JP2000040056A - Jtagポ―トを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 - Google Patents

Jtagポ―トを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置

Info

Publication number
JP2000040056A
JP2000040056A JP11156724A JP15672499A JP2000040056A JP 2000040056 A JP2000040056 A JP 2000040056A JP 11156724 A JP11156724 A JP 11156724A JP 15672499 A JP15672499 A JP 15672499A JP 2000040056 A JP2000040056 A JP 2000040056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
jtag
input
memory unit
data
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11156724A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4398008B2 (ja
Inventor
Yaron Slezak
ヤーロン・スレザック
Yoram Cedar
ヨーラム・シーダー
Ilan Wienner
イーラン・ウィーナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Waferscale Integration Inc
Original Assignee
Waferscale Integration Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Waferscale Integration Inc filed Critical Waferscale Integration Inc
Publication of JP2000040056A publication Critical patent/JP2000040056A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4398008B2 publication Critical patent/JP4398008B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/22Microcontrol or microprogram arrangements
    • G06F9/24Loading of the microprogram

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Information Transfer Systems (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 JTAGポートを介したオンチップメモリ
ユニットの入出力処理に必要な時間を短縮する入出力制
御のための新規な方法及び装置を提供する。 【解決手段】 メモリユニットが入出力処理可能状態
(レディ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状
態)の何れにあるかを表示する信号を受け取り、表示が
レディ状態になるとメモリユニットの次の入出力処理
(読み出し、プログラム等のデータの書き込み、消去、
ベリファイ等)を行う命令を発することによってオンチ
ップメモリユニットの入出力処理を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は一般にJTAG(Jo
int Text Action Group)ポートに関するものであり、
特にそれを用いたメモリユニットの入出力制御方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】メモリユニットは、多くの異なるタイプ
の製品において共通に用いられているものである。多く
のメモリユニットはプログラム可能であるが、メモリユ
ニットは、格納されたデータの消去が行えるか否か、及
びどのように消去されるかについて異なるタイプが存在
する。読み出し専用メモリ(ROM)ユニットは消去可
能ではなく、それにプログラムされた情報を変更しなけ
ればならない場合は取り替える必要がある。消去可能な
プログラム可能読み出し専用メモリ(EPROM)ユニ
ットは電気信号を用いてプログラム等のデータの書き込
みが行えるが、消去するために紫外線が必要であり、紫
外線によってチップ全体が一度に消去される。電気的に
消去可能なプログラム可能読み出し専用メモリ(EEP
ROM)ユニット及びフラッシュEEPROMユニット
は、電気信号を用いて消去及びプログラム等のデータの
書き込みを行うことができる。従って、必要ならば単一
ビット又は単一ワードを変更することができる。
【0003】用語「メモリユニット」には、メモリユニ
ットのようにデータを格納する代わりに論理式を格納す
るプログラマブルロジックデバイス(PLD)が含まれ
る。PLDは、任意のメモリユニットのタイプに基づく
ものであり得る。
【0004】プログラム可能メモリユニットにプログラ
ム等のデータを書き込みなおすためには、そのユニット
を適切な方式で消去し、次にユニットへのプログラム等
のデータの書き込みを電気的に行うプログラミング装置
に装着しなければならない。ソケットによって回路基板
に接続されたチップ上に形成されたメモリユニットの場
合は、通常ユニットがソケットから取り外し可能である
ため、これは問題にはならない。
【0005】しかし、回路基板に直接はんだ付けされた
ユニット及び多機能チップ内に形成されたユニットはプ
ログラミング装置に装着するために取り外すことができ
ない。このようなユニットの場合は、パラレルポートを
介して入出力処理(即ち読み出し、プログラム書き込
み、消去、ベリファイ等)を行うことができる。
【0006】インシステムプログラミング(ISP)
は、オンチップメモリユニット若しくは任意の取り外し
可能でないメモリユニットの入出力制御のための手段と
なる。IEEE1149.1勧告は、「JTAGポー
ト」として知られる、インシステム入出力制御をシリア
ルチャネルを用いて行うことができるテストアクセスポ
ートを規定している。図1及び図2を参照すると、JT
AGポート及びその動作が示されている。図1には、J
TAGポート14を備えたチップ12を制御するパラレ
ルポート11を備えたパーソナルコンピュータ(PC)
10が示されており、図2は、ステートマシンを利用し
たJTAGポート14を介した入出力制御方法を示して
いる。
【0007】JTAGポートを利用して入出力制御を行
うために、チップ12は、ポートを通して転送されたシ
リアルデータを、パラレルバス20を介して符号18で
示されたメモリユニットにアクセスするために必要なパ
ラレル形式に変換するJTAGコントローラ16も備え
ていなければならない。このバスは、データ及びアドレ
ス信号用の単一バスであるか、或いはデータ信号用及び
アドレス信号用の2つのバスからなるものであり得る。
更に、JTAGコントローラ16は、送られた命令を、
メモリユニット18の入出力制御を行うための制御信号
にデコードする。これらの制御信号は制御バス29を介
してメモリユニット18に供給される。
【0008】JTAGポート14は4つのピンを有し、
それぞれクロック信号TCK用、制御信号TMS用、デ
ータ入力信号TDI及びデータ出力信号TDO用であ
る。またJTAGコントローラ16は、ステートマシン
22、データシフトレジスタ24、命令シフトレジスタ
27、及び命令デコーダ28を有している。
【0009】データ入力信号TDIは、メモリユニット
18に供給されるデータ及びアドレス情報、及びメモリ
ユニット18に対する命令のシリアル表現である。この
データ及びアドレス情報はデータシフトレジスタ24に
供給され、このデータシフトレジスタ24は、信号TD
Iによって供給されたシリアルデータをシフトする。従
ってデータシフトレジスタ24は、データ(典型的には
8ビット)及びアドレス(典型的には16ビット)の双
方を保持するだけの十分な記憶容量を有している。命令
は命令シフトレジスタ27に供給される。
【0010】PC10は、パラレルポート11を介して
クロック信号TCK及び制御信号TMSをステートマシ
ン22に供給し、このステートマシン22はJTAGコ
ントローラ16の動作を制御する。従って、PC10は
データ入力信号TDIを供給し、且つデータ出力信号T
DOをモニタする。制御信号TMSを構成する種々の命
令は図2に示されている。JTAGコントローラ16の
動作はIEEE1149.1勧告において完全に規定さ
れているため、以下の説明ではこの動作の一部を重点的
に説明する。
【0011】初めに、バス20上のあらゆる情報が収集
され(状態32)、データシフトレジスタ24に置かれ
る。次にデータ入力信号TDIのデータ及びアドレス情
報はデータシフトレジスタ24にシフトされ(状態3
4)、これによって収集されたデータがデータ出力信号
TDOとしてシフトアウトされることになる。ひとたび
全てのデータ及びアドレス情報の組がデータシフトレジ
スタ24にシフトされると、ステートマシン22は、デ
ータシフトレジスタ24に指示して(状態42)、デー
タをパラレルバス20に供給させる。次にステートマシ
ン22は命令デコーダ28に指示して(状態44)、命
令を制御バス29を介してメモリユニット18に供給
し、そのアドレスに対して所望の入出力処理(読み出
し、プログラム書き込み、消去、ベリファイ等)が行わ
れる。
【0012】次に、PC10は、次のデータ及びアドレ
スビット列を転送する前にそれぞれの入出力処理のタイ
プに対して規定された所定の時間Tだけ待機する。この
待機時間は、次のデータセットがシフトインされる前に
所望の処理が必ず終了しているように設定されたもので
ある。
【0013】図3には符号BYTE0及びBYTE1を
付された2つのバイトデータについてのタイミング図が
示されている。データ入力信号TDIによって指示され
たときBYTE0についてのシフト処理が初めに行わ
れ、その間に24のデータ及びアドレスビットがデータ
シフトレジスタ24の中にシフトされ、24のブランク
(BLANK)ビットがデータ出力信号TDOにシフトアウ
トされる。ひとたびデータがレジスタ24の中にシフト
されると、ステートマシン22はアップデート(UPDAT
E)状態42に移行し、その後このステートマシンはラ
ンテスト/アイドル(Run-Test/Idle)状態44に移
り、この状態ではランテスト/アイドル(R−T−I)
パルス45が生成される。次に、オペレーション(OPER
ATION)信号によって指示されると、メモリユニット1
8の入出力処理が行われる。図に示すように、オペレー
ション信号はそれに割り当てられた長さTの時間内でそ
の非アクティブ状態に戻る。BYTE1についても、こ
のプロセスが次のシフト処理で反復され、その間にBY
TE0のデータはデータ出力信号TDOにシフトアウト
される。
【0014】メモリユニットの入出力制御のためにJT
AGポート14を用いることは、データがシリアル転送
されるため、また各バイトについて処理が終了するまで
に長い時間待機しなければならないために、時間がかか
るという問題があった。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の目的
は、JTAGポートを介したオンチップメモリユニット
の入出力処理に必要な時間を短縮する入出力制御のため
の新規な方法及び装置を提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】従って、本発明の好適実
施例によれば、オンチップメモリユニットの入出力処理
を制御する方法であって、少なくとも前記メモリユニッ
トの入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理
不可能状態(ビジー状態)の表示を受け取る受信過程
と、ひとたび前記表示がレディ状態になったときにメモ
リユニットの次の入出力処理を行う命令を発する過程と
を含むことを特徴とするオンチップメモリユニットの入
出力処理の制御方法が提供される。
【0017】本発明の好適実施例によれば、前記受信過
程が、前記表示及び前記メモリユニットに供給された前
のバイトの前記データ及びアドレス情報を収集する収集
過程と、シフトレジスタを通して次のバイトのデータ及
びアドレス情報と1以上の追加ビットをシフトインする
とともに、前記表示が前記シフトレジスタからJTAG
ポートのデータ出力ピンにシフトアウトされるようにす
るシフト過程と、前記収集過程及び前記シフト過程を反
復する過程とを含む。前記収集過程及びシフト過程の反
復が、前記表示がレディ状態になるまで行われる。
【0018】更に、本発明の好適実施例によれば、前記
方法が、前記メモリユニットの前記入出力処理が行われ
ている間に、前記メモリユニットに供給されるべき次の
バイトのデータ及びアドレス情報をシフトレジスタの中
にシフトする過程を更に含む。
【0019】更に本発明の好適実施例によれば、前記受
信過程が、前記表示を非JTAGポートから外部プロセ
ッサの受信ポート上のピンに供給する過程を含む。
【0020】更に本発明の好適実施例によれば、前記受
信過程が、表示がレディ状態になるまで待機する待機過
程を含む。この待機過程は、受信ポートをポーリングす
ることにより、又は前記表示のラインを外部プロセッサ
の割り込みポートに接続することによって実施され得
る。
【0021】また、本発明の好適実施例によれば、入出
力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可能状
態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ライン
を備えたメモリユニットと、JTAG入力及びJTAG
出力ラインを備えた、外部プロセッサと通信するための
JTAGポートと、前記JTAGポートを介して受け取
った前記外部プロセッサからの命令に従って前記メモリ
ユニットの入出力処理を制御するためのJTAGコント
ローラとを有するメモリチップが提供される。このコン
トローラは、シフトレジスタ、バッファ、及びステート
マシンを備えている。シフトレジスタはJTAG入力及
び出力ラインに接続され、複数の記憶素子を有してい
る。複数の記憶素子の1つはレディ/ビジー出力ライン
に接続され、複数の記憶素子のなかの複数がJTAG入
力ラインから1バイトのメモリユニットのデータ及びア
ドレス情報を受信するために使用できる。バッファは、
シフトレジスタからデータ及びアドレス情報を受けとっ
てその情報をメモリユニットに供給し、ステートマシン
はシフトレジスタ及びバッファの動作を制御し、ひとた
びレディ/ビジー出力ラインがレディ状態を表示する
と、メモリユニットの次の入出力処理を行う命令を発す
る。
【0022】別形態として、本発明の好適実施例によれ
ば、メモリチップであって、入出力処理可能状態(レデ
ィ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状態)を表
示するレディ/ビジー出力ラインを備えたメモリユニッ
トと、前記レディ/ビジー出力ラインに接続され、外部
プロセッサに少なくとも前記レディ/ビジー出力ライン
の表示を供給するための非JTAGポートと、前記JT
AGポートを介して受け取った前記外部プロセッサから
の命令に従って前記メモリユニットの入出力処理を制御
するためのJTAGコントローラとを有することを特徴
とするメモリチップが提供される。
【0023】また、本発明の好適実施例によれば、非J
TAGポートはオープンドレイン出力を有する。
【0024】
【発明の実施の形態】メモリユニットは、典型的には、
それが所望の動作モードにあるか否かを表示する“実行
終了(end-of execution)”又は“レディ/ビジー(re
ady/busy)”(RDY/BSY)信号を有する。本発明
は、この信号を利用して、JTAGポートを用いたオン
チップメモリユニットの入出力処理に必要な時間を短縮
するものである。
【0025】更に、本発明は、メモリユニットの所望の
入出力処理を行っている間に、次のビットに対するデー
タ及びアドレスビットにシフトインする。この二重バッ
ファリングにより、本発明による処理速度の高速化が更
に促進される。
【0026】図4には本発明のシステムが示されてい
る。チップ50は、本発明の好適実施例により構成され
動作するメモリユニット18、JTAGコントローラ5
2、及びJTAGポート14を備えている。更に図4に
は、メモリユニット18の「レディ/ビジー」(RDY
/BSY)出力ライン59が示されている。
【0027】図4はPC10を用いた入出力制御を示
す。以下に説明する入出力制御は、一例としてここでは
PC10である、外部プロセッサを用いて行われ得るこ
とが理解されよう。他のタイプのプロセッサには、例え
ばプログラミング装置や自動テスタ装置がある。
【0028】本発明の好適実施例によれば、JTAGコ
ントローラ52は、ステートマシン22、バッファ5
7、及びデータシフトレジスタ56を備えている。デー
タシフトレジスタ56は、典型的にはデータ及びアドレ
スビットを格納するために必要な記憶ユニットの数より
多い1以上の追加的記憶ユニット58を有する。追加的
記憶ユニット58は、RDY/BSYライン58に接続
されており、従ってRDY/BSY信号の現在状態デー
タを受け取ることができる。ここでは、追加的記憶ユニ
ット58がただ1つ存在すると仮定して説明する。チッ
プ50の内部ブロックからの他の情報を収集するために
別の追加的記憶ユニットを設けることができるというこ
とは理解されよう。
【0029】アドレス及びデータ情報の入力のための各
サイクルにおいて、JTAGコントローラ52は、初め
にRDY/BSYライン59の現在値及びバス20上の
現在のデータ及びアドレスビットを収集し(図2の状態
32)、収集した情報をデータシフトレジスタ56内に
入れる。次にJTAGコントローラ52は、TDI信号
におけるデータの次のバイトをデータシフトレジスタ5
6内にシフトする(図2の状態34)。このシフト処理
によって、追加的記憶ユニット58(図4)の値を含む
収集されたデータが、TDOデータ出力信号としてシフ
トアウトされる。図4には、データシフトレジスタ56
の最後の記憶ユニットとしての追加的記憶ユニット58
が示されている。しかし、追加的記憶ユニット58は、
データシフトレジスタ56内の任意の位置に配置するこ
とができる。
【0030】データシフトのために、RDY/BSY信
号の値は周期的にPC10に戻される。RDY/BSY
信号の値が戻される時間的間隔は、全てのデータ及びア
ドレスビットをシフトし、バッファ57を新たにシフト
インされたデータに更新する(状態42)のにかかる時
間の関数である。しかしRDY/BSY信号は、バッフ
ァ57には供給されない。
【0031】TDOデータ出力信号として、メモリユニ
ット18の所望の入出力処理が終了したことを表示する
RDY/BSY信号をひとたび受け取ると、PC10
は、その後の任意の時間に次の所望の入出力制御を開始
することができる。
【0032】このタイミングは図5に示されている。初
めに、RDY/BSY信号の現在値及びパラレルバス2
0上のデータ及びアドレスビットの現在値が収集され、
その後信号TDIのデータが、BYTE0のデータ及び
アドレスビット及び追加ビットをデータシフトレジスタ
56の中にシフトする。X+1個のビットが転送される
が、ここでXはデータ及びアドレスビットの数であり、
追加ビットは追加的記憶レジスタ58に格納されたRD
Y/BSY値をプッシュアウトするのに必要である。N
個の追加的記憶レジスタ58が存在する場合、X+N個
のビットが転送される。BYTE0については、データ
出力信号TDOは、X個のブランクビット及びRDY/
BSY信号のRDY値である。
【0033】ひとたび全てのデータがシフトインされ、
RDY/BSY値を含む収集されたデータがシフトアウ
トされると、データ及びアドレスビットはアップデート
(UPDATE)状態42においてバッファ57に転送され
る。シフト処理の間(状態34)、PC10は、RDY
/BSY信号の値をチェックする。メモリユニット18
は入出力処理の準備ができた状態にあることから、RD
Y/BSY信号はRDY状態にあり、従ってPC10は
ランテスト/アイドル(Run-Test/Idle)状態44に移
行する。これに応じて、JTAGコントローラ52は、
ランテストアイドル(R−T−I)パルス45を発生す
る。ここで所望の処理が開始され、RDY/BSY信号
はビジー(BSY)状態となる(例えば図5のようにR
DY/BSY信号がローレベルになる)。
【0034】本発明の好適実施例によれば、所望の処理
が行われている間、PC10は、RDY/BSYステー
タスを受けとるために連続的に処理を行う。これを行う
ことによって、PC10は、初めにJTAGコントロー
ラ52に対してRDY/BSY値及び現在パラレルバス
20上にあるデータ及びアドレス値をデータシフトレジ
スタ24の中に収集することを指示する。次にPC10
は、前のバイトBYTE0及びRDY/BSY信号の現
在状態をシフトアウトするために、次のバイトBYTE
1及び追加ビットをシフトインする。図5は、データ入
力信号TDIにおけるBYTE1及び追加ビットの反復
的シフトイン処理と、データ入力信号TDOにおけるB
YTE0及びRDY又はBSY状態の反復的なシフトア
ウト処理を示している。メモリユニットの入出力処理が
行われている間に、使用される次のデータをダウンロー
ドすることは、「ダブルバッファリング」として知られ
ている。
【0035】各シフトインの後に、PC10はバッファ
17が更新され、RDY/BSY信号の値をチェックす
る命令を発する。図5の例では、RDY/BSY信号が
次のバイトBYTE1の5番目のシフトインの間にレデ
ィ状態となる。RDY/BSY信号がシフトインの前に
収集されることから、5回目のシフトインの後のRDY
/BSY信号の値はBSY(ビジー)となる。しかし、
データの6度目のシフトインの後、RDY/BSY信号
はRDY(レディ)となり、PC10はランテスト/ア
イドル(Run-Test/Idel)状態44に移行して、新たな
所望の処理を開始することができる。
【0036】本発明では、次のデータ及びアドレス情報
にシフトインする前に、所定の時間Tだけ待機すること
は行われない。待機するのでなく、RDY信号がJTA
Gポートから出力された直後に次のランテストアイドル
(R−T−I)パルス45が発せられる。これによっ
て、かなり時間が短縮される。時間Tが、メモリ18の
バイトをプログラム又は消去するのにかかる最長時間と
して定義されており、最も必要な処理を行うのに、設定
された最長時間よりもかなり短い時間しかかからないか
らである。
【0037】また、データ、アドレス、及びRDY/B
SY信号を収集及びシフトする前に、ランテスト/アイ
ドル(Run-Test/Idle)状態44においてTCK信号の
Q個のクロックパルス分だけ待機することによって本発
明を実施することもできる。Q個のクロックパルスは、
所定の時間Tよりかなり短い時間で発生する。この実施
例では、メモリ18の所望の入出力処理が行われる前
に、RDY/BSY信号がレディ状態になっていること
を表示するまでPC10が待機する。
【0038】図6及び図7には本発明の別の実施例が示
されており、この実施例では、RDY/BSY信号が非
JTAGポート72にも供給される。図6はPC10及
びチップ70の詳細を示し、図7は、図6のシステムの
処理のタイミング図である。図面では類似の要素には類
似の符号を付して示してある。
【0039】従来技術の場合のように、JTAGコント
ローラ74は、ステートマシン22、バッファ57、及
びデータシフトレジスタ24を有し、シフトレジスタは
追加的記憶ユニットを有していない。しかしこの実施例
では、RDY/BSY信号が、非JTAGポート72の
1個のピンに供給され、このピンはパラレルポート11
を介してPC10に接続されている。必要ならば、RD
Y/BSY信号をPC10の割り込みポートに供給する
ことができる。
【0040】前の実施例の場合のように、図7に示され
た第1バイトBYTE0のデータ及びアドレスは、初め
にシフトレジスタ24の中にシフトされ、その後バッフ
ァ57の内容の更新に用いられ、次にランテストアイド
ル(R−T−I)パルス45が発行されて、これにより
RDY/BSY信号がBSYとなる。
【0041】本発明の実施例によれば、次のバイトBY
TE1のデータ及びアドレスが、データシフトレジスタ
24を通してシフトされ、これによりこの実施例の場合
にもダブルバッファリングが行われることになる。PC
10はステートマシン22をポーズ(PAUSE)状態38
(図2)に移行させ、この状態は、ポート72を通して
直接受け取りが行われてRDY/BSY信号がRDY状
態に変わるまで続く。RDY/BSY信号がPC10の
割り込みポートに供給される場合には、RDY/BSY
信号が状態を変えるとすぐに、PC10がステートマシ
ン22をポーズ状態38から別の状態に移行させる。
【0042】次のバイトBYTE1のデータ及びアドレ
スが、既にデータシフトレジスタ24の中にシフトされ
ていることから、PC10は、ステートマシン22をポ
ーズ(PAUSE)状態38から出口2(EXIT2)状態40、
更にはアップデート(UPDATE)状態42に移行させるこ
とができる。これは、図7においてもTDI信号の一部
として示されている。ひとたび更新(UPDATE)終了する
と(即ちデータ及びアドレスビットがバッファ57に一
度転送されると)、PC10はランテスト/アイドル
(Run-Test/Idle)状態44に移り、JTAGコントロ
ーラ74がランテストアイドル(R−T−I)パルス4
5を発生する。図7に見ることができるように、またダ
ブルバッファリングのために、メモリユニット18がR
DY状態にあるのは極僅かな時間となる。
【0043】2、3のデバイスについて、パラレルにプ
ログラム等のデータ書き込みや消去が行われる場合に
は、ピン72をオープンドレインで構成することがで
き、また全てのデバイスのRDY/BSYラインをピン
72に接続することができる。従って、ピン72は全て
のデバイスがレディ状態にあるときにのみRDY信号を
発生する。
【0044】本発明が、ここに開示された特定の実施例
に限定されないことを当業者は理解されよう。本発明の
真の範囲は、特許請求の範囲の請求項によって定義され
る。
【0045】
【発明の効果】以上のように、本発明により、JTAG
ポートを介したオンチップメモリユニットの入出力処理
に必要な時間を短縮する入出力制御のための新規な方法
及び装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来型のメモリチップ及びPCの模式図であ
る。
【図2】従来のJTAGコントローラにおいて使用でき
るステートマシンの模式図である。
【図3】JTAGポートを通した入出力制御のタイミン
グを示すタイミング図である。
【図4】本発明の好適実施例に基づいて構成され動作す
るメモリチップ及びパーソナルコンピュータの模式図で
ある。
【図5】図4のメモリチップの入出力処理のタイミング
を示すタイミング図である。
【図6】本発明の別の好適実施例に基づいて構成され動
作するメモリチップ及びパーソナルコンピュータを示す
模式図である。
【図7】図6のメモリチップの入出力処理のタイミング
を示すタイミング図である。
【符号の説明】
10 パーソナルコンピュータ(PC) 11 パラレルポート 12 メモリチップ 14 JTAGポート 16 JTAGコントローラ 18 メモリユニット 20 パラレルバス 22 ステートマシン 24 データシフトレジスタ 27 命令シフトレジスタ 28 命令デコーダ 29 制御バス 50 メモリチップ 52 JTAGコントローラ 56 データシフトレジスタ 57 バッファ 58 追加的記憶ユニット 59 レディ/ビジー(RDY/BSY)出力ライン 70 メモリチップ 72 非JTAGポート(ピン) 74 JTAGコントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヨーラム・シーダー アメリカ合衆国カリフォルニア州95014・ クーペルティーノ・ストークスアベニュー 10481 (72)発明者 イーラン・ウィーナー イスラエル国ヘルツリア46308・ハザフザ ホットストリート 25

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オンチップメモリユニットの入出力処
    理を制御する方法であって、 少なくとも前記メモリユニットの入出力処理可能状態
    (レディ状態)又は入出力処理不可能状態(ビジー状
    態)を示す前記メモリユニットの状態の表示を受け取る
    受信過程と、 ひとたび前記表示がレディ状態になると前記メモリユニ
    ットの次の入出力処理を行う命令を発する過程とを含む
    ことを特徴とするオンチップメモリユニットの入出力処
    理の制御方法。
  2. 【請求項2】 前記受信過程が、前記表示及び前記メ
    モリユニットに供給された前のバイトの前記データ及び
    アドレス情報を収集する収集過程と、 シフトレジスタを通して次のバイトのデータ及びアドレ
    ス情報と1以上の追加ビットをシフトインするととも
    に、前記表示が前記シフトレジスタからJTAGポート
    のデータ出力ピンにシフトアウトされるようにするシフ
    ト過程と、 前記収集過程及び前記シフト過程を反復する過程とを含
    むことを特徴とし、 前記収集過程及びシフト過程の反復が、前記表示がレデ
    ィ状態になるまで行われることを特徴とする請求項1に
    記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記メモリユニットの前記入出力処理
    が行われている間に、前記メモリユニットに供給される
    べき次のバイトのデータ及びアドレス情報をシフトレジ
    スタの中にシフトする過程を更に含むことを特徴とする
    請求項1に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記受信過程が、前記表示を前記チッ
    プの非JTAGポートから外部プロセッサの受信ポート
    上のピンに供給する過程を含むことを特徴とする請求項
    1に記載の方法。
  5. 【請求項5】 前記受信過程が、前記表示がレディ状
    態になるまで待機する待機過程を含むことを特徴とする
    請求項4に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記待機過程が、前記受信ポートをポ
    ーリングする過程を含むことを特徴とする請求項5に記
    載の方法。
  7. 【請求項7】 前記待機過程が、ひとたび前記表示が
    レディ状態になると、その表示を前記外部プロセッサの
    割り込みポートに供給する過程を含むことを特徴とする
    請求項5に記載の方法。
  8. 【請求項8】 メモリチップであって、 入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可
    能状態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ラ
    インを備えたメモリユニットと、 JTAG入力及びJTAG出力ラインを備えた、外部プ
    ロセッサと通信するためのJTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記外部プロセ
    ッサからの命令に従って前記メモリユニットの入出力処
    理を制御するためのJTAGコントローラとを有するこ
    とを特徴とし、 前記コントローラが、 前記JTAG入力ラインへの入力及び前記JTAG出力
    ラインへの出力に接続され、複数の記憶素子を備えたシ
    フトレジスタであって、前記複数の記憶素子の1つは前
    記レディ/ビジー出力ラインに接続され、前記複数の記
    憶素子のなかの複数が前記JTAG入力ラインから前記
    メモリユニットの1バイトのデータ及びアドレス情報を
    受け取るために利用できる、該シフトレジスタと、 前記シフトレジスタから前記データ及びアドレス情報を
    受け取り、それを前記メモリユニットに供給するための
    バッファと、 前記外部プロセッサからの命令に従って前記シフトレジ
    スタ及びバッファの動作を制御し、ひとたび前記レディ
    /ビジー出力ラインがレディ状態を表示したときに次の
    前記メモリユニットの入出力処理を行う命令を発するス
    テートマシンとを有することを特徴とするメモリチッ
    プ。
  9. 【請求項9】 メモリチップであって、 入出力処理可能状態(レディ状態)又は入出力処理不可
    能状態(ビジー状態)を表示するレディ/ビジー出力ラ
    インを備えたメモリユニットと、 前記レディ/ビジー出力ラインに接続され、外部プロセ
    ッサに少なくとも前記レディ/ビジー出力ラインの表示
    を供給するための非JTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記外部プロセ
    ッサからの命令に従って前記メモリユニットの入出力処
    理を制御するためのJTAGコントローラとを有するこ
    とを特徴とするメモリチップ。
  10. 【請求項10】 前記JTAGポートが、JTAG入
    力ラインとJTAG出力ラインとを有することを特徴と
    し、 前記JTAGコントローラが、 その入力部において前記JTAG入力ラインに接続さ
    れ、その出力部において前記JTAG出力インに接続さ
    れており、前記JTAG入力ラインからの前記メモリユ
    ニットの1バイトのデータ及びアドレス情報を受け取る
    ために利用できる複数の記憶素子を備えたシフトレジス
    タと、 前記シフトレジスタからの前記データ及びアドレス情報
    を受け取り、それを前記メモリユニットに供給するため
    のバッファと、 前記外部プロセッサからの命令に従って前記シフトレジ
    スタ及びバッファの動作を制御し、前記メモリユニット
    の次の入出力処理を行う命令を発するステートマシンと
    を有することを特徴とする請求項9に記載のメモリチッ
    プ。
  11. 【請求項11】 パラレルポートを備えたプロセッサ
    と、 メモリチップとを有するシステムであって、 前記メモリチップが、 レディ/ビジー出力ラインを有するメモリユニットと、 前記プロセッサと通信するためのJTAGポートと、 前記レディ/ビジー出力ライン、及び前記プロセッサの
    前記パラレルポートに接続された非JTAGポートと、 前記JTAGポートを介して受け取った前記プロセッサ
    からの命令に従って前記メモリユニットの入出力処理を
    制御するためのJTAGコントローラとを有することを
    特徴とするシステム。
  12. 【請求項12】 前記プロセッサが、前記パラレルポ
    ートを介して前記レディ/ビジーラインの状態を検知
    し、前記レディ/ビジー出力ラインが前記メモリユニッ
    トがレディ状態であることを表示しているときに前記J
    TAGコントローラを作動させるための検知手段を有す
    ることを特徴とする請求項11に記載のシステム。
  13. 【請求項13】 前記検知手段が、割り込みポートへ
    接続するための手段であることを特徴とする請求項12
    に記載のシステム。
  14. 【請求項14】 前記検知手段が、前記パラレルポー
    トをポーリングするための手段を含むことを特徴とする
    請求項12に記載のシステム。
  15. 【請求項15】 前記非JTAGポートが、オープン
    ドレイン出力であることを特徴とする請求項11に記載
    のシステム。
  16. 【請求項16】 前記JTAGポートが、JTAG入
    力ライン及びJTAG出力ラインを含むことを特徴と
    し、 前記JTAGコントローラが、 その入力部において前記JTAG入力ラインと接続さ
    れ、その出力部において前記JTAG出力ラインと接続
    された、前記JTAG入力ラインから前記メモリユニッ
    トの1バイトのデータ及びアドレス情報を受け取るため
    に利用できる複数の記憶素子を備えたシフトレジスタ
    と、 前記シフトレジスタから前記データ及びアドレス情報を
    受け取り、それを前記メモリユニットに供給するための
    バッファと、 前記シフトレジスタ及びバッファの動作を制御し、前記
    プロセッサからの命令に従って、前記メモリユニットの
    次の入出力処理を行う命令を発するステートマシンとを
    有することを特徴とする請求項11に記載のシステム。
JP15672499A 1998-06-08 1999-06-03 Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置 Expired - Lifetime JP4398008B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/093943 1998-06-08
US09/093,943 US6243842B1 (en) 1998-06-08 1998-06-08 Method and apparatus for operating on a memory unit via a JTAG port

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009134672A Division JP4527181B2 (ja) 1998-06-08 2009-06-04 Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000040056A true JP2000040056A (ja) 2000-02-08
JP4398008B2 JP4398008B2 (ja) 2010-01-13

Family

ID=22241848

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15672499A Expired - Lifetime JP4398008B2 (ja) 1998-06-08 1999-06-03 Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置
JP2009134672A Expired - Lifetime JP4527181B2 (ja) 1998-06-08 2009-06-04 Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009134672A Expired - Lifetime JP4527181B2 (ja) 1998-06-08 2009-06-04 Jtagポートを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6243842B1 (ja)
EP (1) EP0964338B1 (ja)
JP (2) JP4398008B2 (ja)
DE (1) DE69934936D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010525436A (ja) * 2007-04-17 2010-07-22 エックスモス リミテッド 時限ポート

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6987382B1 (en) * 1995-10-31 2006-01-17 Texas Instruments Incorporated System with functional and selector circuits connected by mode lead
JP4475709B2 (ja) * 1999-11-15 2010-06-09 株式会社ルネサステクノロジ マイクロコンピュータ
US6651199B1 (en) * 2000-06-22 2003-11-18 Xilinx, Inc. In-system programmable flash memory device with trigger circuit for generating limited duration program instruction
US7058856B2 (en) * 2000-07-18 2006-06-06 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor circuit with flash ROM and improved security for the contents thereof
US6757844B1 (en) * 2000-10-25 2004-06-29 Cypress Semiconductor Corp. Architecture and logic to control a device without a JTAG port through a device with a JTAG port
KR100394575B1 (ko) * 2001-04-11 2003-08-14 삼성전자주식회사 반도체 메모리의 테스트용 핀을 통한 내부정보 선택적출력방법 및 그에 따른 출력회로
US6925583B1 (en) * 2002-01-09 2005-08-02 Xilinx, Inc. Structure and method for writing from a JTAG device with microcontroller to a non-JTAG device
US6983441B2 (en) 2002-06-28 2006-01-03 Texas Instruments Incorporated Embedding a JTAG host controller into an FPGA design
US20040141518A1 (en) * 2003-01-22 2004-07-22 Alison Milligan Flexible multimode chip design for storage and networking
US7684624B2 (en) * 2003-03-03 2010-03-23 Smart Technologies Ulc System and method for capturing images of a target area on which information is recorded
US7137037B2 (en) * 2003-03-27 2006-11-14 Silicon Motion, Inc. Data storage system and method for testing the same
US6948147B1 (en) * 2003-04-03 2005-09-20 Xilinx, Inc. Method and apparatus for configuring a programmable logic device using a master JTAG port
US7170315B2 (en) * 2003-07-31 2007-01-30 Actel Corporation Programmable system on a chip
US7521960B2 (en) * 2003-07-31 2009-04-21 Actel Corporation Integrated circuit including programmable logic and external-device chip-enable override control
US7138824B1 (en) 2004-05-10 2006-11-21 Actel Corporation Integrated multi-function analog circuit including voltage, current, and temperature monitor and gate-driver circuit blocks
US7099189B1 (en) 2004-10-05 2006-08-29 Actel Corporation SRAM cell controlled by non-volatile memory cell
US7116181B2 (en) * 2004-12-21 2006-10-03 Actel Corporation Voltage- and temperature-compensated RC oscillator circuit
US7119398B1 (en) * 2004-12-22 2006-10-10 Actel Corporation Power-up and power-down circuit for system-on-a-chip integrated circuit
US7446378B2 (en) * 2004-12-29 2008-11-04 Actel Corporation ESD protection structure for I/O pad subject to both positive and negative voltages
CN100357874C (zh) * 2005-09-30 2007-12-26 华为技术有限公司 一种基于边界扫描的闪存加载方法及系统
US7505331B1 (en) * 2005-11-23 2009-03-17 Altera Corporation Programmable logic device with differential communications support
US7610528B2 (en) * 2006-02-14 2009-10-27 Atmel Corporation Configuring flash memory
US7451367B2 (en) * 2006-02-14 2008-11-11 Atmel Corporation Accessing sequential data in microcontrollers
US7346820B2 (en) * 2006-03-23 2008-03-18 Freescale Semiconductor, Inc. Testing of data retention latches in circuit devices
US7721163B2 (en) 2007-04-23 2010-05-18 Micron Technology, Inc. JTAG controlled self-repair after packaging
US7815059B2 (en) * 2007-06-27 2010-10-19 John Francis Mulholland Display rack and method for supporting containerized plants
US7908532B2 (en) * 2008-02-16 2011-03-15 International Business Machines Corporation Automated system and processing for expedient diagnosis of broken shift registers latch chains
US7900106B2 (en) * 2008-03-28 2011-03-01 Atmel Corporation Accessing sequential data in a microcontroller

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4426679A (en) * 1980-09-29 1984-01-17 Honeywell Information Systems Inc. Communication multiplexer using a random access memory for storing an acknowledge response to an input/output command from a central processor
JPH01118950A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Toshiba Corp バス制御方式
US5355369A (en) * 1991-04-26 1994-10-11 At&T Bell Laboratories High-speed integrated circuit testing with JTAG
US5423050A (en) * 1991-11-27 1995-06-06 Ncr Corporation Intermodule test across system bus utilizing serial test bus
US5375222A (en) * 1992-03-31 1994-12-20 Intel Corporation Flash memory card with a ready/busy mask register
EP0636976B1 (en) * 1993-07-28 1998-12-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Microcontroller provided with hardware for supporting debugging as based on boundary scan standard-type extensions
US5485466A (en) * 1993-10-04 1996-01-16 Motorola, Inc. Method and apparatus for performing dual scan path testing of an array in a data processing system
JPH08278938A (ja) * 1995-04-05 1996-10-22 Hitachi Ltd Dma装置
GB9622687D0 (en) * 1996-10-31 1997-01-08 Sgs Thomson Microelectronics An integrated circuit with tap controller
US5768289A (en) * 1997-05-22 1998-06-16 Intel Corporation Dynamically controlling the number of boundary-scan cells in a boundary-scan path
US6000051A (en) * 1997-10-10 1999-12-07 Logic Vision, Inc. Method and apparatus for high-speed interconnect testing

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010525436A (ja) * 2007-04-17 2010-07-22 エックスモス リミテッド 時限ポート
KR101486027B1 (ko) 2007-04-17 2015-01-28 엑스모스 엘티디 타이밍 포트

Also Published As

Publication number Publication date
DE69934936D1 (de) 2007-03-15
JP2009223909A (ja) 2009-10-01
JP4398008B2 (ja) 2010-01-13
US6243842B1 (en) 2001-06-05
JP4527181B2 (ja) 2010-08-18
EP0964338A3 (en) 2002-04-03
EP0964338A2 (en) 1999-12-15
EP0964338B1 (en) 2007-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000040056A (ja) Jtagポ―トを介したメモリユニットの入出力処理の制御のための方法及び装置
US6009496A (en) Microcontroller with programmable embedded flash memory
US7610528B2 (en) Configuring flash memory
EP0378427B1 (en) High speed data transfer on a computer system bus
US7538577B2 (en) System and method for configuring a field programmable gate array
US6442092B1 (en) Interface circuit and method for writing data into a non-volatile memory, and scan register
US8281190B2 (en) Circuits and methods for processing memory redundancy data
JPH10326254A (ja) マイクロコントローラ・システムおよびインタフェース論理回路と通信するための方法
JP2009059434A (ja) 半導体集積回路
KR20000028580A (ko) 불휘발성반도체메모리ic
JPS61253555A (ja) トランザクシヨン・アナライザ
JP2000030499A (ja) 汎用ポ―トをjtagポ―トとして利用可能なメモリチップ
CN107729071A (zh) 一种初始化网卡的方法及装置
US8042173B2 (en) Semiconductor device with high security having JTAG ports
US5923894A (en) Adaptable input/output pin control
JP2001127827A (ja) データ転送方式
JP2010032503A (ja) Jtagテスト・データ・レジスタを用いる非同期通信装置
US20040071028A1 (en) Testing method and device for non-volatile memories having a LPC (low pin count) communication serial interface
US6598176B1 (en) Apparatus for estimating microcontroller and method thereof
JPH07192481A (ja) 半導体記憶装置
JP2003317490A (ja) 不揮発性記憶装置のデ−タ転送制御回路,不揮発性記憶装置の書き換え回路,及び,通信制御装置
US20050289421A1 (en) Semiconductor chip
TWI756619B (zh) 聯合測試工作群組傳輸系統
US20030135687A1 (en) Memory module, printer assembly, and method for storing printer code
JP3190421B2 (ja) Icメモリカードシステム

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20051216

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20051216

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060602

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090130

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090227

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090528

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090929

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091022

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4398008

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term