FI78990C

FI78990C - Foerfarande foer maetning och reglering av den elektrokemiska potentialen och/eller komponenthalten i en behandlingsprocess av vaerdematerial.

Info

Publication number: FI78990C
Application number: FI844246A
Authority: FI
Inventors: Seppo Vilho Rantapuska; Seppo Olavi Heimala
Original assignee: Outokumpu Oy
Priority date: 1984-10-30
Filing date: 1984-10-30
Publication date: 1989-10-10
Also published as: US4917775A; ZA857934B; NO171753B; JPS61118160A; FR2572532B1; AU4844385A; FI844246A0; FR2572532A1; SE8504943D0; FI844246L; FI78990B; SE465233B; SE8504943L; CA1243349A; JPH0762664B2; NO854217L; DE3538443A1; NO171753C; AU582587B2

Description

1 78990

MENETELMÄ SÄHKÖKEMIALLISEN POTENTIAALIN JA/TAI KOMPONENTTI PITOISUUDEN MITTAAMISEKSI JA SÄÄTÄMISEKSI ARVOMATERIAALIEN KÄSITTELYPROSESSISSA

Tämä keksintö kohdistuu menetelmään sähkökemiallisen potentiaalin ja/tai komponenttipitoisuuden mittaamiseksi ja säätämiseksi arvomate-riaalien käsittelyprosessissa, kun halutaan toimia sellaisissa proses-siolosuhteissa, että arvomineraalit on edullisesti saatavissa talteen 5 yhdessä tai erikseen käsiteltävästä materiaalista riippuen.

Arvomineraalien käsittelyprosessien säätö suoritetaan tavallisesti kokemusperäisillä parametreillä. Tällainen säätötapa on suotuisa rikkaille, hyville materiaaleille, joiden rakenne on suhteellisen homogeenista, mutta kokemusperäisten parametrien käyttö esimerkiksi kompleksisille mineraaliyhdisteille ei anna useastikaan saannin kannalta taloudellisesti parasta tulosta. Näiden haittojen poistamiseksi erilaisia sähkökemiallisia, termodynaamisia ja fysikaalisia menetelmiä on kokeiltu. Käytetyt menetelmät vaativat kuitenkin tarkkaa tietoa komponenttien käyttäytymisestä ja kemiallisesta luonteesta käsittelyprosessin eri vaiheissa.

15 Tarkastellaan seuraavassa erästä tärkeää arvomineraalien käsittelyprosessia, vaahdotusta, kun säätö tapahtuu sähkökemiallisen potentiaalin avulla. Erilaisten mineraalien vaahdotuksessa kokoojareagenssien avulla vaihtelee vaahdotuksen kemiallinen luonne malmista riippuen. Sulfidi-malmien vaahdotuksessa sähkökemiallisen potentiaalin lisäksi tärkeitä 20 tekijöitä ovat mm. vaahdotuksen pH sekä kokoojan pitoisuus. Jotta arvomineraalit saataisiin parhaalla mahdollisella tavalla vaahdotetuksi, täytyy tuntea edullisesti esimerkiksi näiden aikaansaama sähkökemiallisen potentiaalin ja pH:n muodostama E^ - pH -systeemi, josta on esitetty kaaviomainen esimerkki kuviossa 1. Kuviossa 1 on esitetty 25 vaahdottumisalue Me-S-KEX-^O-systeemille, kun sulfaatin muodostus laajasti on kineettisesti estetty. Vaikka mahdollisia systeemeitä on lukumääräisesti hyvin paljon, ovat käsittelyperiaatteet kaikilla samantapaisia. Jauhatuksessa työskentelypisteet ovat lähellä Me°/Me S.

xi -y rajaa, kun metallisia tankoja ja kuulia on käytetty. Tällöin kokooja-30 reagenssi EX ei kiinnity metallisulfidin, MeS, pintaan. Ilmalla ilmastettaessa lietteessä sähkökemiallinen potentiaali muuttuu anodiseen 2 78990 suuntaan ja menee alueelle, jossa MeS muodostaa kemiallisen yhdisteen,

MeEX, kokoojan kanssa. Näin voidaan määrittää vaahdottumisalueet erilaisille mineraaleille, kun käytetään määrättyä kokoojaa ennalta annetulla kokoojapitoisuudella. Edelleen jotta aikaansaataisiin haluttu 5 selektiivisyys menetelmälle, toivotun vaahdottumisalueen saavuttaminen on suoritettava helposti ja yksinkertaisesti. Vastaavasti haluttaessa vaahdottaa useita eri mineraaleja samanaikaisesti yhteisrikasteeseen voidaan näille mineraaleille määrittää oma edullinen vaahdottumisalue E.

h - pH -systeemissä ja suorittaa mineraalien vaahdotus näille vaahdottu-10 misalueille yhteisellä E^ - pH -alueella.

Vaahdotusprosesseissa, kuten myös saostus- ja liuotusprosesseissa sekä ns. bakteeriliuotuksessa, joissa sähkökemiallinen potentiaali on mitattava parametri, suoritetaan mittaukset tunnetun tekniikan mukaisesti tavallisesti liukenemattomalla platinaelektrodilla. Myös erilaisista 15 mineraalikokoomuksista valmistettuja elektrodeja on eräissä tutkimuk sissa käytetty. Kuitenkin prosessista riippuen varsinkin orgaanisilla lisäaineilla, emäksisillä suoloilla, rikillä, erilaisilla arseeniyhdisteillä ja esimerkiksi silikageelilla on taipumus muodostaa elektrodin pinnalle peitekerros, joka olennaisesti vaikeuttaa todellisen potentiaali- tai 20 pitoisuusarvon mittausta sekä mittauksen perusteella tapahtuvaa proses-sisäätöä. Lisäksi on huomioitava, että samastakin materiaalista valmistetuilla elektrodeilla on mahdollista olla erilaisia potentiaaleja esimerkiksi valmistuksesta ja siten myös niiden reaktiokäyttäytymisestä riippuen. Potentiaalierot ovat yleensä ennalta arvaamattomasti muuttuvia. 25 Halutun E^ - pH -alueen paikaksi voi näin muodostua täysin edullisesta alueesta poikkeava, jolloin myös arvomineraalien saanti käsiteltävästä materiaalista vaikeutuu ja tulee kustannuksiltaan kalliiksi.

Esilläolevan keksinnön tarkoituksena on poistaa tekniikan tason mukaisia haittapuolia ja aikaansaada menetelmä, jonka avulla arvomateriaalien - 30 talteensaanti sähkökemiallisen potentiaalin ja mahdollisen lisäaineen mittauksen ja/tai säätämisen kautta on yksinkertaista ja edullista niin, että arvomateriaalit voidaan haluttaessa saada talteen joko yksinään tai usean komponentin muodostamassa ryhmässä. Keksinnön olennaiset tunnusmerkit on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa.

3 78990

Keksinnön mukaisesti suoritetaan sähkökemiallisen potentiaalin ja/tai prosessiin lisättävän komponentin tai prosessissa syntyvän komponentin pitoisuuden mittaus prosessiolosuhteisiin soveltuvaa elektrodia käyttäen. Esimerkiksi mineraalielektrodilla, joka on edullisesti valmistettu 5 lähellä prosessiin osallistuvia komponentteja olevista materiaaleista tai jopa prosessin kulkuun osallisena olevista materiaaleista, voidaan vähentää haitallisen peitekerroksen syntymistä ja samalla parantaa elektrodin mittauspinnan ja ympäröivän materiaalin välistä reaktiotasapainoa. Tällöin sekä sähkökemiallisen potentiaalin että lisäaineen 10 mittausarvo saadaan vastaamaan tarkasteltavassa prosessissa kulloinkin vallitsevaa ja vaikuttavaa todellista suureen arvoa.

Sähkökemiallisen potentiaalin mittauksessa tarkasteltavan prosessin reagenssin aiheuttama peitekerros saadaan estetyksi muuttamalla elektrodiin syötettävää jännitettä mittaustapahtuman eri vaiheissa. Mittauk-15 sen suorittamiseksi syötetään elektrodiin esimerkiksi pelkistysreaktion tapahtuessa elektrodilla positiivinen puhdistusjännite, jonka ansiosta elektrodin pinta puhdistetaan sähkökemianisesti prosessireagensseista ja lisäaineista. Puhdistusjännitteen jälkeen jännitettä muutetaan negatiiviseen suuntaan ja elektrodille aikaansaadaan suojajännite, jonka suu-20 ruus sinällänsä riippuu käsiteltävistä yhdisteistä ja prosessiolosuh-teista. Näiden jännitemuutoksien jälkeen elektrodista kytketään jänni-tesyöttö pois, jolloin aikaansaadaan elektrodin ympärillä olevan materiaalin tasapainottuminen elektrodiin nähden. Riittävän tasapainottumisen jälkeen suoritetaan mittaus tunnettua tekniikkaa, kuten voltam-25 metriaa, hyväksi käyttäen. Samalla mittauksen yhteydessä on mahdollista suorittaa edullisesti sähköisten häiriösignaalien poisto mittaussignaaleista määrävälein otettujen näytesignaalien muodossa. Lisäksi elektrodin pintaa voidaan hioa edullisesti jatkuvasti turbulenttisessä virtauksessa haitallisen peitekerroksen estämiseksi. Samoin myös ultra-30 äänen avulla suoritettavaa ja/tai mekaanista puhdistusta voidaan käyttää hyväksi haitallisen peitekerroksen syntymisen estämisessä.

Mittaukseen käytetyllä elektrodilla tapahtuvasta reaktiosta ympäröivän materiaalin kanssa riippuen valitaan elektrodiin syötettävä puhdistus-jännite joko negatiiviseksi tai positiiviseksi. Pelkistysreaktion 35 tapahtuessa elektrodilla puhdistusjännite valitaan positiiviseksi, jolloin 4 78990 keksinnön mukaisessa menetelmässä käytetyn suojajännitteen aikaansaamiseksi syöttöjännite muutetaan negatiiviseen suuntaan puhdistusjännit-teeseen nähden tai positiiviseen suuntaan mitatusta potentiaaliarvosta. Sen sijaan hapetusreaktion ollessa kyseessä keksinnön mukaisen menetel-5 män puhdistusjännite valitaan negatiiviseksi ja suojajännitteen aikaansaamiseksi syöttöjännite vähennetään negatiiviseen suuntaan mitattuun potentiaaliin nähden. Näin pelkistyksen yhteydessä jännite muutetaan anodiseen suuntaan, hapetuksen yhteydessä katodiseen suuntaan. Mineraalielektrodia käyttäen päästään edullisesti keksinnön mukaisen 10 puhdistuksen jälkeen nopeasti ja elektrodireaktiot huomioiden tarkalla tavalla takaisin haluttuun tasapainoon.

Keksinnön mukaiseen lisäaineen ja/tai reaktiotuotteen mittaukseen käytetään myös edullisesti voltammetriaan perustuvaa sähkökemiallista mittaustapaa. Käyttäen työelektrodina tarkasteltavaan prosessiin hyvin 15 soveltuvasta materiaalista valmistettua elektrodia, jonka kanssa komponentti reagoi, voidaan reaktiossa kulkeva sähkövirta ja/tai potentiaali mitata esimerkiksi voltammetriaan perustuvalla menetelmällä. Peiteker-roksen estämiseksi myös lisäaineen mittauksen yhteydessä elektrodin pintaa puhdistetaan samalla tavalla kuin sähkökemiallisen potentiaalin 20 mittauksessa. Lisäaineen mittauksen yhteydessä on lisäksi edullisesti suoritettavissa prosessiolosuhteista aiheutuva taustavirran poisto, jolloin aikaansaadun sähkövirtapiikin pinta-ala mitataan vähentämällä sähkövirtaan kohdistuva taustavirta.

Käyttäen keksinnön mukaista menetelmää sähkökemiallisen potentiaalin 25 ja/tai komponentin mittaamiseen ja säätämiseen voidaan edullisesti kukin käsiteltävä arvomineraali aikaansaada ainakin yhden mittauspisteen avulla sille prosessointialueelle, jossa sen talteensaanti antaa parhaat tulokset. Yhteen mittauspisteeseen voidaan edullisesti sijoittaa tarvittaessa useita erilaisia elektrodeja sähkökemiallisen potentiaalin, eri 30 lisäaineiden ja/tai reaktiotuotteiden mittaukseen. Keksinnön mukaisessa menetelmässä on mahdollista sijoittaa mittauselektrodit myös prosessin eri vaiheisiin, jolloin säätö on mahdollista suorittaa myös erikseen kussakin mittauspisteessä. Tällöin mittauksista saadusta, eri mineraalien osoittamien potentiaalien erosta voidaan edullisesti saada suoraan 35 erilaisten komponenttien pitoisuuksia, esimerkiksi tiosulfaateille ja 5 78990 syanideille, vaikka systeemissä olisi tekniikan tason mukaisia menetelmää häiritseviä tekijöitä. Näin aikaansaadaan mittauksen ja säädön suoritus jatkuvatoimisena sekä yksittäisessä mittauspisteessä että säädettävän prosessin eri vaiheissa.

5 Keksintöä selostetaan seuraavassa viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää kaaviomaisesti sähkökemiallisen potentiaalin ja pH:n muodostamaa diagrammia, johon on merkitty mineraalin ja lisäainekomponentin välinen stabiilisuusalue, kuvio 2 esittää kaaviomaisesti keksinnön erään edullisen sovellutusko muodon laiteratkaisua sähkökemiallisen potentiaalin ja lisä ainekomponentin mittaamiseksi sivultapäin katsottuna ja osittain leikattuna, kuvio 3 esittää kaaviomaisesti kuvion 2 mukaisen sovellutusmuodon laitteistokaaviota.

Kuviota 1 on jo selostettu tunnetun tekniikan tason yhteydessä.

Kuvion 2 mukaisesti mitattava materiaali, edullisesti liete, johdetaan mittakyvettiin 12 tuloputken 1 kautta. Mittakyvetti 12 toimii voltam-metrisesti, jolloin materiaali joutuu kosketuksiin vastaelektrodin 3 ja referenssielektrodin 6 kanssa sekä varsinaisten mittauselektrodien 4,5 20 kanssa. Sähkökemiallisen potentiaalin mittauselektrodi 4 on mineraali- elektrodi ja on valmistettu edullisesti esimerkiksi nikkelisulfidista. Lisäaineen mittauselektrodi on myös mineraalielektrodi ja valmistettu edullisesti esimerkiksi kuparisulfidista. Kaikki elektrodit 3,4,5,6 on kiinnitetty mittakyvetin 12 kanteen 9 ja edelleen sähköisten liittimien 10 25 ja johtojen 11 välityksellä mittakyvettia 12 ohjaavaan elektroniikka osaan .

Elektrodeilla aiheutuvan peitekerrosvaaran vuoksi on kuvion 2 mukaisesti mittaelektrodiin 5 kiinnitetty ultraääniresonaattori 8 sekä ultraäänen synnyttämistä varten ultraäänikiteet 7. Myös muihin elektro-30 deihin on mahdollista liittää vastaavat laitteet ultaraäänen synnyttä miseksi.

6 78990

Mittausten jälkeen johdetaan materiaali pois mittakyvetistä 12 poisto-putken 2 kautta. Saatujen mittaustulosten perusteella suoritetaan prosessin säätö käyttäen esimerkiksi kuviossa 3 esitettyä laitteisto-ratkaisua.

3 Kuvion 3 mukaisesti mittakyvetin 12 elektrodeilta 3,4,5,6 signaalit johdetaan prosessilaitteelta 14 tietojenkäsittelyyn 13 vahvistimen 15, S/H-piirin 16 ja analogi/digitaalimuuntimen 17 kautta. S/H-piirissä 16 suoritetaan tarvittaessa häiriösignaalien poistoa. Tietokäsittely-yksikössä 13 suoritetaan vertailu mittakyvetin 12 avulla aikaansaatujen 1 0 prosessiparametriarvojen ja ennaltatunnettujen prosessointiarvojen välillä. Vertailun perusteella suoritetaan prosessilaitteen 14 säätö säätölaitteen 18 avulla.

Kuten oheisista esimerkeistä selviää, voidaan keksinnön mukaista menetelmää soveltaa erilaisiin prosesseihin, vaahdotukseen, liuotukseen, 15 saostukseen, joissa käytetään sähkökemiallista potentiaalia eräänä prosessiparametrina. Täten myös keksinnön mukaiseen menetelmään soveltuvat arvomineraalit ovat hyvin moninaiset, sillä sähkökemialliseen potentiaaliin perustuvia käsittelyprosesseja on kehitetty paljon, mutta näissä prosesseissa ei itse mittaustapahtumaan ole kiinnitetty erityistä 20 huomiota esimerkiksi mittauselektrodien valinnalla. Edelleen keksinnön mukainen menetelmä tekee mahdolliseksi käyttää lisäksi uusia menetelmiä, esimerkiksi sulalämpötilamenetelmät, joita tähän mennessä ei säätöjä ohjausvaikeuksien takia ole ollut mahdollista toteuttaa.

ESIMERKKI 1 25 Keksinnön erään edullisen sovellutusmuodon mukaisesti kuparisulfidi-, (Cu, S) -valtaista nikkelihienokiven liuotusjäännöstä, joka sisälsi 10,5 p-% nikkelisulfidia, NixS, liuotettiin autoklaavissa lämpötilassa 140°C säätämällä prosessiin syötettävää ilmaa autoklaavista mitatun sähkökemiallisen redox-potentiaalin avulla. Redox-potentiaali, joka mitattiin 30 kuparisulfidista, Cu, S, valmistetulla nimeraalielektrodilla, säädettiin z-x + koko liuotuksen ajaksi arvoon +510-5mV E^, jolloin myös ilman syöttö liuotusreaktoriin voitiin säätää edulliseksi. Kolmen tunnin selektiivisen 7 78990 liuotuksen jälkeen oli nikkelipitoisuus käsitellyssä liuotusjäännöksessä 0,35 p-%.

Ennen sähkökemiallisen redox-potentiaalin nittaustapahtumaa kytkettiin eri mittausten välillä mittauselektrodiin negatiivinen puhdistusjännite, 5 joka edullisen vaikutusajan, 10 s, jälkeen muutettiin positiivisemmaksi suojajännitteksi 5 s:n ajaksi. Tämän jälkeen mittauselektrodin jännite-syöttö kytkettiin piiristä ja tasapainotusajan, 40 s, jälkeen suoritettiin sähkökemiallisen potentiaalin mittaus. Näin saadun redox-potentiaalin mittausarvon mukaan säädettiin ilmasyöttöä niin, että redox-potentiaali 10 pysyi halutussa arvossa. Elektrodin puhdistus- ja suojajännitteet oli esimerkin mukaisessa liuotuksessa valittu katodiseen suuntaan käytetystä redox-potentiaa lista. Suoritetussa tekniikan tason mukaisessa rinnakkaiskokeessa, jossa keksinnön mukaista menetelmää ei käytetty, saatiin käsitellyn liuotusjäännöksen nikkelipitoisuudeksi 4,2 p-%. Tällöin 15 keksinnön mukaisella menetelmällä aikaansaadun käsitellyn liuotusjään nöksen nikkelipitoisuus on ainoastaan n. 8 % tekniikan tason mukaisen liuotusjäännöksen nikkelipitoisuudesta.

ESIMERKKI 2

Keksinnön mukaisen menetelmän avulla sementoitiin sinkkitehtaan neut-20 raaliliuoksesta kobolttia käyttäen arseeniyhdistettä ja sinkkipulveria.

Tällöin sinkkipulverin syöttöä säädettiin mittauselektrodilla, Co As

X

-elektrodilla, tehtyjen sähkökemiallisen potentiaalin mittausten perusteella. Pitämällä sähkökemiallinen potentiaali arvossa -547 -10 mV SCE tarvittiin sinkkipulveria vain 8 %:n ylimäärä stökiometriseen arvoon 25 verrattuna, kun liuoksen kobolttipitoisuus muuttui arvosta 85 mg/l arvoon 0,5 mg/l. Käytetyt puhdistus- ja suojajännitearvot olivat anodiseen suuntaan mitattuun sähkökemialliseen potentiaaliin nähden. Elektrodin puhdistuksen yhteydessä syöttöjännitettä muutettiin positiiviseen suuntaan elektrodin suojaamiseksi. Tekniikan tason mukaisesti 30 käsiteltäessä sinkkitehtaan neutraaliliuosta kobolttipitoisuuden alentamiseksi vastaavissa prosessiolosuhteissa tarvittiin sinkkipulveria stökiometriseen määrään verrattuna 62 %:n ylimäärä. Ylimäärä on siten 8 78990 lähes 8-kertainen verrattuna keksinnön mukaisessa menetelmässä tarvittuun sinkkipulveriylimäärään.

ESIMERKKI 3

Keksinnön mukaista menetelmää käytettiin kuparisulfidimineraalin ja 5 nikkelisulfidimineraalin vaahdotuksessa mittauselektrodien ollessa valmistettu kuparisulfidi-, kalkopyriitti- ja pentlandiittimineraaleista. Jotta mineraalien erotus toisistaan on mahdollista, prosessin pH:ta on nostettava esimerkiksi Ca(OH)2:lla samalla, kun lietteeseen lisätään esimerkiksi dekstriiniä nikkelipentlandiitin painamiseksi alas ja kupa-10 rimineraalin vaahdottamiseksi. Käyttäen keksinnön mukaista menetelmää prosessia ohjattiin lisäainemäärillä, Ca(OH)2# dekstriini, ksantaatti ja ilma siten, että kalkopyriittielektrodin potentiaali oli ksantaatin tarttumisalueella ja pentlandiittielektrodin potentiaali 50 mV negatiivisempi kuin pentlandiitin ja ksantaatin reaktion vaatima potentiaali. 15 Nämä potentiaalit ovat helposti määritettävissä esimerkiksi tunnetuista E^-pH-diagrammeista. Lietteen ksantaattipitoisuus pidettiin arvossa 6 mg/l käyttäen kuparisulfidielektrodia. Puhdistusjännitteen jälkeisen suojajännitteen aikaansaamiseksi syöttöjännitettä muutettiin negatiiviseen suuntaan. Lopputuotteena saatiin prosessista kuparirikastetta, jossa 20 nikkelipitoisuus oli 0,41 p-%, sekä nikkelirikastetta, jossa kuparipitoisuus oli 0,27 p-%.

Suoritettaessa vastaavanlainen vaahdotus tekniikan tason mukaisesti käyttäen liukenematonta platinaelektrodia ja näin myös ilman haitallisen peitekerroksen poistoa ja estämistä saatiin lopputuotteen kuparirikas-25 teen nikkelipitoisuudeksi 1,2 p-% ja nikkelirikasteen kuparipitoisuudeksi 0,96 p-% silloin, kun saanti tekniikan tason ja keksinnön mukaisissa menetelmissä oli taloudellisesti katsoen sama. Täten jäännöspitoisuudet keksinnön mukaisella menetelmällä saaduissa rikasteissa ovat huomattavasti pienempiä kuin vastaavissa tekniikan tason mukaisesti aikaansaa-30 duissa rikasteissa.

Claims

9 78990

1. Menetelmä sähkökemiallisen potentiaalin ja/tai komponenttipitoisuu-den mittaamiseksi ja säätämiseksi arvomateriaalien käsittelyprosessissa, kun arvomateriaalit halutaan ottaa talteen joko yksinään tai erikseen sähkökemiallisen potentiaalin ja komponenttipitoisuuden perusteella 5 määriteltävän talteensaantivyöhykkeen arvoja käyttäen, tunnettu siitä, että sähkökemiallisen potentiaalin ja/tai komponenttipitoisuuden mittaus suoritetaan ainakin yhdellä elektrodilla (4,5) niin, että elektrodin pinnalle muodostuneen peitekerroksen poistamiseksi ja elektrodin suojaamiseksi kytketään elektrodiin mitatusta sähkökemiallisesta tasa-10 painopotentiaalista eroava syöttöjännite ja että syöttöjännite katkaistaan ennen mittauksen alkua.

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sähkökemiallisen potentiaalin ja/tai lisäainepitoisuuden mittaus suoritetaan ainakin yhdellä mineraalielektrodilla (4,5).

3. Patenttivaatimusten 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että elektrodin pinnalle muodostuneen peitekerroksen poistamisen jälkeen syöttöjännite muutetaan mitatun sähkökemiallisen tasapainopoten-tiaalin suuntaan elektrodin (4,5) suojaamiseksi.

4. Jonkin edelläolevan patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, 20 tunnettu siitä, että pelkistysraktion tapahtuessa elektrodilla (4,5) syöttöjännite muutetaan anodiseen suuntaan elektrodin (4,5) suojaamiseksi mittausten välillä.

5. Patenttivaatimusten 1, 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että hapetusreaktion tapahtuessa elektrodilla (4,5) syöttöjännite 25 muutetaan katodiseen suuntaan elektrodin (4,5) suojaamiseksi mittausten välillä.

6. Patenttivaatimusten 1, 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnet- t u siitä, että sähkökemiallisen potentiaalin ja lisäainepitoisuuden mittaus suoritetaan omilla mittauselektrodeillaan (4,5). 30 10 78990

7. Patenttivaatimuksen ή mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sähkökemiallisen potentiaalin ja lisäainepitoisuuden mittaus ja säätö suoritetaan eri prosessivaiheissa (14a, 14b), jotka on ainakin sähköisesti yhdistetty toisiinsa.

8. Patenttivaatimusten 1, 3, 4, 5 tai 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mineraaleille mitattujen sähkökemiallisten potentiaalien eroja käytetään komponenttipitoisuuden määritykseen.