JP2000113117A - カード処理方法およびカード処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 投受光器の光軸や、投受光器と穿孔器の間
隔、穿孔器の軸等を高精度に合わせる作業をしないで
も、パンチ穴検出および穿孔処理を正確に行えるように
する。 【解決手段】 予め規定位置にパンチ孔があけられてい
る第１の校正用カードに対するパンチ孔の位置検出によ
ってパンチ孔の検出誤差を求め（Ｓ３１〜Ｓ４２）、第
２の校正用カードに対する規定位置への穿孔およびその
パンチ孔位置の検出により穿孔誤差を求め（Ｓ４３〜Ｓ
６２）、これらの誤差情報によって実際の処理対象のカ
ードに対するパンチ孔の検出位置を補正し、穿孔目標位
置を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリペイド方式の
カードに対してパンチ孔の穿孔処理を行うカード処理装
置において、パンチ孔の検出および穿孔の位置精度を向
上させるための技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】プリベイドカードによって商品を購入し
たりサービスを受けた場合、カードの価値情報が購入商
品やサービスの代金分だけ減額更新されるとともに、カ
ードの残額に対応した位置にパンチ孔があけられて返却
される。

【０００３】図６は、このようなプリペイドカードに対
する価値情報の更新とパンチ孔穿孔処理を行うカード処
理装置１０の構成を示している。

【０００４】カード処理装置１０は、カードを受け入れ
て搬送するためのカード搬送路１１を有し、その一端側
にカード挿入口１２が設けられており、カード搬送路１
１に設けられたローラ１３ａ、１３ｂ間に搬送ベルト１
４が掛け渡され、モータ１５によって搬送ベルト１４を
駆動することにより、カード挿入口１２に挿入されたカ
ード１を引き込んだり戻したりできるようになってい
る。

【０００５】カード搬送路１１には、カード搬送路１１
を挟むように対向しカードのエッジおよびパンチ孔を検
出するための第１のセンサとしての投光器１６ａと受光
器１６ｂ、カードにパンチ孔をあけるための穿孔器１７
およびカードに対する磁気情報の読み書きを行うための
磁気ヘッド１８がそれぞれ所定位置に配置されている。
なお、受光器１６ｂは、入力する光の強度に応じたレベ
ルの信号を受光素子（図示せず）から出力し、この受光
信号を所定のしきい値と比較して２値化した信号を出力
する。

【０００６】また、モータ１５（またはローラ１３）に
は、カードの位置の変化に応じた信号を出力するための
第２のセンサとしてロータリエンコーダ１９が連結され
ている。

【０００７】読み書き回路２０は、磁気ヘッド１８の再
生信号をディジタル信号に変換して制御部２５に出力
し、制御部２５から出力されるディジタルの情報を記録
信号に変換してカードの記録面に記録する。

【０００８】制御部２５は、読み書き回路２０で再生さ
れた価値情報、受光器１６ｂ、ロータリエンコーダ１９
の出力および取引のための減額処理等を行う他装置２か
らの更新価値情報等に基づいてモータ１５および穿孔器
１７をドライバ２１、２２を介して制御し、カードの判
定、価値情報の更新、穿孔処理を行う。

【０００９】制御部２５は、例えば図７に示すフローチ
ャートにしたがってこのカード処理装置１０を制御す
る。

【００１０】即ち、処理対象のカードの挿入が検知され
ると、モータ１５を引き込み方向（正転方向とする）に
駆動してカードをカード搬送路１１内に引き込み、受光
器１６ｂの出力からカードの先端が検知されると、ロー
タリエンコーダ１９の出力信号の計数およびカードの価
値情報の読み出しを開始する（Ｓ１〜Ｓ４）。

【００１１】そしてこの搬送中にパンチ孔が検出された
ときにはそのときの計数値をパンチ孔の位置を示す情報
として記憶する（Ｓ５、Ｓ６）。なお、ロータリエンコ
ーダ１９の出力信号に対する計数は、カードの先端が検
知されたときに計数値を「０」とし、モータ１５がカー
ドを引き込む方向（正転方向）に回転している間は増加
させ、モータ１５がカードを戻す方向に回転している間
は減少させる。

【００１２】引き込まれたカードがカード搬送路１１の
奥端（ホームポジション）に達する（計数値が所定値Ｍ
に達する）とモータ１５を停止させ、検出したパンチ孔
の数および位置がカードから読み取った価値情報に対応
しているか否かを判定し、対応していなければ、モータ
１５を逆転してカードを挿入口１２まで搬送してモータ
１５を停止させる（Ｓ７〜Ｓ１２）。

【００１３】また、検出したパンチ孔の数および位置が
カードから読み取った価値情報に対応していれば、その
価値情報を他装置へ送出し、他装置側からの返却指令ま
たは更新価値情報の入力を待つ（Ｓ１３〜Ｓ１５）。

【００１４】ここで、他装置２から更新価値情報が入力
されると、モータ１５を逆転してカードを挿入口１２側
へ搬送し更新価値情報をカードに書き込む（Ｓ１６、Ｓ
１７）。

【００１５】そして、カードの先端が受光器１６ｂに検
知されると、このカードに新たにパンチ孔をあける必要
があるか否かを判定し、必要がない場合には処理Ｓ１１
へ移行してカードを返却し、必要がある場合にはモータ
１５を正転させてカードの穿孔目標位置が穿孔器１７の
位置に達するまでカードを搬送し、モータ１５を停止し
てから穿孔器１７を駆動する（Ｓ１８〜Ｓ２３）。

【００１６】なお、カードの穿孔目標位置は、予め設定
された価値情報範囲にそれぞれ対応した規定位置であ
り、各規定位置はカードの例えば先端位置からの距離で
表されるものとし、ロータリエンコーダ１９が単位距離
当り１つの信号を出力するものとすれば、計数値が投受
光器１６の光軸から穿孔器１７の穿孔軸までの距離Ｌｘ
とカードの先端から穿孔目標位置までの距離とを加えた
値に等しくなったときに、カードが穿孔位置にあるもの
としている。

【００１７】また、複数のパンチ孔をあける必要がある
場合には処理Ｓ２１に戻り、穿孔が終了したときには、
処理Ｓ１０に戻ってカードを返却する（Ｓ２４）。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】前記したように、カー
ドの判定をパンチ孔の位置に基づいて行うカード処理装
置では、パンチ孔の検出誤差および穿孔誤差が大きいと
正常なカードを読み取ったときに誤って不正カードと判
定したり、更新した情報と対応しない位置にパンチ孔を
あけてそのカードを使用不能にしてしまう恐れがある。

【００１９】パンチ孔の検出誤差および穿孔誤差は、投
光器１６ａの光量のばらつき、受光器１６ｂの受光感度
の応答時間のばらつき、投受光器の光軸のずれ、投受光
器と穿孔器の間隔のばらつき、穿孔器の軸の位置や傾き
のばらつき等に起因して生じる。

【００２０】このため、従来ではカード処理装置の製造
過程において、投光器として発光量が近似したものを選
別して用い、受光器として受光感度や応答特性が近似し
たもの選別して用いるとともに、カード処理装置毎に投
受光器の光軸や、投受光器と穿孔器の間隔、穿孔器の軸
等を高精度に合わせるというきわめて煩雑な作業が必要
であった。

【００２１】本発明は、この問題を解決したカード処理
方法およびカード処理装置を提供することを目的してい
る。

【００２２】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１のカード処理方法は、予め規定位
置にパンチ孔があけられた第１の校正用カードを受け入
れて搬送し、該第１の校正用カードのパンチ孔の位置を
検出する段階と、検出した第１の校正用カードのパンチ
孔の位置と前記規定位置との差からパンチ孔の検出誤差
を求める段階と、パンチ孔があけられていない第２の校
正用カードを受け入れて搬送し、該第２の校正用カード
に前記規定位置を目標にしてパンチ孔をあける段階と、
第２の校正用カードを搬送して該第２の校正用カードに
あけたパンチ孔の位置を検出する段階と、検出した第２
の校正用カードのパンチ孔の位置、前記検出誤差および
前記規定位置とからパンチ孔の穿孔誤差を求める段階
と、処理対象カードを受け入れて搬送し、該処理対象カ
ードにあけられているパンチ孔の位置を検出する段階
と、検出した処理対象カードのパンチ孔の位置を前記検
出誤差によって補正する段階と、処理対象カードに対し
て指定された穿孔位置を前記穿孔誤差によって補正し、
該補正した穿孔位置を目標にパンチ孔をあける段階とを
含んでいる。

【００２３】また、本発明の請求項２のカード処理装置
は、カードを受け入れて搬送するためのカード搬送路
と、前記カード搬送路に設けられ、該カード搬送路の所
定位置を受け入れたカードのエッジおよびパンチ孔が通
過するタイミングを検出するための第１のセンサと、前
記カード搬送路に設けられ、該カード搬送路内に受け入
れたカードにパンチ孔をあけるための穿孔器と、前記カ
ード搬送路内のカードの位置の変化に応じた信号を出力
する第２のセンサと、予め規定位置にパンチ孔があけら
れている第１の校正用カードを前記カード搬送路に受け
入れて搬送し、該第１の校正用カードのパンチ孔の位置
を前記第１、第２のセンサの信号に基づいて検出する第
１のパンチ孔位置検出手段と、前記第１のパンチ孔位置
検出手段によって検出されたパンチ孔の位置と前記規定
位置との差を検出誤差として算出する検出誤差算出手段
と、前記検出誤差算出によって算出された検出誤差を記
憶する第１のメモリと、パンチ孔があけられていない第
２の校正用カードを前記カード搬送路に受け入れて搬送
し、前記第２の校正用カードに前記規定位置を目標にパ
ンチ孔をあける第１の穿孔手段と、前記第２の校正用カ
ードを搬送して、該第２の校正用カードにあけられたパ
ンチ孔の位置を前記第１、第２のセンサの信号に基づい
て検出する第２のパンチ孔位置検出手段と、前記第２の
パンチ孔位置検出手段によって検出されたパンチ孔の位
置、前記第１のメモリに記憶された検出誤差および前記
規定位置に基づいて、前記第２の校正用カードにあけら
れたパンチ孔の実際の位置と前記規定位置との差を穿孔
誤差として算出する穿孔誤差算出手段と、前記穿孔誤差
算出手段によって算出された穿孔誤差を記憶する第２の
メモリと、処理対象カードを前記カード搬送路に受け入
れて搬送し、該処理対象カードのパンチ孔の位置を前記
第１、第２のセンサの信号に基づいて検出する第３のパ
ンチ孔位置検出手段と、前記第３のパンチ孔位置検出手
段によって検出されたパンチ孔の位置を前記第１のメモ
リに記憶されている検出誤差によって補正する検出位置
補正手段と、カード搬送路に受け入れた処理対象カード
に対して指定された穿孔位置を前記第２のメモリに記憶
されている穿孔誤差によって補正する穿孔目標位置補正
手段と、カード搬送路に受け入れた処理対象カードに対
して前記穿孔目標位置補正手段によって補正された穿孔
位置を目標にパンチ孔をあける第２の穿孔手段とを備え
ている。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態を説明する。図１は、実施形態のカード処理装置
３０の構成を示している。なお、図１のカード処理装置
３０は、図６に示した従来のカード処理装置１０と制御
部２５の機能以外は同一なので、機構部および読み書き
回路２０、ドライバ２１、２２については、同一符号を
付して説明を省略する。

【００２５】実施形態のカード処理装置３０の制御部３
５は、校正モードと通常モードの２つの処理モードを有
しており、例えば、外部から特定のコマンドを受信した
り、挿入されたカードに特定の情報が記録されていた
り、あるいは、図示しないディップスイッチの操作によ
って通常モードから校正モードに切り換わる。

【００２６】校正モード時には、図２に示すように予め
規定位置（カードの挿入側のエッジからの距離）Ｌｒ
１、Ｌｒ２、…、Ｌｒｋ（ここではｋ＝７）にパンチ孔
Ｐ１、Ｐ２、…、Ｐｋが正確にあけられている第１の校
正用カード６０と、図３に示すようにパンチ孔が全くあ
けられていない第２の校正用カード７０とを用いる。制
御部３５は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭおよびシリアルイ
ンタフェース等からなるマイクロコンピュータによって
構成されており、ＲＯＭには前記規定位置Ｌｒ１、Ｌｒ
２、…、Ｌｒｋと各規定位置に対応する価値情報の範囲
とが予め記憶されている。

【００２７】図４、図５は制御部３５の処理手順を示す
フローチャートである。以下、これらのフローチャート
に基づいて実施形態のカード処理装置の動作を説明す
る。

【００２８】例えば、外部から特定のコマンドによって
校正モードが指定された後に、図４に示しているよう
に、第１の校正用カード６０が挿入されると、第１の校
正用カード６０をカード搬送路１１内に引き込み、その
カードの先端が検出されてからロータリエンコーダ１９
の信号の計数を開始する（Ｓ３１〜Ｓ３４）。

【００２９】そして、カードのパンチ孔Ｐ１、Ｐ２、
…、Ｐｋの位置を計数値により検出し、カードがホーム
ポジションに達するとモータを停止して、各パンチ孔Ｐ
１、Ｐ２、…、Ｐｋの検出位置Ｌａ１、Ｌａ２、…、Ｌ
ａｋと規定位置Ｌｒ１、Ｌｒ２、…、Ｌｒｋとから、パ
ンチ孔毎の検出誤差Δ１、Δ２、…、Δｋを次式のよう
に求めてメモリ（例えばバッテリでバックアップされた
ＳＲＡＭ）に記憶してから、モータ１５を逆転してカー
ドを返却する（Ｓ３５〜Ｓ４２）。

【００３０】 Δ１＝Ｌａ１−Ｌｒ１ Δ２＝Ｌａ２−Ｌｒ２ ……… Δｋ＝Ｌａｋ−Ｌｒｋ

【００３１】なお、ここで、求めた検出誤差Δ１、Δ
２、…、Δｋが許容値α以内であるか否かを判定し、許
容値αより大きいときには、ブザー音や発光素子の発光
によって異常を報知してカードを返却するようにしても
よい。

【００３２】次に、第２の校正用カード７０が挿入され
ると、この第２の校正用カード７０をカード搬送路１１
内に引き込みながら、穿孔目標位置として規定位置Ｌｒ
１、Ｌｒ２、…、Ｌｒｋを指定して穿孔処理を行う（Ｓ
４５〜Ｓ５１）。

【００３３】次に、第２の校正用カード７０をカード挿
入口１２側に一旦戻してから再度ホームポジションまで
引き込みながら、穿孔したパンチ孔の位置を検出する
（Ｓ５２〜Ｓ５８）。

【００３４】そして、その検出位置Ｌｂ１、Ｌｂ２、
…、Ｌｂｋ、規定位置Ｌｒ１、Ｌｒ２、…、Ｌｒｋおよ
び検出誤差Δ１、Δ２、…、Δｋから各パンチ孔毎の穿
孔誤差Δ′１、Δ′２、…、Δ′ｋを次式のように算出
してメモリ（例えばバッテリでバックアップされたＳＲ
ＡＭ）に記憶し、第２の校正用カード７０を返却する
（Ｓ５９〜Ｓ６２）。

【００３５】 Δ′１＝Ｌｂ１−Ｌｒ１−Δ１ Δ′２＝Ｌｂ２−Ｌｒ２−Δ２ ……… Δ′ｋ＝Ｌｂｋ−Ｌｒｋ−Δｋ

【００３６】なお、ここで、算出した各穿孔誤差が許容
値β以内にあるか否かを判定し、穿孔誤差Δ′１、Δ′
２、…、Δ′ｋが許容値βより大きいときに、ブザー音
や発光素子の発光によって異常を報知してカードを返却
するようにしてもよい。

【００３７】以上の処理により、このカード処理装置３
０のパンチ孔検出位置の誤差および穿孔位置の誤差が検
出されてメモリに記憶保持され、通常モード時にこれら
の誤差分の補正を行うことで、カードのパンチ孔の位置
を正確に検出することができ、カードの正しい位置にパ
ンチ孔をあけることができる。

【００３８】即ち、図５に示すように、通常モード時に
例えばパンチ孔があけられている処理対象カードが挿入
されると、前記同様にこのカードをホームポジションま
で引き込みながら、価値情報の読み取りとパンチ孔の位
置を検出する（Ｓ６１〜Ｓ６８）。

【００３９】そして、検出したパンチ孔位置Ｌｃｉを検
出誤差Δｉによって補正（Ｌｃｉ−Δｉ）し、検出した
パンチ孔の数および補正したパンチ孔位置Ｌｄｉが、カ
ードから読み取った価値情報に対応しているか否かを判
定し、対応していなければそのカードを不正カードとし
て返却する（Ｓ６９〜Ｓ７３）。

【００４０】また、検出したパンチ孔の数および補正し
たパンチ孔位置Ｌｄｉが、カードから読み取った価値情
報に対応していれば、その価値情報を他装置２へ出力
し、他装置からの返却指令または更新価値情報の入力を
待つ（Ｓ７４〜Ｓ７６）。

【００４１】ここで、取引により減算された更新価値情
報が他装置２から入力されると、カードを挿入口方向へ
戻しながら更新価値情報をカードに記録する（Ｓ７５、
Ｓ７８）。

【００４２】そして、カードの先端が検出されると、そ
の更新価値情報に対してパンチ孔をあける必要があるか
否かが判定され、必要がない場合にはカードを返却し、
パンチ孔をあける必要がある場合には、穿孔目標位置を
穿孔誤差分補正して穿孔処理を行い、カードを返却する
（Ｓ７９〜Ｓ８６）。

【００４３】このように、実施形態のカード処理装置３
０では、第１の校正用カード６０に対するパンチ孔の位
置検出によりその検出誤差を求めてメモリに記憶し、第
２の校正用カード７０に対する穿孔およびそのパンチ孔
位置の検出により穿孔誤差を求めてメモリに記憶し、こ
れらの誤差情報によって実際の処理対象カードに対する
パンチ孔の検出位置および穿孔目標位置を補正してい
る。

【００４４】このため、投光器１６ａの光量のばらつ
き、受光器１６の受光感度の応答時間のばらつき、投受
光器の光軸のずれ、投受光器と穿孔器の間隔のばらつ
き、穿孔器の軸の位置や傾きのばらつき等が多少あって
も、投受光器の選別や厳密な修正作業を行うことなく、
カードのパンチ孔位置検出および穿孔を正確に行うこと
ができ、正常なカードを不正カードと誤って判定した
り、更新した情報と対応しない位置にパンチ孔をあけて
そのカードを使用不能にする恐れがなくなる。

【００４５】なお、前記実施形態では、第１の校正用カ
ードおよび第２の校正用カードに対するパンチ孔の位置
検出を一回ずつ行っていたが、第１の校正用カードのパ
ンチ孔を複数回検出してその検出値の平均値演算等によ
って求めた値から検出誤差を算出したり、複数枚の第２
の校正用カードに規定位置を目標として穿孔し、その穿
孔したパンチ孔の検出位置の平均値によって穿孔誤差を
求めるようにしてもよい。

【００４６】また、前記実施形態では、第１の校正用カ
ードのパンチ孔位置検出を行ってから、第２の校正用カ
ードに対する穿孔処理と穿孔したパンチ孔の位置検出処
理を行うようにしていたが、逆に、第２の校正用カード
に対する穿孔処理と穿孔したパンチ孔の位置検出処理を
行ってから第１の校正用カードのパンチ孔位置検出を行
ってもよい。

【００４７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、予め
規定位置にパンチ孔があけられている第１の校正用カー
ドに対するパンチ孔の位置検出によってパンチ孔の検出
誤差を求め、第２の校正用カードに対する規定位置への
穿孔およびそのパンチ孔位置の検出により穿孔誤差を求
め、これらの誤差情報によって実際の処理対象のカード
に対するパンチ孔の検出位置を補正し、穿孔目標位置を
補正している。

【００４８】このため、投光器の光量のばらつき、受光
器の受光感度の応答時間のばらつき、投受光器の光軸の
ずれ、投受光器と穿孔器の間隔のばらつき、穿孔器の軸
の位置や傾きのばらつき等が多少あっても、投受光器の
選別や厳密な修正作業を行うことなく、カードのパンチ
孔位置検出および穿孔を正確に行うことができ、正常な
カードを不正カードと誤って判定したり、更新した情報
と対応しない位置にパンチ孔をあけてそのカードを使用
不能にする恐れがなくなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態の構成図

【図２】実施形態で使用する第１の校正用カードを示す
図

【図３】実施形態で使用する第２の校正用カードを示す
図

【図４】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャー
ト

【図５】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャー
ト

【図６】従来装置の構成図

【図７】従来装置の要部の処理手順を示すフローチャー
ト

【符号の説明】

１１ カード搬送路 １２ カード挿入口 １３ａ、１３ｂ ローラ １４ 搬送ベルト １５ モータ １６ａ 投光器 １６ｂ 受光器 １７ 穿孔器 １８ 磁気ヘッド １９ ロータリエンコーダ ３０ カード処理装置 ３５ 制御部

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１０年１１月１３日（１９９８．１１．
１３）

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図３】

【図６】

【図１】

【図２】

【図４】

【図５】

【図７】

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 只野 宏行 福島県郡山市字道場301番地 東北アンリ ツ株式会社内 Ｆターム(参考） 3E044 AA20 BA04 BA06 CA05 CA10 CB05 CC06 CC10 DA03 DA10 DB02 DC05 DD04 EA06 EB01 5B058 CA31 CA40 KA12 KA27 YA06

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】予め規定位置にパンチ孔があけられた第１
   の校正用カードを受け入れて搬送し、該第１の校正用カ
   ードのパンチ孔の位置を検出する段階と、 検出した第１の校正用カードのパンチ孔の位置と前記規
   定位置との差からパンチ孔の検出誤差を求める段階と、 パンチ孔があけられていない第２の校正用カードを受け
   入れて搬送し、該第２の校正用カードに前記規定位置を
   目標にしてパンチ孔をあける段階と、 第２の校正用カードを搬送して該第２の校正用カードに
   あけたパンチ孔の位置を検出する段階と、 検出した第２の校正用カードのパンチ孔の位置、前記検
   出誤差および前記規定位置とからパンチ孔の穿孔誤差を
   求める段階と、 処理対象カードを受け入れて搬送し、該処理対象カード
   にあけられているパンチ孔の位置を検出する段階と、 検出した処理対象カードのパンチ孔の位置を前記検出誤
   差によって補正する段階と、 処理対象カードに対して指定された穿孔位置を前記穿孔
   誤差によって補正し、該補正した穿孔位置を目標にパン
   チ孔をあける段階とを含むカード処理方法。
2. 【請求項２】カードを受け入れて搬送するためのカード
   搬送路と、 前記カード搬送路に設けられ、該カード搬送路の所定位
   置を受け入れたカードのエッジおよびパンチ孔が通過す
   るタイミングを検出するための第１のセンサと、 前記カード搬送路に設けられ、該カード搬送路内に受け
   入れたカードにパンチ孔をあけるための穿孔器と、 前記カード搬送路内のカードの位置の変化に応じた信号
   を出力する第２のセンサと、 予め規定位置にパンチ孔があけられている第１の校正用
   カードを前記カード搬送路に受け入れて搬送し、該第１
   の校正用カードのパンチ孔の位置を前記第１、第２のセ
   ンサの信号に基づいて検出する第１のパンチ孔位置検出
   手段と、 前記第１のパンチ孔位置検出手段によって検出されたパ
   ンチ孔の位置と前記規定位置との差を検出誤差として算
   出する検出誤差算出手段と、 前記検出誤差算出によって算出された検出誤差を記憶す
   る第１のメモリと、 パンチ孔があけられていない第２の校正用カードを前記
   カード搬送路に受け入れて搬送し、前記第２の校正用カ
   ードに前記規定位置を目標にパンチ孔をあける第１の穿
   孔手段と、 前記第２の校正用カードを搬送して、該第２の校正用カ
   ードにあけられたパンチ孔の位置を前記第１、第２のセ
   ンサの信号に基づいて検出する第２のパンチ孔位置検出
   手段と、 前記第２のパンチ孔位置検出手段によって検出されたパ
   ンチ孔の位置、前記第１のメモリに記憶された検出誤差
   および前記規定位置に基づいて、前記第２の校正用カー
   ドにあけられたパンチ孔の実際の位置と前記規定位置と
   の差を穿孔誤差として算出する穿孔誤差算出手段と、 前記穿孔誤差算出手段によって算出された穿孔誤差を記
   憶する第２のメモリと、 処理対象カードを前記カード搬送路に受け入れて搬送
   し、該処理対象カードのパンチ孔の位置を前記第１、第
   ２のセンサの信号に基づいて検出する第３のパンチ孔位
   置検出手段と、 前記第３のパンチ孔位置検出手段によって検出されたパ
   ンチ孔の位置を前記第１のメモリに記憶されている検出
   誤差によって補正する検出位置補正手段と、 カード搬送路に受け入れた処理対象カードに対して指定
   された穿孔位置を前記第２のメモリに記憶されている穿
   孔誤差によって補正する穿孔目標位置補正手段と、 カード搬送路に受け入れた処理対象カードに対して前記
   穿孔目標位置補正手段によって補正された穿孔位置を目
   標にパンチ孔をあける第２の穿孔手段とを備えたカード
   処理装置。