JP2000074229A - 弁装置 - Google Patents

弁装置

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JP2000074229A
JP2000074229A JP10240156A JP24015698A JP2000074229A JP 2000074229 A JP2000074229 A JP 2000074229A JP 10240156 A JP10240156 A JP 10240156A JP 24015698 A JP24015698 A JP 24015698A JP 2000074229 A JP2000074229 A JP 2000074229A
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JP
Japan
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valve
opening
openings
flow
valve seat
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JP10240156A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Kobayashi
浩秋 小林
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シール性を常に良好に維持することが可能な
弁装置を提供すること。 【解決手段】 流体の流通を遮断可能な弁装置におい
て、流体が流出入される一対の開口25,26が形成さ
れると共に、この開口25,26の周囲に弁座27が形
成された弁箱21と、開口25,26を閉塞して流体の
流通を遮断可能とする閉塞部位41、及び開口25,2
6に連通するように所定の径で開放して設けられた流通
部位42を具備した弁体40と、閉塞部位41、及び流
通部位42に夫々設けられ、開口25,26に位置した
ときに弁座27に当接してこの開口25,26を封止す
る封止部材43,46と、封止部材43,46が夫々開
口25,26周辺部の弁座27の同位置に当接するよう
に弁体41を回転駆動させる駆動機構30と、を具備し
たことを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶用のガラス基板などの表面に薄膜を形成するCVD装
置や、エッチング、アッシングを行う表面処理装置のチ
ャンバに接続される給排気ラインに用いられる弁装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体ウエハに薄膜を形成する
CVD装置において、チャンバには材料ガスを供給する
ための給気ラインや、チャンバ内部を真空吸引するため
のポンプなどの真空吸引手段に連結された排気ラインが
接続されている。排気ラインの中途部には、吸引を行う
際には開放し、内部圧力を維持する際には閉鎖する弁装
置が設けられている。
【0003】弁装置としては、図5に示すような構成が
ある。この弁装置1は、内部に空間部3を有する弁箱2
を有しており、この弁箱2の空間部3に連通して互いに
ほぼ直交する構成となるように、一方が開放して設けら
れた第1、第2の外部配管接続フランジ4,5が形成さ
れ、CVD装置などのチャンバからの排気管、或いは真
空吸引手段に接続可能となっている。
【0004】弁箱2内部の空間部3には、弁機構6が設
けられている。この弁機構6は、弁箱2の上方に位置す
る駆動機構8を有しており、この駆動機構8には、弁箱
2内部を上下方向に駆動することが可能なシャフト9が
連結されている。シャフト9には、その下端に弁体7が
取り付けられており、駆動機構8を駆動させることによ
り、上下方向に駆動させることを可能としている。弁体
7は、所定の径を有する円盤状部材であり、その縁部近
傍には全周に亘ってOリング10が取り付けられてい
る。
【0005】そして、上記駆動機構8が作動して弁体7
が下降すると、第2の外部配管接続フランジ5へ連通す
る弁箱2底部に形成された開口部11を塞ぐ構成となっ
ている。この場合、上記Oリング10が当接する開口部
11の周囲は弁座12となっている。この弁座12は、
Oリング10が当接した場合に開口部11を良好に閉塞
する構成とするため、精度が良好な平面に形成されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、CVD装置
においては、例えばモノシランガス等の材料ガスを使用
した成膜プロセスからの排気が為されるので、このプロ
セスでの例えばSi粒やSiO2 粒のような副生成物の
弁箱2内部への付着が問題となる。
【0007】すなわち、このような微小な副生成物が弁
座12やOリング10に付着してしまうと、この弁座1
2とOリング10の間にこれらの微小な副生成物が挟ま
ってしまうため、これらの排気ラインのシール性が良好
とならずリークを生じてしまうといった問題がある。
【0008】そこで、このような問題を解決するため、
図5に示すように弁箱12及びシャフト9に電源14と
電気的に接続されたヒータ13を取り付け、このヒータ
13で弁箱12や弁体7を例えば200度程度まで加熱
し、副生成物が付着するのを防止する構成を採用したも
のがある。
【0009】これは、ヒータ13で加熱することによっ
て付着した副生成物を気化させ、排気ラインのシール性
を良好に維持することを目的として設けられた構成であ
る。しかしながら、例えばモノシランを用いたポリシリ
コン膜生成プロセスで生じるSiO2 粒やSi化合物等
のある種の化合物の粒状体は、200度程度の加熱では
気化せずに付着したまま残留する副生成物がある。この
ような副生成物は、付着して徐々に堆積してしまうた
め、200度程度に加熱したのみではOリング10と弁
座12との間のシール性を良好に維持することが困難と
なる。
【0010】そのため、常にシール性を良好に保つこと
が可能な弁装置が望まれている。本発明は上記の事情に
もとづきなされたもので、その目的とするところは、シ
ール性を常に良好に維持することが可能な弁装置を提供
しようとするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、流体が流通する開口を有す
ると共に、この開口の周囲に弁座が形成された弁部と、
上記開口を閉塞して流体の流通を遮断可能とする閉塞部
位、及び開口に連通する孔部が開放して設けられた流通
部位を具備し、該閉塞部位、及び流通部位に夫々設けら
れ、上記弁座に当接する開口より大きい封止部材を備え
た弁体と、上記開口に対し閉塞部位と流通部位を切り替
える弁体の駆動機構とを有し、上記閉塞部位及び流通部
位に設けられた封止部材はほぼ同形をなし、弁体の閉塞
部位と流通部位を切り替えても弁座の封止部材当接位置
は同位置であることを特徴とする弁装置である。
【0012】請求項2記載の発明は、上記弁体は、閉塞
部位と、開口径が異なる孔部が形成された複数の流通部
位が設けられていることを特徴とする請求項1記載の弁
装置である。
【0013】請求項1の発明によると、流体が流通する
開口を有すると共に、この開口の周囲に弁座が形成され
た弁部と、開口を閉塞して流体の流通を遮断可能とする
閉塞部位、及び開口に連通する孔部が開放して設けられ
た流通部位を具備し、該閉塞部位、及び流通部位に夫々
設けられ、上記弁座に当接する開口より大きい封止部材
を備えた弁体と、上記開口に対し閉塞部位と流通部位を
切り替える弁体の駆動機構とを有し、閉塞部位及び流通
部位に設けられた封止部材はほぼ同形をなし、弁体の閉
塞部位と流通部位を切り替えても弁座の封止部材当接位
置は同位置であるため、流体の流通時でも開口の周辺部
分に封止部材が当接した状態となる。
【0014】このため、流体が流通しても、弁座の開口
周辺部分が流体の雰囲気に対して露出せず、この部分で
の微小な副生成物の付着を防止することが可能となる。
また、駆動機構で回転駆動させることで、閉塞部位の封
止部材を弁座に対して当接した状態にすることができ
る。このため、閉塞部位の封止部材の当接部位が流体の
雰囲気に露出させず、この部分でも微小な副生成物が付
着するのを防止可能となる。
【0015】よって、これら開口周辺部分及び閉塞部位
の封止部材での副生成物の付着を防止できる構成である
ため、これらが当接した場合にシール性の悪化を防止す
ることができる。
【0016】請求項2の発明によると、弁体は、閉塞部
位と開口径が異なる孔部が形成された複数の流通部位が
設けられているため、上記開口へ位置させる孔部を切り
替えて位置させることで、流体の流量を制御することが
可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて、図1ないし図3に基づいて説明する。図1及び図
2に示す弁装置20は、弁箱21を有している。この弁
箱21は、内部に空間部22が形成されてこの空間部2
2を外部から気密に閉塞するものである。
【0018】この弁箱21には、第1の外部配管接続フ
ランジ23および第2の外部配管接続フランジ24が形
成されている。第1及び第2の外部配管接続フランジ2
3,24は、所定の長さだけ弁箱21からその内径を大
きくして突出形成が為された配管状部分である。またこ
の第1の外部配管接続フランジ23には、CVD装置等
のチャンバからの排気管、さらに第2の外部配管接続フ
ランジ24には、図示しない真空吸引手段と接続可能と
しており、これによってチャンバと真空吸引手段とを連
通させる排気ラインが構成されるようになっている。
【0019】なお、本実施の形態では、CVD装置等の
チャンバから真空吸引を行うものであるため、弁箱21
内部を流通する流体は気体であり、その気体の種類は例
えばモノシランガス等の材料ガスを利用した成膜プロセ
ス後のガスであり、副生成物を含んでいるため、弁箱2
1内部で副生成物の付着が問題となる。
【0020】第1、第2の外部配管接続フランジ23,
24が形成された弁箱21には、空間部22と連通する
孔状の第1の開口部25及び第2の開口部26が形成さ
れている。第1及び第2の開口部25,26の内径は、
上記排気管や接続配管の内径とほぼ同等としている。ま
た、第2の開口部26の周囲には、第2の開口部26か
ら第1の開口部25に向かう方向に、それ以外の部分よ
りも広く設けられた弁座27が形成されている。これら
第2の開口部及び弁座27により弁部が形成されてい
る。
【0021】この弁座27は、後述する弁体40のOリ
ング43,46と当接させるために、精度良く平坦化が
為されている。弁箱21の上部には、弁体40を駆動し
て、弁箱21の内部を流通する気体の流通及び遮断を行
うための駆動機構30が設けられている。この駆動機構
30は、例えば電動モータなどの駆動源31を有してお
り、これに連結されているシャフト32を回転及び上下
方向に駆動することを可能としている。
【0022】ここで、駆動源31に連結されるシャフト
32を弁箱21内部に挿通させるため、弁箱21の上面
には挿通孔33が形成されている。この挿通孔33は、
その内部にOリング34が取り付けられており、それに
よって弁箱21内部のシール性を良好に保つことでシャ
フト32が上下方向に摺動した場合でも内部圧力を維持
する構成となっている。
【0023】シャフト32の下端には、弁体40が取り
付けられている。この弁体40は、その形状が例えば図
3に示すように楕円形状に形成された板状部材となって
いる。そして、この弁体40の中心位置にシャフト32
が連結された構成である。
【0024】この弁体40の楕円形状の長軸方向におい
ては、シャフト32を挟んで閉塞部位41および流通部
位42が対称に設けられている。閉塞部位41は、何等
孔形状が形成されずに通常の肉厚を有している。
【0025】閉塞部位41の下面(第2の開放部26の
対向面)には、第2の開口部26の外径よりもやや大き
な径をなすあり溝44が形成されており、このあり溝4
4中に封止部材たるOリング43が嵌合され、第2の開
口部26からのリークを防止するため該第2の開口部2
6の全周に亘って途切れなく設けられている。それによ
って、閉塞部位41が第2の開口部26に位置したとき
に、これを十分閉塞できる構成となっている。
【0026】シャフト32を挟んで閉塞部位41と対称
な位置に存する流通部位42は、第2の開口部26に位
置した場合に、良好にプロセス後の排気ガスを流通させ
る構成とすべく、この第2の開口部26への対応部位に
弁体孔45が形成されている。弁体孔45は、図2に示
すように第2の開放部26とほぼ同等の内径に形成され
ており、それによって材料ガスを何等支障なくチャンバ
から真空吸引手段へと流通させることを可能としてい
る。
【0027】また、この弁体孔45の周囲には、上記閉
塞部位41のOリング43に相当するOリング46があ
り溝47に嵌合されて設けられている。このOリング4
6は、上記Oリング43と同様に第2の開口部26の周
囲の弁座27に当接してこの第2の開口部26の周囲と
弁体40の間に生じる隙間を密封している。
【0028】以上のような構成を有する弁装置20の作
用について、以下に説明する。図1には、弁体40の閉
塞部位41が第2の開口部26に位置した状態を示して
いる。この状態では、弁体40は駆動源31によって弁
座27に押し付けられ、それによって閉塞部位41及び
これに設けられたOリング43で第2の開口部26を閉
塞した状態となっている。この状態では、チャンバから
の排気ガスは流通せずにこの部分で遮断され、チャンバ
内部の圧力を維持可能としている。
【0029】そして、チャンバから真空吸引手段により
生じる吸引力で排気ガスの流通を行う場合には、図2に
示すように流通部位42が第2の開口部26に位置する
ように、駆動機構30を作動させて弁体40を回転させ
て切り替える。具体的には、まず駆動源31を作動させ
て図1の閉塞状態から弁体40を上方に持ち上げ、所定
の高さへの弁体40を上方に持ち上げ、所定の高さへの
弁体40の持ち上げが行われた後に、弁体40を回転駆
動させて向きを180度反転させる。
【0030】そして、今度は弁体40を下降させて弁座
27へ当接させることで排気ガスの流通を行える状態と
する。このとき、Oリング43が当接した位置とほぼ同
じ位置にOリング46が当接し、Oリング46が当接し
ていた位置とほぼ同じ同位置にOリング43が当接した
状態となる。つまり、Oリング43,46は常に弁座2
7の同じ位置に当接するため、どちらも排気ガス雰囲気
に露出した状態とならない。
【0031】つまり、Oリング43,46と弁座27の
当接部分に、例えばモノシランガスなどの材料ガスを使
用したプロセスによって生じる、例えばSi粒やSiO
2 粒等のような副生成物が付着するのが防止できるの
で、常に良好なシール性を維持することが可能となって
いる。
【0032】以上、本発明の一実施の形態について説明
したが、本発明はこれ以外にも種々変形可能となってい
る。以下それについて述べる。上記実施の形態では、楕
円形状の弁体41を用いてシールを行う構成について説
明したが、弁体はこれに限られず、種々の形状のものを
用いることが可能となっている。
【0033】一例として、図4に示すように三角形状の
弁体60を形成し、この三角形状の三つの隅部へ夫々大
径の弁体孔61、小径の弁体孔62、及び閉塞部位63
を設けた構成としても良い。この場合には、大径の弁体
孔61及び小径の弁体孔62で排気ガスの流量の切替を
も行うことができ、上述の作用効果と相俟って更なる作
用効果を奏することが可能となっている。
【0034】また、上述の実施の形態では、CVD装置
のチャンバから排気ガスの真空吸引を行う構成について
述べたが、本発明はこれに限られず、材料ガスの給気ラ
インの途中に設けて材料ガスの供給をコントロールする
ことも可能であり、また他のガスを給排気するときの配
管部分や、或いは液体のように気体以外の流体を給排気
する場合にも本発明を適用可能となっている。
【0035】さらに、第2の開口部26を閉塞する構成
ではなく、第1の開口部25を閉塞する構成にも、本発
明を適用可能となっている。その他、本発明の要旨を変
更しない範囲において、種々変形可能となっている。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
流体の流通時でも開口の周辺部分に封止部材が当接した
状態となり、このため流体が流通しても、弁座の開口周
辺部分が流体の雰囲気に対して露出せず、この部分での
微小な副生成物の付着を防止することが可能となる。
【0037】また、駆動機構で回転駆動させることで、
閉塞部位の封止部材を弁座に対して当接した状態にする
ことができる。このため、閉塞部位の封止部材の当接部
位が流体の雰囲気に露出させず、この部分でも微小な副
生成物が付着するのを防止可能となる。よって、これら
開口周辺部分及び閉塞部位の封止部材での副生成物の付
着を防止できる構成であるため、常に良好なシール性を
維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係わる弁装置の構成を
示す側断面図であり、弁体の閉塞状態を示す図。
【図2】同実施の形態に係わる弁装置の構成を示す側断
面図であり、弁体の開放状態を示す図。
【図3】同実施の形態に係わる弁体の形状を示す平面
図。
【図4】本発明の変形例に係わる弁体の形状を示す平面
図。
【図5】従来のバルブ装置の構成を示す側断面図。
【符号の説明】
20…弁装置 21…弁箱 22…空間部 25…第1の開口部 26…第2の開口部 27…弁座 30…駆動機構 31…駆動源 32…シャフト 40…弁体 41…閉塞部位 42…流通部位 43,46…Oリング 45…弁体孔

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 流体が流通する開口を有すると共に、こ
    の開口の周囲に弁座が形成された弁部と、 上記開口を閉塞して流体の流通を遮断可能とする閉塞部
    位、及び開口に連通する孔部が開放して設けられた流通
    部位を具備し、 該閉塞部位、及び流通部位に夫々設けられ、上記弁座に
    当接する開口より大きい封止部材を備えた弁体と、 上記開口に対し閉塞部位と流通部位を切り替える弁体の
    駆動機構とを有し、 上記閉塞部位及び流通部位に設けられた封止部材はほぼ
    同形をなし、弁体の閉塞部位と流通部位を切り替えても
    弁座の封止部材当接位置は同位置であることを特徴とす
    る弁装置。
  2. 【請求項2】 上記弁体は、閉塞部位と、開口径が異な
    る孔部が形成された複数の流通部位が設けられているこ
    とを特徴とする請求項1記載の弁装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003535290A (ja) * 2000-05-30 2003-11-25 ポール・ワース・ソシエテ・アノニム 材料充填または排出ロックのための気密遮断弁
JP2004286131A (ja) * 2003-03-24 2004-10-14 Smc Corp ゲートバルブ
JP2007155005A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Ulvac Japan Ltd 真空用ゲ−トバルブ
WO2008139937A1 (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Tokyo Electron Limited バルブおよび該バルブを備えた処理装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003535290A (ja) * 2000-05-30 2003-11-25 ポール・ワース・ソシエテ・アノニム 材料充填または排出ロックのための気密遮断弁
JP2004286131A (ja) * 2003-03-24 2004-10-14 Smc Corp ゲートバルブ
JP2007155005A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Ulvac Japan Ltd 真空用ゲ−トバルブ
WO2008139937A1 (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Tokyo Electron Limited バルブおよび該バルブを備えた処理装置
JPWO2008139937A1 (ja) * 2007-05-08 2010-08-05 東京エレクトロン株式会社 バルブおよび該バルブを備えた処理装置
JP5011382B2 (ja) * 2007-05-08 2012-08-29 東京エレクトロン株式会社 バルブおよび該バルブを備えた処理装置
US8968472B2 (en) 2007-05-08 2015-03-03 Tokyo Electron Limited Valve and processing apparatus provided with the same

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