JP2000046646A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2000046646A5
JP2000046646A5 JP1998217783A JP21778398A JP2000046646A5 JP 2000046646 A5 JP2000046646 A5 JP 2000046646A5 JP 1998217783 A JP1998217783 A JP 1998217783A JP 21778398 A JP21778398 A JP 21778398A JP 2000046646 A5 JP2000046646 A5 JP 2000046646A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
conversion element
thin film
film transistor
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1998217783A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000046646A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP10217783A priority Critical patent/JP2000046646A/ja
Priority claimed from JP10217783A external-priority patent/JP2000046646A/ja
Priority to EP99306031A priority patent/EP0977268B1/en
Priority to DE69942188T priority patent/DE69942188D1/de
Priority to US09/363,821 priority patent/US6512217B1/en
Publication of JP2000046646A publication Critical patent/JP2000046646A/ja
Publication of JP2000046646A5 publication Critical patent/JP2000046646A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (18)

  1. 光電変換素子と該素子に接続される薄膜トランジスタからなる画素を複数配列し、前記薄膜トランジスタを導通させて前記光電変換素子で生じた電荷を読み出し手段に転送して読み出す光電変換装置において、
    ダーク状態において、前記光電変換素子の前記薄膜トランジスタが接続されていない側の電極に印加する電圧を、通常の読み取り時に印加される第1の電圧から第2の電圧へ変化させて印加して前記光電変換素子を電気的に充電するよう前記電極に接続された制御可能な電源と、
    前記充電された光電変換素子から読み出された出力を予め定められたしきい値と比較することにより欠陥画素を検出する比較手段と、を有することを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記検出された欠陥画素の位置を記憶する記憶手段を有することを特徴とする請求項1記載の光電変換装置。
  3. 前記記憶手段に格納された欠陥画素の位置情報に記憶された欠陥画素の信号を、隣接画素の出力を用いて補間する補正手段を有することを特徴とする請求項2記載の光電変換装置。
  4. 前記欠陥画素を自己診断し検出する手段は、読み取りモードと欠陥自己診断モードの二つの動作状態を有し、それぞれを切り替える機能を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光電変換装置。
  5. 前記薄膜トランジスタは、ソースまたはドレインとなる第1、第2の電極、およびゲート電極を有し、前記光電変換素子は、少なくとも第1、第2の電極を有し、前記光電変換素子の第1の電極に前記薄膜トランジスタの第1の電極を接続し、前記薄膜トランジスタのゲート電極にゲート駆動手段を接続し、前記薄膜トランジスタの第2の電極に読み出し手段を接続していることを特徴とする請求項1記載の光電変換装置。
  6. 前記光電変換素子は、非晶質シリコンを材料とすることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換装置。
  7. 前記薄膜トランジスタは、非晶質シリコンを材料とすることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換装置。
  8. 前記光電変換素子は、PIN型フォトダイオードであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換装置。
  9. 前記光電変換素子は、MIS型センサであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換装置。
  10. 前記光電変換素子は、非晶質セレンを主材料にすることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換装置。
  11. 光電変換素子と該素子の出力に接続する薄膜トランジスタからなる画素を複数配列し、前記光電変換素子で生じた電荷を、前記薄膜トランジスタのゲート電極に電圧を印加することにより、前記薄膜トランジスタを導通させて読み出し手段に転送して読み出す光電変換装置において、
    読み取りモードと欠陥自己診断モードを切り替え、前記欠陥自己診断モード時に、ダーク状態において、前記光電変換素子の前記薄膜トランジスタが接続されていない側の電極に印加する電圧を、前記読み取りモード時に印加される第1の電圧から第2の電圧へ変化させて印加することにより前記光電変換素子を電気的に充電し、
    該充電された光電変換素子から読み出された出力を、予め定められたしきい値と比較することにより欠陥画素を検出することを特徴とする光電変換装置の駆動方法。
  12. 前記欠陥自己診断モードは、前記光電変換素子への光またはX線の入射のない前記ダーク状態であることを特徴とする請求項11記載の光電変換装置の駆動方法。
  13. 前記欠陥自己診断モードにおいて、前記光電変換素子に印加する電圧を第1の電圧から第2の電圧へ変化させる際、前記薄膜トランジスタはオフ状態であることを特徴とする請求項11記載の光電変換装置の駆動方法。
  14. 前記欠陥自己診断モードにおいて、前記光電変換素子の前記読み出し手段が接続されていない側の電極に印加する電圧が、前記第1の電圧の状態で前記薄膜トランジスタをオン状態とする空読みを行い、その後前記薄膜トランジスタをオフ状態としてから前記光電変換素子の前記電極に印加する電圧を第2の電圧へ変化させることを特徴とする請求項13記載の光電変換装置の駆動方法。
  15. 各画素の光電変換素子から読み出した出力が、予め定められたしきい値と比較して該しきい値以下である画素を欠陥画素として検出し、欠陥位置情報としてメモリに格納することを特徴とする請求項11記載の光電変換装置の駆動方法。
  16. 前記メモリに格納された欠陥位置情報に記憶された欠陥画素の信号を、隣接画素の出力を用いて補間することを特徴とする請求項15記載の光電変換装置の駆動方法。
  17. 請求項1〜10のいずれかに記載の光電変換装置を有することを特徴とするX線撮像装置。
  18. 第1の電極と第2の電極とを有する光電変換素子と前記第1の電極に接続された薄膜トランジスタからなる画素を複数配列し、前記薄膜トランジスタを導通させて前記光電変換素子で生じた電荷を読み出し手段に転送して読み出す光電変換装置において、
    ダーク状態において、前記第2の電極に印加する電圧を、通常の読み取り時に印加される第1の電圧から第2の電圧へ変化させて印加して前記光電変換素子を電気的に充電するよう前記第2の電極に接続された制御可能な電源と、
    前記充電された光電変換素子から読み出された出力を予め定められたしきい値と比較することにより欠陥画素を検出する比較手段と、を有することを特徴とする光電変換装置。
JP10217783A 1998-07-31 1998-07-31 光電変換装置及びその駆動方法及びx線撮像装置 Pending JP2000046646A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10217783A JP2000046646A (ja) 1998-07-31 1998-07-31 光電変換装置及びその駆動方法及びx線撮像装置
EP99306031A EP0977268B1 (en) 1998-07-31 1999-07-29 Photoelectric conversion apparatus, driving method thereof and information processing apparatus using the same
DE69942188T DE69942188D1 (de) 1998-07-31 1999-07-29 Photoelektrische Umwandlungsvorrichtung, Ansteurungsverfahren davon, und Informations-Verarbeitungsgerät zur Anwendung desselben
US09/363,821 US6512217B1 (en) 1998-07-31 1999-07-30 Photoelectric conversion apparatus, method for driving photoelectric conversion apparatus, and information processing apparatus having photoelectric conversion apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10217783A JP2000046646A (ja) 1998-07-31 1998-07-31 光電変換装置及びその駆動方法及びx線撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000046646A JP2000046646A (ja) 2000-02-18
JP2000046646A5 true JP2000046646A5 (ja) 2005-10-27

Family

ID=16709669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10217783A Pending JP2000046646A (ja) 1998-07-31 1998-07-31 光電変換装置及びその駆動方法及びx線撮像装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6512217B1 (ja)
EP (1) EP0977268B1 (ja)
JP (1) JP2000046646A (ja)
DE (1) DE69942188D1 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001251557A (ja) * 1999-12-27 2001-09-14 Canon Inc エリアセンサ、該エリアセンサを有する画像入力装置および該エリアセンサの駆動方法
JP2002101343A (ja) * 2000-09-22 2002-04-05 Toshiba Medical System Co Ltd X線平面検出器及びx線診断システム
US7031026B2 (en) * 2001-05-21 2006-04-18 International Business Machines Corporation Defect and maintenance detection for image capture device
US6818899B2 (en) * 2001-06-07 2004-11-16 Canon Kabushiki Kaisha Radiographic image pickup apparatus and method of driving the apparatus
US6730900B2 (en) * 2002-02-05 2004-05-04 E-Phocus, Inc. Camera with MOS or CMOS sensor array
JP4147094B2 (ja) * 2002-11-22 2008-09-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
FR2852099B1 (fr) * 2003-03-04 2005-05-20 Actaris Sas Dispositif optoelectronique pour module de detection optique d'un compteur
JP4360121B2 (ja) * 2003-05-23 2009-11-11 ソニー株式会社 画素回路、表示装置、および画素回路の駆動方法
DE102004015876A1 (de) * 2004-03-31 2005-10-27 Siemens Ag Verfahren zum Auslesen eines Flächendetektors
US7208810B2 (en) * 2004-07-01 2007-04-24 Varian Medical Technologies, Inc. Integrated MIS photosensitive device using continuous films
US8067813B2 (en) * 2004-07-01 2011-11-29 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Integrated MIS photosensitive device using continuous films
JP4349232B2 (ja) * 2004-07-30 2009-10-21 ソニー株式会社 半導体モジュール及びmos型固体撮像装置
JP4501644B2 (ja) * 2004-11-16 2010-07-14 日産自動車株式会社 赤外線検出装置
JP5013754B2 (ja) * 2005-06-13 2012-08-29 キヤノン株式会社 電磁波検出装置、放射線検出装置、放射線検出システム及びレーザ加工方法
JP2007088616A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Seiko Epson Corp 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ
JP5057340B2 (ja) * 2008-03-31 2012-10-24 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 光検出装置、電気光学装置及び電子機器
JP2011254121A (ja) * 2008-09-19 2011-12-15 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システム
JP5257271B2 (ja) * 2009-06-26 2013-08-07 ソニー株式会社 光電変換装置および光電変換装置の駆動方法、並びに放射線撮像装置および放射線撮像装置の駆動方法
JP5348314B2 (ja) * 2010-03-09 2013-11-20 株式会社島津製作所 二次元アレイx線検出器の検査方法
JP5455747B2 (ja) * 2010-03-31 2014-03-26 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置
CN108110015B (zh) * 2016-11-25 2020-05-08 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 X射线图像传感器、平板探测器及其图像采集校正方法
US11131782B2 (en) * 2018-11-12 2021-09-28 Stmicroelectronics (Crolles 2) Sas Ionizing radiation detector
JP7271209B2 (ja) * 2019-02-06 2023-05-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび放射線撮像装置の制御方法
CN111337125B (zh) * 2020-03-20 2021-11-16 京东方科技集团股份有限公司 一种光强检测电路、光强检测方法和装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4376888A (en) * 1978-04-20 1983-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion type information processing device
DE3751242T2 (de) * 1986-01-24 1995-09-14 Canon Kk Photoelektrischer Wandler.
US5665968A (en) * 1992-05-27 1997-09-09 Kla Instruments Corporation Inspecting optical masks with electron beam microscopy
JPH0767152B2 (ja) * 1993-03-25 1995-07-19 日本電気株式会社 イメージセンサとその駆動方法
JP3014895B2 (ja) * 1993-06-02 2000-02-28 株式会社日立製作所 ビデオカメラ
DE19527148C1 (de) * 1995-07-25 1997-01-09 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb eines digitalen Bildsystems einer Röntgendiagnostikeinrichtung
US6002433A (en) * 1995-08-29 1999-12-14 Sanyo Electric Co., Ltd. Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit
US5854655A (en) * 1995-08-29 1998-12-29 Sanyo Electric Co., Ltd. Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit
TW331667B (en) 1995-09-05 1998-05-11 Canon Kk Photoelectric converter
JP3416432B2 (ja) * 1996-12-24 2003-06-16 キヤノン株式会社 光電変換装置及びその駆動方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000046646A5 (ja)
US6452633B1 (en) Exposure control in electronic cameras by detecting overflow from active pixels
EP1003330B1 (en) Imaging system
JP2000046646A (ja) 光電変換装置及びその駆動方法及びx線撮像装置
JP4024642B2 (ja) 画像読み取り装置および画像読み取り方法
JPH06284342A (ja) イメージセンサとその駆動方法
CN112511769B (zh) 一种图像传感器像素电路以及图像传感阵列
JP3973083B2 (ja) 固体撮像装置、その画素不良変換方法および傷補正方法
CN109639990B (zh) 图像传感器的信号采集方法和信号采集电路
KR940006394A (ko) 고체촬상장치
EP0365294B1 (en) Photometric apparatus employing solid-state imaging device
US6414300B1 (en) Circuit with a sensor and non-volatile memory having a ferroelectric dielectric capacitor
KR100595795B1 (ko) 화상 판독 장치 및 화상 판독 방법
JP3630832B2 (ja) 光電変換装置
JP2001102558A (ja) フォトセンサシステム
JPS6161589B2 (ja)
JP2005109021A5 (ja)
WO2011086826A1 (ja) 放射線画像撮影装置
JP3651660B2 (ja) フォトセンサシステム及びその駆動制御方法
JP2008245153A (ja) フォトセンサ、フォトセンサアレイ、フォトセンサシステム及びフォトセンサシステムの駆動制御方法
JPS58195373A (ja) 固体光電変換装置
JP3713701B2 (ja) フォトセンサ装置及びその駆動制御方法
JP2660046B2 (ja) イメージセンサ
JP4019410B2 (ja) フォトセンサシステム及びフォトセンサシステムにおけるフォトセンサの駆動制御方法
JP2669462B2 (ja) 光電変換装置