JP2000021701A - 半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法 - Google Patents

半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法

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JP2000021701A JP10200432A JP20043298A JP2000021701A JP 2000021701 A JP2000021701 A JP 2000021701A JP 10200432 A JP10200432 A JP 10200432A JP 20043298 A JP20043298 A JP 20043298A JP 2000021701 A JP2000021701 A JP 2000021701A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 異常が発生したユニットを実時間で把握して
正常工程過程から迅速に隔離させ、製品の全体的な生産
效率を向上させる半導体製造設備管理システムの設備ユ
ニット状態管理方法を提供する。 【解決手段】 設備から各ユニットの可動状態データを
受信する段階(S10)と、ユニットに該当する基準デ
ータを検索する段階(S20)と、可動状態データと基
準データを比較してユニットの中に可動状態データが基
準データから離脱したユニットがあるか否かを判断する
段階(S30)と、可動状態データが基準データから離
脱したユニットがないとS10に進行し、可動状態デー
タが基準データから離脱したユニットがあると、当該ユ
ニットの変数IDキー値を変更する段階(S40)と、
変数IDを所定のユニット制御メッセージに保存した
後、ユニット制御メッセージを設備にダウンロードして
ユニットの可動状態を変更する段階(S50)とで行わ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造設備管理
システムの設備ユニット状態管理方法に関し、より詳細
には、所定のユニット状態監視モジュールを通して設備
に附属されたユニットの異常有無が実時間で把握される
ようにすることにより、異常が発生した特定ユニットを
正常状態のユニットから迅速に隔離して運用できるよう
にする半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態
管理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体素子の製造には高い精密
性が要求される。これによって、通常の半導体生産ライ
ンでは情密加工が可能な高機能の設備を配置して大部分
の半導体素子製造工程を実行し、作業者は各設備の動作
状況を所定の半導体製造設備管理システムを用いて観察
することによりライン作業効率の向上を図っている。
【0003】図4は従来の半導体製造管理システムの配
置形状を概略的に示している。図4に示されるように、
生産ライン内には工程を実行する設備3が配置され、そ
の設備3にはロット10が投入されて該当工程が進行さ
れる。この時、作業者は設備3とオンラインで連結され
たO/I PC(operator interface PC)2を通して設備
3の作動状況を観察する。
【0004】ここで、設備3は設備サーバー(図示せず)
を通してホスト1とオンラインで連結され、ホスト1は
O/I PC2とオンラインで連結される。この時、作
業者がO/I PC2を通してホスト1に生産基礎デー
タ、例えば、対象ロットのIDや工程が進行される設備
ID等の設定を入力すると、ホスト1はその入力された
生産基礎データに基づいて自身のデータベースを検索し
て当該ロット10に進行される工程条件データを算出す
る。
【0005】以後、作業者は前記工程条件データを確認
した後、工程開始(または工程終了)命令を入力して設備
3にロット10を迅速にトラックイン/トラックアウト
させることにより該当工程を進行する。この時、設備3
は自身に附属された多数個のユニット、例えば、ローデ
ィング/アンローディングポート(図示せず)、チャンバ
4等を適切に可動させることにより上述した工程条件を
実行する。
【0006】ここで、作業者は上述したO/I PC2
を通して設備3の動作状況を観察して設備3に附属され
た各ユニットの状態を継続して把握し、特定ユニット、
例えば、上述したチャンバ4の中で一部に異常が発生す
ると、設備3をすぐオフにして全体工程を中止させる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の半導体
製造設備管理システムでは、設備に附属された多数のユ
ニットの中でいくつかのユニットでだけ異常が発生し他
のユニットは正常に可動する場合、作業者はその異常発
生ユニットを個別に実時間で把握できないことにより、
異常が発生したユニットを正常な工程過程から迅速に隔
離させることが不可能であり、また、異常が発生したユ
ニットに製品がローディングされる場合があった。ま
た、作業者によりユニットの異常が発見されても一部の
異常発生ユニットを修理するために全体設備をオフにし
なければならないため製品の全体的な生産効率が低減す
るという問題があった。
【0008】したがって、本発明はこのような問題に着
眼して案出されたもので、その目的は、ホストに所定の
ユニット状態監視モジュールを具備し、異常が発生した
ユニットを実時間で把握した後、それを正常工程過程か
ら迅速に隔離させることにある。
【0009】本発明の他の目的は、ユニット状態監視モ
ジュールを用いて、異常が発生したユニットだけを個別
にオフにして異常発生ユニットと正常ユニットが隔離し
て運用されるようにすることにより、全体設備がオフに
なることを防止し、製品の全体的な生産効率を顕著に向
上させることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方
法は、設備から各ユニットの可動状態データを受信する
段階と、ユニットに該当する基準データを検索する段階
と、可動状態データと基準データとを比較して可動状態
データが基準データから逸脱したユニットがユニットの
中にあるか否かを判断する段階と、可動状態データが基
準データから逸脱したユニットがユニットの中にない
と、基準データを検索する段階に進行して、可動状態デ
ータが基準データから逸脱したユニットがユニットの中
にあると、当該ユニットの変数IDキー値を変更する段
階と、変数IDを所定ユニット制御メッセージに保存し
た後、ユニット制御メッセージを設備にダウンロードし
てユニットの可動状態を変更する段階とを含む。
【0011】本発明の請求項2記載の半導体製造設備管
理システムの設備ユニット状態管理方法によると、ユニ
ット制御メッセージは、ストリームファンクションメッ
セージ(stream function message)である。本発明の請
求項3記載の半導体製造設備管理システムの設備ユニッ
ト状態管理方法によると、ユニット制御メッセージのス
トリームファンクション形態は、S1F12である。本
発明の請求項4記載の半導体製造設備管理システムの設
備ユニット状態管理方法によると、変数IDは、ECI
D(equipment constant ID)である。
【0012】本発明の請求項5記載の半導体製造設備管
理システムの設備ユニット状態管理方法によると、変数
IDを所定のユニット制御メッセージに保存してダウン
ロードする段階後、所定のアラームメッセージを設備に
ダウンロードする段階と、設備からアラームが発生した
かを判断する段階と、設備からアラームが発生しなかっ
た場合は基準データを検索する段階に進行し、設備から
アラームが発生した場合には所定の警告メッセージを設
備にダウンロードする段階とをさらに含む。
【0013】本発明の請求項6記載の半導体製造設備管
理システムの設備ユニット状態管理方法によると、アラ
ームメッセージ及び警告メッセージは、ストリームファ
ンクションメッセージである。
【0014】本発明の請求項7記載の半導体製造設備管
理システムの設備ユニット状態管理方法によると、アラ
ームメッセージのストリームファンクション形態は、S
2F41である。
【0015】本発明の請求項8記載の半導体製造設備管
理システムの設備ユニット状態管理方法によると、警告
メッセージのストリームファンクション形態は、S10
F3またはS10F5である。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明によ
る半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理
方法について詳細に説明する。図1は本発明の複数の実
施例による半導体製造設備管理システムの配置形状を概
略的に示すブロック図である。 (第1実施例)図1に示されるように、ホスト1には設備
サーバー(図示せず)を通して設備3からアップロードさ
れる設備3の附属ユニットの可動状態データを受信する
ユニット状態監視モジュール20が具備される。ここ
で、作業者はユニット状態監視モジュール20を設置す
る時、ユニット状態監視モジュール20と対応する設備
3にも適切な報告機能を附与することにより、設備3の
各ユニット別可動状態がユニット状態監視モジュール2
0に実時間で報告されるようにする。
【0017】一方、前記ユニット状態監視モジュール2
0はホスト1に保存された基準データを参照し、ユニッ
トの可動状態を継続して監視してこれらの異常有無を実
時間で把握することにより、異常が発生したユニットは
正常な他のユニットから迅速に隔離されてその可動状態
がオフ状態に変更される。
【0018】ここで、特定ユニット、例えば、第1チャ
ンバ4aで異常が発生した場合、ユニット状態監視モジ
ュール20はそれを制御してオフ状態に変更することに
より、第1チャンバ4aの運用を他の正常のチャンバで
ある第2チャンバ4b及び第3チャンバ4cの運用から
隔離させる。設備3は全体がオフにされず第1チャンバ
4aだけをオフ状態で維持した状態でも他の第2チャン
バ4b及び第3チャンバ4cを用いて半導体製造工程が
進行できることにより生産性が顕著に向上する。
【0019】図2は本発明の第1実施例による半導体製
造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法を順次
的に示している。図2に示されるように、ユニット状態
監視モジュール20は、設備3から継続してアップロー
ドされる各ユニット別可動状態データを実時間で受信す
る(S10段階)。これによって、設備3に附属された各
ユニットの可動状態はユニット状態監視モジュール20
により迅速に把握される。
【0020】次に、ユニット状態監視モジュール20
は、ホスト1のデータベース領域に保存された設備3の
各ユニット別基準データを検索し、受信された可動状態
データを発生させた各ユニットの中にその可動状態デー
タが上述した基準データから逸脱したユニットがあるか
否かを判断する(S20、S30段階)。
【0021】この時、各ユニットの可動状態データが基
準データ内にあり、設備のユニットの中で基準データか
ら逸脱した可動状態データを発生させたユニットがない
と判定されると、ユニット状態監視モジュール20はS
10段階に進行して継続して上述した可動状態データを
受信する。
【0022】反面、各ユニットの可動状態データの中で
一部が基準データ内になく、設備ユニットの中で基準デ
ータから逸脱した可動状態データを発生させたユニット
があると判定されると、ユニット状態監視モジュール2
0はその結果をホスト1に伝達し、ホスト1は、すぐに
該当するユニットの変数IDキー値をオフ状態に変更す
る(S40段階)。これによって異常が発生したユニット
は正常状態のユニットから隔離可能な条件を具備するよ
うになる。例えば、第1チャンバ4aの基準データに包
含された基準可動時間が10000時間であるのに対
し、第1チャンバ4aから受信された可動状態データに
包含された可動時間は1001時間であると把握され
て、第1チャンバ4aの可動状態データがその基準デー
タから逸脱したと判定されると、ユニット状態監視モジ
ュール20は第1チャンバ4aに異常状況が発生したと
判断して、その判断結果をホスト1に伝達する。これに
よって、ホスト1は第1チャンバ4aの変数IDキー値
をオフ状態に変更することにより、第1チャンバ4aは
他の正常状態のチャンバである第2チャンバ4b、第3
チャンバ4cから迅速に隔離される。ここでホスト1が
変更する変数IDは、チャンバ4の可動状態を一括的に
変更させることができるECIDであることが望まし
い。
【0023】S40段階後、ユニット状態監視モジュー
ル20は上述した過程を通してキー値が変更された変数
IDをホスト1から伝達を受けユニット制御メッセージ
に保存した後設備3にダウンロードする(S50段階)。
これによって、設備3は該当ユニットを迅速にオフにす
ることができる。
【0024】この時、ユニット状態監視モジュール20
からダウンロードされるユニット制御メッセージは通信
伝達が円滑なストリームファンクションメッセージで、
ユニット制御メッセージのストリームファンクション形
態は標準化規格に適切なS1F12であることが望まし
い。例えば、ユニット状態監視モジュール20が上述し
た過程を通して第1チャンバ4aの異常を発見した後、
第1チャンバ4aをオフさせてそれを他の正常状態のチ
ャンバ4b、4cから隔離させようとすると、ユニット
状態監視モジュール20はホスト1を通してキー値がオ
フ状態に変更された変数ID、即ち、ECIDの伝達を
受けた後これをストリームファンクションメッセージS
1F12に保存して設備3にダウンロードする。これに
よって、設備3は変更されたECIDのキー値によって
第1チャンバ4aを適切にオフさせることにより、異常
状態の第1チャンバ4aが正常状態の第2チャンバ4
b、第3チャンバ4cから迅速に隔離されるようにす
る。
【0025】従来の場合、作業者は多数のユニットの中
で異常が発生した個別ユニットを実時間で把握できず、
異常が発生したユニットを正常な工程過程で迅速に隔離
させることが不可能であった。また、異常発生ユニット
に製品がローディングされる場合があった。しかし、本
発明の場合、ホスト1は作業者がいなくてもユニット状
態監視モジュールを通して異常が発生したユニットを実
時間で把握し、それをユニット制御メッセージを通して
正常な工程過程から迅速に隔離することができる。
【0026】(第2実施例)図3は本発明の第1実施例に
よるS50段階後の半導体製造設備管理システムの設備
ユニット状態管理方法を第2実施例として順次的に示
す。図示されるように、第1実施例のS50段階後にユ
ニット状態監視モジュール20は警告音を発生させるア
ラームメッセージを設備3にダウンロードして、設備3
がそのアラームメッセージに保存されたリモートコマン
ドに合わせて一定大きさの警告音を発生させるようにす
る(S61段階)。このような警告音によって作業者は設
備3の特定ユニットに異常が発生したことを実時間で把
握でき、それを克服するための適切な推後処置を迅速に
行うことが可能である。
【0027】アラームメッセージは上述したユニット制
御メッセージと同様に通信伝達が円滑なストリームファ
ンクションメッセージであり、アラームメッセージのス
トリームファンクション形態は標準化規格に適切なS2
F41であることが望ましい。
【0028】次に、ユニット状態監視モジュール20は
設備3を継続して観測して設備3からアラームが発生し
たかを判断する(S62段階)。この時、設備3からアラ
ームが発生しないと、ユニット状態監視モジュール20
は通信上に異常があったと判定して、S61段階に進行
して上述したアラームメッセージダウンロード過程を継
続して反復する。
【0029】反面、設備3からアラームが発生した場合
には、ユニット状態監視モジュール20は次の段階を進
行してテキストを保存している警告メッセージを設備モ
ニタに表示することにより、作業者が異常の発生したユ
ニットを視覚的に確認できるようにする(S63段階)。
このような警告メッセージのテキストによって作業者は
異常が発生したユニットのIDを即時に把握して上述し
た推後処置を迅速に実行できる。
【0030】警告メッセージは、上述したユニット制御
メッセージまたはアラームメッセージと同様に通信伝達
が円滑なストリームファンクションメッセージであり、
前記アラームメッセージのストリームファンクション形
態は標準化規格に適切なS10F3またはS10F5で
あることが望ましい。このような二つのストリームファ
ンクション形態において、S10F5はS10F3より
多量のテキストが伝送できる。
【0031】一方、前記警告メッセージは、単純に上述
した設備モニタだけではなくO/IPC2にもダウンロ
ードされることによって、作業者が設備3ではないO/
IPC2の近傍にいる時にもチャンバの異常を迅速に把
握して上述した推後処置を迅速に実行できる。以後、ホ
スト1はユニット状態監視モジュール20を通して上述
した各段階を継続して反復することにより効率的に全体
の設備を管理する。
【0032】このように、上述の各実施例ではユニット
状態監視モジュールを通して設備に附属されたユニット
の異常有無を実時間で把握することにより、異常が発生
した特定ユニットを正常状態のユニットから迅速に隔離
して運用できる。また本実施例は生産ライン内に配置さ
れて一定の管理を必要とする多様な半導体製造設備で幅
広く使用することができる。
【0033】
【発明の効果】以上のように本発明による半導体製造設
備管理システムの設備ユニット状態管理方法では、ホス
トに所定のユニット状態監視モジュールを具備し、それ
を通して異常が発生したユニットを実時間で把握し、正
常的な工程過程から迅速に隔離させることにより、製品
の全体的な生産効率を顕著に向上させる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による半導体製造設備管理シス
テムの配置形状を示すブロック図である。
【図2】本発明の第1実施例による半導体製造設備管理
システムの設備ユニット状態管理方法を示す流れ図であ
る。
【図3】本発明の第2実施例による半導体製造設備管理
システムの設備ユニット状態管理方法を示す流れ図であ
る。
【図4】従来の半導体製造設備管理システムの配置形状
を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 ホスト 2 O/I PC 3 設備 4a 第1チャンバ 4b 第2チャンバ 4c 第3チャンバ 10 ロット 20 ユニット状態監視モジュール

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 設備から各ユニットの可動状態データを
    受信する段階と、 前記ユニットに該当する基準データを検索する段階と、 前記可動状態データと前記基準データとを比較し、前記
    可動状態データが前記基準データから逸脱したユニット
    が前記ユニットの中にあるか否かを判断する段階と、 前記可動状態データが前記基準データから逸脱したユニ
    ットが前記ユニットの中にないと、基準データを検索す
    る段階に進行し、前記可動状態データが前記基準データ
    から逸脱したユニットが前記ユニットの中にあると、当
    該ユニットの変数IDキー値を変更する段階と、 前記変数IDを所定ユニット制御メッセージに保存した
    後、前記ユニット制御メッセージを前記設備にダウンロ
    ードして前記ユニットの可動状態を変更する段階と、 を含むことを特徴とする半導体製造設備管理システムの
    設備ユニット状態管理方法。
  2. 【請求項2】 前記ユニット制御メッセージは、ストリ
    ームファンクションメッセージであることを特徴とする
    請求項1記載の半導体製造設備管理システムの設備ユニ
    ット状態管理方法。
  3. 【請求項3】 前記ユニット制御メッセージのストリー
    ムファンクション形態は、S1F12であることを特徴
    とする請求項2記載の半導体製造設備管理システムの設
    備ユニット状態管理方法。
  4. 【請求項4】 前記変数IDは、ECIDであることを
    特徴とする請求項1記載の半導体製造設備管理システム
    の設備ユニット状態管理方法。
  5. 【請求項5】 前記ユニットの可動状態を変更する段階
    後、所定のアラームメッセージを前記設備にダウンロー
    ドする段階と、 前記設備からアラームが発生したかを判断する段階と、 前記設備からアラームが発生しなかった場合は基準デー
    タを検索する段階に進行し、前記設備からアラームが発
    生した場合は所定の警告メッセージを前記設備にダウン
    ロードする段階と、 をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の半導体製
    造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法。
  6. 【請求項6】 前記アラームメッセージ及び前記警告メ
    ッセージは、ストリームファンクションメッセージであ
    ることを特徴とする請求項5記載の半導体製造設備管理
    システムの設備ユニット状態管理方法。
  7. 【請求項7】 前記アラームメッセージのストリームフ
    ァンクション形態は、S2F41であることを特徴とす
    る請求項6記載の半導体製造設備管理システムのユニッ
    ト状態管理方法。
  8. 【請求項8】 前記警告メッセージのストリームファン
    クション形態は、S10F3またはS10F5であるこ
    とを特徴とする請求項6記載の半導体製造設備管理シス
    テムの設備ユニット状態管理方法。
JP20043298A 1998-01-14 1998-07-15 半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法 Expired - Lifetime JP4564602B2 (ja)

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Cited By (1)

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