JP2000059696A - 撮像装置及びそれを用いた撮像システム - Google Patents

撮像装置及びそれを用いた撮像システム

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JP2000059696A JP10221680A JP22168098A JP2000059696A JP 2000059696 A JP2000059696 A JP 2000059696A JP 10221680 A JP10221680 A JP 10221680A JP 22168098 A JP22168098 A JP 22168098A JP 2000059696 A JP2000059696 A JP 2000059696A
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • H04N25/778Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising amplifiers shared between a plurality of pixels, i.e. at least one part of the amplifier must be on the sensor array itself

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高画素のセンサーから低画素の信号を読出す
時、センサー内で信号を加算し、低速にかつ高感度な信
号を低消費電力で得る。 【解決手段】 複数の光電変換部と該複数の光電変換部
からの信号が入力される共通アンプとを配置した単位セ
ルSが複数列配列された撮像装置において、複数の光電
変換部からの信号を前記共通アンプの入力部で任意に加
算切替える加算切替手段(Vo,So、Ve,Se)を有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は撮像装置及びそれを
用いた撮像システムに係わり、特に複数の光電変換部と
該複数の光電変換部からの信号が入力される共通アンプ
とを配置した単位セルが複数列配列された撮像装置及び
それを用いた撮像システムに関する。
【0002】
【従来の技術】1998年から米国でデジタル放送が開
始され、2006年にはNTSC放送(525V)が廃
止され、TV放送は全てHDデジタルにする計画があ
る。またデジタルスチルカメラは130万画素のものが
市場を席巻する勢いである。このことは、高画素のセン
サーから高解像度信号と低解像度信号を必要に応じて出
力することが望まれることを意味する。
【0003】こういう状況のなか、CCDでは画素サイ
ズのシュリンク化(縮小化)が進んでいる。しかし、5
μm□サイズ程度のCCDでは高速読出しができず、現
状では60万画素、60フレーム/秒程度のものが製品
化されるに留まっている。
【0004】一方、CMOS製造プロセスと同様のプロ
セスで作製される、CMOSセンサーはランダムアクセ
スが可能であるので、将来の高速化に適したセンサーと
して期待されている。
【0005】ところで、高画素数のセンサーから低画素
数を読出す場合、間引き走査を行うことで低画素の情報
を得ることができる。この間引き走査において、 CCDでは不要な水平ラインの画素信号を水平シフ
トレジスタに設けたオーバーフロードレインに捨ててい
た。 CMOSセンサーでは必要な画素のみを読み出して
いた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
のCCDの間引き走査では、不要な画素の電荷も転送す
るので無駄な電力を要する。また不要な信号は間引いて
捨てるので、低サンプリングによるモアレが発生する。
また上記の間引き走査でも同様にモアレが発生する。
【0007】本発明の目的は、高画素のセンサーから低
画素の信号を読出す時、センサー内で信号を加算し、低
速にかつ高感度な信号を低消費電力で得ることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、複
数の光電変換部と該複数の光電変換部からの信号が入力
される共通アンプとを配置した単位セルが複数列配列さ
れた撮像装置において、前記複数の光電変換部からの信
号を前記共通アンプの入力部で任意に加算切替える加算
切替手段を有することを特徴とする。
【0009】本発明の撮像システムは、前記本発明の撮
像装置と、該撮像装置へ光を結像するレンズと、該撮像
装置からの出力信号を処理する信号処理回路とを有する
ことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】まず、本発明の説明に先だって、
公知の関連技術との違いについて説明する。
【0011】暗い被写体を撮像する場合、CMOSセン
サーでは垂直2画素の信号を加算することは既に行われ
ている。例えば、特開平9−46596号公報の図4に
は同時刻に垂直方向の上下2つの光電変換部の信号をセ
ル内で加算することが記載されている。しかし、種々の
加算読み出しの切替え、例えば垂直方向の光電変換部の
信号の加算と、水平方向の光電変換部の信号の加算との
切替えを可能とする加算切替え手段については開示がな
い。
【0012】また、垂直方向の2画素又は3以上の画素
の光電変換部について一つの増幅手段を設けることにつ
いては、特開平4−461号公報に開示され、水平・垂
直方向の4画素の光電変換部について一つの増幅手段を
設けることについては、特開昭63−100879号公
報に開示されているが、いずれも加算処理や、加算読出
しの切替えについての開示はない。
【0013】本発明は複数の光電変換部からの信号を共
通アンプの入力部で任意に加算切替える加算切替手段を
設けることで、表1に示すような種々の加算読み出し、
全画素読出しの切替えが可能となる。
【0014】図3にセンサー信号読み出しモードを説明
するためセンサー概略図を示す。
【0015】ここでは、センサーの有効画素数130万
画素(≒1024V×1280H)とし、不図示の共通
アンプに4つの光電変換部(例えばa11,a12,a21
22)を配置して構成したセンサーである。このセンサ
ーから本発明により、例えば表1に示す、A.全画素独
立、B.垂直水平4画素加算、C.水平2画素加算、
D.垂直2画素加算の各読出しモードの切替えが可能と
なる。なお、本発明は特に4つの光電変換部に一つの共
通アンプを設けた場合に限定されず、3つの光電変換部
あるいは5以上の光電変換部に対して一つの共通アンプ
を設けた場合にも適用される。
【0016】
【表1】 上記表1のAの全画素読出しモードは、解像度優先の読
出しモードであり、例えばデジタルスチルカメラのプロ
グレッシブ(ノンインタレース)1024ライン駆動に
好適に用いられる。読出しは1水平走査毎に順次V1
イン(a11,a 12,・・・),V2 ライン(a21,a22,・
・・),・・・V1024ラインと読出される。
【0017】この時の感度を1とする(感度はフレーム
周波数、インタレースとノンインタレースなどのモード
の違いによる蓄積時間により異なるので、ここでは加算
する画素数比のみで表わす)。
【0018】上記表1のBの垂直・水平4画素加算読出
しモードは、例えばNTSCのインタレース駆動に好適
に用いられる。奇数フィールドではV1 ・V2 ライン、
5・V6 ラインの順に、偶数フィールドではV3 ・V
4 ライン、V7 ・V8 ラインと順に読出す。信号は4画
素加算するのでV1 ・V2 ラインではa11+a12+a 21
+a22,a13+a14+a23+a24,・・・となる。
【0019】加算後の画素数は512V×640Hとな
るが、480V×640Hの信号を利用すればNTSC
信号となる。感度は上記Aの全画素読出しの4倍(イン
タレースを考慮すると×8)になる。
【0020】上記表1のCの水平2画素加算読出しモー
ドは、隣接する水平方向2画素の信号を加算する。その
結果、読出しはV1 ライン(a11+a12,a13+a14
・・・),・・・,V1024ラインとなる。
【0021】上記表1のDの垂直2画素加算読出しモー
ドは、隣接する垂直方向2画素の信号を加算する。その
結果、読出しはV1 ・V2 ライン(a11+a21,a12
22,・・・),・・・,V1023・V1024ラインとなる。
【0022】上記表1のB、C、Dの各読出しモードは
低照度の感度アップ、撮影モニターの画素数が少ない
時、記録系の容量を少なくしたい時、小電力モードの時
などに利用する。
【0023】図1は撮像装置の構成を示す概略図、図2
は図1の撮像装置の単位セルSの構成を示す図である。
【0024】図2に示すように、単位セルSは、共通ア
ンプ1つに光電変換部4つ(ここでは、a11,a12,a
21,a22)を配置して構成されている。その他の単位セ
ルについても同様な構成となっている。なお、ここでは
共通アンプは増幅手段MSF、リセット手段MRES、選択
手段MSELから構成され、共通アンプの入力部は増幅手
段MSFのゲート部である。
【0025】4画素単位で、水平方向の上2光電変換部
(a11,a12)の信号転送を制御するラインを奇数の垂
直シフトレジスタVo (Vo1,Vo2,Vo3,・・・)に接
続し、水平方向の下2光電変換部(a21,a22)の信号
転送を制御するラインを偶数の垂直シフトレジスタVe
(Ve1,Ve2,Ve3,・・・)に接続する。共通アンプの
リセットスイッチMRES及びセレクトスイッチMSELは奇
数の選択回路So (S o1,So2,・・・)と偶数の選択回
路Se (Se1,Se2,・・・)を経てそれぞれの垂直シフ
トレジスタVo ,Ve に接続される。垂直シフトレジス
タVo ,Ve と選択回路So ,Se は独立に制御するこ
とができる。この垂直シフトレジスタVo,Ve と選択
回路So ,Se は加算切替手段を構成する。
【0026】表1の読出しモードに応じた垂直シフトレ
ジスタの駆動例を図4に示す。図4(a)はノンインタ
レース(プログレッシブ)駆動で、垂直シフトレジスタ
oより制御信号φo (φo11,φo12,φo21,φo22,・
・・)を出力し、垂直シフトレジスタVe より制御信号φ
e (φe11,φe12,φe21,φe22,・・・)を出力して1
H毎に順次走査し、各水平ラインの画素信号を順次制御
する。この駆動では、各画素独立読出し、あるいは水平
2画素加算読出しが可能である。
【0027】図4(b)は共通アンプ4画素単位又は垂
直2画素単位で2ライン同時駆動を行う例である。垂直
シフトレジスタVo からの制御信号φo と垂直シフトレ
ジスタVe からの制御信号φe を同相駆動する。この駆
動では、垂直2画素信号加算読出し、あるいは垂直・水
平4画素信号加算読出しが可能である。
【0028】以下、表1に示した読出しモードについて
タイミングチャートを用いて更に説明する。
【0029】図5に読出しモードA(全画素読出し)の
タイミングチャートを示す。
【0030】水平ブランキング期間(HBLK)に、画
素で光電変換された信号の転送と、光電変換の初期状態
へのリセット動作を行う。1行目の光電変換部行の信号
転送、リセット動作は奇数の垂直シフトレジスタVo
び奇数の選択回路So により制御される。
【0031】期間T1 では、パルスφRVで垂直信号線を
リセットし、信号線上の残留電荷の除去を行うととも
に、パルスφTN1,φTN2,φTS1,φTS2で一時蓄積用容
量CTN 1,CTN2,CTS1,CTS2上の残留電荷の除去を行
う。
【0032】期間T2 では、1行目の光電変換部行(a
11,a12,・・・a1n)のなかで、まず奇数番目の光電変
換信号を転送する前段階として、共通アンプの増幅手段
MSFのゲート部をパルスφoRでリセットし残留電荷を除
去する。除去した後ゲート部にはリセットノイズが残
る。
【0033】期間T3 では、期間T2 でのリセットノイ
ズと共通アンプのオフセット電圧を容量CTN1へ転送す
る期間である。パルスφoSで共通アンプの出力部を垂直
信号線へ接続し、また共通アンプを動作状態にするため
にパルスφLで負荷MOS Trを導通させ、パルスφTN1で垂
直信号線と容量CTN1を接続させる。容量CTN1にはノイ
ズ(N)として蓄積される。
【0034】期間T4 では、奇数番目(a11,a13,・・
・a1n)の光電変換信号を容量CTS1ヘ転送する期間であ
る。パルスφL,φTS1,φoSにより共通アンプから容量
TS 1までが導通状態となる。
【0035】パルスφo11で光電変換信号は、光電変換
部から共通アンプのゲート部へ転送される。この時点で
ゲートにはT2 期間でのリセットノイズに上記光電変換
信号が加算されることになる。このゲート電圧は、共通
アンプのオフセット電圧に重畳し、容量CTS1上では信
号(S+N)として蓄積される。
【0036】期間T5 〜T8 では、この期間は偶数番目
(a12,a14,・・・a1n-1)の光電変換信号を容量CTS2
へ転送する駆動を行う。基本動作は前述のT1 〜T4
間と同じである。異なるのはφo11→φo12,φTN1→φ
TN2,φTS1→φTS2のパルス制御である。
【0037】期間T9 では、垂直信号線と共通アンプと
転送MOS間の残留電荷を除去させることによりリセッ
トノイズと光電変換信号の転送の基本動作を終了させ
る。
【0038】上述の駆動で各容量上にはノイズN1,N
2,信号S1+N1,S2+N2が蓄積されている。こ
れらのノイズと信号はT10期間に水平シフトレジスタか
らのパルスφH1,φH2で水平出力線に転送される。
出力アンプA1で(S1+N1)−N1の減算が行なわ
れ、信号S1が出力され、また出力アンプA2で(S2
+N2)−N2の減算が行なわれ信号S2が出力され
る。
【0039】これで光電変換部行(a11・・・a1n)の光
電変換信号のみが得られたことになる。画素行の蓄積は
4 ,T8 期間で光電変換信号をゲート部へ転送した時
点で光電変換を開始している。
【0040】次の水平ブランキング期間では2行目の光
電変換部行の信号読出し動作が1行目と同様に行なわれ
る。2行目の光電変換部行の信号転送、リセット動作は
偶数の垂直シフトレジスタVe 及び偶数の選択回路Se
により制御される。
【0041】図6に垂直タイミングの概略図である。一
垂直期間に上述した水平期間の動作が、垂直方向画素分
の駆動が順次行われる。垂直シフトレジスタは1H毎に
駆動パルスφon1,φon2(φen1,φen2),φoRn,φ
oSn(φeRn,φeSn)パルスを行毎に出力する。
【0042】図7に読出しモードB(垂直・水平4画素
加算)のタイミングチャートを示す。垂直・水平4画素
加算信号の信号転送、リセット動作は奇数,偶数の垂直
シフトレジスタVo ,Ve 及び奇数の選択回路So (又
は偶数の選択回路Se )により制御される。
【0043】期間T1 では、パルスφRVで垂直信号線を
リセットし、信号線上の残留電荷の除去を行うととも
に、パルスφTN1,φTS1で一時蓄積用容量CTN1,CTS1
上の残留電荷の除去を行う。
【0044】期間T2 で共通アンプのゲートをφOR1
リセットし、期間T3 で共通アンプのノイズ(Vn )を
容量CTN1へ転送する。次に期間T4 で4つの画素の転
送用スイッチMTX1〜MTX4を転送パルスφo11
φo12 ,φe11 ,φe12 で導通状態にし、各光電変換部
からの信号を共通アンプの増幅手段MSFのゲート部で加
算する。この加算信号に対応する信号(Vs +Vn ;V
s は4光電変換部(a11+a 12+a21+a22)の加算信
号成分、Vn はノイズ成分)は容量CTS1へ転送され
る。これらの信号とノイズは差動アンプA1でノイズ
(Vn )が除去され、出力信号S1はアンプノイズのな
い光電変換信号(Vs )のみとなる。インタレース駆動
時は2ラインおきに駆動する。
【0045】次の水平ブランキング期間では3,4行目
の光電変換部行の動作が1,2行目と同様に行なわれ
る。
【0046】図8に読出しモードC(水平2画素加算)
のタイミングチャートを示す。1行目の光電変換部行の
信号転送、リセット動作は奇数の垂直シフトレジスタV
o 及び奇数の選択回路So により制御される。
【0047】期間T1 では、パルスφRVで垂直信号線を
リセットし、信号線上の残留電荷の除去を行うととも
に、パルスφTN1,φTS1で一時蓄積用容量CTN1,CTS1
上の残留電荷の除去を行う。
【0048】期間T2 で共通アンプの増幅手段MSFのゲ
ートをφORでリセットし、期間T3で共通アンプのノイ
ズ(Vn )を容量CN1へ転送する。次に期間T4 で水平
2つの光電変換部からの信号を転送パルスφon1 ,φ
on2 で導通状態にし、ゲート部で加算する。この加算信
号に対応する信号(Vs +Vn ;Vs は水平2光電変換
部(a11+a12)の加算信号成分、Vn はノイズ成分)
は容量CS1へ転送される。これらの信号とノイズは差動
アンプA1でノイズ(Vn )が除去され、出力信号S1
はアンプノイズのない光電変換信号(Vs )のみとな
る。
【0049】次の水平ブランキング期間では2行目の光
電変換部行の動作が1行目と同様に行なわれる。2行目
の光電変換部行の信号転送、リセット動作は偶数の垂直
シフトレジスタVe 及び偶数の選択回路Se により制御
される。
【0050】図9に読出しモードD(垂直2画素加算)
のタイミングチャートを示す。垂直2画素加算信号の信
号転送、リセット動作は奇数,偶数の垂直シフトレジス
タV o ,Ve 及び奇数の選択回路So (又は偶数の選択
回路Se )により制御される。
【0051】期間T1 では、パルスφRVで垂直信号線を
リセットし、信号線上の残留電荷の除去を行うととも
に、パルスφTN1,φTN2,φTS1,φTS2で一時蓄積用容
量CTN 1,CTN2,CTS1,CTS2上の残留電荷の除去を行
う。
【0052】期間T2 で共通アンプの増幅手段MSFのゲ
ートをφOR1でリセットし、期間T3 で共通アンプのノイ
ズ(Vn1)を容量CN1へ転送し、期間T4 で第1列目の
垂直2つの光電変換部からの信号を転送パルスφon1
φen1 で導通状態にし、ゲート部で加算する。この加算
信号に対応する信号(Vs1+Vn1;Vs1は垂直2光電変
換部(a11+a21)の加算信号成分、Vn1はノイズ成
分)は容量CS1へ転送される。
【0053】期間T5 で共通アンプの増幅手段MSFのゲ
ートをφOR1でリセットし、期間T6 で共通アンプのノイ
ズ(Vn2)を容量CN2へ転送し、期間T7 で第2列目の
垂直2つの光電変換部からの信号を転送パルスφon2
φen2 で導通状態にし、ゲート部で加算する。この加算
信号に対応する信号(Vs2+Vn2;Vs2は垂直2光電変
換部(a12+a22)の加算信号成分、Vn2はノイズ成
分)は容量CS2へ転送される。その後、容量CS1の信号
から容量Cn1のノイズを、容量CS2の信号から容量Cn2
のノイズを除去する。
【0054】次の水平ブランキング期間では3,4行目
の光電変換部行の動作が1,2行目と同様に行なわれ
る。
【0055】図10にシステム概略図を示す。同図に示
すように、光学系71、絞り80を通って入射した画像
光はCMOSセンサー72上に結像する。CMOSセン
サー72上に配置されている画素アレーによって光情報
は電気信号へと変換される。その電気信号は信号処理回
路73によって予め決められた方法によって信号変換処
理され、出力される。信号処理された信号は、記録系、
通信系74により情報記録装置により記録、あるいは情
報転送される。記録、あるいは転送された信号は再生系
77により再生される。絞り80、CMOSセンサー7
2、信号処理回路73はタイミング制御回路75により
制御され、光学系71、タイミング制御回路75、記録
系・通信系74、再生系77はシステムコントロール回
路76により制御される。
【0056】表1に示す各読出しモードでは水平と垂直
駆動パルスが異なる。従って読出しモード毎にセンサー
の駆動タイミング、信号処理回路の解像度処理、記録系
の記録画素数を変える必要がある。これらの制御はシス
テムコントロール回路76で各読出しモードに応じて行
われる。また読出しモードで、加算により感度が異な
る。例えば表1で読出しモードAに対し読出しモードC
とDでは信号量が2倍になる。このままではダイナミッ
クレンジが1/2になるため絞り80を半絞り小さく制
御することにより適正信号を得る。この結果、低照度時
は1/2の明るさまで撮影可能となる。
【0057】次に本発明の撮像装置に好適に用いること
ができる単位セルの具体的な構成について説明する。
【0058】図18に示す配置は、光電変換部173の
配列が等ピッチとはならないために(a1≠a2)、それ
ぞれの画素内の光を関知する領域(受光部)の間隔が等
しくならず、次のような問題が生じる。すなわち、同色
の等ピッチでない配列は、部分的に空間周波数、解像度
が等しくないために、解像度の低下、モアレ縞等の不良
を発生させる。また、モアレ縞の発生は非常に重大な問
題であり、そのような撮像装置は、事実上製品として成
り立ち得ない。これは前記単位セルを構成する画素数が
4以外の場合にも同様に成り立つ。
【0059】本発明者らは、複数画素中に分散された増
幅手段を有するCMOSセンサーにおいても、光電変換
部のピッチを一定とすることによってそれぞれの受光部
の間隔は等しくなり、解像度の低下とモアレ縞の発生を
防止し、開口率等を向上させ、良好な性能を得ることが
できる撮像装置を見出した。このような撮像装置は本発
明において好適に用いることができる。
【0060】図11は2行2列の画素が共通アンプ部1
2を共有する例を示す図である。図11では、共有する
共通アンプ部12が4つの画素の中心に配置され、4つ
の光電変換部(a11,a12,a21,a22)が共通アンプ
部12を取囲むように配置されている。ここで共通アン
プ部12には図2の増幅手段MSF、リセット手段MSE
L、選択手段MSELの他、転送手段MTX1〜MTX4を含んで
いる。
【0061】しかも、共通アンプ部12の占める各画素
における領域と中心対称な位置に遮光部15が存在して
いる。従って、各画素における光電変換部11の重心は
前記各画素の中心に存在する。これにより前記4つの光
電変換部(a11〜a22)は縦方向、横方向に等間隔aで
配置できている。
【0062】また図12では、共有する共通アンプ部2
2が4つの画素の横方向の中心部に配置され、4つの光
電変換部21(a11,a12,a21,a22)が共通アンプ
部22をはさむように配置されている。
【0063】しかも、共通アンプ部22の占める各画素
における領域と中心対称な位置に遮光部25が存在して
いる。従って各画素における前記光電変換部21の重心
は各画素の中心に存在する。これにより4つの光電変換
部(a11〜a22)は縦方向、横方向に等間隔aで配置で
きている。
【0064】上述した図12の実施形態は、横方向と縦
方向を入れ換えても全く同様に成立する。
【0065】図13にCMOSセンサーの画素アレー部
の第1の構成例の具体的なパターンレイアウト図を示
す。
【0066】図13に示すCMOSセンサーは単結晶基
板上にレイアウトルール0.4μmによって形成されて
おり、画素の大きさは8μm角であり、増幅手段である
ソースフォロワアンプは2行2列の4画素で共有されて
いる。従って、図中点線領域で示した繰返し単位セル8
1の大きさは16μm×16μm角であり、2次元アレ
ーが形成されている。
【0067】光電変換部であるホトダイオード82a,
82b,82c,82dは各画素の中央に斜めに形成さ
れており、その形状は上下左右でほぼ回転対称、鏡像対
称である。またこれらのホトダイオード82a,82
b,82c,82dの重心gは各画素に対して同一にな
るように設計されている。また95は遮光部である。
【0068】88−aは左上の転送ゲート83−aを制
御する走査線、90は行選択線、92はMOSゲート9
3を制御するリセット線である。
【0069】ホトダイオード82a〜82d中に蓄積さ
れた信号電荷は転送ゲート83a〜83dを通ってFD
85に導かれる。ゲート83a〜83dのMOSサイズ
はL=0.4μm,W=1.0μm(Lはチャネル長、
Wはチャネル巾を示す。)である。
【0070】FD85は巾0.4μmのAl配線によっ
てソースフォロワの入力ゲート86に接続されており、
FD85に転送された信号電荷は入力ゲート86の電圧
を変調させる。入力ゲート86のMOSの大きさはL=
0.8μm,W=1.0μmであり、FD85と入力ゲ
ート86の容量の和は5fF程度である。Q=CVであ
るから、105 個の電子の蓄積によって入力ゲート86
の電圧は、3.2V変化することになる。
【0071】VDD端子91から流れ込む電流は入力ゲー
ト86によって変調され、垂直信号線87に流出する。
垂直信号線87に流出する電流は図示しない信号処理回
路によって信号処理され、最終的には画像情報となる。
【0072】その後、ホトダイオード82a〜82d,
FD85,入力ゲート86の電位を所定の値のVDDとす
るために、リセット線92に接続されたMOSゲート9
3を開くことで(このとき転送ゲート83a〜83dも
開く)、ホトダイオード82a〜82d,FD85,入
力ゲート86はVDD端子とショートされる。
【0073】その後、転送ゲート83a〜83dを閉じ
ることでホトダイオード82a〜82dの電荷蓄積が再
び始まる。
【0074】ここで注目すべきは、水平方向に貫通する
配線88a〜88d,90,92の全ては透明な導体で
ある厚さ1500ÅのITO(Indium Tin Oxide)で形
成されているために、前記配線部分のうち、ホトダイオ
ード82a〜82d上では光が透過するため、前記ホト
ダイオードの重心gは光を感知する領域(受光部)の重
心と一致することである。
【0075】本構成例によれば画素ピッチが等しい比較
的高面積率、高開口率なCMOSセンサーを提供するこ
とができる。
【0076】本発明のCMOSセンサーの画素アレー部
の第2の構成例の具体的なパターンレイアウト図を図1
4に示す。
【0077】図14において、102a〜102dはホ
トダイオード、103a〜103dは転送ゲート、10
5はFD、106はソースフォロワの入力ゲート、10
7は垂直信号線、108a〜108dは走査線、110
は行選択線、112はMOSゲート113を制御するリ
セット線である。
【0078】本構成例においては水平方向に走る配線1
08a〜108d,110,112が3本づつ各画素の
中心を横切るように走っているために、ホトダイオード
102a〜102dに入射する光を妨げるような金属配
線であっても、光を感知する領域の重心gの移動は生じ
ず、従って前記画素の中心と一致する。
【0079】本構成例によれば電気抵抗が小さな通常の
(不透明な)金属を使用できるため、前記横方向の配線
の時定数が改善され、更に高速な撮像装置を提供するこ
とができる。
【0080】以上の構成例では、遮光膜の下の部分が有
効利用されているため、図15に示すように遮光膜の下
の部分にまで光電変換部であるホトダイオードを形成
し、電荷蓄積部として機能させることも可能である。
【0081】上述の第2構成例においては、最も光集光
効率が良い画素の中心を横切るために、撮像装置の感度
の低下が懸念される。そこで更に改善された第3構成例
を図16に示す。
【0082】本構成例においては転送ゲート123a〜
123d、FD125、ソースフォロワの入力ゲート1
26、リセット用のMOSゲート133全てが横方向を
走る配線(走査線128a〜128d,行選択線13
0,リセット線132)下に形成されているため、ホト
ダイオード122a〜122d,及びその開口を最大と
することができる。しかも、その開口部は各画素の中心
に連続して存在する。また遮光部は水平、垂直配線部分
に形成されている。
【0083】また本構成例においては前記増幅手段であ
るソースフォロワとリセット用のMOSトランジスタを
各画素の周辺の水平方向に分割して配置したためにコン
パクトに前記水平方向の配線下に配置可能となってい
る。
【0084】また右上の画素の配線下には未使用のスペ
ースが未だ存在するため、例えばスマートセンサー等、
新規の構成を追加することも可能である。
【0085】本構成例によれば、ホトダイオードの面
積、及び開口率が大きく取れることから、広ダイナミッ
クレンジ、高感度な撮像装置を提供することができる。
また、将来微細化が進み、前記ホトダイオードの開口部
分の寸法が光の波長程度になっても光が入射しなくなる
といった恐れは生じにくく、永らくその性能を発揮する
ことができる。
【0086】また、以上の構成例では、増幅手段は単位
セルの中心部に配置し、光を感知する領域の重心と、画
素の中心は一致したものであるが、これらに限られず、
図17に示したような開口部が並進対称となっている構
成のものでもよい。
【0087】つまり、開口部が並進対称となっているこ
とにより、光を感知する領域は、等ピッチとなるためで
ある。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
共通アンプの入力部で信号を加算するので、 ・感度がアップし、低照度撮影が可能となる。 ・全ての画素信号を利用するのでモアレの発生がない
(間引き走査に対し)。 ・水平あるいは垂直駆動周波数を下げることができるの
で低消費電力にできる。 特にデジタルスチルカメラで撮影モニタ時利用すれば電
池消耗が少なくなる効果を得ることができる。
【0089】また、本発明によれば、解像度の低下、モ
アレ縞の発生といった性能低下を生じることがなく、開
口率が大きく感度が高く、多機能を内蔵可能な高歩留な
撮像装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の撮像装置の構成を示す概略図である。
【図2】図1の撮像装置の単位セルSの構成を示す図で
ある。
【図3】センサー信号読み出しモードを説明するためセ
ンサー概略図を示す。
【図4】表1の読出しモードに応じた垂直シフトレジス
タの駆動例を示すタイミングチャートである。
【図5】表1の読出しモードA(全画素読出し)のタイ
ミングチャートである。
【図6】垂直タイミングの概略図である。
【図7】表1の読出しモードB(垂直・水平4画素加
算)のタイミングチャートである。
【図8】表1の読出しモードC(水平2画素加算)のタ
イミングチャートである。
【図9】表1の読出しモードD(垂直2画素加算)のタ
イミングチャートである。
【図10】本発明によるシステム概略図である。
【図11】本発明の単位セルのレイアウトを示す図であ
る。
【図12】本発明の単位セルのレイアウトを示す図であ
る。
【図13】本発明の一構成例のパターンレイアウト図で
ある。
【図14】本発明の一構成例のパターンレイアウト図で
ある。
【図15】本発明の一構成例を表す図である。
【図16】本発明の一構成例のパターンレイアウト図で
ある。
【図17】本発明の一構成例を表す図である。
【図18】撮像装置の一例の単位セルのレイアウト図で
ある。
【符号の説明】
11 光電変換部 12 共通アンプ部 15 遮光部 21 光電変換部 22 共通アンプ部 25 遮光部

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光電変換部と該複数の光電変換部
    からの信号が入力される共通アンプとを配置した単位セ
    ルが複数列配列された撮像装置において、 前記複数の光電変換部からの信号を前記共通アンプの入
    力部で任意に加算切替える加算切替手段を有することを
    特徴とする撮像装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の撮像装置において、前
    記加算切替手段は、水平方向に配列された光電変換部か
    らの信号の加算を行う切替えモードを有することを特徴
    とする撮像装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の撮像装置において、前
    記加算切替手段は、垂直方向に配列された光電変換部か
    らの信号の加算を行う切替えモードを有することを特徴
    とする撮像装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の撮像装置において、前
    記加算切替手段は、前記共通アンプに接続された前記複
    数の光電変換部からの信号の全てを加算する切替えモー
    ドを有することを特徴とする撮像装置。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の撮像装置において、前
    記撮像装置の水平走査手段および/または垂直走査手段
    の駆動パルス切替手段を有することを特徴とする撮像装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の撮像装置において、前
    記単位セルはm行n列(m+n≧3;mとnは自然数)
    に配された複数の光電変換部と該複数の光電変換部から
    の信号が入力される共通アンプとを有するとともに、前
    記垂直走査手段は単位セルごとに光電変換部行を制御す
    るようにm個有することを特徴とする撮像装置。
  7. 【請求項7】 請求項1〜6のいずれかの請求項に記載
    の撮像装置において、前記共通アンプは前記単位セル中
    の複数の光電変換部からの信号を増幅する増幅手段と前
    記単位セル中をリセットするリセット手段を有すること
    を特徴とする撮像装置。
  8. 【請求項8】 請求項1〜7のいずれかの請求項に記載
    の撮像装置において、 前記単位セル内の共通アンプからの画像信号を蓄積する
    画像信号蓄積手段と、 前記共通アンプの特性のバラツキを補正するための前記
    共通アンプの特性のバラツキ信号を蓄積するバラツキ信
    号蓄積手段と、 前記画像信号蓄積手段からの信号から前記バラツキ信号
    蓄積手段からの信号を差分する差分手段と、 を有することを特徴とする撮像装置。
  9. 【請求項9】 請求項1〜7のいずれかの請求項に記載
    の撮像装置において、 前記単位セル中の前記共通アンプからの第1の信号を蓄
    積する第1の蓄積手段と、 前記共通アンプからの第2の信号を蓄積する第2の蓄積
    手段と、 前記第1の蓄積手段からの信号から前記第2の蓄積手段
    からの信号を差分する差分手段と、 を有することを特徴とする撮像装置。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の撮像装置において、
    前記第1の信号は画像信号であり、前記第2の信号はノ
    イズ信号であることを特徴とする撮像装置。
  11. 【請求項11】 請求項1〜10のいずれかの請求項に
    記載の撮像装置において、少なくとも前記光電変換部間
    のピッチを少なくとも垂直方向又は水平方向の一方向で
    等ピッチに調整するための調整手段を設けたことを特徴
    とする撮像装置。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の撮像装置におい
    て、前記調整手段は遮光膜であることを特徴とする撮像
    装置。
  13. 【請求項13】 請求項1〜12のいずれかの請求項に
    記載の撮像装置において、前記共通アンプは単位セルの
    中心部に配置したことを特徴とする撮像装置。
  14. 【請求項14】 請求項12に記載の撮像装置におい
    て、前記遮光膜は隣り合う単位セル間に配置したことを
    特徴とする撮像装置。
  15. 【請求項15】 請求項14に記載の撮像装置におい
    て、前記遮光膜は少なくとも前記単位セルの水平方向又
    は垂直方向の中心線に対して線対称となる位置に配置し
    たことを特徴とする撮像装置。
  16. 【請求項16】 請求項1〜15のいずれかの請求項に
    記載の撮像装置と、前記撮像装置へ光を結像するレンズ
    と、前記撮像装置からの出力信号を処理する信号処理回
    路とを有することを特徴とする撮像システム。
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Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002057931A (ja) * 2000-08-11 2002-02-22 Canon Inc 画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体
JP2003525543A (ja) * 2000-02-29 2003-08-26 フォベオン・インコーポレーテッド 自動露出検出をする高感度貯蔵画素センサー
JP2006080937A (ja) * 2004-09-10 2006-03-23 Sony Corp 物理情報取得方法および物理情報取得装置、並びに物理量分布検知の半導体装置、プログラム、および撮像モジュール
US7116319B2 (en) 2002-05-21 2006-10-03 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus and radiation detection system
JP2006345330A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Hitachi Medical Corp 撮像装置
JP2007020194A (ja) * 2005-07-09 2007-01-25 Samsung Electronics Co Ltd アクティブセンサーアレイを含むイメージセンサー
WO2007015420A1 (ja) * 2005-08-03 2007-02-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 固体撮像装置
JP2007124217A (ja) * 2005-10-27 2007-05-17 Funai Electric Co Ltd 撮像装置
JP2007201863A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Funai Electric Co Ltd 撮像装置
JP2007325139A (ja) * 2006-06-03 2007-12-13 Nikon Corp 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
JP2008118434A (ja) * 2006-11-06 2008-05-22 Fujifilm Corp 固体撮像素子及び撮像装置
JP2008172506A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Nec Corp イメージセンサ
JP2009130575A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Fujifilm Corp 固体撮像素子の駆動方法、固体撮像素子、及び撮像装置
JP2009141528A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Canon Inc 撮像装置及び撮像システム
JP2009290659A (ja) * 2008-05-30 2009-12-10 Sony Corp 固体撮像装置、撮像装置、固体撮像装置の駆動方法
US7633536B2 (en) 2005-07-19 2009-12-15 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus
JP2010003869A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Sony Corp 画像処理装置および方法、製造装置
CN102209207A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 索尼公司 固态成像装置和成像装置
JP2011239070A (ja) * 2010-05-07 2011-11-24 Sony Corp 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器
JP2013145984A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Canon Inc 撮像装置、その制御方法および撮像システム
JP2013153511A (ja) * 2013-03-18 2013-08-08 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP2015090986A (ja) * 2013-11-05 2015-05-11 ソニー株式会社 撮像装置および撮像装置の制御方法
JP2019012751A (ja) * 2017-06-29 2019-01-24 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、移動体、撮像装置の製造方法
US10834350B2 (en) 2017-08-15 2020-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing device, camera, and transportation equipment

Cited By (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003525543A (ja) * 2000-02-29 2003-08-26 フォベオン・インコーポレーテッド 自動露出検出をする高感度貯蔵画素センサー
JP4846159B2 (ja) * 2000-02-29 2011-12-28 フォベオン・インコーポレーテッド 自動露出検出をする高感度貯蔵画素センサー
JP2002057931A (ja) * 2000-08-11 2002-02-22 Canon Inc 画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体
JP4532698B2 (ja) * 2000-08-11 2010-08-25 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体
US7116319B2 (en) 2002-05-21 2006-10-03 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus and radiation detection system
JP2006080937A (ja) * 2004-09-10 2006-03-23 Sony Corp 物理情報取得方法および物理情報取得装置、並びに物理量分布検知の半導体装置、プログラム、および撮像モジュール
JP4691930B2 (ja) * 2004-09-10 2011-06-01 ソニー株式会社 物理情報取得方法および物理情報取得装置、並びに物理量分布検知の半導体装置、プログラム、および撮像モジュール
JP2006345330A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Hitachi Medical Corp 撮像装置
JP2007020194A (ja) * 2005-07-09 2007-01-25 Samsung Electronics Co Ltd アクティブセンサーアレイを含むイメージセンサー
US7633536B2 (en) 2005-07-19 2009-12-15 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus
US7719040B2 (en) 2005-08-03 2010-05-18 Panasonic Corporation Solid-state imaging device
WO2007015420A1 (ja) * 2005-08-03 2007-02-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 固体撮像装置
JP2007124217A (ja) * 2005-10-27 2007-05-17 Funai Electric Co Ltd 撮像装置
JP2007201863A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Funai Electric Co Ltd 撮像装置
WO2007142171A1 (ja) * 2006-06-03 2007-12-13 Nikon Corporation 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
US8159580B2 (en) 2006-06-03 2012-04-17 Nikon Corporation Solid-state imaging device and imaging apparatus using the same
JP2007325139A (ja) * 2006-06-03 2007-12-13 Nikon Corp 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
JP2008118434A (ja) * 2006-11-06 2008-05-22 Fujifilm Corp 固体撮像素子及び撮像装置
JP2008172506A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Nec Corp イメージセンサ
JP2009130575A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Fujifilm Corp 固体撮像素子の駆動方法、固体撮像素子、及び撮像装置
JP2009141528A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Canon Inc 撮像装置及び撮像システム
JP2009290659A (ja) * 2008-05-30 2009-12-10 Sony Corp 固体撮像装置、撮像装置、固体撮像装置の駆動方法
JP4582198B2 (ja) * 2008-05-30 2010-11-17 ソニー株式会社 固体撮像装置、撮像装置、固体撮像装置の駆動方法
TWI394448B (zh) * 2008-05-30 2013-04-21 Sony Corp 固態成像裝置,成像裝置及固態成像裝置之驅動方法
US8253836B2 (en) 2008-05-30 2012-08-28 Sony Corporation Solid-state imaging device, imaging device and driving method of solid-state imaging device
US8576311B2 (en) 2008-06-20 2013-11-05 Sony Corporation Image processing apparatus, image processing method and manufacturing apparatus
JP2010003869A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Sony Corp 画像処理装置および方法、製造装置
CN102209207A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 索尼公司 固态成像装置和成像装置
JP2011211455A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Sony Corp 固体撮像装置および撮像装置
US10355037B2 (en) 2010-05-07 2019-07-16 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US9923005B2 (en) 2010-05-07 2018-03-20 Sony Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US10050073B2 (en) 2010-05-07 2018-08-14 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US11671721B2 (en) 2010-05-07 2023-06-06 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US10177184B2 (en) 2010-05-07 2019-01-08 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US9438833B2 (en) 2010-05-07 2016-09-06 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US9653499B2 (en) 2010-05-07 2017-05-16 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US10978506B2 (en) 2010-05-07 2021-04-13 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
US10720458B2 (en) 2010-05-07 2020-07-21 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP2011239070A (ja) * 2010-05-07 2011-11-24 Sony Corp 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器
US9392193B2 (en) 2012-01-13 2016-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus, control method therefor and image pickup system
JP2013145984A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Canon Inc 撮像装置、その制御方法および撮像システム
JP2013153511A (ja) * 2013-03-18 2013-08-08 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP2015090986A (ja) * 2013-11-05 2015-05-11 ソニー株式会社 撮像装置および撮像装置の制御方法
JP2019012751A (ja) * 2017-06-29 2019-01-24 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、移動体、撮像装置の製造方法
JP7171170B2 (ja) 2017-06-29 2022-11-15 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、移動体、撮像装置の製造方法
US10834350B2 (en) 2017-08-15 2020-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing device, camera, and transportation equipment

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