KR100498582B1 - 스캐닝방식을 이용한 레이저 클리닝 장치 - Google Patents
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- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/81909—Post-treatment of the bump connector or bonding area
- H01L2224/8191—Cleaning, e.g. oxide removal step, desmearing
- H01L2224/81914—Thermal cleaning, e.g. using laser ablation or by electrostatic corona discharge
Abstract
Description
Claims (7)
- 레이저빔 발진기로부터 유도된 원형 레이저빔을 작업 대상물에 조사하도록 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치에 있어서,상기 레이저빔 발진기로부터 발진된 원형 레이저빔을 일축방향으로 확대하는 원통형 오목렌즈와 이로부터 확대된 레이저빔의 길이를 일정하게 유지시켜주기 위한 원통형 볼록렌즈를 포함하는 일축방향 확대부와;상기 일축방향 확대부로부터 확대되어 유도된 레이저빔을 반사미러에 의하여 작업 대상물 방향으로 전환시키고, 방향 전환된 레이저빔을 원통형 볼록렌즈를 이용하여 폭방향으로 축소시키는 레이저빔 조사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치.
- 레이저빔 발진기로부터 유도된 원형 레이저빔을 작업 대상물에 조사하도록 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치에 있어서,상기 레이저빔 발진기로부터 발진된 원형 레이저빔을 일축방향으로 확대하는 원통형 볼록렌즈를 포함하는 일축방향 확대부와;상기 일축방향 확대부로부터 확대되어 유도된 레이저빔의 이동거리를 조절하여 레이저빔의 크기를 조절하는 레이저빔 크기 조절부와;상기 레이저빔 크기 조절부로부터 크기 조절되어 유도된 레이저빔을 반사미러에 의하여 작업 대상물로 방향으로 전환시키고, 방향 전환된 레이저빔을 원통형 볼록렌즈를 이용하여 폭방향으로 축소시키는 레이저빔 조사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치.
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- 청구항 2에 있어서, 상기 레이저빔 크기조절부는 상기 일축방향 확대부로부터 확대되어 유도된 레이저빔을 반사시키는 고정형 반사미러부와, 이로부터 반사된 레이저빔을 다시 반사시켜 상기 고정형 반사미러부로 유도시키면서 거리조절용 선형가이드 및 거리조절용 구동모터에 의하여 좌우 이동가능하도록 설치되는 이동형 반사미러부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 레이저빔 조사부는 원통형 볼록렌즈의 구경수를 조절하여 작업 대상물 표면에 조사되는 레이저빔의 에너지 밀도를 조절하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 레이저빔 조사부는 작업 대상물 표면에 조사되는 레이저빔의 에너지 밀도를 조절하기 위해 작업 대상물 표면과 원통형 볼록렌즈간의 조사거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 방식을 이용한 레이저 클리닝 장치.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101341001B1 (ko) * | 2011-11-17 | 2013-12-13 | 주식회사 아이엠티 | 레이저를 이용한 대면적 마스크 세정 장치 및 이를 포함하는 대면적 마스크 세정 시스템 |
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CN114378051A (zh) * | 2020-10-21 | 2022-04-22 | 财团法人工业技术研究院 | 激光清洁装置及方法 |
WO2022088245A1 (zh) * | 2020-10-30 | 2022-05-05 | 厦门理工学院 | 一种多方位激光清洗机 |
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2004
- 2004-07-29 KR KR1020040059617A patent/KR100498582B1/ko active IP Right Grant
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101341001B1 (ko) * | 2011-11-17 | 2013-12-13 | 주식회사 아이엠티 | 레이저를 이용한 대면적 마스크 세정 장치 및 이를 포함하는 대면적 마스크 세정 시스템 |
CN110497077A (zh) * | 2019-09-18 | 2019-11-26 | 宁德聚能动力电源系统技术有限公司 | 一种激光清洗机 |
KR102249069B1 (ko) | 2020-01-14 | 2021-05-07 | 주식회사 아이엠티 | 반도체 금형 레이저 세정 장치 |
KR20210109165A (ko) | 2020-02-27 | 2021-09-06 | 주식회사 아이엠티 | 수작업 레이저 세정 장치 |
CN114378051A (zh) * | 2020-10-21 | 2022-04-22 | 财团法人工业技术研究院 | 激光清洁装置及方法 |
CN114378051B (zh) * | 2020-10-21 | 2023-08-25 | 财团法人工业技术研究院 | 激光清洁装置及方法 |
WO2022088245A1 (zh) * | 2020-10-30 | 2022-05-05 | 厦门理工学院 | 一种多方位激光清洗机 |
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