JP2000155963A - 光学ピックアップ装置およびこれを具備する光記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 トラッキングエラー信号に偽のエラー信号を
生じさせない光学ピックアップ装置を提供し、高品質な
情報の記録再生が可能な光記録再生装置の提供。 【解決手段】 半導体レーザと、０，±１次光に分離す
る回折格子と、０，±１次光を収束する対物レンズと、
反射されて戻る０次光を受光する第１の受光部７ａと±
１次光を受光する二分割の受光部パターンを有する第
２，３の受光部７ｂ，７ｃとを有する光検出器と、±１
次光を受光する受光部パターンの一方の出力信号と他方
の出力信号を所定倍した信号とを和演算する第１，２の
演算手段と、第１，２の演算手段の出力信号を差演算す
る第３の演算手段とを有し、第３の演算手段からの出力
信号に基づいてトラッキングエラー信号を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光学ピックアップ装
置およびこれを具備する光記録再生装置に関し、さらに
詳しくは、スリースポット法を採用する光学ピックアッ
プ装置およびこれを具備する光記録再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光記録媒体に情報を記録する、あるいは
記録された情報を再生する光学ピックアップ装置に採用
されるトラッキングエラー信号の検出方法の一つに、ス
リースポット法がある。図１０は、トラッキングエラー
信号の検出方法としてスリースポット法を採用した光学
ピックアップ装置の概略構成図である。図１１は、図１
０のＡ方向からみた光検出器７の概略平面図である。

【０００３】半導体レーザ１から出射されたレーザ光
は、回折格子２を透過することにより互いに進行方向の
異なる三本の光束（０次光、＋１次光、−１次光）に分
離され、透明な平行平板で構成されたビームスプリッタ
３に入射する。ビームスプリッタ３で反射された０次
光、＋１次光、−１次光はコリメータレンズ４に入射し
て何れも平行光に変換される。コリメータレンズ４を透
過した０次光、＋１次光、−１次光は対物レンズ５を介
して個別に収束され、光記録媒体６の情報記録面に三つ
の光スポットを形成する。光記録媒体６の信号記録面で
反射された０次光、＋１次光、−１次光の戻り光は、再
び対物レンズ５、コリメータレンズ４、ビームスプリッ
タ３を透過し、光検出器７に入射する。図１１に示した
事例では、フォーカシングエラー信号は光記録媒体６の
信号記録面で反射された０次光の戻り光を受光する４分
割の受光部パターンＡ〜Ｄを有する第１の受光部７ａに
おいて（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））の演算に基づいて検
出される。トラッキングエラー信号は＋１次光の戻り光
を受光する受光部パターンＥを有する第２の受光部７ｂ
と−１次光の戻り光を受光する受光部パターンＦを有す
る第３の受光部７ｃにおいて（Ｅ−Ｆ）の演算に基づい
て検出される。また、ＲＦ信号は（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）の
演算に基づいて検出される。

【０００４】以下、上記した光学ピックアップ装置１２
を具備する光記録再生装置の概略構成の一例について、
概略ブロック図である図１２と再び図１０とを参照して
説明する。光学ピックアップ装置１２は、例えばリニア
モータ等で構成された制御駆動手段およびガイド手段と
を具備したスレッド２４により光記録媒体６のトラッキ
ング方向に移動可能に構成されている。この場合、上記
したスレッド２４により例えば対物レンズ５をフォーカ
シング方向とトラッキング方向とに制御駆動する対物レ
ンズ制御駆動装置（図示せず）のみを光記録媒体６のト
ラッキング方向に移動可能に構成し、残る光学部品を固
定側に構成するものでも良い。光記録媒体６はスピンド
ルモータ１６により所定の回転数に回転駆動され、光学
ピックアップ装置１２により光記録媒体６への情報の記
録または光記録媒体６に記録された情報の再生が行われ
る。

【０００５】光記録再生装置２５で光記録媒体６に記録
された信号を再生する際、光学ピックアップ装置１２の
光検出器７で検出されたＲＦ信号はＲＦアンプ１７に供
給されて演算処理され、再生ＲＦ信号、トラッキングエ
ラー信号、フォーカスエラー信号、絶対位置情報信号、
アドレス情報信号、サブコード情報信号、フォーカスモ
ニタ信号等が検出される。検出された再生ＲＦ信号はエ
ンコーダ／デコーダ部１８に供給され、トラッキングエ
ラー信号およびフォーカスエラー信号はサーボ回路２０
に供給され、フォーカスモニタ信号は、例えばマイクロ
コンピュータで構成されるシステムコントローラ１９に
供給される。サーボ回路２０では、供給されたトラッキ
ングエラー信号、フォーカスエラー信号およびシステム
コントローラ１９から供給されたトラックジャンプ命
令、シーク指令、回転速度検出情報信号等に基づいてフ
ォーカシング制御信号、トラッキング制御信号および光
記録媒体６を一定角速度（ＣＡＶ）あるいは一定線速度
（ＣＬＶ）に制御する回転数制御信号が生成され、フォ
ーカシング制御信号とトラッキング制御信号は光学ピッ
クアップ装置１２に構成された対物レンズ制御駆動装置
に供給され、回転数制御信号はスピンドルモータ１６に
供給される。再生ＲＦ信号はエンコーダ／デコーダ部１
８において、たとえばＥＦＭ復調やＡＣＩＲＣ(Advance
d Cross Interleave Read-Solomon Code )等のデコード
処理が行われ、メモリコントローラ２１によって一旦バ
ッファＲＡＭ２２に書き込まれる。アドレスデコーダ２
３からは、プリグルーブ情報信号をデコードして得られ
る絶対位置情報信号、またはデータとして記録されたア
ドレス情報信号がエンコーダ／デコーダ部１８を介して
システムコントローラ１９に供給され、上記した制御等
に用いられる。

【０００６】光記録再生装置２５で光記録媒体６に情報
を記録する際、システムコントローラ１９からは、記録
レベルのレーザ光を出力するように指令する制御信号が
光学ピックアップ装置１２に供給される。そして、光記
録媒体６が光記録再生装置２５に装着された際、あるい
は記録再生動作の直前等においてシステムコントローラ
１９はスピンドルモータ１６および光学ピックアップ装
置１２を駆動させ、光記録媒体６の例えば最内周側に設
定されているＴＯＣ領域の情報を抽出させる。ＴＯＣ情
報はＲＦアンプ１７、エンコーダ／デコーダ部１８を介
してシステムコントローラ１９に供給され、さらにバッ
ファＲＡＭ２２に蓄えられ、以後その光記録媒体６に対
する記録再生動作の制御に用いられる。

【０００７】ところで半導体レーザ１から出射されるレ
ーザ光の光強度分布のＦＦＰ(Far Field Pattern )は、
半導体レーザ１の積層面と平行方向の半値全角θ_//と垂
直方向の半値全角θ_⊥ とで差があり、通常θ_//＝１０
〜１３度でありθ_⊥ ＝３０度以上である。このため光
検出器７に形成される第１〜３の受光部７ａ，７ｂ，７
ｃは、図１１に示したように、一般的にトラッキングや
トラックジャンプ等により対物レンズ５が光記録媒体６
のトラッキング方向に移動したときにも読み取り信号の
品質を向上させるため、上記した半値全角θ_⊥ に対し
てほぼ４５度方向となっている。しかしながら、半導体
レーザ１から出射されるレーザ光の強度分布が一様でな
いため、たとえば対物レンズ５の光軸がトラッキング方
向に移動すると光検出器７の第２，３の受光部７ｂ，７
ｃの受光部パターンＥ，Ｆに照射される＋１次光と−１
次光との強度に差が生じ、結果的にトラッキングエラー
信号に偽のエラー信号（直流バイアス）が生じる。この
ようにトラッキングエラー信号の品質が劣化すると、光
記録媒体６に対して高品質な信号を記録するあるいは光
記録媒体６に記録された情報の高品質な再生が困難とな
る虞がある。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、トラ
ッキングエラー信号の検出方法としてスリースポット法
を採用する光学ピックアップ装置において、トラッキン
グエラー信号に偽のエラー信号を生じさせない光学ピッ
クアップ装置を提供し、高品質な情報の記録再生を可能
とする光記録再生装置を提供することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光学ピックアップ装置では、光源である半
導体レーザと、半導体レーザからの出射光を０次光、＋
１次光、−１次光に分離する回折格子と、０次光、＋１
次光、−１次光を光記録媒体に個別に収束させて三つの
光スポットを形成する対物レンズと、光記録媒体で反射
されて戻る０次光を受光する第１の受光部と、＋１次光
を受光するとともに二分割された受光部パターンを有す
る第２の受光部と、−１次光を受光するとともに二分割
された受光部パターンを有する第３の受光部とを有する
光検出器と、＋１次光を受光する二分割された受光部パ
ターンの一方の出力信号と、他方の出力信号を所定倍し
た信号とを和演算する第１の演算手段と、−１次光を受
光する二分割された受光部パターンの一方の出力信号
と、他方の出力信号を第１の演算手段と同様に所定倍し
た信号とを和演算する第２の演算手段と、第１の演算手
段の出力信号と第２の演算手段の出力信号とを差演算す
る第３の演算手段とを有し、第３の演算手段からの出力
信号に基づいてトラッキングエラー信号を検出すること
を特徴とする。

【００１０】本発明の光記録再生装置では、光源である
半導体レーザと、半導体レーザからの出射光を０次光、
＋１次光、−１次光に分離する回折格子と、０次光、＋
１次光、−１次光を光記録媒体に個別に収束させて三つ
の光スポットを形成する対物レンズと、光記録媒体で反
射されて戻る０次光を受光する第１の受光部と、＋１次
光を受光するとともに二分割された受光部パターンを有
する第２の受光部と、−１次光を受光するとともに二分
割された受光部パターンを有する第３の受光部とを有す
る光検出器と、＋１次光を受光する二分割された受光部
パターンの一方の出力信号と、他方の出力信号を所定倍
した信号とを和演算する第１の演算手段と、−１次光を
受光する二分割された受光部パターンの一方の出力信号
と、他方の出力信号を第１の演算手段と同様に所定倍し
た信号とを和演算する第２の演算手段と、第１の演算手
段の出力信号と第２の演算手段の出力信号とを差演算す
る第３の演算手段とを有し、第３の演算手段からの出力
信号に基づいてトラッキングエラー信号を検出する光学
ピックアップ装置と、少なくとも対物レンズを光記録媒
体のトラッキング方向に制御駆動する、たとえばリニア
モータ等により構成された制御駆動手段とを有すること
を特徴とする。

【００１１】上述した手段によれば、対物レンズが光軸
からずれた場合においても、トラッキングエラー信号が
偽のエラー信号を発生する虞がなくなる。したがって、
高精度なトラッキングエラー信号を検出する光学ピック
アップ装置の提供が可能になるとともに、高品質な情報
の記録再生を可能とする光記録再生装置の提供が可能と
なる。

【００１２】

【発明の実施の形態】本発明は、トラッキングエラー信
号の検出方法としてスリースポット法を採用する光学ピ
ックアップ装置およびこれを具備する光記録再生装置に
適用することができる。なお、ここで言う光学ピックア
ップ装置および光記録再生装置は、何れも再生のみを行
う再生装置、記録のみを行う記録装置、記録と再生の両
方を行うことができる記録再生装置を含むものである。
以下、本発明を適用した実施の形態例について図１〜図
９を参照して説明するが、光記録再生装置の概略構成は
従来の技術において図１２を参照して説明した事例と同
様であるので、重複する説明を省略する。また、図中の
構成要素で従来の技術と同様の構造を成しているものに
ついては、同一の参照符号を付すものとする。

【００１３】実施の形態例１ 本実施の形態例は、光学ピックアップ装置の概略構成が
従来の技術で参照した図１０と同様であり重複する説明
を省略するが、＋１次光と−１次光とを受光する光検出
器の受光部パターンを何れも２分割した点が異なる。こ
れを従来の技術で参照した図１０および図１１と同様に
図１０におけるＡ方向からみた光検出器７の概略平面図
である図１および図２を参照して説明する。なお、図１
は対物レンズ５が光軸上にある状態であり、図２は対物
レンズ５の光軸が光記録媒体６のトラッキング方向にず
れて０次光、＋１次光、−１次光が第３の受光部７ｃ方
向にずれた状態を示す。

【００１４】光検出器７の第１〜第３の受光部７ａ，７
ｂ，７ｃを図１のような受光部パターンＡ〜Ｄ、Ｅ₁ ，
Ｅ₂ 、Ｆ₁ ，Ｆ₂ で構成した場合、フォーカシングエラ
ー信号は従来の技術において図１１を参照して説明した
事例と同様に（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））の演算に基づ
いて検出され、ＲＦ信号は（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）の演算に
基づいて検出される。

【００１５】ここでトラッキングエラー信号の検出につ
いて記す。＋１次光を受光する第２の受光部７ｂの受光
部パターンＥ₁ ，Ｅ₂ と−１次光を受光する第３の受光
部７ｃの受光部パターンＦ₁ ，Ｆ₂ は、図１に示したよ
うに、対物レンズ５が光軸上にあるときのＥ₁ ，Ｅ₂ 、
Ｆ₁ ，Ｆ₂ での光強度をＩＥ₁ ，ＩＥ₂ 、ＩＦ₁ ，ＩＦ
₂ とするとＩＥ₁ ＝ＩＦ₂ 、ＩＥ₂ ＝ＩＦ₁ となるよう
に分割されている。そして、図２に示したように、対物
レンズ５の光軸が光記録媒体６のトラッキング方向にず
れたときには受光部パターンＥ₁ ，Ｅ₂ が受光する＋１
次光の光強度と受光部パターンＦ₁ ，Ｆ₂ が受光する−
１次光の光強度とには差が生じる。受光部パターン
Ｅ₁ ，Ｅ₂ 、Ｆ₁ ，Ｆ₂ が受光する光強度をＩＥ_1'，Ｉ
Ｅ_2'、ＩＦ_1'，ＩＦ_2'とすると、受光部パターンＥ₁ ，
Ｅ₂ 、Ｆ₁，Ｆ₂ が受光するスポット面積の大小により
ＩＥ_1'＞ＩＦ_2'、ＩＥ_2'＜ＩＦ_1'となる。

【００１６】しかしながら、概略トラッキングエラー信
号検出ブロック図である図３に示したように、Ｅ₁ に対
してＥ₂ 側のアンプゲインをｋ倍してＩＥ≡（ＩＥ₁ ＋
ｋ×ＩＥ₂ ）の和演算を行う第１の演算手段１３を設
け、Ｆ₂ に対してＦ₁ 側のアンプゲインをｋ倍してＩＦ
≡（ＩＦ₂ ＋ｋ×ＩＦ₁ ）の和演算を行う第２の演算手
段１４を設ける。さらに（ＩＥ−ＩＦ）の演算を行う第
３の演算手段１５を設け、この演算結果に基づいてトラ
ッキングエラー信号を検出すれば、トラッキングエラー
信号から偽のエラー信号である直流バイアスをキャンセ
ルすることができる。

【００１７】また、本実施の形態例は図４に示した光学
ピックアップ装置１２の概略構成図のように、ビームス
プリッタ３の光記録媒体６からの戻り光が透過する面に
ナイフエッジプリズム８を固着し、ナイフエッジプリズ
ム８により二つに分割された光束を光検出器７に受光さ
せる事例にも適用することができる。この場合、図４に
おけるＢ方向からみた光検出器７の第１〜第３の受光部
７ａ，７ｂ，７ｃの受光部パターンＡ〜Ｄ、Ｅ₁ ，
Ｅ₂ 、Ｆ₁ ，Ｆ₂ および第１の受光部７ａにおける０次
光、第２の受光部７ｂにおける＋１次光、第３の受光部
７ｃにおける−１次光は図５に示したようになる。そし
て、上記したトラッキングエラー信号の検出法と同様
に、（ＩＥ−ＩＦ）の演算結果に基づいてトラッキング
エラー信号を検出すれば、トラッキングエラー信号から
偽のエラー信号である直流バイアスをキャンセルするこ
とができる。したがって、高品質なトラッキングエラー
信号を得ることが可能となり、光記録媒体６に対して高
品質な信号の記録あるいは光記録媒体６に記録された情
報の高品質な再生が可能となる。

【００１８】実施の形態例２ 本実施の形態例は、半導体基板上に光源である半導体レ
ーザや立ち上げミラー等を形成した、いわゆるレーザカ
プラで光学ピックアップ装置を構成した事例である。こ
れを光学ピックアップ装置の概略構成図である図６と、
図６におけるＣ方向からみた光検出器７の概略平面図で
ある図７を参照して説明する。なお、図７は対物レンズ
５が光軸上にある状態を示す。

【００１９】レーザカプラ１０を構成する半導体レーザ
１から出射されたレーザ光は立ち上げミラー９で反射さ
れて平行透明板１１に入射する。この平行透明板１１の
レーザカプラ１０との対向面には回折格子２が形成され
ており、平行透明板１１に入射するレーザ光を０次光、
＋１次光、−１次光に分離する。この平行透明板１１の
回折格子２形成面の反対面にはホログラムによるビーム
スプリッタ３が形成されている。平行透明板１１を透過
した０次光、＋１次光、−１次光はコリメータレンズ４
により何れも平行光に変換され、対物レンズ５を介して
光記録媒体６の情報記録面に三つの光スポットを形成す
る。光記録媒体６で反射された０次光、＋１次光、−１
次光は再び対物レンズ５、コリメータレンズ４を透過
し、平行透明板１１に形成されたビームスプリッタ３に
より光軸に対して対称に配設された一対の光検出器７に
入射する。この光検出器７の第１〜３の受光部７ａ，７
ｂ，７ｃの受光部パターンＡ₁ ，Ａ₂ 、Ｂ₁ ，Ｂ₂ 、Ｃ
₁ ，Ｃ₂ 、Ｅ₁₁，Ｅ₁₂，Ｅ₂₁，Ｅ₂₂、Ｆ₁₁，Ｆ₁₂，
Ｆ₂₁，Ｆ₂₂および第１の受光部７ａにおける０次光、第
２の受光部７ｂにおける＋１次光、第３の受光部７ｃに
おける−１次光は図７に示したようになる。

【００２０】この場合、受光部パターンＡ₁ ，Ｂ₁ ，
Ｃ₁ 、Ａ₂ ，Ｂ₂ ，Ｃ₂ が受光する光強度をＩＡ₁ ，Ｉ
Ｂ₁ ，ＩＣ₁ 、ＩＡ₂ ，ＩＢ₂ ，ＩＣ₂ とするとフォー
カシングエラー信号は（（ＩＡ₁ ＋ＩＣ₁ ＋ＩＢ₂ ）−
（ＩＡ₂ ＋ＩＣ₂ ＋ＩＢ₁ ））の演算に基づいて検出さ
れ、ＲＦ信号は（ＩＡ₁ ＋ＩＢ₁ ＋ＩＣ₁ ＋ＩＡ₂ ＋Ｉ
Ｂ₂ ＋ＩＣ₂ ）の演算に基づいて検出される。また、ト
ラッキングエラー信号は実施の形態例１において概略ト
ラッキングエラー信号検出ブロック図である図３を参照
して説明した事例と同様、第１〜第３の演算手段１３〜
１５によりＩＥ₁ ＝ＩＥ₁₁＋ＩＥ₂₁，ＩＥ₂ ＝ＩＥ₁₂＋
ＩＥ₂₂，ＩＦ₁ ＝ＩＦ₁₁＋ＩＦ₂₁，ＩＦ₂ ＝ＩＦ₁₂＋Ｉ
Ｆ₂₂としてＩＥ≡（ＩＥ₁ ＋ｋ×ＩＥ₂ ）、ＩＦ≡（Ｉ
Ｆ₂ ＋ｋ×ＩＦ₁ ）としてトラッキングエラー信号を
（ＩＥ−ＩＦ）の演算結果に基づいてトラッキングエラ
ー信号を検出すれば、トラッキングエラー信号から偽の
エラー信号である直流バイアスをキャンセルすることが
できる。

【００２１】また、本実施の形態例は図８に示した光学
ピックアップ装置１２の概略構成図のように、光記録媒
体６で反射された戻り光を平行透明板１１に形成された
ビームスプリッタ３により、回折格子２形成面に固着さ
れたナイフエッジプリズム８に導き、ナイフエッジプリ
ズム８により二つに分割された光束を光検出器７に入射
させる事例にも適用することができる。この場合、図８
におけるＤ方向からみた光検出器７の第１〜３の受光部
７ａ，７ｂ，７ｃの受光部パターンＡ〜Ｄ、Ｅ₁ ，
Ｅ₂ 、Ｆ₁ ，Ｆ₂ および第１の受光部７ａにおける０次
光、第２の受光部７ｂにおける＋１次光、第３の受光部
７ｃにおける−１次光は図９に示したようになる。そし
て、上記したトラッキングエラー信号の検出法と同様
に、（ＩＥ−ＩＦ）の演算結果に基づいてトラッキング
エラー信号を検出すれば、トラッキングエラー信号から
偽のエラー信号である直流バイアスをキャンセルするこ
とができる。したがって、高品質なトラッキングエラー
信号を得ることが可能となり、光記録媒体６に対して高
品質な信号の記録あるいは光記録媒体６に記録された情
報の高品質な再生が可能となる。

【００２２】

【発明の効果】本発明の光学ピックアップ装置によれば
高品質なトラッキングエラー信号を得ることが可能とな
る。そして、この光学ピックアップ装置を具備する光記
録再生装置では、光記録媒体に対して高品質な信号の記
録あるいは光記録媒体に記録された情報の高品質な再生
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施の形態例１に係る光検出器の概
略平面図であり、対物レンズが光軸上にある状態を示
す。

【図２】 本発明の実施の形態例１に係る光検出器の概
略平面図であり、対物レンズの光軸が光記録媒体のトラ
ッキング方向にずれた状態を示す。

【図３】 本発明に係る概略トラッキングエラー信号検
出ブロック図である。

【図４】 本発明の実施の形態例１の他の事例の光学ピ
ックアップ装置の概略構成図である。

【図５】 図４におけるＢ方向からみた光検出器の概略
平面図である。

【図６】 本発明の実施の形態例２の光学ピックアップ
装置の概略構成図である。

【図７】 図６におけるＣ方向からみた光検出器の概略
平面図である。

【図８】 本発明の実施の形態例２の他の事例の光学ピ
ックアップ装置の概略構成図である。

【図９】 図８におけるＤ方向からみた光検出器の概略
平面図である。

【図１０】 従来の光学ピックアップ装置の概略構成図
である。

【図１１】 図１０のＡ方向からみた光検出器の概略平
面図である。

【図１２】 従来の光記録再生装置の概略ブロック図で
ある。

【符号の説明】

１…半導体レーザ、２…回折格子、３…ビームスプリッ
タ、４…コリメータレンズ、５…対物レンズ、６…光記
録媒体、７…光検出器、７ａ…第１の受光部、７ｂ…第
２の受光部、７ｃ…第３の受光部、８…ナイフエッジプ
リズム、９…立ち上げミラー、１０…レーザカプラ、１
１…平行透明板、１２…光学ピックアップ装置、１３…
第１の演算手段、１４…第２の演算手段、１５…第３の
演算手段、１６…スピンドルモータ、１７…ＲＦアン
プ、１８…エンコーダ／デコーダ部、１９…システムコ
ントローラ、２０…サーボ回路、２１…メモリコントロ
ーラ、２２…バッファＲＡＭ、２３…アドレスデコー
ダ、２４…スレッド、２５…光記録再生装置

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体レーザと、 前記半導体レーザからの出射光を０次光、＋１次光、−
   １次光に分離する回折格子と、 前記０次光、前記＋１次光、前記−１次光を光記録媒体
   に個別に収束させて三つの光スポットを形成する対物レ
   ンズと、 前記光記録媒体で反射されて戻る前記０次光を受光する
   第１の受光部と、前記＋１次光を受光するとともに二分
   割された受光部パターンを有する第２の受光部と、前記
   −１次光を受光するとともに二分割された受光部パター
   ンを有する第３の受光部とを有する光検出器と、 前記＋１次光を受光する二分割された前記受光部パター
   ンの一方の出力信号と、他方の出力信号を所定倍した信
   号とを和演算する第１の演算手段と、 前記−１次光を受光する二分割された前記受光部パター
   ンの一方の出力信号と、他方の出力信号を前記所定倍し
   た信号とを和演算する第２の演算手段と、 前記第１の演算手段の出力信号と前記第２の演算手段の
   出力信号とを差演算する第３の演算手段とを有し、 前記第３の演算手段からの出力信号に基づいてトラッキ
   ングエラー信号を検出することを特徴とする光学ピック
   アップ装置。
2. 【請求項２】 半導体レーザと、 前記半導体レーザからの出射光を０次光、＋１次光、−
   １次光に分離する回折格子と、 前記０次光、前記＋１次光、前記−１次光を光記録媒体
   に個別に収束させて三つの光スポットを形成する対物レ
   ンズと、 前記光記録媒体で反射されて戻る前記０次光を受光する
   第１の受光部と、前記＋１次光を受光するとともに二分
   割された受光部パターンを有する第２の受光部と、前記
   −１次光を受光するとともに二分割された受光部パター
   ンを有する第３の受光部とを有する光検出器と、 前記＋１次光を受光する二分割された前記受光部パター
   ンの一方の出力信号と、他方の出力信号を所定倍した信
   号とを和演算する第１の演算手段と、 前記−１次光を受光する二分割された前記受光部パター
   ンの一方の出力信号と、他方の出力信号を前記所定倍し
   た信号とを和演算する第２の演算手段と、 前記第１の演算手段の出力信号と前記第２の演算手段の
   出力信号とを差演算する第３の演算手段とを有し、 前記第３の演算手段からの出力信号に基づいてトラッキ
   ングエラー信号を検出する光学ピックアップ装置と、 少なくとも前記対物レンズを前記光記録媒体のトラッキ
   ング方向に制御駆動する制御駆動手段とを有することを
   特徴とする光記録再生装置。