EP3346484B1 - Dispositif et procédé de génération de rayons x, et système de mesure d'échantillon - Google Patents

Dispositif et procédé de génération de rayons x, et système de mesure d'échantillon Download PDF

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EP3346484B1
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    • H01J35/10—Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes

Claims (9)

  1. Dispositif de génération de rayons X (10) comprenant :
    un générateur d'électrons (24) qui comporte une source d'électrons (32) qui émet un faisceau d'électrons linéaire (B1) qui convient pour générer un point focal de forme linéaire, et un mécanisme de commutation (34) qui commute une direction d'extension de la source d'électrons (32) selon l'une ou l'autre direction prise parmi une première direction et une seconde direction qui est perpendiculaire à la première direction tandis qu'une position centrale de la source d'électrons (32) est fixée ; et
    une anticathode rotative (26) qui présente une forme de disque ou une forme de colonne, laquelle comporte une partie de surface circonférentielle (38) qui convient pour l'arrivée en incidence dessus du faisceau d'électrons (B1) en provenance de la source d'électrons (32) et laquelle émet des faisceaux de rayons X linéaires ou en forme de point (B2, B3) et est configurée pour être entraînée en rotation autour d'un axe de rotation (36) ;
    dans lequel le générateur d'électrons (24) et l'anticathode rotative (26) sont agencés de façon fixe selon une relation positionnelle selon laquelle la source d'électrons (32) et la partie de surface circonférentielle (38) se font face l'une l'autre et l'axe de rotation (36) est incliné par rapport à la première direction et à la seconde direction ;
    caractérisé en ce que l'axe de rotation (36) est incliné à l'intérieur d'une plage de 30 à 60 degrés par rapport à la première direction dans un plan qui comprend la première direction et la seconde direction.
  2. Dispositif de génération de rayons X (10) selon la revendication 1, dans lequel l'axe de rotation (36) est incliné de 45 degrés par rapport à la première direction.
  3. Système de mesure d'échantillon (100) comprenant :
    un dispositif de génération de rayons X (10) selon la revendication 1 ou 2;
    un dispositif de détection de rayons X (102) qui détecte des faisceaux de rayons X (B2, B3) qui sont générés depuis le dispositif de génération de rayons X (10) et qui sont transmis au travers d'un échantillon ou qui sont réfléchis par l'échantillon ; et
    un moyen de mesure qui mesure une quantité physique qui est en relation avec l'échantillon, sur la base de quantités détectées des faisceaux de rayons X (B2, B3) qui sont détectés par le dispositif de détection de rayons X (102).
  4. Dispositif de génération de rayons X (1010) tel que décrit selon la revendication 1, comprenant :
    une chambre (1012) qui loge la source d'électrons (1036) et l'anticathode rotative (1060) ;
    dans lequel le générateur d'électrons (1030) et l'anticathode rotative (1060) sont agencés de façon fixe à l'intérieur de la chambre (1012) selon la relation positionnelle selon laquelle la source d'électrons et la partie de surface circonférentielle (1062) se font face l'une l'autre ;
    le générateur d'électrons (1030) comprenant :
    une base de support (1038) qui supporte la source d'électrons (1036) ; et
    un mécanisme d'introduction de rotation (1042) qui est inséré de façon étanche à l'air et qui est passé à l'intérieur de la chambre (1012) et qui entraîne en rotation la base de support (1038) conformément à une opération en provenance de l'extérieur de la chambre (1012) ;
    dans lequel le mécanisme d'introduction de rotation (1042) dispose de la capacité de modifier la direction d'extension de la source d'électrons selon la première direction et selon la seconde direction qui est perpendiculaire à la première direction au moyen d'une opération d'entraînement en rotation de la base de support (1038).
  5. Dispositif de génération de rayons X (1010) selon la revendication 4, dans lequel le mécanisme d'introduction de rotation (1042) inclut une partie de manche ou de poignée (1050) qui est agencée à rotation à l'extérieur de la chambre (1012) et il entraîne en rotation la base de support (1038) conformément à une opération d'entraînement en rotation de la partie de manche ou de poignée (1050).
  6. Dispositif de génération de rayons X (1010) selon la revendication 5, dans lequel le mécanisme d'introduction de rotation (1042) inclut en outre un moyen d'indication (1052) qui indique des états de rotation de la partie de manche ou de poignée (1050) d'une façon visible depuis l'extérieur de la chambre (1012).
  7. Dispositif de génération de rayons X (1010) selon la revendication 5 ou 6, dans lequel le mécanisme d'introduction de rotation (1042) inclut en outre un moyen de restriction de rotation (1056, 1057) qui restreint une plage de rotation de la partie de manche ou de poignée (1050).
  8. Système de mesure d'échantillon (1100) comprenant :
    un dispositif de génération de rayons X (1010) selon l'une quelconque des revendications 4 à 7 ;
    un dispositif de détection de rayons X (1102) qui détecte des faisceaux de rayons X (B2, B3) qui sont générés depuis le dispositif de génération de rayons X (1010) et qui sont transmis au travers d'un échantillon (S) ou qui sont réfléchis par l'échantillon ; et
    un moyen de mesure (1106) qui mesure une quantité physique qui est en relation avec l'échantillon (S), sur la base de quantités détectées des faisceaux de rayons X (B2, B3) qui sont détectés par le dispositif de détection de rayons X (1102).
  9. Procédé de génération de rayons X en utilisant un dispositif (10), le dispositif (10) comprenant :
    un générateur d'électrons (24) qui comporte une source d'électrons (32) qui émet un faisceau d'électrons linéaire (B1) qui convient pour générer un point focal de forme linéaire ; et
    une anticathode rotative qui présente une forme de disque ou une forme de colonne, laquelle comporte une partie de surface circonférentielle (38) pour l'arrivée en incidence dessus du faisceau d'électrons (B1) en provenance de la source d'électrons (32) et laquelle émet des faisceaux de rayons X linéaires ou en forme de point (B2, B3) et est configurée pour être entraînée en rotation autour d'un axe de rotation (36) ;
    le procédé comprenant les étapes constituées par :
    l'agencement de façon fixe du générateur d'électrons (24) et de l'anticathode rotative (26) selon une relation positionnelle selon laquelle la source d'électrons (32) et la partie de surface circonférentielle (38) se font face l'une l'autre et l'axe de rotation (36) est incliné par rapport à une première direction et à seconde direction qui est perpendiculaire à la première direction ; et
    la commutation d'une direction d'extension de la source d'électrons (32) selon l'une ou l'autre direction prise parmi la première direction et la seconde direction tandis qu'une position centrale de la source d'électrons (32) est fixée ;
    caractérisé en ce que l'axe de rotation (36) est incliné à l'intérieur d'une plage de 30 à 60 degrés par rapport à la première direction et à la seconde direction dans un plan qui comprend la première direction et la seconde direction.
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