FI118452B - Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä - Google Patents
Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä Download PDFInfo
- Publication number
- FI118452B FI118452B FI20055018A FI20055018A FI118452B FI 118452 B FI118452 B FI 118452B FI 20055018 A FI20055018 A FI 20055018A FI 20055018 A FI20055018 A FI 20055018A FI 118452 B FI118452 B FI 118452B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- camera
- image
- test
- holographic
- tested
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 211
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/021—Interferometers using holographic techniques
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2202—Reconstruction geometries or arrangements
- G03H1/2205—Reconstruction geometries or arrangements using downstream optical component
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2249—Holobject properties
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/0005—Adaptation of holography to specific applications
- G03H2001/0033—Adaptation of holography to specific applications in hologrammetry for measuring or analysing
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2202—Reconstruction geometries or arrangements
- G03H2001/2244—Means for detecting or recording the holobject
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2249—Holobject properties
- G03H2001/2252—Location of the holobject
- G03H2001/226—Virtual or real
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2249—Holobject properties
- G03H2001/2281—Particular depth of field
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2210/00—Object characteristics
- G03H2210/20—2D object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
118452
Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä
Ala
Keksinnön kohteena on kuvan muodostamismenetelmä, elektroni-5 sen laitteen testausmenetelmä ja testausjärjestelmä.
Tausta
Ennen kuin elektroninen laite toimitetaan myyntiin, sen testaaminen on hyvin tärkeää. Testauksella pyritään varmistamaan se, että elektroninen laite, kuten matkapuhelin, on täysin toimiva ja rakenteellisesti virheetön. Tes-10 tauksessa testattava elektroninen laite voidaan siirtää oviaukon kautta sisään kytkettäviksi testauskammion kytkentäjärjestelyyn, joka pitää testattavaa elektronista laitetta paikallaan ja joka toimii käyttöliittymänä elektroniseen laitteeseen. Kytkentäjärjestelyn kautta elektronista laitetta voidaan ohjata ja mittaussignaalit voidaan siirtää elektronisesta laitteesta signaalinkäsittelylaitteisiin.
15 Kytkentäjärjestely voi käsittää antureita tai aktuaattoreita tms., joilla voidaan suorittaa erilaisia testejä. Testauksen päätteeksi testattu elektroninen laite voidaan siirtää pois testauskammiosta oviaukon kautta ja uusi testattava elektroninen laite voidaan ottaa testauskammioon sisään.
Elektronisesta laitteesta, joka käsittää kameran, voidaan testata sen .y . 20 optisia ominaisuuksia. Tällöin kameralla voidaan kuvata testikuva, joka on tal- lennettu kuvaelementtiin. Kuvaelementti asetetaan kameran fokusointietäisyy- ..... den päähän kamerasta, jotta kuvaus onnistuisi tarkasti. Lyhin tarkasti fokusoi- • · tuva etäisyys kuvaelementistä kameraan, jossa ei ole kuvan tarkennusmeka- i*Y nismia, voi olla esimerkiksi 0,5 m - 1,5 m. Näin suuri etäisyys testikuvan ja • · · 25 kameran välillä on hyvin hankala erityisesti laitteen valmistuksen yhteydessä. Lisäksi pitkän etäisyyden takia testikuvan tulee olla suuri täyttääkseen kameran koko kuva-alan.
:**·. Tarkennusmekanismilla varustetulla kameralla voi fokusoida lähel- läkin olevan testikuvan, mutta fokusointi vaatii aina fokusointioperaation ja ai- 30 kaa. Toisaalta tarkennusmekanismilla varustetulla kamerallakaan ei voi tarken- ...* taa niin lyhyen etäisyyden päähän kuin testauksessa olisi tarve, koska kom- *·;·* paktissa testaustilassa kuvaelementti ei yleensä saisi olla muutamaa sentti- :..y: metriä kauempana kamerasta.
* • ♦ 118452 2
Lyhyt selostus
Keksinnön tavoitteena on toteuttaa parannetut menetelmä kuvan muodostamisesta, menetelmä testata kuvan laatua ja menetelmiin sopiva tes-tauskammio, testauslaite ja testausjärjestelmä.
5 Tämän saavuttaa menetelmä kuvan muodostamista varten testatta essa elektronista laitetta, joka käsittää kameran muodostaa kuva detektorille. Edelleen menetelmässä sijoitetaan holografinen elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera ennalta määrätylle testausetäisyydelle toisistaan kuvan muodostamiseksi holografisesta testikuvasta testattavan kameran detektorille, 10 jolloin testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa on holografinen elementti, jonka holografinen testikuva on sovitettu muodostamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva.
Keksinnön kohteen on myös menetelmä testata kuvan laatua elektronissa laitteessa, joka käsittää kameran muodostaa kuva detektorille. Edel-15 teen menetelmässä sijoitetaan testauksen yhteydessä holografinen elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera ennalta määrätylle testausetäisyydelle toisistaan siten, että testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa on holografinen elementti, joka käsittää holografisen testikuvan fokusoidun kuvan muodostamiseksi halutulla tavalla toimivan kameran detektorille holo-20 grafisen elementin ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrätyllä testausetäisyydellä toisistaan; muodostetaan kuva holografisesta testiku- • · vasta testattavalla kameralla; ja määritetään testattavan kameran holografises-’·’*· ta testikuvasta muodostaman kuvan laatu.
Keksinnön kohteena on myös testausjärjestelmä, joka on sovitettu :25 testaamaan elektronista laitetta, joka käsittää kameran muodostaa kuva detek-··· · : torille. Edelleen testausjärjestelmä käsittää holografisen elementin, ja hologra- .···! finen elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta määrätylle etäisyydelle, jossa hölöjä grafinen elementti on testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja 30 holografinen elementti käsittää holografisen testikuvan, joka on sovitettu muo- • · *···* dostamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holo- ·:··: grafisen elementin ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrä- tyllä testausetäisyydellä toisistaan.
φ · ·
Keksinnön kohteena on myös testauskammio, joka on sovitettu tes- • · · 35 taamaan elektronista laitetta, joka käsittää kameran muodostaa kuva detekto-’* : rille. Edelleen testauskammio käsittää holografisen elementin, ja holografinen 3 118452 elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta määrätylle etäisyydelle, jossa holografinen elementti on testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja holografinen elementti käsittää holografisen testikuvan, joka on sovitettu muodos-5 tamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holografisen elementin ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrätyllä testausetäisyydellä toisistaan.
Keksinnön kohteena on vielä testauslaite, joka on sovitettu testaamaan elektronista laitetta, joka käsittää kameran muodostaa kuva detektorille. 10 Edelleen testauslaite käsittää holografisen elementin, ja holografinen elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta määrätylle etäisyydelle, jossa holografinen elementti on testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja holografinen elementti käsittää holografisen testikuvan, joka on sovitettu muodostamaan 15 halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holografisen elementin ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrätyllä testausetäisyydellä toisistaan.
Keksinnön edullisia suoritusmuotoja kuvataan epäitsenäisissä patenttivaatimuksissa.
20 Keksinnön mukaisella ratkaisulla saavutetaan useita etuja. Testauk sessa käytetty kuvaelementti voidaan sijoittaa kameran fokusointietäisyydestä ·'*·.·· riippumattomasti kameran kuvaamalle alueelle varsinaisen kuvan pysyessä *:*·: halutulla tavalla toimivan kameran fokuksessa. Lisäksi kameran tarkennusope- :***: raation suorittaminen ei ole välttämätöntä, vaikka ratkaisu sen salliikin.
·· • m • · · : 25 Kuvioluettelo • m • *
Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten suoritusmuotojen yh- • m *···* teydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa kuvio 1 esittää testausjärjesteimää, ·* : ’·· kuvio 2 esittää kameraa kuvaamassa testikuvaa fokusointietäisyy- 30 deltään, kuvio 3 esittää kameraa kuvaamassa holografista testikuvaa, • · ..... kuvio 4 esittää testikuvan valaisemista takaa päin, *:** kuvio 5 esittää testikuvan valaisemista edestä, ja :.:V kuvio 6 esittää menetelmän vuokaaviota.
• ·
Suoritusmuotojen kuvaus , 118452 4
Esitetty ratkaisu soveltuu digitaalisen kameran testaukseen. Tarkastellaan aluksi elektronisen laitteen testauksessa käytettävää testausjäijestelmää kuvion 1 avulla. Testausjärjestelmä käsittää ainakin yhden 5 testauslaitteiston 100 elektronisten laitteiden testauksen suorittamista varten. Testauslaitteisto 100 voi sijaita testauskehikossa 102, jollainen on esimerkiksi 19” rack-kotelo, missä merkintä ” tarkoittaa tuumaa, joka vastaa 25,4 mm. Myös muunlainen testauslaitteiston sijoittaminen on mahdollinen. Testaus voidaan suorittaa elektronisen laitteen valmistuksen yhteydessä tai muulloin en-10 nen myyntiä. Elektroninen laite voidaan testata, jos niin halutaan, myös myynnin jälkeen.
Testauskehikko 102 voi käsittää esimerkiksi kaksi testausyksikköä 104 - 106, testauslaitteita 108-110, testausohjaimen 112, monitorin 114 ja kuljettimen 116. Testausyksikkö voi sisältää testauslaitteita, testausyksikköoh-15 jaimen, ohjausväylän, teholähteen jne. (ei esitetty kuviossa 1). Testaus laitteet testaavat testattavaa elektronista laitetta testausohjaimen 112 ja yksikköohjai-men ohjaamana. Yksikköohjain, jossa voi olla mikroprosessori ja sopivia ohjelmia, voi myös suorittaa signaalien esikäsittelyä kuten suodattamista. Yksik-köohjainta ei kuitenkaan välttämättä tarvita. Kunkin testausyksikön ohjausväli-20 neenä voi toimia testausohjain 112 ohjausväylän kautta. Sekä testausyksikön elektroniset osat että testattava elektroninen laite voi saada käyttämänsä säh-
• A
köisen tehon testausyksikön teholähteestä.
.···. Testauslaitteisto voi käsittää kaapeloinnin (ei esitetty kuviossa 1), • · jolla testattava elektroninen laite (Device Under Test, DUT) ja testausyksikön j’\j 25 testauselektroniikka kytketään toisiinsa kytkentäjärjestelyn (fixture) ja siihen kuuluvan testauskäsittelijän kytkentäliittymän (handler connector interface) *···* kautta. Testauskäsittelijän ja testausjärjestelmän ohjauksen tiedonsiirto suoritetaan myös kaapeloinnin kautta.
• t : *·· Testattavat elektroniset laitteet syötetään testauslaitteiston 100 tes- 30 tausyksiköihin 104 - 106 testauslaitteistossa olevien oviaukkojen 120 -124 kautta. Kytkentäjärjestelyn mekaanisien osien avulla testattava elektroninen • · laite kiinnitetään testauksessa ja muodostetaan mahdollisesti tarvittavat säh-*:*’ köiset, mekaaniset ja optiset kytkennät riittävän hyvin. Kytkentäjärjestelyyn voi *·,·,· kuulua antureita, kontaktipintoja, optisia ja akustisia komponentteja tai aktuaat- *:·*: 35 toreita, joilla voidaan suorittaa mekaanisia testejä.
118452 5
Esitetyssä ratkaisussa tarkoituksena on testata testausjärjestelmäs-sa elektronista laitetta, joka käsittää kameran muodostaa kuva detektorilleen. Detektori voi olla esimerkiksi pikselimatriisista muodostuva kenno kuten CCD-(Charge-Coupled Devise), CMOS-kenno (Complementary Metal Oxide Semi-5 conductor) tai vastaava. Elektroninen laite voi siis olla kamera tai kamera voi olla osa elektronista laitetta. Tarkastellaan ensin kuvion 2 avulla tunnetun tekniikan mukaista ratkaisua testata elektronista laitetta 200, joka käsittää kameran 202. Kuvaelementti 204, joka käsittää testikuvan 206 on sijoitettu sellaiselle etäisyydelle A, 220 testattava kamerasta 202, että testattava kamera 202 10 virheettömästi toimiessaan voi fokusoida kuvaelementillä 204 olevan testikuvan 206 detektorilleen 208 tarkaksi kuvaksi 210. Kuvaelementti 204 voi käsittää materiaalin, jossa kuva on, kuvan tuen, taustan ja/tal kehyksen. Kaksi katkoviivaa 222, 224 esittää kuvan 210 muodostavien säteiden etenemistä testi-kuvasta 206 kameran 202 detektorille 208. Tavallisesti myös kuvaelementti 15 204 on tällöin fokusoitunut tarkasti detektorille 208. Lyhin tarkasti fokusoituva etäisyys 220 kuvaelementistä 204 kameraan 202, jossa ei ole kuvan tarken-nusmekanismia, vaan ainoastaan yksipolttovälinen objektiivi 212, voi olla esimerkiksi 0,5 m - 1,5 m. Tätä lähemmäksi yksipolttovälisellä objektiivilla varustettu kamera ei juuri voi kuvata tarkasti, koska jos käytettäisiin lyhyempää ob-20 jektiivin polttoväliä tarkkojen kuvien saamiseksi läheltä, kaukana olevat kohteet kuvautuisivat epätarkasti tai aukko jouduttaisiin jättämään niin pieneksi, että •*V: kamera toimisi vain kirkkaassa valaistuksessa tai epäkäytännöllisen pitkällä *:**: valotusajalla. Tarkennusmekanismilla varustetulla kameralla voi fokusoida lä- helläkin olevan testikuvan, mutta fokusointi vaatii aina fokusointioperaation ja ··· : .·. 25 aikaa.
··! *
Kuvio 3 esittää ratkaisua, jossa käytetään holografista elementtiä · · 300 testauslaitteena tai testauslaitteen osana, joka sijaitsee testausjärjestel-’**·' män testauskammiossa. Holografinen elementti 300 sisältää holografisen tes tikuvan 302, joka muuttaa kameran 202 ja holografisen testikuvan 302 välisen : ·* 30 etäisyyden vaikutelmaa.
···
Holografinen kuva voidaan optisesti saada aikaan holografiselle ele-mentille 300, joka on tavallisesti levymäinen, kohdistamalla holografiseen .···. elementtiin 300 sekä laserista suoraan tuleva koherentti optinen säteily että kuvattavasta kohteesta heijastunut, sironnut tai läpi mennyt optinen säteily. 35 Kehityksen jälkeen holografinen kuva on valmis. Holografinen kuva voidaan valmistaa myös kuvaamalla kohde ainakin kahdella kameralla hieman eri kul- 118452 6 mistä ja muodostamalla saaduista kuvista kolmiulotteinen tietokonekuva, josta puolestaan voidaan tietokoneavusteisesti muodostaa hologrammi. Tällöin holografinen kuva voidaan tulostaa holografisella tulostimella. Kuvaamisen sijaan tietokoneella voidaan suoraan tuottaa (piirtämällä, kuvankäsittelyllä tms.) kol-5 miulotteinen kuva, joka muunnetaan tietokoneella digitaaliseksi hologrammiksi ja tulostetaan. Näin optista kuvausta ei välttämättä tarvita holografisen testiku-van valmistamisessa.
Holografinen elementti 300 voi käsittää kehitetyn emulsion, johon optisella kuvauksella muodostettu holografinen kuva on tallennettu, emulsion 10 tukirakenteen (paperi, lasi, muovi tms.), ja kehyksen, johon emulsio tukiraken-teineen on kiinnitetty.
Hologrammia varten voidaan muodostaa myös muotti, joka on tavallisimmin metallia. Muotissa on kaiverretut urat. Kun muotin avulla valmistetaan esimerkiksi muovista holografinen elementti 300, muotin urakuvio kopioituu 15 holografiseen elementtiin 300. Holografisen elementin 300 urakuvio puolestaan muuttaa holografiseen elementtiin 300 kohdistuvan aaltorintaman vaihetta siten, että syntyy vaikutelma kolmiulotteisesta testikuvasta.
Urakuvion sijaan voidaan holografiseen elementtiin 300 valmistaa diffraktiivinen kuviointi, joka saa aikaan halutunkaltaisen aaltorintaman vaiheen 20 ja mahdollisesti myös amplitudin muutoksen kolmiulotteisen testikuvan vaikutelmaa varten. Diffraktiivinen kuviointi voi käsittää esimerkiksi binaarioptiikkaa. :Y: Holografinen elementti voi olla myös tietokoneen näyttö, jossa ole- ·;··· van holografisen kuvan voi valita tietokoneen muistista. Holografinen kuva on .***. tällöin helposti ja nopeasti vaihdettavissa ja kameran detektorille muodostuvan :"*. 25 kuvan laatua voidaan testata useilla holografisilla kuvilla.
• · * j‘Y Ajatellaan aluksi, että holografinen testikuva 302 muodostuu pelkäs- ::i.: tä osakuvasta 3020. Kun valmista holografista kuvaa katsellaan sopivassa va- • * ***** laistuksessa, kuvassa voidaan nähdä kuvattu kohde kolmiulotteisena tai kolmi ulotteisessa tilassa, jolloin siis myös kuvan syvyyssuunta on halutulla tavalla : *“ 30 edustettuna. Holografinen elementti 300 muuttaa optisen säteilyn aaltorinta- maa tavalla, joka muistuttaa todellisesta kohteesta kameralle 202 tulevaa aal-torintamaa. Tällä holografisesti aikaansaadulla syvyyssuuntaisella ominaisuu-..... della voidaan vaikuttaa kameran 202 ja holografisen testikuvan 3020 väliseen **’ etäisyyteen 320 (tai ehkä paremminkin etäisyyden 320 vaikutelmaan). Fyysi- 35 nen testausetäisyys 320 voidaan muuttaa holografisesti näennäiseksi tes-*:**: tausetäisyydeksi 318 käyttäen holografista testikuvaa 3020. Näin voidaan 118452 7 muodostaa fokusoitu kuva 310 holografisesta testikuvasta 3020 halutulla tavalla toimivan kameran 202 detektorille 208.
Kuviossa 3 holografinen testikuva 302 mahdollisine osakuvineen on piirretty katkoviivan avulla paikkaan, johon holografinen elementti 300 testiku-5 van 302 näennäisesti sijoittaa kameran 202 suhteen. Kaksi katkoviivaa 322, 324 esittää kuvan 310 muodostavien säteiden etenemistä testikuvasta 3020 kameran 202 detektorille 208. Koska objektiivi 212 vaikuttaa säteiden 322, 324 taittumiseen, esimerkiksi objektiivin 212 laatu, asentoja sijainti suhteessa detektoriin 208 ovat ratkaisevia detektorille 208 muodostuvan kuvan 310 laadun 10 suhteen. Kameran 202 muodostaman kuvan 310 laatuun vaikuttaa myös detektori 208 ja muut kuvan 310 muodostukseen ja käsittelyyn liittyvät kameran osat.
Testauksessa holografinen elementti 300 ja elektronisen laitteen 200 testattava kamera 202 sijoitetaan toisistaan ennalta määrätylle etäisyydel-15 le B, 320, jossa holografinen elementti 300 on testattavan kameran 202 kuvauskentässä epäfokuksessa. Testattava kamera 202 voi muodostaa kuvan 310 testattavan kameran 202 detektorille 208 holografisesta testikuvasta 3020, joka on näennäisesti etäisyydellä AA, 318. Holografisesta testikuvasta 3020 muodostettu kuva 310 puolestaan välittyy sähköisenä signaalina testausjärjes-20 telmään. Holografinen testikuva 3020 on valmistettu sellaiseksi, että holografinen testikuva 3020 muodostaa halutulla tavalla toimivan kameran 202 detekto-:Y: rille 208 tarkasti fokusoidun kuvan 310, kun holografinen elementti 300 ja tes- *:··· taitava kamera 202 ovat ennalta määrätyllä testausetäisyydellä B toisistaan.
.·*·. Holografisesti aikaansaatu näennäinen testausetäisyys AA vastaa :*!*. 25 halutulla tavalla toimivan kameran fokusointietäisyyttä. Jos taas testattava ka- • · · .’’*.* mera 202 ei tässä testissä toimi halutulla tavalla, kuva 310 ei ole tarkasti foku- • * · ' "!.* soitunut tai kamerassa on muu vika. Ratkaisulla vältetään se, että holografisen ***** elementin 300 pitäisi olla kameran fokuksessa, tai mahdollisesti myös se, että kameralla 202 pitäisi suorittaa tarkennusoperaatio holografisen kuvan saami- : *** 30 seksi halutusti fokukseen.
• ·
Holografinen testikuva 302 voi käsittää useita osakuvia 3020 - 3026, jotka voivat olla samalla tai eri näennäisellä etäisyydellä kamerasta 202.
.···, Jos osakuvat 3020 - 3026 ovat eri näennäisellä etäisyydellä kamerasta 202, • · T on mahdollista testata eri polttovälillä varustettuja kameroita samalla testikuval- 35 la 302. Vaihtoehtoisesti yhdellä polttovälillä varustettujen kameroiden tarken-nusetäisyys voidaan saada selville ainakin likimäärin siitä, mikä eri etäisyyksillä 118452 8 olevista osakuvista 3020 - 3026 kullakin kameralla kuvautuu tarkimmin. Testikuvan 302 eri osakuvat mahdollistavat myös kuvan tarkkuuden ja kameran objektiivin ominaisuuksien määrittämisen. Useita osakuvia 3020 -3026 käytettäessä on mahdollista käyttää holografista elementtiä 300, joka 5 käsittää rakenteellisia osaelementtejä. Tällöin kussakin osaelementissä voi olla yksi tai useampi holografisen testikuvan 302 osakuva.
Koska holografinen testikuva 302 voi olla kameran 202 fokusoitu-misetäisyyttä lähempänä, holografinen testikuva 302 ja holografinen elementti 300 voivat olla todellisuudessa paljonkin pienempiä kuin testikuva 206 kame-10 ran 202 fokusoitumisetäisyydellä (kuviossa 2). Pieni testikuva 302 vaatii pienen holografisen elementin 300, joka voi olla hyvin lähellä kameraa 202, esimerkiksi senttimetrien päässä kamerasta tai jopa kiinni testattavan kameran objektiivissa.
Halutulla tavalla toimiva kamera 202 hyväksytään testissä ja elekt-15 roninen laite 200 voi tältä osin edetä myytäväksi tuotteeksi. Jos testattava kamera 202 ei ole virheetön, ei kameran 202 detektorille 208 muodostuva kuvakaan 310 ole virheetön. Jos detektorille 208 muodostuvan kuvan 310 virheet ylittävät ennalta määrätyn hyväksyttävyyshän, testi voidaan suorittaa uudestaan, elektroninen laite voidaan hylätä, elektroninen laite voidaan korjata tms. 20 Joka tapauksessa liian virheellistä elektronista laitetta ei (tavallisesti) haluta päästää etenemään myytäväksi tuotteeksi tai ei haluta käyttää, jos kyse on jo :Y: käytössä olevasta laitteesta.
• «
Esitetyssä ratkaisussa testattavan kameran holografisesta testiku- .···. vasta detektorille muodostaman kuvan laatu määritetään suhteessa virheettö- • * .*“ 25 mästi toimivaan kameraan. Koska virheettömästi toimiva kamera muodostaa • · · ennalta määrätyn tarkasti kuvan detektorilleen, voidaan virheettömästi toimivan kameran kuvan ja holografisen testikuvan ajatella vastaavan toisiaan täysin tai *·*·* ainakin lähes täysin. Näin testattavan kameran kuvaa voidaan verrata suoraan holografiseen testikuvaan ja kuvien välisen eron perusteella määrittää testatta-: *·· 30 van kameran kuvan laatu. Laatu voidaan määrittää kuvankäsittely-yksikössä, joka voi olla testausjäijestelmän yksikköohjain tai testausohjain.
Kuvan laadun testauksessa voidaan tarkistaa, saadaanko kameralla kuvaa ollenkaan. Jos kuva havaitaan, voidaan kuvan laadun määrityksessä ’•f* käyttää esimerkiksi modulaarista siirtofunktiota (Modular Transfer Function, 35 MTF), joka esittää kameran objektiivin 212 kykyä siirtää testikuvan kontrasti *:**: detektorille muodostamaansa kuvaan spatiaalisen taajuuden funktiona. Tämän 9 118452 sijaan tai lisäksi kuvan laatu voidaan määrittää mittaamalla testikuvana mahdollisesti olevan viivakuvion viivojen erottelukykyä. Edelleen laadun määrittämiseksi voidaan mitata erilaisia aberraatioita kuten palloaberraatiota, astig-maattisuutta, komavirhettä, kuvapinnan kaarevuutta, piirtovirhettä (tynnyri, tyy-5 ny), värivirheitä, terävyysalueita, syväterävyyttä tms. Myös muita kuvan laadun määrityksiä ja/tai määritysmenetelmiä voidaan käyttää. Kuvan laadun avulla voidaan määrittää esimerkiksi kameran objektiivilinssi(e)n asemointi ja pikseli-matriisin kuolleet pikselit. Testikuvana voidaan käyttää ristikkoa, pisteitä, ympyröitä, graafisia kuvioita tai näiden yhdistelmiä. Myös maisema-, henkilö- ja esi-10 nekuvat käyvät testikuvaksi. Jos siis kameran muodostaman kuvan laatu ei ole halutun tason mukainen, voidaan päätellä, että kamerassa on jokin vika.
Holografisen kuvan valaisuun voidaan käyttää valkoista valoa tai muuta haluttua optisen säteilyn kaistaa. Valaisevan optisen säteilyn kaista voi olla kapea tai leveä monokromaattisesta säteilystä useisiin satoihin nanomet-15 reihin. Kapeakaistainen säteily voi olla myös koherenttia ja lisäksi mahdollisesti kollimoitua. Holografista kuvaa valaiseva optinen säteily voi kohdistua holografiseen kuvaan edestä tai takaa.
Kuvio 4 esittää holografisen elementin 300 valaisua. Optisen tehon lähde 400 voi käsittää yhden tai useamman ledin 402, jotka valaisevat hologra-20 fista elementtiä 300 takaa päin suhteessa elektronisen laitteen 200 kameraan 202. Ledin tai ledien sijaan voidaan käyttää yhtä tai useampaa hehkulanka- tai :V: purkauslamppua tai laseria. Myös päivänvalo on monissa tapauksissa mahdol- linen. Holografisen elementin 300 läpi mennyt optinen säteily etenee kameralle .···. 202, joka muodostaa kuvan holografiseen elementtiin 300 tallennetusta holo- 25 grafisesta testikuvasta 302 (tässä kuviossa testikuva 302 on sijoitettu hologra- • t · j*V fiseen elementtiin 300 eikä sen näennäiseen paikkaan kuten kuviossa 3).
Kuvio 5 esittää ratkaisua, jossa valaisu kohdistuu holografiseen * · ***** elementtiin 300 edestä päin. Tässäkin tapauksessa optisen tehon lähde 400 voi käsittää yhden tai useamman ledin, hehkulankalampun, purkauslampun tai ·* : *** 30 laserin. Myös tässä ratkaisussa päivänvalo on mahdollinen. Holografisesta elementistä 300 heijastunut optinen säteily etenee kameralle 202, joka muo-dostaa kuvan holografiseen elementtiin 300 tallennetusta holografisesta testi- • * kuvasta 302. Sekä kuvion 4 että kuvion 5 ratkaisussa optisen tehon lähde 400 *:** voi olla integroitu rakenteellisesti kiinni holografiseen elementtiin 300.
:.·,* 35 Kuvion 6 esittää vielä menetelmän vuokaaviota. Askeleessa 600 ho- lografinen elementti ja elektronisen laitteen testattava kamera sijoitetaan en- 118452 10 naita määrätylle testausetäisyydelle toisistaan kuvan muodostamiseksi holo-grafisesta testikuvasta testattavan kameran detektorille siten, että holografinen elementti on testattavan kameran kuvauskentässä epäfokuksessa. Tämän askeleen lisäksi testaamista voidaan jatkaa askeleella 602, jossa testattava ka-5 mera 202 muodostaa kuvan holografisesta testikuvasta detektorilleen. Edelleen jos halutaan tietää, kuinka hyvin kamera toimii, voidaan suorittaa askel 604, jossa testattavan kameran holografisesta testikuvasta detektorille muodostaman kuvan laatu määritetään.
Vaikka keksintöä on edellä selostettu viitaten oheisten piirustusten 10 mukaiseen esimerkkeihin, on selvää, ettei keksintö ole rajoittunut niihin, vaan sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisten patenttivaatimusten puitteissa.
• · • · * • I I * · * ···'· • · aaa a • · aa# • · • ta ♦ · · ·«« · • a • ta a a a *·# * aa* a * a aa* a* * * a aa a a a a * a * * **a a * a a *·* a a a a *·* a a * a a a a a aa* * • *
Claims (18)
1. Menetelmä kuvan muodostamista varten testattaessa elektronista laitetta (200), joka käsittää kameran (202) muodostaa kuva (310) detektorille (208), tunnettu siitä, että 5 sijoitetaan (600) holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) ennalta määrätylle testausetäisyydelle (320) toisistaan kuvan (310) muodostamiseksi holografisesta testikuvasta (300) testattavan kameran (202) detektorille (208), jolloin testattavan kameran (202) kuvauskentässä epäfokuksessa on holo-10 grafinen elementti (300), jonka holografinen testikuva (302) on sovitettu muodostamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva.
2. Menetelmä testata kuvan laatua elektronissa laitteessa (200), joka käsittää kameran (202) muodostaa kuva (310) detektorille (208), tunne 11 u siitä, että 15 sijoitetaan (600) testauksen yhteydessä holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) ennalta määrätylle testausetäisyydelle (320) toisistaan siten, että testattavan kameran (202) kuvauskentässä epäfokuksessa on holografinen elementti (300), joka käsittää holografisen testikuvan (302) fokusoidun kuvan muodostamiseksi halutulla ta-20 valla toimivan kameran detektorille holografisen elementin (300) ja halutulla .V. tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrätyllä testausetäisyydellä (320) toisistaan; φ · ..... muodostetaan (602) kuva (310) holografisesta testikuvasta (300) i"; testattavalla kameralla (202); ja • · · j,:.: 25 määritetään (604) testattavan kameran (202) holografisesta testiku- • · · :*γ vasta (302) muodostaman kuvan (310) laatu. •' · • · ·♦·
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu :·. siitä, että muutetaan holografisesti fyysinen testausetäisyys (320) näennäiseksi /··. testausetäisyydeksi (318) fokusoidun kuvan (310) muodostamiseksi holografi- • · T 30 sesta testikuvasta (302) halutulla tavalla toimivan kameran detektorille.
• * .··*. 4. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu *** siitä, että valaistaan optisella säteilyllä holografista elementtiä (300) holografi- *···* sen testikuvan (302) muodostamista varten. • · 12 1 1 8452
5. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valaistaan holografista elementtiä (300) ainakin yhdellä ledillä (402).
6. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valaistaan holografista elementtiä (300) optisen tehon lähteellä (400), 5 joka on rakenteellisesti integroitu kiinni holografiseen elementtiin (300).
7. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että holografinen testikuva (302) käsittää useilla eri näennäisillä tes-tausetäisyyksillä (318) olevia osakuvia (3020 - 3026).
8. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu 10 siitä, että sijoitetaan holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) kameran (202) fokusointietäisyyttä lyhemmän etäisyyden päähän toisistaan.
9. Testausjärjestelmä, joka on sovitettu testaamaan elektronista laitetta, joka käsittää kameran (202) muodostaa kuva (310) detektorille (208), 15 tunnettu siitä, että testausjärjestelmä käsittää holografisen elementin (300), ja holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta määrätylle etäisyydelle (320), jossa holografinen elementti (300) on testattavan *'*\ 20 kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja holografinen elementti (300) • «f·* käsittää holografisen testikuvan (302), joka on sovitettu muodostamaan *···** halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holografisen • * : elementin (300) ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta • · ·.:* * määrätyllä testausetäisyydellä (320) toisistaan. ··· t · • ·
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen testausjärjestelmä, tunnet- t u siitä, että testattavan kameran (202) muodostaessa kuvan (310) holografi-sesta testikuvasta (302) testattavan kameran (202) detektorille (208), testaus- • · *·;·’ järjestelmä on sovitettu määrittämään testattavan kameran (202) holografises- *:*·: ta kuvasta (302) muodostaman kuvan (310) laatu. • * **"* 30
11. Patenttivaatimuksen 9 mukainen testausjärjestelmä, tunnet- tu siitä, että holografinen testikuva (302) on sovitettu muuttamaan fyysisen * · 13 1 1 8452 testausetäisyyden (320) näennäiseksi testausetäisyydeksi (318), joka vastaa halutulla tavalla toimivan kameran fokusointietäisyyttä.
12. Patenttivaatimuksen 9 mukainen testausjäijestelmä, tunnet-t u siitä, että testausjäijestelmä käsittää optisen tehon lähteen (400) valaista 5 optisella säteilyllä holografista elementtiä (300).
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen testausjärjestelmä, tunnettu siitä, että optisen tehon lähde (400) käsittää ainakin yhden ledin (402).
14. Patenttivaatimuksen 12 mukainen testausjärjestelmä, tunnettu siitä, että optisen tehon lähde (400) on integroitu rakenteellisesti kiinni 10 holografiseen elementtiin (300).
15. Patenttivaatimuksen 9 mukainen testausjärjestelmä, tunnet-t u siitä, että holografinen testikuva (302) käsittää useilla eri näennäisillä tes-tausetäisyyksillä (318) olevia osakuvia (3020 - 3026).
16. Patenttivaatimuksen 9 mukainen testausjäijestelmä, tunnet-15 t u siitä, että testausjärjestelmä on sovitettu sijoittamaan holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) kameran (202) fokusointietäisyyttä lyhemmän etäisyyden (320) päähän toisistaan.
·*:*: 17. Testauskammio, joka on sovitettu testaamaan elektronista laitet- • · ta, joka käsittää kameran (202) muodostaa kuva (310) detektorille (208), .*··. 20 tunnettu siitä, että testauskammio käsittää • · holografisen elementin (300), ja holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava • · · :;j.: kamera (202) on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta ’···* määrätylle etäisyydelle (320), jossa holografinen elementti (300) on testattavan 25 kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja holografinen elementti (300) : *·· käsittää holografisen testikuvan (302), joka on sovitettu muodostamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holografisen elementin (300) ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta • · määrätyllä testausetäisyydellä (320) toisistaan. • · ··· . .·. 30
18. Testauslaite, joka on sovitettu testaamaan elektronista laitetta, joka käsittää kameran (202) muodostaa kuva (310) detektorille (208), tu n- * · n e 11 u siitä, että testauslaite käsittää 118452 holografisen elementin (300), ja holografinen elementti (300) ja elektronisen laitteen (200) testattava kamera (202) on testauksen aikana sovitettu sijoitettavaksi toisistaan ennalta määrätylle etäisyydelle (320), jossa holografinen elementti (300) on testattavan 5 kameran kuvauskentässä epäfokuksessa, ja holografinen elementti (300) käsittää holografisen testikuvan (302), joka on sovitettu muodostamaan halutulla tavalla toimivan kameran detektorille fokusoitu kuva holografisen elementin (300) ja halutulla tavalla toimivan kameran ollessa ennalta määrätyllä testausetäisyydellä (320) toisistaan. • I • · · * · 1 • 1 * 1 • · • · ··· • t • · · » t · *·· · • 1 • « · • 1 t ··1 1 • · • % ·#· • · • ·« • · • « * • 1 ·Φ· * · • · *·« • · · • 1 · ··· · 15 1 1 8452
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20055018A FI118452B (fi) | 2005-01-13 | 2005-01-13 | Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä |
| US11/794,880 US7907748B2 (en) | 2005-01-13 | 2006-01-12 | Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system |
| DE112006000197T DE112006000197T5 (de) | 2005-01-13 | 2006-01-12 | Verfahren zur Erzeugung von Bildern; Verfahren zum Testen elektronischer Geräte; sowie Testeinrichtung; Testkammer und Testsystem |
| PCT/FI2006/050019 WO2006075052A1 (en) | 2005-01-13 | 2006-01-12 | Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system |
| GB0713484A GB2436764B (en) | 2005-01-13 | 2007-07-11 | Method for forming images, method for testing electronic devices; and test apparatus, test chamber and test system |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20055018A FI118452B (fi) | 2005-01-13 | 2005-01-13 | Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä |
| FI20055018 | 2005-01-13 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20055018A0 FI20055018A0 (fi) | 2005-01-13 |
| FI20055018A FI20055018A (fi) | 2006-07-14 |
| FI118452B true FI118452B (fi) | 2007-11-15 |
Family
ID=34112669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20055018A FI118452B (fi) | 2005-01-13 | 2005-01-13 | Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7907748B2 (fi) |
| DE (1) | DE112006000197T5 (fi) |
| FI (1) | FI118452B (fi) |
| GB (1) | GB2436764B (fi) |
| WO (1) | WO2006075052A1 (fi) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102012104579B4 (de) * | 2012-05-29 | 2019-02-28 | Leuze Electronic Gmbh + Co. Kg | Optischer Sensor |
| US11756390B2 (en) | 2018-02-20 | 2023-09-12 | Arlo Technologies, Inc. | Notification priority sequencing for video security |
| US11272189B2 (en) | 2018-02-20 | 2022-03-08 | Netgear, Inc. | Adaptive encoding in security camera applications |
| US11076161B2 (en) | 2018-02-20 | 2021-07-27 | Arlo Technologies, Inc. | Notification priority sequencing for video security |
| US11102492B2 (en) | 2018-02-20 | 2021-08-24 | Arlo Technologies, Inc. | Multi-sensor motion detection |
| US11064208B2 (en) | 2018-02-20 | 2021-07-13 | Arlo Technologies, Inc. | Transcoding in security camera applications |
| US11558626B2 (en) | 2018-02-20 | 2023-01-17 | Netgear, Inc. | Battery efficient wireless network connection and registration for a low-power device |
| US10742998B2 (en) | 2018-02-20 | 2020-08-11 | Netgear, Inc. | Transmission rate control of data communications in a wireless camera system |
| US10805613B2 (en) * | 2018-02-20 | 2020-10-13 | Netgear, Inc. | Systems and methods for optimization and testing of wireless devices |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1250472A (en) * | 1983-04-05 | 1989-02-28 | Masane Suzuki | Camera finder |
| US4905216A (en) * | 1986-12-04 | 1990-02-27 | Pencom International Corporation | Method for constructing an optical head by varying a hologram pattern |
| JP3512092B2 (ja) | 1994-07-29 | 2004-03-29 | マツダ株式会社 | キャリブレーション装置 |
| DE19727281C1 (de) * | 1997-06-27 | 1998-10-22 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Verfahren und Vorrichtung zur geometrischen Kalibrierung von CCD-Kameras |
| US6147702A (en) * | 1998-04-17 | 2000-11-14 | Intel Corporation | Calibration of digital cameras |
| DE10013299C2 (de) * | 2000-03-09 | 2003-04-17 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Verfahren und Vorrichtung zur geometrischen Kalibrierung pixelorientierter photosensitiver Elemente |
-
2005
- 2005-01-13 FI FI20055018A patent/FI118452B/fi not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-01-12 DE DE112006000197T patent/DE112006000197T5/de not_active Withdrawn
- 2006-01-12 WO PCT/FI2006/050019 patent/WO2006075052A1/en not_active Application Discontinuation
- 2006-01-12 US US11/794,880 patent/US7907748B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-07-11 GB GB0713484A patent/GB2436764B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE112006000197T5 (de) | 2008-02-21 |
| US20080123101A1 (en) | 2008-05-29 |
| WO2006075052A1 (en) | 2006-07-20 |
| GB2436764B (en) | 2010-09-01 |
| GB0713484D0 (en) | 2007-08-22 |
| FI20055018A0 (fi) | 2005-01-13 |
| GB2436764A (en) | 2007-10-03 |
| US7907748B2 (en) | 2011-03-15 |
| FI20055018A (fi) | 2006-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI118452B (fi) | Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä | |
| JP5341351B2 (ja) | 共焦点顕微鏡システムの基本原理に基づく測定装置及び方法 | |
| JP4823212B2 (ja) | 共焦点顕微鏡法の原理に基づく測定装置および方法 | |
| US20110311132A1 (en) | Wavefront analysis inspection apparatus and method | |
| CN108780035A (zh) | 成像装置以及成像方法 | |
| CN102818555A (zh) | 用于测量到物体距离的系统和方法 | |
| CN110389021A (zh) | 透镜图像产生系统及屈光能力和厚度确定与缺陷检测方法 | |
| JP2021527207A (ja) | 共焦点カメラにおいて動的投影パターンを生成するための装置、方法、およびシステム | |
| JP2010281626A (ja) | 光学特性検査装置 | |
| JP2004271381A (ja) | スペックル干渉計装置 | |
| JP2008026049A (ja) | フランジ焦点距離測定装置 | |
| KR102501212B1 (ko) | 관통 구멍의 기하학적 파라미터를 측정하기 위한 방법 및 시스템 | |
| KR20020093507A (ko) | 부품 검사 장치 | |
| CN109387488A (zh) | 一种光学玻璃折射率的快速测量方法及仪器 | |
| JP2010503832A (ja) | 三次元の流れ測定装置及び測定方法 | |
| JP3228458B2 (ja) | 光学的３次元計測装置 | |
| KR101269128B1 (ko) | 중간시점 영상 생성기를 갖는 표면 거칠기 측정 장치 및 방법 | |
| Middendorf et al. | Miniaturization of borescopic fringe projection systems for the inspection in confined spaces: a methodical analysis | |
| JP2004101213A (ja) | 光学系のｍｔｆを測定する装置及び方法 | |
| JP7181602B2 (ja) | レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 | |
| CN216349485U (zh) | 一种测量摄像头离焦量的装置 | |
| KR102211315B1 (ko) | 광학 시스템 검사 장치 | |
| CN218584314U (zh) | 一种镜头法兰距的检测设备 | |
| US11714051B2 (en) | Metrology system configured to measure apertures of workpieces | |
| CN210899448U (zh) | 一种测试装置及电子设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PC | Transfer of assignment of patent |
Owner name: ELEKTROBIT TESTING OY Free format text: ELEKTROBIT TESTING OY |
|
| PC | Transfer of assignment of patent |
Owner name: JOT AUTOMATION OY Free format text: JOT AUTOMATION OY |
|
| FG | Patent granted |
Ref document number: 118452 Country of ref document: FI |
|
| MM | Patent lapsed |