JP2000140505A - 脱気装置及び脱気方法 - Google Patents

脱気装置及び脱気方法

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JP2000140505A JP10336477A JP33647798A JP2000140505A JP 2000140505 A JP2000140505 A JP 2000140505A JP 10336477 A JP10336477 A JP 10336477A JP 33647798 A JP33647798 A JP 33647798A JP 2000140505 A JP2000140505 A JP 2000140505A
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  • Degasification And Air Bubble Elimination (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】簡易な構造で安価に製作でき、従来と比較して
小さな設置スペースで済む脱気装置を提供する。 【解決手段】脱気する処理液体を収容する液体収容容器
91に振動付与手段92を付設した。取り出し管93
を、この振動付与手段92によって振動を付与すること
により溶存ガスを顕在化させ、ガス含有量の少ない箇所
から処理液体を取り出すことができるように設置した。
したがって、処理液体を収容する液体収容容器91その
ものを振動させることで、液体分子の運動を活性化させ
溶存ガスを泡として顕在化させることができ、脱気され
た処理液体を取り出すことができる。このため、メンブ
レン膜やチューブを用いる必要なく、従来と比較して簡
易な構造でありながら、処理液体を脱気することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、脱気装置及び脱気
方法に関し、例えば液晶ディスプレイ(Liquid Crystal
Display:LCD)に使われるガラス基板上にレジスト
液を塗布する際に使用されるシンナ等の処理液体を脱気
する脱気装置及び脱気方法に関する。
【0002】
【従来の技術】LCDの製造工程においては、LCD用
のガラス基板上にITO(Indium TinOxide)の薄膜や
電極パターンを形成するために、半導体デバイスの製造
に用いられるものと同様のフォトリソグラフィ技術が利
用される。フォトリソグラフィ技術では、フォトレジス
トを基板に塗布し、これを露光し、さらに現像する。こ
のようなレジスト塗布工程では、ガラス基板を回転させ
ながらその上にレジスト液を滴下することが従来から行
われている。
【0003】ところで、このようなレジスト塗布工程で
は、ガラス基板上のぬれ性を向上させ、使用量をできる
だけ少なくするため、レジスト液の塗布に先立ち、シン
ナ等の有機溶剤を予めガラス基板に供給することが行わ
れている。
【0004】ところが、こうように供給されるシンナ等
には気体が混入することが多く、このような気体が混入
されていると、レジストの塗膜不良の原因となるおそれ
がある。そこで、従来から脱気処理したシンナを用いて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来用いられている脱
気装置としては、メンブレン膜やチューブを複数備えた
モジュールを有し、メンブレン膜等に処理液体を通過さ
せ、その周囲から真空引きを行うことで、処理液体中の
溶存ガスを除去する構造のものを用いている。
【0006】しかしながら、特にLCDにおいてはガラ
ス基板の大型化が進み、シンナの使用量も多量となって
いるため、これを脱気処理するには、上記したモジュー
ルを複数備えたものを使用しなければならない。したが
って、従来用いている脱気装置は、高価であると共に、
広い設置スペースを必要とするという問題があった。
【0007】本発明は上記した事情に鑑みなされたもの
であり、簡易な構造で安価に製作できると共に、従来と
比較して小さな設置スペースで済む脱気装置及び脱気方
法を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、請求項1記載の本発明の脱気装置は、処理液体を収
容する液体収容容器と、前記液体収容容器に収容された
処理液体に振動を付与する振動付与手段と、前記処理液
体を収容する液体収容容器の下部から処理液体を取り出
す取り出し管とを具備する。
【0009】本発明では、処理液体を振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。そして、泡の含まれていない
ガス含有量の少ない箇所から処理液体を取り出すため、
脱気された処理液体を取り出すことができる。したがっ
て、メンブレン膜やチューブを用いる必要なく、従来と
比較して簡易な構造でありながら、処理液体を脱気する
ことができる。
【0010】請求項2記載の本発明の脱気装置は、請求
項1記載の脱気装置であって、前記液体収容容器により
収容された処理液体の液面下付近に設置され、液面下で
顕在化した気体が付着する気体付着部材を更に具備する
ことを特徴とする。
【0011】本発明では、処理液体を振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。そして、この泡が浮き上がっ
て気体付着部材に付着するため、泡が混入することな
く、ガス含有量の少ない箇所の処理液体を確実に取り出
すことができる。したがって、メンブレン膜やチューブ
を用いる必要なく、従来と比較して簡易な構造でありな
がら、処理液体を脱気することができる。
【0012】請求項3記載の本発明の脱気装置は、処理
液体を収容する液体収容容器と、前記液体収容容器に収
容された処理液体に振動を付与する振動付与手段と、前
記液体収容容器内に設けられると共に、ガス抜き管が上
部に設けられた補助容器と、前記補助容器に接続される
と共に、前記処理液体を収容する液体収容容器の下部か
ら前記補助容器内に処理液体を取り込む取り出し管と、
前記処理液体を収容する補助容器の下部から処理液体を
取り出す補助取り出し管とを具備する。
【0013】本発明では、処理液体を振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。この泡は処理液体中を浮き上
がっていくため、泡を含んでいない箇所から処理液体を
取り出し、補助容器内に収容すれば、補助容器内に収容
された処理液体は脱気された液体となる。補助容器内に
収容されると、ガスが補助容器内の上方空間にたまり、
さらにガス抜き管を通じて外部へ排出される。その結
果、補助容器内に貯まる処理液体はさらに脱気される。
そして、補助取り出し管が補助容器の下部に付設されて
いるため、この補助取り出し管を通じてさらに脱気され
た処理液体を外部に取り出すことができる。
【0014】請求項4記載の本発明の脱気装置は、処理
液体を収容する液体収容容器と、前記液体収容容器を、
各室間が下部で相互に連通するように複数の室に仕切る
仕切板と、前記仕切板により仕切られた少なくとも一つ
の室に収容された処理液体に振動を付与する振動付与手
段と、前記振動付与手段により振動が付与される室以外
の他の室の下部から処理液体を取り出す取り出し管とを
具備する。本発明では、処理液体を振動させることで、
液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕在化
させることができる。本発明では、この泡は、仕切板に
より仕切形成された室のうち、振動付与手段を付設した
室内で浮き上がる。したがって、この室以外の他の室か
ら処理液体を取り出せば、泡が混入することなく、ガス
含有量の少ない箇所の処理液体を確実に取り出すことが
できる。
【0015】請求項5記載の本発明の脱気装置は、請求
項1〜4のいずれか1に記載の脱気装置であって、前記
取り出し管の液体取り出し口が液体供給口より下部に位
置することを特徴とする。これにより、液体供給口から
直接取り出し管へ泡が混入することはなくなる。
【0016】請求項6記載の本発明の脱気装置は、請求
項1〜5のいずれか1に記載の脱気装置であって、前記
取り出し管の液体取り出し口が、振動付与手段の付設箇
所よりも下方位置となるように設置されていることを特
徴とする。取り出し管の液体取り出し口が振動付与手段
の付設箇所よりも下方位置であるため、顕在化した溶存
ガスの下方位置から処理液体を取り出すことができる。
したがって、確実にガス含有量の少ない処理液体を取り
出すことができる。
【0017】請求項7記載の本発明の脱気装置は、請求
項1〜6のいずれか1に記載の脱気装置であって、前記
振動付与手段が超音波振動を発生する振動子であること
を特徴とする。超音波振動を利用することで、微細な振
動を付与でき、溶存ガスが泡として顕在化しやすい。
【0018】請求項8記載の本発明の脱気装置は、請求
項7記載の脱気装置であって、前記振動子の出力周波数
が20KHz以下であることを特徴とする。出力周波数
をこのように制御することにより、微細な振動を付与で
き、溶存ガスが泡としてさらに顕在化しやすい。
【0019】請求項9記載の本発明の脱気方法は、液体
収容容器に処理液体を収容する工程と、前記液体収容容
器に収容された処理液体に対して振動を付与する工程
と、前記液体収容容器の下部より、前記振動が付与され
た処理液体を取り出す工程とを具備する。
【0020】本発明では、処理液体を振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。そして、泡の含まれていない
ガス含有量の少ない箇所から処理液体を取り出すため、
脱気された処理液体を取り出すことができる。したがっ
て、メンブレン膜やチューブを用いる必要なく、従来と
比較して簡易な構造でありながら、処理液体を脱気する
ことができる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき説明する。まず、脱気したシンナを大量に用い
る必要があり、本発明の脱気装置及び脱気方法を適用す
るのに好適な、LCD用のガラス基板上にITOの薄膜
や電極パターンを形成するフォトレジストの塗布・現像
処理システムの概略について説明する。
【0022】図1は本発明の一実施形態に係る塗布・現
像処理システムの斜視図である。図1に示すように、こ
の塗布・現像処理システム1の前方には、ガラス基板G
を、塗布・現像処理システム1に対して搬出入するロー
ダ・アンローダ部2が設けられている。このローダ・ア
ンローダ部2には、ガラス基板Gを例えば25枚ずつ収
納したカセットCを所定位置に整列させて載置させるカ
セット載置台3と、各カセットCから処理すべきガラス
基板Gを取り出し、また塗布・現像処理システム1にお
いて処理の終了したガラス基板Gを各カセットCへ戻す
ローダ・アンローダ4が設けられている。図示のローダ
アンローダ4は、本体5の走行によってカセットCの配
列方向に移動し、本体5に搭載された板片状のピンセッ
ト6によって各カセットCからガラス基板Gを取り出
し、また各カセットCへガラス基板Gを戻すようになっ
ている。また、ピンセット6の両側には、ガラス基板G
の四隅を保持して位置合わせを行う基板位置合わせ部材
7が設けられている。
【0023】塗布・現像処理システム1の中央部には、
長手方向に配置された廊下状の搬送路10、11が第1
の受け渡し部12を介して一直線上に設けられており、
この搬送路10、11の両側には、ガラス基板Gに対す
る各処理を行うための各種処理装置が配置されている。
【0024】図示の塗布・現像処理システム1にあって
は、搬送路10の一側方に、ガラス基板Gをブラシ洗浄
すると共に高圧ジェット水により洗浄を施すための洗浄
装置16が例えば2台並設されている。また、搬送路1
0を挟んで反対側に、二基の現像装置17が並設され、
その隣りに二基の加熱装置18が積み重ねて設けられて
いる。
【0025】また、搬送路11の一側方に、ガラス基板
Gにレジスト液を塗布する前にガラス基板Gを疎水処理
するアドヒージョン装置20が設けられ、このアドヒー
ジョン装置20の下方には冷却用のクーリング装置21
が配置されている。また、これらアドヒージョン装置2
0とクーリング装置21の隣には加熱装置22が二列に
二個ずつ積み重ねて配置されている。また、搬送路11
を挟んで反対側に、ガラス基板Gの表面にレジスト液を
塗布することによってガラス基板Gの表面にレジスト膜
を形成するレジスト塗布装置23が配置されている。図
示はしないが、これら塗布装置23の側部には、第2の
受け渡し部28を介し、ガラス基板G上に形成されたレ
ジスト膜に所定の微細パターンを露光するための露光装
置等が設けられる。第2の受け渡し部28は、ガラス基
板Gを搬入及び搬出するための搬出入ピンセット29及
び受け渡し台30を備えている。
【0026】以上の各処理装置16〜18及び20〜2
3は、何れも搬送路10、11の両側において、ガラス
基板Gの出入口を内側に向けて配設されている。第1の
搬送装置25がローダ・アンローダ部2、各処理装置1
6〜18及び第1の受け渡し部12との間でガラス基板
Gを搬送するために搬送路10上を移動し、第2の搬送
装置26が第1の受け渡し部12、第2の受け渡し部2
8及び各処理装置20〜23との間でガラス基板Gを搬
送するために搬送路11上を移動するようになってい
る。
【0027】各搬送装置25、26は、それぞれ上下一
対のアーム27、27を有しており、各処理装置16〜
18及び20〜23にアクセスするときは、一方のアー
ム27で各処理装置のチャンバから処理済みのガラス基
板Gを搬出し、他方のアーム27で処理前のガラス基板
Gをチャンバ内に搬入するように構成されている。
【0028】図2は図1に示したレジスト塗布装置23
の正面図、図3は平面図、図4はその一部の側面図であ
る。これらの図に示すように、レジスト塗布装置23の
ほぼ中央には、カップ29が配置され、カップ29内に
はガラス基板Gを保持するためのスピンチャック28が
配置されている。
【0029】スピンチャック28には、ガラス基板Gを
真空吸着保持するための真空吸着装置37が接続されて
いる。カップ29の上部には、ガラス基板Gを出し入れ
するための開口部38が設けられている。開口部38に
は、上蓋30が被せられるようになっている。上蓋30
は開閉機構(図示を省略)によって昇降可能に支持され
ている。
【0030】第1のモータ31はスピンチャック28を
回転させるための駆動源であり、第2のモータ32はカ
ップ29を回転させるための駆動源である。昇降シリン
ダ33はスピンチャック28をZ軸方向に昇降させるた
めの駆動源である。
【0031】スピンチャック28の載置部40の外周側
下面には、シール部材41が取り付けられている。スピ
ンチャック28を下降させて、シール部材41をカップ
29の底部に当接させると、気密な処理スペース42が
形成されるようになっている。
【0032】第1のモータ31及び第2のモータ32は
CPU36によって回転駆動が制御されるようになって
いる。また、CPU36によって昇降シリンダ33は昇
降制御されるようになっている。
【0033】昇降シリンダ33の回転軸43は、固定カ
ラー44の内周面にベアリング45を介して回転可能に
装着される回転円筒46の円周面に嵌着されるスプライ
ン軸受47に摺動可能に連結されている。スプライン軸
受47には、従動プーリ48が装着されており、従動プ
ーリ48には第1のモータ31の駆動軸49に装着され
た駆動プーリ50との間にタイミングベルト51が掛け
渡されている。
【0034】したがって、第1のモータ31の駆動によ
ってタイミングベルト51を介して回転軸43が回転し
てスピンチャック28が回転される。
【0035】また、回転軸43の下部側は図示しない筒
体内に配設されており、筒体内において回転軸43はバ
キュームシール部52を介して昇降シリンダ33の駆動
によって回転軸43がZ軸方向に移動し得るようになっ
ている。
【0036】カップ29は、固定カラー44の外周面に
ベアリング53を介して装着される回転外筒54の上端
部に固定される連結筒55を介して取り付けられてお
り、回転外筒54に装着される従動プーリ56と第2の
モータ32の駆動軸57に装着される駆動プーリ58に
掛け渡されるタイミングベルト59によって第2のモー
タ32からの駆動がカップ29に伝達されてカップ29
が水平方向に回転されるように構成されている。
【0037】また、カップ29の外周側には、中空リン
グ状のドレンカップ60が配設されており、カップ29
から飛散されたミストを回収し得るようになっている。
【0038】さらに、第1のモータ31にはエンコーダ
61が取り付けられ、第2のモータ32にはエンコーダ
62が取り付けられている。これらエンコーダ61、6
2によって検出された検出信号はCPU36に伝達さ
れ、CPU36にて比較演算された出力信号に基づいて
第1のモータ31及び第2のモータ32についての回転動
作がそれぞれ制御されるようになっている。
【0039】図3に示すように、カップ29の外側に
は、ガラス基板G上にシンナ及びレジスト液を供給する
ための供給機構70が配置されている。供給機構70
は、図示を省力した駆動機構により回動される回動部材
73を有し、回動部材73の先端部にはガラス基板Gの
ほぼ回転中心にシンナ及びレジスト液を供給するための
各ノズルが取り付けられた供給ヘッド74が取り付けら
れている。
【0040】上記した供給ヘッド74へレジスト液の供
給量を制御する塗布液供給機構80は、レジスト液の貯
留部81と、この貯留部81と供給ヘッド74とを接続
する配管82とを有しており、この塗布液供給機構80
には、吐出量制御部83が付設されている。この吐出量
制御部83は、配管82中に介在配設されるベローズポ
ンプ83aと、このベローズポンプ83aの駆動を制御
するステッピングモータ83bと、該ベローズポンプ8
3aとステッピングモータ83bとの間に配設され、ス
テッピングモータ83bの回転動作を直線動作に変換し
てベローズポンプ83aを動作させるボールネジ機構8
3cと、ステッピングモータ83bへの入力パルス信号
数を制御する既述のCPU36とを有して構成されてい
る。
【0041】したがって、ステッピングモータ83bへ
入力するパルス信号数をCPU36により変化させるこ
とで、ベローズポンプ83aの動作を制御し、レジスト
液の供給量を制御することができる。
【0042】ここで、レジスト液の供給に先立って、予
めガラス基板G上にシンナを供給してぬれ性を高め、レ
ジスト液をより薄く塗布することができ、レジスト液の
使用量を低減するシンナの供給機構について説明する。
このシンナ供給機構は、シンナ供給源(図示を省略)
と、シンナ供給源に配管99を介して接続される脱気装
置90とから構成される。脱気装置90を経て脱気され
たシンナは、配管95を介してガラス基板G上に設けた
供給ヘッド74より、ガラス基板Gに供給される。
【0043】従来のレジスト塗布装置23においては、
本実施の形態で脱気装置90を構成する液体収容容器9
1とは別途に、脱気装置を配置していた。しかしなが
ら、本実施の形態によれば、液体収容容器91を脱気装
置90の構成部材として使用しているため、レジスト塗
布装置23全体の装置の簡素化を図ることができる。
【0044】脱気装置90は、上記した液体収容容器9
1と、この液体収容容器91に付設される振動付与手段
92と、処理液体であるシンナの取り出し管93を有し
て構成される。振動付与手段92は、液体収容容器91
を振動させることで、液体分子の運動を活性化できるも
のであればどのようなものであってもよいが、超音波振
動を発生する振動子を用いることが好ましい。超音波振
動を利用することで、微細な振動を付与でき、溶存ガス
が泡として顕在化しやすいからである。また、この際の
振動子の出力周波数は20KHz以下とすることがさら
に好ましい。出力周波数をこのように制御することによ
り、微細な振動を付与でき、溶存ガスが泡としてさらに
顕在化しやすいからである。なお、振動付与手段92と
しての振動子の配設数は限定されるものではなく、液体
収容容器91の大きさ等に応じて適宜数配設することが
できる。
【0045】取り出し管93は、本実施の形態における
処理液体であるシンナを収容した液体収容容器91中に
浸漬されて、下端部に開口された液体取り出し口93a
の位置が、該液体収容容器91中のできるだけ深い位置
となるように配設される。即ち、液体収容容器91が振
動付与手段92によって振動すると、シンナ中の溶存ガ
スが泡となって顕在化し、シンナの表面に浮かび上がっ
てくるため、液体取り出し口93aの位置をできるだけ
深い位置とすることにより、溶存ガスの含有量の少ない
シンナを取り出すことができる。また、この取り出し管
93は、シンナを取り出すためのポンプ93bが接続さ
れていると共に、さらに配管95に接続されており、ポ
ンプ93bを起動することにより取り出されたシンナは
配管95を通じてガラス基板G上に供給される。なお、
符号94は、液体収容容器91中のシンナの収容量を検
知するための液面センサである。
【0046】次に、このように構成されたレジスト塗布
装置23の動作について説明する。スピンチャック28
がカップ29の開口部38より上方に上昇している状態
で、搬送装置26よりスピンチャック28上にガラス基
板Gが移載され、真空吸着保持される。
【0047】次に、昇降シリンダ33の駆動によりスピ
ンチャック28が下降され、ガラス基板Gが開口部38
を介してカップ29内に搬入される。
【0048】次に、回動部材73が回動され、その先端
部の供給ヘッド74がガラス基板G上のほぼ中心に相当
する位置にセットされる。
【0049】次に、第1のモータ31によりスピンチャ
ック28の回転が開始されると共に、供給ヘッド74か
ら受け器ノズル72を介してレジスト液の供給が開始さ
れるが、このレジスト液の供給に先立って、シンナがガ
ラス基板G上に供給される。
【0050】この際、シンナ供給源から送られてくるシ
ンナは、一旦、脱気装置90を構成する液体収容容器9
1に収容される。そして、振動付与手段92によって液
体収容容器91が振動せしめられるため、シンナの液体
分子の運動が活性化し、シンナ中の溶存ガスが泡となっ
て液体収容容器91の上部に浮かび上がってくる。取り
出し管93が、液体収容容器91中の深い位置に液体取
り出し口93aが位置するように設けられているため、
ポンプ93bを起動することにより取り出されるシンナ
は、溶存ガスの含有量が低い部分、即ち、脱気されたシ
ンナである。したがって、ガラス基板G上に吐出される
シンナは、脱気されているため、ガラス基板G上で微細
な凹凸が生じることがなく、その上に吐出されるレジス
ト液は薄く均一な厚みで塗布されることになる。
【0051】ガラス基板G上にシンナを塗布したなら
ば、供給ヘッド74からのレジスト液を吐出する。この
際、上記した塗布液供給機構80に付設した吐出量制御
部83により、吐出量を種々制御されながら吐出する。
レジスト液がガラス基板G上に吐出されると、スピンチ
ャック28の回転に伴う遠心力によって、レジスト液が
一旦外方に向かって広がっていくと共に、その後吐出さ
れるレジスト液はこの広がったレジスト液上に吐出さ
れ、均一な厚みで広がっていく。
【0052】その後、第1のモータ31の回転が停止さ
れてガラス基板Gの回転が停止される。また、回動部材
73は、カップ29の外側まで回動され、保持部材81
もカップ29の外側まで搬送される。
【0053】次に、開閉機構(図示を省略)によって上
蓋30が下降されて開口部38に被せられ、開口部38
が閉じられる。そして、第1のモータ31と第2のモー
タ32が同期回転されることによって、スピンチャック
28、カップ29、上蓋30及びガラス基板Gが一体的
に回転される。これにより、ガラス基板G上に塗布され
たレジスト液が乾燥し、ガラス基板G上にレジスト膜が
形成される。
【0054】その後、第1のモータ31と第2のモータ
32の回転が停止されてスピンチャック28、カップ2
9、上蓋30及びガラス基板Gの一体的な回転が停止さ
れ、開閉機構(図示を省略)によって上蓋30が上昇さ
れ、開口部38が空けられる。
【0055】次に、昇降シリンダ33の駆動によりスピ
ンチャック28が上昇され、ガラス基板Gが開口部38
を介してカップ29外に搬出され、ガラス基板Gがスピ
ンチャック28上から搬送装置26に移載される。
【0056】図5〜図9は、本発明の脱気装置の他の実
施の形態を示す概略構成図である。図5に示したもの
は、振動付与手段92を液体収容容器91の底部よりや
や高い位置の外周部に付設し、取り出し管93の液体取
り出し口93aをこの振動付与手段92の付設位置より
も下方となるように位置させた態様である。振動付与手
段92により液体収容容器91が振動することにより発
生するよう溶存ガスの泡は、処理液体(例えば、シン
ナ)中を浮かび上がっていくため、このような構成とす
れば、発生した泡が液体取り出し口93a内に入り込む
ことがない。したがって、上記した実施の形態と比較し
て、より完全に脱気された処理液体を取り出すことがで
きる。
【0057】図6に示したものは、液体収容容器91の
上部に気体付着部材として、基部に対してフィン状に突
出する複数枚の板部材96を配設した態様である。振動
付与手段92により発生した溶存ガスの泡は、処理液体
中を上方に浮かび上がってくるが、振動付与手段92に
よる振動はさらに継続して行われているため、処理液体
が僅かながら攪拌されて、再び処理液体中に混入するお
それがある。しかしながら、このように板部材96を配
設すれば、一旦浮かび上がった溶存ガスの泡がこの板部
材96に付着するため、処理液体中に再び溶け込むこと
を防止でき、脱気処理をより確実に行うことができる。
また、図7に示すように、振動を発生しやすくするため
に振動板や共鳴板92aを液体収容容器91内の例えば
振動付与手段92の近くに配置してもよい。
【0058】図8に示したものは、液体収容容器91中
に補助容器97を配設すると共に、取り出し管93を補
助容器97の下部に接続し、さらに補助容器97の下部
から処理液体を取り出すための補助取り出し管97aを
接続すると共に、該補助容器97の上部にガス抜き管9
7bを接続した構成である。この構成によれば、液体収
容容器91中で振動付与手段により脱気された処理液体
は、取り出し管93を通じて補助容器97内に一旦収容
される。この際、補助容器97内では、さらに残存する
溶存ガスが上方空間に集まるため、ガス抜き管97bを
通じて外部に排出される。補助容器97内に貯まる処理
液体は、さらに脱気された液体となる。したがって、補
助容器97の下部から補助取り出し管97aを通じて取
り出される処理液体は、より溶存ガスの少ない液体とな
る。なお、本実施の形態では、この補助取り出し管97
aに図示しないポンプが接続され、配管(図示せず)を
通じて所定の場所、例えば、上記したレジスト塗布装置
23の場合であれば、ガラス基板G上へ供給される。
【0059】図9に示したものは、液体収容容器91中
に仕切板98を配設し、該液体収容容器91中を複数室
に仕切った態様である。この場合には、振動付与手段9
2は、いずれか一方の室98aに対応する部位に配設す
る。また、仕切板98は、その下部に、処理液体が、隣
接する室98a、98b間を行き来できるように連通す
る流路98cが設けられている。さらに、処理液体の供
給源に接続されている配管99の液体流出口99aを一
方の室98aに配設している。この構成によれば、主と
して、一方の室98aが振動付与手段92によって振動
せしめられる。また、処理液体はこの一方の室98aに
流入してくるため、該一方の室98aにおいては溶存ガ
スが顕在化し泡が発生しやすい。したがって、流路98
cを通じて他方の室98bに流入する処理液体は、既に
脱気された液体となると共に、処理液体中上方に浮かび
上がる溶存ガスの泡は仕切板98により隔離されている
ため、他方の室98bには流入しない。このため、他方
の室98bから取り出し管93を通じて処理液体を取り
出せば、脱気された処理液体を取り出すことができる。
もちろん、この場合、他方の室98bにおいても、多少
の振動が付与されるため、さらに残存する溶存ガスは処
理液体中泡となって上方に浮かび上がる。したがって、
この実施の形態の場合でも、取り出し管93の液体取り
出し口93aはできるだけ深い位置に配置することが好
ましい。
【0060】また、図6〜図9に示した実施の形態にお
いても、図5に示した実施の形態と同様、振動付与手段
92を液体収容容器91の底部よりやや高い位置の外周
部に付設し、取り出し管93の液体取り出し口93aを
この振動付与手段92の付設位置よりも下方となるよう
に位置させると、発生した溶存ガスの泡の混入がさらに
少なくなるため好ましい。
【0061】なお、上記した実施の形態では、レジスト
液を塗布する装置に供給するシンナから脱気する場合を
例に取り説明しているが、これはあくまで一例であり、
脱気の必要な種々の処理液体に本発明を適用できること
はもちろんである。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の本
発明の脱気装置は、処理液体を収容する液体収容容器
と、前記液体収容容器に収容された処理液体に振動を付
与する振動付与手段と、前記処理液体を収容する液体収
容容器の下部から処理液体を取り出す取り出し管とを具
備することから、処理液体を収容する液体収容容器その
ものを振動させることで、液体分子の運動を活性化させ
溶存ガスを泡として顕在化させることができる。そし
て、泡の含まれていないガス含有量の少ない箇所から処
理液体を取り出すため、脱気された処理液体を取り出す
ことができる。したがって、メンブレン膜やチューブを
用いる必要なく、従来と比較して簡易な構造でありなが
ら、処理液体を脱気することができる。
【0063】請求項2記載の本発明の脱気装置は、請求
項1記載の脱気装置であって、前記液体収容容器により
収容された処理液体の液面下付近に設置され、液面下で
顕在化した気体が付着する気体付着部材を更に具備する
ことから、処理液体を収容する液体収容容器そのものを
振動させることで、液体分子の運動を活性化させ溶存ガ
スを泡として顕在化させることができる。そして、この
泡が浮き上がってガス付着手段に付着するため、泡が混
入することなく、ガス含有量の少ない箇所の処理液体を
確実に取り出すことができる。したがって、メンブレン
膜やチューブを用いる必要なく、従来と比較して簡易な
構造でありながら、処理液体を脱気することができる。
【0064】請求項3記載の本発明の脱気装置は、処理
液体を収容する液体収容容器と、前記液体収容容器に収
容された処理液体に振動を付与する振動付与手段と、前
記液体収容容器内に設けられると共に、ガス抜き管が上
部に設けられた補助容器と、前記補助容器に接続される
と共に、前記処理液体を収容する液体収容容器の下部か
ら前記補助容器内に処理液体を取り込む取り出し管と、
前記処理液体を収容する補助容器の下部から処理液体を
取り出す補助取り出し管とを具備することから、処理液
体を収容する液体収容容器そのものを振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。この泡は処理液体中を浮き上
がっていくため、泡を含んでいない箇所から処理液体を
取り出し、補助容器内に収容すれば、補助容器内に収容
された処理液体は脱気された液体となる。補助容器内に
収容されると、ガスが補助容器内の上方空間にたまり、
さらにガス抜き管を通じて外部へ排出される。その結
果、補助容器内に貯まる処理液体はさらに脱気される。
そして、補助取り出し管が補助容器の下部に付設されて
いるため、この補助取り出し管を通じてさらに脱気され
た処理液体を外部に取り出すことができる。
【0065】請求項4記載の本発明の脱気装置は、処理
液体を収容する液体収容容器と、前記液体収容容器を、
各室間が下部で相互に連通するように複数の室に仕切る
仕切板と、前記仕切板により仕切られた少なくとも一つ
の室に収容された処理液体に振動を付与する振動付与手
段と、前記振動付与手段により振動が付与される室以外
の他の室の下部から処理液体を取り出す取り出し管とを
具備することから、処理液体を収容する液体収容容器そ
のものを振動させることで、液体分子の運動を活性化さ
せ溶存ガスを泡として顕在化させることができる。本発
明では、この泡は、仕切板により仕切形成された室のう
ち、振動付与手段を付設した室内で浮き上がる。したが
って、この室以外の他の室から処理液体を取り出せば、
泡が混入することなく、ガス含有量の少ない箇所の処理
液体を確実に取り出すことができる。
【0066】請求項5記載の本発明の脱気装置は、前記
取り出し管の液体取り出し口が液体供給口より下部に位
置するので、液体供給口から直接取り出し管へ泡が混入
することはなくなる。
【0067】請求項6記載の本発明の脱気装置は、前記
取り出し管の液体取り出し口が、振動付与手段の付設箇
所よりも下方位置となるように設置されていることか
ら、取り出し管の液体取り出し口が振動付与手段の付設
箇所よりも下方位置であるため、顕在化した溶存ガスの
下方位置から処理液体を取り出すことができる。したが
って、確実にガス含有量の少ない処理液体を取り出すこ
とができる。
【0068】請求項7記載の本発明の脱気装置は、前記
振動付与手段が超音波振動を発生する振動子であること
から、微細な振動を付与でき、溶存ガスが泡として顕在
化しやすい。
【0069】請求項8記載の本発明の脱気装置は、請求
項6記載の脱気装置であって、前記振動子の出力周波数
が20KHz以下であることから、微細な振動を付与で
き、溶存ガスが泡としてさらに顕在化しやすい。
【0070】請求項9記載の本発明の脱気方法は、液体
収容容器に処理液体を収容する工程と、前記液体収容容
器に収容された処理液体に対して振動を付与する工程
と、前記液体収容容器の下部より、前記振動が付与され
た処理液体を取り出す工程とを具備することから、処理
液体を収容する液体収容容器そのものを振動させること
で、液体分子の運動を活性化させ溶存ガスを泡として顕
在化させることができる。そして、泡の含まれていない
ガス含有量の少ない箇所から処理液体を取り出すため、
脱気された処理液体を取り出すことができる。したがっ
て、メンブレン膜やチューブを用いる必要なく、従来と
比較して簡易な構造の装置を使用して、処理液体を脱気
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の脱気装置を適用するのに好適な塗布
・現像処理システムの一例を示す斜視図である。
【図2】 本発明の一の実施の形態に係る脱気装置を用
いたレジスト塗布装置の正面図である。
【図3】 図2に示したレジスト塗布装置の平面図であ
る。
【図4】 図2に示したレジスト塗布装置の一部側面図
である。
【図5】 本発明の他の実施の形態に係る脱気装置の概
略構成を示す図である。
【図6】 本発明の他の実施の形態に係る脱気装置の概
略構成を示す図である。
【図7】 本発明の他の実施の形態に係る脱気装置の概
略構成を示す図である。
【図8】 本発明の他の実施の形態に係る脱気装置の概
略構成を示す図である。
【図9】 本発明の他の実施の形態に係る脱気装置の概
略構成を示す図である。
【符号の説明】
90 脱気装置 91 液体収容容器 92 振動付与手段 93 取り出し管 93a 液体取り出し口 96 板部材 97 補助容器 97a 補助取り出し管 97b ガス抜き管 98 仕切板 98a 一方の室 98b 他方の室

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理液体を収容する液体収容容器と、 前記液体収容容器に収容された処理液体に振動を付与す
    る振動付与手段と、 前記処理液体を収容する液体収容容器の下部から処理液
    体を取り出す取り出し管とを具備することを特徴とする
    脱気装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の脱気装置であって、 前記液体収容容器により収容された処理液体の液面下付
    近に設置され、液面下で顕在化した気体が付着する気体
    付着部材を更に具備することを特徴とする脱気装置。
  3. 【請求項3】 処理液体を収容する液体収容容器と、 前記液体収容容器に収容された処理液体に振動を付与す
    る振動付与手段と、 前記液体収容容器内に設けられると共に、ガス抜き管が
    上部に設けられた補助容器と、 前記補助容器に接続されると共に、前記処理液体を収容
    する液体収容容器の下部から処理液体を取り込む取り出
    し管と、 前記処理液体を収容する補助容器の下部から処理液体を
    取り出す補助取り出し管とを具備することを特徴とする
    脱気装置。
  4. 【請求項4】 処理液体を収容する液体収容容器と、 前記液体収容容器を、各室間が下部で相互に連通するよ
    うに複数の室に仕切る仕切板と、 前記仕切板により仕切られた少なくとも一つの室に収容
    された処理液体に振動を付与する振動付与手段と、 前記振動付与手段により振動が付与される室以外の他の
    室の下部から処理液体を取り出す取り出し管とを具備す
    ることを特徴とする脱気装置。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1に記載の脱気
    装置であって、液体取り出し口が液体供給口より下部に
    位置することを特徴とする脱気装置。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1に記載の脱気
    装置であって、前記取り出し管の液体取り出し口が、振
    動付与手段の付設箇所よりも下方位置となるように設置
    されていることを特徴とする脱気装置。
  7. 【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1に記載の脱気
    装置であって、前記振動付与手段が超音波振動を発生す
    る振動子であることを特徴とする脱気装置。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の脱気装置であって、前記
    振動子の周波数が20KHz以下であることを特徴とす
    る脱気装置。
  9. 【請求項9】 液体収容容器に処理液体を収容する工程
    と、 前記液体収容容器に収容された処理液体に対して振動を
    付与する工程と、 前記液体収容容器の下部より、前記振動が付与された処
    理液体を取り出す工程とを具備することを特徴とする脱
    気方法。
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