FI118452B - Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem - Google Patents

Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem Download PDF

Info

Publication number
FI118452B
FI118452B FI20055018A FI20055018A FI118452B FI 118452 B FI118452 B FI 118452B FI 20055018 A FI20055018 A FI 20055018A FI 20055018 A FI20055018 A FI 20055018A FI 118452 B FI118452 B FI 118452B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
camera
image
test
holographic
tested
Prior art date
Application number
FI20055018A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20055018A0 (sv
FI20055018A (sv
Inventor
Mikko Kursula
Original Assignee
Jot Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jot Automation Oy filed Critical Jot Automation Oy
Priority to FI20055018A priority Critical patent/FI118452B/sv
Publication of FI20055018A0 publication Critical patent/FI20055018A0/sv
Priority to US11/794,880 priority patent/US7907748B2/en
Priority to PCT/FI2006/050019 priority patent/WO2006075052A1/en
Priority to DE112006000197T priority patent/DE112006000197T5/de
Publication of FI20055018A publication Critical patent/FI20055018A/sv
Priority to GB0713484A priority patent/GB2436764B/en
Application granted granted Critical
Publication of FI118452B publication Critical patent/FI118452B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/021Interferometers using holographic techniques
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2202Reconstruction geometries or arrangements
    • G03H1/2205Reconstruction geometries or arrangements using downstream optical component
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2249Holobject properties
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/0005Adaptation of holography to specific applications
    • G03H2001/0033Adaptation of holography to specific applications in hologrammetry for measuring or analysing
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2202Reconstruction geometries or arrangements
    • G03H2001/2244Means for detecting or recording the holobject
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2249Holobject properties
    • G03H2001/2252Location of the holobject
    • G03H2001/226Virtual or real
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2249Holobject properties
    • G03H2001/2281Particular depth of field
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H2210/00Object characteristics
    • G03H2210/202D object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Claims (18)

1. Förfarande för bildande av en bild vid testning av en elektronisk anordning (200), som omfattar en kamera (202) för att bilda en bild (310) för en detektor (208), kännetecknat av att 5 ett holografiskt element (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas placeras (600) pä ett förutbestämt test-avständ (320) frän varandra för att bilda en bild (310) av den holografiska test-bilden (300) för detektorn (208) i kameran (202) som skall testas, varvid i nonfokus i avbildningsfältet för kameran (202) som skall testas 10 finns ett holografiskt element (300), vars holografiska testbild (302) är anord-nad att bilda en fokuserad bild för detektorn i kameran som fungerar pä önskat sätt.
2. Förfarande för att testa bildkvaliteten i en elektronisk anordning (200), som omfattar en kamera (202) för att bilda en bild (310) för en detektor 15 (208), kännetecknat av att ett holografiskt element (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas placeras (600) i samband med testningen pä ett förutbestämt testavständ (320) frän varandra sä att i nonfokus i avbildningsfältet för kameran (202) som skall testas finns ett holografiskt element 20 (300), som omfattar en holografisk testbild (302) för att bilda en fokuserad bild • · * för detektorn i kameran som fungerar pä önskat sätt, varvid det holografiska * ' elementet (300) och kameran som fungerar pä önskat sätt är beiägna pä ett • · · :förutbestämt testavständ (320) frän varandra; ·.: * en bild (310) bildas (602) av den holografiska testbilden (300) med 25 kameran (202) som skall testas; och kvaliteten pä bilden (310) som kameran (202) som skall testas har bildat av den holografiska testbilden (302) bestäms (604).
3. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att det fysiska testavständet (320) ändras holografiskt tili ett skenbart avständ • * * "I · 30 (318) för att bilda en fokuserad bild (310) av den holografiska testbilden (302) [..* för detektorn i kameran som fungerar pä önskat sätt. • · • ·
4. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att det holografiska elementet (300) belyses med optisk strälning för att bilda en *:**5 holografisk testbild (302). 16 1 1 8452
5. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2,kännetecknat avatt det holografiska elementet (300) belyses med ätminstone en LED (402).
6. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat avatt det holografiska elementet (300) belyses med en kalla (400) för optisk effekt, 5 som är strukturellt integrerad fast i det holografiska elementet (300).
7. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat avatt den holografisk testbilden (302) omfattar delbilder (3020-3026) pä flera olika skenbara testavständ (318).
8. Förfarande enligt patentkrav 1 eller2, kännetecknat avatt 10 det holografiska elementet (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas placeras pä ett kortare avständ frän varandra än kamerans (202) fokuseringsavständ.
9. Testningssystem, som är anordnat att testa en elektronisk anord-ning, som omfattar en kamera (202) för att bilda en bild (310) för detektom 15 (208), kännetecknat av att testningssystemet omfattar ett holografiskt element (300), och det holografiska elementet (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas är under testningen anordnade att placeras pä ett förutbestämt avständ (320) frän varandra, där det holografiska ele-20 mentet (300) befinner sig i nonfokus i avbildningsfältet för kameran som skall • · · ' testas, och det holografiska elementet (300) omfattar en holografisk testbild (302), som är anordnad att bilda en fokuserad bild för detektom i kameran som * · /·* fungerar pä önskat sätt, varvid det holografiska elementet (300) och kameran ··· : som fungerar pä önskat sätt är belägna pä ett förutbestämt testavständ (320) • · : 25 frän varandra. ·φ·
• ♦ **··* 10. Testningssystem enligt patentkrav 9, kännetecknat av att dä kameran (202) som skall testas bildar en bild (310) av den holografiska : ’** testbilden (302) för detektom (208) i kameran (202) som skall testas, är test- ··· ningssystemet anordnat att bestämma kvaliteten pä en bild (310) som kame-30 ran (202) som skall testas bildat av den holografiska bilden (302).
11. Testningssystem enligt patentkrav 9, kännetecknat av att t den holografiska testbilden (302) är anordnad att ändra det fysiska testavstän- det (320) tili ett skenbart testavständ (318), som motsvarar fokuseringsavstän-det för kameran som fungerar pä önskat sätt. 17 1 1 8452
12. Testningssystem enligt patentkrav9,kännetecknat avatt testningssystemet omfattar en kalla (400) för optisk effekt för att belysa det ho-lografiska elementet (300) med optisk straining.
13. Testningssystem enligt patentkrav 12, kännetecknat av 5 att kallan (400) för optisk effekt omfattar atminstone en LED (402).
14. Testningssystem enligt patentkrav 12, kännetecknat av att kallan (400) för optisk effekt är integrerad strukturellt fast i det holografiska elementet (300).
15. Testningssystem enligt patentkrav 9, kännetecknat av att 10 den holografiska testbilden (302) omfattar delbilder (3020-3026) pä flera olika skenbara testavständ (318).
16. Testningssystem enligt patentkrav 9, kännetecknat av att testningssystemet är anordnat att placera den holografiska elementet (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas pä ett 15 kortare avständ (320) frän varandra än kamerans (202) fokuseringsavstand.
17. Testningskammare, som är anordnad att testa en elektronisk anordning, som omfattar en kamera (202) för att bilda en bild (310) för en de-tektor (208), kännetecknad av att testningskammaren omfattar ett holografiskt element (300), och : V: 20 det holografiska elementet (300) och den elektroniska anordningens ·:· · (200) kamera (202) som skall testas är under testningen anordnade att place- ·***: ras pä ett förutbestämt avständ (320) frän varandra, där det holografiska ele- : .·. mentet (300) befinner sig i nonfokus i avbildningsfältet för kameran som skall •*V testas, och det holografiska elementet (300) omfattar en holografisk testbild • · ΪΙ/ 25 (302), som är anordnad att bilda en fokuserad bild för detektorn i kameran som ’"** fungerar pä önskat sätt, varvid det holografiska elementet (300) och kameran som fungerar pä önskat sätt är belägna pä ett förutbestämt testavständ (320) ϊ '** frän varandra. ·*« • i
"** 18. Testanordning, vilken är anordnad att testa en elektronisk an- *"" 30 ordning, som omfattar en kamera (202) för att bilda en bild (310) för detektorn (208), kännetecknad av att testanordningen omfattar . ett holografiskt element (300), och • · · det holografiska elementet (300) och den elektroniska anordningens (200) kamera (202) som skall testas är under testningen anordnade att place- is 1 1 8452 ras pci ett förutbestämt avständ (320) frän varandra, där det holografiska ele-mentet (300) befinner sig i nonfokus i avbildningsfältet för kameran som skall testas, och det holografiska elementet (300) omfattar en holografisk testbild (302), som är anordnad att bilda en fokuserad bild för detektom i kameran som 5 fungerar pä önskat sätt, varvid det holografiska elementet (300) och kameran som fungerar pä önskat sätt är belägna pä ett förutbestämt testavständ (320) frän varandra. • · • · · • · · • · *·· 1 • · • · · * · * · • · · • · • · · • t · ··· · • · • · · • · · •M · • Il • 1 • · Hl • · • · * Il « *«· • · • · ·1· • · • Il • · • · *·· • 1 · • 1 · I·· ·
FI20055018A 2005-01-13 2005-01-13 Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem FI118452B (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20055018A FI118452B (sv) 2005-01-13 2005-01-13 Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem
US11/794,880 US7907748B2 (en) 2005-01-13 2006-01-12 Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system
PCT/FI2006/050019 WO2006075052A1 (en) 2005-01-13 2006-01-12 Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system
DE112006000197T DE112006000197T5 (de) 2005-01-13 2006-01-12 Verfahren zur Erzeugung von Bildern; Verfahren zum Testen elektronischer Geräte; sowie Testeinrichtung; Testkammer und Testsystem
GB0713484A GB2436764B (en) 2005-01-13 2007-07-11 Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20055018 2005-01-13
FI20055018A FI118452B (sv) 2005-01-13 2005-01-13 Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20055018A0 FI20055018A0 (sv) 2005-01-13
FI20055018A FI20055018A (sv) 2006-07-14
FI118452B true FI118452B (sv) 2007-11-15

Family

ID=34112669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20055018A FI118452B (sv) 2005-01-13 2005-01-13 Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7907748B2 (sv)
DE (1) DE112006000197T5 (sv)
FI (1) FI118452B (sv)
GB (1) GB2436764B (sv)
WO (1) WO2006075052A1 (sv)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012104579B4 (de) * 2012-05-29 2019-02-28 Leuze Electronic Gmbh + Co. Kg Optischer Sensor
US11076161B2 (en) 2018-02-20 2021-07-27 Arlo Technologies, Inc. Notification priority sequencing for video security
US11272189B2 (en) 2018-02-20 2022-03-08 Netgear, Inc. Adaptive encoding in security camera applications
US11064208B2 (en) 2018-02-20 2021-07-13 Arlo Technologies, Inc. Transcoding in security camera applications
US11558626B2 (en) 2018-02-20 2023-01-17 Netgear, Inc. Battery efficient wireless network connection and registration for a low-power device
US10742998B2 (en) 2018-02-20 2020-08-11 Netgear, Inc. Transmission rate control of data communications in a wireless camera system
US11102492B2 (en) 2018-02-20 2021-08-24 Arlo Technologies, Inc. Multi-sensor motion detection
US11756390B2 (en) 2018-02-20 2023-09-12 Arlo Technologies, Inc. Notification priority sequencing for video security
US10805613B2 (en) * 2018-02-20 2020-10-13 Netgear, Inc. Systems and methods for optimization and testing of wireless devices

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1250472A (en) 1983-04-05 1989-02-28 Masane Suzuki Camera finder
US4905216A (en) 1986-12-04 1990-02-27 Pencom International Corporation Method for constructing an optical head by varying a hologram pattern
JP3512092B2 (ja) * 1994-07-29 2004-03-29 マツダ株式会社 キャリブレーション装置
DE19727281C1 (de) * 1997-06-27 1998-10-22 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Verfahren und Vorrichtung zur geometrischen Kalibrierung von CCD-Kameras
US6147702A (en) * 1998-04-17 2000-11-14 Intel Corporation Calibration of digital cameras
DE10013299C2 (de) 2000-03-09 2003-04-17 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Verfahren und Vorrichtung zur geometrischen Kalibrierung pixelorientierter photosensitiver Elemente

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006075052A1 (en) 2006-07-20
US20080123101A1 (en) 2008-05-29
DE112006000197T5 (de) 2008-02-21
US7907748B2 (en) 2011-03-15
FI20055018A0 (sv) 2005-01-13
GB2436764B (en) 2010-09-01
GB2436764A (en) 2007-10-03
FI20055018A (sv) 2006-07-14
GB0713484D0 (en) 2007-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI118452B (sv) Förfarande för att skapa en bild, förfarande för att testa en elektronisk apparat och testapparat, testkammare och testsystem
JP5341351B2 (ja) 共焦点顕微鏡システムの基本原理に基づく測定装置及び方法
JP4823212B2 (ja) 共焦点顕微鏡法の原理に基づく測定装置および方法
US20150177071A1 (en) Wavefront analysis inspection apparatus and method
CN110389021A (zh) 透镜图像产生系统及屈光能力和厚度确定与缺陷检测方法
CN108780035A (zh) 成像装置以及成像方法
WO2008126647A1 (ja) 形状測定装置及び形状測定方法
JP2021527207A (ja) 共焦点カメラにおいて動的投影パターンを生成するための装置、方法、およびシステム
JP2010281626A (ja) 光学特性検査装置
JP2004271381A (ja) スペックル干渉計装置
CN109387488A (zh) 一种光学玻璃折射率的快速测量方法及仪器
JP2008026049A (ja) フランジ焦点距離測定装置
KR20190020794A (ko) 관통 구멍의 기하학적 파라미터를 측정하기 위한 방법 및 시스템
Middendorf et al. Miniaturization of borescopic fringe projection systems for the inspection in confined spaces: a methodical analysis
JP2010503832A (ja) 三次元の流れ測定装置及び測定方法
JP3228458B2 (ja) 光学的3次元計測装置
KR101269128B1 (ko) 중간시점 영상 생성기를 갖는 표면 거칠기 측정 장치 및 방법
JP2004101213A (ja) 光学系のmtfを測定する装置及び方法
JP7181602B2 (ja) レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法
CN216349485U (zh) 一种测量摄像头离焦量的装置
KR102211315B1 (ko) 광학 시스템 검사 장치
JPH02218935A (ja) 光学系の検査方法および装置
KR20190135726A (ko) 대상물을 광학적으로 검사하기 위한 장치 및 방법
CN218584314U (zh) 一种镜头法兰距的检测设备
US11714051B2 (en) Metrology system configured to measure apertures of workpieces

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: ELEKTROBIT TESTING OY

Free format text: ELEKTROBIT TESTING OY

PC Transfer of assignment of patent

Owner name: JOT AUTOMATION OY

Free format text: JOT AUTOMATION OY

FG Patent granted

Ref document number: 118452

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed