DE112006000197T5 - Verfahren zur Erzeugung von Bildern; Verfahren zum Testen elektronischer Geräte; sowie Testeinrichtung; Testkammer und Testsystem - Google Patents

Verfahren zur Erzeugung von Bildern; Verfahren zum Testen elektronischer Geräte; sowie Testeinrichtung; Testkammer und Testsystem Download PDF

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Abstract

Verfahren zur Ausbildung eines Bilds beim Testen eines elektronischen Geräts (200), das eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, gekennzeichnet durch
Anordnen (600) eines holographischen Elements (300) und einer Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander, damit das Bild (310) des holographischen Testbildes (300) auf dem Detektor (208) der Kamera (202), die untersucht wird, ausgebildet wird, wobei
das Bildfeld der Kamera (202), die getestet wird, ein nicht fokussiertes holographisches Element (300) aufweist, dessen holographisches Testbild so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet.

Description

  • GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung von Bildern, ein Verfahren zum Testen eines elektronischen Geräts, sowie ein Testsystem.
  • HINTERGRUND
  • Der Test eines elektronischen Geräts ist äußerst wesentlich, bevor es für den Verkauf ausgeliefert wird. Die Grundlage des Testens besteht darin, sicherzustellen, dass ein elektronisches Gerät, beispielsweise ein Mobiltelefon, sich in perfektem Arbeitszustand befindet, und konstruktiv fehlerlos ist. Während des Tests kann das elektronische Gerät, das getestet wird, in eine Testkammer eingebracht werden, durch eine Türöffnung, um mit einer Spannvorrichtung von dieser verbunden zu werden, welche das elektronische Gerät, das getestet wird, an seinem Ort festhält, und als eine Benutzerschnittfläche für das elektronische Gerät dient. Das elektronische Gerät wird durch die Spannvorrichtung gesteuert, und Messsignale werden von dem elektronischen Gerät an eine Signalverarbeitungseinrichtung übertragen.
  • Die Spannvorrichtung kann Sensoren oder Stellglieder und dergleichen aufweisen, die das Ausführen verschiedener Tests ermöglichen. Am Ende einer Testsequenz für das elektronische Gerät, mit welchem der Test durchgeführt wurde, wird es von der Testkammer durch die Türöffnung transportiert, und wird ein neues elektronisches Gerät, das getestet werden soll, in die Testkammer eingegeben.
  • Was bei einem elektronischen Gerät getestet werden kann, das eine Kamera aufweist, sind deren optischen Eigenschaften. Daher kann die Kamera dazu eingesetzt werden, ein Testbild aufzunehmen, das in einem Bildelement gespeichert wird. Das Bildelement wird in einer Fokussierentfernung der Kamera angeordnet, damit die Abbildung exakt erfolgt. Die kürzeste ordnungsgemäße Fokussierentfernung von dem Bildelement zu der Kamera, die keinen Bildfokussierungsmechanismus aufweist, kann beispielsweise im Bereich von 0,5 m bis 1,5 m liegen. Eine derartig signifikante Entfernung zwischen dem Testbild und der Kamera ist äußerst unbequem, insbesondere bei der Herstellung des Geräts. Darüber hinaus muss infolge der signifikanten Entfernung das Testbild groß sein, um den gesamten Bildbereich der Kamera auszufüllen.
  • Eine Kamera, die mit einem Fokussierungsmechanismus versehen ist, kann auch dazu verwendet werden, das Testbild in der Nähe zu fokussieren, jedoch wird für das Fokussieren immer ein Fokussiervorgang sowie Zeit benötigt. Andererseits kann eine Kamera, die mit einem Fokussierungsmechanismus versehen ist, keine Fokussierung in einer derartig kurzen Entfernung durchführen, wie sie der Test erfordert, da in einer kompakten Testsituation das Bildelement typischerweise nicht weiter entfernt als mehrere Zentimeter von der Kamera angeordnet werden kann.
  • KURZE BESCHREIBUNG
  • Ein Vorteil der Erfindung besteht in der Bereitstellung eines verbesserten Verfahrens zur Erzeugung eines Bildes, eines Verfahrens zum Testen der Qualität des Bildes, und einer Testkammer, einer Testeinrichtung und eines Testsystems, die für die Verfahren geeignet sind.
  • Dieser Vorteil wird durch ein Verfahren zur Erzeugung eines Bildes erzielt, wenn ein elektronisches Gerät getestet wird, welches eine Kamera zur Ausbildung eines Bildes auf einem Detektor aufweist. Weiterhin werden bei diesem Verfahren ein holographisches Element und eine Kamera, die getestet wird, des elektronischen Geräts in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet, um ein Bild des holographischen Testbildes auf dem Detektor der Kamera auszubilden, die getestet wird, wobei in diesem Fall das Bildfeld der Kamera, die getestet wird, ein unfokussiertes holographisches Element aufweist, dessen holographisches Testbild so ausgebildet ist, dass ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausgebildet wird, die je nach Wunsch arbeitet.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Testen der Qualität des Bildes bei einem elektronischen Gerät, das eine Kamera zur Ausbildung eines Bildes auf einem Detektor aufweist. Weiterhin umfasst das Verfahren das Anordnen, wenn der Test ausgeführt wird, eines holographischen Elements und einer Kamera, die getestet wird, des elektronischen Geräts in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander auf solche Art und Weise, dass das Bildfeld der Kamera, die getestet wird, ein unfokussiertes holographisches Element aufweist, welches ein holographisches Testbild zur Ausbildung eines fokussierten Bildes auf dem Detektor der Kamera aufweist, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet werden, wobei ein Bild von dem holographischen Testbild mit der Kamera ausgebildet wird, die getestet wird, und die Qualität des aus dem holographischen Testbild hergestellten Bildes der Kamera bestimmt wird, die getestet wird.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin ein Testsystem, das so ausgebildet ist, dass ein elektronisches Gerät getestet wird, das eine Kamera aufweist, um ein Bild auf einem Detektor zu erzeugen. Weiterhin weist das Testsystem ein holographisches Element auf, und werden das holographische Element und die Kamera, die getestet wird, des holographischen Geräts während des Tests so angeordnet, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung voneinander angeordnet sind, wobei das holographische Element nicht in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, fokussiert ist, und das holographische Element ein holographisches Testbild aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element und die Kamera, die wie gewünscht arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet werden.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin eine Testkammer, die so ausgebildet ist, dass sie ein elektronisches Gerät testet, das eine Kamera zur Ausbildung eines Bilds auf einem Detektor aufweist. Weiterhin weist die Testkammer ein holographisches Element auf, und sind das holographische Element und die Kamera, die getestet wird, des elektronischen Geräts während des Tests so angeordnet, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung voneinander angeordnet sind, während das holographische Element nicht in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, fokussiert ist, und das holographische Element ein holographisches Testbild aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet sind.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin eine Testeinrichtung, die so ausgebildet ist, dass sie ein elektronisches Gerät testet, das eine Kamera zur Ausbildung eines Bildes auf dem Detektor aufweist. Weiterhin weist die Testeinrichtung ein holographisches Element auf, und sind das holographische Element und die Kamera, die getestet wird, des elektronischen Gerätes während des Tests so angeordnet, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung voneinander angeordnet sind, während das holographische Element in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist, und das holographische Element ein holographisches Testbild aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet werden.
  • Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind in den abhängigen Patentansprüchen angegeben.
  • Die Lösung gemäß der Erfindung stellt verschiedene Vorteile zur Verfügung. Das Bildelement, das beim Test verwendet wird, kann unabhängig von der Fokussierungsentfernung der Kamera innerhalb des Bereiches angeordnet werden, der mit der Kamera aufgenommen wird, während das tatsächliche Bild in der Fokussierungsentfernung der Kamera verbleibt, die je nach Wunsch arbeitet. Weiterhin ist das Ausführen eines Fokussierungsvorgangs der Kamera nicht erforderlich, obwohl die Lösung dieses ermöglicht.
  • LISTE VON ZEICHNUNGEN
  • Nachstehend wird die Erfindung mit weiteren Einzelheiten anhand der bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, bei welchen
  • 1 ein Testsystem zeigt,
  • 2 eine Kamera zeigt, die ein Testbild in ihrer Fokussierungsentfernung aufnimmt,
  • 3 eine Kamera zeigt, die holographische Testbilder aufnimmt,
  • 4 eine Beleuchtung des Testbildes von hinten aus zeigt,
  • 5 eine Beleuchtung des Testbildes von vorn aus zeigt, und
  • 6 ein Flussdiagramm des Verfahrens zeigt.
  • BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Die dargestellte Lösung ist bei dem Test einer Digitalkamera einsetzbar.
  • Zunächst betrachten wir näher ein Testsystem, das beim Testen eines elektronischen Geräts eingesetzt werden kann, wie in 1 gezeigt. Das Testsystem weist zumindest eine Testeinrichtung 100 zur Ausführung eines Tests elektronischer Geräte auf. Die Testeinrichtung 100 kann in einem Test-Tragwerk 102 angeordnet sein, beispielsweise in einem Gestellgehäuse von 19'', wobei das Bezugszeichen '' einen Zoll bezeichnet, der gleich 25,4 mm ist. Die Testeinrichtung kann auch anders angeordnet sein. Der Test wird während der Herstellung des Geräts oder zu anderen Zeitpunkten vor dem Verkauf durchgeführt. Ein elektronisches Gerät kann auch nach dem Verkauf getestet werden, falls dies gewünscht wird.
  • Das Test-Tragwerk 102 kann beispielsweise zwei Testeinheiten 104106 aufweisen, Testeinrichtungen 108110, eine Teststeuerung 112, einen Monitor 114, und ein Fördersystem 116. Die Testeinheit kann Testeinrichtungen aufweisen, eine Testeinheitssteuerung, einen Steuerbus, eine Energieversorgungsquelle, usw. (nicht in 1 gezeigt). Die Testeinrichtungen führen einen Test des elektronischen Geräts, das getestet wird, gesteuert durch die Teststeuerung 112 und die Einheitssteuerung durch. Die Einheitssteuerung, die mit einem Mikroprozessor und geeigneten Programmen versehen sein kann, kann ebenfalls zur Vorbereitung von Signalen eingesetzt werden, beispielsweise zum Filtern. Allerdings ist eine Einheitssteuerung nicht unbedingt erforderlich. Eine Teststeuerung 112 kann als die Steuervorrichtung jeder Testeinheit über den Steuerbus arbeiten. Sowohl die elektronischen Bauteile der Testeinheit als auch des elektronischen Gerätes, das getestet wird, können elektrische Energie empfangen, die von der Energieversorgungsquelle der Testeinheit eingesetzt wird.
  • Die Testeinrichtung kann eine Verkabelung (nicht in 1 gezeigt) aufweisen, durch welche das elektronische Gerät, das getestet wird (DUT) und die Testelektronik der Testeinheit miteinander über eine Spannvorrichtung und eine Testhandler-Verbinder-Schnittstelle verbunden sind, die dazu gehört.
  • Datenübertragung des Testhandlers und der Testsystemsteuerung werden über die Verkabelung durchgeführt.
  • Die elektronischen Geräte, die getestet werden, werden in die Testeinheiten 104106 der Testeinrichtung 100 durch die Türöffnungen 120124 in der Testeinrichtungskonstruktion eingegeben. Die mechanischen Teile der Spannvorrichtung ermöglichen, das elektronische Gerät, das getestet wird, während des Tests zu befestigen, und auch in ausreichender Weise die möglicherweise erforderlichen elektrischen, mechanischen und optischen Verbindungen einzurichten. Die Spannvorrichtung kann Sensoren, Kontaktoberflächen, optische und akustische Bauelemente oder Stellglieder aufweisen, die das Durchführen mechanischer Tests ermöglichen.
  • Bei der gezeigten Lösung besteht das Ziel darin, das Testsystem dazu einzurichten, ein elektronisches Gerät zu testen, welches eine Kamera aufweist, um ein Bild auf seinem Detektor zu erzeugen. Der Detektor kann beispielsweise ein Element sein, das aus einer Pixelmatrix besteht, beispielsweise eine CCD (ladungsgekoppelte Vorrichtung), ein CMOS-Element (komplementärer Metalloxidhalbleiter), oder dergleichen. Das elektronische Gerät kann daher eine Kamera sein, oder es kann die Kamera ein Teil des elektronischen Gerätes darstellen. Zunächst betrachten wir näher 2, bei welcher eine Lösung nach dem Stand der Technik zum Testen eines elektronischen Geräts 200 dargestellt ist, das eine Kamera 202 aufweist. Ein Bildelement 204, das ein Testbild 206 aufweist, ist in einer derartigen Entfernung A, 220 gegenüber der getesteten Kamera 202 angeordnet, dass dann, wenn die Kamera 202, die getestet wird, fehlerfrei betätigt wird, diese das Testbild 206 auf dem Bildelement 204 ihres Detektors 208 als ein scharfes Bild 210 fokussieren kann. Das Bildelement 204 kann das Material, an welchem das Bild angeordnet ist, umfassen, die Unterstützung, den Hintergrund und/oder den Rahmen des Bildes. Zwei gestrichelte Linien 222, 224 zeigen den Fortschritt der Strahlen, welche das Bild 210 ausbilden, von dem Testbild 206 zum Detektor 208 der Kamera 202. Typischerweise wird das Bildelement 204 ebenfalls dann exakt auf dem Detektor 208 fokussiert. Die kürzeste, exakte Fokussierentfernung 220 von dem Bildelement 204 zur Kamera 202, die keinen Fokussierungsmechanismus aufweist, sondern nur eine einzelne Brennweitenlinse 212, kann im Bereich von beispielsweise 0,5 m bis 1,5 m liegen. Eine Kamera, die eine einzige Fokussierentfernungslinse aufweist, kann nicht dazu eingesetzt werden, scharfe Bilder in kürzerer Entfernung aufzunehmen, da dann, wenn eine kürzere Brennweite der Linse zum Erhalten scharfer Bilder im Nahbereich eingesetzt würde, Objekte weiter entfernt ungenau dargestellt würden, oder die Öffnung klein gehalten werden müsste, so dass die Kamera nur bei hellem Licht betrieben werden könnte, oder eine in der Praxis unakzeptable lange Belichtungszeit erforderlich wäre. Eine Kamera, die mit einem Fokussierungsmechanismus versehen ist, kann sogar ein Testbild in der Nähe fokussieren, aber das Fokussieren benötigt immer einen Fokussierungsvorgang und Zeit für diesen.
  • 3 erläutert eine Lösung, bei welcher ein holographisches Element 300 als eine Testeinrichtung oder als ein Teil der Testeinrichtung eingesetzt wird, die in einer Testkammer des Testsystems angeordnet ist. Das holographische Element 300 weist ein holographisches Testbild 302 auf, welches die Auswirkung der Entfernung zwischen der Kamera 202 und dem holographischen Testbild 302 ändert.
  • Ein holographisches Bild kann optisch für ein holographisches Element 300 erzielt werden, welches typischerweise plattenförmig ausgebildet ist, durch Fokussieren, auf dem holographischen Element 300, kohärenter optischer Strahlung, die direkt von einem Laser ankommt, und optischer Strahlung, die reflektiert wird, gestreut wird, oder durch das zu abbildende Objekt hindurchgeht. Nach der Entwicklung ist das holographische Bild fertig. Ein holographisches Bild kann ebenfalls dadurch hergestellt werden, dass das Ziel abgebildet wird, unter Verwendung von zumindest zwei Kameras, aus in gewisser Weise unterschiedlichen Winkeln, und durch Ausbildung, aus den erhaltenen Bildern, eines dreidimensionalen Computerbilds, aus welchem ein Hologramm wiederum durch Computerunterstützung ausgebildet werden kann. Daher kann das holographische Bild mit Hilfe eines holographischen Druckers gedruckt werden. Anstatt der Abbildung kann ein Computer auch dazu eingesetzt werden, direkt (beispielsweise durch Aufnehmen, Bildverarbeitung) ein dreidimensionales Bild zu erzeugen, das mit Hilfe des Computers in ein digitales Hologramm umgewandelt wird, und dann gedruckt wird. Auf diese Weise ist die optische Abbildung nicht notwendigerweise erforderlich, um ein holographisches Testbild zu erzeugen.
  • Das holographische Element 300 kann eine entwickelte Emulsion aufweisen, in welcher ein holographisches Bild gespeichert ist, das unter Verwendung einer optischen Abbildung erzeugt wird, eine Trägerkonstruktion (Papier, Glas, Kunststoff usw.) der Emulsion, und einen Rahmen, an welchem die Emulsion und die Halterungsanordnung befestigt werden.
  • Eine Form, die typischerweise aus Metall besteht, kann ebenfalls als das Hologramm eingesetzt werden. Die Form ist mit eingravierten Nuten versehen. Wenn die Form zur Ausbildung des holographischen Elements 300 beispielsweise aus Kunststoff eingesetzt wird, wird das Nutmuster auf das holographische Element 300 übertragen. Das Nutmuster des holographischen Elements 300 ändert wiederum die Phase der Wellenfront, die auf das holographische Element 300 fokussiert wird, auf solche Art und Weise, dass der Eindruck eines dreidimensionalen Testbildes hervorgerufen wird.
  • Anstatt des Nutmusters kann das holographische Element 300 mit einem Beugungsmuster versehen sein, welches die Erzielung der gewünschten Wellenfrontphase ermöglicht, und möglicherweise auch eine Amplitudenänderung für den Eindruck des dreidimensionalen Testbildes. Das Beugungsmuster kann beispielsweise binäre Optiken aufweisen.
  • Das holographische Element kann ebenfalls eine Computeranzeige sein, und das holographische Element hierbei kann aus dem Speicher des Computers ausgewählt werden. Das holographische Bild kann dann einfach und schnell geändert werden, und die Qualität des auf dem Detektor der Kamera ausgebildeten Bildes kann durch verschiedene holographische Bilder getestet werden.
  • Nunmehr wird angenommen, dass zuerst das holographische Testbild 302 aus einem Unterbild 3020 besteht. Wenn das fertig gestellte holographische Bild in geeignetem Licht untersucht wird, kann das dargestellte Target in dem Bild als ein dreidimensionales Bild oder in einem dreidimensionalen Zustand gezeigt werden, wobei in diesem Fall auch die Tiefe des Bildes je nach Wunsch dargestellt wird. Das holographische Element 300 ändert die Wellenfront der optischen Strahlung auf solche Weise, welche der Wellenfront von dem tatsächlichen Ziel ähnelt, die bei der Kamera 202 ankommt. Dieses holographisch erzielte Merkmal in Richtung der Tiefe kann dazu eingesetzt werden, die Entfernung 320 zwischen der Kamera 202 und dem holographischen Testbild 3020 (oder dem Eindruck der Entfernung 320) zu beeinflussen. Das physikalische Testbild 320 kann holographisch zu einer anscheinenden Testentfernung 318 mit Hilfe des holographischen Testbildes 3020 geändert werden. Auf diese Weise kann ein fokussiertes Bild 310 auf dem holographischen Testbild 3020 ausgebildet werden, je nach Erfordernis, auf dem Detektor 208 der Kamera 202.
  • In 3 ist das holographische Testbild 302 mit dessen möglichen Unterbildern mit einer gestrichelten Linie an einem Ort dargestellt, an welchem das holographische Element 300 anscheinend das Testbild 302 in Bezug auf die Kamera 202 anordnet. Zwei gestrichelte Linien 322, 324 zeigen den Fortschritt der Strahlen, welche das Bild 310 von dem Testbild 3020 des Detektors 208 der Kamera 202 ausbilden. Da die Linse 212 die Brechung der Strahlen 322, 324 beeinflusst, spielen beispielsweise die Qualität, die Position und der Ort der Linse 212 in Bezug auf den Detektor 208 eine entscheidende Rolle in Bezug auf die Qualität des Bildes 310, das auf dem Detektor 208 ausgebildet wird. Der Detektor 208 und andere Teile, die bei der Ausbildung und der Handhabung des Bildes 310 beteiligt sind, beeinflussen ebenfalls die Qualität des Bildes 310, das von der Kamera 202 aufgenommen wird.
  • Beim Test werden das holographische Element 300 und die Kamera 202, die getestet wird, des elektronischen Geräts in einer vorbestimmten Entfernung B, 320 voneinander angeordnet, wobei das holographische Element 300 in dem Bildfeld der Kamera 202, die getestet wird, nicht fokussiert ist. Die Kamera 202, die getestet wird, kann ein Bild 310 auf dem Detektor 208 der Kamera 202, die getestet wird, von dem holographischen Testbild 3020 erzeugen, das anscheinend in einer Entfernung AA, 318 angeordnet ist. Das Bild 310, das aus dem holographischen Testbild 3020 erzeugt wird, wird wiederum als ein elektrisches Signal an das Testsystem übertragen. Das holographische Testbild 3020 wird so ausgebildet, dass das holographische Testbild 3020 den Detektor 208 der Kamera 202, die je nach Wunsch arbeitet, mit einem scharfen fokussierten Bild 310 versorgt, wenn das holographische Element 300 und die Kamera 202, die getestet wird, sich in einer vorbestimmten Testentfernung B voneinander befinden.
  • Die holographisch erhaltene, anscheinende Testentfernung AA entspricht der Fokussierungsentfernung der Kamera, die je nach Wunsch arbeitet. Falls wiederum die Kamera 202, die getestet wird, nicht wie gewünscht bei diesem Test arbeitet, ist dann das Bild 310 nicht scharf fokussiert, oder arbeitet dann die Kamera nicht fehlerfrei. Was gemäß der vorliegenden Erfindung verhindert wird, besteht darin, dass das holographische Element 300 im Brennpunkt der Kamera angeordnet sein sollte, oder möglicherweise in der Tatsache, dass die Kamera 202 dazu fähig sein sollte, einen Fokussiervorgang durchzuführen, um ein holographisches Bild wie gewünscht im Brennpunkt zu erzielen.
  • Das holographische Testbild 302 kann einige Unterbilder 3020 bis 3026 aufweisen, die in derselben oder einer unterschiedlichen anscheinenden Entfernung von der Kamera 202 angeordnet sein können. Wenn die Unterbilder 3020 bis 3026 in einer unterschiedlichen anscheinenden Entfernung von der Kamera 202 angeordnet sind, ist es möglich, die Kameras, die eine unterschiedliche Brennweite aufweisen, mit demselben Testbild 302 zu testen. Alternativ kann die Fokussierungsentfernung der Kameras, die eine Brennweite aufweisen, zumindest annähernd aus der Tatsache erhalten werden, die sich darauf bezieht, welches der Unterbilder 3020 bis 3026, die an unterschiedlichen Entfernungen angeordnet sind, am schärfsten mit jeder Kamera abgebildet werden. Die unterschiedlichen Unterbilder des Testbildes 302 ermöglichen darüber hinaus die Bestimmung der Schärfe des Bildes und der Eigenschaften der Kameralinse. Wenn mehrere Unterbilder 3020 bis 3026 eingesetzt werden, ist es möglich, ein holographisches Element 300 einzusetzen, das konstruktive Unterelemente aufweist. Daher kann jedes Unterelement mit einem oder mehreren der Unterbilder des holographischen Testbildes 302 versehen sein.
  • Da das holographische Testbild 302 näher angeordnet sein kann als die Fokussierungsentfernung der Kamera 202, können das holographische Testbild 302 und das holographische Element 300 tatsächlich erheblich kleiner sein als das Testbild 206 in der Fokussierungsentfernung der Kamera 202 (in 2). Das kleine Testbild 302 erfordert ein kleines holographisches Element 300, welches sehr nahe an der Kamera 202 angeordnet werden kann, beispielsweise im Abstand von einem Zentimeter von der Kamera oder sogar der Linse der Kamera, die getestet wird.
  • Die Kamera 202, die wie gewünscht arbeitet, wird bei dem Test akzeptiert, und daher wird das elektronische Gerät 200 dazu fähig, verkauft zu werden. Wenn die Kamera 202, die getestet wird, nicht fehlerfrei ist, ist dann auch das Bild 310, das auf dem Detektor 208 der Kamera 202 ausgebildet wird, ebenfalls nicht fehlerfrei. Wenn die Fehler in dem Bild 310, das aus dem Detektor 208 ausgebildet werden soll, eine vorbestimmte Zulässigkeitsgrenze überschreiten, kann der Test erneut ausgeführt werden, kann das elektronische Gerät ausgeschlossen werden, oder kann das elektronische Gerät abgeändert werden. Immer noch sollte bei einem zu fehlerhaften elektronischen Gerät (normalerweise) nicht zugelassen werden, dass es verkauft oder verwendet wird, wenn ein Gerät betrachtet wird, das sich bereits im Gebrauch befindet.
  • Bei der dargestellten Lösung wird die Qualität des Bildes, das auf dem Detektor aus dem holographischen Testbild der Kamera erzeugt wird, in Beziehung zu einer perfekt arbeitenden Kamera festgestellt. Da eine perfekt arbeitende Kamera ein vorbestimmtes, exaktes Bild auf ihrem Detektor erzeugt, können dann das Bild der perfekt arbeitenden Kamera und das holographische Testbild so angesehen werden, dass sie einander entsprechen, entweder vollständig oder zumindest beinahe vollständig. Daher kann das Bild der Kamera, die getestet wird, direkt mit dem holographischen Bild verglichen werden, und kann auf Grundlage der Differenz zwischen den Bildern die Qualität des Bildes der Kamera, die getestet wird, bestimmt werden. Die Qualität kann in einer Bildbearbeitungseinheit bestimmt werden, die eine Einheitssteuerung oder eine Teststeuerung des Testsystems sein kann.
  • Was untersucht werden kann, wenn die Qualität des Bildes getestet wird, besteht darin, ob die Kamera überhaupt irgendwelche Bilder zur Verfügung stellt. Wenn ein Bild empfangen wird, kann beispielsweise eine modulare Übertragungsfunktion (MTF) eingesetzt werden, wenn die Qualität des Bildes bestimmt wird, welche die Fähigkeit der Kameralinse 212 darstellt, den Kontrast des Testbildes auf das Bild zu übertragen, das auf dem Detektor ausgebildet wird, in Abhängigkeit von der Raumfrequenz. Stattdessen oder zusätzlich hierzu kann die Qualität des Bildes dadurch bestimmt werden, dass die Auflösungsfähigkeit für Linien in einem Linienmuster gemessen wird, das möglicherweise als das Testbild dient. Weiterhin können verschiedene Aberrationen, beispielsweise die sphärische Aberration, Astigmatismus, ein Koma-Fehler, Biegung/Krümmung der Bildoberfläche, Markierungsfehler (Tonne, Kissen), Verfärbung, Gesichtsfeldtiefe, Fokussierungstiefe und dergleichen eingesetzt werden. Andere Bildqualitätfestlegungen und/oder Festlegungsverfahren können ebenfalls eingesetzt werden. Die Qualität des Bildes ermöglicht beispielsweise eine Bestimmung der Positionierung der Objektlinse bzw. der Objektlinsen der Kamera und der toten Pixel der Pixelmatrix. Als das Testbild können ein Gitter, Punkte, Kreise, graphische Muster oder Kombinationen hieraus eingesetzt werden. Weiterhin können Landschaftsbilder, Porträts und Bilder von Artikeln als Testbilder verwendet werden. Wenn die Bildqualität der Kamera nicht die gewünschte Qualität aufweist, kann daraus geschlossen werden, dass mit der Kamera irgendetwas nicht in Ordnung ist.
  • Weißes Licht oder ein anderes Band der gewünschten optischen Strahlung kann zum Beleuchten des holographischen Bildes verwendet werden. Das Band der beleuchtenden optischen Strahlung kann schmal oder breit sein, von monochromatischer Strahlung bis zu einigen Dutzend Nanometern. Die Schmalband-Strahlung kann darüber hinaus kohärent sein, und darüber hinaus möglicherweise kollimiert sein. Die optische Strahlung, die das holographische Bild beleuchtet, kann auf das holographische Bild von der Vorderseite oder von der Rückseite aus fokussiert sein.
  • 4 zeigt die Beleuchtung des holographischen Elements. Eine optische Energieversorgungsquelle 400 kann eine oder mehrere Lichtemitterdioden 402 aufweisen, die das holographische Element 300 von hinten aus beleuchten, in Bezug auf die Kamera 202 des elektronischen Geräts 200. Anstatt einer Lichtemitterdiode oder von Lichtemitterdioden können eine oder mehrere Heizfaden- oder Entladungslampen oder Laser eingesetzt werden. Bei einigen Gelegenheiten ist auch Tageslicht möglich. Die optische Strahlung, die durch das holographische Element 300 hindurchgegangen ist, breitet sich zur Kamera 202 aus, die ein Bild aus dem holographischen Testbild 302 erzeugt, das in dem holographischen Element 300 gespeichert ist (bei dieser Figur ist das Testbild 302 in dem holographischen Element 300 angeordnet, und nicht an dessen anscheinender Position, wie in 3 gezeigt ist).
  • 5 zeigt eine Lösung, bei welcher die Beleuchtung auf dem holographischen Element 300 von der Vorderseite aus fokussiert ist. Auch in diesem Fall kann die optische Energieversorgungsquelle 400 eine oder mehrere Lichtemitterdioden aufweisen, eine Heizfadenlampe, eine Entladungslampe oder einen Laser. Auch bei dieser Lösung ist Tageslicht möglich. Die optische Strahlung, die von dem holographischen Element 300 reflektiert wird, breitet sich zur Kamera 202 aus, die ein Bild aus dem holographischen Testbild 302 erzeugt, das in dem holographischen Element 300 gespeichert ist. Bei der in den 4 und 5 gezeigten Lösung kann die Quelle für optische Energie 400 konstruktiv mit dem holographischen Element 300 vereinigt sein.
  • 6 zeigt ein Flussdiagramm des Verfahrens. Im Schritt 600 werden das holographische Element und die Kamera, die getestet wird, des elektronischen Geräts in einer vorbestimmten Testentfernung voneinander angeordnet, um ein Bild von dem holographischen Testbild auf dem Detektor der Kamera, die getestet wird, auf solche Weise auszubilden, dass das holographische Element in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist. Zusätzlich zu diesem Schritt kann der Test im Schritt 602 fortgesetzt werden, bei welchem die Kamera 202, die getestet wird, ein Bild aus dem holographischen Testbild auf ihrem Detektor erzeugt.
  • Weiterhin kann, wenn erwünscht ist, zu wissen, wie gut die Kamera arbeitet, ein Schritt 604 ausgeführt werden, bei welchem die Qualität des Bildes, das aus dem holographischen Testbildes der Kamera erzeugt wird, die getestet wird, auf dem Detektor bestimmt wird.
  • Obwohl die Erfindung voranstehend unter Bezugnahme auf die Beispiele gemäß den beigefügten Zeichnungen beschrieben wurde, wird es deutlich, dass die Erfindung nicht hierauf beschränkt ist, sondern auf verschiedene Arten und Weisen abgeändert werden kann, innerhalb des Umfangs der beigefügten Patentansprüche.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Das Testsystem weist ein elektronisches Gerät auf, das eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist. Ein holographisches Element (300) des Testsystems und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts werden während eines Tests so angeordnet, dass sie sich in einer vorbestimmten Entfernung (320) voneinander befinden, während das holographische Element (300) in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist, wobei das holographische Element (300) ein holographisches Testbild (302) aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera erzeugt, die so arbeitet, wie dies gewünscht ist.

Claims (18)

  1. Verfahren zur Ausbildung eines Bilds beim Testen eines elektronischen Geräts (200), das eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, gekennzeichnet durch Anordnen (600) eines holographischen Elements (300) und einer Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander, damit das Bild (310) des holographischen Testbildes (300) auf dem Detektor (208) der Kamera (202), die untersucht wird, ausgebildet wird, wobei das Bildfeld der Kamera (202), die getestet wird, ein nicht fokussiertes holographisches Element (300) aufweist, dessen holographisches Testbild so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet.
  2. Verfahren zum Testen der Qualität eines Bildes bei einem elektronischen Gerät (200), das eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, gekennzeichnet durch Anordnen (600), wenn ein Test durchgeführt wird, eines holographischen Elements (300) und einer Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander auf solche Weise, dass das Bildfeld der Kamera (202), die getestet wird, ein nicht fokussiertes holographisches Element (300) aufweist, das ein holographisches Testbild (302) aufweist, zur Ausbildung eines fokussierten Bildes auf dem Detektor der Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element (300) und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander angeordnet werden, Ausbilden (602) eines Bildes (310) von dem holographischen Testbild (300) mit der Kamera (202), die getestet wird, und Bestimmung (604) der Qualität des Bildes, das von dem holographischen Testbild (302) der Kamera (202) ausgebildet wird, die getestet wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die physikalische Testentfernung (320) holographisch auf eine anscheinende Testentfernung (318) geändert wird, um das fokussierte Bild (310) von dem holographischen Testbild (302) auf dem Detektor der Kamera auszubilden, die nach Wunsch arbeitet.
  4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass optische Strahlung zur Beleuchtung des holographischen Elements (300) eingesetzt wird, um das holographische Testbild (302) auszubilden.
  5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Element (300) durch zumindest eine Lichtemitterdiode (402) beleuchtet wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Element (300) mit einer optischen Energieversorgungsquelle (400) beleuchtet wird, die konstruktiv mit dem holographischen Element (300) vereinigt ausgebildet ist.
  7. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Testbild (302) Unterbilder (3020 bis 3026) aufweist, die an verschiedenen anscheinenden Testentfernungen (318) angeordnet sind.
  8. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Element (300) und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) in einer Entfernung voneinander angeordnet werden, die kürzer ist als die Fokussierungsentfernung der Kamera (202).
  9. Testsystem, das zum Testen eines elektronischen Geräts ausgebildet ist, das eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass das Testsystem aufweist, ein holographisches Element (300), und wobei das holographische Element (300) und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) während des Tests so angeordnet sind, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung (320) voneinander angeordnet sind, wobei das holographische Element (300) in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist, und das holographische Element (300) ein holographisches Testbild (302) aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element (300) und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander angeordnet sind.
  10. Testsystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass dann, während die Kamera (202), die getestet wird, ein Bild (310) von dem holographischen Testbild (302) auf dem Detektor (208) der Kamera (202) erzeugt, welche getestet wird, das Testsystem so ausgebildet ist, die Qualität des Bildes (310) zu bestimmen, das von dem holographischen Bild (302) der Kamera (202) ausgebildet wird, die getestet wird.
  11. Testsystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Testbild (302) so ausgebildet ist, dass es die physikalische Testentfernung (320) auf eine anscheinende Testentfernung (318) ändert, welche der Fokussierungsentfernung der Kamera entspricht, die so arbeitet, wie dies gewünscht ist.
  12. Testsystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Testsystem eine Quelle (400) für optische Energie aufweist, zum Beleuchten des holographischen Elements (300) mit optischer Strahlung.
  13. Testsystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (400) für optische Energie zumindest eine Lichtemitterdiode (402) aufweist.
  14. Testsystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (400) für optische Energie konstruktiv in das holographische Element (300) eingebaut ist.
  15. Testsystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das holographische Testbild (302) Unterbilder (3020 bis 3026) aufweist, die an verschiedenen, anscheinenden Testentfernungen (318) angeordnet sind.
  16. Testsystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Testsystem so ausgebildet ist, dass das holographische Element (300) und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) in einer Entfernung (320) voneinander angeordnet sind, die kürzer ist als die Fokussierungsentfernung der Kamera (202).
  17. Testkammer, die dazu ausgebildet ist, ein elektronisches Gerät zu testen, welches eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Testkammer aufweist ein holographisches Element (300), und wobei das holographische Element (300) und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) während des Tests so angeordnet sind, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung (320) voneinander angeordnet sind, wobei das holographische Element (300) in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist, und das holographische Element (300) ein holographisches Testbild (302) aufweist, das so ausgebildet ist, dass es ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera ausbildet, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element (300) und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander angeordnet sind.
  18. Testeinrichtung, die dazu ausgebildet ist, ein elektronisches Gerät zu testen, welches eine Kamera (202) zur Ausbildung eines Bildes (310) auf einem Detektor (208) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Testeinrichtung aufweist ein holographisches Element (300), und wobei das holographische Element (300) und die Kamera (202), die getestet wird, des elektronischen Geräts (200) während eines Tests so angeordnet sind, dass sie in einer vorbestimmten Entfernung (320) voneinander angeordnet sind, und das holographische Element (300) in dem Bildfeld der Kamera, die getestet wird, nicht fokussiert ist, und das holographische Element (300) ein holographisches Testbild (302) aufweist, das so ausgebildet ist, dass ein fokussiertes Bild auf dem Detektor der Kamera erzeugt wird, die je nach Wunsch arbeitet, während das holographische Element (300) und die Kamera, die je nach Wunsch arbeitet, in einer vorbestimmten Testentfernung (320) voneinander angeordnet sind.
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