JP2000115813A - 検査中継システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子機器の検査を低コストかつ高効率で行う
ことができる検査中継システムを提供すること。 【解決手段】 電子機器と接続可能な中継ケーブル１１
０と、前記電子機器の複数種類の検査項目をそれぞれ検
査する複数の検査装置と接続可能で、かつ前記中継ケー
ブルと接続可能な中継器１５０とを備える。そして、前
記各検査装置に前記中継器をそれぞれ接続しておき、前
記電子機器に前記中継ケーブルを接続し、この中継ケー
ブルを前記各中継器に順次接続して前記検査項目を順次
検査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器と、この
電子機器の複数種類の検査項目をそれぞれ検査する複数
の検査装置との接続を中継する検査中継システムに関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】通常、電子機器の組立工程が終了した後
は、その電子機器が正常に動作するか否かの検査工程が
行われる。この検査工程には、例えばフリーフローコン
ベアＡＣＵ（オートコントロールユニット）システムが
使用されている。このフリーフローコンベアＡＣＵシス
テムは、パレットに設けられている端子に電子機器の端
子を接続し、パレット内に電子機器を収納する。

【０００３】その後、このパレットをコンベア上に載置
して搬送し、コンベアの途中に複数設置されているフリ
ーフローコンベア用ＡＣＵのピンをパレットの端子に順
次接触させる。そして、各フリーフローコンベア用ＡＣ
Ｕを介して電子機器の複数種類の検査項目を順次検査す
るというシステムである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述したフリーフロー
コンベア用ＡＣＵのピンは、ピン数が１００ピン程度と
多く、ピン径も１ｍｍ程度と細いため、耐久性に欠け
る。このため、フリーフローコンベアＡＣＵのメンテナ
ンスの工数が掛かり過ぎるという欠点がある。さらに、
専用のパレットが多数必要になるため、製作費用やメン
テナンス工数が増大するという欠点がある。

【０００５】また、フリーフローコンベアＡＣＵシステ
ムでは、検査を流れ作業で行うため、同一規格の電子機
器に対しては作業効率が高いが、規格が異なる電子機器
に対しては作業効率が低くなる。そこで、近年は規格が
異なる電子機器に対する検査をバッチ作業で行う例えば
ワークセルが使用されるようになったが、フリーフロー
コンベア用ＡＣＵはコンベアと一体で設計されているた
め、フリーフローコンベア用ＡＣＵをそのままワークセ
ルに適用することができないという欠点がある。

【０００６】本発明は、上述した事情から成されたもの
であり、電子機器の検査を低コストかつ高効率で行うこ
とができる検査中継システムを提供することを目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、電子機器と、前記電子機器の複数種類の検査項
目をそれぞれ検査する複数の検査装置との接続を中継す
る検査中継システムであって、前記電子機器と接続可能
な中継ケーブルと、前記検査装置と接続可能で、かつ前
記中継ケーブルと接続可能な中継器とを備え、前記各検
査装置に前記中継器をそれぞれ接続しておき、前記電子
機器に前記中継ケーブルを接続し、この中継ケーブルを
前記各中継器に順次接続して前記検査項目を順次検査す
ることにより達成される。

【０００８】上記構成によれば、中継器に抜き差し可能
な中継ケーブルを別体とし、中継器と検査装置を接続し
ておくと共に、中継ケーブルと電子機器とを接続してお
き、順次検査するようにしているので、電子機器の検査
を低コストかつ高効率で行うことができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。

【００１０】図１は、本発明の検査中継システムの実施
形態を示す概略斜視図である。この検査中継システム１
００は、電子機器と、この電子機器の複数種類の検査項
目をそれぞれ検査する複数の検査装置との接続を中継す
るワークセルＡＣＵシステムである。検査中継システム
１００は、電子機器と接続可能な中継ケーブル１１０
と、検査装置と接続可能で、かつ中継ケーブル１１０と
接続可能な中継器１５０とを備えている。

【００１１】中継ケーブル１１０は、電子機器の端子と
接続可能な機器用接続端子１２０と、検査用端子が形成
された中継基板１３０とが、ケーブル１４０により接続
された構成となっている。中継器１５０は、検査装置の
端子と接続可能な装置用接続端子１６０と、中継基板１
３０を抜き差し可能であり、差し込まれた中継基板１３
０の検査用端子と接触・離脱可能な中継部１７０とが、
ケーブル１９０により接続された構成となっている。

【００１２】このような構成の検査中継システム１００
を使用する場合は、各検査装置に中継器１５０の装置用
接続端子１６０をそれぞれ接続しておき、電子機器に中
継ケーブル１１０の機器用接続端子１２０を接続し、こ
の中継ケーブル１１０の中継基板１３０を各中継器１５
０の中継部１７０に順次差し込んで接続して検査項目を
順次検査する。

【００１３】図２〜図４は、電子機器としてビデオカメ
ラを検査する場合の検査中継システム１００の詳細例を
示す図である。図２は、中継ケーブル１１０の詳細を示
す平面図、図３は、中継器１５０の詳細を示す分解斜視
図、図４（Ａ）及び（Ｂ）は、中継器１５０の主要部の
さらに詳細を示す平面図及び側面図である。

【００１４】図２に示すように、中継ケーブル１１０の
機器用接続端子１２０としては、ビデオカメラに設けら
れている各端子に接続される端子が配設されている。こ
の例では、映像端子１２１、ＬＲ音声端子１２２、１２
３、制御（ＬＡＮＣ）端子１２４、Ｓ（ｓｅｐａｒｅｔ
ｅ）映像端子１２５、電源端子１２６等である。これら
の各端子１２１〜１２６から延びるコード１２１ａ〜１
２６ａは、ケーブル１４０として束ねられている。

【００１５】一方、矩形状の中継基板１３０の一表面に
は、円形状の検査用端子１３１及び矩形状のランド１３
２が、マトリクス状にそれぞれ２０個形成され、さらに
各検査用端子１３１と各ランド１３２をつなぐ引出線１
３３が形成されている。この中継基板１３０は、エポキ
シ樹脂等の絶縁材料で作成されており、検査用端子１３
１、ランド１３２及び引出線１３３は、銅箔等の導電性
材料でエッチング等により形成されている。そして、ケ
ーブル１４０の一端で各コード１２１ａ〜１２６ａ内の
信号線１２１ｂ〜１２６ｂが引き出され、基板１３０に
設けられている各ランド１３２にそれぞれ半田接続され
ている。

【００１６】従って、中継器１５０の中継部１７０への
中継基板１３０の差し込み方向は、図示矢印方向、即ち
検査用端子１３１の形成側からとなる。尚、この例では
ランド１３２は２０個形成されているのに対し、各コー
ド１２１ａ〜１２６ａ内の信号線は１５本であり、５個
のランド１３２がブランクとなっている。これは、信号
線が２０本程度有る他の電子機器の検査にも中継基板１
３０を使用可能にするためである。

【００１７】図３に示すように、中継器１５０の中継部
１７０は、大略的にはベース１７１上の四方の角に固定
された各２個ずつのエアシリンダ１７２及びリニアガイ
ド１７３を介して可動部１８０が取り付けられ、それら
に筐体１７４が被せられた構成となっている。

【００１８】このベース１７１及び筐体１７４は、アル
マイトにより作成されている。ベース１７１の上面の略
中央には、中継基板１３０の差し込み側の寸法より若干
大きい凹部１７１ａが設けられており、この凹部１７１
ａと可動部１８０の間が中継基板１３０の抜き差し部と
して形成されている。そして、筐体１７４の側面には、
中継基板１３０の抜き差し部に対応するように開口部１
７４ａが設けられている。

【００１９】可動部１８０は、差し込まれた中継基板１
３０を挟持・開放すると共に、中継基板１３０の検査用
端子１３１と電気的に接触・離脱する部位である。この
可動部１８０は、可動プレート１８１の下面にピンプレ
ート１８２が密着して取り付けられ、ピンプレート１８
２の下方に押えプレート１８３が間隙をあけて取り付け
られている。

【００２０】可動プレート１８１の下面の隣り合わない
２つの角には、各エアシリンダ１７２のシャフト１７２
ａ及び各リニアガイド１７３のガイド１７３ａが固定さ
れ、対応するベース１７１上の四方の角に、各エアシリ
ンダ１７２の本体１７２ｂ及び各リニアガイド１７３の
シャフト１７３ｂが固定されている。このように対角線
上にエアシリンダ１７２及びリニアガイド１７３を配置
することにより、可動部１８０をベース１７１に対して
スムーズに、かつ高精度に平行移動させることが可能と
なる。

【００２１】ピンプレート１８２の上面には、矩形状の
基板１８４が固定されている。この基板１８４の一表面
には、図４に示すように、中継ケーブル１１０の中継基
板１３０の各検査用端子１３１と対応する円形状の中継
端子１８４ａが、マトリクス状に２０個形成されてい
る。さらに、ケーブル１９０を接続するためのコネクタ
１８４ｂが一端に固定され、各中継端子１８４ａとコネ
クタ１８４ｂをつなぐ引出線１８４ｃが形成されてい
る。

【００２２】この中継基板１８４は、エポキシ樹脂等の
絶縁材料で作成されており、中継端子１８４ａ及び引出
線１８４ｃは、銅箔等の導電性材料でエッチング等によ
り形成されている。各中継端子１８４ａの形成部には、
基板１８４からピンプレート１８２にかけて貫通する３
個の貫通孔がそれぞれ設けられている。そして、各貫通
孔内にはコンタクトピン用スリーブ１８５が、基板１８
４の上面から突き出るように貫通固定され、各コンタク
トピン用スリーブ１８５内にはバネ等により伸縮可能な
コンタクトピン１８６が、ピンプレート１８２の下面か
ら突き出るように固定されている。

【００２３】可動プレート１８１の略中央には、基板１
８４の外形寸法より大きい寸法の開口部１８１ａが設け
られており、ピンプレート１８２の上面を可動プレート
１８１の下面に密着固定する際に、突出しているコンタ
クトピン用スリーブ１８５やコネクタ１８４ｂを含む基
板１８４が開口部１８１ａ内に収まるようになってい
る。尚、この例では１つの中継端子１８４ａに対して３
本のコンタクトピン１８６を配置したが、これは何れか
のコンタクトピン１８６が不良になったときでもコンタ
クト不良を起さないようにするためである。従って、１
本あるいは複数本のコンタクトピン１８６を配置するよ
うにしてもよい。

【００２４】押えプレート１８３は、四方の角にそれぞ
れ立設されているスライド用ネジ１８７が、圧縮コイル
バネ１８８を介して、可動プレート１８１及びピンプレ
ート１８２を貫通する貫通孔１８１ｂ内に挿入され係止
されている。また、押えプレート１８３には、各コンタ
クトピン１８６に対応する貫通孔１８３ａが設けられて
いる。これにより、各コンタクトピン１８６の先端部
は、各貫通孔１８３ａ内に挿入状態にあるので、押えプ
レート１８３は、各コンタクトピン１８６に影響されず
に、スライド用ネジ１８７をガイドとしてベース１７１
に対して独立で平行移動させることが可能となる。

【００２５】ベース１７１の凹部１７１ａ上であって、
押えプレート１８３の略中央後部には、マイクロスイッ
チ１７５が配置固定されている。また、ベース１７１上
であって、可動部１８０の右後部には、電磁バルブ１７
６が配置固定されている。マイクロスイッチ１７５は電
磁バルブ１７６と電気接続されており、マイクロスイッ
チ１７５のオン・オフにより、電磁バルブ１７６が切替
えられるように構成されている。電磁バルブ１７６は図
示しないエアー配管及び各エアシリンダ１７２と配管接
続されており、電磁バルブ１７６の切替により、各エア
シリンダ１７２のシャフト１７２ａが伸縮するように構
成されている。

【００２６】このような構成において、その具体的動作
例を図５〜図８の概略図を参照して説明する。オペレー
タは、中継部１７０に装備されている図示しない電源ス
イッチをオンし、図５に示すように、中継基板１３０を
筐体１７４の開口部１７４ａから凹部１７１ａに沿って
挿入する。そして、図６に示すように、中継基板１３０
の挿入先端部がマイクロスイッチ１７５に接触したら、
中継基板１３０の挿入を停止する。

【００２７】この接触により、マイクロスイッチ１７５
がオンされて、図７に示すように、各エアシリンダ１７
２のシャフト１７２ａが縮む方向に電磁バルブ１７６が
切替えられる。この各エアシリンダ１７２の作動によ
り、可動部１８０全体は、各リニアガイド１７３のガイ
ド１７３ａに案内されて降下する。この可動部１８０の
降下途中で、押えプレート１８３の下面が中継基板１３
０の上面に接触すると、押えプレート１８３は、各スラ
イド用ネジ１８７に案内されて上昇する。このとき、各
圧縮コイルバネ１８８は圧縮される。

【００２８】そして、この押えプレート１８３の上昇と
可動部１８０の降下に伴い、各コンタクトピン１８６の
先端部が、各貫通孔１８３ａ内で中継基板１３０の各検
査用端子１３１に接触した状態で、各コンタクトピン１
８６は上昇する。これにより、各コンタクトピン１８６
の先端部と中継基板１３０の各検査用端子１３１との接
触が確保されることになる。そして、可動部１８０全体
の下降が完全停止した段階で、所定の検査を行う。

【００２９】検査終了後、オペレータは、電源スイッチ
をオフする。これにより、マイクロスイッチ１７５がオ
フされて、図８に示すように、各エアシリンダ１７２の
シャフト１７２ａが伸びる方向に電磁バルブ１７６が切
替えられる。この各エアシリンダ１７２の作動により、
可動部１８０全体は、各リニアガイド１７３のガイド１
７３ａに案内されて上昇する。この可動部１８０の上昇
途中で、押えプレート１８３の下面は中継基板１３０の
上面から離れ、押えプレート１８３は、各圧縮コイルバ
ネ１８８の復元力により各スライド用ネジ１８７に案内
されて下降する。そして、可動部１８０全体の上昇が完
全停止した段階で、オペレータは、中継基板１３０を筐
体１７４の開口部１７４ａから抜き、同様に次の検査を
行う。

【００３０】

【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば、
電子機器の検査を低コストかつ高効率で行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の検査中継システムの実施形態を示す概
略斜視図。

【図２】図１の検査中継システムの中継ケーブルの詳細
を示す平面図。

【図３】図１の検査中継システムの中継器の詳細を示す
分解斜視図。

【図４】図１の検査中継システムの中継器の主要部のさ
らに詳細を示す平面図及び側面図。

【図５】図１の検査中継システムの中継器の具体的動作
例を示す第１の概略図。

【図６】図１の検査中継システムの中継器の具体的動作
例を示す第２の概略図。

【図７】図１の検査中継システムの中継器の具体的動作
例を示す第３の概略図。

【図８】図１の検査中継システムの中継器の具体的動作
例を示す第４の概略図。

【符号の説明】 １００・・・検査中継システム、１１０・・・中継ケー
ブル、１２０・・・機器用接続端子、１２１・・・映像
端子、１２２、１２３・・・ＬＲ音声端子、１２４・・
・制御（ＬＡＮＣ）端子、１２５・・・Ｓ（ｓｅｐａｒ
ｅｔｅ）映像端子、１２６・・・電源端子、１２１ａ〜
１２６ａ・・・コード、１３０・・・中継基板、１３１
・・・検査用端子、１３２・・・ランド、１３３・・・
引出線、１４０・・・ケーブル、１５０・・・中継器、
１６０・・・装置用接続端子、１７０・・・中継部、１
７１・・・ベース、１７１ａ・・・凹部、１７２・・・
エアシリンダ、１７３・・・リニアガイド、１７４・・
・筐体、１７４ａ・・・開口部、１７５・・・マイクロ
スイッチ、１７６・・・電磁バルブ、１８０・・・可動
部、１８１・・・可動プレート、１８２・・・ピンプレ
ート、１８３・・・押えプレート、１８３ａ・・・貫通
孔、１８４・・・基板、１８４ａ・・・中継端子、１８
４ｂ・・・コネクタ、１８５・・・コンタクトピン用ス
リーブ、１８６・・・コンタクトピン、１８７・・・ス
ライド用ネジ、１８８・・・圧縮コイルバネ、１９０・
・・ケーブル

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子機器と、前記電子機器の複数種類の
   検査項目をそれぞれ検査する複数の検査装置との接続を
   中継する検査中継システムであって、 前記電子機器と接続可能な中継ケーブルと、 前記検査装置と接続可能で、かつ前記中継ケーブルと接
   続可能な中継器とを備え、 前記各検査装置に前記中継器をそれぞれ接続しておき、
   前記電子機器に前記中継ケーブルを接続し、この中継ケ
   ーブルを前記各中継器に順次接続して前記検査項目を順
   次検査することを特徴とする検査中継システム。
2. 【請求項２】 前記中継ケーブルが、前記電子機器の端
   子と接続可能な機器用接続端子と、検査用端子が形成さ
   れた中継基板と、前記機器用接続端子と前記中継基板の
   検査用端子とを接続するケーブルとを有する請求項１に
   記載の検査中継システム。
3. 【請求項３】 前記電子機器が、ビデオカメラであり、
   前記機器用接続端子が、映像端子、音声端子、制御端
   子、電源端子である請求項２に記載の検査中継システ
   ム。
4. 【請求項４】 前記中継器が、前記検査装置の端子と接
   続可能な装置用接続端子と、前記中継基板を抜き差し可
   能であり、差し込まれた前記中継基板の検査用端子と接
   触・離脱可能な中継部と、前記装置用接続端子と前記中
   継部とを接続するケーブルとを有する請求項１に記載の
   検査中継システム。
5. 【請求項５】 前記中継部が、差し込まれた前記中継基
   板を挟持・開放可能なプレ−ト及び前記プレートに固定
   されており、差し込まれた前記中継基板の検査用端子と
   接触・離脱可能なピンを有する請求項４に記載の検査中
   継システム。