JP2000012743A - 電子回路装置及びその製造方法 - Google Patents

電子回路装置及びその製造方法

Info

Publication number
JP2000012743A
JP2000012743A JP17490498A JP17490498A JP2000012743A JP 2000012743 A JP2000012743 A JP 2000012743A JP 17490498 A JP17490498 A JP 17490498A JP 17490498 A JP17490498 A JP 17490498A JP 2000012743 A JP2000012743 A JP 2000012743A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
electronic circuit
circuit device
resin molded
sealing resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17490498A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3703969B2 (ja
Inventor
Kazuhiro Nobori
一博 登
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP17490498A priority Critical patent/JP3703969B2/ja
Publication of JP2000012743A publication Critical patent/JP2000012743A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3703969B2 publication Critical patent/JP3703969B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子回路装置において、半導体素子と配線導
体との信頼性の高い電気的接続を得、かつその電気的接
続のためのスペースを小さくする。また、封止樹脂の広
がりを規制し、確実な電磁シールド効果を得る。 【解決手段】 一面が開口した略箱型で、外部を導電部
7で覆い、複数の配線導体6を配設した樹脂成形品
(7,8)からなる外筐の略中央部に、背面に金属製の
ヒートシンク4が接着された半導体素子1を装着する。
半導体素子1はその突起電極2を配線導体6の各一端に
設けた電極部6aに接合し、配線導体6の各他端は外筐
の端部付近に導出してコネクタピンを構成する。半導体
素子1の周囲に封止樹脂5を充填し、その封止樹脂がコ
ネクタ9部へ流出するのを防止する仕切壁8aを設けて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂成形品からな
る外筐に半導体素子を内蔵した電子回路装置、特に電力
用の電子回路装置およびその製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電気製品の軽薄短小化は時代の流
れとなっており、この動向に対応して電気製品の電源回
路も小型軽量化、高放熱化、低ノイズ化等が求められて
いる。図4は、この種の電源回路等に用いられる電力用
の電子回路装置を示したもので、高放熱を確保するため
に、アルミ基板12の上に絶縁性の樹脂接着剤13によ
り接着された銅箔をエッチングして配線導体(独立した
導体ランドも含む)6を形成した、いわゆる金属基板が
使用されている。放熱を必要とする半導体素子1は、回
路形成面とは反対側の面が、配線導体6の一つに、空気
の泡のないクリーム半田14により接合され、回路形成
面の電極とアルミ基板12上の他の配線導体6との間が
アルミ線15のワイヤボンディングで接続される。そし
て、半導体素子1を外界からシールしかつアルミ線15
を機械的に保護するために、絶縁性の封止樹脂5で被覆
する。さらに、別の配線導体6上にクリーム半田14等
を用いてピン9aを有するコネクタ9や、半導体素子1
の装着部を覆うシールドケース16を接合する。このよ
うにして、放熱性と電磁シールド性を持たせたコネクタ
付き電子回路装置が構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の構成では、半導体素子1の電極数が多くな
ると、アルミ線15を引き出す配線導体6を確保するた
めのスペースが大きくなるという問題があった。
【0004】また、アルミ基板12に配線導体6を接着
する樹脂接着剤13は剛性が小さいため、半導体素子1
と配線導体6とを接続する超音波によるワイヤボンディ
ングの際、配線導体6と樹脂接着剤13との間で超音波
エネルギーが逃げてしまい、接合不良が発生し易い。
【0005】また、半導体素子1とアルミ線15を保護
するための封止樹脂5は、液体の状態で塗布するが、粘
度のばらつきにより広がる面積が異なり、他の部品を接
合する電極に被って、半田付け不良が発生するという問
題もあった。
【0006】さらに、半導体素子1はシールドケース1
6で覆われているが、コネクタ9の部分は露出されてい
るため、コネクタ部分より電磁ノイズが入り込み、半導
体素子1が誤動作するという問題もあった。
【0007】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るもので、半導体素子と配線導体との信頼性の高い電気
的接続を得るとともに、その電気的接続のためのスペー
スを小さくして小型化を図り、また、封止樹脂を適切な
範囲に塗布するとともに、確実な電磁シールド効果を得
る構造を備えた電子回路装置及びその製造方法を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の電子回路装置は、一面が開口した略箱型
で、外部が導電部で覆われ、複数の配線導体が配設され
た樹脂成形品からなる外筐と、該外筐の内部の略中央部
に位置する前記配線導体の各一端に設けられた電極部に
突起電極が接合された半導体素子と、該半導体素子の背
面に接着されたヒートシンクと、前記半導体素子の周囲
に充填された封止樹脂とからなることを特徴とするもの
である。
【0009】また、配線導体の各他端は、外筐の端部付
近に導出されて、コネクタピンを構成している。
【0010】外筐は、複数の配線導体が配設された一次
絶縁性樹脂成形部と、該一次絶縁性樹脂成形部の外側を
一体的に覆う二次導電性樹脂成形部から構成されてい
る。その外筐は、半導体素子装着部とコネクタピン導出
部とを仕切り、半導体素子の周囲に充填された封止樹脂
のコネクタピン導出部側への流出を防止する二次導電性
樹脂成形部からなる仕切壁が設けられている。
【0011】また、ヒートシンクは金属からなり、半導
体素子及び仕切壁に導電性接着剤で接合されており、半
導体素子が接着される面とは反対側の面には複数の溝が
形設されている。
【0012】さらに、本発明の電子回路装置の製造方法
は、銅板に配線パターンを形成し、所定の形状に折曲加
工する工程と、加工された配線導体を配置した一次絶縁
性樹脂成形部を形成する工程と、一次絶縁性樹脂成形部
の外側に二次導電性樹脂成形部を一体的に形成して外筐
を構成する工程と、突起電極を有する半導体素子の背面
にヒートシンクを導電性接着剤で接着する工程と、前記
外筐の半導体素子装着部に所定量の封止樹脂を注入し、
前記半導体素子をその封止樹脂中に押し込み、前記突起
電極を前記配線導体の電極部に超音波溶接する工程とか
らなることを特徴とするものである。
【0013】上記構成の電子回路装置及びその製造方法
によれば、剛性の大きい樹脂成形品からなる外筐に確実
に固定された配線導体に、突起電極を有する半導体素子
をフェースダウン方式で超音波溶接により接合するの
で、超音波エネルギーを効率よく吸収して、確実な接合
が達成されるとともに、電極接合に要するスペースが小
さくて済む。また、外筐の外部が導電部で覆われ、かつ
半導体素子の背面には金属からなるヒートシンクが接着
されて外筐の開口部の大部分を覆っているので確実な電
磁シールド効果を得ることができる。さらに、半導体素
子の装着部の周囲には仕切壁が設けられているので、半
導体素子の周囲に充填される封止樹脂はコネクタピン側
へ流出することはない。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0015】図1は、本発明の一実施の形態における電
子回路装置の構成を示したもので、1は半導体素子、2
は半導体素子1の電極パッド部に設けた突起電極(バン
プ)、3は導電性接着剤、4はアルミニウムからなるヒ
ートシンクで、半導体素子1と導電性接着剤3により接
着され、その反対側の面には複数の溝4aが形設されて
いる。5は半導体素子1の周囲に充填された封止樹脂で
ある。
【0016】6は配線導体であり、絶縁性樹脂成形部7
に配設されている。8は絶縁性樹脂成形部7の外側に一
体的に形成された導電性樹脂成形部である。絶縁性樹脂
成形部7及び導電性樹脂成形部8は、一面が開口した略
箱型の外筐を構成している。外筐の内部の中央部に配線
導体6の各一端部を位置させ、半導体素子1の突起電極
2を接合する電極部6aを形成している。配線導体6の
各他端部は、外筐の端部付近に導出し、コネクタピン6
bを形成している。半導体素子装着部とコネクタピン導
出部との間には、導電性樹脂成形部からなる仕切壁8a
を設けており、これにより半導体素子1の周囲に充填す
る封止樹脂5がコネクタピン6b側へ流出するのを防止
するようにしている。なお、仕切壁8aとヒートシンク
4との間は導電性接着剤3でつながれており、電気的に
導通している。
【0017】次に、本実施の形態における電子回路装置
の製造方法を、図2を参照して説明する。まず工程(1)
として、銅板あるいは銅箔をエッチングまたはプレス加
工して配線導体6の回路パターンを形成する。工程(2)
では、回路パターンが形成された配線導体6を所定の形
状に折曲加工する。なお、10は配線導体6がばらばら
に分解しないように互いにつないでおくつなぎ部で、後
で切断する。
【0018】工程(3)では、折曲加工された配線導体6
を一次成形金型を用いて絶縁性樹脂で成形し、絶縁性樹
脂成形部7を形成する。ここで、各配線導体6は絶縁性
樹脂成形部7により固着されたので、工程(4)として、
つなぎ部10を切断する。さらに、工程(5)として、絶
縁性樹脂成形部7の外部を一体的に覆って電磁シールド
を形成するとともにコネクタ9部を形成するために、二
次成形金型を用いて導電性樹脂による導電性樹脂成形部
8を形成する。この導電性樹脂成形部8は配線導体6と
は接触しない。次いで、工程(6)では、半導体素子1の
装着部に液状の封止樹脂5を所定量注入する。
【0019】一方、工程(7)として、実装する半導体素
子1を用意し、工程(8)で、半導体素子1の電極パッド
部に突起電極(バンプ)2を形成する。さらに、工程
(9)として、半導体素子1の回路形成面とは反対側の面
(背面という)にアルミニウム製のヒートシンク4を導
電性接着剤3で接着する。接着する際は、接着剤中の気
泡が問題となるため、減圧雰囲気中で脱泡し、接着及び
硬化を実施する。
【0020】次に、工程(10)として、工程(6)で外筐に
注入した封止樹脂5の中に、ヒートシンク4の部分を超
音波ヘッドが吸着した半導体素子1を位置合わせして押
し込み、超音波を印加しながら突起電極2と配線導体6
の電極部6aとを圧接する。このとき、液状の封止樹脂
5は押し込まれた半導体素子1により排除され、突起電
極2と配線導体6間の樹脂も排除されて、金属間結合が
実現する。封止樹脂5は加熱硬化される。最後に、ヒー
トシンク4と仕切壁8aとの間の導通を確保するため導
電性接着剤3が塗布、硬化され、図1に示す電子回路装
置が完成する。
【0021】先にも説明したように、半導体素子1の突
起電極2と配線導体6との接合には超音波溶接が適用さ
れる。したがって、配線導体6が剛性の大きい支持体に
しっかり固定されていなければならない。特に、超音波
の印加によって突起電極2が微細振動をするが、それに
つれて同一方向に配線導体6が振動しては超音波エネル
ギーの損失が生ずることになる。
【0022】樹脂成形品に組み込まれた配線導体6は、
機械的に堅固に固着されてはいるが、さらに、図3に示
したように、超音波の印加方向11に対して直角方向
に、配線導体6に凸部12や凹部13、曲げ部14等を
形成しておくことにより、配線導体6は絶縁性樹脂成形
部7に、より堅固に固着されることになる。
【0023】また、超音波ヘッドが吸着するヒートシン
ク4に形成した、放熱面積を広くするための複数の溝4
aも、超音波の印加方向11に対して直角方向に形成す
ることにより、ヘッドとの滑りをなくし、接合部に対し
て超音波エネルギーを効率よく伝達することができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
剛性の大きい樹脂成形品からなる外筐に確実に固定され
た配線導体に、突起電極を有する半導体素子をフェース
ダウン方式で超音波溶接により接合するので、超音波エ
ネルギーを効率よく伝達して確実な接合を達成すること
ができ、しかも、電極接合に要するスペースが小さくて
済むので、小型化を図ることができる。また、外筐の外
部が導電部で覆われ、かつ半導体素子の背面には金属か
らなるヒートシンクが接着されて外筐の開口部の大部分
を覆っているので確実な電磁シールド効果を得ることが
できる。さらに、半導体素子の装着部の周囲には仕切壁
が設けられているので、半導体素子の周囲に充填される
封止樹脂はコネクタピン側へ流出することはないなど、
種々の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における電子回路装置の
断面図及び平面図
【図2】本発明の一実施の形態における電子回路装置の
製造方法を示す工程断面図
【図3】本発明の樹脂成形品に組み込まれて堅固に固着
される配線導体の形状例を示す図
【図4】従来の電子回路装置の断面図
【符号の説明】
1 半導体素子 2 突起電極 3 導電性接着剤 4 ヒートシンク 5 封止樹脂 6 配線導体 6a 電極部 6b コネクタピン 7 絶縁性樹脂成形部 8 導電性樹脂成形部 8a 仕切壁 9 コネクタ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一面が開口した略箱型で、外部が導電部
    で覆われ、複数の配線導体が配設された樹脂成形品から
    なる外筐と、該外筐の内部の略中央部に位置する前記配
    線導体の各一端に設けられた電極部に突起電極が接合さ
    れた半導体素子と、該半導体素子の背面に接着されたヒ
    ートシンクと、前記半導体素子の周囲に充填された封止
    樹脂とからなることを特徴とする電子回路装置。
  2. 【請求項2】 配線導体の各他端は、外筐の端部付近に
    導出され、コネクタピンを構成していることを特徴とす
    る請求項1記載の電子回路装置。
  3. 【請求項3】 外筐は、複数の配線導体が配設された一
    次絶縁性樹脂成形部と、該一次絶縁性樹脂成形部の外側
    を一体的に覆う二次導電性樹脂成形部とからなることを
    特徴とする請求項1記載の電子回路装置。
  4. 【請求項4】 外筐は、半導体素子装着部とコネクタピ
    ン導出部とを仕切り半導体素子の周囲に充填された封止
    樹脂のコネクタピン導出部側への流出を防止する二次導
    電性樹脂成形部からなる仕切壁が設けられていることを
    特徴とする請求項2または請求項3記載の電子回路装
    置。
  5. 【請求項5】 ヒートシンクは金属からなり、半導体素
    子及び仕切壁に導電性接着剤で接合されていることを特
    徴とする請求項4記載の電子回路装置。
  6. 【請求項6】 ヒートシンクは、半導体素子が接着され
    る面とは反対側の面に複数の溝が形設されていることを
    特徴とする請求項1または請求項5記載の電子回路装
    置。
  7. 【請求項7】 銅板に配線パターンを形成し、所定の形
    状に折曲加工する工程と、加工された配線導体を配置し
    た一次絶縁性樹脂成形部を形成する工程と、一次絶縁性
    樹脂成形部の外側に二次導電性樹脂成形部を一体的に形
    成して外筐を構成する工程と、突起電極を有する半導体
    素子の背面にヒートシンクを導電性接着剤で接着する工
    程と、前記外筐の半導体素子装着部に所定量の封止樹脂
    を注入し、前記半導体素子をその封止樹脂中に押し込
    み、前記突起電極を前記配線導体の電極部に超音波溶接
    する工程とからなることを特徴とする電子回路装置の製
    造方法。
JP17490498A 1998-06-22 1998-06-22 電子回路装置及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3703969B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17490498A JP3703969B2 (ja) 1998-06-22 1998-06-22 電子回路装置及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17490498A JP3703969B2 (ja) 1998-06-22 1998-06-22 電子回路装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000012743A true JP2000012743A (ja) 2000-01-14
JP3703969B2 JP3703969B2 (ja) 2005-10-05

Family

ID=15986741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17490498A Expired - Fee Related JP3703969B2 (ja) 1998-06-22 1998-06-22 電子回路装置及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3703969B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001317482A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Sanso Electric Co Ltd ダイレクトドライブのシールレスポンプ
JP2002158316A (ja) * 2000-11-16 2002-05-31 Towa Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2007258430A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2010182958A (ja) * 2009-02-06 2010-08-19 Seiko Instruments Inc 半導体装置および半導体装置の製造方法
KR20170004572A (ko) * 2015-07-03 2017-01-11 삼성전기주식회사 전력 모듈 및 그 제조 방법

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001317482A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Sanso Electric Co Ltd ダイレクトドライブのシールレスポンプ
JP2002158316A (ja) * 2000-11-16 2002-05-31 Towa Corp 半導体装置及びその製造方法
JP4630449B2 (ja) * 2000-11-16 2011-02-09 Towa株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP2007258430A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2010182958A (ja) * 2009-02-06 2010-08-19 Seiko Instruments Inc 半導体装置および半導体装置の製造方法
KR20170004572A (ko) * 2015-07-03 2017-01-11 삼성전기주식회사 전력 모듈 및 그 제조 방법
KR102248521B1 (ko) * 2015-07-03 2021-05-06 삼성전기주식회사 전력 모듈 및 그 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP3703969B2 (ja) 2005-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4479121B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US5686758A (en) Semiconductor device having integral structure of case and external connection terminals
JPS6333320B2 (ja)
JP4075204B2 (ja) 積層型半導体装置
JP4967701B2 (ja) 電力半導体装置
JPH10294418A (ja) 半導体装置
JP2002135080A (ja) 弾性表面波装置及びその製造方法
JPH06177295A (ja) 混成集積回路装置
JPH03108744A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3703969B2 (ja) 電子回路装置及びその製造方法
CN106952882B (zh) 半导体装置及半导体装置的制造方法
JPH04171994A (ja) 駆動部品
JPH10242385A (ja) 電力用混合集積回路装置
KR20050065328A (ko) 혼성 집적 회로 장치 및 그 제조 방법
JP2000244077A (ja) 樹脂成形基板と電子部品組み込み樹脂成形基板
JPH0685126A (ja) 半導体装置
JPH09246433A (ja) モジュールの放熱構造
JPH06334070A (ja) 混成集積回路装置
WO2021079851A1 (ja) 回路モジュールおよびその製造方法
JP2001230370A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2569371B2 (ja) 半導体装置
JPH10189792A (ja) 半導体パッケージ
JPH1197584A (ja) 半導体装置
JP2504262Y2 (ja) 半導体モジュ―ル
JP2002026540A (ja) 電子部品の製造方法及びその製造方法により作られる電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Effective date: 20040206

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20040217

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040409

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Effective date: 20050719

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050721

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100729

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110729

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110729

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130729

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees