JP4113338B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、クロック信号に同期して動作する半導体集積回路に関し、特に、入力信号の受信回路を有する半導体集積回路に関する。また、本発明は、メモリアレイを有する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
携帯電話等の携帯機器が扱うデータ量は、年々増加している。これに伴い、携帯機器に搭載する大容量かつ高速の半導体メモリが必要になってきている。SDRAM(Synchronous DRAM)等のクロック同期式のDRAMは、大容量かつ高速であるため、この種の携帯機器に搭載される半導体メモリとして有望である。
【0003】
一方、携帯機器は、バッテリーを使用して動作する。このため、携帯電機器に搭載される電子部品は、低消費電力であることが必要である。特に、携帯電話は、屋外で長時間使用されることが多いため、スタンバイ時の消費電力が低いことが重要である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
SDRAMのスタンバイ電流は、クロック信号を受ける回路で発生するクロック信号の発振に伴う充放電電流が支配的である考えられている。このため、SDRAMのスタンバイ電流は、供給されるクロック信号の周波数に比例して増加する。したがって、SDRAM等のクロック同期式の半導体集積回路は、大容量かつ高速であるにもかかわらず、動作周波数の高い等携帯機器への搭載が敬遠される傾向にある。
【0005】
本発明の目的は、クロック同期式の半導体集積回路のスタンバイ電流を低減することにある。
特に、本発明の目的は、クロック信号の周波数が増加したときに、スタンバイ電流の増加を最小限にする回路技術を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の半導体集積回路では、制御回路は、複数の制御信号をクロック信号に同期して受信し、これ等制御信号が行アドレス信号および列アドレス信号の供給を示すときに、共通のタイミング信号を生成する。共通の遅延回路は、クロック信号に非同期で受信した入力信号を所定時間遅延させる。受信回路は、遅延回路により遅延された入力信号を、クロック信号でなく共通のタイミング信号に同期して受信する。すなわち、受信回路は、クロック信号に非同期で動作し、半導体集積回路に必要な入力信号のみを受信する。
【0007】
受信回路は、制御信号がタイミング信号を生成する組み合わせでない場合動作しない。受信回路の動作頻度が下がるため、受信回路の消費電力を低減できる。クロック信号に同期して動作する回路を少なくできるため、特に、内部回路を動作させないスタンバイモード時の消費電流(スタンバイ電流)を削減できる。クロック信号に同期して動作する回路が少ないため、クロック信号の周波数が高くなっても、スタンバイ電流の増加は緩やかである。
【0008】
本発明の半導体集積回路では、入力バッファは、クロック信号に非同期で入力信号を受け、受けた信号を遅延回路に出力する。このため、入力信号は、クロック信号に非同期で受信回路まで伝達される。クロック信号に同期して動作する回路を少なくできるため、スタンバイ電流を低減できる。
本発明の半導体集積回路では、受信回路は、アドレス信号を受信する。アドレス信号は、半導体集積回路内の複数の領域を識別するために、通常複数のビットで構成される。受信回路は、アドレス信号の各ビットに対応してそれぞれ必要である。したがって、受信回路がアドレス信号を受信する場合、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
【0009】
本発明の半導体集積回路では、受信回路は、データ信号を受信する。データ信号は、データ転送レートを上げるために、通常複数のビットで構成される。受信回路は、データ信号の各ビットに対応してそれぞれ必要である。したがって、受信回路がデータ信号を受信する場合、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
本発明の半導体集積回路では、制御回路は、複数のコマンド信号をクロック信号に同期して受信し、これ等コマンド信号の組み合わせに応じてメモリアレイの動作を指示するタイミング信号を生成する。受信回路は、メモリアレイ内のメモリセルを選択するアドレス信号を、タイミング信号に同期して受信する。そして、メモリアレイ内の複数のメモリセルのうち、アドレス信号に対応する所定のメモリセルが選択され、読み出し動作等が実行される。
【0010】
一般に、アドレス信号は、メモリアレイ内の複数のメモリセルのうちいずれかを選択するために多数のビットで構成されている。受信回路は、アドレス信号の各ビットに対応してそれぞれ必要である。したがって、本発明をメモリアレイを有する半導体集積回路に適用することで、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
本発明の半導体集積回路では、遅延回路の遅延時間は、制御回路がコマンド信号を受信してからタイミング信号を出力するまでの時間に合わせて設定される。一般に、クロック同期式の半導体集積回路(半導体メモリ)では、コマンド信号とアドレス信号は、クロック信号の同じエッジに同期して取り込まれる。すなわち、コマンド信号およびアドレス信号は、クロック信号のエッジに対して同じセットアップ時間とホールド時間を満足するように供給される。アドレス信号が上記遅延時間を有する遅延回路を介して受信回路に伝達されるため、クロック信号に同期してコマンド信号とともに供給されたアドレス信号を受信回路で確実に受信できる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を用いて説明する。
図1は、本発明の半導体集積回路の一実施形態を示している。この半導体集積回路は、シリコン基板上にCMOSプロセスを使用してクロック同期式のSDRAMとして形成されている。
【0012】
SDRAMは、複数の入力バッファ10a、10b、10c、コマンドラッチ/デコーダ12、遅延回路14、アドレスラッチ16、制御回路18およびメモリアレイ20を有している。太枠で示したコマンドラッチ/デコーダ12は、クロック信号CLKに同期して動作する回路である。太線で示した信号線は、複数の信号で構成されている。なお、この実施形態では、データの入出力に関する回路は示していない。
【0013】
入力バッファ10aは、外部からクロック信号CLKを受け、受けた信号を内部クロック信号ICLKとして出力する。入力バッファ10bは、外部からコマンド信号CMDを受け、受けた信号を内部コマンド信号ICMDとして出力する。入力バッファ10cは、外部からアドレス信号AD(入力信号)を受け、受けた信号を内部アドレス信号IADとして出力する。入力バッファ10a、10b、10cは、いずれもクロック信号CLK(ICLK)に非同期で動作する。
【0014】
コマンドラッチ/デコーダ12は、内部クロック信号ICLKに同期して内部コマンド信号ICMDを取り込み、取り込んだ信号をデコードする。コマンド信号CMDおよび内部コマンド信号ICMDは、SDRAMの内部回路を動作させるための制御信号である。コマンドラッチ/デコーダ12は、デコード結果に応じて複数のタイミング信号TIM1およびアドレスラッチ信号AL(タイミング信号)を出力する。すなわち、コマンド信号CMDの組み合わせに応じてタイミング信号TIM1およびアドレスラッチ信号ALが生成される。
【0015】
例えば、コマンド信号CMDが読み出し動作を指示する読み出しコマンドであるとき、コマンドラッチ/デコーダ12は、メモリアレイ20を活性化するためのタイミング信号TIM1を制御回路18に出力し、アドレス信号ADを取り込むためのアドレスラッチ信号ALをアドレスラッチ16に出力する。アドレスラッチ信号ALは、アドレスラッチ16を動作するために内部クロック信号ICLKに同期して出力されるタイミング信号である。
【0016】
遅延回路14は、バッファ10cから伝達される内部アドレス信号IADを所定時間遅らせ、内部アドレス信号IAD2として出力する。遅延回路14の遅延時間は、後述するように、アドレス信号ADの入力から内部アドレス信号IAD2の出力までの時間が、クロック信号CLKの立ち上がりエッジからアドレスラッチ信号ALの立ち上がりエッジまでの時間に等しくなるように設定されている。すなわち、遅延時間は、コマンドラッチ/デコーダ12の動作タイミングに合わせて設定されている。
【0017】
アドレスラッチ16は、アドレスラッチ信号ALに同期して内部アドレス信号IAD2を取込み、取り込んだ信号をラッチアドレス信号LADとして出力する。すなわち、アドレスラッチ16は、アドレス信号ADの受信回路として動作する。このように、外部から供給されるアドレス信号ADは、クロック信号CLKに非同期でアドレスラッチ16まで伝達される。また、この実施形態では、アドレス信号AD、内部アドレス信号IAD、IAD2をクロック信号CLKで直接取り込む回路は存在しない。
【0018】
制御回路18は、タイミング信号TIM1およびラッチアドレス信号LADに応じて、メモリアレイ20を動作させる複数のタイミング信号TIM2、アドレスデコード信号DEC等を生成する。メモリアレイ20は、図示しない複数のメモリセル、デコーダ、センスアンプ等を有している。メモリアレイ20は、タイミング信号TIM2に同期して活性化され、読み出し動作、書き込み動作、リフレッシュ動作、またはビット線のプリチャージ動作を実行する。データを書き込むメモリセル、動作させるセンスアンプ等は、アドレスデコード信号DECに応じて選択される。
【0019】
図2は、アドレスラッチ16の詳細を示している。アドレスラッチ16は、信号ラッチ部22および信号出力部24を有している。
信号ラッチ部22は、入力と出力とを互いに接続したCMOSインバータ28、30、CMOSインバータ28、30の出力ノードND1、ND2を、それぞれ電源線VIIに接続するpMOSトランジスタ28a、30a(以下、単にpMOSと称する)、CMOSインバータ28、30のnMOSトランジスタのソースを接地線VSSに接続するnMOSトランジスタ28b、28c、30b、30c、32(以下、単にnMOSと称する)、およびインバータ34で構成されている。
【0020】
pMOS28a、30aのゲートおよびnMOS32のゲートには、アドレスラッチ信号ALが供給されている。nMOS28bのゲートには、内部アドレス信号IAD2が供給され、nMOS30bのゲートには、インバータ34を介して内部アドレス信号IAD2の反転信号が供給されている。nMOS28c、30cのゲートには、ノードND1、ND2の反転ノード/ND1、/ND2がそれぞれ接続されている。
【0021】
信号出力部24は、pMOSおよびnMOSからなる2つの出力回路24a、24b、ラッチ24c、およびインバータ24dを有している。ラッチ24cは、2つのインバータの入力と出力とを互いに接続して構成され、両インバータの入力でそれぞれ出力回路24a、24bの出力を受けている。インバータ24dは、出力回路24bの出力レベルを反転し、反転した信号をラッチアドレス信号LADとして出力する。
【0022】
上述したアドレスラッチ16では、アドレスラッチ信号ALが低レベルのとき、信号ラッチ部22のpMOS28a、30aがオンし、ノードND1、ND2は高レベルになる。ノードND1、ND2が高レベルのとき、信号出力部24の出力回路24a、24bは、ともにオフする。このため、信号出力部24は、ラッチ24cに保持されているアドレス信号をラッチアドレス信号LADとして出力する。
【0023】
アドレスラッチ信号ALが高レベルに変化すると、信号ラッチ部22のnMOS32がオンし、CMOSインバータ28、30が活性化される。nMOS28b、30bのいずれかが、内部アドレス信号IAD2のレベルに応じてオンし、ノードND1、ND2を互いに逆のレベルに変化させる。ノードND1、ND2のレベルは、nMOS28c、30cにフィードバックされ、信号ラッチ部22の状態が固定される。ノードND1、ND2のレベルが決まると、それ以降は、内部アドレス信号IAD2が変化しても信号ラッチ部22の状態は変わらない。すなわち、アドレスラッチ信号ALの立ち上がりエッジに同期してアドレス信号ADがラッチされる。
【0024】
アドレスラッチ信号ALが再び低レベルに変化すると、pMOS28a、30aがオンし、ノードND1、ND2は高レベルになる。したがって、アドレスラッチ16は、アドレスラッチ信号ALのレベルが変化したときに、電流を消費する。アドレスラッチ16は、CMOS回路で構成されているため、アドレスラッチ信号ALのレベルが変わらないとき、電流をほとんど消費しない。
【0025】
図3は、上述したSDRAMにおけるアドレス信号ADの受信動作を示している。この例では、読み出し動作を実行するため、SDRAMにアクティブコマンドACTおよび読み出しコマンドRDが順次供給される。コマンド信号CMDおよびアドレス信号ADは、クロック信号CLKの立ち上がりエッジに対して所定のセットアップ時間tS、ホールド時間tHを満足して供給される。
【0026】
まず、コマンド信号CMD(ACT)およびアドレス信号AD(行アドレス信号)が供給される(図3(a))。図1に示したコマンドラッチ/デコーダ12は、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期してコマンド信号CMDをラッチし、ラッチした信号をデコードする。そして、コマンドラッチ/デコーダ12は、コマンド信号CMDがアクティブコマンドACTであることを認識し、アドレスラッチ信号ALを活性化する(図3(b))。
【0027】
図1に示した遅延回路14は、入力バッファ10cからの内部アドレス信号IADを遅延させて内部アドレス信号IAD2として出力する(図3(c))。ここで、アドレス信号ADの変化から内部アドレス信号IAD2の変化までの時間T1は、クロック信号CLKの立ち上がりエッジからアドレスラッチ信号ALの活性化までの時間と同じである。
【0028】
アドレスラッチ16は、アドレスラッチ信号ALの立ち上がりエッジに同期して内部アドレス信号IAD2をラッチし、ラッチアドレス信号LADとして出力する(図3(d))。この後、ラッチアドレス信号LAD(行アドレス信号)に応じてワード線およびセンスアンプが活性化され、メモリアレイ20が動作する。
次に、3番目のクロック信号CLKの立ち上がりエッジに合わせてコマンド信号CMD(RD)およびアドレス信号AD(列アドレス信号)が供給される(図3(e))。アドレスラッチ16は、上述と同様にアドレスラッチ信号ALに同期して内部アドレス信号IAD2をラッチし、ラッチした信号をラッチアドレス信号LADとして出力する(図3(f))。この後、ラッチアドレス信号LAD(列アドレス信号)に応じてメモリアレイ20内のコラムスイッチが選択され、読み出しデータが出力される。
【0029】
このように、アドレスラッチ16は、クロック信号CLK(ICLK)に同期してアドレス信号AD(IAD2)を取り込むのではなく、アドレスラッチ信号ALに同期してアドレス信号AD(IAD2)を取り込む。アドレスラッチ16の動作頻度が低いため、消費電力を低くできる。アドレスラッチ16はその数が多いため(例えば10ビット)、消費電力の低減効果は大きい。
【0030】
図4は、上述したSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号ADの受信動作(クロック信号CLKの周波数が低い場合)を示している。SDRAMは、スタンバイ状態のとき、クロック信号CLKを受け続けるが、内部動作は実行しない。図の下側の矢印は、そのタイミングで電流が消費されることを示している。矢印の大きさは、電流の大きさを示している。SDRAMとともにシステムに搭載されたCPU等のコントローラが、システム上の他のデバイスをアクセスするときに、アドレス信号ADは変化する。
【0031】
黒い矢印は、クロック信号CLKの変化に合わせて入力バッファ10aおよびコマンドラッチ/デコーダ12が動作するときの電流である。白い矢印は、アドレス信号ADの変化に合わせて入力バッファ10cが動作するときの電流である。網掛けの矢印は、アドレス信号ADの変化に応じて遅延回路14が動作するときの電流である。アドレスラッチ16が、クロック信号CLKに同期して動作しないため、スタンバイ時の消費電流は小さい。
【0032】
図5は、上述したSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号ADの受信動作(クロック信号CLKの周波数が高い場合)を示している。SDRAMは、スタンバイ状態のとき、クロック信号CLKを受け続けるが、内部動作は実行しない。クロック周期が上がるため、アドレス信号ADの変化の頻度(CPU等のコントローラが、システム上の他のデバイスをアクセスする頻度)は、図4に比べ高くなる。
【0033】
図4と同様に、黒い矢印は、クロック信号CLKの変化に合わせて入力バッファ10aおよびコマンドラッチ/デコーダ12が動作するときの電流である。白い矢印は、アドレス信号ADの変化に合わせて入力バッファ10cが動作するときの電流である。網掛けの矢印は、アドレス信号ADの変化に応じて遅延回路14が動作するときの電流である。クロック周期が上がるため、コマンドラッチ/デコーダ12および入力バッファ10aの動作頻度は高くなる。しかし、コマンドラッチ/デコーダ12および入力バッファ10aで消費される電流は、元々少なく、入力バッファ10cの動作頻度は低いため、クロック信号CLKの周波数が高くなることで、スタンバイ時の消費電流が大幅に増加することはない。
【0034】
図6は、本発明前に発明者が検討したSDRAMを示している。このSDRAMでは、図1に示した遅延回路14の代わりに取込回路36が配置されている。その他の回路構成は、図1と同一である。太枠で示したコマンドラッチ/デコーダ12および取込回路36は、クロック信号CLKに同期して動作する回路である。
取込回路36は、例えば、図2に示したアドレスラッチ16と同一の回路で構成され、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して内部アドレス信号IADを取り込む。すなわち、このSDRAMでは、内部クロック信号ICLKが、コマンドラッチ/デコーダ12だけではなく、取込回路36にも供給されている。取込回路36は、取り込んだ信号をラッチアドレス信号LAD2として出力する。アドレスラッチ16は、アドレスラッチ信号ALの立ち上がりエッジに同期してラッチアドレス信号LAD2をラッチし、ラッチした信号をラッチアドレス信号LAD3として出力する。
【0035】
図7は、図6のSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号ADの受信動作(クロック信号CLKの周波数が低い場合)を示している。この例では、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに同期してコマンドラッチ/デコーダ12だけでなく、取込回路36が動作する。このため、黒の矢印(消費電流)は、図4に比べ大きくなる。
【0036】
取込回路36は、アドレス信号ADが変化したとき、変化したアドレス信号IADを内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して取り込む。このため、ラッチアドレス信号LAD2が変化するときの黒の矢印(消費電流)は、他の黒の矢印より大きくなる。このように、スタンバイ時においてもクロック信号CLKによるアドレス信号ADの取込動作が実行されるため、図4に比べてスタンバイ電流は大きくなる。
【0037】
図8は、図6のSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号ADの受信動作(クロック信号CLKの周波数が高い場合)を示している。この例では、クロック周期が上がるため、コマンドラッチ/デコーダ12および取込回路36の動作頻度、およびアドレス信号ADの変化の頻度は高くなる。コマンドラッチ/デコーダ12および取込回路36で消費される電流が大きいため、クロック信号CLKの周波数が高くなることで、消費電力は大幅に増加する。
【0038】
以上、本実施形態では、各アドレスラッチ16は、アドレス信号AD(IAD2)を、コマンド信号CMDの組み合わせにより生成されるアドレスラッチ信号ALに同期して受信した。すなわち、アドレスラッチ16をクロック信号CLKに非同期で動作させ、SDRAMの動作に必要なアドレス信号ADのみを受信した。したがって、アドレスラッチ16の動作頻度が下がり、消費電力を低減できる。
【0039】
アドレス信号ADを、クロック信号CLKに非同期でアドレスラッチ16まで伝達し、クロック信号CLKに同期して動作する回路を少なくした。このため、スタンバイ電流を小さくできる。元々のスタンバイ電流が小さいため、クロック信号CLKの周波数が高くなっても、スタンバイ電流の増加を緩やかにできる。
メモリアレイ20内の複数のメモリセルを識別するための複数のアドレス信号ADに対応して、複数のアドレスラッチ16を形成した。各アドレスラッチ16がスタンバイ時に消費する電流を小さくできるため、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
【0040】
遅延回路14の遅延時間を、コマンドラッチ/デコーダ12がコマンド信号CMDを受信してからアドレスラッチ信号ALを出力するまでの時間に合わせて設定した。アドレス信号ADを上記遅延時間を有する遅延回路14を介してアドレスラッチ16に伝達することで、クロック信号CLKに同期してコマンド信号CMDとともに供給されたアドレス信号ADをアドレスラッチ16で確実に受信できる。
【0041】
なお、上述した実施形態では、本発明をSDRAMに適用した例について述べた。本発明はかかる実施形態に限定されるものではない。例えば、本発明をCPU等のロジックLSIのアドレス受信回路に適用してもよい。
上述した実施形態では、本発明をアドレス信号の受信回路に適用した例について述べた。本発明はかかる実施形態に限定されるものではない。例えば、本発明を複数ビットで構成されるデータ信号の受信回路に適用してもよい。
【0042】
以上、本発明について詳細に説明してきたが、上記の実施形態およびその変形例は発明の一例に過ぎず、本発明はこれに限定されるものではない。本発明を逸脱しない範囲で変形可能であることは明らかである。
【0043】
【発明の効果】
本発明の半導体集積回路では、入力信号の受信回路の動作頻度を下げることで消費電力を低減できる。クロック信号に同期して動作する回路を少なくしたので、スタンバイ電流を小さくできる。元々のスタンバイ電流が小さいため、クロック信号の周波数が高くなっても、スタンバイ電流の増加を緩やかにできる。
【0044】
本発明の半導体集積回路では、入力信号をクロック信号に非同期で受信回路まで伝達することで、クロック信号に同期して動作する回路を少なくしたので、スタンバイ電流を小さくできる。
本発明の半導体集積回路では、アドレス信号を受信回路で受信することで、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
【0045】
本発明の半導体集積回路では、データ信号を受信回路で受信することで、スタンバイ電流を大幅に低減できる。
本発明の半導体集積回路では、複数ビットで構成されるアドレス信号のそれぞれに受信回路を形成することでスタンバイ電流を大幅に低減できる。
本発明の半導体集積回路では、クロック信号に同期してコマンド信号とともに供給されたアドレス信号を受信回路で確実に受信できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示すブロック図である。
【図2】図1のアドレスラッチの詳細を示す回路図である。
【図3】アドレス信号の受信動作を示すタイミング図である。
【図4】スタンバイ状態でのアドレス信号の受信動作を示すタイミング図である(クロック信号の周波数が低い場合)。
【図5】スタンバイ状態でのアドレス信号の受信動作を示すタイミング図である(クロック信号の周波数が高い場合)。
【図6】本発明をする前に発明者が検討したSDRAMを示すブロック図である。
【図7】図6のSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号の受信動作を示すタイミング図である(クロック信号の周波数が低い場合)。
【図8】図6のSDRAMにおけるスタンバイ状態でのアドレス信号の受信動作を示すタイミング図である(クロック信号の周波数が高い場合)。
【符号の説明】
10a、10b、10c 入力バッファ
12 コマンドラッチ/デコーダ
14 遅延回路
16 アドレスラッチ
18 制御回路
20 メモリアレイ
22 信号ラッチ部
24 信号出力部
24a、24b 出力回路
24c ラッチ
24d インバータ
28、30 CMOSインバータ
28a、30a pMOSトランジスタ
28b、28c、30b、30c、32 nMOSトランジスタ
34 インバータ
AL アドレスラッチ信号
CLK クロック信号
CMD コマンド信号
DEC アドレスデコード信号
IAD、IAD2 内部アドレス信号
ICLK 内部クロック信号
ICMD 内部コマンド信号
LAD、LAD2、LAD3 ラッチアドレス信号
ND1、ND2、/ND1、/ND2 ノード
TIM1、TIM2 タイミング信号
VII 電源線
VSS 接地線

Claims (5)

  1. 複数の制御信号をクロック信号に同期して受信し、該制御信号が行アドレス信号の供給を示すときと、列アドレス信号の供給を示すときに、前記各制御信号に応じて共通のタイミング信号を生成する制御回路と、
    互いに異なるタイミングで供給され、前記クロック信号に非同期で受信した前記行アドレス信号および前記列アドレス信号を遅延させる共通の遅延回路と、
    前記遅延回路により遅延された前記行アドレス信号および前記列アドレス信号を、前記共通のタイミング信号に同期して受信する受信回路とを備えていることを特徴とする半導体集積回路。
  2. 請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記行アドレス信号および前記列アドレス信号を前記クロック信号に非同期で受け、受けた信号を前記遅延回路に出力する入力バッファを備えていることを特徴とする半導体集積回路。
  3. 請求項1記載の半導体集積回路において、
    複数のメモリセルを有するメモリアレイを備え、
    前記制御信号は、前記メモリアレイの動作を指示するコマンド信号であり、
    前記行アドレス信号および前記列アドレス信号により、所定の前記メモリセルが選択されることを特徴とする半導体集積回路。
  4. 請求項3記載の半導体集積回路において、
    前記遅延回路の遅延時間は、前記制御回路が前記コマンド信号を受信してから前記タイミング信号を出力するまでの時間に合わせて設定されることを特徴とする半導体集積回路。
  5. 請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記受信回路から出力される前記行アドレス信号および前記列アドレス信号を受ける動作制御回路と、
    前記受信回路から出力される前記行アドレス信号および前記列アドレス信号を前記動作制御回路に伝達する共通のアドレス信号線とを備えていることを特徴とする半導体集積回路。
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