JP2000005893A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JP2000005893A
JP2000005893A JP10179868A JP17986898A JP2000005893A JP 2000005893 A JP2000005893 A JP 2000005893A JP 10179868 A JP10179868 A JP 10179868A JP 17986898 A JP17986898 A JP 17986898A JP 2000005893 A JP2000005893 A JP 2000005893A
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optical path
optical system
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excimer laser
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JP10179868A
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Takashi Akaha
崇 赤羽
Shinji Takahashi
慎治 高橋
Takashi Ishide
孝 石出
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数種の加工光学系による複数種の加工を1
台のレーザ加工装置で容易に行うことできて、コスト低
減や省スペース化や加工作業の効率向上を図ることがで
きるエキシマレーザ加工装置等のレーザ加工装置を提供
する。 【解決手段】 エキシマレーザ発振器1からワーク15
までの光路17の途中にマスク投影光学系6を設け、エ
キシマレーザ発振器1から発振されたエキシマレーザ光
16を、光路17によりマスク投影光学系6を介してワ
ーク15へと導いて照射することにより、ワーク15の
加工を行うエキシマレーザ加工装置において、光路17
の途中で且つマスク投影光学系6の手前に投入可能に光
路切換用ミラー20を設けると共に、この光路切換用ミ
ラー20からワーク15までの光路18の途中に投入可
能に線状ビーム光学系10を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ加工装置に関
し、特に、エキシマレーザ加工装置によって複数種の加
工を行う場合に適用して有用なものである。
【0002】
【従来の技術】エキシマレーザは、400nm以下の紫
外領域の波長で発振する効率の高いレーザであり、例え
ば希ガスハライド系のエキシマレーザであるXeFレー
ザでは351nm、KrFレーザでは248nm、Ar
Fレーザでは193nmの発振波長が得られる。従っ
て、このエキシマレーザをワークの加工に適用した場合
には、発振パルス幅が短くて1パルス当たりのエネルギ
ーが高いことによるアブレーション(蒸発除去)などに
よって微小域の微細加工を行うことができる等の特徴を
有する。
【0003】エキシマレーザ加工装置は、このような発
振波長が紫外領域で高効率・高出力のエキシマレーザ発
振器を加工のエネルギ源として、樹脂、ポリマー、ガラ
ス、セラミックス、金属等のワークを高精度に微細加工
するためのレーザ加工装置である。
【0004】具体的には、エキシマレーザ加工装置は、
エキシマレーザ発振器の他、加工ステージを備えたXY
テーブルや、エキシマレーザ発振器から加工ステージ上
のワークまでの光路の途中に設けた加工光学系や、コン
トローラ等を有しており、前記エキシマレーザ発振器か
ら発振されたエキシマレーザ光を、前記光路により前記
加工光学系を介して前記ワークへと導いて照射すると共
に、前記コントローラにより、前記XYテーブルの位置
制御や速度制御、前記エキシマレーザ発振器の周波数制
御やパルス制御といった制御を数値制御にて行うように
なっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のエキシマレーザ加工装置では、1つの加工光学系し
か設けていなかった。例えば従来のエキシマレーザ加工
装置にはマスク投影光学系しか設けておらず、このマス
ク投影光学系によってエキシマレーザ光をワークに縮小
投影するだけであった。
【0006】このため、マスク投影以外の加工も行う際
には、その加工に必要な他の種類の加工光学系が設けら
れているエキシマレーザ加工装置をもう1台準備する
か、或いは、マスク投影光学系を取り外して、他の種類
の加工光学系と交換するしかなかった。
【0007】このため、前者の場合には、予め2台のエ
キシマレーザ加工装置を準備しておかなければならず、
コストがかかると共に2台分の設置スペースを確保しな
ければならない。また、後者の場合には、段取り換え作
業(加工光学系の交換作業)を要し、この段取り換え作
業に時間がかかって加工作業の効率が悪い。
【0008】従って本発明は上記従来技術に鑑み、複数
種の加工光学系による複数種の加工を1台のレーザ加工
装置で容易に行うことができて、コスト低減、省スペー
ス化及び加工作業の効率向上を図ることができるエキシ
マレーザ加工装置等のレーザ加工装置を提供することを
課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明のレーザ加工装置は、レーザ発振器からワークまでの
光路の途中に加工光学系を設け、前記レーザ発振器から
発振されたレーザ光を、前記光路により前記加工光学系
を介して前記ワークへと導いて照射することにより、前
記ワークの加工を行うレーザ加工装置において、前記光
路の途中で且つ前記加工光学系の手前に投入可能に光路
切換用ミラーを設けると共に、この光路切換用ミラーか
ら前記ワークまでの他の光路の途中に投入可能に他の種
類の加工光学系を設けたことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。
【0011】図1は本発明の実施の形態に係るエキシマ
レーザ加工装置のシステム構成図、図2は前記エキシマ
レーザ加工装置に設けたマスク投影光学系のマスクの正
面図、図3は前記エキシマレーザ加工装置に設けた線状
ビーム光学系の構成図、図4は前記線状ビーム光学系で
形成される線状ビームの説明図である。
【0012】<構成>図1に示すように、本実施の形態
に係るエキシマレーザ加工装置は、エキシマレーザ発振
器1、ミラー3,4,5,8と光路切換用ミラー20と
からなる光路17,18、2種類の加工光学系であるマ
スク投影光学系6と線状ビーム光学系10、結像レンズ
9、加工ステージ11を備えたXYテーブル12、加工
装置コントローラ13、レーザ発振器コントローラ14
及び加工光学系駆動装置21を備えている。
【0013】光路17を構成するミラー3,4,5,8
はエキシマレーザ発振器1から発振されたエキシマレー
ザ光16を、加工ステージ11上に載置された樹脂、ポ
リマー、セラミックス、金属等のワーク15へと導くよ
うに適宜配設されている。また、この光路17の途中の
ミラー5とミラー8との間には、マスク投影光学系6が
配設されており、ミラー8とワーク15との間には、結
像レンズ9が配設されている。
【0014】マスク投影光学系6はマスク7を有し、こ
のマスク7を介してエキシマレーザ光16をワーク15
にマスク投影するものである。マスク7には図2に示す
ように所定の大きさに形成された矩形状のスリット7a
が設けられている。なお、スリット(マスクパターン)
の形状は矩形状に限らず、例えばアルファベット等の文
字や数字等の場合もある。従って、エキシマレーザ光1
6はマスク7を通過することによりスリット7aの形状
に応じた所定の大きさの断面形状となり、更に、結像レ
ンズ9で縮小されてワーク15に縮小投影(マスク投
影)される。
【0015】そして、図1に示すように、光路切換用ミ
ラー20は、光路17の途中で且つマスク投影光学系6
の手前(エキシマレーザ発振器1とミラー3との間)に
投入可能に設けられている。即ち、光路切換用ミラー2
0は、図中左右方向(矢印A方向)に移動可能に設けら
れており、モータ等を備えてなる加工光学系駆動装置2
1に駆動されて右方向に移動したときには光路17の途
中に投入され(図中に一点鎖線で示す状態)、左方向に
移動したときには光路17から外れるようになっている
(図中に実線で示す状態)。
【0016】光路切換用ミラー20が光路17の途中に
投入されたときには、この光路切換用ミラー20によっ
て、エキシマレーザ光16の光路が、光路17から、マ
スク投影光学系6をバイパスする光路18(光路切換用
ミラー20からワーク15までの光路)へと切り換えら
れる。
【0017】また、線状ビーム光学系10は、光路切換
用ミラー20からワーク15までの光路18の途中に投
入可能に設けられている。即ち、線状ビーム光学系10
は、図中左右方向(矢印B方向)に移動可能に設けられ
ており、加工光学系駆動装置21に駆動されて右方向に
移動したときには光路18の途中に投入され(図中に一
点鎖線で示す状態)、左方向に移動したときには光路1
8から外れるようになっている(図中に実線で示す状
態)。
【0018】更に、結像レンズ9も図中左右方向(矢印
C方向)に移動可能に設けられており、加工光学系駆動
装置21に駆動されて左方向に移動したときには光路1
7の途中に投入され(図中に実線で示す状態)、右方向
に移動したときには光路18から外れるようになってい
る(図中に一点鎖線で示す状態)。
【0019】なお、光路18の後半部は光路17の光軸
と一致している。即ち、線状ビーム光学系10を光路1
8の途中に投入したときには、線状ビーム光学系10の
ミラー33(詳細後述)からワーク15までの区間の光
軸が、光路17の光軸と一致するようになっている。ま
た、勿論、マスク投影光学系6の基準位置からワーク1
5の加工面までの距離及び光路18の途中に投入された
ときの線状ビーム光学系10の基準位置からワーク15
の加工面までの距離は、それぞれ、ワーク15の加工面
にマスク投影し又は線状ビームを照射するのに適した距
離となるように調節されている。
【0020】加工装置コントローラ13では、数値制御
にてXYテーブル12の位置制御及び速度制御を行う。
更に、加工装置コントローラ13では、加工光学系駆動
装置21を制御することによってマスク投影光学系6と
線状ビーム光学系10との切り換え制御を行う。また、
レーザ発振器コントローラ14では、数値制御にてエキ
シマレーザ発振器1の周波数制御及びパルス制御を行
う。
【0021】ここで、線状ビーム光学系10の構成を図
3及び図4に基づいて説明する。
【0022】図3に示すように、線状ビーム光学系10
は複数枚のレンズを組み合わせた可動レンズ部31と、
他の複数枚のレンズを組み合わせた固定レンズ部32
と、可動レンズ部31と固定レンズ部32との間に介設
されたミラー33とを有するL字状の光学系であり、エ
キシマレーザ光16を、図中の左端に示すような矩形断
面形状のビームから図中の右下に示すような長さLの線
状ビームに変換する。そして、この線状ビームの長さL
は、可動レンズ部31のシリンドリカルレンズ34を図
中左右方向に移動させてシリンドリカルレンズ34,3
5間の距離D2 を変えることにより、任意に変えること
ができる。
【0023】即ち、図4に示すように、レンズ距離D2
を長くするにしたがって、a,b,c,d,eのように
線状ビームの長さLが長くなる(線状ビームの幅は一
定)。なお、a,b,c,d,eにおいて上下方向は線
状ビームの単位面積当たりのパワーを表しており、線状
ビームの長さLが短いほど単位面積当たりのパワーは大
きい。
【0024】<作用・効果>上記構成のエキシマレーザ
加工装置では、次のようにしてワーク15の加工を行
う。
【0025】即ち、マスク投影光学系6を用いる場合に
は、光路切換用ミラー20、線状ビーム光学系10及び
結像レンズ9を図1中に実線で示す状態のままにして、
エキシマレーザ発振器1から発振されたエキシマレーザ
光16を、光路17によりマスク投影光学系6を介して
ワーク15へと導いて照射(マスク投影)する。
【0026】そして、線状ビーム光学系10を用いる場
合には、加工装置コントローラ13からの制御信号に基
づいて加工光学系駆動装置21が作動することにより、
光路切換用ミラー20が光路17の途中に投入され、線
状ビーム光学系10が光路18の途中に投入され、且
つ、結像レンズ9が光路17(即ち光路18)から外さ
れる。その後、エキシマレーザ発振器1からエキシマレ
ーザ光16が発振され、このエキシマレーザ光16を、
光路18により光路切換用ミラー20から線状ビーム光
学系10を介してワーク15へと導くことにより、ワー
ク15へ線状ビームを照射する。かくして、ワーク15
に対し、例えば加工幅が数10μmで加工深さがその1
0倍以上という高アスペクト比の極細スリット加工を施
すことができる。
【0027】また、再びマスク投影光学系6を用いる場
合には、加工装置コントローラ13からの制御信号に基
づいて加工光学系駆動装置21が作動することにより、
光路切換用ミラー20が光路17から外され、線状ビー
ム光学系10が光路18から外され、且つ、結像レンズ
9が光路17に投入されて、前述と同様に、エキシマレ
ーザ光16がマスク投影光学系6を介してワーク15に
マスク投影される。
【0028】以上のように、本実施の形態に係るエキシ
マレーザ加工装置によれば、特に段取り換え作業(加工
光学系の交換作業)を要することなく、1台のエキシマ
レーザ加工装置に設けたマスク投影光学系6と線状ビー
ム光学系10との切り換えを短時間で行って2種類の加
工を短時間に行うことができる。このため加工作業の効
率向上を図ることができる。また、マスク投影光学系用
と線状ビーム光学系用の2台のエキシマレーザ加工装置
を準備する必要がないため、コスト低減や省スペース化
を図ることができる。
【0029】なお、上記ではマスク投影光学系6と線状
ビーム光学系10の2種類の加工光学系を1台のエキシ
マレーザ加工装置に設ける場合について説明したが、こ
れに限定するものではなく、本発明は3種類以上の加工
光学系を用いて3種類以上の加工を行う場合にも適用す
ることができる。
【0030】
【発明の効果】以上、発明の実施の形態と共に具体的に
説明したように、本発明のレーザ加工装置は、レーザ発
振器からワークまでの光路の途中に加工光学系を設け、
前記レーザ発振器から発振されたレーザ光を、前記光路
により前記加工光学系を介して前記ワークへと導いて照
射することにより、前記ワークの加工を行うレーザ加工
装置において、前記光路の途中で且つ前記加工光学系の
手前に投入可能に光路切換用ミラーを設けると共に、こ
の光路切換用ミラーから前記ワークまでの他の光路の途
中に投入可能に他の種類の加工光学系を設けたことを特
徴とする。
【0031】従って、このレーザ加工装置によれば、他
の種類の加工光学系を用いる場合には、光路切換用ミラ
ーを光路の途中に投入し、且つ、他の種類の加工光学系
を他の光路の途中に投入して、レーザ発振器から発振さ
れたレーザ光を、他の光路により光路切換用ミラーから
他の種類の加工光学系を介してワークへと導いて照射す
ることにより、ワークに対して他の種類の加工を行うこ
とができる。
【0032】このため、特に段取り換え作業(加工光学
系の交換作業)を要することなく、1台のレーザ加工装
置に設けた複数種の加工光学系の切り換えを短時間で行
って複数種の加工を短時間に行うことができる。このた
め加工作業の効率向上を図ることができる。また、複数
台のエキシマレーザ加工装置を準備する必要がないた
め、コスト低減や省スペース化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るエキシマレーザ加工
装置のシステム構成図である。
【図2】前記エキシマレーザ加工装置に設けたマスク投
影光学系のマスクの正面図である。
【図3】前記エキシマレーザ加工装置に設けた線状ビー
ム光学系の構成図である。
【図4】前記線状ビーム光学系で形成される線状ビーム
の説明図である。
【符号の説明】
1 エキシマレーザ発振器 3,4,5,8 ミラー 6 マスク投影光学系 7 マスク 9 結像レンズ 10 線状ビーム光学系 11 加工ステージ 12 XYテーブル 13 加工装置コントローラ 14 レーザ発振器コントローラ 15 ワーク 16 エキシマレーザ光 17,18 光路 20 光路切換用ミラー 21 加工光学系駆動装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 3/00 G02B 7/18 B (72)発明者 石出 孝 兵庫県高砂市荒井町新浜2丁目1番1号 三菱重工業株式会社高砂研究所内 Fターム(参考) 2H043 BB05 BB07 4E068 CA06 CB05 CB08 CD04 CD05 CD12 5F072 AA06 KK05 KK15 MM09 YY06

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ発振器からワークまでの光路の途
    中に加工光学系を設け、前記レーザ発振器から発振され
    たレーザ光を、前記光路により前記加工光学系を介して
    前記ワークへと導いて照射することにより、前記ワーク
    の加工を行うレーザ加工装置において、 前記光路の途中で且つ前記加工光学系の手前に投入可能
    に光路切換用ミラーを設けると共に、この光路切換用ミ
    ラーから前記ワークまでの他の光路の途中に投入可能に
    他の種類の加工光学系を設けることを特徴とするレーザ
    加工装置。
JP10179868A 1998-06-26 1998-06-26 レーザ加工装置 Withdrawn JP2000005893A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130061061A (ko) * 2011-11-30 2013-06-10 가부시기가이샤 디스코 레이저 가공 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130061061A (ko) * 2011-11-30 2013-06-10 가부시기가이샤 디스코 레이저 가공 장치
KR101957522B1 (ko) * 2011-11-30 2019-03-12 가부시기가이샤 디스코 레이저 가공 장치

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