ES2895514T3 - Sistema y método para someter a prueba la degradación de dispositivos fotosensibles - Google Patents

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Abstract

Un método para pruebas de degradación de un dispositivo fotosensible (318) que comprende una pluralidad de píxeles, correspondiendo cada píxel a una dirección única, comprendiendo el método: inicializar (402) uno o más parámetros de pruebas de degradación; establecer (404) una intensidad de luz para una fuente de luz (312), en el que la fuente de luz (312) expone el dispositivo fotosensible (318) con luz a la intensidad de luz establecida; y para cada píxel: enviar una solicitud (406) a un multiplexor (304) para una medición de rendimiento de píxel para el píxel del dispositivo fotosensible (318), en el que la medición de rendimiento de píxel se solicita basándose, al menos en parte, en un umbral de duración; recibir (410) desde el multiplexor (304) la medición de rendimiento de píxel; comparar la medición de rendimiento de píxel con un umbral de régimen de rendimiento; determinar (412) si el píxel ha fallado basándose, al menos en parte, en la comparación de la medición de rendimiento de píxel con el umbral de régimen de rendimiento; marcar (414) un indicador de pruebas asociado con el píxel, en el que el indicador de pruebas es indicativo de la determinación del fallo del píxel; y determinar (416) si son necesarias pruebas adicionales, en el que la determinación si son necesarias pruebas adicionales se basa, al menos en parte, en el indicador de pruebas asociado con el píxel.

Description

DESCRIPCIÓN
Sistema y método para someter a prueba la degradación de dispositivos fotosensibles
Campo técnico
Esta solicitud se refiere en general a un sistema de degradación de dispositivos fotosensibles, y en particular, a un sistema para determinar el rendimiento de un dispositivo fotosensible a lo largo del tiempo usando un sistema de degradación acelerado.
Antecedentes de la invención
El uso de dispositivos fotosensibles, tales como células fotovoltaicas (PV) o solares para generar energía eléctrica a partir de la radiación o energía solar, puede proporcionar muchos beneficios, incluyendo por ejemplo, una fuente de energía, emisiones bajas o nulas, producción de energía independiente de una red eléctrica, estructuras físicas duraderas (sin partes móviles), sistema estable y fiable, construcción modular, instalación relativamente rápida, fabricación y uso seguros, y buena opinión pública y aceptación del uso. Otros dispositivos fotosensibles también pueden incluir células solares térmicas, fotodiodos, fotorresistores, fotocondensadores, fototransductores y fototransistores. El documento US2015/162872A describe un método para someter a prueba un dispositivo fotosensible. El documento US2010/0182465 también es técnica anterior relevante.
Sin embargo, el fallo de tales dispositivos fotosensibles puede ser costoso y puede requerir un tiempo significativo para el reemplazo o la reparación. Someter a prueba dispositivos fotosensibles antes de su envío o instalación puede resultar costoso e incluso puede ser destructivo para el propio dispositivo fotosensible. Por tanto, tradicionalmente se sometería a prueba una muestra de dispositivos fotosensibles para determinar el rendimiento de un diseño o configuración de dispositivo fotosensible dado.
Las pruebas convencionales de dispositivos fotosensibles para determinar, por ejemplo, las tasas de degradación, pueden usar plasma de azufre o bombillas incandescentes como fuente de luz. En las pruebas de degradación tradicionales, el dispositivo fotosensible se fotoexpondría debajo de las bombillas y ocasionalmente se tomarían muestras para determinar el rendimiento de los paneles. Estos sistemas normalmente exponen un dispositivo fotosensible al equivalente de 1 sol (1.000 W/m2 de intensidad de luz) o incluso menos durante un período de tiempo prolongado o incluso de forma continua durante un período de tiempo prolongado. Un espectro puede definirse adicionalmente según la norma AM1.5G de la American Society for Testing and Materials (ASTM). Es deseable reducir el tiempo total de pruebas y aumentar la precisión para determinar el rendimiento del dispositivo fotosensible para disminuir el coste del diseño o la configuración de un dispositivo fotosensible, disminuir el tiempo de comercialización, ofrecer garantías extendidas a los clientes y determinar la rentabilidad.
Las características y ventajas de la presente divulgación les resultarán fácilmente evidentes a los expertos en la técnica.
Sumario
Según las enseñanzas de la presente divulgación, pueden reducirse y/o eliminarse las desventajas y los problemas asociados con las técnicas de degradación de dispositivos fotosensibles convencionales. Por ejemplo, un método para pruebas de degradación de un dispositivo fotosensible comprende inicializar uno o más parámetros de pruebas de degradación.
Según un primer aspecto de la invención se proporciona un método para pruebas de degradación de un dispositivo fotosensible según se menciona en la reivindicación 1, y un sistema correspondiente según se menciona en la reivindicación 8. Realizaciones ventajosas adicionales se mencionan en las reivindicaciones dependientes.
En una realización, se solicitan o se reciben la una o más de una medición de temperatura, una medición de humedad, y una medición atmosférica. Se alteran uno más de una temperatura, una humedad y un elemento de una atmósfera asociado con el entorno de pruebas basándose, al menos en parte, en una o más de la medición de temperatura, la medición de humedad y la medición atmosférica.
En una realización, se solicita la medición de rendimiento para cada píxel en cada intervalo especificado hasta que se alcanza el umbral de duración.
Según un segundo aspecto de la invención, se proporciona un sistema tal como se menciona en la reivindicación 8 que comprende:
una placa de fuente de luz, en el que la placa de fuente de luz emite luz a un nivel de intensidad;
una placa de interfaz de célula;
un recipiente próximo a la placa de fuente de luz y acoplado a la placa de interfaz de célula, en el que el recipiente comprende uno o más dispositivos fotosensibles y un compuesto termoconductor adyacente a al menos un lado del uno o más dispositivos fotosensibles, en el que una o más clavijas asociadas con uno o más píxeles del uno o más dispositivos fotosensibles se interconecta con el recipiente, y en el que el recipiente interconecta la una o más clavijas con la placa de interfaz de célula;
un dispositivo de medición de luz próximo a la placa de fuente de luz, en el que el dispositivo de medición de luz mide la intensidad de emisiones desde la placa de fuente de luz hasta los dispositivos fotosensibles;
una fuente de energía luminosa acoplada a la placa de fuente de luz, en el que la fuente de energía luminosa controla una o más de corriente y tensión a la placa de fuente de luz;
un multiplexor acoplado a la placa de interfaz de célula, en el que el multiplexor activa circuitos para para dar una dirección al uno o más píxeles; y
un dispositivo de medición acoplado al multiplexor, en el que el dispositivo de medición recibe una o más mediciones de rendimiento asociadas con el uno o más píxeles.
Breve descripción de los dibujos
Para una comprensión más completa de la presente invención y sus características y ventajas, se hace referencia ahora a la siguiente descripción, tomada conjuntamente con los dibujos adjuntos, en los que:
la figura 1 es un diagrama de bloques que ilustra un sistema de manejo de información de ejemplo según una o más realizaciones de la presente divulgación;
la figura 2 es un diagrama de bloques que ilustra una configuración de red de ejemplo según una o más realizaciones de la presente divulgación;
la figura 3 es un diagrama de bloques que ilustra un sistema de pruebas de degradación de ejemplo según una o más realizaciones de la presente divulgación; y
la figura 4 es un diagrama de flujo que ilustra un método de ejemplo para un sistema de degradación de prueba según una o más realizaciones de la presente divulgación.
Descripción de realizaciones de ejemplo
La degradación de un dispositivo fotosensible puede dar como resultado un fallo inesperado de un sistema de energía y puede resultar caro de abordar si no se conoce antes de la instalación. Por tanto, es importante conocer la tasa de degradación de un dispositivo fotosensible. Las pruebas pueden ser útiles y reducen los gastos generales de un diseño o configuración dados. La tasa de degradación para un dispositivo fotosensible dado está inversamente relacionada con, por ejemplo, la energía producida por el dispositivo fotosensible. Es decir, cuanto mayor es la tasa de degradación, menos energía se produce a lo largo del tiempo. Además, la tasa de degradación es directamente proporcional a la tasa de fallo. Es decir, cuanto mayor sea la tasa de degradación, más probable es que falle un dispositivo fotosensible dado. Puede considerarse que un dispositivo fotosensible ha fallado cuando el dispositivo fotosensible se ha degradado en un 20 % de la métrica de rendimiento original del dispositivo fotosensible. El umbral de fallo puede ajustarse hacia arriba o hacia abajo según los criterios dados para una configuración o instalación de dispositivo fotosensible particular. Aunque las pruebas son importantes, también es importante reducir el tiempo de las pruebas para garantizar la pronta implementación de un nuevo diseño o configuración o instalación de un dispositivo fotosensible. Como los dispositivos fotosensibles pueden diseñarse para durar varios años o incluso décadas, se necesita una degradación acelerada para reducir los gastos generales y mejorar el rendimiento. La presente divulgación proporciona un sistema y un método para proporcionar una degradación acelerada y una medición del rendimiento para un dispositivo fotosensible dado.
Las realizaciones de ejemplo en el presente documento pueden utilizar un único sistema de manejo de información local para un usuario. En determinadas realizaciones, puede utilizarse más de un sistema de manejo de información. En otras realizaciones, uno o más sistemas de manejo de información pueden ser remotos, como un servidor. En una o más realizaciones, los métodos y sistemas dados a conocer pueden realizarse junto con otras técnicas de pruebas de degradación de dispositivos fotosensibles. Se pretende que las enseñanzas de la presente divulgación abarquen cualquier combinación de realizaciones.
Aunque se comentan ventajas específicas, diversas realizaciones pueden incluir todas, algunas o ninguna de las ventajas enumeradas. Las realizaciones de la presente divulgación y sus ventajas se entienden mejor con referencia a las figuras 1 a 4, en las que los números iguales se refieren a partes iguales y correspondientes de los diversos dibujos.
La figura 1 ilustra un sistema de manejo de información 100 de ejemplo para implementar una o más realizaciones dadas a conocer en el presente documento. El sistema de manejo de información 100 puede incluir uno o más elementos, componentes, instrumentalidades, etc. o cualquier combinación de los mismos que puede hacerse funcionar para realizar cualquier funcionalidad para implementar cualquier realización dada a conocer en el presente documento. Un sistema de manejo de información 100 puede ser un sistema de manejo de información integrado, un sistema en chip (SOC), un sistema de manejo de información de placa única, un ordenador central, un dispositivo interactivo tal como un kiosco, un dispositivo de cliente, un servidor (por ejemplo, ejemplo, servidor blade o servidor de bastidor), ordenador personal (por ejemplo, ordenador de sobremesa o portátil), tableta, dispositivo móvil (por ejemplo, asistente digital personal (PDA) o teléfono inteligente), un dispositivo electrónico de consumo, un dispositivo de almacenamiento en red, impresora, conmutador, enrutador, dispositivo de recopilación de datos, máquina virtual o cualquier otro dispositivo informático adecuado conocido por un experto habitual en la técnica. En una o más realizaciones, el sistema de manejo de información 100 puede ser un único sistema de manejo de información 100 o puede ser múltiples sistemas de manejo de información 100, puede ser autónomo o distribuido (por ejemplo, puede abarcar múltiples centros de datos), puede estar alojado en una nube, puede ser parte de uno o más de otros dispositivos informáticos o puede ser cualquier otra configuración adecuada conocida por un experto habitual en la técnica. El sistema de manejo de información 100 puede realizar una o más operaciones en tiempo real, a intervalos cronometrados, en modo por lotes, en un único sistema de manejo de información 100 o en múltiples sistemas de manejo de información 100, en una única ubicación o en múltiples ubicaciones, o en cualquier otra secuencia o forma conocida por un experto habitual en la técnica.
El sistema de manejo de información 100 puede ser cualquier número de componentes adecuados y no está limitado al número o la disposición de componentes mostrados en la figura 1. El sistema de manejo de información 100 puede incluir un procesador 102, una memoria 104, un almacenamiento 106, una interfaz de entrada/salida. (I/O) 108, una pantalla 110, un bus 112 y un dispositivo de conectividad de red 114. El bus 112 puede acoplar el procesador 102, la memoria 104, el almacenamiento 106, la interfaz de I/O 108 y el dispositivo de conectividad de red 114 entre sí. El bus 112 también puede acoplar uno cualquiera o más de cualquier otro componente apropiado del sistema de manejo de información 100 a cualquier otro o más componentes del sistema de manejo de información 100. El bus 112 puede incluir hardware, software o cualquier combinación de los mismos para acoplar uno cualquiera o más componentes del sistema de manejo de información 100. El bus 112 puede ser cualquier tipo de bus o combinación de buses conocido por un experto habitual en la técnica.
El sistema de manejo de información 100 puede incluir un procesador 102 que está en comunicación con los dispositivos de memoria, la memoria 104 y el almacenamiento 106. El procesador 102 puede ser una unidad de procesamiento general (GPU), un microprocesador, una unidad central de procesamiento (CPU), múltiples CPU, de un único núcleo, de doble núcleo, de múltiples núcleos o cualquier otro procesador adecuado conocido por un experto habitual en la técnica. El procesador 102 puede incluir una o más de memoria de solo lectura (ROM) interna (y cualquier variación de la misma), memoria de acceso aleatorio (RAM) (y cualquier variación de la misma), caché, registros internos, memoria intermedia, cualquier otro tipo de componente de almacenamiento adecuado conocido por un experto habitual en la técnica, una unidad aritmética lógica (ALU) y cualquier otro componente apropiado conocido por un experto habitual en la técnica.
El procesador 102 incluye hardware para ejecutar una o más instrucciones o módulos, por ejemplo, un programa de software o programa informático. Se entiende que programando y/o cargando instrucciones ejecutables en el sistema de manejo de información 100, se cambia al menos uno del procesador 102, la memoria 104 y el almacenamiento 106, transformando el sistema de manejo de información 100 en parte en una máquina o aparato particular que tiene la funcionalidad novedosa enseñada por la presente divulgación. Es fundamental para las técnicas de ingeniería eléctrica e ingeniería de software que la funcionalidad que puede implementarse cargando software ejecutable en un sistema de manejo de información 100 pueda convertirse en una implementación de hardware mediante reglas de diseño bien conocidas. Las decisiones entre implementar un concepto en software frente a hardware normalmente dependen de consideraciones de estabilidad del diseño y del número de unidades que han de producirse, en lugar de cualquier cuestión relacionada con el traslado desde el dominio del software al dominio del hardware. Generalmente, puede preferirse que un diseño que todavía está sujeto a cambios frecuentes se implemente en software, porque volver a conformar una implementación de hardware es más caro que volver a conformar un diseño de software. En general, puede preferirse implementar en hardware un diseño que es estable que se producirá en gran volumen, por ejemplo, en un circuito integrado específico de aplicación (ASIC), porque para grandes series de producción, la implementación de hardware puede ser menos cara que la implementación de software. A menudo, un diseño puede desarrollarse y someterse a prueba en forma de software y luego transformarse, mediante reglas de diseño bien conocidas, en una implementación de hardware equivalente en un circuito integrado específico de aplicación que conecta las instrucciones del software. De la misma manera que una máquina controlada por un nuevo ASIC es una máquina o aparato particular, asimismo un ordenador que se ha programado y/o cargado con instrucciones ejecutables puede considerarse una máquina o aparato particular.
La memoria 104 puede ser interna o externa con respecto al procesador 102. La memoria 104 puede ser RAM, RAM dinámica (DRAM), RAM estática (SRAM) o cualquier otro tipo adecuado de memoria conocida por un experto habitual en la técnica. Aunque sólo se muestra una memoria 104, la presente divulgación contempla cualquier número de memorias 104. La memoria 104 puede incluir memoria principal para almacenar una o más instrucciones ejecutadas por el procesador 102. El sistema de manejo de información puede cargar una o más instrucciones desde el almacenamiento 106 o cualquier otro sistema de manejo de información 100 en la memoria 104. El procesador 102 puede cargar una o más instrucciones desde la memoria 104 en una memoria interna del procesador 102 para su ejecución, por ejemplo, en un registro interno o caché interno.
El almacenamiento 106 puede incluir almacenamiento masivo para datos, una o más instrucciones, uno o más módulos o cualquier otro tipo de información adecuada conocida por un experto habitual en la técnica. El almacenamiento 106 puede ser una unidad de disco duro (HDD), unidad de disquete, memoria flash, unidad de disco óptico, unidad de disco magnetoóptico, cinta magnética, unidad de bus serie universal (USB), memoria de estado sólido no volátil, memoria de solo lectura (ROM), ROM programada por máscara, ROM programable (PROM), PROM borrable (EPROM), PROM borrable eléctricamente (EEPROM), ROM alterable eléctricamente (EAROM), cualquier otro tipo de ROM conocido por un experto habitual en la técnica, memoria flash, cualquier otro almacenamiento conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de dos o más de estos. El almacenamiento 106 puede incluir uno o más almacenamientos 106. El almacenamiento 106 se usa normalmente para almacenamiento no volátil y como almacenamiento de sobrecarga para la memoria 104. El almacenamiento 106 puede almacenar programas ejecutables, tales como programas de software o programas informáticos que pueden cargarse en la memoria 104 cuando se seleccionan tales programas para su ejecución. La memoria 104 y el almacenamiento 106 pueden denominarse en algunos contextos medios de almacenamiento legibles por ordenador y/o medios de almacenamiento legibles por ordenador no transitorios.
El dispositivo de conectividad de red 114 puede ser cualquiera o más dispositivos de conectividad de red 114 y puede adoptar la forma de módems, bancos de módems, tarjetas Ethernet, tarjetas de interfaz USB, interfaces en serie, tarjetas de anillo con paso de testigo (Token Ring), tarjetas de interfaz de datos distribuidos por fibra (FDDI), tarjetas de red de área local inalámbrica (WLAN), tarjetas transceptoras de radio tales como acceso múltiple por división de código (CDMA), sistema global para comunicaciones móviles (GSM), evolución a largo plazo (LTE), interoperabilidad mundial para acceso por microondas (WiMAX) y/u otras tarjetas transceptoras de radio de protocolo de interfaz y otros dispositivos de red bien conocidos. Estos dispositivos de conectividad de red 114 pueden permitir que el procesador 102 se comunique con Internet o una o más intranets. Con una conexión de red de este tipo, se contempla que el procesador 102 pueda recibir información a partir de la red (por ejemplo, la red 210 de la figura 2), o podría emitir información a la red en el transcurso de la realización de las etapas del método descritas anteriormente. Tal información, que a menudo se representa como una secuencia de instrucciones que van a ejecutarse utilizando el procesador 102, puede recibirse de y emitirse a la red, por ejemplo, en forma de una señal de datos de ordenador incorporada en una onda portadora.
Tal información, que puede incluir datos, instrucciones o módulos que se ejecutarán usando el procesador 102, por ejemplo, puede recibirse desde y emitirse a la red, por ejemplo, en forma de una señal de banda base de datos informáticos o una señal incorporada en una onda portadora. La señal de banda base o la señal incorporada en la onda portadora generada por el dispositivo de conectividad de red 114 puede propagarse en o sobre la superficie de conductores eléctricos, en cables coaxiales, en guías de ondas, en un conducto óptico, por ejemplo, una fibra óptica, o en el aire o espacio libre. La información contenida en la señal de banda base o la señal incorporada en la onda portadora puede ordenarse según diferentes secuencias, tal como puede ser deseable o bien para procesar o bien para generar la información o transmitir o recibir la información. La señal de banda base o la señal incorporada en la onda portadora, u otros tipos de señales usadas actualmente o desarrolladas en el futuro, puede generarse según varios métodos bien conocidos por un experto en la técnica. La señal de banda base y/o la señal incorporada en la onda portadora puede denominarse en algunos contextos una señal transitoria.
El procesador 102 ejecuta instrucciones, códigos, programas informáticos, secuencias de comandos a los que accede desde la memoria 104, el almacenamiento 106 o el dispositivo de conectividad de red 114. Aunque sólo se muestra un procesador 102, pueden estar presentes múltiples procesadores. Por tanto, aunque se comenta que las instrucciones se ejecutan por un procesador, las instrucciones pueden ejecutarse simultáneamente, en serie o ejecutarse de otro modo por uno o múltiples procesadores. Las instrucciones, códigos, programas informáticos, secuencias de comandos y/o datos a los que puede accederse desde el almacenamiento 106, por ejemplo, discos duros, disquetes, discos ópticos y/u otro dispositivo, ROM y/o RAM pueden denominarse en algunos contextos como instrucciones no transitorias y/o información no transitoria.
La interfaz de I/O 108 puede ser hardware, software o cualquier combinación de los mismos. La interfaz de I/O 108 proporciona una o más interfaces para la comunicación entre el sistema de manejo de información 100 y uno o más dispositivos de I/O. En una realización, la interfaz de I/O 108 se acopla a la pantalla 110 y puede comunicar información hacia y desde la pantalla 110. Aunque sólo se muestra una pantalla 110, la presente invención contempla cualquier número de dispositivos de I/O internos o externos acoplados a la interfaz de I/O 108, tal como uno o más monitores de vídeo, pantallas de cristal líquido (LCD), pantallas táctiles, impresoras, teclados, teclados numéricos, conmutadores, diales, ratones, bolas de seguimiento, sistemas de reconocimiento de voz, lectores de tarjetas, lectores de cinta de papel, memorias USB, unidades de disco duro, unidades de disco óptico, micrófonos, cámaras de vídeo, lápices, tabletas, cámaras fijas, altavoces, sensores o cualquier otro dispositivo conocido por un experto habitual en la técnica. El sistema de manejo de información 100 también puede incluir uno o más puertos de comunicación (no mostrados) para comunicarse con dispositivos externos. La interfaz de I/O 108 también puede incluir uno o más controladores de dispositivo para uno o más dispositivos de I/O acoplados al sistema de manejo de información 100.
En una realización, el manejo de información 100 puede comprender dos o más sistemas de manejo de información 100 en comunicación entre sí que colaboran para realizar una tarea. Por ejemplo, pero no a modo de limitación, una aplicación puede dividirse de tal manera que permita el procesamiento simultáneo y/o paralelo de las instrucciones de la aplicación. Alternativamente, los datos procesados por la aplicación pueden dividirse de tal manera que permitan el procesamiento simultáneo y/o paralelo de diferentes partes de un conjunto de datos por los dos o más ordenadores. En una realización, el manejo de información 100 puede emplear software de virtualización para proporcionar la funcionalidad de varios servidores que no están directamente vinculados al número de sistemas de manejo de información 100 en una configuración dada. Por ejemplo, el software de virtualización puede proporcionar veinte servidores virtuales en cuatro ordenadores físicos. En una realización, la funcionalidad dada a conocer anteriormente puede proporcionarse ejecutando la aplicación y/o aplicaciones en un entorno de informática en la nube. La informática en la nube puede comprender proporcionar servicios informáticos a través de una conexión de red usando recursos informáticos escalables dinámicamente. La informática en la nube puede estar respaldada, al menos en parte, por software de virtualización. Una empresa puede establecer un entorno de informática en la nube y/o puede contratarse a un proveedor externo según sea necesario. Algunos entornos de informática en la nube pueden comprender recursos informáticos en la nube que son propiedad de la empresa y operados por ella, así como recursos informáticos en la nube contratados y/o alquilados a un proveedor externo.
En una realización, algunas o todas las funciones dadas a conocer anteriormente pueden proporcionarse como un programa informático o un producto de software. El producto de programa informático puede comprender uno o más medios de almacenamiento legibles por ordenador que tienen un código de programa utilizable por ordenador incorporado en el mismo para implementar la funcionalidad dada a conocer anteriormente. El producto de programa informático puede comprender estructuras de datos, instrucciones ejecutables y otro código de programa utilizable por ordenador. El producto de programa informático puede estar incorporado en un medio de almacenamiento informático extraíble y/o un medio de almacenamiento informático no extraíble. El medio de almacenamiento legible por ordenador extraíble puede comprender, sin limitación, una cinta de papel, una cinta magnética, un disco magnético, un disco óptico, un chip de memoria de estado sólido, por ejemplo, una cinta magnética analógica, discos de memoria de sólo lectura de disco compacto (CD-ROM), disquetes, unidades USB, tarjetas digitales, tarjetas multimedia y otros. El producto de programa informático puede ser adecuado para cargar, mediante el sistema de manejo de información 100, al menos partes del contenido del producto de programa informático en el almacenamiento 106, en la memoria 104 y/o en otra memoria no volátil y memoria volátil del sistema de manejo de información 100. El procesador 102 puede procesar las instrucciones ejecutables y/o estructuras de datos en parte accediendo directamente al producto de programa informático, por ejemplo, leyendo desde un disco CD-ROM insertado en un periférico de unidad de disco del sistema de manejo de información 100. Alternativamente, el procesador 102 puede procesar las instrucciones ejecutables y/o estructuras de datos accediendo de forma remota al producto de programa informático, por ejemplo, descargando las instrucciones ejecutables y/o estructuras de datos desde un servidor remoto a través del dispositivo de conectividad de red 114. El producto de programa informático puede comprender instrucciones que promuevan la carga y/o copia de datos, estructuras de datos, archivos y/o instrucciones ejecutables en el almacenamiento 106, en la memoria 104 y/o en otra memoria no volátil y memoria volátil del sistema de manejo de información 100.
En algunos contextos, una señal de banda base y/o una señal incorporada en una onda portadora pueden denominarse una señal transitoria. En algunos contextos, el almacenamiento 106 y la memoria 104 pueden denominarse un medio legible por ordenador no transitorio o un medio de almacenamiento legible por ordenador. Asimismo, una realización de RAM dinámica de la memoria 104 puede denominarse un medio legible por ordenador no transitorio en el sentido de que mientras la RAM dinámica recibe energía eléctrica y se hace funcionar según su diseño, por ejemplo, durante un período de tiempo durante el cual el sistema de manejo de información 100 está encendido y es operativo, la RAM dinámica almacena información que se escribe en ella. De manera similar, el procesador 102 puede comprender una RAM interna, una ROM interna, una memoria caché y/u otros bloques, secciones o componentes de almacenamiento interno no transitorio que pueden denominarse en algunos contextos medios legibles por ordenador no transitorios o medios de almacenamiento legibles por ordenador.
La figura 2 es un diagrama de bloques que ilustra una configuración en red de ejemplo para uno o más sistemas de manejo de información 100. En una realización, uno o más clientes 220 están acoplados a uno o más servidores 240 a través de la red 210. La red 210 puede ser una red pública, red privada, red inalámbrica, red de área local (LAN), red de área amplia (WAN), Internet, extranet, intranet o cualquier otra red conocida por un experto habitual en la técnica. En una realización, la red 210 puede incluir uno o más enrutadores para enrutar información entre uno o más clientes 220 y uno o más servidores 240.
El cliente 220 puede ser cualquier tipo de sistema de manejo de información 100. En una realización, el cliente 220 puede ser un cliente ligero que tiene capacidades limitadas de procesamiento y almacenamiento. El servidor 240 puede ser cualquier tipo de sistema de manejo de información 100. En una realización, el servidor 240 puede ser una máquina virtual o una sesión de escritorio. Uno o más servidores 240 pueden proporcionar acceso a software y/o hardware a uno o más clientes 220. Por ejemplo, un servidor 240 puede proporcionar acceso a un cliente 220 a un dispositivo virtual y/o una aplicación virtual. Uno o más clientes 240 pueden comunicarse con uno o más servidores 240 a través de uno o más protocolos conocidos por un experto habitual en la técnica.
Uno o más clientes 220 pueden estar acoplados a uno o más sistemas de pruebas de degradación 230. Aunque sólo se muestra un sistema de pruebas de degradación 230 acoplado a un cliente 220 dado, la presente divulgación contempla uno o más sistemas de degradación 230 acoplados a un solo cliente 220 o a múltiples clientes 220. En una realización, uno o más sistemas de pruebas de degradación 230 pueden acoplarse al mismo uno o más clientes 230. La presente divulgación contempla que cualquier combinación de sistemas de pruebas de degradación 230 puede acoplarse en cualquier número de configuraciones a uno o más clientes 220. En una o más realizaciones, el cliente 220 puede comunicar la información recibida desde uno o más sistemas de pruebas de degradación 230 a través de la red 210 a uno o más servidores 240.
La figura 3 es un diagrama de bloques que ilustra un sistema de pruebas de degradación 230 a modo de ejemplo según una o más realizaciones de la presente divulgación. Aunque sólo se representan determinados componentes, la presente divulgación contempla que un sistema de pruebas de degradación 230 puede comprender cualquier número de componentes. Aunque se representan uno o más componentes dentro del sistema de pruebas de degradación 230, la presente divulgación contempla que uno cualquiera o más de los componentes pueden estar contenidos dentro de una única estructura o unidad o dentro de múltiples estructuras o unidades.
Un sistema de pruebas de degradación 230 proporciona un modo eficaz de someter a prueba la degradación de dispositivos fotosensibles. El sistema de pruebas de degradación 230 puede comprender una fuente de energía luminosa 302, un multiplexor (mux) 304, un dispositivo de medida (o dispositivo de medición) de fuente eléctrica 306 y un sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308. En una o más realizaciones, la fuente de energía luminosa 302, el mux 304, el dispositivo de medición 306 y el sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 pueden ser dispositivos independientes o estar dentro de un solo dispositivo, alojados dentro de uno o más bastidores o dentro de un único bastidor, o cualquier combinación de los mismos.
La fuente de energía luminosa 302 puede ser una fuente de alimentación programable que permite controlar uno o más de corriente, tensión, marcas de tiempo o cualquier otro parámetro asociado con el suministro de energía a una o más fuentes luminosas. En una realización, la fuente de energía luminosa 302 puede ser una fuente de alimentación de CC de triple canal Keithley 2231A-30-3, cualquier otra fuente de energía luminosa 302 conocida por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de fuentes de energía luminosa 302. La fuente de energía luminosa 302 controla la intensidad de luz emitida por la placa de la fuente de luz 312. La fuente de energía luminosa 302 puede tener uno o más controles locales para permitir que el usuario ajuste (de manera manual, automática o programática) uno cualquiera o más parámetros de la fuente de energía luminosa 302. La fuente de energía luminosa 302 puede acoplarse al cliente 220 para permitir la comunicación bidireccional entre la fuente de energía luminosa 302 y el cliente 220. Cualquiera del uno o más parámetros asociados con la fuente de energía luminosa 302 puede controlarse por el cliente 220. La fuente de energía luminosa 302 puede transmitir valores para cualquiera del uno o más parámetros al cliente 220. Basándose, al menos en parte, en el uno o más parámetros asociados con la fuente de energía luminosa 302, el cliente 220 puede alterar cualquiera del uno o más parámetros asociados con la fuente de energía luminosa 302. Por ejemplo, uno cualquiera o más del uno o más parámetros pueden compararse con un valor umbral y basándose, al menos en parte, en esa comparación, el cliente 220 puede comunicar a la fuente de energía luminosa 302 una orden para alterar o cambiar uno o más de estos parámetros. Por ejemplo, el cliente 220 puede recibir un parámetro indicativo del nivel de tensión que está emitiéndose por la fuente de energía luminosa 302 y ese parámetro puede compararse con un umbral o límite predefinido después de lo cual el cliente 220 puede enviar una orden a la fuente de luz 302 para ajustar la tensión para alcanzar el umbral (tal como enviar una orden a la fuente de energía luminosa 302 para aumentar, disminuir o mantener el nivel de tensión actual).
El sistema de pruebas de degradación 230 también puede incluir un mux 304. El mux 304 es un multiplexor para multiplexar los píxeles del dispositivo fotosensible 318 a un dispositivo de medición acoplado 306. En una realización, el mux 304 puede ser un Agilent 34792 o cualquier otra unidad de conmutación adecuada conocida por un experto habitual en la técnica. En una realización, el dispositivo de medición 306 puede ser una unidad de medida de fuente Keithley 2450 o cualquier otro dispositivo de medición conocido por un experto habitual en la técnica. El dispositivo de medición 306 sólo puede medir un píxel de un dispositivo fotosensible 318 a la vez. El dispositivo de medición 306 puede enviar una señal u orden al mux 304 solicitando información o una medición para un píxel seleccionado. En respuesta, el mux 304 envía la medición asociada con un píxel seleccionado al dispositivo de medición 306. De esta manera, puede someterse a prueba cada píxel de cada dispositivo fotosensible 318. Aunque sólo se muestra un mux 304, puede utilizarse cualquier número de muxes 304 según el número de entradas permitidas por el mux 304 y el número de píxeles de los dispositivos fotosensibles 318 que se requiere medir. En una realización, un primer conjunto de muxes 304 (donde un conjunto puede ser uno o más) puede acoplarse a un primer dispositivo de medición 306 mientras que un segundo conjunto de muxes (donde un conjunto puede ser uno o más) puede acoplarse a un segundo dispositivo de medición 306. Puede utilizarse cualquier combinación de muxes 304 y dispositivos de medición 306 según los requisitos específicos de una configuración de prueba dada.
El mux 304 y el dispositivo de medición 306 también están acoplados al cliente 220. El cliente 220 comunica al mux 304 el píxel particular de un dispositivo fotosensible 318 seleccionado para someterse a prueba (el píxel del dispositivo fotosensible 318 para la medición). Por ejemplo, el cliente 220 puede comunicar al multiplexor 304 que cierre o abra uno o más relés asociados con el mux 304 con el fin de completar, abrir o conectar de otro modo los circuitos necesarios asociados con el píxel seleccionado. El cliente 220 puede solicitar entonces una medición para el píxel seleccionado del dispositivo de medición 306.
El sistema de pruebas de degradación 230 también puede incluir un sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308. El sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 incluye los componentes necesarios para abastecer, alojar, enfriar, mantener, acceder, comunicarse con o realizar cualquier otra operación para el dispositivo fotosensible 318 designado o seleccionado para las pruebas. Por ejemplo, el sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 puede incluir un dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310, una placa de fuente de luz 312, una placa de interfaz de célula 314, un recipiente 316 y un dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326. Aunque el dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310, la placa de fuente de luz 312, la placa de interfaz de célula 314, el recipiente 316 y el dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 se muestran dentro del sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308, uno cualquiera o más pueden ser externos al sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308.
El dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310 calienta, enfría o tanto calienta como enfría la placa de fuente de luz 312 y, posteriormente cualquier fuente de luz montada en ella. En una realización, el compuesto termoconductor 320 es un material dieléctrico. En una realización, el compuesto termoconductor 320 es uno de grasa térmicamente conductora o resina epoxídica, nanotubos de carbono, grafito, negro de carbono, almohadillas CHO-THERM, cualquier otro material termoconductor adecuado conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos.
El dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310 puede ser un enfriador termoeléctrico, un baño de circulación de agua, hielo seco, llama, cualquier fuente que proporcione calentamiento o enfriamiento tal como conoce un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos. En una realización, el dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310 es externo al sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308. En una realización, el dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310 se acopla a una fuente externa que controla la temperatura de la placa de fuente de luz 312. El dispositivo de control de temperatura de placa de fuente de luz 310 generalmente está lo suficientemente cerca de la placa de fuente de luz 312 como para proporcionar el calentamiento/enfriamiento requerido.
La placa de fuente de luz 312 proporciona una superficie de montaje para la fuente de luz, tal como para una o más bombillas. La placa de fuente de luz 312 está acoplada a la fuente de energía luminosa 302. La placa de fuente de luz 312 puede incluir una o más fuentes de luz. La una o más fuentes de luz pueden ser cualquier dispositivo que produzca fotones. Por ejemplo, la fuente de luz puede ser fluorescente, incandescente, láser, emisor termoiónico, diodo emisor de luz (LED) o cualquier otro tipo de fuente de luz conocida por un experto habitual en la técnica. En una realización, se utilizan una o más bombillas LED como fuente de luz ya que la intensidad puede modularse cambiando únicamente la entrada de potencia en vatios. La intensidad de la placa de la fuente de luz 312 se mide normalmente en una unidad de medición conocida como equivalente de sol (por ejemplo, 1.000 W/m2) pero también puede usarse cualquier otra unidad de medición aplicable conocida por un experto habitual en la técnica. La fuente de energía luminosa 302 puede enviar una señal u orden a la placa de fuente de luz 312 para aumentar o disminuir la intensidad de la placa de fuente de luz 312. Por ejemplo, la intensidad puede alterarse en incrementos de 1 sol o un sol parcial. En una realización, el dispositivo fotosensible 318 se expone a una emisión de 10 equivalentes de sol desde la placa de fuente de luz 312.
La placa de interfaz de célula 314 puede incluir un recipiente 316. El recipiente 316 puede ser un mandril, soporte o cualquier otro recipiente para alojar o soportar un dispositivo fotosensible 318 de manera que el dispositivo fotosensible 318 esté expuesto a las emisiones de la placa de fuente de luz 312. El dispositivo fotosensible 318 puede ser uno cualquiera o más dispositivos fotovoltaicos (PV), células solares, fotodiodos, fotorresistores, fotocondensadores, fototransductores, fototransistores, cualquier otro dispositivo fotosensible conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos. El dispositivo fotosensible 318 puede incluir cualquier número de dispositivos fotosensibles individuales (también denominados en el presente documento “píxeles”) según una configuración dada. El recipiente 316 puede estar construido por un material termoconductor, por ejemplo, aluminio. El recipiente 316 incluye clavijas que se acoplan para formar una conexión eléctrica con las almohadillas de los dispositivos fotosensibles 318. Puede colocarse una tapa encima del recipiente 316 para proporcionar estabilidad y aplicar una presión al dispositivo fotosensible 318 para garantizar que las almohadillas del dispositivo fotosensible 318 se conectan eléctricamente a las clavijas del recipiente 316. Aunque sólo se muestran determinados componentes, la presente divulgación contempla que el recipiente 316 puede incluir cualquier número de componentes conocidos por un experto habitual en la técnica.
El dispositivo fotosensible 318 se asienta sobre o por encima de un compuesto termoconductor 320 para proporcionar transferencia de calor. Aunque el compuesto termoconductor 320 se representa por debajo de los dispositivos fotosensibles 318, la presente divulgación contempla que el compuesto termoconductor 320 puede estar por encima de o por debajo de, rodear completamente o cualquier combinación de los mismos, los dispositivos fotosensibles 318. Por ejemplo, en una realización, un compuesto termoconductor 320 puede estar por encima y por debajo del dispositivo fotosensible 318.
El dispositivo fotosensible 318 puede incluir uno o más sustratos donde cada sustrato incluye uno o más dispositivos fotosensibles individuales. En una realización, el dispositivo fotosensible 318 incluye cuatro sustratos con seis dispositivos fotosensibles individuales por sustrato. En una realización, el sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 incluye múltiples recipientes 316 y cada recipiente 316 puede incluir múltiples sustratos dentro de cada dispositivo fotosensible 318. En una realización, el sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 incluye cuatro recipientes 316, teniendo cada uno un dispositivo fotosensible 318 donde el dispositivo fotosensible 318 incluye cuatro sustratos con seis dispositivos fotosensibles individuales por sustrato para un total de noventa y seis dispositivos fotosensibles individuales.
El dispositivo de medición de luz 322 mide la intensidad de la emisión desde la placa de fuente de luz 312. El dispositivo de medición de luz 322 puede ser un fotodiodo, termistor, cualquier dispositivo de medición de luz 322 conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos. El dispositivo de medición de luz 322 mide cualquier fluctuación del rendimiento de la intensidad de luz desde la placa de fuente de luz 312. Las fluctuaciones del rendimiento de la configuración de los dispositivos fotosensibles 318 pueden deberse a fluctuaciones del rendimiento de los propios dispositivos fotosensibles 318 o a fluctuaciones de la placa de fuente de luz 312. Aunque el dispositivo de medición de luz 322 está representado dentro del recipiente 316, la presente divulgación contempla que el dispositivo de medición de luz 322 sea externo al recipiente 316. El dispositivo de medición de luz 322 puede comunicar una o más mediciones de intensidad de luz basándose, en al menos en parte, en uno o más criterios de medición de intensidad de luz para la configuración de las pruebas. Por ejemplo, el dispositivo de medición de luz 322 puede comunicar una o más mediciones de intensidad de luz al mux 304 basándose, al menos en parte, en una solicitud de una medición de intensidad de luz desde el mux 304, un intervalo cronometrado, una interrupción, una orden manual o entrada de un usuario, una determinación de que se ha superado un umbral o rango (por encima o por debajo), cualquier otro criterio conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos. Aunque el dispositivo de medición de luz 322 se representa dentro del recipiente 322, la presente divulgación contempla que el dispositivo de medición de luz 322 sea externo al recipiente 316 pero próximo a la placa de fuente de luz 312, de manera que el dispositivo de medición de luz 322 pueda medir con precisión la intensidad de luz expuesta a los dispositivos fotosensibles. 318. El dispositivo de medición de luz 322 puede estar a cualquier distancia de la placa de fuente de luz 312 pero para una medición precisa debe estar dentro de la tolerancia para medir las emisiones desde la placa de fuente de luz 312 expuesta al dispositivo fotosensible 318. En una realización, el dispositivo de medición de luz 322 se acopla a un dispositivo fotosensible 318 a cada lado del compuesto termoconductor 320. En una realización, el dispositivo de medición de luz 322 está entre los dispositivos fotosensibles 318 y la placa de fuente de luz 312 pero no obstruye ninguna luz ni degrada la intensidad de luz de la fuente de luz 312 a los dispositivos fotosensibles 318.
El dispositivo de medición de temperatura 324 monitoriza la temperatura de los dispositivos fotosensibles 318. Aunque el dispositivo de medición de temperatura 324 se muestra dentro del recipiente 316, la presente divulgación contempla que el dispositivo de medición de temperatura 324 puede ser externo al recipiente 316, estar dentro del sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 o ser externo al sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308. El dispositivo de medición de temperatura 324 está en estrecha proximidad de los dispositivos fotosensibles 318 para proporcionar una medición precisa de los dispositivos fotosensibles 318 donde la proximidad puede determinarse basándose, al menos en parte, en la sensibilidad del dispositivo de medición de temperatura 324, la precisión requerida de la configuración de prueba, el tipo de dispositivos fotosensibles 318 o cualquier otro criterio conocido por un experto habitual en la técnica. El dispositivo de medición de temperatura 324 se comunica a través de una interfaz de la placa de interfaz de célula 314 con el mux 304. El dispositivo de medición de temperatura 324 puede comunicar una o más mediciones de temperatura basándose, al menos en parte, en uno o más criterios de medición de temperatura para la configuración de las pruebas. Por ejemplo, el dispositivo de medición de temperatura 324 puede comunicar una o más mediciones de temperatura al mux 304 basándose, al menos en parte, en una solicitud de una medición de temperatura desde el mux 304, un intervalo cronometrado, una interrupción, una orden manual o una entrada por parte de un usuario, una determinación de que se ha excedido un umbral o rango (por encima o por debajo), cualquier otro criterio conocido por un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos.
El sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308 también puede incluir un dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326. El dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 controla la temperatura de la placa de interfaz de célula 314 y el recipiente 316 incluyendo el dispositivo fotosensible 318. El dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 puede ser un enfriador termoeléctrico, un baño de circulación de agua, hielo seco, llama, cualquier fuente que proporcione calentamiento o enfriamiento tal como conoce un experto habitual en la técnica, o cualquier combinación de los mismos. En una realización, el dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 es externo al sistema de prueba de dispositivo fotosensible 308. En una realización, el dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 se acopla a una fuente externa (por ejemplo, controlador lógico programable y fuente de alimentación) que controla la temperatura de la placa de interfaz de célula 314. El dispositivo de control de temperatura de interfaz de célula 326 generalmente está en estrecha proximidad de la placa de interfaz de célula 314 para proporcionar el calentamiento y/o enfriamiento especificado o requerido.
La figura 4 es un diagrama de flujo que ilustra un método de ejemplo 400 para un sistema de pruebas de degradación 230. En la etapa 402, el sistema de pruebas de degradación 230 se inicializa y configura. Uno o más parámetros o configuraciones de pruebas de degradación pueden inicializarse o establecerse en un cliente 220. Los parámetros o configuraciones de pruebas de degradación pueden ser indicativos de la configuración y tipo de pruebas para el sistema de pruebas de degradación 230. Uno o más de los parámetros o configuraciones de pruebas de degradación pueden inicializarse a través de una interfaz gráfica de usuario (GUI), una interfaz de línea de órdenes (CLI), automáticamente a través de un sistema experto que sondea uno o más componentes del sistema de pruebas de degradación 230, por ejemplo, dispositivos fotosensibles 318 o cualquier combinación de los mismos, o de cualquier otra manera conocida por un experto habitual en la técnica. El uno o más parámetros o configuraciones de pruebas de degradación pueden inicializarse o establecerse por un usuario o automáticamente por uno o más clientes 220 o servidores 240 distintos. En una realización, un usuario inicia sesión en remoto en el cliente 220 (mostrado en la figura 3) y establece o inicializa el uno o más parámetros de pruebas de degradación. En otra realización, un usuario establece o inicializa localmente el uno o más parámetros de pruebas de degradación en el cliente 220 (mostrado en la figura 3). En una o más realizaciones, el cliente 220 (mostrado en la figura 3) es local al sistema de pruebas de degradación 230. En una o más realizaciones, el cliente 220 (mostrado en la figura 3) es remoto al sistema de pruebas de degradación 230.
En una realización, los parámetros de pruebas de degradación pueden incluir una tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible. La tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible puede incluir entradas únicas o un mapa de direcciones para cada dispositivo fotosensible 318. Cada clavija de cada dispositivo fotosensible individual de dispositivos fotosensibles 318 puede tener una dirección única que se almacena en la tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible. La tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible puede ser un archivo plano, una base de datos, una lista enlazada, un valor con dirección almacenado en una ubicación de memoria (tal como la memoria 104 o el almacenamiento 106), cualquier otra forma adecuada conocida por un experto habitual en la técnica o cualquier combinación de los mismos. La tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible puede inicializarse por un usuario a través de una interfaz gráfica de usuario (GUI), una interfaz de línea de órdenes (CLI), automáticamente a través de un sistema experto que sondea cada dispositivo fotosensible individual de dispositivos fotosensibles 318, el sistema de pruebas de degradación 230 o cualquier combinación de los mismos, o cualquier otra manera conocida por un experto habitual en la técnica para obtener la identificación o las direcciones para cada clavija individual de un dispositivo fotosensible individual de dispositivos fotosensibles 318. La tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible puede correlacionar con respecto al cableado desde el mux 304 hasta cada clavija de cada dispositivo fotosensible de los dispositivos fotosensibles 318.
Además, en la etapa 402, pueden establecerse uno o más umbrales de pruebas de degradación. El uno o más umbrales de pruebas de degradación pueden incluir uno o más de umbral de fallo de dispositivo fotosensible, un régimen de rendimiento de píxel, umbral de fallo de píxel, umbral de intensidad de luz, intervalo de tiempo de intensidad de luz, un umbral de temperatura, un umbral de humedad, un umbral de tensión, un umbral de corriente, un umbral atmosférico (por ejemplo, niveles establecidos para oxígeno, nitrógeno, argón o cualquier otro criterio atmosférico conocido por un experto habitual en la técnica), un umbral de duración de pruebas (por ejemplo, 1 día, 10 días o cualquier otra unidad de medición adecuada conocida por un experto habitual en la técnica) o cualquier otro umbral o combinaciones de los mismos conocidos por un experto habitual en la técnica. Por ejemplo, el sistema de pruebas de degradación 230 puede estar configurado para someter a prueba dispositivos fotosensibles 318 a un umbral de intensidad de luz de referencia predefinido de 1 sol para establecer una referencia. En otro ejemplo, después de establecer una referencia, el sistema de pruebas de degradación 230 puede estar configurado para someter a prueba dispositivos fotosensibles 318 a un umbral de intensidad de luz de 10 soles.
Además, en la etapa 402, el sistema de pruebas de degradación 230 puede estar configurado para obtener uno o más tipos de mediciones a lo largo de un rango de puntos de datos y en un intervalo especificado dentro de ese rango. En una realización, el rango se establece a de -0,2 voltios a 1,3 voltios mediante el dispositivo de medición 306 con mediciones de rendimiento de dispositivos fotosensibles 318 tomadas a intervalos de cada 0,1 V. Una duración de intervalo también puede asociarse con cada intervalo. En una realización, la duración de intervalo puede basarse en una frecuencia de manera que se toman mediciones en un periodo de tiempo medido en hercios. En otra realización, la duración de un intervalo también puede medirse en días o cualquier otra unidad de medición adecuada conocida por un experto habitual en la técnica. La dirección de exploración también puede especificarse de manera que las mediciones se toman comenzando en una tensión negativa a una tensión positiva o una tensión positiva a una tensión negativa.
En la etapa 402, una o más configuraciones o parámetros distintos que pueden inicializarse o establecerse pueden incluir el número de sistemas de pruebas de degradación 230, el número de recipientes 316 dentro de cada sistema de pruebas de degradación 230, el número de dispositivos fotosensibles 318 dentro de cada recipiente 316, el número de dispositivos fotosensibles individuales dentro de cada dispositivo fotosensible 318, el procedimiento usado para crear cada dispositivo fotosensible individual de dispositivos fotosensibles 318, un nombre de archivo u otro identificador único para cada sustrato individual, identificación de qué clavijas de cada dispositivo fotosensible individual de cada dispositivos fotosensibles 318 se medirán (o se someterán a prueba), temperatura de pruebas, atmósfera de pruebas (por ejemplo, vapor de agua, aire, nitrógeno puro, oxígeno puro, argón puro, etc., o cualquier combinación de los mismos) y cualquier otro parámetro conocido por un experto habitual en la técnica.
En la etapa 404, la intensidad de luz se establece basándose, al menos en parte, en el umbral de intensidad de luz (o si es una referencia, el umbral de intensidad de luz de referencia). En una realización, un cliente 220 envía una orden a la fuente de energía luminosa 302 (por ejemplo, una fuente de energía programable) para emitir una tensión o corriente particular a la placa de fuente de luz 312. La orden puede basarse en uno cualquiera o más de los parámetros de pruebas de degradación. Por ejemplo, en una realización un umbral de intensidad de luz se establece a 10 soles y la duración para las pruebas a 10 soles se establece para cada 10 días con un intervalo establecido para ajustar la intensidad de luz a 1 sol y para mantener la intensidad de luz de 1 sol durante el ciclo de pruebas del dispositivo fotosensible 318, y volver a 10 soles tras completar el ciclo de pruebas. En esta realización, el cliente 220 envía una orden de tensión o corriente correspondiente a la fuente de energía luminosa 302 para establecer la intensidad de luz de la placa de fuente de luz 312 al nivel requerido.
En la etapa 406 se determina si una medición debe solicitarse. Por ejemplo, uno o más de los parámetros de pruebas de degradación pueden indicar cuándo se solicita una medición, un usuario puede solicitar una medición o un cliente 220 puede solicitar una medición basándose en cualquier número de criterios, parámetros de pruebas de degradación o cualquier combinación de los mismos. En una realización, se determina si ha pasado un intervalo específico o se ha alcanzado una duración. Por ejemplo, el sistema de pruebas de degradación 230 puede estar configurado para realizar una medición de rendimiento de uno cualquiera o más píxeles de los dispositivos fotosensibles 318 a la finalización de un determinado intervalo o duración de tiempo. Por ejemplo, pueden realizarse diariamente mediciones de rendimiento (o cualquier otra medición solicitada), dos veces al día, después de la finalización de un temporizador (por ejemplo, a la finalización de un periodo de tiempo establecido), como resultado de una interrupción o basándose en cualquier otro intervalo de tiempo. El intervalo de tiempo puede almacenarse como un umbral de duración o un umbral de intervalo de manera que cuando se supera el umbral, se desencadena una interrupción, o un cliente 220 puede sondear de manera continua para determinar si se ha superado el umbral, o mediante cualquier otra manera conocida por un experto habitual en la técnica. Si uno o más parámetros o condiciones de sistema de degradación no se cumplen de manera que no se solicita una medición, el sistema puede estar en bucle de manera continua en la etapa 406. El procedimiento puede producir un hilo independiente para sondear de manera continua una interrupción o cualquier otra indicación de que se han cumplido uno o más de los parámetros o condiciones de sistema de degradación (por ejemplo, un umbral de duración o un umbral de intervalo). Tal sondeo no tiene que realizarse en un hilo independiente sino más bien puede realizarse en un único hilo o de cualquier manera conocida por un experto habitual en la técnica.
En una realización, puede solicitarse una medición del rendimiento de uno o más píxeles (correspondientes a una clavija individual) de uno o más dispositivos fotosensibles individuales de dispositivos fotosensibles 318 para cualquiera del uno o más recipientes 316 tal como se describió anteriormente con respecto a la figura 3. Puede solicitarse una medición para cualquier condición de sistema de pruebas de degradación medible que incluye cualquier condición asociada con uno cualquiera o más parámetros de pruebas de degradación. Por ejemplo, además de obtener una medición de un píxel, puede medirse la humedad, temperatura, atmósfera o cualquier otra condición adecuada. La una o más condiciones pueden medirse de manera independiente a partir del rendimiento de un píxel dado. Por ejemplo, el cliente 220 puede solicitar mediciones o recibir automáticamente mediciones para una o más condiciones que utilizan uno o más dispositivos de medición que incluyen, pero no se limitan a, dispositivo de medición 306, dispositivo de medición de temperatura 324 y dispositivo de medición de luminosidad 322. Una o más condiciones pueden asociarse con cada tipo de medición solicitada. Por ejemplo, una medición de rendimiento para un píxel particular puede tener un umbral de duración asociado, un umbral de intervalo, un umbral de rango o cualquier otra condición adecuada conocida por un experto habitual en la técnica. La etapa 406 determina si cualquier condición asociada de este tipo se ha cumplido antes de solicitar que se solicite la medición especificada.
Si se solicita una medición, entonces en la etapa 408, un cliente 220 envía una solicitud para la medición particular al dispositivo apropiado. Por ejemplo, un cliente 220 envía una solicitud para una medición de rendimiento para un píxel particular. La solicitud (u orden) se envía a un mux 304. La solicitud puede basarse, al menos en parte, en una dirección del píxel (que corresponde a una clavija particular de un dispositivo fotosensible individual de dispositivo fotosensible 318) que va a medirse donde la dirección puede obtenerse a partir de la tabla de consulta de clavija de dispositivo fotosensible, identificación del recipiente 316, la identificación del sustrato que contiene el píxel particular de interés, la identificación del dispositivo fotosensible individual dentro de los dispositivos fotosensibles 318, una identificación del sistema de pruebas de degradación 230 particular o cualquier otro criterio o identificador conocido por un experto habitual en la técnica. El mux 304 realiza las conexiones eléctricas apropiadas para recibir la medición de rendimiento asociado con el píxel identificado.
En la etapa 410, el mux 304 basándose, al menos en parte, en la dirección recibida desde el cliente 220 obtiene una medición de rendimiento para el píxel identificado. Por ejemplo, se aplica normalmente una tensión en un rango al dispositivo fotosensible 318 (o a un dispositivo fotosensible individual de dispositivo fotosensible 318) mediante el dispositivo de medición 306 a través de un mux 304 y se mide la corriente generada en cada intervalo mediante el dispositivo de medición 306 a través de un mux 304. Estas mediciones pueden usarse entonces para generar una curva de corriente/tensión (o I-V) a partir de la cual puede obtenerse toda la información. Por ejemplo, puede obtenerse la resistencia, potencia máxima, capacidad, tensión de circuito abierto, corriente de cortocircuito o cualquier otra información relacionada conocida por un experto habitual en la técnica. En una realización, el dispositivo de medición 306 puede convertir la medición de rendimiento en una forma adecuada para su consumo por el cliente 220 y comunica el resultado al cliente 220. En una realización, el dispositivo de medición 306 comunica al cliente 220 la medición de rendimiento a través de una o más interfaces, componentes o dispositivos adecuados. En una realización, el cliente 220 almacena la medición en el archivo de sustrato asociado con el píxel medido. La medición puede almacenarse como una entrada en un archivo plano, una base de datos, una lista enlazada, un valor con dirección almacenada en una ubicación de memoria (tal como la memoria 104 o el almacenamiento 106), cualquier otra manera adecuada conocida por un experto habitual en la técnica o cualquier combinación de los mismos.
En la etapa 412, el cliente 220 determina basándose, al menos en parte, en el resultado recibido desde la etapa 410 para la medición de rendimiento si se ha producido un fallo de un dispositivo fotosensible individual de dispositivo fotosensible 318. Si no se ha producido un fallo del dispositivo fotosensible, el procedimiento continúa en la etapa 416. Puede determinarse un fallo del dispositivo fotosensible basándose, al menos en parte, en la medición de rendimiento de uno cualquiera o más píxeles del dispositivo fotosensible particular. Por ejemplo, si la medición de rendimiento de uno cualquiera o más píxeles cae por debajo de un determinado régimen de rendimiento de píxel (por ejemplo, por debajo de un determinado porcentaje) entonces puede determinarse que el dispositivo fotosensible particular ha fallado. En un ejemplo, el umbral de fallo de píxel se establece a uno de manera que si un píxel no cumple el régimen de rendimiento de píxel especificado, se determina que todo el dispositivo fotosensible individual ha fallado. En otra realización, el umbral de fallo de píxel es un número o porcentaje especificado de píxeles y una vez que se cumple el umbral se determina que un dispositivo fotosensible particular ha fallado.
Si se determina en la etapa 412 que un dispositivo fotosensible o píxel particular ha fallado, el dispositivo fotosensible o el píxel puede marcarse con un indicador de pruebas en la etapa 414 de manera que no se realiza ninguna prueba adicional en ese dispositivo fotosensible o píxel particular dentro de dispositivos fotosensibles 318. El indicador de pruebas puede ser un único bit en el que un ajuste es indicativo de un fallo y otro ajuste es indicativo de un pase, un no fallo, o que las pruebas deben continuar para el píxel o dispositivo fotosensible particular. En otra realización, se notifica a un usuario que un dispositivo fotosensible particular ha fallado y tiene que reemplazarse. Puede notificarse a un usuario a través de correo electrónico, una GUI, una CLI, un mensaje de advertencia, una alarma, un indicador luminoso, o cualquier otra manera conocida por un experto habitual en la técnica. En una realización, el fallo se registra en el archivo de sustrato asociado con el dispositivo fotosensible particular.
En la etapa 416 se determina si deben continuar las pruebas adicionales de cualquiera del uno o más sistemas de pruebas de degradación. Por ejemplo, la determinación de la etapa 416 puede realizarse basándose, al menos en parte, en el número de píxeles fallidos, el número de dispositivos fotosensibles particulares marcados como fallos o cualquier otro umbral de pruebas de degradación o cualquier combinación de los mismos. En una o más realizaciones, el procedimiento puede terminar si el número de dispositivos fotosensibles individuales de dispositivo fotosensible 318 supera el umbral de fallo de dispositivo fotosensible. Por ejemplo, en una realización el umbral de fallo de dispositivo fotosensible puede establecerse a uno de manera que incluso si se incluye más de un dispositivo fotosensible dentro de dispositivos fotosensibles 318 si falla un único dispositivo fotosensible, se termina la prueba. En una o más realizaciones, dos o más sistemas de pruebas de degradación 230 existen de manera que incluso si las pruebas para un sistema de pruebas de degradación 230 terminan las otras pueden continuar. Si continuar las pruebas puede basarse, al menos en parte, en uno o más de un umbral de duración (por ejemplo, las pruebas pueden terminar a la finalización de un límite de tiempo predeterminado), capacidad de adecuación del entorno de pruebas (por ejemplo, las pruebas pueden terminar si la humedad, temperatura, atmósfera, etc. no están en niveles aceptables), tasa de fallo de píxel, tasa de fallo de dispositivo fotosensible, número de dispositivos fotosensibles marcados como fallos, número de píxeles marcados como fallos, entrada de usuario (por ejemplo, el usuario a través de una GUI, CLI, u otra entrada indica si las pruebas deben continuar), una o más evaluaciones de uno o más parámetros medidos, o cualquier otro criterio conocido por un experto habitual en la técnica.
Si en la etapa 416, se determina que se necesitan pruebas adicionales, entonces en la etapa 418 se determina si la intensidad de luz debe alterarse. Por ejemplo, cuando se obtiene una referencia, la intensidad de luz puede establecerse inicialmente y mantenerse o sostenerse al nivel inicial durante la duración de la prueba de referencia. Si la intensidad de luz no tiene que alterarse el procedimiento continúa en la etapa 406. Si la intensidad de luz tiene que alterarse el procedimiento continúa en la etapa 404. La alteración de la intensidad de luz puede determinarse basándose, al menos en parte en uno cualquiera o más de un intervalo de tiempo de intensidad de luz, un umbral de intensidad de luz, a determinados intervalos de medición (por ejemplo, después de cada medición, después de cada segunda medición, etc.), intervalos de duración o cualquier otro parámetro adecuado conocido por un experto habitual en la técnica.
En una realización, en la etapa 418 también puede alterarse cualquier otra configuración asociada con el sistema de pruebas de degradación 230. Por ejemplo, puede determinarse que debe alterarse la temperatura, humedad, atmósfera o cualquier otra condición del entorno de sistema de pruebas de degradación 230.
En una realización, el procedimiento mostrado en 400 se lleva a cabo para obtener una medición de referencia. La medición de referencia puede establecerse usando uno cualquiera o más parámetros de umbral de pruebas de degradación y uno o más valores para los parámetros de umbral de pruebas de degradación. Por ejemplo, una referencia puede ejecutarse durante una duración de 1 día con un umbral de intensidad de luz de 1 sol. Después de establecer una medición de referencia, el procedimiento mostrado en 400 puede ejecutarse en un funcionamiento normal durante cualquier periodo de tiempo dado y para cualquier umbral de intensidad de luz (por ejemplo, 10 días a una intensidad de luz de 10 soles). En una o más realizaciones, un cliente 220 puede apagar las pruebas de un sistema de pruebas de degradación 230 basándose en una cualquiera o más alarmas. La una o más alarmas pueden basarse, al menos en parte, en uno cualquiera o más de un detector de humo, un detector de monóxido de carbono, una medición de temperatura, una medición de humedad, una medición atmosférica, una medición de tensión, una medición de corriente, una medición de potencia, un detector de vibración (por ejemplo, un dispositivo que detecta vibración o movimiento en la estructura que aloja el sistema de pruebas de degradación 230, por ejemplo, vibraciones debidas a un terremoto), un cortocircuito, un circuito abierto o cualquier otra alarma conocida por un experto habitual en la técnica.
En el presente documento, “o” es inclusivo y no exclusivo, a menos que se indique expresamente de otro modo o se indique de otro modo por el contexto. Por tanto, en el presente documento, “A o B” significa “A, B o ambos,” a menos que se indique expresamente de otro modo o se indique de otro por el contexto. Además, “y” es tanto conjunto como separado, a menos que se indique expresamente de otro modo o se indique de otro modo por contexto. Por tanto, en el presente documento, “A y B” significa “A y B, de manera conjunta o separada”, a menos que se indique expresamente de otro modo o se indique de otro modo por contexto.
Esta divulgación engloba todos los cambios, sustituciones, variaciones, alteraciones y modificaciones a los ejemplos de realización en el presente documento que comprendería un experto habitual en la técnica. De manera similar, cuando es apropiado, las reivindicaciones adjuntas engloban todos los cambios, sustituciones, variaciones, alteraciones y modificaciones a las realizaciones de ejemplo en el presente documento que comprendería un experto habitual en la técnica. Además, la referencia en las reivindicaciones adjuntas a un aparato o sistema o un componente de un aparato o sistema que se adapta para, se dispone para, que puede, está configurado para, se permite, puede hacerse funcionar para, o es operativo para realizar una función particular engloba aquel aparato, sistema, componente, si ello mismo o esa función particular se activa, se enciende o se desbloquea o no, siempre que ese aparato, sistema, o componente esté de ese modo adaptado, dispuesto, que pueda, esté configurado, se permita, se haga funcionar o sea operativo.
Cualquiera de las etapas, operaciones o procedimientos descritos en el presente documento pueden realizarse o implementarse completamente con hardware o completamente con software (incluyendo firmware, módulos, instrucciones, microcódigo, etc.) o con cualquier combinación de hardware y software. En una realización, un módulo de software se implementa con un producto de programa informático que comprende un medio legible por ordenador que contiene un código de programa informático, que puede ejecutarse mediante un procesador informático para realizar cualquiera o todas las etapas, operaciones o procedimientos descritos.
Las realizaciones de la invención también pueden referirse a un aparato para realizar las operaciones en el presente documento. Este aparato puede construirse especialmente para los propósitos requeridos y/o puede comprender un dispositivo informático de propósito general, tal como un sistema de manejo de información, activado o reconfigurado de manera selectiva mediante un programa informático almacenado en el sistema de manejo de información. Un programa informático de este tipo puede almacenarse en un medio de almacenamiento legible por ordenador tangible o cualquier tipo de medios adecuados para almacenar instrucciones electrónicas, y acoplado a un bus de sistema de manejo de información. Además, cualesquiera sistemas informáticos referenciados en la memoria descriptiva pueden incluir un procesador individual o pueden ser arquitecturas que emplean múltiples diseños de procesador para una capacidad de computación aumentada.
Aunque la presente invención se ha descrito con varias realizaciones, pueden sugerirse una variedad de cambios, variaciones, alteraciones, transformaciones y modificaciones al experto en la técnica, y se pretende que la presente invención englobe tales cambios, variaciones, alteraciones, transformaciones y modificaciones tal como se encuentran dentro del alcance de las reivindicaciones adjuntas. Además, aunque la presente divulgación se ha descrito con respecto a diversas realizaciones, se prevé completamente que las enseñanzas de la presente divulgación puedan combinarse en una realización individual tal como sea apropiado.

Claims (14)

REIVINDICACIONES
1. Un método para pruebas de degradación de un dispositivo fotosensible (318) que comprende una pluralidad de píxeles, correspondiendo cada píxel a una dirección única, comprendiendo el método:
inicializar (402) uno o más parámetros de pruebas de degradación;
establecer (404) una intensidad de luz para una fuente de luz (312), en el que la fuente de luz (312) expone el dispositivo fotosensible (318) con luz a la intensidad de luz establecida; y
para cada píxel:
enviar una solicitud (406) a un multiplexor (304) para una medición de rendimiento de píxel para el píxel del dispositivo fotosensible (318), en el que la medición de rendimiento de píxel se solicita basándose, al menos en parte, en un umbral de duración;
recibir (410) desde el multiplexor (304) la medición de rendimiento de píxel;
comparar la medición de rendimiento de píxel con un umbral de régimen de rendimiento;
determinar (412) si el píxel ha fallado basándose, al menos en parte, en la comparación de la medición de rendimiento de píxel con el umbral de régimen de rendimiento;
marcar (414) un indicador de pruebas asociado con el píxel, en el que el indicador de pruebas es indicativo de la determinación del fallo del píxel; y
determinar (416) si son necesarias pruebas adicionales, en el que la determinación si son necesarias pruebas adicionales se basa, al menos en parte, en el indicador de pruebas asociado con el píxel.
2. El método según la reivindicación 1, en el que si se determina que el píxel ha fallado, el dispositivo fotosensible (318) asociado con el píxel se marca como fallado.
3. El método según la reivindicación 1, que comprende además:
alterar la intensidad de luz, en el que la intensidad de luz se altera en un intervalo de tiempo predeterminado hasta que se alcanza un umbral de intensidad de luz.
4. El método según la reivindicación 1, que comprende además:
almacenar la medición de rendimiento de píxel, en el que la medición de rendimiento de píxel se almacena en un archivo asociado con el sustrato que aloja el dispositivo fotosensible (318) asociado con el píxel.
5. El método según la reivindicación 1, en el que el dispositivo fotosensible (318) asociado con el píxel se marca como fallado basándose, al menos en parte, en un umbral de fallo de píxel.
6. El método según la reivindicación 1, que comprende además:
solicitar una o más de una medición de temperatura, una medición de humedad y una medición atmosférica;
recibir al menos una de la medición de temperatura, la medición de humedad y la medición atmosférica; y alterar uno o más de una temperatura, una humedad y un elemento de una atmósfera basándose, al menos en parte, en una o más de la medición de temperatura, la medición de humedad y la medición atmosférica.
7. El método según la reivindicación 1, en el que la medición de rendimiento se solicita para cada píxel en cada intervalo especificado hasta que se alcanza el umbral de duración.
8. Un sistema que comprende:
una placa de fuente de luz (312), en el que la placa de fuente de luz emite luz a un nivel de intensidad; una placa de interfaz de célula (314);
un recipiente (316) próximo a la placa de fuente de luz (312) y acoplado a la placa de interfaz de célula (314), en el que el recipiente (316) comprende un dispositivo fotosensible (318) que comprende una pluralidad de píxeles y un compuesto termoconductor adyacente a al menos un lado del dispositivo fotosensible (318), en el que una o más clavijas asociadas con los píxeles del dispositivo fotosensible (318) interconectan con el recipiente (316), y en el que el recipiente (316) interconecta la una o más clavijas con la placa de interfaz de célula (314);
un dispositivo de medición de luz (322) próximo a la placa de fuente de luz (312), en el que el dispositivo de medición de luz (322) mide la intensidad de emisiones desde la placa de fuente de luz (312) hasta el dispositivo fotosensible (318);
una fuente de energía luminosa (302) acoplada a la placa de fuente de luz (312), en el que la fuente de energía luminosa (302) controla una o más de corriente y tensión a la placa de fuente de luz;
un multiplexor (304) acoplado a la placa de interfaz de célula (314), en el que el multiplexor (304) activa circuitos para dar una dirección a los píxeles; y
un dispositivo de medición (306) acoplado al multiplexor (304), en el que el dispositivo de medición (306) recibe una o más mediciones de rendimiento asociadas con los píxeles.
9. El sistema según la reivindicación 8, en el que la fuente de energía luminosa (302) es una fuente de alimentación programable.
10. El sistema según la reivindicación 8, que comprende además:
un dispositivo de medición de temperatura (324) dentro del recipiente (316), en el que el dispositivo de medición de temperatura (324) mide la temperatura asociada con el uno o más dispositivos fotosensibles (318).
11. El sistema según la reivindicación 8, que comprende además:
un cliente (220) acoplado en comunicación a la fuente de energía luminosa (302), el multiplexor (304) y el dispositivo de medición (306).
12. El sistema según la reivindicación 8, que comprende además:
un sistema de prueba de dispositivo fotosensible (308), en el que el sistema de prueba de dispositivo fotosensible comprende la placa de fuente de luz (312), la placa de interfaz de célula (314) y el recipiente (316).
13. El sistema según la reivindicación 8, que comprende además:
uno o más sustratos dentro del recipiente (316), en el que cada uno del uno o más sustratos comprende uno o más dispositivos fotosensibles (318).
14. El sistema según cualquiera de las reivindicaciones 8-13, en el que la placa de fuente de luz (312) está configurada para alterar la intensidad de luz en un intervalo de tiempo predeterminado hasta que se alcanza un umbral de intensidad de luz.
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