JP2000112547A5 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2000112547A5 JP2000112547A5 JP1998282462A JP28246298A JP2000112547A5 JP 2000112547 A5 JP2000112547 A5 JP 2000112547A5 JP 1998282462 A JP1998282462 A JP 1998282462A JP 28246298 A JP28246298 A JP 28246298A JP 2000112547 A5 JP2000112547 A5 JP 2000112547A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- transistor
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title description 28
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 クロック信号を発生するクロック発生手段と、
電圧が出力される電圧出力端子に、前記クロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、
前記電圧供給手段と前記電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、
昇圧ノードと、前記クロック信号に応答して前記昇圧ノードの電圧を昇圧する第1の容量素子とを含み、前記昇圧ノードの電圧を用いて前記スイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段と、
前記昇圧ノードの電圧のレベルを一定レベルにクランプするクランプ手段とを備える、半導体集積回路装置。
【請求項2】 前記駆動手段は、
電源電圧と前記昇圧ノードとの間に設けられ、前記クロック信号に応答してオン/オフする昇圧用トランジスタをさらに含み、
前記クランプ手段は、
前記昇圧ノードと前記電源電圧との間にダイオード接続されるクランプ用トランジスタを含む、請求項1記載の半導体集積回路装置。
【請求項3】 前記スイッチ手段は、
第1のPMOSトランジスタを含み、
前記駆動手段は、
前記昇圧ノードと一方の導通端子が接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタと、
前記第2のPMOSトランジスタの他方の導通端子と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第1のNMOSトランジスタと、
前記第2のPMOSトランジスタと前記第1のNMOSトランジスタとの接続ノードと、前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に接続される、前記第1の容量素子の容量より大きい第2の容量素子と、
前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第3のPMOSトランジスタとをさらに含む、請求項2記載の半導体集積回路装置。
【請求項4】 電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を発生するクロック発生手段と、
前記電源電圧を昇圧して昇圧電源電圧を出力する昇圧電源発生手段と、
電圧が出力される電圧出力端子に、前記電源電圧に対応したクロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、
前記電圧供給手段と前記電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、
前記電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を、前記昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号に変換する変換手段と、前記昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を受ける容量素子とを含み、前記容量素子のポンプ動作に基づき前記スイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段とを備える、半導体集積回路装置。
【請求項5】 前記スイッチ手段は、
第1のPMOSトランジスタを含み、
前記容量素子は、
前記変換手段の出力ノードと前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記駆動手段は、
前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタをさらに含む、請求項4記載の半導体集積回路装置。
【請求項6】 前記昇圧電源電圧は、前記電源電圧の2倍よりも小さい、請求項5記載の半導体集積回路装置。
【請求項7】 前記クロック発生手段は、
外部制御信号を受けて、内部動作を指定する内部制御信号を発生するコマンドデコーダを含み、
前記クロック発生手段は、前記クロック信号として前記内部制御信号を出力する、請求項5記載の半導体集積回路装置。
【請求項1】 クロック信号を発生するクロック発生手段と、
電圧が出力される電圧出力端子に、前記クロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、
前記電圧供給手段と前記電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、
昇圧ノードと、前記クロック信号に応答して前記昇圧ノードの電圧を昇圧する第1の容量素子とを含み、前記昇圧ノードの電圧を用いて前記スイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段と、
前記昇圧ノードの電圧のレベルを一定レベルにクランプするクランプ手段とを備える、半導体集積回路装置。
【請求項2】 前記駆動手段は、
電源電圧と前記昇圧ノードとの間に設けられ、前記クロック信号に応答してオン/オフする昇圧用トランジスタをさらに含み、
前記クランプ手段は、
前記昇圧ノードと前記電源電圧との間にダイオード接続されるクランプ用トランジスタを含む、請求項1記載の半導体集積回路装置。
【請求項3】 前記スイッチ手段は、
第1のPMOSトランジスタを含み、
前記駆動手段は、
前記昇圧ノードと一方の導通端子が接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタと、
前記第2のPMOSトランジスタの他方の導通端子と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第1のNMOSトランジスタと、
前記第2のPMOSトランジスタと前記第1のNMOSトランジスタとの接続ノードと、前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に接続される、前記第1の容量素子の容量より大きい第2の容量素子と、
前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第3のPMOSトランジスタとをさらに含む、請求項2記載の半導体集積回路装置。
【請求項4】 電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を発生するクロック発生手段と、
前記電源電圧を昇圧して昇圧電源電圧を出力する昇圧電源発生手段と、
電圧が出力される電圧出力端子に、前記電源電圧に対応したクロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、
前記電圧供給手段と前記電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、
前記電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を、前記昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号に変換する変換手段と、前記昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を受ける容量素子とを含み、前記容量素子のポンプ動作に基づき前記スイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段とを備える、半導体集積回路装置。
【請求項5】 前記スイッチ手段は、
第1のPMOSトランジスタを含み、
前記容量素子は、
前記変換手段の出力ノードと前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記駆動手段は、
前記第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、前記クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタをさらに含む、請求項4記載の半導体集積回路装置。
【請求項6】 前記昇圧電源電圧は、前記電源電圧の2倍よりも小さい、請求項5記載の半導体集積回路装置。
【請求項7】 前記クロック発生手段は、
外部制御信号を受けて、内部動作を指定する内部制御信号を発生するコマンドデコーダを含み、
前記クロック発生手段は、前記クロック信号として前記内部制御信号を出力する、請求項5記載の半導体集積回路装置。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る半導体集積回路装置であって、クロック信号を発生するクロック発生手段と、電圧が出力される電圧出力端子に、クロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、電圧供給手段と電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、昇圧ノードと、クロック信号に応答して昇圧ノードの電圧を昇圧する第1の容量素子とを含み、昇圧ノードの電圧を用いてスイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段と、昇圧ノードの電圧のレベルを一定レベルにクランプするクランプ手段とを備える。
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る半導体集積回路装置であって、クロック信号を発生するクロック発生手段と、電圧が出力される電圧出力端子に、クロック信号に応答して電圧を供給する電圧供給手段と、電圧供給手段と電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、昇圧ノードと、クロック信号に応答して昇圧ノードの電圧を昇圧する第1の容量素子とを含み、昇圧ノードの電圧を用いてスイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段と、昇圧ノードの電圧のレベルを一定レベルにクランプするクランプ手段とを備える。
請求項2に係る半導体集積回路装置は、請求項1に係る半導体集積回路装置であって、駆動手段は、電源電圧と昇圧ノードとの間に設けられ、クロック信号に応答してオン/オフする昇圧用トランジスタをさらに含み、クランプ手段は、昇圧ノードと電源電圧との間にダイオード接続されるクランプ用トランジスタを含む。
請求項3に係る半導体集積回路装置は、請求項2に係る半導体集積回路装置であって、スイッチ手段は、第1のPMOSトランジスタを含み、駆動手段は、昇圧ノードと一方の導通端子が接続され、クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタと、第2のPMOSトランジスタの他方の導通端子と、接地電圧との間に接続され、クロック信号に応答してオン/オフする第1のNMOSトランジスタと、第2のPMOSトランジスタと第1のNMOSトランジスタとの接続ノードと、第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に接続される、第1の容量素子の容量より大きい第2の容量素子と、第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、クロック信号に応答してオン/オフする第3のPMOSトランジスタとをさらに含む。
請求項4に係る半導体集積回路装置は、電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を発生するクロック発生手段と、電源電圧を昇圧して昇圧電源電圧を出力する昇圧電源発生手段と、電圧が出力される電圧出力端子に、電源電圧に対応したクロック信号に応答して電圧出力端子に電圧を供給する電圧供給手段と、電圧供給手段と電圧出力端子との間に設けられるスイッチ手段と、電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を、昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号に変換する変換手段と、昇圧電源電圧に対応した振幅をもつクロック信号を受ける容量素子とを含み、容量素子のポンプ動作に基づきスイッチ手段のオン/オフを駆動する駆動手段とを備える。
請求項5に係る半導体集積回路装置は、請求項4に係る半導体集積回路装置であって、スイッチ手段は、第1のPMOSトランジスタを含み、容量素子は、変換手段の出力ノードと第1のPMOSトランジスタのゲート電極との間に設けられ、駆動手段は、第1のPMOSトランジスタのゲート電極と、接地電圧との間に接続され、クロック信号に応答してオン/オフする第2のPMOSトランジスタをさらに含む。
請求項6に係る半導体集積回路装置は、請求項5に係る半導体集積回路装置であって、昇圧電源電圧は、電源電圧の2倍よりも小さい。
請求項7に係る半導体集積回路装置は、請求項5に係る半導体集積回路装置であって、クロック発生手段は、外部制御信号を受けて、内部動作を指定する内部制御信号を発生するコマンドデコーダを含み、クロック発生手段は、クロック信号として内部制御信号を出力する。
【0098】
【発明の効果】
以上のように、請求項1および請求項2に係る半導体集積回路装置によれば、昇圧型の電圧発生回路において、昇圧レベルを所定の値にクランプすることにより、チャージポンプ回路内のトランジスタのゲート酸化膜厚にかかる最大電界を抑えることが可能となる。この結果、低電源電圧でも高いポンプ効率で電圧を発生させるとともに、信頼性の高い回路を提供することが可能となる。
【発明の効果】
以上のように、請求項1および請求項2に係る半導体集積回路装置によれば、昇圧型の電圧発生回路において、昇圧レベルを所定の値にクランプすることにより、チャージポンプ回路内のトランジスタのゲート酸化膜厚にかかる最大電界を抑えることが可能となる。この結果、低電源電圧でも高いポンプ効率で電圧を発生させるとともに、信頼性の高い回路を提供することが可能となる。
請求項3に係る半導体集積回路装置は、請求項2に係る半導体集積回路装置であって、2段階のポンプ動作で出力トランジスタを駆動する。このとき、2つの容量素子の容量比を調整することにより、昇圧レベルを抑えることが可能となる。この結果、トランジスタのゲート酸化膜厚にかかる最大電界を抑えることが可能となる。
また、請求項4および請求項5に係る半導体集積回路装置によれば、内部回路で使用する昇圧電源電圧を用いて、昇圧電源電圧レベルの振幅をもつクロック信号を容量素子に与える。これにより、外部電源電圧の変動の影響を受けることなく、チャージポンプ動作を行なえることができる。また、トランジスタのゲート酸化膜厚にかかる最大電界を抑えることが可能となる。この結果、低電源電圧でも高いポンプ効率で電圧を発生させるとともに、信頼性の高い回路を提供することが可能となる。
請求項6に係る半導体集積回路装置は、請求項5に係る半導体集積回路装置であって、昇圧電源電圧レベルを電源電圧レベルの2倍より小さくする。これにより、トランジスタのゲート酸化膜厚にかかる最大電界を抑えることが可能となる。
請求項7に係る半導体集積回路装置は、請求項5に係る半導体集積回路装置であって、内部制御信号をチャージポンプ動作を制御するクロック信号として使用する。これにより、内部動作に併せて、電圧を効率よく発生させることが可能となる。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10282462A JP2000112547A (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 基板電圧発生回路および半導体集積回路装置 |
US09/270,053 US6316985B1 (en) | 1998-10-05 | 1999-03-16 | Substrate voltage generating circuit provided with a transistor having a thin gate oxide film and a semiconductor integrated circuit device provided with the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10282462A JP2000112547A (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 基板電圧発生回路および半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000112547A JP2000112547A (ja) | 2000-04-21 |
JP2000112547A5 true JP2000112547A5 (ja) | 2005-11-10 |
Family
ID=17652749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10282462A Pending JP2000112547A (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 基板電圧発生回路および半導体集積回路装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6316985B1 (ja) |
JP (1) | JP2000112547A (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6563746B2 (en) * | 1999-11-09 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Circuit for entering/exiting semiconductor memory device into/from low power consumption mode and method of controlling internal circuit at low power consumption mode |
IT1317720B1 (it) * | 2000-01-07 | 2003-07-15 | Chiesi Farma Spa | Dispositivo per la somministrazione di aerosol dosati pressurizzati inpropellenti idrofluoroalcani. |
KR100518399B1 (ko) | 2000-07-25 | 2005-09-29 | 엔이씨 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 내부 전압 레벨 제어 회로 및 반도체 기억 장치 및 그들의제어 방법 |
JP2002191169A (ja) | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
JP4834261B2 (ja) | 2001-09-27 | 2011-12-14 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 昇圧電源発生回路 |
KR100507701B1 (ko) * | 2001-12-06 | 2005-08-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부스트랩 회로 |
JP4257064B2 (ja) | 2002-02-21 | 2009-04-22 | エルピーダメモリ株式会社 | 昇圧電位発生回路及び制御方法 |
US7382177B2 (en) * | 2004-10-25 | 2008-06-03 | Micron Technology, Inc. | Voltage charge pump and method of operating the same |
JP2006252708A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置における電圧発生方法及び半導体記憶装置 |
KR100792370B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2008-01-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전압 발생 장치 |
US7466188B2 (en) * | 2006-12-21 | 2008-12-16 | International Business Machines Corporation | Stress control mechanism for use in high-voltage applications in an integrated circuit |
KR100904423B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2009-06-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
KR20100049758A (ko) * | 2008-11-04 | 2010-05-13 | 삼성전자주식회사 | 승압 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
WO2012107987A1 (ja) * | 2011-02-07 | 2012-08-16 | 三菱電機株式会社 | ヒートポンプ装置、ヒートポンプシステム及び三相インバータの制御方法 |
JP5836084B2 (ja) * | 2011-11-25 | 2015-12-24 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 昇圧回路、降圧回路及びスイッチ回路 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4628214A (en) | 1985-05-22 | 1986-12-09 | Sgs Semiconductor Corporation | Back bias generator |
US5023465A (en) * | 1990-03-26 | 1991-06-11 | Micron Technology, Inc. | High efficiency charge pump circuit |
JP2632112B2 (ja) * | 1992-07-27 | 1997-07-23 | 三菱電機株式会社 | 電圧発生回路 |
JP3510335B2 (ja) * | 1994-07-18 | 2004-03-29 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置、内部電源電圧発生回路、内部高電圧発生回路、中間電圧発生回路、定電流源、および基準電圧発生回路 |
JP3310796B2 (ja) | 1994-11-18 | 2002-08-05 | 株式会社日立製作所 | 昇圧回路装置 |
KR0172850B1 (ko) * | 1995-11-23 | 1999-03-30 | 문정환 | 고효율 전하 펌프회로 |
JPH10247386A (ja) * | 1997-03-03 | 1998-09-14 | Mitsubishi Electric Corp | 昇圧電位供給回路及び半導体記憶装置 |
-
1998
- 1998-10-05 JP JP10282462A patent/JP2000112547A/ja active Pending
-
1999
- 1999-03-16 US US09/270,053 patent/US6316985B1/en not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7170762B2 (en) | Low voltage DC-DC converter | |
JP4502210B2 (ja) | スイッチング電源と半導体集積回路及び半導体集積回路装置 | |
JP2000112547A5 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
TWI312226B (en) | Step-up type dc-dc converter and method for controlling step-up type dc-dc converter | |
JP4976086B2 (ja) | 昇降圧dc−dcコンバータ | |
JP2004520792A5 (ja) | ||
KR20010098640A (ko) | 전원 회로 및 그 구동 방법 그리고 전원용 전자부품 | |
JP2007282411A (ja) | 昇圧型dc/dcコンバータ及びこれを備えた電子機器 | |
MY148186A (en) | Power conversion device | |
US6429635B2 (en) | Drive circuit for insulated gate type FETs | |
JP3130443B2 (ja) | スイッチングレギュレータ | |
JP2718258B2 (ja) | 出力回路 | |
JP3543509B2 (ja) | 電圧安定化回路 | |
US11223272B2 (en) | Uninterrupted current sense | |
DE60041743D1 (de) | Gerät mit einem motor dessen geschwindigkeit veränderbar ist | |
WO2022047795A1 (zh) | 降压型开关电源、电子设备和控制方法 | |
US10230300B2 (en) | Power converter predriver system with multiple power modes | |
JP5072729B2 (ja) | Led駆動用チャージポンプ回路 | |
JP4688559B2 (ja) | Dc/dcコンバータ及びこれを備えた電子機器 | |
CN215734021U (zh) | 一种驱动装置 | |
JPH08162934A (ja) | 昇圧回路を有するhブリッジ回路 | |
JPH0974742A (ja) | スイッチング電源回路 | |
JP3702169B2 (ja) | 昇圧システム | |
JP2004229458A (ja) | 電源システム | |
JP2008061435A (ja) | 電源装置 |