースト制御信号
BURSTが与えられている間、内部クロック信号に同
期して、 内部で生成したバーストアドレス信号を出力
する。またアドレスカウンタ回路27、28は、Lレベ
ルのバースト制御信号BURST及びHレベルの選択信
号を入力している間、 端子25からのバーストアドレ
ス信号BAを出力端子29へ出力している。よって、こ
の状態の時、入力端子25に与えられるアドレス信号B
Aが更新されれば、それに応じて、出力端子29に与え
られる信号も変化する。
【0031】アドレスカウンタ回路27、28は、Lレ
ベルの選択信号を入力している間、端子25からのバー
ストアドレス信号BAを出力の前段に設けられた後記の
トランジスタの入力に与える。しかしながら、このトラ
ンジスタは、Lレベルの選択信号に基づいて、オフして
おり、アドレスカウンタ回路27、28から出力端子2
9への出力は禁止されている。
【0032】図4は、第1及び第2のアドレスカウンタ
回路の内部回路を示す図である。
【0033】第1のアドレスカウンタ回路27は、カウ
ンタ回路271、NMOSトランジスタ(以下、NMO
Sと称する)272〜275、NAND回路276及び
NOR回路277から構成される。
【0034】NAND回路276は選択信号24及びバ
ースト制御信号BURSTを入力し、Hレベルの選択信
号24及びHレベルのバースト制御信号BURSTを入
力する場合、Lレベルの信号を出力し、NMOS27
2、273をオフさせ、入力端子25からカウンタ回路
271へのアドレス信号BAの入力を禁止する。 NA
ND回路276は、選択信号24及びバースト制御信号
BURSTのいずれか又は両方がLレベルの場合、Hレ
ベルの信号を出力し、NMOS272、273をオンさ
せ、入力端子25からカウンタ回路271へアドレス信
号BAを入力させるように制御する。
【0035】カウンタ回路271は、NMOS272、
273がオンしているとき、入力端子25に与えられる
アドレス信号BAを出力する。またカウンタ回路271
は、NMOS272、273がオフした場合 、入力端
子25から予め入力していたアドレス信号BAをラッチ
し、出力する。また、この直後、NAND回路の出力が
Lレベルであるので、NOR回路277を介して、内部
クロックCLK1がカウンタ回路271に与えられる。
カウンタ回路271は、内部クロックCLK1に同期し
て、内部で生成したバーストアドレス信号を出力する。
カウンタ回路271の出力は、NMOS274、275
がオンのとき出力端子29に与えられ、NMOS27
4、274がオフのとき出力端子29に与えられない。
NMOS274、275はHレベルの選択信号24を入
力するとき、オンし、Lレベルの選択信号24を入力す
るときオフする。
【0036】第2のアドレスカウンタ回路28は、カウ
ンタ回路281、NMOS282〜285、NAND回
路286及びNOR回路287から構成される。
【0037】NAND回路286は選択信号23及びバ
ースト制御信号BURSTを入力し、Hレベルの選択信
号23及びHレベルのバースト制御信号BURSTを入
力する場合、Lレベルの信号を出力し、NMOS28
2、283をオフさせ、入力端子25からカウンタ回路
281へのバーストアドレスアドレス信号BAの入力を
禁止する。 NAND回路286は、選択信号23及び
バースト制御信号BURSTのいずれか又は両方がLレ
ベルの場合、Hレベルの信号を出力し、NMOS28
2、283をオンさせ、入力端子25からカウンタ回路
281へアドレス信号BAを入力させるように制御す
る。
【0038】カウンタ回路281は、NMOS282、
283がオンしているとき、入力端子25に与えられる
アドレス信号BAを出力する。またカウンタ回路281
は、NMOS282、283がオフの場合 、入力端子
25から予め入力していたバーストアドレス信号BA
(以下アドレス信号BAと称する)をラッチし、出力す
る。また、この直後、NAND回路286の出力がLレ
ベルであるので、NOR回路287を介して内部クロッ
クCLK1がカウンタ回路281にあたえられる。カウ
ンタ回路は、内部クロックCLK1に同期して、内部で
生成したバーストアドレス信号を出力する。カウンタ回
路281の出力は、NMOS284、285がオンのと
き出力端子29に与えられ、 NMOS284、284
がオフのとき出力端子29に与えられない。NMOS2
84、285はHレベルの選択信号23を入力するとき
オンし、Lレベルの選択信号23を入力するときオフす
る。
【0039】デコーダ回路30は出力端子30に接続さ
れ、出力端子30に与えられる信号をデコードし、デコ
ードした信号を出力端子31へ与える。
【0040】出力端子31は第1のラッチ回路11に接
続され、出力端子31に与えられる信号が第1のラッチ
回路11にあたえられる。
【0041】図5を用いて、第1の実施の形態のアドレ
ス生成制御回路の動作を説明する。
【0042】<第1の期間>この期間、選択信号24が
Hレベルであるので、第1のアドレスカウンタ回路27
が端子25に与えられているアドレス値(B0、B1)
=(1、0)であるアドレス信号BAを出力端子29へ
出力している。デコーダ回路30はこの信号をデコード
し、デコードしたアドレス信号を出力端子31へ出力す
る。
【0043】一方、第2のアドレスカウンタは、NMO
S284、285の入力にアドレス信号BAが与えられ
ているが、NMOS284、285により、出力が禁止
されている。
【0044】<第2の期間>Hレベルの選択信号23が
入力されるまでの間は、第1の期間と同様、第1のアド
レスカウンタ回路27がアドレス信号BAを出力端子2
9へ出力している。デコーダ回路30はこの信号をデコ
ードし、デコードした信号を出力端子31へ出力する。
【0045】次に、Hレベルのバースト制御信号BSを
カウンタセレクト回路22が入力すると、選択信号23
をHレベルとし、選択信号24をLレベルとする。
【0046】第2のアドレスカウンタ回路28はHレベ
ルのバースト制御信号BURSTを入力し、Hレベルの
選択信号23により選択状態となることで、バーストア
ドレス信号BAをラッチし出力する。デコーダ回路30
はこの信号をデコードし、デコード信号を出力端子31
へ出力する。
【0047】次に、第2のアドレスカウンタカウンタ回
路28は、 内部クロック信号に同期して、アドレス値
が(0、1)、(1,1)、(0,0)であるバースト
アドレス信号を順次、出力端子29に出力する。デコー
ダ回路30はこれら信号をデコードし、デコードした信
号を出力端子31へ出力する。
【0048】第1のアドレスカウンタ回路27は、アド
レス制御信号24がLレベルで、非選択状態であるの
で、内部のNMOS274、275の入力に、入力端子
25に与えられる(1、0)のバーストアドレス信号B
Aが与えられているが、 NMOS274、275がオ
フしていることにより、出力端子29への出力は禁止さ
れている。
【0049】<第3の期間>次に第2のアドレスカウン
タ回路28は、Lレベルのバースト制御信号BURST
を入力することにより、入力端子25に与えられるアド
レス値(1、0)のバーストアドレス信号BAを出力端
子29へ出力する。デコーダ回路30はこの信号をデコ
ードし、デコードした信号を出力端子31へ出力する。
【0050】一方、第1のアドレスカウンタ回路27
は、この期間、Lレベルのアドレス制御信号を入力して
おり、非選択状態であるので、内部のNMOS274、
275の入力に、入力端子25に与えられていた(0、
1)のアドレス信号BAが与えられるが、 NMOS2
74、275がオフであることにより出力端子29への
出力が禁止されている。
【0051】この後、入力端子25に与えられるバース
トアドレス信号BAがアドレス値(0、1)に変化する
ことにより、第2のアドレスカウンタ28は、(0、
1)のアドレス信号BAを出力端子29へ出力する。デ
コーダ回路30はこの信号をデコードし、デコードした
信号を出力端子31へ出力する。
【0052】また第1のアドレスカウンタ回路27は、
入力端子25に与えられるバーストアドレス信号BAが
アドレス値(0、1)へ切替わることに応答して、 N
MOS274、275の入力へは、(0、1)のバース
トアドレス信号BAが入力される。しかしNMOS27
4、275がオフであることにより出力端子29への出
力は禁止されている。
【0053】<第4の期間>Hレベルの選択信号信号2
4が入力されるまでの間は、第3の期間と同様、第2の
アドレスカウンタ回路28が(0、1)のバーストアド
レス信号BAを出力端子29へ出力している。 デコー
ダ回路30はこの信号をデコードし、デコード信号を出
力端子31へ出力する。
【0054】次に、Hレベルのバースト制御信号BSを
カウンタセレクト回路22が入力すると、選択信号24
をHレベルとし、選択信号23をLレベルとする。
【0055】第1のアドレスカウンタ回路27に、Hレ
ベルのバースト制御信号BURSTとHレベルの選択信
号24が入力することにより、第1のアドレスカウンタ
回路27は(0、1)のバーストアドレス信号BAをラ
ッチし出力端子29へ出力する。 デコーダ回路30は
この信号をデコードし、デコードした信号を出力端子3
1へ出力する。
【0056】次に、第1のアドレスカウンタカウンタ回
路27は、 内部クロック信号に同期して、内部で生成
した(1、1)、(0,0)、(1,0)のバーストア
ドレス信号を順次、出力端子29に出力する。
【0057】第2のアドレスカウンタ回路28は、選択
信号23がLレベルで、非選択状態であるので、内部の
NMOS284、285の入力に、入力端子25に与え
られる(0、1)のアドレス信号BAが与えられている
が、NMOS284、285がオフしていることによ
り、出力端子29への出力は禁止されている。
【0058】以上のように、本実施の形態では、カウン
タセレクタ回路により、第1及び第2のアドレスカウン
タのいずれかを交互に選択する選択信号を第1及び第2
のアドレスカウンタ回路に出力し、アドレスカウンタ回
路が、 Hレベルのバースト制御信号BURSTを入力
し、 Hレベルの選択信号を入力することにより入力端
子25に与えられているバーストアドレス信号BAをラ
ッチし、出力する。また、アドレスカウンタ回路が、H
レベルの選択信号を入力し、かつLレベルのバースト制
御信号BURSTを入力している間、入力端子に与えら
れているバーストアドレス信号BAを出力する。
【0059】よって、出力端子29には、バースト制御
信号BSが入力される以前から、バーストアドレス信号
の最初のアドレス信号であるアドレス信号BAが出力端
子29に出力されていて、デコーダ回路30を介して、
第1のラッチ回路にバーストアドレス信号BAに基づく
アドレス信号が出力されているので、第1のラッチ回路
の後段にある第2のラッチ回路で、誤データをラッチし
てしまい、正しいデータを外部に出力できないという問
題がなくなる。
【0060】図6は第2の実施の形態のアドレス生成制
御回路の回路図である。
【0061】第2の実施の形態のアドレス生成制御回路
は、第1の実施の形態のアドレス生成制御回路の変形例
である。
【0062】第1の実施の形態と同一または相当する構
成要素には同一符号が付与される。
【0063】カウンタセレクト回路22は、バースト制
御信号BSが与えられる端子に接続される。カウンタセ
レクト回路22は第1のアドレスカウンタ回路27及び
第2のアドレスカウンタ回路28のいずれかを交互に選
択する(及び非選択にする)選択信号23、24を出力
する回路である。すなわちカウンタセレクト回路22
は、バーストアドレス信号BSがHレベルになる毎に、
選択信号23、24のレベルを交互に切替えて出力す
る。
【0064】アドレスカウンタ回路27、28は、それ
ぞれ、カラムラッチ回路6からのアドレス信号BA(バ
ーストアドレス信号の最初のアドレス信号のことであ
る)が与えられる入力端子25と、カウンタセレクト回
路22と、対応する第1及び第2のデコーダ回路30
A、30Bに接続される。
【0065】アドレスカウンタ回路27、28は、Hレ
ベルの選択信号を入力し、かつHレベルのバースト制御
信号BURSTを入力することにより、入力端子25か
ら与えられるアドレス信号BAをラッチして対応する第
1及び第2のデコーダ回路に出力する。その後、アドレ
スカウンタ回路27、28は、内部クロック信号に同期
して、 Hレベルのバースト制御信号BURSTが与え
られている間、内部で生成したバーストアドレス信号を
対応するデコーダ回路へ出力する。またアドレスカウン
タ回路27、28は、Lレベルのバースト制御信号BU
RSTまたはLレベルの選択信号を入力している間、
端子25からのアドレス信号BAを対応するデコーダ回
路へ出力している。よって、この状態の時、入力端子2
5に与えられるアドレス信号BAのアドレス値が変更さ
れれば、それに応じて、対応するデコーダ回路に与えら
れる信号も変化する。
【0066】すなわち、第2の実施の形態の第1及び第
2のアドレスカウンタ回路は、第1の実施の形態の第1
及び第2のアドレスカウンタ回路に於けるNMOS27
4、275、284、285を備えていない回路であ
り、各アドレスカウンタ回路のカウンタ回路の出力をそ
のまま、対応するデコーダ回路へ出力するものである。
【0067】第1のデコーダ回路30A及び第2のデコ
ーダ回路30Bは、それぞれ第1のアドレスカウンタ回
路27及び第2のアドレスカウンタ回路18からの出力
をデコードする。第1のデコーダ回路30A及び第2の
デコーダ回路30Bは、デコードした信号を、それぞれ
Hレベルの選択信号24、23に応答して、出力端子3
1へ出力し、Lレベルの選択信号24、23を入力して
いる場合、デコードした信号を出力端子31に与えな
い。
【0068】よって、第2の実施の形態の於いて出力端
子31に与えられる信号は、第1の実施の形態に於いて
出力端子31に与えられる信号と同様のものである。
【0069】しかし、第2の実施の形態では、アドレス
カウンタ回路の出力を予め、デコーダ回路によりデコー
ドし、デコーダ回路の出力を選択信号により制御してい
るので、出力端子31及び第1のラッチ回路へ与えられ
る信号のスピードは、第1の実施の形態の出力端子31
及び第1のラッチ回路に与えられる信号のスピードに比
べて、早い。
【0070】図7は本発明の第3の実施の形態のアドレ
ス生成制御回路の回路図である。
【0071】第3の実施の形態のアドレス生成回路に於
いて、第1の実施の形態のアドレス生成回路の各構成要
素と同一又は相当構成要素には同一符号が付与される。
【0072】第3の実施の形態のアドレス生成制御回路
は、入力端子25にアドレスデコーダ回路30が接続さ
れており、入力端子25にあたえられるアドレス信号B
Aを予め、デコードしたアドレス信号が第1のシフトレ
ジスタ回路33及び第2のシフトレジスタ回路32に与
えられる。
【0073】シフトレジスタ回路32、33は、それぞ
れデコーダ回路30とカウンタセレクト回路22と出力
端子31に接続される。
【0074】シフトレジスタ回路32、33は、それぞ
れ対応するHレベルの選択信号及びHレベルのバースト
制御信号BURSTを入力することにより、入力してい
るデコーダ回路30からの信号をラッチし、出力端子3
1へ出力し、その後、内部クロック信号に同期して、バ
ースト制御信号BURSTがHレベルの間、内部で生成
したバーストアドレス信号を出力端子31へする。
【0075】シフトレジスタ回路32、33は、Hレベ
ルの選択信号を入力し、Lレベルのバーストアドレス信
号BURSTを入力している間、デコーダ回路30から
の出力信号を出力端子31へ出力する。またシフトレジ
スタ回路32、33は、Lレベルの選択信号を入力して
いる間、デコーダ回路からの出力信号を出力端子31へ
出力しない。
【0076】図8は、第1及び第2のシフトレジスタ回
路の内部回路を示す図である。
【0077】第1のシフトレジスタ回路33は、シフト
レジスタ371、転送回路372、373 、NAND
回路376及びNOR回路377から構成される。
【0078】ここで端子50にはデコーダ回路30の出
力信号が与えられている。
【0079】NAND回路376は選択信号24及びバ
ースト制御信号BURSTを入力し、Hレベルの選択信
号24及びHレベルのバースト制御信号BURSTを入
力する場合、Lレベルの信号を出力し、転送回路372
を非導通状態にさせ、デコーダ回路30の出力に接続さ
れた出力端子50からシフトレジスタ371への出力信
号(アドレス信号BAをデコードした信号)の入力を禁
止する。
【0080】NAND回路376は、選択信号24及び
バースト制御信号BURSTのいずれか又は両方がLレ
ベルの場合、Hレベルの信号を出力し、転送回路372
を導通状態にさせ、出力端子50からシフトレジスタ3
71へ出力信号を入力させるように制御する。
【0081】シフトレジスタ371は、転送回路372
が導通状態のとき 、出力端子50に与えられる出力信
号を出力する。またシフトレジスタ371は、 転送回
路372が非導通状態のとき、出力端子50から予め入
力していた出力信号をラッチし、出力する。この後、N
AND回路376の出力がLレベルであるので、NOR
回路377を介して、内部クロックCLK1がシフトレ
ジスタ371にあたえられる。シフトレジスタ371
は、内部クロックCLK1に同期して、内部で生成した
バーストアドレス信号を出力する。
【0082】シフトレジスタ371の出力は、転送回路
373が導通状態のとき出力端子31に与えられ、非導
通状態のとき出力端子31に与えられない。転送回路3
73は、選択信号24がHレベルのとき、導通状態とな
り、Lレベルの時、非導通状態となる。
【0083】第2のシフトレジスタ回路32は、シフト
レジスタ381、転送回路382、383 、NAND
回路386及びNOR回路387から構成される。
【0084】NAND回路386は選択信号23及びバ
ースト制御信号BURSTを入力し、Hレベルの選択信
号23及びHレベルのバースト制御信号BURSTを入
力する場合、Lレベルの信号を出力し、転送回路382
を非導通状態にさせ、デコーダ回路30の出力端子50
からシフトレジスタ371への出力信号(アドレス信号
BAをデコードした信号)の入力を禁止する。NAND
回路386は、選択信号23及びバースト制御信号BU
RSTのいずれか又は両方がLレベルの場合、Hレベル
の信号を出力し、転送回路382を導通状態にさせ、出
力端子50からシフトレジスタ381へ出力信号を入力
させるように制御する。
【0085】シフトレジスタ381は、 転送回路37
2が導通状態のとき、出力端子50に与えられる出力信
号を出力する。またシフトレジスタ381は、 転送回
路372が非導通状態のとき、出力端子50から予め入
力していた出力信号をラッチし、出力する。この後、N
AND回路386の出力がLレベルであるので、NOR
回路387を介して、内部クロックCLK1がシフトレ
ジスタ381にあたえられる。シフトレジスタ381
は、内部クロックCLK1に同期して、内部で生成した
バーストアドレス信号を出力する。シフトレジスタ38
1の出力は、転送回路383が導通状態のとき出力端子
31に与えられ、非導通状態のとき出力端子31に与え
られない。転送回路383は、選択信号23がHレベル
のとき、導通状態となり、Lレベルの時、非導通状態と
なる。
【0086】次に動作について図9を参照して説明す
る。
【0087】<第1の期間>この期間、デコーダ回路3
0は、入力端子25から(1、0)のアドレス信号BA
をデコードしたアドレス値が(0100)の信号Dを出
力する。この期間は、シフトレジスタ回路33が、選択
されているので、第1のシフトレジスタ回路33がこの
信号を出力端子31に出力する。
【0088】<第2の期間>選択信号24がHレベルの
間は、第1の期間と同様である。
【0089】バースト制御信号と選択信号23がHレベ
ルになると、第2のシフトレジスタ32が選択され、ア
ドレス値が(0100)の信号Dをラッチし、出力す
る。さらに、シフトレジスタ32は内部クロックに同期
して、バースト制御信号BURSTがHレベルの間、ア
ドレス値がそれぞれ(0010)、(0001)、(1
000)のバーストアドレス信号を出力する。
【0090】<第3の期間>この期間、シフトレジスタ
回路32が、デコーダ回路30からの信号を出力する。
よって、この期間、アドレス信号BAが(1、0)から
(0、1)に変化することに応じて、出力端子31へ与
えられる信号Dのアドレス値は(0100)から(00
10)に変化する。
【0091】<第4期間>選択信号23がHレベルの間
は、第2のシフトレジスタ回路32がアドレス値が(0
010)の信号Dを出力端子31に出力する。
【0092】選択信号24がHレベルになると、第1の
シフトレジスタ33が選択され、アドレス値が(001
0)の信号Dをラッチし、出力する。さらに、シフトレ
ジスタ33は内部クロックに同期して、バースト制御信
号BURSTがHレベルの間、アドレス値がそれぞれ
(0001)、(1000)、(0100)のバースト
アドレス信号を出力する。
【0093】第3の実施の形態のアドレス生成制御回路
では、予め、入力端子25に与えられるバーストアドレ
ス信号BAをデコーダ回路30よりデコードし、デコー
ドした信号に基づき、バースト制御信号BURSTや選
択信号やクロック信号に応答して、出力端端子30へバ
ーストアドレス信号を出力している。
【0094】よって、バースト制御信号BURSTや選
択信号やクロック信号に応答して、アドレスカウンタに
より出力したバーストアドレス信号をさらにデコードす
る第1の実施の形態のアドレス生成制御回路に比較し
て、第2の実施の形態のアドレス生成制御回路は、信号
が、早くラッチ回路11に与えられる。
【0095】第1から第3の実施の形態のカウンタセレ
クト回路はバースト制御信号BS及びバースト制御信号
BURSTの2つの信号を入力しているが、カウンタセ
レクト回路にバースト制御信号BSに変えて、バースト
制御信号BURSTを与え、Hレベルのバースト制御信
号BURSTを入力する毎に選択信号23、34の出力
を交互に変えるようにしてもよい。
【0096】
【発明の効果】本発明の同期式バースト不揮発性半導体
記憶装置は、クロック信号からの遅延があるバースト制
御信号の入力以前から、アドレス信号をラッチ回路へ出
力している。
【0097】よって、このラッチ回路の後段にあり、ク
ロック信号に同期してデータをラッチするラッチ回路に
於いて、正しいデータをラッチすることが可能となり、
誤データの出力を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のアドレス生成制御
回路の回路図
【図2】本発明の1実施の形態のシンクロナスROMの
回路図
【図3】図2のシンクロナスROMのタイミングチャー
【図4】図1のアドレスカウンタ回路の回路図
【図5】図1のアドレス制御回路のタイミングチャート
【図6】本発明の第2の実施の形態のアドレス生成制御
回路の回路図
【図7】本発明の第3の実施の形態のアドレス生成制御
回路の回路図
【図8】図7のシフトレジスタ回路の回路図
【図9】図7のアドレス背性制御回路のタイミングチャ
ート
【符号の説明】
22 カウンタ回路 27、28 アドレスカウンタ回路 30 デコーダ回路 32、33 シフトレジスタ回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年10月15日(1999.10.
15)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データを格納するメモリセルと、 アドレス信号が与えられる入力端子群と、 第1の出力端子群と、 第2の出力端子群と、 前記メモリセルから読み出されたデータを格納し、かつ
    前記第1の出力端子群に与えられる信号が示すアドレス
    から前記データを出力するラッチ回路と、 第1のバースト制御信号に応答して、第1のアドレスカ
    ウンタ回路及び第2のアドレスカウンタ回路のいずれか
    を交互に選択する選択信号を出力するセレクト回路と、 前記第1のアドレスカウンタ回路及び前記第2のアドレ
    スカウンタ回路の各アドレスカウンタ回路は、前記入力
    端子群及び第2の出力端子群に接続され、第1のレベル
    の第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前記選択信
    号によって選択された場合、前記入力端子群に入力され
    るアドレス信号をラッチし、ラッチしたアドレス信号を
    前記第2の出力端子群に出力し、かつ自身が生成したア
    ドレス信号を前記第2の出力端子群に出力し、第2のレ
    ベルの前記第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前
    記選択信号によって選択されている場合、前記入力端子
    群に与えられているアドレス信号を前記第2の出力端子
    群に出力する前記第1のアドレスカウンタ回路及び前記
    第2のアドレスカウンタ回路と、 前記第2の出力端子に与えられる信号をデコードし、第
    1の出力端子へ出力するデコーダ回路とを有することを
    特徴とする同期式バースト不揮発性半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 データを格納するメモリセルと、 アドレス信号が与えられる入力端子群と、 出力端子群と、 前記メモリセルから読み出されたデータを格納し、かつ
    前記出力端子群に与えられる信号が示すアドレスから前
    記データを出力するラッチ回路と、 第1のバースト制御信号に応答して、第1のアドレスカ
    ウンタ回路及び第1のデコーダ回路からなる第1のアド
    レス生成回路と、第2のアドレスカウンタ回路及び第2
    のデコーダ回路からなる第2のアドレス生成回路とのい
    ずれかを交互に選択する選択信号を出力するセレクト回
    路と、 前記第1のアドレス生成回路及び前記第2のアドレス生
    成回路の各アドレス生成回路は、前記入力端子群及び前
    記出力端子群に接続され、第1のレベルの第2のバース
    ト制御信号が与えられ、かつ前記選択信号によって選択
    された場合、前記入力端子群に入力されるアドレス信号
    をラッチし、ラッチしたアドレス信号をデコードして前
    記出力端子群に出力し、かつ自身が生成したアドレス信
    号をデコードして前記出力端子群に出力し、第2のレベ
    ルの前記第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前記
    選択信号によって選択されている場合、前記入力端子群
    に与えられているアドレス信号をデコードして前記出力
    端子群に出力する前記第1のアドレス生成回路及び前記
    第2のアドレス生成回路とを有することを特徴とする同
    期式バースト不揮発性半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 データを格納するメモリセルと、 アドレス信号が与えられる入力端子群と、 前記メモリセルから読み出されたデータを格納し、かつ
    前記出力端子群に与えられる信号が示すアドレスから前
    記データを出力するラッチ回路と、 前記入力端子群に与えられたアドレス信号をデコードす
    るデコーダ回路と、 第1のバースト制御信号に応答して、第1のシフトレジ
    スタ回路及び第2のシフトレジスタ回路のいずれかを交
    互に選択する選択信号を出力するセレクト回路と、 前記第1のシフトレジスタ回路及び前記第2のシフトレ
    ジスタ回路の各シフトレジスタ回路は、前記デコーダ回
    路の出力及び前記出力端子群に接続され、第1のレベル
    の第2のバースト制御信号が与えられ、かつ前記選択信
    号によって選択された場合、前記デコーダ回路の出力信
    号をラッチし、ラッチした前記出力信号を前記出力端子
    群に出力し、かつ自身が生成したアドレス信号を前記出
    力端子群に出力し、第2のレベルの前記第2のバースト
    制御信号が与えられ、かつ前記選択信号によって選択さ
    れている場合、前記デコーダ回路が出力している出力信
    号を前記出力端子群に出力する前記第1のシフトレジス
    タ回路及び前記第2のシフトレジスタ回路とを有するこ
    とを特徴とする半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 前記第1のバースト制御信号は前記第2
    のバースト制御信号であることを特徴とする請求項1乃
    至3いずれか記載の同期式バースト不揮発性半導体記憶
    装置。
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