ES2592652T3 - Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión - Google Patents
Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión Download PDFInfo
- Publication number
- ES2592652T3 ES2592652T3 ES12789077.0T ES12789077T ES2592652T3 ES 2592652 T3 ES2592652 T3 ES 2592652T3 ES 12789077 T ES12789077 T ES 12789077T ES 2592652 T3 ES2592652 T3 ES 2592652T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- transistors
- gain circuit
- transimpedance gain
- current
- current mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 title claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 13
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 13
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/08—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
- H03F1/083—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements in transistor amplifiers
- H03F1/086—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements in transistor amplifiers with FET's
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/04—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/04—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
- H03F3/082—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with FET's
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/34—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
- H03F3/343—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
- H03F3/345—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only with field-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/47—Image sensors with pixel address output; Event-driven image sensors; Selection of pixels to be read out based on image data
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/703—SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
- H04N25/707—Pixels for event detection
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/456—A scaled replica of a transistor being present in an amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/91—Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier has a current mode topology
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desapareamiento para sistemas de fotosensado diferenciador temporal en sensores dinámicos de visión, que emplea al menos un fotodiodo, al menos dos transistores en serie, estando conectados cada uno de los transistores en configuración diodo y estando colocados a la salida del fotodiodo, circulando la corriente de salida del fotodiodo por los canales drenador-fuente de los transistores y teniendo el último transistor en serie conectada la fuente a un voltaje seleccionado entre tierra, una tensión constante y una tensión regulada.
Description
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
DESCRIPCIÓN
Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión
Objeto de la invención
La presente invención, tal y como se expresa en la presente memoria descriptiva se refiere a un circuito de ganancia en transimpedancia de bajo consumo y bajo impacto de desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión (DVS), usando medios para controlar polaridad y ganancia (2) de una corriente generada en el al menos un fotodiodo, preferentemente espejos de corriente, y transistores en serie, cada uno conectado en configuración de diodo.
La invención se encuadra en el campo de los circuitos electrónicos, especialmente circuitos integrados analógicos de bajo consumo y área reducida. El circuito pertenece específicamente a la categoría de preamplificadores de corriente a tensión o en otras palabras, transimpedancia.
Antecedentes de la invención
Los sensores dinámicos de visión (DVS) son unos nuevos circuitos integrados de la diversidad de cámaras de vídeo, pero sin ser específicamente tales. En las cámaras de vídeo comerciales, el aparato graba fotograma tras fotograma. En los DVS no hay fotogramas. El circuito integrado contiene una matriz de fotosensores, al igual que las cámaras de vídeo. En las cámaras de vídeo cada fotosensor se muestrea con una frecuencia fija. Sin embargo, en los DVS los pixeles no se muestrean. Cada pixel calcula la derivada temporal de la luz que detecta, y cuando ésta supera un determinado nivel (umbral), el pixel emite un “evento” al exterior. El evento consiste habitualmente en la coordenada (x, y) del pixel dentro de la matriz bidimensional de fotosensores. De esta manera, la salida de un DVS consiste en un flujo de coordenadas (x,y) de los distintos pixeles que van detectando un cambio en la intensidad que detectan. Este tipo de sensores DVS se informaron la primera vez por Lichtsteiner, Delbrück y Posch en 2006 (“A 128x128 120dB 30mW Asynchronous Vision Sensor that Responds to Relative Intensity Change” en Visuals Supplement to ISSCC Dig. of Tech. Papers, San Francisco, 2006, vol., págs. 508-509 (27.9)) y posteriormente en más detalle en P. Lichtsteiner, C. Posch y T. Delbrück, (“A 128x128 120 dB 15ps Latency Asynchronous Temporal Contrast Vision Sensor,” IEEE J. Solid-State Ciro, vol. 43, N.0 2, págs. 566-576, febrero de 2008).
Más recientemente, Posch ha Informado un nuevo prototipo (C. Posch, D. Matolln y R. Wohlgenannt, “A QVGA 143dB dynamic range asynchronous address-event PWM dynamic image sensor wlth lossless pixel level vídeo- compression”, Solid-State Circuits, 2010 IEEE International Conference ISSCC, Dig of Tech Paper, págs. 400-401, febrero de 2010).
No obstante, en estos sensores DVS la fotocorrlente lPh detectada por un fotosensor, se transforma en primer lugar a tensión por medio de una conversión logarítmica. Esta tensión se amplifica en primer lugar, y posteriormente se calcula su derivada temporal. Un parámetro crucial es la ganancia de tensión en esta primera amplificación. Cuanto mayor sea la amplificación, mayor sensibilidad tendrá el sensor al “Contraste Temporal”. El problema es que esta amplificación debe realizarse dentro de cada pixel de la matriz, y debe realizarse por un circuito que consuma poca potencia y poca área del microchip. Por otro lado, es Importante que se realice por un circuito que no dé como resultado demasiado desacoplamiento en el valor de la ganancia de un pixel a otro, dado que en el caso contrario, introduciría mucha variación en el comportamiento de los distintos pixeles entre sí, reduciendo de esta manera la sensibilidad global del sensor. Los DVS Informados hasta la fecha emplean etapas de amplificación de tensión basadas en circuitos con condensadores. En los circuitos integrados analógicos, los condensadores tienen baja dispersión entre sí, y por tanto son altamente adecuados para realizar etapas de amplificación de tensión. Sin embargo, en los DVS es deseable obtener ganancias en tensión de alrededor de 20 a 100 (o superior). Al hacer esto con condensadores, se requieren al menos dos condensadores cuya proporción de valores sea igual que la de la ganancia deseada. Dado que el área de los condensadores es proporcional a su valor, esto significa que uno de los condensadores debe tener un área que está entre 20 y 100 veces mayor que la del otro. El resultado final es que una gran parte del área del pixel se consume en los condensadores.
Una posible alternativa podría ser obtener la ganancia de tensión por medio de dos etapas consecutivas, ya que se multiplica la ganancia de cada etapa. Sin embargo, la sincronización requerida entre las dos etapas consecutivas conlleva una excesiva lentitud, reduciendo dramáticamente la velocidad de los DVS.
El documento EP1381223 describe un elemento foto-detector para sensores electro-ópticos, realizado con tecnología CMOS que puede integrarse en un elemento de soporte de silicio de tamaño limitado que suministra imágenes a un circuito conectado a amplificación y de lectura. El documento US2009/0001256A1 desvela un dispositivo de conversión fotoeléctrica que amplifica una corriente que fluye a través de un elemento de conversión fotoeléctrico diseñado para evitar fuga de corriente o ruido provocado cuando el circuito de conversión fotoeléctrico está conectado a un circuito externo amplificando la corriente que fluye a través del circuito de conversión fotoeléctrico.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
Descripción de la invención
Para lograr los objetivos y evitar las limitaciones indicadas anteriormente, la presente invención consiste en un circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión (DVS), usando medios para controlar la polaridad y la ganancia de corrientes de fotodiodo y los transistores en serie, cada uno conectado en configuración de diodo.
Por lo tanto, la presente invención se refiere a un circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión (DVS), que emplea al menos un fotodiodo, estando el sistema caracterizado porque comprende un espejo de corriente y medios para controlar la ganancia del espejo de corriente que están situados entre el fotodiodo y al menos dos transistores en serie. El espejo de corriente y los medios para controlar la ganancia del espejo de corriente son necesarios para mejorar la salida del circuito y obtener una respuesta de circuito más rápida. Cada uno de los transistores está conectado en configuración de diodo y se alimenta por una copia amplificada de la corriente de fotodiodo. Esta copia amplificada de la corriente de salida del fotodiodo fluye a través de los canales sumidero- fuente de los transistores y estando conectada la fuente del al menos transistor en serie conectada a una tensión seleccionada a partir de una tensión de tierra, una tensión constante y una tensión controlada. Por lo tanto, los pixeles de las cámaras que hacen uso de sensores de visión dinámicos, también llamadas cámaras DVS, necesitan de al menos un fotosensor para generar la corriente de entrada al circuito de transimpedancia. Sin embargo, si dicho circuito se usa en otro contexto, la corriente de entrada puede proceder de otro circuito o elemento que no sea un fotodiodo. De hecho, por ejemplo, cuando se usan varias de estas etapas en cascada, solo la primera recibe la corriente del fotodiodo; el resto la reciben desde un transistor.
En una realización preferida de la invención, los al menos dos transistores tienen una característica de tensión- corriente exponencial.
En otra realización preferida de la invención, los transistores son de tipo FET (transistor de campo eléctrico) estando polarizados en inversión débil.
En una realización adicional de la invención, el espejo de corriente comprende medios de copiado e inversión de corriente eléctrica.
En otra realización preferida de la invención, el espejo de corriente comprende medios de amplificación de corriente eléctrica.
En una realización más adicional de la invención, el espejo de corriente está conectado en serie con el fotodiodo, la corriente de salida del espejo de corriente que constituye la que fluye a través de los canales de sumidero-fuente de los al menos dos transistores.
En otra realización preferida de la invención, los medios para controlar la ganancia del espejo de corriente es un circuito para controlar automáticamente la ganancia del espejo de corriente entre el espejo de corriente y los al menos dos transistores.
En una realización preferida adicional de la invención, el circuito comprende tener dependencia logarítmica de la tensión de salida frente a la corriente generada por el fotodiodo.
Además, la presente invención considera el uso del circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en DVS para generar una etapa de amplificación de tensión por medio de la colocación del circuito de ganancia de transimpedancia como una etapa previa a un circuito de transconductancia.
La presente invención también comprende el uso del circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en DVS para generar una etapa de amplificación de tensión por medio de colocar el circuito de ganancia de transimpedancia como una etapa posterior a un circuito de transconductancia.
Adicionalmente, la presente invención comprende también el uso del circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en DVS como una etapa previa a un circuito de derivación de la señal para enviar la señal a la salida que elimina la tensión continua de la señal de salida del circuito de ganancia de transimpedancia, reduciendo de esta manera el desacoplamiento entre todos los pixeles, tensión continua de la señal de salida del circuito de ganancia de transimpedancia, reduciendo de esta manera el desacoplamiento entre todos los pixeles.
Breve descripción de las figuras
La Figura 1 es un ejemplo de una realización de la presente invención, que comprende una única etapa.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
La Figura 2 es un ejemplo de una realización de la invención, donde el circuito está compuesto de dos etapas.
La Figura 3 es un ejemplo de una realización en el circuito, donde el circuito comprende tener dos etapas, cada una de las cuales tiene una ganancia igual a “3”.
Descripción de diversas realizaciones de ejemplo de la invención
A continuación se realiza una descripción ilustrativa y no limitante de diversas realizaciones particulares de la invención, haciendo referencia a la numeración adoptada en las figuras.
En la presente invención, el circuito que transforma la fotocorriente a una tensión, por medio de una conversión logarítmica, realiza de manera implícita, una amplificación en tensión con bajo impacto de desacoplamiento de la ganancia entre los diversos píxeles dentro del mismo microchip.
Por lo tanto, la figura 1 muestra la realización más básica del circuito objeto de la invención. Dicha realización particular comprende un fotodiodo (1) que genera una fotocorriente lPh que se amplifica por medio de un espejo de corriente (2) de ganancia A. La corriente amplificada conduce a una cadena de N transistores (3, 4 y 5), siendo N un número natural, todos los cuales tienen conectada su puerta a su sumidero, lo que se conoce por configuración de conexión en diodo. Obsérvese que la figura 1 muestra 3 transistores, que pueden ser en realidad un número cualquiera N de transistores.
En el caso de una realización con transistores NMOS FET, la diferencia de tensión formada en cada transistor (3, 4 y 5), polarizado en inversión débil, es aproximadamente la misma, y equivale
v = nlJT,n{lf)
De esta manera, la tensión obtenida en el transistor más alto es aproximadamente
VN = NnUjln
En una realización del circuito integrado, los parámetros A, que corresponde a la ganancia del espejo de corriente, e lg, que corresponde a un parámetro característico del transistor FET denominado habitualmente como “corriente específica”, experimentan grandes variaciones de píxel a píxel, mientras que Ut es una constante física igual para todos los píxeles. El parámetro n, que corresponde a un parámetro adicional característico del transistor FET denominado habitualmente como “factor de pendiente", experimenta una variación de píxel a píxel relativamente baja. Cuando la tensión de salida Vw se lleva al circuito derivativo, proporciona la salida
dt
= NnUT
Iph.
Iph.
De manera que este circuito añade el factor N (siendo N el número de transistores de cada etapa) a la ganancia obtenida por medio de las técnicas anteriores y no intervienen los parámetros que experimentan gran desacoplamiento de píxel a píxel A e lg.
En la práctica no se puede usar valores de N muy altos, estando limitados a 3 o 4. Sin embargo, se pueden conectar en cascada diferentes etapas como aquellas de la Figura 1. Esto se muestra en la Figura 2, donde la primera etapa tiene A/i transistores en serie y la segunda etapa N2.
La tensión formada en el primer bloque VNi (3) se lleva a la puerta de un transistor (11) con la fuente conectada a Vq generando una corriente
Vni-tiVq
h = rs2e nUr
Tras derivar la salida del circuito Vnu se obtiene como resultado aproximado
5
10
15
20
25
30
^=NlN2nUT‘f-
dt Jph
De nuevo, los parámetros de alto Indice de desacoplamlento entre pixeles no aparecen en la ecuación final. Este método se puede ampliar a más etapas sucesivas.
La figura 3 muestra una realización ejemplar con dos etapas, contribuyendo cada una una ganancia adicional “3”. Muestra una posible realización de los espejos de corriente. Para conseguir dicha ganancia adicional, se han empleado 3 transistores FET (3’, 4’ y 5’) en cascada en cada una de las etapas. A la entrada de la segunda etapa se coloca un transistor FET (11) con la fuente conectada a una tensión VQ para generar la corriente l2.
Los espejos de corriente son circuitos básicos bien conocidos en la bibliografía del diseño de circuitos integrados analógicos. Éstos copian la corriente en su rama de entrada a su rama de salida, proporcionando a dicha rama de salida de una amplificación o atenuación opcionales. En la figura 3, el espejo de corriente de la primera etapa está formado por tres elementos, siendo dos transistores PMOS FET (6, 7) con su puerta conectada a respectivas tensiones constantes Va y 14, y un amplificador de tensión (8) con una ganancia suficientemente alta para generar las condiciones de “tierra virtual” en el nodo que une el fotodiodo (1) al primer transistor PMOS (6), mejorando así sensiblemente la velocidad del circuito. El espejo de corriente de la segunda etapa (8, 9, 10) es idéntico al de la primera etapa, aunque puede estar polarizado con tensiones distintas Vc y Vd, que darían lugar a una ganancia distinta.
Estos circuitos, que se repiten para cada pixel, deben complementarse con unos circuitos de polarización, compartidos por todos los pixeles, para fijar las tensiones Va, Vb, Vc, Vd y VQ.
Para el caso concreto del uso de cámaras DVS, se requiere al menos un fotodiodo para captar la luz en cada pixel. Por lo tanto en cada pixel de la cámara DVS habrá una etapa (o cascada de etapas) de translmpedancla.
Si la etapa se usa en otro contexto distinto al de las cámaras DVS, la corriente de entrada puede proceder de otro circuito que no sea un fotodiodo. De hecho, por ejemplo, cuando se usan varias de estas etapas en cascada, solo la primera recibe la corriente del diodo. Las demás la reciben de un transistor.
Claims (11)
- 5101520253035404550REIVINDICACIONES1. Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto- detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión, que emplea al menos un fotodiodo (1), caracterizado por que el circuito comprende:un espejo de corriente (2) y medios para controlar la ganancia del espejo de corriente (2);al menos dos transistores en serie (3, 4, 5), estando conectados cada uno de los transistores en configuración dediodo y estando colocados a la salida del al menos un fotodiodo (1);donde el espejo de corriente y los medios para controlar la ganancia del espejo de corriente (2) están situados entre el al menos un fotodiodo (1) y los al menos dos transistores en serle (3, 4, 5) de manera que los al menos dos transistores en serle (3, 4, 5) se alimentan por una copla amplificada de la corriente del fotodiodo que fluye a través de los canales de sumidero-fuente de los transistores (3, 4, 5) y donde el último transistor en serie tiene la fuente conectada a una tensión seleccionada entre una tensión de tierra, una tensión constante y una tensión controlada.
- 2. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 1, donde los al menos dos transistores en serie (3, 4, 5) tienen una característica tensión-corriente de tipo exponencial.
- 3. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 2, donde los al menos dos transistores en serie (3, 4, 5) son transistores FET y están polarizados en inversión débil.
- 4. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 1, donde el espejo de corriente (2) comprende medios de copiado e Inversión de corriente eléctrica.
- 5. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 4, donde el espejo de corriente (2) comprende medios de amplificación de la corriente eléctrica.
- 6. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 4 o 5, donde el espejo de corriente (2) está conectado en serie con el fotodiodo (1), siendo la corriente de salida del espejo de corriente (2) la que fluye a través de los canales de sumidero-fuente de los al menos dos transistores (3, 4, 5).
- 7. Circuito de ganancia de transimpedancia según la reivindicación 6, donde los medios para controlar la ganancia del espejo de corriente (2) comprenden un circuito para controlar automáticamente la ganancia del espejo de corriente (2) colocado entre el espejo de corriente y los al menos dos transistores.
- 8. Circuito de ganancia de transimpedancia según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde comprende tener una dependencia logarítmica entre la tensión de salida frente a la corriente generada por el fotodiodo (1).
- 9. Uso del circuito de ganancia de transimpedancia definido en las reivindicaciones 1 a 8 para generar una etapa de amplificación de corriente por medio de la colocación del circuito de ganancia de transimpedancia como una etapa previa a un circuito de transconductancia (11).
- 10. Uso del circuito de ganancia de transimpedancia definido en las reivindicaciones 1 a 8 para generar una etapa de amplificación de tensión mediante la colocación del circuito de ganancia de transimpedancia como una etapa posterior a un circuito de transconductancia.
- 11. Uso del circuito de ganancia de transimpedancia definido en las reivindicaciones 1 a 8 para reducir el desacoplamiento entre píxeles colocando el circuito de ganancia de transimpedancia como una etapa previa a un circuito de derivación de la señal que elimina la tensión continua de la señal de salida del circuito de ganancia de transimpedancia.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ES201130862P | 2011-05-26 | ||
ES201130862A ES2396816B1 (es) | 2011-05-26 | 2011-05-26 | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desapareamiento para sistemas de fotosensado diferenciador temporal en sensores dinámicos de visión |
PCT/ES2012/070363 WO2012160230A1 (es) | 2011-05-26 | 2012-05-22 | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desapareamiento para sistemas de fotosensado diferenciador temporal en sensores dinámicos de visión |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2592652T3 true ES2592652T3 (es) | 2016-11-30 |
Family
ID=47216645
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES201130862A Expired - Fee Related ES2396816B1 (es) | 2011-05-26 | 2011-05-26 | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desapareamiento para sistemas de fotosensado diferenciador temporal en sensores dinámicos de visión |
ES12789077.0T Active ES2592652T3 (es) | 2011-05-26 | 2012-05-22 | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES201130862A Expired - Fee Related ES2396816B1 (es) | 2011-05-26 | 2011-05-26 | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desapareamiento para sistemas de fotosensado diferenciador temporal en sensores dinámicos de visión |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9681081B2 (es) |
EP (1) | EP2717466B1 (es) |
JP (1) | JP5922226B2 (es) |
KR (1) | KR101885093B1 (es) |
CN (1) | CN103875180B (es) |
ES (2) | ES2396816B1 (es) |
WO (1) | WO2012160230A1 (es) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2476115B1 (es) | 2012-12-11 | 2015-04-20 | Consejo Superior De Investigaciones Científicas (Csic) | Metodo y dispositivo para la deteccion de la variacion temporal de la intensidad luminosa en una matriz de fotosensores |
CN104956654B (zh) * | 2013-11-12 | 2018-09-18 | 康斯乔最高科学研究公司 | 用于检测光传感器矩阵中的光强时变的方法和设备 |
US10043064B2 (en) | 2015-01-14 | 2018-08-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus of detecting object using event-based sensor |
KR102426677B1 (ko) | 2015-03-09 | 2022-07-28 | 삼성전자주식회사 | 오프셋 및 잡음이 감소되는 차분 증폭기 및 이벤트에 기반한 비전 센서 |
US9755760B2 (en) * | 2015-10-05 | 2017-09-05 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Supply voltage modular photodiode bias |
KR102421141B1 (ko) | 2015-10-30 | 2022-07-14 | 삼성전자주식회사 | 이벤트 신호 및 영상의 저장 방법 및 저장 장치, 저장 장치로 이벤트 신호를 전송하는 비전 센서의 동작 방법 |
EP3440833B8 (en) | 2016-04-04 | 2019-09-25 | Prophesee | Sample and hold based temporal contrast vision sensor |
KR102538172B1 (ko) | 2016-08-30 | 2023-05-31 | 삼성전자주식회사 | 데이터 출력 장치 |
EP3313064A1 (en) * | 2016-10-20 | 2018-04-25 | Chronocam | Pixel circuit for detecting time-dependent visual data |
KR102707749B1 (ko) | 2019-03-28 | 2024-09-23 | 삼성전자주식회사 | 옵티컬 블랙 영역을 이용하여 이벤트 신호들을 보정하도록 구성되는 다이나믹 비전 센서 및 그 동작 방법 |
KR20210102511A (ko) | 2020-02-10 | 2021-08-20 | 삼성전자주식회사 | 버퍼를 포함하는 동적 비전 센서 장치 |
JP2023521575A (ja) * | 2020-04-02 | 2023-05-25 | プロフェシー | ビジョンセンサ用のピクセル回路及び方法 |
KR20220156327A (ko) | 2021-05-18 | 2022-11-25 | 삼성전자주식회사 | 비전 센서 및 이의 동작 방법 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3638050A (en) * | 1970-04-01 | 1972-01-25 | Texas Instruments Inc | Preamplification circuitry for photoconductive sensors |
US5155353A (en) * | 1991-08-14 | 1992-10-13 | Tandberg Data | High dynamic range integrated opto-electronic sensor and MOSFET amplifiers for pulsed light |
US5508836A (en) * | 1994-09-13 | 1996-04-16 | Irvine Sensors Corporation | Infrared wireless communication between electronic system components |
JPH08265068A (ja) * | 1995-03-10 | 1996-10-11 | At & T Corp | 利得制御回路 |
US5801588A (en) | 1996-02-23 | 1998-09-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Preamplifier for optical communication |
US6194695B1 (en) * | 1998-08-27 | 2001-02-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Photoreceptor array for linear optical flow measurement |
KR100630083B1 (ko) * | 2002-04-26 | 2006-09-27 | 삼성전자주식회사 | 버스트모드 광 수신기의 자동이득조절 장치 |
ITUD20020139A1 (it) * | 2002-06-19 | 2003-12-19 | Neuricam Spa | Elemento fotosensibile per sensori elettro-ottici |
JP2006513626A (ja) * | 2003-01-14 | 2006-04-20 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | フォトダイオードを有するリモートコントロール受信機のための回路配置および配置方法 |
JP3691050B2 (ja) * | 2003-10-30 | 2005-08-31 | 総吉 廣津 | 半導体撮像素子 |
US7265631B2 (en) * | 2005-03-12 | 2007-09-04 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Transimpedance amplifier with signal amplification circuit that performs power signal regulation |
JP5244587B2 (ja) | 2005-06-03 | 2013-07-24 | ウニヴェルズィテート チューリッヒ | 時間依存性の画像データを検出するフォトアレイ |
AT504582B1 (de) | 2006-11-23 | 2008-12-15 | Arc Austrian Res Centers Gmbh | Verfahren zur generierung eines bildes in elektronischer form, bildelement für einen bildsensor zur generierung eines bildes sowie bildsensor |
US7554073B2 (en) | 2007-01-22 | 2009-06-30 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. | High linearity CMOS ambient light sensor |
WO2008123119A1 (en) * | 2007-03-26 | 2008-10-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and electronic device provided with the photoelectric conversion device |
EP2141803A4 (en) * | 2007-03-29 | 2016-08-31 | Nec Corp | SIGNAL AMPLIFIER FOR OPTICAL RECEPTION CIRCUIT |
KR101401528B1 (ko) * | 2007-06-29 | 2014-06-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 광전변환장치 및 그 광전변환장치를 구비하는 전자기기 |
EP2026479A1 (de) * | 2007-08-17 | 2009-02-18 | Leica Geosystems AG | Transimpedanzverstärkerschaltung für einen Photodetektor |
-
2011
- 2011-05-26 ES ES201130862A patent/ES2396816B1/es not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-05-22 KR KR1020137034589A patent/KR101885093B1/ko active IP Right Grant
- 2012-05-22 ES ES12789077.0T patent/ES2592652T3/es active Active
- 2012-05-22 EP EP12789077.0A patent/EP2717466B1/en active Active
- 2012-05-22 US US14/119,942 patent/US9681081B2/en active Active
- 2012-05-22 CN CN201280036724.0A patent/CN103875180B/zh active Active
- 2012-05-22 WO PCT/ES2012/070363 patent/WO2012160230A1/es active Application Filing
- 2012-05-22 JP JP2014511916A patent/JP5922226B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES2396816A1 (es) | 2013-02-27 |
US9681081B2 (en) | 2017-06-13 |
US20140231623A1 (en) | 2014-08-21 |
JP5922226B2 (ja) | 2016-05-24 |
CN103875180B (zh) | 2017-07-18 |
EP2717466A1 (en) | 2014-04-09 |
WO2012160230A1 (es) | 2012-11-29 |
EP2717466B1 (en) | 2016-08-10 |
ES2396816B1 (es) | 2014-01-21 |
CN103875180A (zh) | 2014-06-18 |
JP2014515577A (ja) | 2014-06-30 |
KR101885093B1 (ko) | 2018-08-03 |
KR20140053030A (ko) | 2014-05-07 |
EP2717466A4 (en) | 2014-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES2592652T3 (es) | Circuito de ganancia de transimpedancia de bajo consumo y bajo desacoplamiento para sistemas de foto-detección de diferenciación temporal en sensores dinámicos de visión | |
ES2755814T3 (es) | Sensor de visión de contraste temporal basado en muestreos y retenciones | |
ES2690161T3 (es) | Método y dispositivo para la detección de la variación temporal de la intensidad luminosa en una matriz de fotosensores | |
JP6415572B2 (ja) | 動的な、単一光ダイオードの画素回路およびその作動方法 | |
JP6321182B2 (ja) | 一定の電圧でバイアスされたフォトダイオードを有する画素回路及び関連する撮像方法 | |
US7791657B2 (en) | Dynamic range enhancement scheme for imagers | |
JP4762030B2 (ja) | 光検出装置 | |
TWI618231B (zh) | 紅外偵測器陣列之緩衝式直接注射像素 | |
JP2009194569A (ja) | 光電変換装置及び撮像システム | |
US20080273106A1 (en) | Class AB amplifier and imagers and systems using same | |
JP2008517541A (ja) | 高利得デジタル画像システム | |
JP2008263379A (ja) | 光電変換装置及び撮像システム | |
TW200822710A (en) | Method, apparatus and system to reduce readout delay in a sensor | |
CN107005659B (zh) | 放射线检测器 | |
US6580063B1 (en) | Solid state imaging device having high output signal pain | |
WO2020196034A1 (ja) | 撮像処理回路、撮像システム、撮像処理方法及びプログラム | |
TWI683577B (zh) | 具有電流鏡之緩衝直接注入讀出中的影像滯後緩解 | |
JP3601053B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
KR20150130186A (ko) | 이미지 센서 및 그 적층 구조 | |
JP2016103717A (ja) | 放射線検出器 | |
JP2015002463A (ja) | 光電変換回路、光電変換装置及び電子機器、並びに光電変換回路の光電流制限方法 |