JP2000074998A - 電子装置の診断システム及び診断方法 - Google Patents
電子装置の診断システム及び診断方法Info
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- JP2000074998A JP2000074998A JP10241287A JP24128798A JP2000074998A JP 2000074998 A JP2000074998 A JP 2000074998A JP 10241287 A JP10241287 A JP 10241287A JP 24128798 A JP24128798 A JP 24128798A JP 2000074998 A JP2000074998 A JP 2000074998A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子装置の故障箇所の特定及び早期発見を可
能にする。 【解決手段】 ＣＰＵ６からの制御により、正常な電子
基板１に基準動作をさせたときの電流値をメモリ９に記
憶させ、他の電子基板１に同じ基準動作をさせたときの
電流値とメモリ９に記憶された電流値とを比較すること
によって、電子基板１の故障の有無を判断する。
能にする。 【解決手段】 ＣＰＵ６からの制御により、正常な電子
基板１に基準動作をさせたときの電流値をメモリ９に記
憶させ、他の電子基板１に同じ基準動作をさせたときの
電流値とメモリ９に記憶された電流値とを比較すること
によって、電子基板１の故障の有無を判断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子装置の診断
システム及び診断方法に関するものである。
システム及び診断方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】複数の電子部品が実装された電子基板に
よって構成された電子装置において、故障を検出するた
めの診断方法としては、実際に電子装置を動作させるこ
とにより出力される情報（アナログ、デジタル等）と、
予め用意された期待値を比較することが基本となってい
る。
よって構成された電子装置において、故障を検出するた
めの診断方法としては、実際に電子装置を動作させるこ
とにより出力される情報（アナログ、デジタル等）と、
予め用意された期待値を比較することが基本となってい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子装置の診断
は以上のようになされていたので、複数の基板が関係し
ている診断項目において故障が検出された場合に、どの
基板が故障しているかを特定することが困難である。ま
た従来の診断方法では、診断を実施するまで故障が検出
できないことから、診断により故障が検出されるまでの
間、故障状態の電子装置を使用することによる損害が発
生するという問題点があった。
は以上のようになされていたので、複数の基板が関係し
ている診断項目において故障が検出された場合に、どの
基板が故障しているかを特定することが困難である。ま
た従来の診断方法では、診断を実施するまで故障が検出
できないことから、診断により故障が検出されるまでの
間、故障状態の電子装置を使用することによる損害が発
生するという問題点があった。
【０００４】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたものであり、電子基板の電源電流が故
障により変化することを利用して、電子装置の故障箇所
を特定するとともに、早期発見を実現することができる
電子装置の診断装置及び診断方法を提供することを目的
とする。
るためになされたものであり、電子基板の電源電流が故
障により変化することを利用して、電子装置の故障箇所
を特定するとともに、早期発見を実現することができる
電子装置の診断装置及び診断方法を提供することを目的
とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
る電子装置の診断システムは、電子基板に電流を供給す
る手段と、正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流
値を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作を
させたときの電流値と記憶手段に記憶された電流値とを
比較することによって電子基板の故障の有無を判断する
手段とを設けたものである。
る電子装置の診断システムは、電子基板に電流を供給す
る手段と、正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流
値を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作を
させたときの電流値と記憶手段に記憶された電流値とを
比較することによって電子基板の故障の有無を判断する
手段とを設けたものである。
【０００６】この発明の請求項２に係る電子装置の診断
システムは、電子基板に電流を供給する手段と、正常な
電子基板に基準動作をさせた時の電流値を時系列的に記
憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせた
ときの時系列的な電流値と記憶手段に記憶された時系列
的な電流値とを比較することによって電子基板の故障の
有無を判断する手段とを設けたものである。
システムは、電子基板に電流を供給する手段と、正常な
電子基板に基準動作をさせた時の電流値を時系列的に記
憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせた
ときの時系列的な電流値と記憶手段に記憶された時系列
的な電流値とを比較することによって電子基板の故障の
有無を判断する手段とを設けたものである。
【０００７】この発明の請求項３に係る電子装置の診断
方法は、２回目以降の電流測定値と1回目に記憶手段に
記憶された電流値との差を計算し、この差に応じて故障
部品を特定するものである。
方法は、２回目以降の電流測定値と1回目に記憶手段に
記憶された電流値との差を計算し、この差に応じて故障
部品を特定するものである。
【０００８】この発明の請求項４に係る電子装置の診断
システムは、電子基板に電流を供給する手段と、正常な
電子基板に基準動作をさせた時の±ピーク時の電流値を
記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせ
た時の電流値と記憶手段に記憶された±ピーク時の電流
値とを比較することによって電子基板の故障の有無を判
断する手段とを設けたものである。
システムは、電子基板に電流を供給する手段と、正常な
電子基板に基準動作をさせた時の±ピーク時の電流値を
記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせ
た時の電流値と記憶手段に記憶された±ピーク時の電流
値とを比較することによって電子基板の故障の有無を判
断する手段とを設けたものである。
【０００９】この発明の請求項５に係る電子装置の診断
方法は、基準動作をさせたＣＰＵ命令の種類に応じて故
障部品を特定するものである。
方法は、基準動作をさせたＣＰＵ命令の種類に応じて故
障部品を特定するものである。
【００１０】この発明の請求項６に係る電子装置の診断
システムは、電子部品の故障が検出された場合、電流を
シャットダウンするための手段を設けたものである。
システムは、電子部品の故障が検出された場合、電流を
シャットダウンするための手段を設けたものである。
【００１１】この発明の請求項７に係る電子装置の診断
システムは、ＣＰＵ又は基準クロック発生回路以外の回
路を一枚の基板に組み込み、この基板を複数枚設けたも
のである。
システムは、ＣＰＵ又は基準クロック発生回路以外の回
路を一枚の基板に組み込み、この基板を複数枚設けたも
のである。
【００１２】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
一実施形態を図について説明する。図１はこの発明の実
施の形態１による電子装置の診断システムを示す構成図
であり、図において、電子基板１は電源２により電流を
供給されている。抵抗３、オペアンプ４、サンプル＆ホ
ールド５は電源電流を電圧に変換し、その電圧をＣＰＵ
６の制御により保持するための回路を構成している。Ａ
／Ｄ変換７はサンプル＆ホールド５に保持された電圧を
デジタル化する。デジタル化された電圧は、ＣＰＵ６の
制御によりバスコントロール回路８を介してメモリ９に
記憶される。バスコントロール回路８はメモリ９のデー
タやＡ／Ｄ変換７の出力をＣＰＵ６に読み込む際にも使
用する。また、ＣＰＵ６によりメモリ９のアドレスをオ
フセットさせる機能を持つ。
一実施形態を図について説明する。図１はこの発明の実
施の形態１による電子装置の診断システムを示す構成図
であり、図において、電子基板１は電源２により電流を
供給されている。抵抗３、オペアンプ４、サンプル＆ホ
ールド５は電源電流を電圧に変換し、その電圧をＣＰＵ
６の制御により保持するための回路を構成している。Ａ
／Ｄ変換７はサンプル＆ホールド５に保持された電圧を
デジタル化する。デジタル化された電圧は、ＣＰＵ６の
制御によりバスコントロール回路８を介してメモリ９に
記憶される。バスコントロール回路８はメモリ９のデー
タやＡ／Ｄ変換７の出力をＣＰＵ６に読み込む際にも使
用する。また、ＣＰＵ６によりメモリ９のアドレスをオ
フセットさせる機能を持つ。
【００１３】次に動作について説明する。故障していな
いことが確認された電子基板１をＣＰＵ６からの制御に
より、予め定めた基準動作をさせた上で電源電流をメモ
リ９に記憶させる。以後、同じ基準動作をさせた時の電
源電流をバスコントロール回路８を介してＣＰＵ６で読
み取り、同じくバスコントロール回路８を介してメモリ
９に記憶した、故障していないときの電源電流を読み取
って両者を比較する。その結果、値に変化がある場合
は、電子基板１が故障していると判断できるのである。
いことが確認された電子基板１をＣＰＵ６からの制御に
より、予め定めた基準動作をさせた上で電源電流をメモ
リ９に記憶させる。以後、同じ基準動作をさせた時の電
源電流をバスコントロール回路８を介してＣＰＵ６で読
み取り、同じくバスコントロール回路８を介してメモリ
９に記憶した、故障していないときの電源電流を読み取
って両者を比較する。その結果、値に変化がある場合
は、電子基板１が故障していると判断できるのである。
【００１４】上記の動作を図２(ａ)，(ｂ)により詳しく
説明する。図２(ａ)に示すように、電子基板１に故障が
無いことを確認した上で電源電流を測定し、その値を不
揮発性メモリ等の記憶媒体であるメモリ９に保存してお
く。測定及び測定値の保存は、ＣＰＵ６にて行う。装置
の制御をＣＰＵ６にて行っている場合、それを利用して
もよい。次に図２(ｂ)に示すように、従来の診断により
故障と判断された場合、故障基板と思われる全ての基板
について電源電流を再測定し、上記で保存しておいた測
定値と比較する。その結果、測定値に変化のある基板が
あれば、それが故障基板であると判断できる。
説明する。図２(ａ)に示すように、電子基板１に故障が
無いことを確認した上で電源電流を測定し、その値を不
揮発性メモリ等の記憶媒体であるメモリ９に保存してお
く。測定及び測定値の保存は、ＣＰＵ６にて行う。装置
の制御をＣＰＵ６にて行っている場合、それを利用して
もよい。次に図２(ｂ)に示すように、従来の診断により
故障と判断された場合、故障基板と思われる全ての基板
について電源電流を再測定し、上記で保存しておいた測
定値と比較する。その結果、測定値に変化のある基板が
あれば、それが故障基板であると判断できる。
【００１５】実施の形態２．図３はこの発明の実施の形
態２による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、図において、ＣＰＵ６の制御により基準クロック発
生回路１０で基準クロックを発生させる。これをサンプ
ル＆ホールド５の電圧保持制御に使用する。保持された
電圧値はＡ／Ｄ変換７によりデジタル化され、アドレス
発生回路１１から出されたアドレスにバスコントロール
回路８を介して記憶される。その結果、電源電流は時系
列にメモリ９へ記憶される。
態２による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、図において、ＣＰＵ６の制御により基準クロック発
生回路１０で基準クロックを発生させる。これをサンプ
ル＆ホールド５の電圧保持制御に使用する。保持された
電圧値はＡ／Ｄ変換７によりデジタル化され、アドレス
発生回路１１から出されたアドレスにバスコントロール
回路８を介して記憶される。その結果、電源電流は時系
列にメモリ９へ記憶される。
【００１６】そして予め定めたシーケンスにより動作さ
せ、電源電流をメモリ９に記憶させる。以後、同じ動作
をさせて電源電流をメモリ９に記憶させる。この際、バ
スコントロール回路８により、メモリ９のアドレスをオ
フセットさせて、前回記憶させたデータを上書きしない
ようにする。こうして得られたデータを対応するアドレ
ス毎にすべて比較する。その結果、１つでも値に変化が
あれば、電子基板１が故障していると判断できる。この
方法では、実施の形態１と比較して、より多くの動作状
態での電源電流が測定できるため、故障の検出率が高
い。
せ、電源電流をメモリ９に記憶させる。以後、同じ動作
をさせて電源電流をメモリ９に記憶させる。この際、バ
スコントロール回路８により、メモリ９のアドレスをオ
フセットさせて、前回記憶させたデータを上書きしない
ようにする。こうして得られたデータを対応するアドレ
ス毎にすべて比較する。その結果、１つでも値に変化が
あれば、電子基板１が故障していると判断できる。この
方法では、実施の形態１と比較して、より多くの動作状
態での電源電流が測定できるため、故障の検出率が高
い。
【００１７】実施の形態３.本実施形態においては、実
施の形態２で示した電子装置の診断システムを使って電
子基板１上の故障部品まで特定するものである。図４は
実施の形態３による電子装置の診断方法を示すフローチ
ャートであり、図において、処理１においては、Ｘ，
Ｎ，ＤＡＴＡ１，ＤＡＴＡ２，ＬＩＭＩＴの各変数を宣
言する。次に処理２においては、各変数に、次に掲げる
初期値を代入する。Ｘ＝０，Ｎ＝オフセット（実施の形
態２で２回目以降の電源電流測定時に１回目にメモリ９
に記憶させたデータを上書きしないように、先頭アドレ
スをずらした時のオフセット値）、ＬＩＭＩＴ＝リミッ
ト（電源電流の変化に対する許容値）、ＥＮＤ＝最終ア
ドレス（実施の形態２で１回目の電源電流測定時にメモ
リ９を記憶したデータの最終アドレス）。
施の形態２で示した電子装置の診断システムを使って電
子基板１上の故障部品まで特定するものである。図４は
実施の形態３による電子装置の診断方法を示すフローチ
ャートであり、図において、処理１においては、Ｘ，
Ｎ，ＤＡＴＡ１，ＤＡＴＡ２，ＬＩＭＩＴの各変数を宣
言する。次に処理２においては、各変数に、次に掲げる
初期値を代入する。Ｘ＝０，Ｎ＝オフセット（実施の形
態２で２回目以降の電源電流測定時に１回目にメモリ９
に記憶させたデータを上書きしないように、先頭アドレ
スをずらした時のオフセット値）、ＬＩＭＩＴ＝リミッ
ト（電源電流の変化に対する許容値）、ＥＮＤ＝最終ア
ドレス（実施の形態２で１回目の電源電流測定時にメモ
リ９を記憶したデータの最終アドレス）。
【００１８】次に処理３においては、メモリ９から図５
におけるアドレスＸに記憶されたデータを読み出しＤＡ
ＴＡ１に代入する。同じく図５におけるアドレス（Ｘ＋
Ｎ）に記憶されたデータを読み出しＤＡＴＡ２に代入す
る。次に処理４においては、｜ＤＡＴＡ１−ＤＡＴＡ２
｜＞ＬＩＭＩＴの条件を満たすか否かを判断する。そし
て処理５においては、図６に示すようなメモリ９のアド
レスと電子部品のマトリクスからアドレスＸに相当する
部品の故障メッセージをＣＰＵ６の画面に表示する。最
後に処理６において、Ｘ＝ＥＮＤの条件を満たすか否か
を判断し、満足すれば動作は終了する。
におけるアドレスＸに記憶されたデータを読み出しＤＡ
ＴＡ１に代入する。同じく図５におけるアドレス（Ｘ＋
Ｎ）に記憶されたデータを読み出しＤＡＴＡ２に代入す
る。次に処理４においては、｜ＤＡＴＡ１−ＤＡＴＡ２
｜＞ＬＩＭＩＴの条件を満たすか否かを判断する。そし
て処理５においては、図６に示すようなメモリ９のアド
レスと電子部品のマトリクスからアドレスＸに相当する
部品の故障メッセージをＣＰＵ６の画面に表示する。最
後に処理６において、Ｘ＝ＥＮＤの条件を満たすか否か
を判断し、満足すれば動作は終了する。
【００１９】実施の形態４．図７はこの発明の実施の形
態４による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態は図３に示す回路構成に加えてＤ／Ａ変
換１２，１３、コンパレータ１４，ラッチ１５，１６、
電流電源モニタ１７から構成された回路が追加されてい
る。バスコントロール８からのデータは、ＣＰＵ６の制
御によりラッチ１５，１６にて保持され、Ｄ／Ａ変換１
２，１３によって電圧に変換される（電圧値はＤ／Ａ変
換１２＞Ｄ／Ａ変換１３に設定する）。コンパレータ１
４は、オペアンプ４からの電圧と、Ｄ／Ａ変換１２，１
３からの電圧を比較し、その結果を電源電流モニタ１７
へ出力する。
態４による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態は図３に示す回路構成に加えてＤ／Ａ変
換１２，１３、コンパレータ１４，ラッチ１５，１６、
電流電源モニタ１７から構成された回路が追加されてい
る。バスコントロール８からのデータは、ＣＰＵ６の制
御によりラッチ１５，１６にて保持され、Ｄ／Ａ変換１
２，１３によって電圧に変換される（電圧値はＤ／Ａ変
換１２＞Ｄ／Ａ変換１３に設定する）。コンパレータ１
４は、オペアンプ４からの電圧と、Ｄ／Ａ変換１２，１
３からの電圧を比較し、その結果を電源電流モニタ１７
へ出力する。
【００２０】電源電流モニタ１７は、オペアンプ４から
の電圧がＤ／Ａ変換１２の電圧からＤ／Ａ変換１３の電
圧までの範囲から外れたか否かを、コンパレータ１４か
らの出力を常時モニタすることで検出し、検出信号をＣ
ＰＵ６に送る。また、異常検出ランプ等により直接外部
に対して電圧異常の発生を知らせてもよい。実使用時の
電源電流をリアルタイムで読み取り、＋／−ピーク値を
Ｄ／Ａ変換１２，１３に設定し、比較することにより、
電子装置が故障した時点で検出することができる。
の電圧がＤ／Ａ変換１２の電圧からＤ／Ａ変換１３の電
圧までの範囲から外れたか否かを、コンパレータ１４か
らの出力を常時モニタすることで検出し、検出信号をＣ
ＰＵ６に送る。また、異常検出ランプ等により直接外部
に対して電圧異常の発生を知らせてもよい。実使用時の
電源電流をリアルタイムで読み取り、＋／−ピーク値を
Ｄ／Ａ変換１２，１３に設定し、比較することにより、
電子装置が故障した時点で検出することができる。
【００２１】実施の形態５．本実施形態においては、実
施の形態４で示した電子装置の診断システムを使って電
子基板１上の故障部品まで特定するものである。即ち、
実施の形態４の故障基板を検出する機能において、異常
電圧を検出した時点でＣＰＵ６の処理を一旦ストップさ
せたうえで、図８に示すフローチャートに基づき操作す
ることにより、電子基板１上の故障部品を特定すること
ができるのである。図８において、先ず処理１では変数
Ｘを宣言する。
施の形態４で示した電子装置の診断システムを使って電
子基板１上の故障部品まで特定するものである。即ち、
実施の形態４の故障基板を検出する機能において、異常
電圧を検出した時点でＣＰＵ６の処理を一旦ストップさ
せたうえで、図８に示すフローチャートに基づき操作す
ることにより、電子基板１上の故障部品を特定すること
ができるのである。図８において、先ず処理１では変数
Ｘを宣言する。
【００２２】次に処理２では、変数に初期値を代入する
（Ｘ＝０）。処理３では、Ｘ番目のＣＰＵ命令を実行す
る。ここで、異常電圧を検出しＣＰＵ６の処理をストッ
プさせたところから予め決められた数だけＣＰＵ６の処
理をさかのぼったところのＣＰＵ命令を０番目とする。
処理４では、電源電流モニタ１７から検出信号が出てい
るか否かを判断する。そして処理５では、処理３で実行
されたＣＰＵ命令と電子部品のマトリクス（図９）から
ＣＰＵ命令に相当する部品の故障メッセージをＣＰＵ６
の画面に表示する。
（Ｘ＝０）。処理３では、Ｘ番目のＣＰＵ命令を実行す
る。ここで、異常電圧を検出しＣＰＵ６の処理をストッ
プさせたところから予め決められた数だけＣＰＵ６の処
理をさかのぼったところのＣＰＵ命令を０番目とする。
処理４では、電源電流モニタ１７から検出信号が出てい
るか否かを判断する。そして処理５では、処理３で実行
されたＣＰＵ命令と電子部品のマトリクス（図９）から
ＣＰＵ命令に相当する部品の故障メッセージをＣＰＵ６
の画面に表示する。
【００２３】実施の形態６．図１０はこの発明の実施の
形態６による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態は図７に示す回路構成に電源電流シャッ
トダウン回路１８を追加したものである。電源電流モニ
タ１７が電圧異常を検出すると、電源電流シャットダウ
ン回路１８に検出信号が入力され、電源電流シャットダ
ウン回路１８が電源電流をシャットダウンするものであ
る。これにより、基板故障により発生する電源電流異常
に対し適切な防災処置が可能となる。尚、上記シャット
ダウン回路１８は、図１、図３に示す診断システムに設
けてもよい。
形態６による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態は図７に示す回路構成に電源電流シャッ
トダウン回路１８を追加したものである。電源電流モニ
タ１７が電圧異常を検出すると、電源電流シャットダウ
ン回路１８に検出信号が入力され、電源電流シャットダ
ウン回路１８が電源電流をシャットダウンするものであ
る。これにより、基板故障により発生する電源電流異常
に対し適切な防災処置が可能となる。尚、上記シャット
ダウン回路１８は、図１、図３に示す診断システムに設
けてもよい。
【００２４】実施の形態７．図１１はこの発明の実施の
形態７による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態においては、図１０で示されるＣＰＵ６
と基準クロック発生回路１０以外の回路を１つの基板１
９に組み込み、複数の基板１９によって半導体試験装置
を構成するものである。このように多数枚の基板１９で
構成される半導体試験装置においても、故障基板並びに
故障部品の検出及び特定電源電流異常に対する防災が可
能となる。尚、図１，図３，図７に示される回路につい
ても同様に複数の基板で構成するようにしてもよい。
形態７による電子装置の診断システムを示す構成図であ
り、本実施形態においては、図１０で示されるＣＰＵ６
と基準クロック発生回路１０以外の回路を１つの基板１
９に組み込み、複数の基板１９によって半導体試験装置
を構成するものである。このように多数枚の基板１９で
構成される半導体試験装置においても、故障基板並びに
故障部品の検出及び特定電源電流異常に対する防災が可
能となる。尚、図１，図３，図７に示される回路につい
ても同様に複数の基板で構成するようにしてもよい。
【００２５】
【発明の効果】この発明の請求項１に係る電子装置の診
断システムによれば、電子基板に電流を供給する手段
と、正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を記
憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせた
ときの電流値と記憶手段に記憶された電流値とを比較す
ることによって電子基板の故障の有無を判断する手段と
を設けたので、電子基板の故障を迅速にしかも容易に発
見することができる。
断システムによれば、電子基板に電流を供給する手段
と、正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を記
憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作をさせた
ときの電流値と記憶手段に記憶された電流値とを比較す
ることによって電子基板の故障の有無を判断する手段と
を設けたので、電子基板の故障を迅速にしかも容易に発
見することができる。
【００２６】この発明の請求項２に係る電子装置の診断
システムによれば、電子基板に電流を供給する手段と、
正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を時系列
的に記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作を
させたときの時系列的な電流値と記憶手段に記憶された
時系列的な電流値とを比較することによって電子基板の
故障の有無を判断する手段とを設けたので、電子基板の
故障の検出率を高めることができる。
システムによれば、電子基板に電流を供給する手段と、
正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を時系列
的に記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作を
させたときの時系列的な電流値と記憶手段に記憶された
時系列的な電流値とを比較することによって電子基板の
故障の有無を判断する手段とを設けたので、電子基板の
故障の検出率を高めることができる。
【００２７】この発明の請求項３に係る電子装置の診断
方法によれば、２回目以降の電流測定値と1回目に記憶
手段に記憶された電流値との差を計算し、この差に応じ
て故障部品を特定するようにしたので、容易かつ迅速に
故障部品を取り換えることができる。
方法によれば、２回目以降の電流測定値と1回目に記憶
手段に記憶された電流値との差を計算し、この差に応じ
て故障部品を特定するようにしたので、容易かつ迅速に
故障部品を取り換えることができる。
【００２８】この発明の請求項４に係る電子装置の診断
システムによれば、電子基板に電流を供給する手段と、
正常な電子基板に基準動作をさせた時の±ピーク時の電
流値を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作
をさせた時の電流値と記憶手段に記憶された±ピーク時
の電流値とを比較することによって電子基板の故障の有
無を判断する手段とを設けたので、リアルタイムに電子
装置が故障した時点を検出することができる。
システムによれば、電子基板に電流を供給する手段と、
正常な電子基板に基準動作をさせた時の±ピーク時の電
流値を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に基準動作
をさせた時の電流値と記憶手段に記憶された±ピーク時
の電流値とを比較することによって電子基板の故障の有
無を判断する手段とを設けたので、リアルタイムに電子
装置が故障した時点を検出することができる。
【００２９】この発明の請求項５に係る電子装置の診断
方法によれば、基準動作をさせたＣＰＵ命令の種類に応
じて故障部品を特定するようにしたので、容易かつ迅速
に故障部品を取り換えることができる。
方法によれば、基準動作をさせたＣＰＵ命令の種類に応
じて故障部品を特定するようにしたので、容易かつ迅速
に故障部品を取り換えることができる。
【００３０】この発明の請求項６に係る電子装置の診断
システムによれば、電子部品の故障が検出された場合、
電流をシャットダウンするための手段を設けたので、電
源電流異常に対し適切な防災処置が可能となる。
システムによれば、電子部品の故障が検出された場合、
電流をシャットダウンするための手段を設けたので、電
源電流異常に対し適切な防災処置が可能となる。
【００３１】この発明の請求項７に係る電子装置の診断
システムによれば、ＣＰＵ又は基準クロック発生回路以
外の回路を一枚の基板に組み込み、上記基板を複数枚設
けたので、複数の電子基板の診断が可能となる。
システムによれば、ＣＰＵ又は基準クロック発生回路以
外の回路を一枚の基板に組み込み、上記基板を複数枚設
けたので、複数の電子基板の診断が可能となる。
【図１】 この発明の実施の形態１による電子装置の診
断システムを示す構成図である。
断システムを示す構成図である。
【図２】 この発明の実施の形態１による電子装置の診
断システムの動作を示すための構成図である。
断システムの動作を示すための構成図である。
【図３】 この発明の実施の形態２による電子装置の診
断システムを示す構成図である。
断システムを示す構成図である。
【図４】 この発明の実施の形態３による電子装置の診
断方法を示すフローチャートである。
断方法を示すフローチャートである。
【図５】 この発明の実施の形態３による電子装置の診
断方法におけるアドレスとデータとの関係を示す表であ
る。
断方法におけるアドレスとデータとの関係を示す表であ
る。
【図６】 この発明の実施の形態３による電子装置の診
断方法におけるアドレスと電子部品のマトリクスであ
る。
断方法におけるアドレスと電子部品のマトリクスであ
る。
【図７】 この発明の実施の形態４による電子装置の診
断システムを示す構成図である。
断システムを示す構成図である。
【図８】 この発明の実施の形態５による電子装置の診
断方法を示すフローチャートである。
断方法を示すフローチャートである。
【図９】 この発明の実施の形態５による電子装置の診
断方法におけるＣＰＵ命令と電子部品のマトリクスであ
る。
断方法におけるＣＰＵ命令と電子部品のマトリクスであ
る。
【図１０】 この発明の実施の形態６による電子装置の
診断システムを示す構成図である。
診断システムを示す構成図である。
【図１１】 この発明の実施の形態７による電子装置の
診断システムを示す構成図である。
診断システムを示す構成図である。
１ 電子基板、６ ＣＰＵ、１０ 基準クロック発生回
路、１８ 電源電流シャットダウン回路、１９ 基板。
路、１８ 電源電流シャットダウン回路、１９ 基板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G032 AB01 AB20 AC01 AD01 AE08 AE12 AG01 AG02 AH01 AK03 AK11 AK12 AK15 AL11 AL14 2G036 AA19 AA27 BA46 BB12 CA05
Claims (7)
- 【請求項１】 電子基板に電流を供給する手段と、正常
な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を記憶させる
記憶手段と、他の電子基板に上記基準動作をさせたとき
の電流値と上記記憶手段に記憶された電流値とを比較す
ることによって上記電子基板の故障の有無を判断する手
段とを設けたことを特徴とする電子装置の診断システ
ム。 - 【請求項２】 電子基板に電流を供給する手段と、正常
な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を時系列的に
記憶させる記憶手段と、他の電子基板に上記基準動作を
させたときの時系列的な電流値と上記記憶手段に記憶さ
れた時系列的な電流値とを比較することによって上記電
子基板の故障の有無を判断する手段とを設けたことを特
徴とする電子装置の診断システム。 - 【請求項３】 請求項２記載の電子装置の診断システム
による診断方法であって、２回目以降の電流測定値と1
回目に記憶手段に記憶された電流値との差を計算し、こ
の差に応じて故障部品を特定することを特徴とする診断
方法。 - 【請求項４】 電子基板に電流を供給する手段と、正常
な電子基板に基準動作をさせた時の±ピーク時の電流値
を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に上記基準動作
をさせた時の電流値と上記記憶手段に記憶された±ピー
ク時の電流値とを比較することによって上記電子基板の
故障の有無を判断する手段とを設けたことを特徴とする
電子装置の診断システム。 - 【請求項５】 請求項４記載の電子装置の診断システム
による診断方法であって、基準動作をさせたＣＰＵ命令
の種類に応じて故障部品を特定することを特徴とする診
断方法。 - 【請求項６】 電子部品の故障が検出された場合、電流
をシャットダウンするための手段を設けたことを特徴と
する請求項１、請求項２、又は請求項４記載の電子装置
の診断システム。 - 【請求項７】 ＣＰＵ又は基準クロック発生回路以外の
回路を一枚の基板に組み込み、上記基板を複数枚設けた
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項４又は請
求項６記載の電子装置の診断システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10241287A JP2000074998A (ja) | 1998-08-27 | 1998-08-27 | 電子装置の診断システム及び診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10241287A JP2000074998A (ja) | 1998-08-27 | 1998-08-27 | 電子装置の診断システム及び診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000074998A true JP2000074998A (ja) | 2000-03-14 |
Family
ID=17072031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10241287A Pending JP2000074998A (ja) | 1998-08-27 | 1998-08-27 | 電子装置の診断システム及び診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000074998A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7250781B2 (en) | 2002-12-19 | 2007-07-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Circuit board inspection device |
| JP2009133762A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | 半導体装置およびその試験方法 |
-
1998
- 1998-08-27 JP JP10241287A patent/JP2000074998A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7250781B2 (en) | 2002-12-19 | 2007-07-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Circuit board inspection device |
| JP2009133762A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | 半導体装置およびその試験方法 |
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