JP2000081370A - レーザ発振波長監視装置 - Google Patents

レーザ発振波長監視装置

Info

Publication number
JP2000081370A
JP2000081370A JP10250259A JP25025998A JP2000081370A JP 2000081370 A JP2000081370 A JP 2000081370A JP 10250259 A JP10250259 A JP 10250259A JP 25025998 A JP25025998 A JP 25025998A JP 2000081370 A JP2000081370 A JP 2000081370A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
polarization
oscillation wavelength
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10250259A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3237624B2 (ja
Inventor
Takeshi Oguma
健史 小熊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP25025998A priority Critical patent/JP3237624B2/ja
Priority to US09/379,347 priority patent/US6597483B1/en
Priority to CA002281298A priority patent/CA2281298A1/en
Publication of JP2000081370A publication Critical patent/JP2000081370A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3237624B2 publication Critical patent/JP3237624B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/50Transmitters
    • H04B10/572Wavelength control
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/50Transmitters
    • H04B10/501Structural aspects
    • H04B10/503Laser transmitters
    • H04B10/504Laser transmitters using direct modulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】入射光の偏光状態に依らず、発振波長の変動方
向および変動量を電気的に得ることを可能とすると共
に、製造を容易化するレーザ発振波長監視装置の提供。 【解決手段】光信号が波長多重伝送される光ファイバか
らの入射光を平行光に像変換するレンズと、平行光のう
ち任意の直線偏光成分を透過させる検光手段と、第1、
第2の偏光成分を分離する偏光分離手段と、偏光分離素
子で分離された各偏光成分を入力する第1、第2の光バ
ンドパスフィルタと、第1、第2の光バンドパスフィル
タを透過した光をそれぞれ受光して電気信号に変換する
第1、第2の受光素子と、第1、第2の受光素子の出力
レベルをA/D変換したデジタル値の比を求める除算器
と、除算器の出力を所定単位時間毎に累積加算する加算
器及びカウンタと、加算器で所定回数累積加算した結果
をカウント値で除した平均値を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ発振波長監
視装置に関し、特に、複数の異なる波長のレーザ光源の
波長を多重して光伝送する波長多重(WDM;Waveleng
th Division Multiplex)伝送される光ファイバ通信の
レーザ発振波長監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバ通信システムにおいて、1本
のファイバに複数の波長の光を伝送する波長多重伝送
(WDM光伝送)技術が実用化されている。この波長多
重伝送技術では、光源として、複数の異なる波長のレー
ザ光源を必要としている。
【0003】またこれらのレーザ光源は、良好な伝送品
質を確保するためにその発振波長を極めて正確に制御す
る必要がある。
【0004】ところで、レーザの発振波長の制御は、誘
電体多層膜を用いた波長監視装置を用いている。
【0005】誘電体多層膜を用いた従来の波長監視装置
の構成の一例を図6に示す(例えば特開平10−009
961号公報参照)。
【0006】この従来の波長監視装置では、誘電体多層
膜よりなる光バンドパスフィルタ24(透過中心波長=
監視波長λa)の透過光をフォトダイオード26で受光
し、フォトカレントの変動を監視することで、レーザ1
0の発振波長の変動を監視している。すなわち、レーザ
光源10から光伝送路12に入力された光は、方向性結
合器14、20により分波され、方向性結合器14の出
力光はフォトダイオード16により電気信号に変換さ
れ、対数増幅器18により対数増幅され、方向性結合器
20の出力光は光フィルタ24を介してフォトダイオー
ド26に入力する。光フィルタ24は、特定波長λaか
らずれるほど透過率が低下する光素子であり、光フィル
タ24の出力光はフォトダイオード26により電気信号
に変換され、対数増幅器28により対数増幅される。差
動増幅器30は増幅器18、28の出力の差を出力し、
コンパレータ32は差動増幅器30の出力を警報の閾値
Vrefと比較し、閾値Vref以上の時警報オン信号
を出力する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の波長監視装置では、装置へ入射する光の偏光状態によ
って、誘電体多層膜での透過光強度が変化する、すなわ
ち偏光依存性が存在し、フォトカレントの変動がレーザ
の発振波長の変動によるものか、装置への入射偏光の変
動によるものかの判断が不可能であるため、高精度の波
長監視が不可能である、という問題点を有している。
【0008】したがって本発明は、上記問題点に鑑みて
なされたものであって、その目的は、入射光の偏光状態
に依らず、発振波長の変動方向および変動量を電気的に
得ることを可能とすると共に、製造を容易化するレーザ
発振波長監視装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明のレーザ発振波長監視装置は、レーザ光源からの光信
号が光伝送される光伝達路からの入射光を偏光成分に分
離する分離手段と、前記各偏光成分の光信号をそれぞれ
電気信号に変換する複数の光電気変換手段と、前記各光
電気変換手段の比を累積加算する手段と、を備え、前記
偏光成分の光強度の比を時間平均することで、前記入射
光の偏光状態の変化を補償し単位時間あたりのレーザの
発振波長の変化を監視可能としたものである。
【0010】本発明は、レーザ光源からの光信号が伝送
される光ファイバからの入射光を平行光に像変換する光
学レンズと、平行光のうち任意の直線偏光成分を透過さ
せる検光手段と、光バンドパスフィルタ手段と、前記光
バンドパスフィルタ手段を透過した光の第1、第2の偏
光成分を分離する偏光分離手段と前記偏光分離手段にて
分離した各偏光成分をそれぞれ受光して電気信号に変換
する第1、第2の光電気変換手段と、前記第1、第2の
光電気変換手段の出力レベルの比を、所定時間毎に累積
加算し所定時間累積加算した結果を出力する。
【0011】このように構成された本発明のレーザ発振
波長監視装置を、光ファイバ線路に挿入することで、入
射光の偏光状態に依らず、レーザの発振波長を監視し、
発振波長の変動方向および変動量を電気的に得ることが
可能としたものである。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について説明
する。図1は、本発明の一実施の形態の構成を示す図で
ある。図1を参照すると、光ファイバ1、レンズ2、検
光子3、光バンドパスフィルタ4、偏光分離素子5、第
1、第2の受光素子61、62、第1、第2のA/D変
換器110、120、第1、第2の除算器200、21
0、加算器300、カウンタ400、クロック発生回路
500と、を備えて構成されている。
【0013】光ファイバ1は、シングルモード光ファイ
バよりなり、レンズ2は、光ファイバ1からの出射光を
平行光に像変換するコリメートレンズである。
【0014】検光子3は、レンズ2で像変換された平行
光のうち、任意の直線偏光成分のみを透過する光学素子
であり、その透過偏光方向は、図5に示すように、x,
y軸に対して45度傾斜して配置されている。
【0015】光バンドパスフィルタ4は、誘電体多層膜
にて形成される狭帯域の光バンドパスフィルタであり、
図中x軸に対して、10〜30度程度傾斜して配置され
ている。また、光バンドパスフィルタ4の無偏光状態に
おける透過中心波長は、監視波長λcに調整されてい
る。
【0016】偏光分離素子5は、光バンドパスフィルタ
4を透過した光の偏光成分を分離する素子で、図中x、
y軸方向の偏光を分離できるよう配置されている。
【0017】第1、第2の受光素子61、62は、とも
にフォトダイオードよりなり、偏光分離素子5にて分離
した各偏光成分をそれぞれ受光して、電気信号に変換す
る。
【0018】第1、第2のA/D変換器110、120
は、それぞれ、第1、第2の受光素子61、62からの
フォトカレントを16ビットのデジタル信号へ変換する
回路である。なお、第1、第2の受光素子61、62か
らのフォトカレントを電圧信号に変換し、第1、第2の
A/D変換機110、120では電圧信号を入力するよ
うにしてもよい。
【0019】第1の除算器200は、第1、第2のA/
D変換器110、120からのデジタル信号を入力して
除算し、除算結果(商)を出力する回路であり、出力
は、固定小数点の16ビットにて出力される。
【0020】加算器300は、除算器200からの出力
を入力値としてラッチし加算する回路であり、クロック
発生回路500からのクロック信号が入力される毎に、
入力値を加算してゆく。加算器300は32ビットの不
図示のバッファを備えており、加算結果が蓄積される。
また外部からの要求により、バッファの値を32ビット
で出力し、バッファをクリアする回路も併せ持つ。
【0021】カウンタ400は、クロック発生回路50
0が発生するクロックをカウントする回路であり、カウ
ント値が予め設定したカウント数に達すると、現在のカ
ウント数を32ビットで出力し、かつ加算器300に対
してデータ出力要求を出力する。
【0022】第2の除算器210は、加算器300及び
カウンタ400のカウント値からのデジタル信号を除算
し、除算結果(商)を出力する回路であり、出力は固定
小数点の16ビットにて出力される。
【0023】次に本発明の一実施例の動作について図1
及び図5を参照して説明する。
【0024】光ファイバ1より出射した光100は、レ
ンズ2にて平行光100aに変換された後、検光子3へ
入射し、図中x,y軸に対して45度の直線偏光101
のみが透過する。検光子3を透過した直線偏光101
は、光バンドパスフィルタ4へ入射する。
【0025】この際、直線偏光101は、図5に示すよ
うに、図中x,y軸に対してに対して45度の傾きを持
っているため、光バンドパスフィルタ4を透過した直線
偏光101aのうち、x軸に平行な偏光成分である直線
偏光102とy軸に平行な偏光成分である直線偏光10
3では、光バンドパスフィルタ4における実効屈折率が
異なるため、透過中心波長もまた異なる。
【0026】光バンドパスフィルタ4を透過した直線偏
光101aは、偏光分離素子5にて、x軸に平行な偏光
成分である直線偏光102と、y軸に平行な偏光成分で
ある直線偏光103とに分離された後、それぞれ、第
1、第2の受光素子61、62に入射され、入射光強度
に応じたフォトカレントを得る。
【0027】第1、第2の受光素子61、62からのフ
ォトカレントは、第1、第2のA/D変換器110、1
20に入力され、16ビットのデジタル信号に変換され
た後、除算器200にて除算され、第1、第2の受光素
子61、62からフォトカレントの比が出力される。
【0028】除算器200からの出力は、加算器300
に入力され、加算器300バッファの値と加算された後
に、再びバッファに保存され、累積加算されていく。
【0029】加算器300は、カウンタ400からのデ
ータ出力要求信号を受信するまで、累積加算動作を繰り
返す。
【0030】加算器300はカウンタ400からの出力
要求信号を受信した場合、加算動作を中止し、現在のバ
ッファの値を、第2の除算器210に出力し、バッファ
をクリアする。
【0031】クロック発生回路500は、指定された動
作クロックで、第1、第2のA/D変換回路110、1
20、第1、第2の除算器200、210、加算器30
0、カウンタ400へクロック信号を送出、これら各回
路は、クロック信号に同期して動作する。
【0032】カウンタ400は、クロック発生回路50
0からのクロック信号をカウントしており、カウント値
が予め設定されたカウント数に達すると、加算器300
へのデータ出力要求を行い、同時に、除算器210へカ
ウント数を出力する。
【0033】除算器210は、加算器300からの出力
値をカウンタ400からの出力値で除算し除算結果出力
する。
【0034】光100の波長、すなわちレーザの発振波
長が監視波長λcである場合、直線偏光102と103
の光強度の比は一定である。
【0035】しかし、レーザの発振波長がシフトした場
合、直線偏光102と103のフィルタ透過中心波長が
異なるため、強度比が変化する。
【0036】強度比の変化は、第1、第2の受光素子6
1、62への入射光強度の変化であり、第1、第2の受
光素子61、62からのフォトカレントの比も変化す
る。
【0037】一方、レーザの発振波長が変化せず、光フ
ァイバ1からの入射光の偏光状態が変化した場合には、
第1、第2受光素子61、62のフォトカレントの絶対
値は変化するが、2つのフォトカレントの比は変化しな
い。
【0038】一般に、レーザの発振波長の変化は、経時
的なものであるため、その変化は数ヶ月オーダーである
のに対して、偏光状態の変化は、例えば秒〜分オーダー
であるため、分あるいは時間オーダーの短い時間でのフ
ォトカレントの平均値の比をとることによって、偏光状
態の変化をキャンセルすることが可能である。
【0039】こうのように、単位時間あたりの第1、第
2の受光素子61及び62のフォトカレントの比を、加
算器300およびカウンタ400を用いて平均化するこ
とで、入射光の偏光状態の変化をキャンセルし、単位時
間あたりのレーザの発振波長の変化を正確に知ることが
できる。以下実施例に即して更に詳細に説明する。
【0040】
【実施例】本発明の一実施例について図1及び図2を参
照して以下に説明する。
【0041】図1を参照すると、光ファイバ1はシング
ルモード光ファイバであり、レンズ2は光ファイバから
の出射光をビーム径300um(マイクロメータ)の平
行光に像変換する。本実施例では、レンズ2として、結
合効率の低下を抑制するために非球面レンズを用いてい
る。
【0042】検光子3はレンズ2で像変換された平行光
のうち、任意の直線偏光成分のみを選択透過する光学素
子であり、本実施例では、高い消光比を得るために、透
過偏光以外の偏光成分を吸収するタイプの偏光子(商品
名:ポーラコア)を用いている。検光子3の透過偏光方
向は、図5に示すように、x,y軸に対して45度傾斜
して配置されている。
【0043】光バンドパスフィルタ4は、厚さ0.3m
mのガラス基板上に、誘電体多層膜にて形成される狭帯
域の光バンドパスフィルタである。光バンドパスフィル
タ4の無偏光状態における半値全幅は0.4nm(ナノ
メータ)、また透過中心波長は、所望とするレーザーの
発振波長1550.000nmに調整されており、その
時の図中x軸に対する角度は16度としている。
【0044】偏光分離素子5は、光バンドパスフィルタ
4を透過した光の偏光成分を分離するPBSプリズムよ
りなり、図中xおよびy軸に平行な偏光成分を分離でき
るよう配置されている。
【0045】第1、第2の受光素子61、62は、有効
アパーチャ径500umのPINフォトダイオードより
なり、偏光分離素子5にて分離した各直線偏光成分10
2、103をそれぞれ受光し、電気信号に変換する機能
を持つ。
【0046】なお、検光子3および偏光分離素子5につ
いては、ルチルのような複屈折性物質を用いることで代
用してもよいことは勿論である。
【0047】第1、第2のA/D変換器110、120
は、それぞれ、第1、第2の受光素子61、62からの
フォトカレントを、16ビットのデジタル信号へ変換す
るA/D回路である。なお、このA/D変換器110、
120では、フォトカレント(電流)を電圧に変換し、
電圧入力型A/D変換器として構成してもよいことは勿
論である。
【0048】第1の除算器200は、第1、第2のA/
D変換器110、120からのデジタル信号を入力して
除算し、除算結果を出力する回路であり、出力は、固定
小数点の16ビットにて出力される。
【0049】加算器300は、除算器200からの出力
をラッチし、加算する回路であり、クロック発生回路5
00からのクロック信号が入力される毎に、入力値を加
算してゆく。加算器300は市販される累算器を用いて
もよい。
【0050】加算器300は、32ビットのバッファ
(レジスタ)を備えており、加算結果が蓄積される。ま
た外部からの要求により、バッファの値を32ビット幅
で出力し、バッファをクリアする回路も併せ持つ。
【0051】カウンタ400は、クロック発生回路50
0が発生するクロックをカウントする回路であり、例え
ば180000カウント(一時間)にて、現在のカウン
ト数を32ビットで出力し、かつ加算器300へデータ
出力要求を出力するよう設定されている。
【0052】第2の除算器210は、加算器300及び
カウンタ400からのデジタル信号を除算する回路であ
り、出力は固定小数点の16ビットにで出力される。
【0053】クロック発生回路500は、周期が例えば
50Hzのクロックを発生し、第1、第2のA/D変換
回路110、120は、このクロックで第1、第2の受
光素子61、62の出力をサンプリングし、また第1、
第2の除算器200、210、加算器300、カウンタ
400はクロックに同期して演算を行う。
【0054】なお、これらの回路は、DSP(ディジタ
ル信号プロセッサ)を用いてワンチップ化してもよい。
【0055】本発明の一実施例の波長監視動作について
図1及び図2を参照して説明する。
【0056】光ファイバ1より出射した光100は、レ
ンズ2にて平行光100aに変換された後、検光子3へ
入射し、図中x,y軸に対して45度の直線偏光101
のみが透過する。
【0057】検光子3を透過した直線偏光101は、光
バンドパスフィルタ4へ入射する。光バンドパスフィル
タ4を透過した直線偏光101aは、偏光分離素子5に
て、x軸に平行な偏光成分である直線偏光102とy軸
に平行な偏光成分である直線偏光103に分離された
後、それぞれ第1、第2の受光素子61、62に入射さ
れ、入射光強度に応じたフォトカレントを得ることがで
きる。
【0058】この際、直線偏光101は、図5に示すよ
うに、図中x,y軸に対して45度の傾きを持っている
ため、光バンドパスフィルタ4を透過した直線偏光10
1aのうち、x軸に平行な偏光成分である直線偏光10
2とy軸に平行な偏光成分である直線偏光103では、
光バンドパスフィルタ4への実効屈折率が異なる。
【0059】このため、直線偏光101が白色光であっ
た場合、直線偏光102と103の透過スペクトラムは
異なる。具体的には、直線偏光102のフィルタ透過中
心波長が、直線偏光103のフィルタ透過中心波長に比
べて短波長側にシフトする。直線偏光102と103の
透過スペクトラムを図2に示す。図2において、実線
は、直線偏光102の波長特性、破線は直線偏光103
の波長特性を示している。
【0060】光バンドパスフィルタ4を透過した直線偏
光101aは、偏光分離素子5にて、x軸に平行な偏光
成分である直線偏光102と、y軸に平行な偏光成分で
ある直線偏光103に分離された後、第1、第2の受光
素子61、62に入射され、入射光強度に応じたフォト
カレントを得ることができる。
【0061】第1、第2の受光素子61、62からのフ
ォトカレントは、第1、第2のA/D変換器110、1
20に入力され、16ビットのデジタル信号に変換され
た後、除算器200にて比較され、2つの受光素子から
フォトカレントの比が出力される。
【0062】除算器200からの出力は加算器300に
入力し、バッファに現在保持されている値と加算された
後に、再びバッファに保存される。
【0063】加算器300は、カウンタ400からのデ
ータ出力要求信号を受信するまで、前記累積加算動作を
繰り返す。出力要求信号を受信した場合、加算を中止
し、現在のバッファの値を除算器210に出力し、バッ
ファをクリアする。
【0064】クロック発生回路500は、周期が50H
zのクロック信号を各回路へ供給し、各回路は、前記ク
ロック信号に同期して動作する。
【0065】カウンタ400は、クロック発生回路50
0からのクロック信号をカウントしており、18000
0カウント(1時間)に達すると、加算器300へのデ
ータ出力要求を行い、同時に、第2の除算器210へカ
ウント数を出力し、カウントをクリアする。
【0066】第2の除算器210は、加算器300から
の出力値をカウンタ400からの出力値(カレント値)
で除算し、出力する。なお、180000カウント等カ
ウント値が固定であれば、第2の除算器210の除数は
固定値に設定しておく構成としてもよい。
【0067】一例として、光100の波長、すなわちレ
ーザの発振波長が所望の波長である1550.000n
mである場合、光バンドパスフィルタにおける直線偏光
102と103の透過損失は同一で、約8dBである。
このとき受光素子61、62にて得られるフォトカレン
トはそれぞれ130uAであった。
【0068】次に、光100の波長が1549.900
nmにシフトした場合、図2より、光バンドパスフィル
タにおける直線偏光102の透過損失は小さくなるのに
対して、直線偏光103の透過損失は大きくなる。
【0069】本実施例では、直線偏光102の透過損失
が約7dBであるのに対して、直線偏光103の透過損
失は約10dBである。
【0070】このため、第1、第2の受光素子61、6
2に入射する光強度が異なるため、得られるフォトカレ
ントも変化する。
【0071】本実施例では、第1の受光素子61にて得
られたフォトカレントが152uAであるのに対して、
第2の受光素子62のフォトカレントは110uAであ
った。
【0072】第1、第2の受光素子61、62にて得ら
れるフォトカレントは、光100の波長により異なり、
図3に示すように、光100が短波長側にシフトした場
合には、第1の受光素子61のフォトカレントが、第2
の受光素子62のそれと比較して増加し、長波長側にシ
フトした場合には、この逆の振る舞いをする。
【0073】このため、第1、第2の受光素子61、6
2のフォトカレントを監視することで、光100の波長
変動、および、その方向を監視することができる。
【0074】次に、光100の偏光状態が変化した場
合、検光子3を透過した直線偏光101の光強度が変化
することになる。
【0075】よって、偏光分離素子5を透過後の直線偏
光102、103の光強度もまた変化し、第1、第2の
受光素子61、62にて発生するフォトカレントも変化
することになる。
【0076】一般に、レーザーの発振波長の変化は、経
時的なものであるため、その変化は数ヶ月オーダーであ
るのに対して、偏光状態の変化は、秒〜分オーダーであ
るため、時間オーダーのフォトカレントの平均値の比を
とることによって、偏光状態の変化をキャンセルするこ
とが可能である。
【0077】本発明の一実施例では、単位時間あたりの
第1、第2の受光素子61、62のフォトカレントの比
を、加算器300およびカウンタ400を用いて平均化
することで、入射光の偏光状態の変化をキャンセルし、
単位時間あたりのレーザーの発振波長の変化を正確に知
ることができる。
【0078】本発明の第2の実施例について説明する。
図4は、本発明の第2の実施例の構成を示す図である。
【0079】本発明の第2の実施例は、前記実施例の光
バンドパスフィルタ4に代わり、偏光分離素子5と、第
1、第2の受光素子61、62の間に、第1、第2の光
バンドパスフィルタ41、42を用いている。
【0080】第1、第2の光バンドパスフィルタ41、
42は、前記実施例と同一の光バンドパスフィルタを用
いており、その透過中心波長は、それぞれ1549.5
00nm、1550.500nmに調整されている、そ
の時の光線入射角はそれぞれ10度と8度である。なお
レーザ光源の波長は1550nmである。
【0081】本発明の第2の実施例においては、光バン
ドパスフィルタ41、42の構成、配置が前記実施例と
相違しているだけであり、第1、第2の受光素子61、
6以降の構成は、前記実施例と同様である。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば下
記記載の効果を奏する。
【0083】本発明の第1の効果は、発振波長の変動方
向および変動量を電気的に検出することができる、とい
うことである。
【0084】その理由は、本発明においては、監視を行
う光を、異なる透過中心波長を持つ2つの光に分離し、
これらを別の受光素子にて受光し、そのフォトカレント
を監視するように構成したことによる。
【0085】本発明の第2の効果は、入射光の偏光状態
および強度に依らず波長監視動作が可能である、という
ことである。
【0086】その理由は、本発明においては、検光子お
よび偏光分離素子を用いて、入射光の偏光状態の変化を
光強度変化に変換することで、入射光の偏光状態変動を
補償し、かつ各受光素子からのフォトカレントの比を単
位時間あたりの平均値として出力しているためである。
【0087】本発明の第3の効果は、製造を容易として
いる、ということである。
【0088】その理由は、本発明においては、入射光を
無偏光状態にして入射し、光バンドパスフィルタの中心
波長を調整することで、フィルタ中心波長を動作点(レ
ーザー発振波長)に容易に調整することが可能である、
ためである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す図である。
【図2】本発明の一実施例における直線偏光102、1
03の透過損失波長特性を示した図である。
【図3】本発明の一実施例における受光素子61、62
のフォトカレントの光波長特性を示した図である。
【図4】本発明の第2の実施例の構成を示す図である。
【図5】本発明の一実施例における検光子、光バンドパ
スフィルタ、偏光分離素子部分の斜視図を示す図であ
る。
【図6】従来の波長監視装置の構成の一例を示す図であ
る。
【符号の説明】
1 光ファイバ 2 レンズ 3 検光子 4、41、42 光バンドパスフィルタ 5 偏光分離素子 10 レーザ 12 光ファイバ 14、20 分岐 16、26 フォトダイオード 18、28 電流電圧増幅器 24 光バンドパスフィルタ 30 差動増幅器 32 電圧比較器 61、62 受光素子 100 光ファイバ1から出射した光 100a レンズにて像変換された平行光 101 検光子を透過した直線偏光 101a 光バンドパスフィルタを透過した直線偏光 102、103 偏光分離素子を透過した直線偏光 110、120 A/D変換器 200、210 除算器 300 加算器 400 カウンタ 500 クロック発生回路

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザ光源からの光信号が伝送される光伝
    送路からの入射光を異なる偏光成分に分離する分離手段
    と、 前記分離された各偏光成分の光信号をそれぞれ電気信号
    に変換する複数の光電気変換手段と、 前記各光電気変換手段からの偏光成分の光強度を表す電
    気信号の比を所定単位時間毎所定回数累積加算する手段
    と、 を備え、 偏光成分の光強度の比を時間平均することで、前記入射
    光の偏光状態の変化を補償し単位時間あたりのレーザの
    発振波長の変化を監視可能としたことを特徴とするレー
    ザ発振波長監視装置。
  2. 【請求項2】レーザ光源からの光信号が伝送される光伝
    送路からの入射光を平行光に像変換する光学レンズと、 平行光のうち任意の直線偏光成分を透過させる検光手段
    と、 光バンドパスフィルタ手段と、 前記光バンドパスフィルタ手段を透過した光の第1、第
    2の偏光成分を分離する偏光分離手段と、 前記偏光分離手段にて分離した各偏光成分をそれぞれ受
    光して電気信号に変換する第1、第2の光電気変換手段
    と、 前記第1、第2の光電気変換手段の出力レベルの比を、
    所定単位時間毎に累積加算し所定回数累積加算した結果
    を平均化して出力する手段と、を備えたことを特徴とす
    るレーザ発振波長監視装置。
  3. 【請求項3】レーザ光源からの光信号が伝送される光フ
    ァイバからの入射光を平行光に像変換する光学レンズ
    と、 平行光のうち任意の直線偏光成分を透過させる検光手段
    と、 光バンドパスフィルタ手段と、 前記光バンドパスフィルタ手段を透過した光の第1、第
    2の偏光成分を分離する偏光分離手段と、 前記偏光分離手段にて分離した各偏光成分をそれぞれ受
    光して電気信号に変換する第1、第2の光電気変換手段
    と、 前記第1、第2の光電気変換手段の出力レベルの比を求
    める第1の演算手段と、 前記第1の演算手段の出力を所定単位時間毎に累積加算
    する第2の演算手段と、 を備え、 前記第2の演算手段で所定回数累積加算した結果を時間
    平均して出力する第3の演算手段と、 を備えたことを特徴とするレーザ発振波長監視装置。
  4. 【請求項4】レーザ光源からの光信号が伝送される光フ
    ァイバからの入射光を平行光に像変換する光学レンズ
    と、 平行光のうち任意の直線偏光成分を透過させる検光手段
    と、 第1、第2の偏光成分を分離する偏光分離手段と前記偏
    光分離素子で分離された各偏光成分を入力する第1、第
    2の光バンドパスフィルタ手段と、 前記第1、第2の光バンドパスフィルタ手段を透過した
    光をそれぞれ受光して電気信号に変換する第1、第2の
    光電気変換手段と、 前記第1、第2の光電気変換手段の出力レベルの比を求
    める第1の演算手段と、 前記第1の演算手段の出力を所定単位時間毎に累積加算
    する第2の演算手段と、 を備え、 前記第2の演算手段で所定回数累積加算した結果を時間
    平均して出力する第3の演算手段と、を備えたことを特
    徴とするレーザ発振波長監視装置。
  5. 【請求項5】前記第3の演算手段が、前記第2の演算手
    段で所定回数累積加算した結果を前記所定回数で除算し
    た値を出力することを特徴とする請求項3又は4記載の
    レーザ発振波長監視装置。
  6. 【請求項6】前記光バンドパスフィルタ手段が、誘電体
    多層膜にて形成される狭帯域の光バンドパスフィルタよ
    りなり、光軸に対して所定角度傾斜して配置されている
    ことを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一に記載の
    レーザ発振波長監視装置。
  7. 【請求項7】前記光バンドパスフィルタ手段の無偏光状
    態における透過中心波長が監視波長に調整設定されてい
    ることを特徴とする請求項2乃至5のいずれか一に記載
    のレーザ発振波長監視装置。
  8. 【請求項8】前記第1の演算手段が、前記第1、第2の
    光電気変換手段からのアナログ出力信号をデジタル信号
    に変換する第1、第2のA/D変換手段と、 前記第1、第2のA/D変換手段の出力を入力とし、こ
    れらの一方を他で除した結果を出力する第1の除算手段
    と、を備えていることを特徴とする請求項3又は4記載
    のレーザ発振波長監視装置。
  9. 【請求項9】前記第2の演算手段が、前記第1の除算手
    段から出力される除算結果を、クロック生成手段から供
    給される所定周期のクロック信号を入力する度に累積加
    算する加算手段と、 前記クロック信号を計数する計数手段と、 を備え、 前記計数手段の計数値が予め定められた所定値に達した
    ときに、前記加算手段の累積加算結果を出力するととも
    に、前記加算手段における累積加算結果を一時的に記憶
    する記憶手段、及び前記計数手段の計数値をクリアす
    る、ことを特徴とする請求項3又は4記載のレーザ発振
    波長監視装置。
  10. 【請求項10】前記第3の演算手段が、前記第2の演算
    手段の前記加算手段からの累積加算結果を、前記所定値
    で除した値を出力する第2の除算手段を備えたことを特
    徴とする請求項9記載のレーザ発振波長監視装置。
  11. 【請求項11】前記光ファイバに光信号が波長多重伝送
    される、ことを特徴とする請求項3乃至10のいずれか
    一に記載のレーザ発信波長監視装置。
JP25025998A 1998-09-04 1998-09-04 レーザ発振波長監視装置 Expired - Fee Related JP3237624B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25025998A JP3237624B2 (ja) 1998-09-04 1998-09-04 レーザ発振波長監視装置
US09/379,347 US6597483B1 (en) 1998-09-04 1999-08-23 Laser oscillation wavelength monitoring device
CA002281298A CA2281298A1 (en) 1998-09-04 1999-08-31 Laser oscillation wavelength monitoring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25025998A JP3237624B2 (ja) 1998-09-04 1998-09-04 レーザ発振波長監視装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000081370A true JP2000081370A (ja) 2000-03-21
JP3237624B2 JP3237624B2 (ja) 2001-12-10

Family

ID=17205234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25025998A Expired - Fee Related JP3237624B2 (ja) 1998-09-04 1998-09-04 レーザ発振波長監視装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6597483B1 (ja)
JP (1) JP3237624B2 (ja)
CA (1) CA2281298A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7027154B2 (en) * 2003-10-24 2006-04-11 Agilent Technologies, Inc. Polarization conditioner packaging and collimator alignment mechanism
ES2900166T3 (es) 2017-03-21 2022-03-16 Bifrost Communications ApS Sistemas, dispositivos y métodos de comunicación óptica que incluyen receptores ópticos de alto rendimiento
WO2019068334A1 (en) * 2017-10-05 2019-04-11 Huawei Technologies Co., Ltd. WAVELENGTH MONITORING AND / OR CONTROL DEVICE, LASER SYSTEM PROVIDED WITH SUCH A DEVICE AND METHOD FOR OPERATING SUCH A DEVICE
CN112271551A (zh) * 2020-10-23 2021-01-26 武汉光迅科技股份有限公司 一种波长锁定器和可调激光器组件

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4768854A (en) * 1985-07-11 1988-09-06 Raychem Corp. Optical fiber distribution network including nondestructive taps and method using same
JP2658180B2 (ja) * 1988-05-20 1997-09-30 日本電気株式会社 偏波ダイバーシチ光受信装置
JPH02236135A (ja) 1989-03-09 1990-09-19 Fujitsu Ltd レーザ出力のモニタリング方式
FR2647560B1 (fr) * 1989-05-23 1994-01-28 Thomson Csf Dispositif de lecture de capteurs polarimetriques et interferometriques
JPH04331935A (ja) 1991-05-07 1992-11-19 Nikon Corp 自動調光装置を備えたカメラ
JPH0555683A (ja) 1991-08-26 1993-03-05 Olympus Optical Co Ltd 波長安定化光源装置
JPH0720512A (ja) 1993-06-30 1995-01-24 Shimadzu Corp 複合光機能部品
US5541756A (en) * 1994-11-17 1996-07-30 Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior Universty Apparatus and method for routing optical signals through wavelength-coding in a self-routed wavelength addressable network
JPH109961A (ja) 1996-06-21 1998-01-16 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光波長監視装置
US6404525B1 (en) * 1997-07-31 2002-06-11 Nec Corporation Optical add-drop multiplexer
DE19814497C2 (de) * 1998-04-01 2001-01-25 Deutsche Telekom Ag Verfahren zur Kompensation der Polarisationsmodendispersion in einer optischen Übertragungsstrecke und Vorrichtung zu dessen Durchführung

Also Published As

Publication number Publication date
JP3237624B2 (ja) 2001-12-10
US6597483B1 (en) 2003-07-22
CA2281298A1 (en) 2000-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6491399B2 (ja) マルチチャンネル波長可変レーザの性能試験装置
US7203212B2 (en) System and method for wavelength error measurement
JP2004502141A (ja) 光パワーおよび波長モニター
US6396574B1 (en) Apparatus for measuring the wavelength, optical power and optical signal-to-noise ratio of each optical signal in wavelength-division multiplexing optical communication
US6385217B1 (en) Compact wavelength-independent wavelength-locker for absolute wavelength stability of a laser diode
US11614360B2 (en) Optical measurements with dynamic range and high speed
JP3237624B2 (ja) レーザ発振波長監視装置
JPS6228623A (ja) 光測定器
CN108333689A (zh) 一种集成可调窄带滤波器的多信道光接收组件
KR20040066888A (ko) 파장 분할 다중 전송 광학 성능 모니터
CN208110096U (zh) 一种集成可调窄带滤波器的多信道光接收组件
JPH11340920A (ja) 線形光中継器
JP3317896B2 (ja) レーザ発振波長監視装置
WO2006119795A1 (en) Method and system for optical communication comprising osnr monitoring by use of optical homodyne tomography
US20240248319A1 (en) Multi-Channel Optical Module
KR100317140B1 (ko) 파장분할다중 광통신에서 광신호의 파장과 광 세기와 광 신호대 잡음비를 측정하는 장치
JPS6235627B2 (ja)
CN102217219A (zh) 可调谐光学滤波器
KR100292809B1 (ko) 파장 분할 다중된 광신호의 파장과 광 세기와 광신호 대 잡음비를 측정하는 장치
KR100343070B1 (ko) 파장 분할 다중 시스템에서 실시간으로 채널별 광 신호의파장을 측정하는 시스템 및 방법
JP3098162B2 (ja) 光ブランチングデバイスの透過損失の偏波依存性測定方法
JPH10197570A (ja) 光ファイバ電流計測装置
JPS6344132A (ja) 量子井戸を用いたスペクトル分析用受光器
TW480331B (en) Multi-wavelength photodetector
JPH0990140A (ja) 2入力ファイバおよび2入力ファイバ型受光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010904

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees