ES2294510T3 - Procedimiento de formacion de una capa de carburo de silicio sobre una lamina de silicio. - Google Patents
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Abstract
Procedimiento de formación de una capa de carburo de silicio (3, 4) sobre una oblea de silicio (1) caracterizado por comprender las etapas siguientes: depositar una máscara anticarburación (2) sobre la pastilla según un motivo sensiblemente en damero; proceder a una etapa de carburación en condiciones tales que la tensión residual sea de tipo en extensión o respectivamente en compresión; eliminar la máscara; proceder a una etapa de carburación en condiciones tales que la tensión residual sea de tipo en compresión o respectivamente en extensión.
Description
Procedimiento de formación de una capa de
carburo de silicio sobre una lámina de silicio.
\global\parskip0.930000\baselineskip
La presente invención se refiere al crecimiento
de carburo de silicio sobre un sustrato de silicio (SiC/Si).
Actualmente, el crecimiento de carburo de
silicio sobre un sustrato de silicio constituye un medio
privilegiado de obtención de capas de SiC cúbico de grandes
dimensiones. Las ventajas del silicio como sustrato para el
crecimiento de SiC y/o de otros materiales residen en su bajo coste,
su disponibilidad en grandes dimensiones y su aptitud para formar
directamente una capa de 3C-SiC por carburación. Los
inconvenientes de los sustratos de silicio para el crecimiento del
SiC resultan sobre todo de la diferencia entre los parámetros de
malla y de la diferencia entre los coeficientes de dilatación
térmica del S y el SiC. Esto conduce a una calidad cristalina
mediocre, pero sobre todo al establecimiento de fuertes tensiones
residuales cuando el sustrato se lleva de la temperatura de
crecimiento a la temperatura ambiente, de donde resulta una fuerte
curvatura del sustrato.
De hecho, la calidad cristalina es suficiente
para un gran número de aplicaciones, tales como la realización de
captadores de presión, de temperatura o de caudal, así como para
ciertos dispositivos electrónicos. Por el contrario, la curvatura
puede ser tan alta que haga imposible el uso de técnicas habituales
de fotolitografía necesarias para la explotación industrial de esas
capas y tanto más cuando aumenta la dimensión de los sustratos,
mientras que el uso de obleas de silicio de grandes diámetros, a
menudo iguales o superiores a 20 cm, es la regla actualmente en los
procesos de fabricación industrial.
T. Chassagne et al. han mostrado, en un
artículo publicado en Materials Science Forum, vol.
353-356 (2001), pp. 155-158, que,
según la temperatura de carburación del sustrato, la capa de SiC
puede estar ya sea en compresión, ya sea en extensión. Proponen en
la conclusión de su artículo realizar capas de SiC no sometidas a
tensión mediante una selección de esta temperatura de carburación.
Sin embargo, la curva ilustrada en la figura 2 del artículo
mencionado previamente y reproducida en la figura 1 adjunta indica
que la transición entre compresión y extensión se hace en un
intervalo extremadamente estrecho y puede ser difícil colocarse en
las condiciones en las que la tensión sería nula, en el marco de un
proceso industrial y reproducible.
Por lo tanto, no se dispone siempre de un
procedimiento simple que permita el crecimiento de una capa de
carburo de silicio sobre un sustrato de silicio evitando o
reduciendo notablemente la curvatura de la estructura obtenida.
Un objetivo de la presente invención es
proporcionar un procedimiento como ese.
La presente invención se dirige asimismo a una
estructura que comprende una capa de carburo de silicio sobre un
sustrato de silicio que presenta una curvatura nula o al menos
suficientemente pequeña para ser compatible con las posibilidades
tecnológicas corrientes.
Para alcanzar estos objetivos, la presente
invención prevé un procedimiento de formación de una capa de carburo
de silicio sobre una rodaja u oblea de silicio que comprende las
siguientes etapas que consisten en depositar una máscara
anticarburación sobre la pastilla según un motivo prácticamente en
forma de damero; proceder a una etapa de carburación en condiciones
tales que la tensión residual sea de tipo en extensión o
respectivamente en compresión; eliminar la máscara y proceder a una
etapa de carburación en condiciones tales que la tensión residual
sea de tipo en compresión o respectivamente en extensión.
Según un modo de realización de la presente
invención, el procedimiento comprende además, tras las etapas de
carburación, una etapa de crecimiento epitaxial de una capa de
carburo de silicio.
Según un modo de realización de la presente
invención, una de las etapas de carburación se efectúa a una
temperatura inferior a 1000ºC y la otra se efectúa a una
temperatura superior a 1100ºC.
Según un modo de realización de la presente
invención, una de las etapas de carburación se efectúa a una
temperatura inferior a 950ºC y la otra se efectúa a una temperatura
superior a 1150ºC.
Según un modo de realización de la presente
invención, al menos la primera etapa de carburación se efectúa
hasta saturar en carbono la superficie superior de las zonas
carburadas.
Según un modo de realización de la presente
invención, la máscara está constituida por óxido de silicio.
La presente invención prevé también una pastilla
de silicio recubierta de carburo de silicio sobre la cual alternan
zonas en las cuales la tensión residual entre el carburo de silicio
y el silicio es una tensión en compresión y zonas en las cuales la
tensión residual entre el carburo de silicio y el silicio es una
tensión en extensión.
Según un modo de realización de la presente
invención, las zonas alternas se disponen según motivo prácticamente
en damero.
Según un modo de realización de la presente
invención, las tensiones presentan una anisotropía y las zonas
alternas son asimétricas.
\global\parskip1.000000\baselineskip
Estos objetivos, características y ventajas, así
como otros de la presente invención, se expondrán con detalle en la
descripción siguiente de modos de realización particulares hecha de
forma no restrictiva en relación con las figuras adjuntas, entre
las cuales:
la figura 1 representa la tensión residual en
función de la temperatura de carburación tal como está publicada en
el artículo previamente mencionado de T. Chassagne et al
y
las figuras 2A a 2D ilustran etapas sucesivas de
un procedimiento según la presente invención.
De forma general, la presente invención propone
dividir la superficie de un sustrato de silicio en dos tipos de
zonas. Sobre un tipo de zona, la carburación se hará según un
procedimiento que provoca tensiones residuales en compresión y
sobre el otro tipo de zona, según un procedimiento que provoca
tensiones residuales en extensión. Se entiende aquí por "tensión
residual" la tensión que aparece cuando el sustrato se lleva de
la temperatura de crecimiento a la temperatura ambiente.
La superficie de una zona debe ser pequeña
respecto de la superficie del sustrato de forma que la tensión
residual promedio sea homogénea en todo el sustrato. La superficie y
la forma de las zonas de cada tipo se determinan de forma que la
tensión total en extensión de las zonas en extensión se contrarreste
con la tensión total en compresión de las zonas en compresión.
Generalmente, el valor absoluto de la tensión en extensión es
bastante cercano al valor absoluto de la tensión en compresión, lo
cual hace que con un sustrato preparado para obtener un reparto en
damero de cuadrados en compresión alternados con cuadrados en
extensión de la misma superficie, se obtengan resultados
satisfactorios. Si estas tensiones son diferentes, se podrá prever
una estructura en damero deformada, en la cual los cuadrados de un
primer tipo estarán completamente separados unos de otros por un
fondo continuo del otro tipo.
En el caso de una anisotropía de curvatura
importante, por ejemplo si el sustrato está desorientado respecto
de un plano cristalográfico de bajos índices, las zonas elementales,
o las zonas de uno de los dos tipos, pueden ser, ventajosamente,
cuadradas, rectangulares, circulares u ovales, de forma que se
compensen las tensiones en cada dirección.
Las dimensiones de las zonas elementales se
pueden adaptar a las de los componentes para los que se ha realizado
la estructura, de forma que se saque el mejor partido de esa. El
componente puede, eventualmente, sacar provecho de la presencia de
los dos tipos de tensiones en lo que se refiere a su parte activa
y/o a su parte pasiva; por ejemplo, una parte de zona activa en
tensión rodeada de una parte de zona pasiva en compresión que, o
bien equilibra la tensión de la zona activa o bien sirve de soporte
a pistas de circuito eléctrico. Esto puede conducir a formas más
complejas, eventualmente con zonas elementales concéntricas.
Las figuras 2A a 2D son vistas de cortes
esquemáticos que ilustran etapas sucesivas de la aplicación de la
presente invención.
Como ilustra la figura 2A, se parte de un
sustrato de silicio 1 recubierto por una máscara 2 que tiene una
configuración en damero o de tipo damero, como se ha descrito
precedentemente.
Luego, como ilustra la figura 2B, se procede a
una carburación del sustrato de forma que se obtengan zonas
carburadas 3 en las regiones no recubiertas por la máscara 2. La
máscara 2 puede estar constituida, por ejemplo, por una capa
delgada de SiO_{2}, de un espesor de aproximadamente 100 nm, o por
cualquier otro material, tal como Si_{3}N_{4}, susceptible de
impedir que se carburen las zonas que él recubre.
Para esta etapa de carburación, habrá que
situarse en un intervalo de temperaturas tal que la tensión residual
que se provocaría durante un enfriamiento del sustrato en caso de
depósito de una capa homogénea provoque una tensión residual por
compresión o por extensión. Si uno se sitúa en las condiciones
indicadas en el artículo mencionado previamente en el texto, se
escogerá un intervalo de temperatura netamente superior o netamente
inferior a 1050ºC. Por ejemplo, habrá que situarse por debajo de
1000ºC o, preferentemente, de 950ºC o por encima de 1100ºC y
preferentemente de 1150ºC. Se apreciará que pueden escogerse otros
tipos de condiciones y que lo importante es situarse netamente a un
lado o a otro de las condiciones límite en las cuales la carburación
provoca una tensión residual en compresión o en extensión.
Luego, como ilustra la figura 2C, se elimina la
máscara 2 y se procede a una nueva etapa de carburación colocándose
al otro lado de las condiciones límite previamente mencionadas; es
decir, que si las regiones 3 resultan de una carburación que
provoca una tensión residual en compresión/extensión, la carburación
de las zonas 4 provocará tensiones residuales de tipo
extensión/compresión.
Si la primera etapa de carburación se ha
realizado en condiciones tales que se tiene una saturación de
carbono en superficie, durante la etapa de carburación siguiente
las zonas ya carburadas no resultan afectadas.
Luego, como ilustra la figura 2D, se procede,
preferentemente, a un crecimiento por epitaxia de una capa 5 de
carburo de silicio, de modo que el espesor total de la capa de
carburo de silicio que comprende las zonas carburadas y la capa
epitaxial tenga un valor deseado. De manera clásica, esta epitaxia
se realiza a una temperatura superior a 1150ºC. Sin embargo, esta
epitaxia se desarrollará con las mismas características para el SiC
que las de las regiones subyacentes, es decir, que las partes de la
capa epitaxial formadas por encima de las zonas carburadas que
provocan una tensión residual en extensión provocarán una tensión
residual en extensión y las partes de la capa epitaxial formadas
por encima de las zonas carburadas que provocan una tensión residual
en compresión provocarán igualmente una tensión residual en
compresión.
Entonces, la capa y el sustrato están preparados
para ser utilizados en la fabricación de componentes. Especialmente,
se podrá formar sobre el carburo de silicio una capa epitaxial de
un nitruro de elementos III.
Por supuesto, la presente invención es
susceptible de diversas variantes y modificaciones que resultarán
aparentes para los conocedores de la técnica. En especial, los
conocedores de la técnica podrán escoger el reparto de las zonas de
diversos tipos y las condiciones de carburación y de epitaxia.
Claims (9)
1. Procedimiento de formación de una capa de
carburo de silicio (3, 4) sobre una oblea de silicio (1)
caracterizado por comprender las etapas siguientes:
depositar una máscara anticarburación (2) sobre
la pastilla según un motivo sensiblemente en damero;
proceder a una etapa de carburación en
condiciones tales que la tensión residual sea de tipo en extensión
o respectivamente en compresión;
eliminar la máscara;
proceder a una etapa de carburación en
condiciones tales que la tensión residual sea de tipo en compresión
o respectivamente en extensión.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, que
comprende además, tras las etapas de carburación, una etapa de
crecimiento epitaxial de una capa de carburo de silicio (5).
3. Procedimiento según la reivindicación 1, en
el cual una de las etapas de carburación se efectúa a una
temperatura inferior a 1000ºC y la otra etapa de carburación se
efectúa a una temperatura superior a 1100ºC.
4. Procedimiento según la reivindicación 1, en
el cual una de las etapas de carburación se efectúa a una
temperatura inferior a 950ºC y la otra etapa de carburación se
efectúa a una temperatura superior a 1150ºC.
5. Procedimiento según la reivindicación 1, en
el que al menos la primera etapa de carburación se efectúa hasta
saturar en carbono la superficie superior de las zonas
carburadas.
6. Procedimiento según la reivindicación 1, en
el cual la máscara está constituida por óxido de silicio.
7. Pastilla de silicio (1) recubierta de carburo
de silicio (3,4), sobre la cual alternan zonas en las cuales la
tensión residual entre el carburo de silicio y el silicio es una
tensión en compresión y zonas en las cuales la tensión residual
entre el carburo de silicio y el silicio es una tensión en
extensión.
8. Pastilla de silicio según la reivindicación
7, en la cual las zonas alternas se disponen se disponen según un
motivo prácticamente en damero.
9. Pastilla de silicio según la reivindicación
8, en la cual las tensiones presentan una anisotropía y las zonas
alternas son asimétricas.
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