JPH01240865A - 加速度センサ - Google Patents

加速度センサ

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JPH01240865A
JPH01240865A JP63067397A JP6739788A JPH01240865A JP H01240865 A JPH01240865 A JP H01240865A JP 63067397 A JP63067397 A JP 63067397A JP 6739788 A JP6739788 A JP 6739788A JP H01240865 A JPH01240865 A JP H01240865A
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electrostatic force
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vibration damping
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Kazuo Sato
一雄 佐藤
Shigeo Kato
加藤 重雄
Yoshio Kawamura
河村 喜雄
Akira Koide
晃 小出
Sadayasu Ueno
上野 定寧
Yoshihiro Yokota
横田 吉弘
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は加速度センサに係り、特に数百Hz以下の低周
波数領域および静的な加速度を計測するのに好適なセン
サに関する。
〔従来の技術〕
従来、低周波数領域および静的な加速度を計測するため
のセンサとしては、シリコン単結晶の梁にピエゾ抵抗素
子を組込んだものが提案されている。この種の例として
は、特開昭50−58992号。
特開昭61−97572号などが挙げられる。この構造
の加速度センサでは、過渡的な入力に対する応答性を)
ず6ぬるため、梁の周囲に制振用の油を封入することが
トランスデユーサ’87.(1987年)112頁から
115頁(Transducers’ 87. (19
87)ppH2〜115)で述べられている。
一方、シリコン単結晶の棒状部材のねじれ変形を利用し
た加速度センサでは、質量部の変位を静電容量の変化と
して検出する一方、静電力でサーボを加えることによっ
て応答性を高めていることが、同じくトランスデユーサ
’87.(1987年)395頁から398頁(Tra
nsducers’ 87゜(1987)pp395〜
398)で述べられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記の従来技術では、以下のような問題点があった。す
なわち、油で制振する方式では、油の粘度が雰囲気の温
度に依存するので一定の制振性能が得られないこと、ま
た、油の封入・封止のために製造コストが高くなる等の
問題があった。さらに過負荷時の梁の破損を防ぐための
ストッパの精密な設定が必要であり、これも、製造コス
ト増加の一因となっていた。
一方、変位を静電容量の変化で検出し、これをフィード
バックして静電力でサーボを加える方式では、検出系お
よびサーボ系の電極間の寄生容量による信号の干渉によ
ってノイズが発生しSN比が低下すること、また静電力
の着力点の位置が常には質量部の中心に一致しないこと
による動作のばらつきが存在すること、などの問題があ
った。
また、過負荷時の電極間の接触による電極の損傷に配慮
がされておらず長期にわたる動作の信頼性に問題があっ
た。
本発明の目的は、上記の問題を解決し、一定の制振性能
を有し、ノイズが少なく、動作のばらつきが少ないサー
ボ型の加速度センサを提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的は、梁構造の一部に設けたピエゾ抵抗素子に
より質量部の変位を検出する手段、および上記の変位信
号をフィードバックして静電力によって質量部の変位を
零にするための静電力印加手段を有して構成することに
よって達成される。
好ましくは静電力印加手段は質量部に対向する制振電極
によって構成され、割振電極が質量部の最大変位のスト
ッパーとなること、質量部の重心に静電力がより多く作
用するように構成すること、制振電極の表面に誘電率が
2以上の絶縁物を設けることとされる。
〔作用〕
本発明では、サーボ回路によって静電力で制振するので
周囲温度によらず一定の制振力が得られる。一方、質量
部の変位はピエゾ抵抗素子で検出するので、検出回路の
インピーダンスが低く、静電力を加える回路からのノイ
ズを受けることが少ない。また、制振用の電極を適切に
構成することにより、製造誤差や梁の変位があっても常
に静電力が質量の中心に作用するので、動作のばらつき
が無い。更に電極表面に絶縁層を設けることにより、過
負荷時の電極損傷が防止され、長期にわたる性能の安定
性が得られる。
〔実施例〕
以下に本発明の一実施例を第1図により説明する。
振動体となるシリコン基板1は単結晶ウェハからエツチ
ングにより一体で形成した片持梁構造を持ち、その片持
梁は実質的な質量部2および梁部3から構成される。第
1図の上下方向に加速度が加わると梁は曲げ変形を受け
、梁の表面に形成したピエゾ抵抗素子4によってその変
形が検出される。この信号はサーボ回路に送られ、梁の
変形を抑制する静電力を発生させる。サーボ回路は、ア
ンプ512位相補償回路52.スイッチング回路53、
およびアンプ7a、7bから成っている。
静電力は引力としてしか働かないから、加速度の向きに
よって、シリコンの梁の上側または下側の電極8a、8
bに電圧を印加して質量部の変位を抑制する。スイッチ
ング回路53は、電圧を印加すべき電極の選択の役割を
担う、電極8bおよび8bは、それぞれパイレックスガ
ラス基板9aおよび9b上に形成されている。1対のパ
イレックスガラス基板はシリコン基板の本体をはさんで
接合されている。センサの出力は、二つの電極に印加さ
れる電圧を演算処理した電圧11の形で得られる。なお
演算処理回路10では、電極間のショ−トなどの万一の
事態に備えた異常信号のフィルタ回路を備えている。
一方、静電力で梁を制振する場合に生じる諸問題は次の
ようにして解決された。
第1に、梁の変位の検出をピエゾ抵抗素子とすることに
より、従来の静電容量検出の場合に存在した制振側の電
極から寄生容量を介して誘導されるノイズが無くなった
第2に、静電力による制振においては、梁と電極の間隙
の2乗に反比例して力が加わるから、従来、例えば第2
図に示すように製造上、電極面に凹凸12があった場合
、その位置で強い吸引力13が加わり、梁の重心14に
対してモーメントが生じていた。その結果、梁部に余分
な信号を発生するという問題があった。同様のことは、
梁が変位した時にも生じ、第3図に示すように重心位置
から離れた点に吸引力13′が働いてしまうという欠点
があった。本発明ではこれに対し、常に静電力が質量の
中心部に働くような電極構成を開発した。その二つの実
施例を第4図および第5図に示す。
第4図では、電極8bのうち、梁の質量の中心14に対
向する位置において電極をJa<形成し、この部分15
における電極間隙を実質的に減じて吸引力13′が常に
質量の中心に加わるようにしている。このような電極の
厚さの制御は電極金属を蒸着するさいのマスクの移動に
よって容易に行うことができる。周辺部の電極間隙が例
えば3μmの場合、中心部の電極厚さを周辺よりも0.
5μm大とすれば、局部的に吸引力が30%増大するの
で、十分な効果が得られる。
第5図は、さらに多目的の効果が得られる方法を示して
いる。この場合は、梁の質量の中心14と対向する位置
にガラス16(誘電率の値は約7)を約1μmの厚さに
スパッタ蒸着した。この結果。
質量の中心部における吸引力は、他の部分の約2倍に増
加し、前に述べた効果が得られるとともに、センサに過
負荷が加わった時の梁の過大変位を防ぐためのストッパ
として、ガラス層が有効に動作する。ガラス層の存在に
より、質量部が電極側に衝突しても電極を傷つけること
が無い。さらに好ましくは、ストッパの位置を質量部の
重心位置に置くことが良い。この場合は、衝突により質
量部に加わる反力は質量部に余分なモーメントを加えな
い。これに対し、例えば質量部の先端が電極に衝突する
場合には、質量部に反時計廻りのモーメントが加わって
重心がさらに下方に変位する結果。
梁に過大なひずみを生じて破損に至るおそれがある。
なお、上記の実施例の他にも、制振電極の配置の疎密に
よって割振力を質量部の重心位置に集中させることがで
きるが、この場合は電極の有効面積を減らすという不利
は避けられない。
本発明は、片持梁の実施例をもって説明したが、その主
たる効果は両持梁の場合にも得られることは明らかであ
る。
なお、本加速度センサを集積化するにあたり、第1図に
示したサーボ回路および演算処理回路を集積回路とする
ことは容易である。さらに、これらの回路をシリコン基
板1の上に形成すること、またガラス基板9aまたは9
bの材質をシリコンに変えて、この基板上に集積回路を
形成することは本発明の発展した一形態である。
〔発明の効果〕
以上に述べたように本発明によれば次の効果が得られる
静電力による割振を行うので、ダンピング油による制振
に比べて温度変化に対する性能劣化が少なく、同時に簡
mな構造であるので製造コストの増大を防げる。
ピエゾ抵抗素子で梁の変位を検出するので、制振側の電
極からのノイズを受けることが少ない。
制振電極からの静電力が常に梁の質量中心に(aくので
、動作のばらつき、不安定性を生じない。
誘電体を被着した電極では、誘電体が過負荷に対するス
トッパの役割を有効に果たす。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図はおよ
び第3図は、静電力で制振する場合の従来の問題点を示
す断面図、第4図および第5図は、前記の問題点を解決
する本発明の他実施例を示す断面図である。 1・・・シリコン基板、2・・・質量部、3・梁部、4
・・・ピエゾ抵抗素子、8a、8b・・・制振用の電極
、1]・・出力、 第 t  云 潅、b アン70 月  スイ・ノ手シフ゛°回飽)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. 質量部とこれを支える梁部とがシリコン単結晶か
    ら一体構造で形成される加速度センサにおいて、梁の一
    部に形成したピエゾ抵抗素子を用いて梁のたわみを検出
    する手段、および、梁のたわみの信号を電気的に処理し
    、梁のたわみが零になるように上記質量部に静電気な力
    を加える静電力印加手段とを備えて成ることを特徴とす
    る加速度センサ。
  2. 2. 請求項1記載のものにおいて、上記静電力印加手
    段は上記質量部に対向する制振電極からなり、該制振電
    極の一部が、過負荷時の上記質量部の過大変位のストツ
    パとして働くことを特徴とする加速度センサ。
  3. 3. 請求項1記載のものにおいて、上記静電力印加手
    段は制振電極からなり、上記質量部の重心位置に加わる
    静電的な引力が、その周囲に加わる引力よりも大きくな
    るように制振電極を構成したことを特徴とする加速度セ
    ンサ。
  4. 4. 請求項1記載のものにおいて、上記静電力印加手
    段は制振電極からなり、該制振電極の表面に誘電率が2
    以上の絶縁物を被着したことを特徴とする加速度センサ
JP63067397A 1988-03-23 1988-03-23 加速度センサ Expired - Lifetime JPH087227B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313836A (en) * 1989-07-17 1994-05-24 Nippondenso Co., Ltd. Semiconductor sensor for accelerometer
JPH06317606A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体加速度センサ及びそれを用いた半導体加速度検出装置
US5760290A (en) * 1994-10-21 1998-06-02 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and testing method thereof
JPWO2008149821A1 (ja) * 2007-05-30 2010-08-26 京セラ株式会社 センサ装置
JP2016075562A (ja) * 2014-10-06 2016-05-12 大日本印刷株式会社 力学量センサおよび力学量測定装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313836A (en) * 1989-07-17 1994-05-24 Nippondenso Co., Ltd. Semiconductor sensor for accelerometer
JPH06317606A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体加速度センサ及びそれを用いた半導体加速度検出装置
US5760290A (en) * 1994-10-21 1998-06-02 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and testing method thereof
US5987921A (en) * 1994-10-21 1999-11-23 Fuji Electric Co., Ltd Method for making a semiconductor acceleration sensor
JPWO2008149821A1 (ja) * 2007-05-30 2010-08-26 京セラ株式会社 センサ装置
JP2016075562A (ja) * 2014-10-06 2016-05-12 大日本印刷株式会社 力学量センサおよび力学量測定装置

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