JP2000031351A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JP2000031351A
JP2000031351A JP10193516A JP19351698A JP2000031351A JP 2000031351 A JP2000031351 A JP 2000031351A JP 10193516 A JP10193516 A JP 10193516A JP 19351698 A JP19351698 A JP 19351698A JP 2000031351 A JP2000031351 A JP 2000031351A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
heat sink
heat
radiator
bump
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10193516A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3922809B2 (ja
Inventor
Toshiro Kubota
敏郎 久保田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP19351698A priority Critical patent/JP3922809B2/ja
Publication of JP2000031351A publication Critical patent/JP2000031351A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3922809B2 publication Critical patent/JP3922809B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/12105Bump connectors formed on an encapsulation of the semiconductor or solid-state body, e.g. bumps on chip-scale packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16245Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73207Bump and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放熱効果の高い半導体装置を提供するもので
ある。 【解決手段】 第1の放熱板11に半導体チップ12が
装着されている。半導体チップ12の各々の電極は、ボ
ンディングワイヤ14により対応したリードフレーム1
3の各々の電極に電気的に接続されている。半導体チッ
プ12のパワートランジスタ領域12aにバンプ16が
形成されている。バンプ16を介してパワートランジス
タ領域12a上に、第2の放熱板17が直接装着されて
いる。第1の放熱板11、半導体チップ12、リードフ
レーム13、ボンディングワイヤ14、バンプ16およ
び第2の放熱板17は、樹脂15で封止されている。第
1の放熱板11および第2の放熱板17の一方の面は、
露出されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放熱効果の高い半
導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路(IC)の中でも、特にパワー
ICの分野においては、樹脂封止したICの発熱を効率
的に放熱させるため、放熱板の一方の面上にチップを装
着し、さらに放熱板のもう一方の面を樹脂封止後も露出
させることによって、放熱効果を高め、熱抵抗を低減し
ていた。
【0003】図4は、従来技術による半導体装置の断面
図である。放熱板21の一方の面に半導体チップ22が
装着され、半導体チップ22の各々の電極は、ボンディ
ングワイヤ24により対応したリードフレーム23の各
々に電気的に接続され、放熱板21、半導体チップ2
2、リードフレーム23およびボンディングワイヤ24
は、樹脂25によって封止されている。放熱板21の一
方の面は露出されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように従来技術で
は、半導体チップの裏面に装着された放熱板によって、
半導体チップから出る熱を半導体チップの裏面から放熱
板に伝えて発散させていたが、半導体チップの裏面から
の熱の発散では十分ではない。また、半導体装置の小型
化により、放熱板の大きさも小さくなるので、半導体チ
ップの裏面に装着された放熱板からのみでは、熱の発散
の効率が悪くなる。本発明の目的は、放熱効果の高い半
導体装置を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
は、半導体チップと、この半導体チップの一方の面に装
着された第1の放熱板と、前記半導体チップのもう一方
の面である能動素子面側に装着された第2の放熱板とを
具備することを特徴としている。また、半導体チップ
と、この半導体チップの一方の面に装着された第1の放
熱板と、前記半導体チップのもう一方の面である能動素
子面側に装着された第2の放熱板と、前記半導体チッ
プ、前記第1の放熱板および前記第2の放熱板が封止さ
れた樹脂とを具備し、前記第1の放熱板および前記第2
の一方の面は、前記樹脂から露出されていることを特徴
としている。
【0006】また、前記第2の放熱板は、バンプを介し
て前記半導体チップに装着されていること、前記第2の
放熱板は、前記第1の放熱板に接続されていることを特
徴としている。
【0007】また、本発明の半導体装置は、半導体チッ
プと、前記半導体チップの一方の面に装着された第1の
放熱板と、前記半導体チップのもう一方の面である能動
素子面側に形成されたバンプと、前記バンプを介して前
記半導体チップと電気的に接続されたベース基板と、前
記ベース基板に形成され且つ前記バンプに装着されてい
る第2の放熱板とを具備している。本発明によれば、半
導体チップの能動素子面側に放熱板を装着させることに
より、半導体チップから出る熱を効率的に発散すること
ができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について説明する。図1は、本発明による
第1の実施の形態の半導体装置における断面図である。
第1の放熱板11に半導体チップ12が装着されてい
る。半導体チップ12の各々の電極は、ボンディングワ
イヤ14により対応したリードフレーム13の各々の電
極に電気的に接続されている。第1の放熱板11は、銅
またはその他の金属である。半導体チップ12の最も熱
を放出するパワートランジスタ領域12aにバンプ16
が形成されている。例えば半田であるバンプ16を介し
てパワートランジスタ領域12a上に、第2の放熱板1
7が直接装着されている。第2の放熱板17は、銅ある
いはその他の金属で、ボンディングワイヤ14とは接触
していない。第1の放熱板11、半導体チップ12、リ
ードフレーム13、ボンディングワイヤ14、バンプ1
6および第2の放熱板17は、樹脂15で被覆されてい
る。第1の放熱板11および第2の放熱板17の一方の
面は、露出されている。
【0009】パワートランジスタ領域12aの能動素子
面側にバンプ16を介して直接第2の放熱板17を装着
させることにより、放熱面積が増え、パワートランジス
タ領域12aから出る熱を第2の放熱板17で効率的に
発散させることができる。
【0010】図2は、本発明による第2の実施の形態の
半導体装置における断面図である。第1の放熱板11に
半導体チップ12が装着されている。半導体チップ12
の各々の電極は、ボンディングワイヤ14により対応し
たリードフレーム13の各々の電極に電気的に接続され
ている。第1の放熱板11は、銅あるいはその他の金属
である。半導体チップ12のパワートランジスタ領域1
2aにバンプ16が形成されている。第2の放熱板17
は、例えば半田であるバンプ16を介してパワートラン
ジスタ領域12a上に直接装着され、且つ第1の放熱板
11と接触させている。銅あるいはその他の金属である
第2の放熱板17は、ボンディングワイヤ14とは接触
していない。第1の放熱板11、半導体チップ12、リ
ードフレーム13、ボンディングワイヤ14、バンプ1
6および第2の放熱板17は、樹脂15で封止されてい
る。第1の放熱板11の一方の面および第2の放熱板1
7の一方の少なくとも一部の面は、露出されている。
【0011】パワートランジスタ領域12aの能動素子
面側にバンプ16を介して第2の放熱板17を直接装着
させることにより、放熱面積が増え、パワートランジス
タ領域12aから出る熱を第2の放熱板17で効率的に
発散させることができる。また、第1の放熱板11の方
が第2の放熱板17よりも面積が大きくとれる場合、第
2の放熱板17の一部を第1の放熱板11に接触させる
ことにより、第2の放熱板17に伝わった熱を第1の放
熱板11から発散することができる。
【0012】尚、図1および図2において、第2の放熱
板17はボンディングワイヤ14の領域上には形成され
ていないが、ボンディングワイヤ14に接触しなけれ
ば、第2の放熱板17の大きさは問わない。また、第2
の放熱板17を第1の放熱板11に接触させるのは、樹
脂よりも熱伝導率がいい放熱路を介してもよい。
【0013】図3は、本発明による第3の実施の形態の
半導体装置における断面図である。第1の放熱板11に
半導体チップ12が装着されている。第1の放熱板11
は、銅あるいはその他の金属である。半導体チップ12
およびパワートランジスタ領域12aにバンプ16が形
成されている。バンプ16を介してCSP(ChipS
ize Package)基板18が装着されている。
CSP基板18上に半田ボール19が形成されている。
半導体チップ12および半田ボール19は、電気的に接
続されている。半導体チップ12にバンプ16を介して
CSP基板18の第2の放熱板18aが直接装着されて
いる。第1の放熱板11、半導体チップ12、パンプ1
6およびCSP基板18は、樹脂15で封止されてい
る。第1の放熱板11およびCSP基板18の一方の面
は、露出されている。
【0014】パワートランジスタ領域12aの能動素子
面側にバンプ16を介してCSP基板18に形成された
第2の放熱板18aを直接装着させることにより、放熱
面積が増え、パワートランジスタ領域12aから出る熱
をCSP基板18の第2の放熱板18aから効率的に放
熱ができる。
【0015】尚、図1、図2および図3では、第1の放
熱板11は、一方の面を露出して樹脂15で封止されて
いるが、第1の放熱板11は封止している樹脂15より
突出していてもよい。
【0016】本発明の実施の形態では、第2の放熱板の
接続はパワートランジスタ領域としているが、半導体チ
ップの放熱する領域ならパワートランジスタ領域以外で
もよい。
【0017】
【発明の効果】最も熱を放出するパワートランジスタの
能動素子面側にバンプを介して第2の放熱板を装着させ
ることにより、放熱面積が増え、直接第2の放熱板に熱
を伝えられるため、パワートランジスタ領域から出る熱
を第2の放熱板から効率的に発散することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第1の実施の形態の半導体装置に
おける断面図
【図2】本発明による第2の実施の形態の半導体装置に
おける断面図
【図3】本発明による第3の実施の形態の半導体装置に
おける断面図
【図4】従来技術による半導体装置における断面図
【符号の説明】
11…第1の放熱板 12…半導体チップ 12a…パワートランジスタ領域 13…リードフレーム 14…ボンディングワイヤ 15…樹脂 16…バンプ 17…第2の放熱板 18…CSP基板 18a…第2の放熱板 19…半田ボール 21…放熱板 22…半導体チップ 23…リードフレーム 24…ボンディングワイヤ 25…樹脂

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップと、 この半導体チップの一方の面に装着された第1の放熱板
    と、 前記半導体チップのもう一方の面である能動素子面側に
    装着された第2の放熱板とを具備することを特徴とする
    半導体装置。
  2. 【請求項2】 半導体チップと、 この半導体チップの一方の面に装着された第1の放熱板
    と、 前記半導体チップのもう一方の面である能動素子面側に
    装着された第2の放熱板と、 前記半導体チップ、前記第1の放熱板および前記第2の
    放熱板が封止された樹脂とを具備することを特徴とする
    半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記第1の放熱板および前記第2の一方
    の面は、前記樹脂から露出されていることを特徴とする
    請求項2記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記第2の放熱板は、バンプを介して前
    記半導体チップに装着されていることを特徴とする請求
    項1乃至請求項3記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記第2の放熱板は、前記第1の放熱板
    に接続されていることを特徴とする請求項1乃至請求項
    4記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 半導体チップと、 前記半導体チップの一方の面に装着された第1の放熱板
    と、 前記半導体チップのもう一方の面である能動素子面側に
    形成されたバンプと、 前記バンプを介して前記半導体チップと電気的に接続さ
    れたベース基板と、 前記ベース基板に形成され且つ前記バンプに装着されて
    いる第2の放熱板とを具備することを特徴とする半導体
    装置。
JP19351698A 1998-07-09 1998-07-09 半導体装置 Expired - Fee Related JP3922809B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19351698A JP3922809B2 (ja) 1998-07-09 1998-07-09 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19351698A JP3922809B2 (ja) 1998-07-09 1998-07-09 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000031351A true JP2000031351A (ja) 2000-01-28
JP3922809B2 JP3922809B2 (ja) 2007-05-30

Family

ID=16309375

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19351698A Expired - Fee Related JP3922809B2 (ja) 1998-07-09 1998-07-09 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3922809B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003282589A (ja) * 2002-03-26 2003-10-03 Denso Corp 半導体装置の製造方法
US6693350B2 (en) 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
US6703707B1 (en) 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6946730B2 (en) 2001-04-25 2005-09-20 Denso Corporation Semiconductor device having heat conducting plate
US7145254B2 (en) 2001-07-26 2006-12-05 Denso Corporation Transfer-molded power device and method for manufacturing transfer-molded power device
WO2007080785A1 (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Sanken Electric Co., Ltd. 外部に露出する放熱体を上部に有する樹脂封止型半導体装置及びその製法
JP2011181879A (ja) * 2010-02-04 2011-09-15 Denso Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2012069887A (ja) * 2010-09-27 2012-04-05 Denso Corp 半導体モジュール
JP2015126056A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
WO2016079995A1 (ja) * 2014-11-21 2016-05-26 株式会社デンソー 半導体装置及びパワーモジュール

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6967404B2 (en) 1999-11-24 2005-11-22 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6693350B2 (en) 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
US6703707B1 (en) 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6798062B2 (en) 1999-11-24 2004-09-28 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6891265B2 (en) 1999-11-24 2005-05-10 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6998707B2 (en) 1999-11-24 2006-02-14 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6960825B2 (en) 1999-11-24 2005-11-01 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6992383B2 (en) 1999-11-24 2006-01-31 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6946730B2 (en) 2001-04-25 2005-09-20 Denso Corporation Semiconductor device having heat conducting plate
US6963133B2 (en) 2001-04-25 2005-11-08 Denso Corporation Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
US7145254B2 (en) 2001-07-26 2006-12-05 Denso Corporation Transfer-molded power device and method for manufacturing transfer-molded power device
KR100659376B1 (ko) * 2001-07-26 2006-12-18 가부시키가이샤 덴소 트랜스퍼 몰딩 전력장치 및 그의 제조방법
JP2003282589A (ja) * 2002-03-26 2003-10-03 Denso Corp 半導体装置の製造方法
WO2007080785A1 (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Sanken Electric Co., Ltd. 外部に露出する放熱体を上部に有する樹脂封止型半導体装置及びその製法
JP2007184501A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Sanken Electric Co Ltd 外部に露出する放熱体を上部に有する樹脂封止型半導体装置及びその製法
JP2011181879A (ja) * 2010-02-04 2011-09-15 Denso Corp 半導体装置およびその製造方法
US8963315B2 (en) 2010-02-04 2015-02-24 Denso Corporation Semiconductor device with surface electrodes
JP2012069887A (ja) * 2010-09-27 2012-04-05 Denso Corp 半導体モジュール
CN102420199A (zh) * 2010-09-27 2012-04-18 株式会社电装 半导体模块
JP2015126056A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
WO2016079995A1 (ja) * 2014-11-21 2016-05-26 株式会社デンソー 半導体装置及びパワーモジュール
JP2016100479A (ja) * 2014-11-21 2016-05-30 株式会社デンソー 半導体装置及びパワーモジュール
CN107112294A (zh) * 2014-11-21 2017-08-29 株式会社电装 半导体装置以及功率模块

Also Published As

Publication number Publication date
JP3922809B2 (ja) 2007-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8759157B2 (en) Heat dissipation methods and structures for semiconductor device
US9449899B2 (en) Semiconductor package with heat spreader
US6650006B2 (en) Semiconductor package with stacked chips
JP4493121B2 (ja) 半導体素子および半導体チップのパッケージ方法
JP2011097090A (ja) ドレインクリップを備えた半導体ダイパッケージ
JP2008543055A (ja) バックサイド・ヒートスプレッダを用いる集積回路ダイ取り付け
JP3922809B2 (ja) 半導体装置
US6720662B1 (en) Semiconductor device of chip-on-chip structure with a radiation noise shield
US8288863B2 (en) Semiconductor package device with a heat dissipation structure and the packaging method thereof
JPH05275580A (ja) 半導体装置
JPH10247702A (ja) ボールグリッドアレイパッケージ及びプリントボード
JP2007036035A (ja) 半導体装置
JP3003617B2 (ja) 樹脂封止型半導体パッケージ
JP3855726B2 (ja) パワーモジュール
JP2003258165A (ja) 半導体装置
JPH09213847A (ja) 半導体集積回路装置及びこの製造方法並びにそれを用いた電子装置
JPH08264688A (ja) 半導体用セラミックパッケージ
JP2690248B2 (ja) 表面実装型半導体装置
JP2003023126A (ja) 半導体装置
US20240087992A1 (en) Chip package, chip system, method of forming a chip package, and method of forming a chip system
JPH11354706A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法
JP3450465B2 (ja) 高周波パワーモジュール
JP2001102495A (ja) 半導体装置
JP3058142B2 (ja) 半導体装置とその製造方法
JPH06326236A (ja) 樹脂封止型半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050218

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050414

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050606

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061114

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070115

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070216

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070220

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees