JP7181602B2 - レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 - Google Patents
レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7181602B2 JP7181602B2 JP2019095928A JP2019095928A JP7181602B2 JP 7181602 B2 JP7181602 B2 JP 7181602B2 JP 2019095928 A JP2019095928 A JP 2019095928A JP 2019095928 A JP2019095928 A JP 2019095928A JP 7181602 B2 JP7181602 B2 JP 7181602B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image pickup
- imaging element
- confocal optical
- pickup device
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Description
測距用素子を配した撮像素子を使用したカメラでは、撮像素子面において測距用素子が配列されていない面と測距用素子が配列されている面では、共焦点光学系を搭載したカメラ試験機に得られる撮像素子面の反射光量に差異の生じることがある。
共焦点光学系21は、一例としてLEDによる点光源2a、この点光源2aの光軸上に置いたビームスプリッタ2b、ビームスプリッタ2bの反射光軸上に置いたコリメータレンズ2c、コリメータレンズ2cの光軸上の前方に配置された対物レンズ2d、対物レンズ2dの焦点に設定される撮像素子CIの反射像が前記コリメータレンズ2cとビームスプリッタ2bの透過光軸を通って結像する位置に置かれた受像素子2eとを備えて構成されている。このほかの共焦点光学系22~25も、上記の共焦点光学系21と同一構成である。図1の基枠1において各対物レンズ2dの焦点に設定されている符号P1~P5は、図2に正面図で示した撮像素子CIの撮像素子面における5個の測定ポイント(測定点)P1~P5に対応している。
CI 撮像素子
P1~P5 測定ポイント
1 基枠
2 1~25共焦点光学系
3a レンズマウント
3b 伝動機構
3c モータ類
4 駆動制御部
5 リニアスケール
6 光源制御部
71~72 処理制御部
Claims (4)
- 点光源、ビームスプリッタ、受光素子、コリメータレンズ、対物レンズを備えた共焦点光学系を用いて前記点光源の共焦点にレンズ交換式カメラ(以下、カメラともいう)の撮像素子を配置し、前記点光源を作動させて前記受光素子に得られる前記撮像素子の前記点光源の反射画像によって前記カメラのフランジバック、又は撮像素子の位置を測定するとき、前記撮像素子に対し前記対物レンズを移動させ、その移動の微小ピッチにおいて前記受光素子に得られる複数フレームの画像データを2次元高速フーリエ変換して統計処理し、各処理データが示す空間周波数とその周波数成分のピーク部を求め、当該ピーク部の前記撮像素子に定められた基準位置からのずれを判読し、前記フランジバックの適否または、撮像素子の位置の適否を判断することを特徴とするフランジバック又は撮像素子位置の検査方法。
- 撮像素子の測定位置又は測定ポイントは、撮像素子面の5箇所又は3箇所を含む複数箇所であり、前記複数箇所の測定ポイントに対する共焦点系光学系は、複数箇所の測定ポイントを夫々に測定する複数系統の共焦点光学系である請求項1のフランジバック又は撮像素子位置の検査方法。
- 複数系統の共焦点光学系における撮像素子面に対する各対物レンズの移動は、複数系統それぞれの共焦点光学系ごとに移動させる個別移動方式、又は複数系統の共焦点光学系を1つのケーシングに収めケーシングごと移動させる全体移動方式のいずれかである請求項1又は2のフランジバック又は撮像素子位置の検査方法。
- 対物レンズの撮像素子への前進距離は1.0mm~2.0mmであり、この移動の間に受光素子を通して変換処理される撮像素子の反射画像は少なくとも200~300フレーム/秒である請求項1~3のいずれかのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019095928A JP7181602B2 (ja) | 2019-05-22 | 2019-05-22 | レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019095928A JP7181602B2 (ja) | 2019-05-22 | 2019-05-22 | レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020190478A JP2020190478A (ja) | 2020-11-26 |
JP7181602B2 true JP7181602B2 (ja) | 2022-12-01 |
Family
ID=73453606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019095928A Active JP7181602B2 (ja) | 2019-05-22 | 2019-05-22 | レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7181602B2 (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325517A (ja) | 2003-04-21 | 2004-11-18 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JP2006178173A (ja) | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カメラ |
JP2008191122A (ja) | 2007-02-08 | 2008-08-21 | Toshiba Corp | 表面形状測定装置及び方法 |
JP2014211479A (ja) | 2013-04-17 | 2014-11-13 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2017096656A (ja) | 2015-11-18 | 2017-06-01 | 富士通株式会社 | 姿勢計測装置、方法及びプログラム |
JP2019056759A (ja) | 2017-09-20 | 2019-04-11 | キヤノン株式会社 | 像ズレ量算出装置及び方法、撮像装置、デフォーカス量算出装置、及び、距離算出装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04235490A (ja) * | 1991-01-10 | 1992-08-24 | Toshiba Corp | 固体撮像センサの位置調整装置 |
-
2019
- 2019-05-22 JP JP2019095928A patent/JP7181602B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325517A (ja) | 2003-04-21 | 2004-11-18 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JP2006178173A (ja) | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カメラ |
JP2008191122A (ja) | 2007-02-08 | 2008-08-21 | Toshiba Corp | 表面形状測定装置及び方法 |
JP2014211479A (ja) | 2013-04-17 | 2014-11-13 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2017096656A (ja) | 2015-11-18 | 2017-06-01 | 富士通株式会社 | 姿勢計測装置、方法及びプログラム |
JP2019056759A (ja) | 2017-09-20 | 2019-04-11 | キヤノン株式会社 | 像ズレ量算出装置及び方法、撮像装置、デフォーカス量算出装置、及び、距離算出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020190478A (ja) | 2020-11-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108332708B (zh) | 激光水平仪自动检测系统及检测方法 | |
US20040109170A1 (en) | Confocal distance sensor | |
JP2008523370A (ja) | 共焦点顕微鏡システムの基本原理に基づく測定装置及び方法 | |
KR102099977B1 (ko) | 콜리메이터쌍을 이용한 카메라 특성 관리장치 | |
JP5662174B2 (ja) | Afレンズユニットの特性検査装置およびその特性検査方法、制御プログラム、可読記憶媒体 | |
FI118452B (fi) | Menetelmä muodostaa kuva, menetelmä testata elektronista laitetta ja testauslaite, testauskammio ja testausjärjestelmä | |
JP2012508927A (ja) | 高速光学コード読取 | |
US20230266117A1 (en) | Wafer inspection system including a laser triangulation sensor | |
KR101754108B1 (ko) | 카메라 렌즈에 의한 비네팅을 측정하는 시스템 | |
EP1371969A1 (en) | Sensor alignment method for 3D measurement systems | |
CN113513997B (zh) | 光源、光路系统、单目采集系统、传感器及应变检测系统 | |
US20160238380A1 (en) | Image measuring method and image measuring apparatus | |
JP2015108582A (ja) | 3次元計測方法と装置 | |
KR20180053119A (ko) | 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법 | |
JP7181602B2 (ja) | レンズ交換式カメラのフランジバック又は撮像素子位置の検査方法 | |
JP2011145160A (ja) | マルチフォーカス検査装置及びマルチフォーカス検査方法 | |
JP7134253B2 (ja) | ワーク検査装置及びワーク検査方法 | |
JP7516728B2 (ja) | 走査測定方法及び走査測定装置 | |
JP7161877B2 (ja) | レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定装置の作動方法 | |
KR101269128B1 (ko) | 중간시점 영상 생성기를 갖는 표면 거칠기 측정 장치 및 방법 | |
KR101391837B1 (ko) | 웨이퍼의 워프(Warp) 인스펙션 장치 | |
JP2011232283A (ja) | 立体形状測定装置、検査装置及び立体形状測定用調整方法 | |
CN221484772U (zh) | 可变物距光学检测系统 | |
JP7198731B2 (ja) | 撮像装置、及びフォーカス調整方法 | |
TWI735337B (zh) | 線性位移校正方法及使用其方法的檢測設備 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190610 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210628 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220524 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220722 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221111 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7181602 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |