JP2000040056A - Jtagポ―トを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 - Google Patents
Jtagポ―トを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置Info
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Abstract
ユニットの入出力処理に必要な時間を短縮する入出力制
御のための新規な方法及び装置を提供する。 【解決手段】 メモリユニットが入出力処理可能状態
(レディ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状
態)の何れにあるかを表示する信号を受け取り、表示が
レディ状態になるとメモリユニットの次の入出力処理
(読み出し、プログラム等のデータの書き込み、消去、
ベリファイ等)を行う命令を発することによってオンチ
ップメモリユニットの入出力処理を制御する。
Description
int Text Action Group)ポートに関するものであり、
特にそれを用いたメモリユニットの入出力制御方法に関
するものである。
の製品において共通に用いられているものである。多く
のメモリユニットはプログラム可能であるが、メモリユ
ニットは、格納されたデータの消去が行えるか否か、及
びどのように消去されるかについて異なるタイプが存在
する。読み出し専用メモリ(ROM)ユニットは消去可
能ではなく、それにプログラムされた情報を変更しなけ
ればならない場合は取り替える必要がある。消去可能な
プログラム可能読み出し専用メモリ(EPROM)ユニ
ットは電気信号を用いてプログラム等のデータの書き込
みが行えるが、消去するために紫外線が必要であり、紫
外線によってチップ全体が一度に消去される。電気的に
消去可能なプログラム可能読み出し専用メモリ(EEP
ROM)ユニット及びフラッシュEEPROMユニット
は、電気信号を用いて消去及びプログラム等のデータの
書き込みを行うことができる。従って、必要ならば単一
ビット又は単一ワードを変更することができる。
ットのようにデータを格納する代わりに論理式を格納す
るプログラマブルロジックデバイス(PLD)が含まれ
る。PLDは、任意のメモリユニットのタイプに基づく
ものであり得る。
ム等のデータを書き込みなおすためには、そのユニット
を適切な方式で消去し、次にユニットへのプログラム等
のデータの書き込みを電気的に行うプログラミング装置
に装着しなければならない。ソケットによって回路基板
に接続されたチップ上に形成されたメモリユニットの場
合は、通常ユニットがソケットから取り外し可能である
ため、これは問題にはならない。
ユニット及び多機能チップ内に形成されたユニットはプ
ログラミング装置に装着するために取り外すことができ
ない。このようなユニットの場合は、パラレルポートを
介して入出力処理(即ち読み出し、プログラム書き込
み、消去、ベリファイ等)を行うことができる。
は、オンチップメモリユニット若しくは任意の取り外し
可能でないメモリユニットの入出力制御のための手段と
なる。IEEE1149.1勧告は、「JTAGポー
ト」として知られる、インシステム入出力制御をシリア
ルチャネルを用いて行うことができるテストアクセスポ
ートを規定している。図1及び図2を参照すると、JT
AGポート及びその動作が示されている。図1には、J
TAGポート14を備えたチップ12を制御するパラレ
ルポート11を備えたパーソナルコンピュータ(PC)
10が示されており、図2は、ステートマシンを利用し
たJTAGポート14を介した入出力制御方法を示して
いる。
うために、チップ12は、ポートを通して転送されたシ
リアルデータを、パラレルバス20を介して符号18で
示されたメモリユニットにアクセスするために必要なパ
ラレル形式に変換するJTAGコントローラ16も備え
ていなければならない。このバスは、データ及びアドレ
ス信号用の単一バスであるか、或いはデータ信号用及び
アドレス信号用の2つのバスからなるものであり得る。
更に、JTAGコントローラ16は、送られた命令を、
メモリユニット18の入出力制御を行うための制御信号
にデコードする。これらの制御信号は制御バス29を介
してメモリユニット18に供給される。
それぞれクロック信号TCK用、制御信号TMS用、デ
ータ入力信号TDI及びデータ出力信号TDO用であ
る。またJTAGコントローラ16は、ステートマシン
22、データシフトレジスタ24、命令シフトレジスタ
27、及び命令デコーダ28を有している。
18に供給されるデータ及びアドレス情報、及びメモリ
ユニット18に対する命令のシリアル表現である。この
データ及びアドレス情報はデータシフトレジスタ24に
供給され、このデータシフトレジスタ24は、信号TD
Iによって供給されたシリアルデータをシフトする。従
ってデータシフトレジスタ24は、データ(典型的には
8ビット)及びアドレス(典型的には16ビット)の双
方を保持するだけの十分な記憶容量を有している。命令
は命令シフトレジスタ27に供給される。
クロック信号TCK及び制御信号TMSをステートマシ
ン22に供給し、このステートマシン22はJTAGコ
ントローラ16の動作を制御する。従って、PC10は
データ入力信号TDIを供給し、且つデータ出力信号T
DOをモニタする。制御信号TMSを構成する種々の命
令は図2に示されている。JTAGコントローラ16の
動作はIEEE1149.1勧告において完全に規定さ
れているため、以下の説明ではこの動作の一部を重点的
に説明する。
され(状態32)、データシフトレジスタ24に置かれ
る。次にデータ入力信号TDIのデータ及びアドレス情
報はデータシフトレジスタ24にシフトされ(状態3
4)、これによって収集されたデータがデータ出力信号
TDOとしてシフトアウトされることになる。ひとたび
全てのデータ及びアドレス情報の組がデータシフトレジ
スタ24にシフトされると、ステートマシン22は、デ
ータシフトレジスタ24に指示して(状態42)、デー
タをパラレルバス20に供給させる。次にステートマシ
ン22は命令デコーダ28に指示して(状態44)、命
令を制御バス29を介してメモリユニット18に供給
し、そのアドレスに対して所望の入出力処理(読み出
し、プログラム書き込み、消去、ベリファイ等)が行わ
れる。
スビット列を転送する前にそれぞれの入出力処理のタイ
プに対して規定された所定の時間Tだけ待機する。この
待機時間は、次のデータセットがシフトインされる前に
所望の処理が必ず終了しているように設定されたもので
ある。
付された2つのバイトデータについてのタイミング図が
示されている。データ入力信号TDIによって指示され
たときBYTE0についてのシフト処理が初めに行わ
れ、その間に24のデータ及びアドレスビットがデータ
シフトレジスタ24の中にシフトされ、24のブランク
(BLANK)ビットがデータ出力信号TDOにシフトアウ
トされる。ひとたびデータがレジスタ24の中にシフト
されると、ステートマシン22はアップデート(UPDAT
E)状態42に移行し、その後このステートマシンはラ
ンテスト/アイドル(Run-Test/Idle)状態44に移
り、この状態ではランテスト/アイドル(R−T−I)
パルス45が生成される。次に、オペレーション(OPER
ATION)信号によって指示されると、メモリユニット1
8の入出力処理が行われる。図に示すように、オペレー
ション信号はそれに割り当てられた長さTの時間内でそ
の非アクティブ状態に戻る。BYTE1についても、こ
のプロセスが次のシフト処理で反復され、その間にBY
TE0のデータはデータ出力信号TDOにシフトアウト
される。
AGポート14を用いることは、データがシリアル転送
されるため、また各バイトについて処理が終了するまで
に長い時間待機しなければならないために、時間がかか
るという問題があった。
は、JTAGポートを介したオンチップメモリユニット
の入出力処理に必要な時間を短縮する入出力制御のため
の新規な方法及び装置を提供することである。
施例によれば、オンチップメモリユニットの入出力処理
を制御する方法であって、少なくとも前記メモリユニッ
トの入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理
不可能状態(ビジー状態)の表示を受け取る受信過程
と、ひとたび前記表示がレディ状態になったときにメモ
リユニットの次の入出力処理を行う命令を発する過程と
を含むことを特徴とするオンチップメモリユニットの入
出力処理の制御方法が提供される。
程が、前記表示及び前記メモリユニットに供給された前
のバイトの前記データ及びアドレス情報を収集する収集
過程と、シフトレジスタを通して次のバイトのデータ及
びアドレス情報と1以上の追加ビットをシフトインする
とともに、前記表示が前記シフトレジスタからJTAG
ポートのデータ出力ピンにシフトアウトされるようにす
るシフト過程と、前記収集過程及び前記シフト過程を反
復する過程とを含む。前記収集過程及びシフト過程の反
復が、前記表示がレディ状態になるまで行われる。
方法が、前記メモリユニットの前記入出力処理が行われ
ている間に、前記メモリユニットに供給されるべき次の
バイトのデータ及びアドレス情報をシフトレジスタの中
にシフトする過程を更に含む。
信過程が、前記表示を非JTAGポートから外部プロセ
ッサの受信ポート上のピンに供給する過程を含む。
信過程が、表示がレディ状態になるまで待機する待機過
程を含む。この待機過程は、受信ポートをポーリングす
ることにより、又は前記表示のラインを外部プロセッサ
の割り込みポートに接続することによって実施され得
る。
力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可能状
態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ライン
を備えたメモリユニットと、JTAG入力及びJTAG
出力ラインを備えた、外部プロセッサと通信するための
JTAGポートと、前記JTAGポートを介して受け取
った前記外部プロセッサからの命令に従って前記メモリ
ユニットの入出力処理を制御するためのJTAGコント
ローラとを有するメモリチップが提供される。このコン
トローラは、シフトレジスタ、バッファ、及びステート
マシンを備えている。シフトレジスタはJTAG入力及
び出力ラインに接続され、複数の記憶素子を有してい
る。複数の記憶素子の1つはレディ/ビジー出力ライン
に接続され、複数の記憶素子のなかの複数がJTAG入
力ラインから1バイトのメモリユニットのデータ及びア
ドレス情報を受信するために使用できる。バッファは、
シフトレジスタからデータ及びアドレス情報を受けとっ
てその情報をメモリユニットに供給し、ステートマシン
はシフトレジスタ及びバッファの動作を制御し、ひとた
びレディ/ビジー出力ラインがレディ状態を表示する
と、メモリユニットの次の入出力処理を行う命令を発す
る。
ば、メモリチップであって、入出力処理可能状態(レデ
ィ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状態)を表
示するレディ/ビジー出力ラインを備えたメモリユニッ
トと、前記レディ/ビジー出力ラインに接続され、外部
プロセッサに少なくとも前記レディ/ビジー出力ライン
の表示を供給するための非JTAGポートと、前記JT
AGポートを介して受け取った前記外部プロセッサから
の命令に従って前記メモリユニットの入出力処理を制御
するためのJTAGコントローラとを有することを特徴
とするメモリチップが提供される。
TAGポートはオープンドレイン出力を有する。
それが所望の動作モードにあるか否かを表示する“実行
終了(end-of execution)”又は“レディ/ビジー(re
ady/busy)”(RDY/BSY)信号を有する。本発明
は、この信号を利用して、JTAGポートを用いたオン
チップメモリユニットの入出力処理に必要な時間を短縮
するものである。
入出力処理を行っている間に、次のビットに対するデー
タ及びアドレスビットにシフトインする。この二重バッ
ファリングにより、本発明による処理速度の高速化が更
に促進される。
る。チップ50は、本発明の好適実施例により構成され
動作するメモリユニット18、JTAGコントローラ5
2、及びJTAGポート14を備えている。更に図4に
は、メモリユニット18の「レディ/ビジー」(RDY
/BSY)出力ライン59が示されている。
す。以下に説明する入出力制御は、一例としてここでは
PC10である、外部プロセッサを用いて行われ得るこ
とが理解されよう。他のタイプのプロセッサには、例え
ばプログラミング装置や自動テスタ装置がある。
ントローラ52は、ステートマシン22、バッファ5
7、及びデータシフトレジスタ56を備えている。デー
タシフトレジスタ56は、典型的にはデータ及びアドレ
スビットを格納するために必要な記憶ユニットの数より
多い1以上の追加的記憶ユニット58を有する。追加的
記憶ユニット58は、RDY/BSYライン58に接続
されており、従ってRDY/BSY信号の現在状態デー
タを受け取ることができる。ここでは、追加的記憶ユニ
ット58がただ1つ存在すると仮定して説明する。チッ
プ50の内部ブロックからの他の情報を収集するために
別の追加的記憶ユニットを設けることができるというこ
とは理解されよう。
サイクルにおいて、JTAGコントローラ52は、初め
にRDY/BSYライン59の現在値及びバス20上の
現在のデータ及びアドレスビットを収集し(図2の状態
32)、収集した情報をデータシフトレジスタ56内に
入れる。次にJTAGコントローラ52は、TDI信号
におけるデータの次のバイトをデータシフトレジスタ5
6内にシフトする(図2の状態34)。このシフト処理
によって、追加的記憶ユニット58(図4)の値を含む
収集されたデータが、TDOデータ出力信号としてシフ
トアウトされる。図4には、データシフトレジスタ56
の最後の記憶ユニットとしての追加的記憶ユニット58
が示されている。しかし、追加的記憶ユニット58は、
データシフトレジスタ56内の任意の位置に配置するこ
とができる。
号の値は周期的にPC10に戻される。RDY/BSY
信号の値が戻される時間的間隔は、全てのデータ及びア
ドレスビットをシフトし、バッファ57を新たにシフト
インされたデータに更新する(状態42)のにかかる時
間の関数である。しかしRDY/BSY信号は、バッフ
ァ57には供給されない。
ット18の所望の入出力処理が終了したことを表示する
RDY/BSY信号をひとたび受け取ると、PC10
は、その後の任意の時間に次の所望の入出力制御を開始
することができる。
めに、RDY/BSY信号の現在値及びパラレルバス2
0上のデータ及びアドレスビットの現在値が収集され、
その後信号TDIのデータが、BYTE0のデータ及び
アドレスビット及び追加ビットをデータシフトレジスタ
56の中にシフトする。X+1個のビットが転送される
が、ここでXはデータ及びアドレスビットの数であり、
追加ビットは追加的記憶レジスタ58に格納されたRD
Y/BSY値をプッシュアウトするのに必要である。N
個の追加的記憶レジスタ58が存在する場合、X+N個
のビットが転送される。BYTE0については、データ
出力信号TDOは、X個のブランクビット及びRDY/
BSY信号のRDY値である。
RDY/BSY値を含む収集されたデータがシフトアウ
トされると、データ及びアドレスビットはアップデート
(UPDATE)状態42においてバッファ57に転送され
る。シフト処理の間(状態34)、PC10は、RDY
/BSY信号の値をチェックする。メモリユニット18
は入出力処理の準備ができた状態にあることから、RD
Y/BSY信号はRDY状態にあり、従ってPC10は
ランテスト/アイドル(Run-Test/Idle)状態44に移
行する。これに応じて、JTAGコントローラ52は、
ランテストアイドル(R−T−I)パルス45を発生す
る。ここで所望の処理が開始され、RDY/BSY信号
はビジー(BSY)状態となる(例えば図5のようにR
DY/BSY信号がローレベルになる)。
が行われている間、PC10は、RDY/BSYステー
タスを受けとるために連続的に処理を行う。これを行う
ことによって、PC10は、初めにJTAGコントロー
ラ52に対してRDY/BSY値及び現在パラレルバス
20上にあるデータ及びアドレス値をデータシフトレジ
スタ24の中に収集することを指示する。次にPC10
は、前のバイトBYTE0及びRDY/BSY信号の現
在状態をシフトアウトするために、次のバイトBYTE
1及び追加ビットをシフトインする。図5は、データ入
力信号TDIにおけるBYTE1及び追加ビットの反復
的シフトイン処理と、データ入力信号TDOにおけるB
YTE0及びRDY又はBSY状態の反復的なシフトア
ウト処理を示している。メモリユニットの入出力処理が
行われている間に、使用される次のデータをダウンロー
ドすることは、「ダブルバッファリング」として知られ
ている。
17が更新され、RDY/BSY信号の値をチェックす
る命令を発する。図5の例では、RDY/BSY信号が
次のバイトBYTE1の5番目のシフトインの間にレデ
ィ状態となる。RDY/BSY信号がシフトインの前に
収集されることから、5回目のシフトインの後のRDY
/BSY信号の値はBSY(ビジー)となる。しかし、
データの6度目のシフトインの後、RDY/BSY信号
はRDY(レディ)となり、PC10はランテスト/ア
イドル(Run-Test/Idel)状態44に移行して、新たな
所望の処理を開始することができる。
にシフトインする前に、所定の時間Tだけ待機すること
は行われない。待機するのでなく、RDY信号がJTA
Gポートから出力された直後に次のランテストアイドル
(R−T−I)パルス45が発せられる。これによっ
て、かなり時間が短縮される。時間Tが、メモリ18の
バイトをプログラム又は消去するのにかかる最長時間と
して定義されており、最も必要な処理を行うのに、設定
された最長時間よりもかなり短い時間しかかからないか
らである。
SY信号を収集及びシフトする前に、ランテスト/アイ
ドル(Run-Test/Idle)状態44においてTCK信号の
Q個のクロックパルス分だけ待機することによって本発
明を実施することもできる。Q個のクロックパルスは、
所定の時間Tよりかなり短い時間で発生する。この実施
例では、メモリ18の所望の入出力処理が行われる前
に、RDY/BSY信号がレディ状態になっていること
を表示するまでPC10が待機する。
されており、この実施例では、RDY/BSY信号が非
JTAGポート72にも供給される。図6はPC10及
びチップ70の詳細を示し、図7は、図6のシステムの
処理のタイミング図である。図面では類似の要素には類
似の符号を付して示してある。
ローラ74は、ステートマシン22、バッファ57、及
びデータシフトレジスタ24を有し、シフトレジスタは
追加的記憶ユニットを有していない。しかしこの実施例
では、RDY/BSY信号が、非JTAGポート72の
1個のピンに供給され、このピンはパラレルポート11
を介してPC10に接続されている。必要ならば、RD
Y/BSY信号をPC10の割り込みポートに供給する
ことができる。
た第1バイトBYTE0のデータ及びアドレスは、初め
にシフトレジスタ24の中にシフトされ、その後バッフ
ァ57の内容の更新に用いられ、次にランテストアイド
ル(R−T−I)パルス45が発行されて、これにより
RDY/BSY信号がBSYとなる。
TE1のデータ及びアドレスが、データシフトレジスタ
24を通してシフトされ、これによりこの実施例の場合
にもダブルバッファリングが行われることになる。PC
10はステートマシン22をポーズ(PAUSE)状態38
(図2)に移行させ、この状態は、ポート72を通して
直接受け取りが行われてRDY/BSY信号がRDY状
態に変わるまで続く。RDY/BSY信号がPC10の
割り込みポートに供給される場合には、RDY/BSY
信号が状態を変えるとすぐに、PC10がステートマシ
ン22をポーズ状態38から別の状態に移行させる。
スが、既にデータシフトレジスタ24の中にシフトされ
ていることから、PC10は、ステートマシン22をポ
ーズ(PAUSE)状態38から出口2(EXIT2)状態40、
更にはアップデート(UPDATE)状態42に移行させるこ
とができる。これは、図7においてもTDI信号の一部
として示されている。ひとたび更新(UPDATE)終了する
と(即ちデータ及びアドレスビットがバッファ57に一
度転送されると)、PC10はランテスト/アイドル
(Run-Test/Idle)状態44に移り、JTAGコントロ
ーラ74がランテストアイドル(R−T−I)パルス4
5を発生する。図7に見ることができるように、またダ
ブルバッファリングのために、メモリユニット18がR
DY状態にあるのは極僅かな時間となる。
ログラム等のデータ書き込みや消去が行われる場合に
は、ピン72をオープンドレインで構成することがで
き、また全てのデバイスのRDY/BSYラインをピン
72に接続することができる。従って、ピン72は全て
のデバイスがレディ状態にあるときにのみRDY信号を
発生する。
に限定されないことを当業者は理解されよう。本発明の
真の範囲は、特許請求の範囲の請求項によって定義され
る。
ポートを介したオンチップメモリユニットの入出力処理
に必要な時間を短縮する入出力制御のための新規な方法
及び装置が提供される。
る。
るステートマシンの模式図である。
グを示すタイミング図である。
るメモリチップ及びパーソナルコンピュータの模式図で
ある。
を示すタイミング図である。
作するメモリチップ及びパーソナルコンピュータを示す
模式図である。
を示すタイミング図である。
Claims (16)
- 【請求項1】 オンチップメモリユニットの入出力処
理を制御する方法であって、 少なくとも前記メモリユニットの入出力処理可能状態
(レディ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状
態)を示す前記メモリユニットの状態の表示を受け取る
受信過程と、 ひとたび前記表示がレディ状態になると前記メモリユニ
ットの次の入出力処理を行う命令を発する過程とを含む
ことを特徴とするオンチップメモリユニットの入出力処
理の制御方法。 - 【請求項2】 前記受信過程が、前記表示及び前記メ
モリユニットに供給された前のバイトの前記データ及び
アドレス情報を収集する収集過程と、 シフトレジスタを通して次のバイトのデータ及びアドレ
ス情報と1以上の追加ビットをシフトインするととも
に、前記表示が前記シフトレジスタからJTAGポート
のデータ出力ピンにシフトアウトされるようにするシフ
ト過程と、 前記収集過程及び前記シフト過程を反復する過程とを含
むことを特徴とし、 前記収集過程及びシフト過程の反復が、前記表示がレデ
ィ状態になるまで行われることを特徴とする請求項1に
記載の方法。 - 【請求項3】 前記メモリユニットの前記入出力処理
が行われている間に、前記メモリユニットに供給される
べき次のバイトのデータ及びアドレス情報をシフトレジ
スタの中にシフトする過程を更に含むことを特徴とする
請求項1に記載の方法。 - 【請求項4】 前記受信過程が、前記表示を前記チッ
プの非JTAGポートから外部プロセッサの受信ポート
上のピンに供給する過程を含むことを特徴とする請求項
1に記載の方法。 - 【請求項5】 前記受信過程が、前記表示がレディ状
態になるまで待機する待機過程を含むことを特徴とする
請求項4に記載の方法。 - 【請求項6】 前記待機過程が、前記受信ポートをポ
ーリングする過程を含むことを特徴とする請求項5に記
載の方法。 - 【請求項7】 前記待機過程が、ひとたび前記表示が
レディ状態になると、その表示を前記外部プロセッサの
割り込みポートに供給する過程を含むことを特徴とする
請求項5に記載の方法。 - 【請求項8】 メモリチップであって、 入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可
能状態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ラ
インを備えたメモリユニットと、 JTAG入力及びJTAG出力ラインを備えた、外部プ
ロセッサと通信するためのJTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記外部プロセ
ッサからの命令に従って前記メモリユニットの入出力処
理を制御するためのJTAGコントローラとを有するこ
とを特徴とし、 前記コントローラが、 前記JTAG入力ラインへの入力及び前記JTAG出力
ラインへの出力に接続され、複数の記憶素子を備えたシ
フトレジスタであって、前記複数の記憶素子の1つは前
記レディ/ビジー出力ラインに接続され、前記複数の記
憶素子のなかの複数が前記JTAG入力ラインから前記
メモリユニットの1バイトのデータ及びアドレス情報を
受け取るために利用できる、該シフトレジスタと、 前記シフトレジスタから前記データ及びアドレス情報を
受け取り、それを前記メモリユニットに供給するための
バッファと、 前記外部プロセッサからの命令に従って前記シフトレジ
スタ及びバッファの動作を制御し、ひとたび前記レディ
/ビジー出力ラインがレディ状態を表示したときに次の
前記メモリユニットの入出力処理を行う命令を発するス
テートマシンとを有することを特徴とするメモリチッ
プ。 - 【請求項9】 メモリチップであって、 入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可
能状態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ラ
インを備えたメモリユニットと、 前記レディ/ビジー出力ラインに接続され、外部プロセ
ッサに少なくとも前記レディ/ビジー出力ラインの表示
を供給するための非JTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記外部プロセ
ッサからの命令に従って前記メモリユニットの入出力処
理を制御するためのJTAGコントローラとを有するこ
とを特徴とするメモリチップ。 - 【請求項10】 前記JTAGポートが、JTAG入
力ラインとJTAG出力ラインとを有することを特徴と
し、 前記JTAGコントローラが、 その入力部において前記JTAG入力ラインに接続さ
れ、その出力部において前記JTAG出力インに接続さ
れており、前記JTAG入力ラインからの前記メモリユ
ニットの1バイトのデータ及びアドレス情報を受け取る
ために利用できる複数の記憶素子を備えたシフトレジス
タと、 前記シフトレジスタからの前記データ及びアドレス情報
を受け取り、それを前記メモリユニットに供給するため
のバッファと、 前記外部プロセッサからの命令に従って前記シフトレジ
スタ及びバッファの動作を制御し、前記メモリユニット
の次の入出力処理を行う命令を発するステートマシンと
を有することを特徴とする請求項9に記載のメモリチッ
プ。 - 【請求項11】 パラレルポートを備えたプロセッサ
と、 メモリチップとを有するシステムであって、 前記メモリチップが、 レディ/ビジー出力ラインを有するメモリユニットと、 前記プロセッサと通信するためのJTAGポートと、 前記レディ/ビジー出力ライン、及び前記プロセッサの
前記パラレルポートに接続された非JTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記プロセッサ
からの命令に従って前記メモリユニットの入出力処理を
制御するためのJTAGコントローラとを有することを
特徴とするシステム。 - 【請求項12】 前記プロセッサが、前記パラレルポ
ートを介して前記レディ/ビジーラインの状態を検知
し、前記レディ/ビジー出力ラインが前記メモリユニッ
トがレディ状態であることを表示しているときに前記J
TAGコントローラを作動させるための検知手段を有す
ることを特徴とする請求項11に記載のシステム。 - 【請求項13】 前記検知手段が、割り込みポートへ
接続するための手段であることを特徴とする請求項12
に記載のシステム。 - 【請求項14】 前記検知手段が、前記パラレルポー
トをポーリングするための手段を含むことを特徴とする
請求項12に記載のシステム。 - 【請求項15】 前記非JTAGポートが、オープン
ドレイン出力であることを特徴とする請求項11に記載
のシステム。 - 【請求項16】 前記JTAGポートが、JTAG入
力ライン及びJTAG出力ラインを含むことを特徴と
し、 前記JTAGコントローラが、 その入力部において前記JTAG入力ラインと接続さ
れ、その出力部において前記JTAG出力ラインと接続
された、前記JTAG入力ラインから前記メモリユニッ
トの1バイトのデータ及びアドレス情報を受け取るため
に利用できる複数の記憶素子を備えたシフトレジスタ
と、 前記シフトレジスタから前記データ及びアドレス情報を
受け取り、それを前記メモリユニットに供給するための
バッファと、 前記シフトレジスタ及びバッファの動作を制御し、前記
プロセッサからの命令に従って、前記メモリユニットの
次の入出力処理を行う命令を発するステートマシンとを
有することを特徴とする請求項11に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/093943 | 1998-06-08 | ||
US09/093,943 US6243842B1 (en) | 1998-06-08 | 1998-06-08 | Method and apparatus for operating on a memory unit via a JTAG port |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009134672A Division JP4527181B2 (ja) | 1998-06-08 | 2009-06-04 | Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000040056A true JP2000040056A (ja) | 2000-02-08 |
JP4398008B2 JP4398008B2 (ja) | 2010-01-13 |
Family
ID=22241848
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15672499A Expired - Lifetime JP4398008B2 (ja) | 1998-06-08 | 1999-06-03 | Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 |
JP2009134672A Expired - Lifetime JP4527181B2 (ja) | 1998-06-08 | 2009-06-04 | Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009134672A Expired - Lifetime JP4527181B2 (ja) | 1998-06-08 | 2009-06-04 | Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6243842B1 (ja) |
EP (1) | EP0964338B1 (ja) |
JP (2) | JP4398008B2 (ja) |
DE (1) | DE69934936D1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JP2010525436A (ja) * | 2007-04-17 | 2010-07-22 | エックスモス リミテッド | 時限ポート |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1999-06-03 JP JP15672499A patent/JP4398008B2/ja not_active Expired - Lifetime
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- 2009-06-04 JP JP2009134672A patent/JP4527181B2/ja not_active Expired - Lifetime
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KR101486027B1 (ko) | 2007-04-17 | 2015-01-28 | 엑스모스 엘티디 | 타이밍 포트 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69934936D1 (de) | 2007-03-15 |
JP2009223909A (ja) | 2009-10-01 |
JP4398008B2 (ja) | 2010-01-13 |
US6243842B1 (en) | 2001-06-05 |
JP4527181B2 (ja) | 2010-08-18 |
EP0964338A3 (en) | 2002-04-03 |
EP0964338A2 (en) | 1999-12-15 |
EP0964338B1 (en) | 2007-01-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20051216 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20051216 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060602 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081107 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090130 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090227 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090528 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20090709 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090929 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091022 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4398008 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |