JP2000131173A - 静電容量式物理センサ - Google Patents

静電容量式物理センサ

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JP2000131173A
JP2000131173A JP10299337A JP29933798A JP2000131173A JP 2000131173 A JP2000131173 A JP 2000131173A JP 10299337 A JP10299337 A JP 10299337A JP 29933798 A JP29933798 A JP 29933798A JP 2000131173 A JP2000131173 A JP 2000131173A
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capacitance
electrode
fixed
diaphragm
fixed electrode
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Akihiko Saito
明彦 斉藤
Satoshi Shimada
嶋田  智
Masahiro Matsumoto
昌大 松本
Tokuo Watanabe
篤雄 渡辺
Yasuo Onose
保夫 小野瀬
Norio Ichikawa
範男 市川
Keiji Hanzawa
恵二 半沢
Junichi Horie
潤一 堀江
Seiji Kurio
誠司 栗生
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Hitachi Ltd
Hitachi Automotive Systems Engineering Co Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi Car Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】可動電極がダイアフラムを兼ねる構造の場合、
負荷圧力によって可動電極200は撓みを伴って変形する
ので出力の逆数演算を施しても一次関数にならず、非線
形誤差が生じてしまうという問題が生じる。 【解決手段】本発明は、外力により変化する静電容量を
出力とし、信号処理は前記静電容量の逆数を対象とする
静電容量式物理センサにおいて、前記静電容量式物理セ
ンサの静電容量Cs と並列に電気接続される固定静電容
量の大きさCp との間にCp≦0.4×Csの関係があ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は静電容量式物理セン
サの高精度化のための構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】本発明は静電容量式物理センサに関する
ものであるが、以下、物理センサの具体例として圧力セ
ンサの場合について述べる。
【0003】従来より提案されている基板上に形成され
る圧力センサの例として、半導体圧力センサの断面構造
を図2に示す。
【0004】この半導体圧力センサは、基板上に固定電
極として機能するシリコン膜20と、これと対向して可
動電極として機能するシリコン構造体200を有し、シ
リコン構造体200と基板10とで密閉された空間70
を圧力基準室する構造を有している。この構造体に圧力
Pが加わると、図3に示すようにシリコン構造体200は
基準圧力室との圧力差に比例した変形を起こし、可動電
極と固定電極との間の距離が短縮され、それに伴いシリ
コン構造体の可動電極200と固定電極20との間の静
電容量が増加する。逆に、圧力Pを減らすと、可動電極
200と固定電極20との間の距離は可逆的に元にもど
り、両電極間の静電容量は減少する。このように、圧力
Pの変化を静電容量の変化として検出することにより圧
力Pが検出される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】一般の圧力センサにお
いて、負荷圧力Pによる出力変化は、負荷圧力Pの一次
関数であることが要求されるが、実際は二次以上の高次
項を含む。その二次以上の高次項は非線形誤差となり、
センサの特性を悪化させている。今、負荷圧力Pによる
可動電極の変位量δが可動電極の寸法径aに比べ十分小
さいとする場合は変位量δはpに正比例するとしてもよ
いので、上記の表現は、出力がδの一次関数であること
が要求される、と記述できる。
【0006】今、両電極が平行に対峙する平面の場合、
可動電極の運動は固定電極への接近・遠隔の平行運動と
なり、その静電容量C(δ)は(数1)電極変位量δに
反比例する。従って、その静電容量の逆数をとる処理を
行うことにより、可動電極の変位δに対して完全な一次
関数になり、出力を線形にでき非線形誤差は生じない
(数2)。ここで、dは可動電極が基準位置にある場合
の電極間距離、C0 は電極間距離がdの場合の静電容量
である。図4中51は数2をプロットしたものであり、
出力は直線であることがわかる。
【0007】
【数1】
【0008】
【数2】
【0009】ところが、実際のセンサは図2に示すよう
な断面構造をとる。基板10上に固定電極20が存在
し、基準圧力室70を隔てて可動電極を兼ねるダイアフ
ラム200が固定電極と対峙している。このように可動
電極がダイアフラムを兼ねる、またはダイアフラムの一
部である構造の場合、負荷圧力によって可動電極200は
図3に示すように撓みを伴って変形する。
【0010】そのため、出力の逆数演算を施しても(数
3)に示すように一次関数にならず、非線形誤差が生じ
てしまうという問題が生じる。ここでは、可動電極は全
面固定電極と対峙し静電容量をもつとする。図4中50
は数3をプロットしたものであり、出力に曲がりが生じ
ていることがわかる。
【0011】
【数3】
【0012】
【課題を解決するための手段】このような問題を解決す
るために、本発明は、外力により変化する静電容量を出
力とし、信号処理は前記静電容量の逆数を対象とする静
電容量式物理センサにおいて、前記静電容量式物理セン
サの静電容量Cs と並列に電気接続される固定静電容量
の大きさCp との間にCp≦0.4×Cs の関係があるこ
とを特徴とする静電容量式物理センサを提供するもので
ある。
【0013】また、本発明は、基板内もしくは基板上に
位置する固定電極と、これに対向し、周囲を支持され外
力を受けて変形するダイアフラムの一部となる可動電極
よりなる受圧部を備え、前記受圧部の前記固定電極と前
記可動電極間に生ずる静電容量を検出し、その信号処理
は前記静電容量の逆数演算を行う静電容量式物理センサ
において、前記固定電極と前記可動電極の対向部の寸法
径bと前記ダイアフラムの寸法径aとの間に、b/a≦
0.8 の関係が成立することを特徴とする静電容量式物
理センサを提供するものである。
【0014】
【発明の実施の形態】(実施例1)まず、受圧部におい
て、負荷圧力による可動電極の撓みが非直線誤差をもた
らすことを以下に説明する。この非直線誤差とは、図5
(A)と図5(B)に示すように理想直線である初期出
力g(i)とフルスケール出力g(f)を結ぶ直線からの逸脱
量として定義される。数4および
【0015】
【数4】
【0016】ここで、g(x)は出力曲線、L(x)は理想直
線、Δgは初期出力g(i) とフルスケール出力g(f)
の差である。実際はその最大値が問題になるので、本説
明では、図5(B)に示すようにその最大値を非線形誤
差と定義する。
【0017】負荷圧力によって電極が撓むコンデンサと
は、負荷圧力に対する静電容量の変化の割合が異なるコ
ンデンサが並列に接続され各々の静電容量が加算された
ものと同等と見なすことができる。つまり、図3に示す
変形の場合、可動電極中心部250は加圧時に変位量が
大きく圧力応答性が良いが、端部260は殆ど変形せず
圧力応答性が小さい。これらが並列接続されているの
で、出力はこれらの静電容量が加算されたものである。
この様な系に対して逆数演算を行うことが非直線誤差を
生じる原因となる。
【0018】このことを説明するために、具体例とし
て、図6に示すような簡略された模擬系を考える。セン
サの受圧部のうち、ダイアフラム中心部の圧力応答性の
よい部分に対応するものとして、平板電極が平行に対峙
し、電極間距離が変化するコンデンサの可変容量300
を考える。この、一方、ダイアフラム端部の圧力応答性
の小さい部分として、静電容量が不変の固定容量310
を考え、センサの受圧部は、これらが並列接続されたも
のとする。この単純化されたモデルの非直線誤差NLは
解析解が導出可能であり、その表式は(数5)のように
求められる。
【0019】
【数5】
【0020】ここで、Cp は固定容量310、C0 は可
変容量300の初期値、Cf は可変容量300のフルス
ケール値である。
【0021】この非線形誤差NLを固定容量Cp の関数
としたものを、図7に示す。固定容量Cp が小さい領域
では非線形誤差NLの固定容量Cp の依存性が大きくC
p を小さくすることでNLを減らすことができることが
わかる。また、この領域では(数5)は(数6)のよう
に近似できるため、一般に要求される非線形誤差NLが
10%以下という要求は、固定容量Cp は可変容量の初
期値C0 の0.4 倍以下とすることにより満足すること
ができる。なお、この固定容量は以上の様に特性を悪化
させ、浮遊容量と呼ばれる。
【0022】
【数6】
【0023】以下に、実際の圧力センサ構造において、
上記のような固定容量が生じる部分と、それを減らす方
法について述べる。
【0024】図8は本発明の静電容量式圧力センサであ
り、図8Aは平面図、図8Bは図8AにおけるA−A′
の断面図である。基板500上に絶縁膜510を介して
導電性膜520が被覆され、フォトエッチングにより固
定電極521,固定電極引き出し線522が形成されて
いる。固定電極引き出し線522は回路部へ接続され
る。この上に固定電極521を覆うように絶縁膜530
が被覆され、固定電極521および引き出し線522と
他の導電膜との間のリークを防ぐ。その上に圧力基準室
となる空洞540を介してダイアフラム550が形成さ
れる。
【0025】ダイアフラム550は可動電極を兼ね、引
き出し線552により回路部へ接続される。ダイアフラ
ム支持端555は絶縁膜530上に固定されており、圧
力基準室540と異なる圧力が印加されると、ダイアフ
ラム550は変形し、固定電極521とダイアフラム5
50との間の静電容量が変化する。その静電容量を以
下、可変容量と称する。また、この受圧部の周囲にはノ
イズ防止のために電位が固定された導電性の囲い560
が形成される。
【0026】この可変容量と並列に接続される固定容量
は浮遊容量であり、ダイアフラム支持端555と固定電
極引き出し線522のクロス部570に生じるもの、及
び導体部560を介して固定電極引き出し線522と可
動電極引き出し線552との間に生ずるものがある。静
電容量は、電極の対向面積に比例し、電極間距離に反比
例する。
【0027】前者の場合は、この浮遊容量を減らす方法
は、電極の対向面積を減らす方法として、クロス部57
0において固定電極引き出し線522の幅を細くする方
法等があり、電極間距離を増やす方法として、絶縁膜5
30を厚くする方法、または支持部555を除く方法、
等がある。後者の場合は、図8Aのようにこの囲い56
0の一部を中断し、その中断部565を通って可動電極
引き出し線552、または固定電極からの引き出し線5
22を引き出すことによって減らすことができる。
【0028】(実施例2)上記の模擬系での固定容量が
小さい場合とは、全容量はほとんど可変容量であるとみ
なせるが、この場合を、負荷圧力によって電極が撓む
系、つまり実際の圧力センサにおきかえると、圧力応答
性の良い可動電極の中心部のみ静電容量をもつことに相
当する。これは、図9に示すように固定容量となるダイ
アフラム端部260は静電容量を持たないように、固定
電極20の寸法径をダイアフラム200の寸法径より小さ
くし、可動電極の中心部250のみと対峙させた構造に
より実現できる。
【0029】逆に上記の模擬系における固定容量が大き
い場合とは、負荷圧力によって電極が撓む系において
は、図10に示すようにダイアフラムの端部の圧力応答
性のほどんど無い部分260に静電容量をもつように、
固定電極の寸法径を可動電極の寸法径と等しくなるまで
広げた構造に相当する。
【0030】つまり、模擬系における固定容量の大きさ
が非直線誤差に与える影響は、負荷圧力によって電極が
撓む系の場合はダイアフラム径に対する電極対向部の寸
法径比と同等とみなすことができる。従って、非直線誤
差と電極対向部寸法径の関係において、電極対向部寸法
径を減らすことで非直線誤差が減少できるようになる。
【0031】実際の圧力センサの場合、つまり、図9の
ように可動電極が圧力に伴い変形する場合において、電
極対向部寸法径のダイアフラム直径に対する比をρと表
し、図11に非線形誤差のρ依存性を示す。ここで、ダ
イアフラム直径をa、ダイアフラム厚みをh、電極間距
離をd、ダイアフラム中心変位をw、とする。一般に固
定電極上には、短絡防止などのために絶縁膜が存在する
ため、wはw/d=0.9 となる場合を最大とみなす
と、電極対抗部比ρ<0.8 とすることにより、非線形
誤差が10%以下の特性を得られることがわかる。
【0032】本発明の静電容量式物理センサは、ダイア
フラムが直径280μm,厚み6.5μmの多結晶シリコ
ンよりなり、電極間距離は0.6μm 、固定電極径は1
50μmである。この電極対向部寸法は固定電極径と同
じ150μmであり、電極対向部のダイアフラム径比ρ
=150/280=0.54であり上述の0.8より小さ
くしてある。また、この場合1気圧のダイアフラム中心
変位wは0.2μm 、w/d=0.33である。このセ
ンサの出力は、本発明により非直線誤差は0.34%であり
10%より小さい非直線誤差を実現できる。
【0033】
【発明の効果】以上のように、本発明は、外力により変
化する静電容量を出力とし、信号処理は前記静電容量の
逆数を対象とする静電容量式物理センサにおいて、前記
静電容量式物理センサの静電容量Cs と並列に電気接続
される固定静電容量の大きさCp との間にCp≦0.4×
s の関係があることを特徴とする静電容量式物理セン
サを提供し、また、本発明は、基板内もしくは基板上に
位置する固定電極と、これに対向し、周囲を支持され外
力を受けて変形するダイアフラムの一部となる可動電極
よりなる受圧部を備え、前記受圧部の前記固定電極と前
記可動電極間に生ずる静電容量を検出し、その信号処理
は前記静電容量の逆数演算を行う静電容量式物理センサ
において、前記固定電極と前記可動電極の対向部の寸法
径bと前記ダイアフラムの寸法径aとの間に、b/a≦
0.8 の関係が成立することを特徴とする静電容量式物
理センサを提供することにより、出力の非直線性を減ら
し、高精度な静電容量式物理センサを提供できる。
【0034】以上のように本発明の具体例として圧力セ
ンサの例を示したが、一般に電極の撓みを伴って静電容
量の変化を検出する方式を採用する、加速度,ジャイロ
等、その他の方式のセンサにおいても原理は等しく、本
発明は非直線誤差を低減し高精度化する有効な手段とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による静電容量式物理センサの断面図。
【図2】従来の静電容量式センサの断面図。
【図3】従来の圧力センサの加圧変形時の断面図。
【図4】可動電極の撓みによる出力の曲がりを示す特性
図。
【図5】(A)及び(B)は非線形誤差の定義を示す特
性図。
【図6】簡易モデルの配線図。
【図7】簡易モデルでの非線形誤差の固定容量依存性を
示す特性図。
【図8】8A及び8Bは本発明の圧力センサの構造と固
定容量の発生部所の平面図及び同図8AのA−A′線断
面図。
【図9】9A及び9Bは本発明の静電容量式圧力センサ
の断面図。
【図10】10A及び10Bは従来の静電容量式圧力セ
ンサの断面図。
【図11】非線形誤差の電極対向部寸法径比依存性を示
す特性図。
【符号の説明】
10,500…基板、20…固定電極、50…ダイアフ
ラム撓み時の出力曲線、51…平行平板電極の可変容量
の出力曲線、70,540…基準圧力室、200,550…
ダイアフラム兼可動電極、250…ダイアフラム中心
部、260…ダイアフラム端部、300…簡易モデルに
おける可変容量、310…簡易モデルにおける固定容
量、510,530…絶縁膜、520…導電膜、522
…固定電極引き出し線、552…可動電極引き出し線、
555…ダイアフラム支持部、560…導電性の囲い、
570…ダイアフラム支持部と固定電極引き出し線の対
向部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 嶋田 智 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 松本 昌大 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 渡辺 篤雄 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 小野瀬 保夫 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 市川 範男 茨城県ひたちなか市高場2477番地 株式会 社日立カーエンジニアリング内 (72)発明者 半沢 恵二 茨城県ひたちなか市高場2477番地 株式会 社日立カーエンジニアリング内 (72)発明者 堀江 潤一 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器事業部内 (72)発明者 栗生 誠司 茨城県ひたちなか市高場2477番地 株式会 社日立カーエンジニアリング内 Fターム(参考) 2F055 AA40 BB01 CC02 DD04 EE25 FF12 GG11 4M112 AA01 BA07 CA11

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板内もしくは基板上に位置する固定電極
    と、これに対向し、周囲を固定され外力を受けて変形す
    る可動部を備え、前記可動部は、その一部または全部が
    可動電極であり、前記固定電極と前記可動電極間に生ず
    る静電容量を検出し、その信号処理は前記静電容量の逆
    数演算を行う静電容量式物理センサにおいて、前記固定
    電極と前記可動電極の対向部の寸法径bと前記可動部の
    寸法径aとの間に、b/a≦0.8 の関係が成立するこ
    とを特徴とする静電容量式物理センサ。
  2. 【請求項2】外力により変化する静電容量を出力とし、
    信号処理は前記静電容量の逆数を対象とする静電容量式
    物理センサにおいて、前記静電容量式物理センサの静電
    容量Csと並列に電気接続される固定静電容量の大きさ
    p との間にCp/Cs≦0.4の関係が成立することを
    特徴とする静電容量式物理センサ。
JP10299337A 1998-10-21 1998-10-21 静電容量式物理センサ Pending JP2000131173A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8921958B2 (en) 2011-11-11 2014-12-30 Kabushiki Kaisha Toshiba MEMS element
US9274017B2 (en) 2013-09-06 2016-03-01 Kabushiki Kaisha Toshiba MEMS device
JP2018521317A (ja) * 2015-06-15 2018-08-02 テクノロジアン テュトキムスケスクス ヴェーテーテー オサケ ユキチュア Mems容量式圧力センサおよびその製造方法

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