CN110690856B - 用于测试光敏设备降级的系统 - Google Patents

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Abstract

公开了用于测试光敏设备降级的系统和方法。可以通过配置光敏设备测试系统来测试光敏设备随时间的性能，所述光敏设备测试系统包括将容器内的光敏设备暴露于指定光强度的光源板。光强度可以根据一个或多个阈值通过可编程电源来调节。测试可以持续设置的持续时间，并且在整个持续时间内以预定间隔进行性能测量。可以记录来自光敏设备测试系统的反馈，以确定是否增加光强度、停止测试、继续测试以及是否应当更改一个或多个环境条件。测量结果可以被发送到客户端进行分析和向用户显示。

Description

用于测试光敏设备降级的系统
本申请是申请号为201680065103.3，申请日为2016年9月26日，题为“用于测试光敏设备降级的系统和方法”的中国发明专利申请的分案申请。
技术领域
本申请一般而言涉及光敏设备降级系统，并且特别地涉及用于使用加速降级系统确定光敏设备随时间的性能的系统。
背景技术
使用光敏设备(诸如光伏(PV)或太阳能电池)从太阳能或辐射生成电力可以提供许多益处，包括例如电源、低或零排放、独立于电网的电力生产、耐用的物理结构(无移动零件)、稳定可靠的系统、模块化结构、相对快的安装、安全的制造和使用，以及良好的公众舆论和对使用的接纳。其它光敏设备还可以包括太阳能热电池、光电二极管、光敏电阻、光电容器、光电换能器和光电晶体管。
但是，这种光敏设备的故障可能会是昂贵的，并且可能需要大量的时间来更换或修理。在装运或安装之前对光敏设备进行测试可能会是昂贵的，甚至可能对光敏设备本身具有破坏性。因此，传统上将对光敏设备的样品进行测试，以确定给定光敏设备设计或配置的性能。
为了确定例如降级速率而对光敏设备进行的常规测试可以使用硫等离子体或白炽灯泡作为光源。在传统的降级测试中，光敏设备会曝光在灯泡下，并且偶尔会对面板的性能进行采样。这些系统通常将光敏设备在延长的时间段或者甚至持续延长的时间段内暴露于1太阳当量(sun equivalent)(1000W/m2光强度)或更小。光谱可以进一步根据美国材料与试验协会(ASTM)AM1.5G标准定义。期望减少总测试时间并增加确定光敏设备性能的准确度，以便降低光敏设备设计或配置的成本、缩短上市时间、为客户提供延长的担保，并确定投资回报。
本公开的特征和优点对于本领域技术人员而言将是明显的。虽然本领域技术人员可以做出许多改变，但这些改变在本发明的精神内。
发明内容
根据本公开的教导，可以减少和/或消除与常规光敏设备降级技术相关联的缺点和问题。例如，用于光敏设备的降级测试的一种方法包括初始化一个或多个降级测试参数。设置光源的光强度，其中光源使一个或多个光敏设备暴露于设置的光强度。对一个或多个光敏设备的像素请求像素性能测量，其中每个光敏设备的每个像素被映射到唯一的地址，并且其中像素性能测量至少部分地基于持续时间阈值来请求。接收像素性能测量结果并将其与性能等级(rating)阈值进行比较。至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较来确定像素是否发生故障。与像素相关联的测试指示器被标记，其中测试指示器指示像素的故障的确定。确定是否需要进一步测试，其中确定是否需要进一步测试至少部分地基于与像素相关联的测试指示器。
在一个实施例中，如果确定像素已发生故障，则与像素相关联的光敏设备也被标记为发生故障或者可以被标记为发生故障，以代替将单独像素标记为发生故障。在一个实施例中，与像素相关联的光敏设备至少部分地基于像素故障阈值被标记为发生故障。
在一个实施例中，以预定时间间隔更改光强度直到达到光强度阈值。可以在每个预定时间间隔或者任何其它介于中间的或随后的时间间隔进行性能测量。
在一个实施例中，像素性能测量结果被存储在与容纳光敏设备的基板相关联的文件中，其中该光敏设备与像素相关联。像素性能测量结果可以针对被测试的每个单独像素或者针对被测试的像素的任意组合来存储。
在一个实施例中，请求并接收温度测量结果、湿度测量结果和气氛测量结果中的一个或多个。至少部分地基于温度测量结果、湿度测量结果和气氛测量结果中的一个或多个来改变与测试环境相关联的温度、湿度和气氛的元素中的一个或多个。
在一个实施例中，在每个指定的间隔处对每个像素请求性能测量，直到达到持续时间阈值。
在一个实施例中，系统包括用于处理系统的信息的一个或多个处理器、可通信地耦合到一个或多个处理器的系统的存储器以及包括存储在存储器中的指令的一个或多个模块，指令在被一个或多个处理器执行时可操作以执行包括根据本公开的一个或多个实施例的操作。
在一个实施例中，系统包括：光源板，其中光源板发射一定强度水平的光；电池接口板；接近光源板并耦合到电池接口板的容器，其中容器包括一个或多个光敏设备以及与一个或多个光敏设备的至少一侧相邻的导热化合物，其中与一个或多个光敏设备的一个或多个像素相关联的一个或多个引脚与容器接口连接，并且其中容器将一个或多个引脚接口连接到电池接口板；接近光源板的光计量设备，其中光计量设备测量从光源板到光敏设备的发射强度；耦合到光源板的光电源，其中光电源对到光源板的电流和电压中的一个或多个进行控制；耦合到电池接口板的多路复用器，其中多路复用器激活用于寻址一个或多个像素的电路系统；以及耦合到多路复用器的测量设备，其中测量设备接收与一个或多个像素相关联的一个或多个性能测量结果。
在一个实施例中，光电源是可编程电源。
在一个实施例中，系统还包括容器内的温度计量设备，其中温度计量设备测量与一个或多个光敏设备相关联的温度。
在一个实施例中，系统还包括通信耦合到光电源、多路复用器和测量设备的客户端。
在一个实施例中，系统是光敏设备测试系统，其中光敏设备测试系统包括光源板、电池接口板和容器。
在一个实施例中，系统还包括容器内的一个或多个基板，其中一个或多个基板中的每一个基板包括一个或多个光敏设备。
根据以下附图、说明书和权利要求，本公开的其它技术优点对于本领域普通技术人员来说将是明显的。而且，下面讨论特定勘测技术和组合的其它具体优点。而且，虽然在本公开中解释了具体的优点，但是各种实施例可以包括那些优点中的一些、全部或者都不包括。
附图说明
为了更完整地理解本发明及其特征和优点，现在结合附图参考以下描述，附图中：
图1是图示根据本公开的一个或多个实施例的示例信息处理系统的框图；
图2是图示根据本公开的一个或多个实施例的示例网络配置的框图；
图3是图示根据本公开的一个或多个实施例的示例降级测试系统的框图；以及
图4是图示根据本公开的一个或多个实施例的用于测试降级系统的示例方法的流程图。
具体实施方式
光敏设备的降级可能会导致电力系统的意外故障，并且如果在安装之前未知，则解决起来可能会是昂贵的。因此，了解光敏设备的降级速率是重要的。测试可以是有用的，并且可以降低给定设计或配置的总费用。给定的光敏设备的降级速率与例如由光敏设备产生的电力成反比。即，降级速率越高，随着时间推移产生的电力越小。而且，降级速率与故障率成正比。即，降级速率越高，给定的光敏设备就越有可能发生故障。当光敏设备已经降级了该光敏设备的原始性能度量的20％时，可以认为光敏设备已经发生故障。根据特定光敏设备配置或安装的给定标准，可以向上或向下调节故障阈值。虽然测试是重要的，但减少测试时间以确保及时实现光敏设备的新设计或配置或安装也是重要的。由于光敏设备可以被设计为持续数年甚至数十年，因此需要加速降级以降低总开支并改进性能。本公开提供了用于为给定的光敏设备提供加速的降级和性能测量的系统和方法。
本文的示例实施例可以利用用户本地的单个信息处理系统。在某些实施例中，可以利用多于一个信息处理系统。在其它实施例中，一个或多个信息处理系统可以是远程的，诸如服务器。在一个或多个实施例中，所公开的方法和系统可以结合其它光敏设备降级测试技术来执行。本公开的教导旨在涵盖实施例的任意组合。
虽然讨论了具体的优点，但是各种实施例可以包括列举的优点的全部、一些或者都不包括。通过参考图1至4，可以最好地理解本公开的实施例及其优点，其中相似的标号是指各个附图中相似和对应的零件。
图1图示了用于实现本文公开的一个或多个实施例的示例信息处理系统100。信息处理系统100可以包括可操作以执行用于实现本文公开的任何实施例的任何功能的一个或多个元件、部件、工具(instrumentalities)等，或其任意组合。信息处理系统100可以是嵌入式信息处理系统、片上系统(SOC)、单板信息处理系统、大型机、交互式设备(诸如售货亭(kiosk))、客户端设备、服务器(例如，刀片式服务器或机架式服务器)、个人计算机(例如，台式机或笔记本电脑)、平板计算机、移动设备(例如，个人数字助理(PDA)或智能电话)、消费者电子设备、网络存储设备、打印机、交换机、路由器、数据收集设备、虚拟机，或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的计算设备。在一个或多个实施例中，信息处理系统100可以是单个信息处理系统100或者可以是多个信息处理系统100，可以是自包含的或分布式的(例如，可以跨越多个数据中心)，可以托管在云中，可以是一个或多个其它计算设备的一部分，或者可以是本领域普通技术人员已知的任何其它合适的配置。信息处理系统100可以实时地、按时间间隔、以批处理模式、在单个信息处理系统100或在多个信息处理系统100、在单个位置或多个位置或者以本领域普通技术人员已知的任何其它顺序或方式执行一个或多个操作。
信息处理系统100可以是任意数量的合适部件，并且不限于图1中所示的部件的数量或布置。信息处理系统100可以包括处理器102、存储器104、存储装置106、输入输出(I/O)接口108、显示器110、总线112和网络连接设备114。总线112可以将处理器102、存储器104、存储装置106、I/O接口108和网络连接设备114彼此耦合。总线112还可以将信息处理系统100的任何其它适当部件中的任何一个或多个耦合到信息处理系统100的任何其它一个或多个部件。总线112可以包括硬件、软件或其任意组合，以用于耦合信息处理系统100的任何一个或多个部件。总线112可以是本领域普通技术人员已知的任何类型的总线或总线组合。
信息处理系统100可以包括与存储器设备存储器104和存储装置106通信的处理器102。处理器102可以是通用处理单元(GPU)、微处理器、中央处理单元(CPU)、多个CPU、单核、双核、多核或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的处理器。处理器102可以包括内部只读存储器(ROM)(及其任何变型)、随机存取存储器(RAM)(及其任何变型)、高速缓存、内部寄存器、缓冲器、本领域普通技术人员已知的任何其它类型的合适存储部件、算术逻辑单元(ALU)以及本领域普通技术人员已知的任何其它适当部件中的一个或多个。
处理器102包括用于执行一个或多个指令或模块(例如软件程序或计算机程序)的硬件。应当理解的是，通过将可执行指令编程和/或加载到信息处理系统100上，处理器102、存储器104和存储装置106中的至少一个被改变，从而将信息处理系统100部分地变换成具有由本公开教导的新颖功能的特定的机器或装置。电气工程和软件工程的基础是，可以通过将可执行软件加载到信息处理系统100中来实现的功能可以通过众所周知的设计规则转换成硬件来实现。在软件中实现概念还是在硬件中实现概念的决定通常取决于设计的稳定性和要生产的单元的数量的考虑，而不是在从软件域转变到硬件域时涉及的任何问题。一般而言，仍然需要频繁改变的设计可以优选地用软件实现，因为硬件实现的回转比起软件设计的回转更加昂贵。一般而言，将被大量生产的稳定的设计可以优选地用硬件(例如专用集成电路(ASIC))实现，因为大量产品以硬件实现可以比软件实现更加便宜。常常可以以软件形式开发和测试设计，并且随后通过众所周知的设计规则将其变换为硬连线软件的指令的专用集成电路中的等效硬件实现。以与由新的ASIC控制的机器为特定机器或装置相同的方式，同样，已经被编程和/或加载有可执行指令的计算机可以被视为特定机器或装置。
存储器104可以在处理器102的内部或外部。存储器104可以是RAM、动态RAM(DRAM)、静态RAM(SRAM)或本领域普通技术人员已知的任何其它合适类型的存储器。虽然仅示出了一个存储器104，但是本公开构想任意数量的存储器104。存储器104可以包括用于存储由处理器102执行的一个或多个指令的主存储器。信息处理系统可以从存储装置106或任何其它信息处理系统100将一个或多个指令加载到存储器104。处理器102可以将一个或多个指令从存储器104加载到处理器102的内部存储器以供执行，例如加载到内部寄存器或内部高速缓存。
存储装置106可以包括用于数据、一个或多个指令，一个或多个模块或者本领域普通技术人员已知的任何其它类型的合适信息的大容量存储装置。存储装置106可以是硬盘驱动器(HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘驱动器、磁光盘驱动器、磁带、通用串行总线(USB)驱动器、非易失性固态存储器、只读存储器(ROM)、掩模编程ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM(EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可变ROM(EAROM)、本领域普通技术人员已知的任何其它类型的ROM、闪存、本领域普通技术人员已知的任何其它存储装置，或者这些中的两个或更多个的任意组合。存储装置106可以包括一个或多个存储装置106。存储装置106通常用于非易失性存储以及用作存储器104的溢出存储。存储装置106可以存储可执行程序，诸如当其被选中执行时可以被加载到存储器104中的软件程序或计算机程序。存储器104和存储装置106在一些上下文中可以被称为计算机可读存储介质和/或非瞬态计算机可读存储介质。
网络连接设备114可以是任何或多个网络连接设备114，并且可以采取调制解调器、调制解调器组、以太网卡、USB接口卡、串行接口、令牌环卡、光纤分布式数据接口(FDDI)卡、无线局域网络(WLAN)卡、无线电收发器卡(诸如码分多址(CDMA)、全球移动通信系统(GSM)、长期演进(LTE)、全球微波互联接入(WiMAX)和/或其它空中接口协议无线电收发器卡)，以及其它众所周知的网络设备。这些网络连接设备114可以使处理器102能够与互联网或者一个或多个内联网进行通信。利用这种网络连接，构想处理器102可以从网络(例如，图2的网络210)接收信息，或者可以在执行上述方法步骤的过程中向网络输出信息。常常被表示为要使用处理器102执行的指令序列的这种信息可以例如以体现在载波中的计算机数据信号的形式从网络接收并输出到网络。
可以包括例如要使用处理器102执行的数据、指令或模块的这种信息可以例如以计算机数据基带信号或体现在载波中的信号的形式从网络接收并输出到网络。由网络连接设备114生成的基带信号或体现在载波中的信号可以在电导体的表面中或其上、在同轴电缆中、在波导中、在光导管(例如光纤)中或者在空中或自由空间中传播。基带信号或嵌入在载波中的信号中所包含的信息可以根据不同的顺序排序，如对于处理或生成信息或者发送或接收信息可以是期望的。基带信号或嵌入在载波中的信号或者当前使用或以后开发的其它类型的信号可以根据本领域技术人员众所周知的几种方法来生成。基带信号和/或嵌入在载波中的信号在一些上下文中可以被称为瞬态信号。
处理器102执行从存储器104、存储装置106或网络连接设备114访问的指令、代码、计算机程序、脚本。虽然仅示出一个处理器102，但是可以存在多个处理器。因此，虽然可以将指令讨论为由处理器执行，但是指令可以同时、串行地或以其它方式由一个或多个处理器执行。可以从存储装置106(例如，硬盘驱动器、软盘、光盘和/或其它设备、ROM和/或RAM)访问的指令、代码、计算机程序、脚本和/或数据在一些上下文中称为非瞬态指令和/或非瞬态信息。
I/O接口108可以是硬件、软件或其任意组合。I/O接口108提供用于信息处理系统100与一个或多个I/O设备之间的通信的一个或多个接口。在一个实施例中，I/O接口108耦合到显示器110并且可以向显示器110和从显示器110传送信息。虽然仅示出了显示器110，但是本发明构想耦合到I/O接口108的任意数量的内部或外部I/O设备，诸如视频监视器、液晶显示器(LCD)、触摸屏显示器、打印机、键盘、小键盘、开关、拨号盘、鼠标、轨迹球、语音识别器、读卡器、纸带阅读器、拇指驱动器、硬盘驱动器、光盘驱动器、麦克风、摄像机、触控笔、平板电脑、静物照相机、扬声器、传感器或本领域普通技术人员已知的任何其它设备当中的一个或多个。信息处理系统100还可以包括用于与外部设备通信的一个或多个通信端口(未示出)。I/O接口108还可以包括用于耦合到信息处理系统100的任何一个或多个I/O设备的一个或多个设备驱动器。
在一个实施例中，信息处理系统100可以包括彼此通信的两个或更多个信息处理系统100，这些系统协作以执行任务。例如但不作为限制，应用可以以允许应用的指令的并发和/或并行处理的方式进行分区。可替代地，由应用处理的数据可以以允许由两个或更多个计算机对数据集的不同部分进行并发和/或并行处理的方式进行分区。在一个实施例中，虚拟化软件可以被信息处理设备100采用，以提供在给定配置中不直接绑定到多个信息处理系统100的多个服务器的功能。例如，虚拟化软件可以在四个物理计算机上提供20个虚拟服务器。在一个实施例中，上面公开的功能可以通过在云计算环境中执行一个和/或多个应用来提供。云计算可以包括使用动态可扩展计算资源经由网络连接提供计算服务。云计算可以至少部分地由虚拟化软件支持。云计算环境可以由企业建立和/或可以根据需要从第三方提供者雇用。一些云计算环境可以包括由企业拥有和操作的云计算资源以及从第三方提供者雇用和/或租用的云计算资源。
在一个实施例中，以上公开的功能的一些或全部可以作为计算机程序或软件产品来提供。计算机程序产品可以包括一个或多个计算机可读存储介质，计算机可读存储介质具有体现在其中的用于实现上面公开的功能的计算机可用程序代码。计算机程序产品可以包括数据结构、可执行指令和其它计算机可用程序代码。计算机程序产品可以体现在可移除计算机存储介质和/或不可移除计算机存储介质中。可移除计算机可读存储介质可以包括但不限于纸带、磁带、磁盘、光盘、固态存储器芯片，例如模拟磁带、光盘只读存储器(CD-ROM)盘、软盘、跳转驱动器、数字卡、多媒体卡等。计算机程序产品可以适于通过信息处理系统100将计算机程序产品的至少部分内容加载到存储装置106、存储器104和/或信息处理系统100的其它非易失性存储器和易失性存储器。处理器102可以部分地通过直接访问计算机程序产品来处理可执行指令和/或数据结构，例如通过从插入到信息处理系统100的磁盘驱动器外围设备中的CD-ROM盘读取。可替代地，处理器102可以通过远程访问计算机程序产品来处理可执行指令和/或数据结构，例如通过经由网络连接设备114从远程服务器下载可执行指令和/或数据结构。计算机程序产品可以包括促进将数据、数据结构、文件和/或可执行指令加载和/或复制到存储装置106、存储器104和/或信息处理系统100的其它非易失性存储器和易失性存储器的指令的结构。
在一些上下文中，基带信号和/或体现在载波中的信号可以被称为瞬态信号。在一些上下文中，存储装置106和存储器104可以被称为非瞬态计算机可读介质或计算机可读存储介质。同样，存储器104的动态RAM实施例可以被称为非瞬态计算机可读介质，因为当动态RAM接收电力并且根据其设计被操作时，例如在信息处理系统100开启并且可操作的时间段期间，动态RAM存储写入其中的信息。类似地，处理器102可以包括内部RAM、内部ROM、高速缓存存储器和/或其它内部非瞬态存储块、区段或部件，这些在一些上下文中可以被称为非瞬态计算机可读介质或计算机可读存储介质。
图2是图示用于一个或多个信息处理系统100的示例联网配置的框图。在一个实施例中，一个或多个客户端220经由网络210耦合到一个或多个服务器240。网络210可以是公共网络、私有网络、无线网络、局域网(LAN)、广域网(WAN)、互联网、外联网、内联网或本领域普通技术人员已知的任何其它网络。在一个实施例中，网络210可以包括用于在一个或多个客户端220和一个或多个服务器240之间路由信息的一个或多个路由器。
客户端220可以是任何类型的信息处理系统100。在一个实施例中，客户端220可以是具有有限的处理和存储能力的瘦客户端。服务器240可以是任何类型的信息处理系统100。在一个实施例中，服务器240可以是虚拟机或桌面会话。一个或多个服务器240可以向一个或多个客户端220提供对软件和/或硬件的访问。例如，服务器240可以向客户端220提供对虚拟设备和/或虚拟应用的访问。任何一个或多个客户端240可以经由本领域普通技术人员已知的一种或多种协议中的任何一种与一个或多个服务器240通信。
一个或多个客户端220可以耦合到一个或多个降级测试系统230。虽然仅示出一个降级测试系统230耦合到给定客户端220，但本公开构想任何一个或多个降级系统230耦合到单个客户端220或多个客户端220。在一个实施例中，一个或多个降级测试系统230可以耦合到相同的一个或多个客户端230。本公开构想降级测试系统230的任意组合可以以任何数量的配置耦合到任何一个或多个客户端220。在一个或多个实施例中，客户端220可以经由网络210将从任何一个或多个降级测试系统230接收的信息传送到任何一个或多个服务器240。
图3是图示根据本公开的一个或多个实施例的示例性降级测试系统230的框图。虽然仅绘出了某些部件，但是本公开构想降级测试系统230可以包括任何数量的部件。虽然在降级测试系统230内绘出了一个或多个部件，但是本公开构想可以将任何一个或多个部件包含在单个结构或单元内或者包含在多个结构或单元内。
降级测试系统230提供了测试光敏设备的降级的高效方式。降级测试系统230可以包括光电源302、多路复用器(mux)304、电源测量设备(或测量设备)306和光敏设备测试系统308。在一个或多个实施例中，光电源302、多路复用器304、测量设备306和光敏设备测试系统308可以是分离的设备或者在单个设备内、容纳在一个或多个机架内或单个机架内，或其任意组合。
光电源302可以是可编程电源，其允许控制与向一个或多个光源供电相关联的电流、电压、时间戳或任何其它参数中的一个或多个。在一个实施例中，光电源302可以是Keithley 2231A-30-3三通道DC电源、本领域普通技术人员已知的任何其它光电源302或光电源302的任意组合。光电源302控制由光源板312发射的光强度。光电源302可以具有一个或多个本地控件，以允许用户调节(手动地、自动地或以编程方式)光电源302的任何一个或多个参数。光电源302可以耦合到客户端220，以允许光电源302与客户端220之间的双向通信。与光电源302相关联的一个或多个参数中的任何一个可由客户端220控制。光电源302可以将一个或多个参数中的任何一个的值发送到客户端220。至少部分地基于与光电源302相关联的一个或多个参数，客户端220可以更改与光电源302相关联的一个或多个参数中的任何一个。例如，可以将一个或多个参数中的任何一个或多个与阈值进行比较，并且至少部分地基于该比较，客户端220可以向光电源302传送更改或改变这些参数中的一个或多个的命令。例如，客户端220可以接收指示由光电源302输出的电压电平的参数，并且该参数可以与预定义的阈值或限制进行比较，从而客户端220可以向光电源302发送命令以调节电压，以便达到阈值(诸如向光电源302发送命令，以便增加、减少或者维持当前电压电平)。
降级测试系统230还可以包括多路复用器304。多路复用器304是用于将光敏设备318的像素多路复用到耦合的测量设备306的多路复用器。在一个实施例中，多路复用器304可以是Agilent 34792或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的开关单元。在一个实施例中，测量设备306可以是Keithley 2450源计量单元或本领域普通技术人员已知的任何其它测量设备。测量设备306可以一次只测量光敏设备318的一个像素。测量设备306可以将针对所选像素请求信息或测量的信号或命令发送到多路复用器304。作为响应，多路复用器304将与所选像素相关联的测量发送到测量设备306。以这种方式，可以测试每个光敏设备318的每个像素。虽然仅示出了一个多路复用器304，但是可以根据多路复用器304允许的输入的数量和需要测量的光敏设备318的像素的数量来利用任何数量的多路复用器304。在一个实施例中，多路复用器304的第一集合(其中集合可以是一个或多个)可以耦合到第一测量设备306，而多路复用器的第二集合(其中集合可以是一个或多个)可以耦合到第二测量设备306。可以根据给定测试配置的具体要求来利用多路复用器304和测量设备306的任意组合。
多路复用器304和测量设备306还耦合到客户端220。客户端220向多路复用器304传送被选择用于测试的光敏设备318的特定像素(用于测量的光敏设备318的像素)。例如，客户端220可以与多路复用器304通信，以闭合或断开与多路复用器304相关联的一个或多个继电器，以便完成、断开或以其它方式连接与所选像素相关联的必要电路系统。然后，客户端220可以从测量设备306请求对所选像素的测量。
降级测试系统230还可以包括光敏设备测试系统308。光敏设备测试系统308包括提供(source)、容纳、冷却、维持、访问被指定或选择用于测试的光敏设备318、与其通信或为其执行任何其它操作所需的部件。例如，光敏设备测试系统308可以包括光源板温度控制设备310、光源板312、电池接口板314、容器316和电池接口温度控制设备326。虽然光源板温度控制设备310、光源板312、电池接口板314、容器316和电池接口温度控制设备326被示为在光敏设备测试系统308内，但是任何一个或多个可以在光敏设备测试系统308外部。
光源板温度控制设备310加热、冷却或者既加热又冷却光源板312以及随后安装在其上的任何光源。在一个实施例中，导热化合物320是介电材料。在一个实施例中，导热化合物320是导热油脂或环氧树脂、碳纳米管、石墨、碳黑、CHO-THERM焊盘、本领域普通技术人员已知的任何其它合适的导热材料中的一种，或其任意组合。
光源板温度控制设备310可以是热电冷却器、水循环浴、干冰、火焰、提供本领域普通技术人员已知的加热或冷却的任何源，或其任意组合。在一个实施例中，光源板温度控制设备310在光敏设备测试系统308外部。在一个实施例中，光源板温度控制设备310耦合到控制光源板312的温度的外部源。光源板温度控制设备310一般足够靠近光源板312，以提供所需的加热/冷却。
光源板312为光源(诸如为一个或多个灯泡)提供安装表面。光源板312耦合到光电源302。光源板312可以包括一个或多个光源。一个或多个光源可以是产生光子的任何设备。例如，光源可以是荧光灯、白炽灯、激光器、热离子发射器、发光二极管(LED)或本领域普通技术人员已知的任何其它类型的光源。在一个实施例中，一个或多个LED灯泡被用作光源，因为可以通过仅改变功率瓦数输入来调制强度。通常以称为太阳当量(例如，1000W/m2)的测量单位测量光源板312的强度，但也可以使用本领域普通技术人员已知的任何其它适用的测量单位。光电源302可以向光源板312发送信号或命令，以增加或减小光源板312的强度。例如，强度可以以1太阳或部分太阳为增量而改变。在一个实施例中，光敏设备318暴露于来自光源板312的10太阳当量的发射。
电池接口板314可以包括容器316。容器316可以是用于容纳或支撑光敏设备318以使得光敏设备318暴露于来自光源板312的发射的卡盘、保持器或任何其它容器。光敏设备318可以是光伏(PV)、太阳能电池、光电二极管、光敏电阻、光电容器、光电换能器、光电晶体管、本领域普通技术人员已知的任何其它光敏设备中的任何一种或多种，或其任意组合。根据给定的配置，光敏设备318可以包括任何数量的单独的光敏设备(在本文中也称为“像素”)。容器316可以由导热材料(例如，铝)构成。容器316包括配对以与光敏设备318的焊盘形成电连接的引脚。可以将盖子放在容器316的顶部上，以提供稳定性并向光敏设备318施加压力，以确保光敏设备318的焊盘电连接到容器316的引脚。虽然仅示出了某些部件，但本公开构想容器316可以包括本领域普通技术人员已知的任何数量的部件。
光敏设备318位于导热化合物320上或其上方，以提供热传递。虽然导热化合物320在光敏设备318下方示出，但本发明构想导热化合物320可以位于光敏设备318的上方或下方、完全环绕光敏设备318，或上述任意组合。例如，在一个实施例中，导热化合物320可以在光敏设备318的上方和下方。
光敏设备318可以包括一个或多个基板，其中每个基板包括一个或多个单独的光敏设备。在一个实施例中，光敏设备318包括四个基板，每个基板具有六个单独的光敏设备。在一个实施例中，光敏设备测试系统308包括多个容器316，并且每个容器316可以包括在每个光敏设备318内的多个基板。在一个实施例中，光敏设备测试系统308包括四个容器316，每个容器具有光敏设备318，其中光敏设备318包括四个基板，每个基板具有六个单独的光敏设备，总共九十六个单独的光敏设备。
光计量设备322测量来自光源板312的发射强度。光计量设备322可以是光电二极管、热敏电阻、本领域普通技术人员已知的任何光测量设备322，或其任意组合。光计量设备322测量来自光源板312的光强度性能的任何波动。光敏设备318的配置性能的波动可能是由于光敏设备318自身的性能波动或由于光源板312的波动。虽然光计量设备322被绘制为在容器316内，但是本公开构想光计量设备322在容器316外部。光计量设备322可以至少部分地基于用于测试配置的一个或多个光强度测量标准传送一个或多个光强度测量结果。例如，光计量设备322可以至少部分地基于来自多路复用器304的对光强度测量的请求、定时间隔、中断、手动命令或用户的输入、确定阈值或范围已被超过(高于或低于)、本领域普通技术人员已知的任何其它标准或其任意组合向多路复用器304传送一个或多个光强度测量结果。虽然光计量设备322被绘制为在容器322内，但是本公开构想光计量设备322位于容器316的外部但靠近光源板312，使得光计量设备322可以准确地测量暴露于光敏设备318的光强度。光计量设备322可以距光源板312任何距离，但是为了准确的测量，必须在用于测量暴露于光敏设备318的光源板312的发射的容限内。在一个实施例中，光计量设备322耦合到在导热化合物320的任一侧上的光敏设备318。在一个实施例中，光计量设备322位于光敏设备318和光源板312之间，但不阻挡光源312到光敏设备318的任何光或使其光强度降级。
温度计量设备324监测光敏设备318的温度。虽然温度计量设备324被示出为在容器316内，但本公开构想温度计量设备324可以位于容器316外部、位于光敏设备测试系统308内或位于光敏设备测试系统308外部。温度计量设备324紧邻光敏设备318，以提供对光敏设备318的准确测量，其中可以至少部分地基于温度计量设备324的灵敏度、测试配置所需的准确度、光敏设备318的类型或本领域普通技术人员已知的任何其它标准来确定接近度。温度计量设备324经由电池接口板314的接口与多路复用器304通信。温度计量设备324可以至少部分地基于用于测试配置的一个或多个温度测量标准来传送一个或多个温度测量结果。例如，温度计量设备324可以至少部分地基于来自多路复用器304的对温度测量的请求、定时间隔、中断、手动命令或用户的输入、确定阈值或范围已被超过(高于或低于)、本领域普通技术人员已知的任何其它标准或其任意组合向多路复用器304传送一个或多个温度测量结果。
光敏设备测试系统308还可以包括电池接口温度控制设备326。电池接口温度控制设备326控制电池接口板314和包括光敏设备318的容器316的温度。电池接口温度控制设备326可以是热电冷却器、水循环浴、干冰、火焰、如本领域普通技术人员已知的提供加热或冷却的任何源，或其任意组合。在一个实施例中，电池接口温度控制设备326在光敏设备测试系统308的外部。在一个实施例中，电池接口温度控制设备326耦合到控制电池接口板314的温度的外部源(例如，可编程逻辑控制器和电源)。电池接口温度控制设备326一般紧邻电池接口板314，以便提供指定的或所需的加热和/或冷却。
图4是图示用于降级测试系统230的示例方法400的流程图。在步骤402，初始化和配置降级测试系统230。可以在客户端220处初始化或设置一个或多个降级测试参数或配置。降级测试参数或配置可以指示用于降级测试系统230的测试的配置和类型。可以经由图形用户界面(GUI)、命令行界面(CLI)、自动地经由轮询降级测试系统230的一个或多个部件(例如光敏设备318)或其任意组合的专家系统或者本领域普通技术人员已知的任何其它方式来初始化一个或多个降级测试参数或配置。一个或多个降级测试参数或配置可以由用户来初始化或设置，或者由一个或多个其它客户端220或服务器240来自动地初始化或设置。在一个实施例中，用户远程登录到客户端220(在图3中示出)并设置或初始化一个或多个降级测试参数。在另一个实施例中，用户在客户端220处(在图3中示出)本地设置或初始化一个或多个降级测试参数。在一个或多个实施例中，客户端220(在图3中示出)对于降级测试系统230是本地的。在一个或多个实施例中，客户端220(在图3中示出)远离降级测试系统230。
在一个实施例中，降级测试参数可以包括光敏设备引脚查找表。光敏设备引脚查找表可以包括每个光敏设备318的唯一条目或地址图。光敏设备318中的每个个体光敏设备的每个引脚可以具有存储在光敏设备引脚查找表中的唯一地址。光敏设备引脚查找表可以是平面文件、数据库、链表、存储在存储器位置(诸如存储器104或存储装置106)中的寻址值、本领域普通技术人员已知的任何其它合适的形式，或其任意组合。光敏设备引脚查找表可以由用户经由图形用户界面(GUI)、命令行界面(CLI)、自动地经由轮询光敏设备318中的每个单独的光敏设备、降级测试系统230或其任意组合的专家系统或者本领域的普通技术人员已知的用于获得光敏设备318中的个体光敏设备的每个单独引脚的标识或地址的任何其它方式来初始化。光敏设备引脚查找表可以与从多路复用器304到光敏设备318的每个光敏设备的每个引脚的布线相关。
而且在步骤402，可以设置一个或多个降级测试阈值。一个或多个降级测试阈值可以包括光敏设备故障阈值、像素性能等级、像素故障阈值、光强度阈值、光强度时间间隔、温度阈值、湿度阈值、电压阈值、电流阈值、气氛阈值(例如，氧气、氮气、氩气或本领域普通技术人员已知的任何其它气氛标准的设置水平)、测试持续时间阈值(例如，1天、10天或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的测量单位)或本领域普通技术人员已知的任何其它阈值或其组合中的一个或多个。例如，降级测试系统230可以被配置为在1太阳的预定基线光强度阈值下测试光敏设备318，以建立基线。在另一个示例中，在建立基线之后，降级测试系统230可以被配置为在10太阳的光强度阈值下测试光敏设备318。
而且在步骤402，降级测试系统230可以被配置为对于一定范围的数据点并且以该范围内的指定间隔来获得一种或多种类型的测量。在一个实施例中，由测量设备306将范围设置为-0.2伏至+1.3伏，并且以每0.1V间隔获取光敏设备318的性能测量。间隔持续时间也可以与每个间隔相关联。在一个实施例中，间隔持续时间可以基于频率，使得在以赫兹测量的时间段进行测量。在另一个实施例中，间隔的持续时间也可以以天或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的测量单位来测量。扫描方向也可以被指定为使得测量从负电压开始到正电压或者从正电压开始到负电压。
在步骤402，可以被初始化或设置的一个或多个其它配置或参数可以包括降级测试系统230的数量、每个降级测试系统230内的容器316的数量、每个容器316内的光敏设备318的数量，每个光敏设备318内的个体光敏设备的数量、用于创建光敏设备318中的每个个体光敏设备的处理、每个单独基板的文件名或其它唯一标识符、每个光敏设备318中的每个个体光敏设备的哪个引脚将被测量(或测试)的标识、测试温度、测试气氛(例如，水蒸气、空气、纯氮、纯氧、纯氩等，或其任意组合)以及普通本领域普通技术人员已知的任何其它参数。
在步骤404，至少部分地基于光强度阈值(或者，如果是基线，则基于基线光强度阈值)来设置光强度。在一个实施例中，客户端220向光电源302(例如，可编程电源)发送向光源板312输出特定电压或电流的命令。该命令可以基于降级测试参数中的任何一个或多个。例如，在一个实施例中，将光强度阈值设置为10太阳，并且将在10太阳下进行测试的持续时间设置为每10天，同时设置间隔以将光强度调节为1太阳并且在光敏设备318的测试周期期间保持1太阳光强度并且在测试循环完成时返回到10太阳。在这个实施例中，客户端220向光电源302发送对应的电压或电流命令，以将光源板312的光强度设置为所需水平。
在步骤406，确定是否应当请求测量。例如，降级测试参数中的一个或多个可以指示何时请求测量、用户何时可以请求测量，或者客户端220何时可以基于任何数量的标准、降级测试参数或其任意组合来请求测量。在一个实施例中，确定具体间隔是否已经过去或者持续时间已经到达。例如，降级测试系统230可以被配置为在某个时间间隔或持续时间到期时对光敏设备318的任何一个或多个像素进行性能测量。例如，可以每天、一天两次、在定时器到期之后(例如，在设置的时间段到期之后)、作为中断的结果或者基于任何其它时间间隔来获取性能测量(或任何其它请求的测量)。时间间隔可以作为持续时间阈值或间隔阈值被存储，使得当阈值被超过时触发中断，或者客户端220可以持续地轮询以确定阈值是否已经被超过，或者通过本领域普通技术人员已知的任何其它方式。如果不满足一个或多个降级系统参数或条件以使得不请求测量，则系统可以在406处继续循环。该过程可以造成分开的线程以持续轮询中断或者关于降级系统参数或条件(例如，持续时间阈值或间隔阈值)中的一个或多个已被满足的任何其它指示。这种轮询不需要在分开的线程中执行，而是可以在单个线程中或者以本领域普通技术人员已知的任何方式执行。
在一个实施例中，可以针对如上面关于图3所述的用于一个或多个容器316中的任何一个的光敏设备318中的一个或多个个体光敏设备的一个或多个像素(对应于单独的引脚)的性能请求测量。可以针对任何可测量的降级测试系统条件(包括与任何一个或多个降级测试参数相关联的任何条件)请求测量。例如，除了获得像素的测量之外，还可以测量湿度、温度、气氛或任何其它合适的条件。一个或多个条件可以与给定像素的性能分开来测量。例如，客户端220可以请求测量或利用一个或多个测量设备(包括但不限于测量设备306、温度计量设备324和光计量设备322)自动接收针对一个或多个条件的测量。一个或多个条件可以与每种请求的测量的类型相关联。例如，针对特定像素的性能测量可以具有相关联的持续时间阈值、间隔阈值、范围阈值或本领域普通技术人员已知的任何其它合适的条件。步骤406在请求指定的测量之前确定是否已经满足任何这种相关联的条件。
如果请求测量，则在步骤408，客户端220向适当的设备发送对特定测量的请求。例如，客户端220发送针对特定像素的性能测量的请求。该请求(或命令)被发送到多路复用器304。该请求可以至少部分地基于要测量的像素(其与光敏设备318中的个体光敏设备的特定引脚对应)的地址，其中该地址可以从光敏设备引脚查找表、容器316的标识、包含感兴趣的特定像素的基板的标识、光敏设备318内的个体光敏设备的标识、特定的降级测试系统230的标识或者本领域普通技术人员已知的任何其它标准或标识符中获得。多路复用器304进行适当的电连接，以便接收与识别出的像素相关联的性能测量结果。
在步骤410，多路复用器304至少部分地基于从客户端220接收的地址来获得针对识别出的像素的性能测量结果。例如，通常经由多路复用器304通过测量设备306将一定范围的电压施加到光敏设备318(或光敏设备318中的个体光敏设备)，并且由测量设备306经由多路复用器304测量在每个间隔处生成的电流。然后可以使用这些测量结果来生成可以从其导出所有信息的电流/电压(或I-V)曲线。例如，可以导出电阻、最大功率、电容、开路电压、短路电流或本领域普通技术人员已知的任何其它相关信息。在一个实施例中，测量设备306可以将性能测量结果转换为适合客户端220消费的形式并将结果传送给客户端220。在一个实施例中，测量设备306经由一个或多个合适的接口、部件或设备向客户端220传送性能测量结果。在一个实施例中，客户端220将测量结果存储在与被测像素相关联的基板文件中。测量结果可以存储为平面文件、数据库、链表、存储在存储器位置(诸如存储器104或存储装置106)中的寻址值中的条目，任何其它本领域普通技术人员已知的合适方式，或其任意组合。
在步骤412，客户端220至少部分地基于从步骤410接收到的性能测量的结果来确定光敏设备318中的个体光敏设备是否发生了故障。如果没有发生光敏设备故障，则该处理在步骤416继续。可以至少部分地基于特定光敏设备的任何一个或多个像素的性能测量结果来确定光敏设备故障。例如，如果任何一个或多个像素的性能测量结果低于某个像素性能等级(例如，低于某个百分比)，则可以确定该特定光敏设备已经发生故障。在一个示例中，像素故障阈值被设置为一，使得如果一个像素不满足指定的像素性能等级，则整个个体光敏设备被确定为发生故障。在另一个实施例中，像素故障阈值是指定数量或像素的百分比，并且一旦该阈值被满足，则特定光敏设备被确定为发生故障。
如果在步骤412确定特定的光敏设备或像素发生故障，则在步骤414可以用测试指示器标记光敏设备或像素，使得不对光敏设备318内的该特定光敏设备或像素执行进一步的测试。测试指示器可以是单个位，其中一种设置指示故障并且另一种设置指示合格、无故障或者对该特定像素或光敏设备应当继续进行测试。在另一个实施例中，通知用户特定的光敏设备已经发生故障并且需要被更换。可以经由电子邮件、GUI、CLI、警告消息、警报、指示灯或本领域普通技术人员已知的任何其它方式来通知用户。在一个实施例中，故障被记录在与特定光敏设备相关联的基板文件中。
在步骤416，确定一个或多个降级测试系统中的任何一个的进一步测试是否应当继续进行。例如，步骤416的确定可以至少部分地基于故障像素的数量、标记为故障的特定光敏设备的数量或任何其它降级测试阈值或其任何组合来进行。在一个或多个实施例中，如果光敏设备318中的个体光敏设备的数量超过光敏设备故障阈值，则该处理可以结束。例如，在一个实施例中，光敏设备故障阈值可以被设置为一，使得即使在光敏设备318内包括多于一个光敏设备，如果单个光敏设备发生故障，则测试也结束。在一个或多个实施例中，存在两个或更多个降级测试系统230，使得即使对一个降级测试系统230的测试结束，其它降级测试系统也可以继续。是否继续测试可以至少部分地基于一个或多个持续时间阈值(例如，测试可以在预定时限到期时结束)、测试环境的适合性(例如，如果湿度、温度、气氛等不处于可接受的水平，则测试可以结束)、像素故障率、光敏设备故障率、标记为故障的光敏设备数量、标记为故障的像素数量、用户输入(例如，用户经由GUI、CLI或其它输入指示测试是否应当继续)、一个或多个测得的参数的一个或多个评估或本领域普通技术人员已知的任何其它标准。
如果在步骤416确定需要进一步测试，则在步骤418，确定是否应当更改光强度。例如，当获得基线时，可以将光强度初始地设置为初始水平并且在基线测试持续时间内将其维持或保持在初始水平。如果光强度不需要更改，则处理在步骤406继续。如果光强度确实需要更改，则处理在步骤404继续。光强度的更改可以至少部分地基于光强度时间间隔、光强度阈值、以某个测量间隔(例如，在每次测量之后、在每两次测量之后等)、持续时间间隔或本领域普通技术人员已知的任何其它合适参数中的任何一个或多个来确定。
在一个实施例中，在步骤418，也可以更改与降级测试系统230相关联的任何其它配置。例如，可以确定应当更改降级测试系统230环境的温度、湿度、气氛或任何其它条件。
在一个实施例中，执行400处所示的处理，以获得基线测量。可以使用任何一个或多个降级测试阈值参数以及用于降级测试阈值参数的一个或多个值来建立基线测量。例如，基线可以以1太阳的光强度阈值运行持续1天。在建立基线测量之后，可以对于任何给定的时间段和任何光强度阈值(例如，以10太阳的光强度运行10天)以正常操作运行400处所示的处理。在一个或多个实施例中，客户端220可以基于任何一个或多个警报关闭降级测试系统230的测试。这一个或多个警报可以至少部分地基于烟雾检测器、一氧化碳检测器、温度测量、湿度测量、气氛测量、电压测量、电流测量、功率测量、振动检测器(例如，检测容纳降级测试系统230的结构中的振动或移动(例如，由于地震引起的振动)的设备)、短路、开路或本领域普通技术人员已知的任何其它警报。
在本文中，“或”是包含性的而不是排他性的，除非另有明确指示或者通过上下文另有指示。因此，在本文中，“A或B”意指“A、B或两者”，除非另有明确指示或通过上下文另有指示。而且，“和既是共同的也是个别的，除非另有明确指示或者通过上下文另有指示。因此，在本文中，“A和B”意指“A和B，共同地或个别地”，除非另有明确指示或者通过上下文另有指示。
本公开涵盖本领域普通技术人员将理解的对本文的示例实施例的所有改变、替换、变化、更改和修改。类似地，在适当的情况下，所附权利要求涵盖本领域普通技术人员将理解的对本文的示例实施例的所有改变、替换、变化、更改和修改。而且，在所附权利要求中对于装置或系统或者装置或系统的部件适于、被布置为、能够、被配置为、使得能够、可操作为或操作以执行特定功能的引用涵盖该装置、系统、部件，不管它或该特定功能是否被激活、打开或解锁，只要该装置、系统或部件这样适于、布置、能够、配置为、使得能够、可操作或操作即可。
本文描述的任何步骤、操作或处理可以完全用硬件或完全用软件(包括固件、模块、指令、微代码等)或者用硬件和软件的任意组合来执行或实现。在一个实施例中，软件模块用计算机程序产品来实现，该计算机程序产品包括含有计算机程序代码的计算机可读介质，其中计算机程序代码可以由计算机处理器执行，以执行所描述的任何或所有步骤、操作或处理。
本发明的实施例还可以涉及用于执行本文的操作的装置。该装置可以为了所需目的而专门构造，和/或它可以包括通用计算设备(诸如信息处理系统)，其被存储在信息处理系统中的计算机程序选择性地激活或重新配置。这种计算机程序可以存储在有形的计算机可读存储介质或适于存储电子指令并耦合到信息处理系统总线的任何类型的介质中。此外，说明书中提到的任何计算系统可以包括单个处理器或者可以是采用多个处理器设计以提高计算能力的架构。
虽然已经用几个实施例描述了本发明，但是可以向本领域技术人员暗示大量的改变、变化、更改、变换和修改，并且本发明旨在涵盖落入所附权利要求的范围内的这种改变、变化、更改、变换和修改。而且，虽然已经关于各种实施例描述了本公开，但是完全预期本公开的教导可以适当地在单个实施例中组合。

Claims (21)

1.一种用于测试光敏设备降级的系统，该系统包括：
光源板，其中光源板发射一定强度水平的光；
电池接口板；
接近光源板并耦合到电池接口板的容器，其中容器包括多个光敏设备，其中与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的多个像素相关联的多个引脚与容器接口连接，并且其中容器将所述多个引脚接口连接到电池接口板；
接近光源板的光计量设备，其中光计量设备测量从光源板到光敏设备的发射强度；
耦合到光源板的光电源，其中光电源对到光源板的电流和电压中的一个或多个进行控制；
耦合到电池接口板的多路复用器，其中多路复用器激活寻址所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素的电路系统；以及
耦合到多路复用器的测量设备，其中测量设备接收与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素相关联的一个或多个性能测量结果，并且
其中所述系统被配置为至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较，来确定所述多个像素或相关联的所述多个光敏设备中的特定一个或多个光敏设备的是否发生了故障，使得不对所述多个光敏设备中的发生故障的特定一个或多个光敏设备执行进一步的测试。
2.如权利要求1所述的系统，其中光电源是可编程电源。
3.如权利要求1所述的系统，还包括：
容器内的温度计量设备，其中温度计量设备测量与所述一个或多个光敏设备相关联的温度。
4.如权利要求1所述的系统，还包括：
客户端，通信耦合到光电源、多路复用器和测量设备。
5.如权利要求1所述的系统，还包括：
光敏设备测试系统，其中光敏设备测试系统包括光源板、电池接口板和容器。
6.如权利要求1所述的系统，还包括：
容器内的一个或多个基板，其中所述一个或多个基板中的每一个基板包括多个光敏设备。
7.如权利要求1所述的系统，还包括：
容器内的湿度测量设备，其中湿度测量设备测量容器内的湿度。
8.如权利要求1所述的系统，还包括：
容器内的气氛测量设备，其中气氛测量设备测量容器内的气氛。
9.如权利要求1所述的系统，还包括：
振动检测器，其中振动检测器测量所述多个光敏设备被暴露给的任何振动。
10.如权利要求1所述的系统，其中光源板包括荧光光源、白炽光源、激光器、热离子发射器或者发光二极管中的一个或多个。
11.如权利要求1所述的系统，其中光源板包括发光二极管。
12.如权利要求1所述的系统，其中所述强度水平小于或等于一个太阳当量。
13.如权利要求1所述的系统，其中强度水平大于或等于一个太阳当量。
14.如权利要求1所述的系统，其中强度水平是十个太阳当量。
15.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括光电二极管、光敏电阻、光电容器、或者光电晶体管中的一个或多个。
16.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括光电换能器。
17.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括至少一个光伏。
18.如权利要求1所述的系统，其中光计量设备包括光电二极管或者热敏电阻。
19.如权利要求1所述的系统，其中光计量设备以定时间隔测量所述强度水平。
20.如权利要求3所述的系统，其中温度计量设备以定时间隔测量与所述多个光敏设备相关联的温度。
21.一种用于测试光敏设备降级的系统，该系统包括：
光源板，其中光源板发射一定强度水平的光；
电池接口板；
接近光源板并耦合到电池接口板的容器，其中容器包含一个或多个基板，其中所述一个或多个基板中的每一个基板包括多个光敏设备，容器还包含与所述多个光敏设备的至少一侧相邻的导热化合物，其中与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的多个像素相关联的多个引脚与容器接口连接，并且其中容器将所述多个引脚接口连接到电池接口板；
容器内的温度计量设备，其中温度计量设备测量与所述多个光敏设备相关联的温度；
接近光源板的光计量设备，其中光计量设备测量从光源板到光敏设备的发射强度；
耦合到光源板的光电源，其中光电源对到光源板的电流和电压中的一个或多个进行控制；
耦合到电池接口板的多路复用器，其中多路复用器激活寻址所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素的电路系统；以及
耦合到多路复用器的测量设备，其中测量设备接收与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素相关联的一个或多个性能测量结果，并且
其中所述系统被配置为至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较，来确定所述多个像素或相关联的所述多个光敏设备中的特定一个或多个光敏设备的是否发生了故障，使得不对所述多个光敏设备中的发生故障的特定一个或多个光敏设备执行进一步的测试。
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