DK154028B - Apparat til fremstilling af siliciumstave - Google Patents

Apparat til fremstilling af siliciumstave Download PDF

Info

Publication number
DK154028B
DK154028B DK092078AA DK92078A DK154028B DK 154028 B DK154028 B DK 154028B DK 092078A A DK092078A A DK 092078AA DK 92078 A DK92078 A DK 92078A DK 154028 B DK154028 B DK 154028B
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
rods
silicon
container
ultra
monosilane
Prior art date
Application number
DK092078AA
Other languages
English (en)
Other versions
DK154028C (da
DK92078A (da
Inventor
Yoshifumi Yatsurugi
Atsushi Yusa
Nagao Takahashi
Original Assignee
Komatsu Mfg Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Mfg Co Ltd filed Critical Komatsu Mfg Co Ltd
Publication of DK92078A publication Critical patent/DK92078A/da
Publication of DK154028B publication Critical patent/DK154028B/da
Application granted granted Critical
Publication of DK154028C publication Critical patent/DK154028C/da

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/021Preparation
    • C01B33/027Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
    • C01B33/035Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

DK 154028B
- i -
Den foreliggende opfindelse angår et apparat til fremstilling af ultrarene siliciumstave ved pyrolyse af monosilan på stavformede bærelegemer og af den i kravets indledning angivne art.
5 Det er kendt at fremstille halvledende, ultrarene siliciumstave ved pyrolyse eller reduktion med hydrogen af en luftformig siliciumforbindelse såsom eksempelvis monosilan, siliciumtetraklorid eller triklorsilan på et stavformet rødglødende bærelegeme af silicium eller metal med 10 højt smeltepunkt og god elektronisk ledningsevne, såsom eksempelvis tantal. De kendte fremgangsmåder og apparater er bl.a. beskrevet i US patentskrifterne nr. 3.099.534, 3.011.877, 3.053.638 og 3.147.141.
Når den anvendte siliciumforbindelse er monosilan 15 (SiH^), medfører pyrolysen imidlertid en dekompositions reaktion, som ikke forekommer ved pyrolyse af halogenforbindelser (SiCl^, SiHCl^)·
Den mest udtalte forskel er hastigheden af homogene reaktioner i gas- eller dampfase. Monosilan dekomponeres 20 termisk ved enten homogene eller heterogene reaktioner i gasfase, og den reaktion, der kræves ved fremstilling af siliciumstave er hovedsagelig den heterogene, som finder sted på den rødglødende siliciumstav. Jo højere monosilanens tæthed og temperatur er i gasfasen, desto højere 25 er hastigheden af de homogene og heterogene reaktioner. Reaktionshastighedens afhængighed af temperaturforholdene er størst for den homogene reaktion. Det er erkendt, at dette fænomen fremmes med voksende diameter af de ultrarene siliciumstave, der fremstilles således, at vækstha-30 stigheden for silicium på de modstående flader af den rødglødende siliciumstav vokser med dennes diameter. Som følge heraf vil stavdiameteren blive stadig mere uensartet.
Med forøget stavdiameter vokser også temperaturen i gasfasen og dermed udskillelsen af pulverformet silicium 35 på pyrolysebeholderens indervægge. Dette pulverformede silicium frembringes ved den homogene reaktion i gasfasen og kan i visse tilfælde blande sig med det ultrarene silicium, således at stavenes kvalitet forringes.
DK 154028B
- 2 -
Inden de frembragte stave benyttes til suspensionseller flydezonefusion, sikres det, at de har ensartet diameter eller tilnærmelsesvis perfekt cirkulær cylinderform, ved at overskydende materiale skrabes af.
5 Formålet med opfindelsen er at anvise et apparat til fremstilling af ultrarene siliciumstave ved pyrolyse af monosilan på en sådan måde, at stavene selv ved store diametre er cirkulær-cylinderformede.
Dette opnås ifølge opfindelsen ved det i kravet an-10 viste apparat.
Opfindelsen skal i det følgende beskrives nærmere i forbindelse med tegningen, hvor fig. 1 viser et lodret snit gennem et apparat ifølge opfindelsen, og 15 fig. 2 et snit langs linien II-II i fig. 1.
Det på tegningen viste apparat omfatter en beholder 3 og en bund 4. Beholdervæggen er hul, således at den kan køles ved hjælp af et gennem en tilgangsstuds 11 og en afgangsstuds 12 strømmende kølemedium. Foroven er be-20 holderen 3 forsynet med en afgangsstuds 7 for udslipning af luftarter, der frembringes ved termisk dekomposition i beholderens indre. Endvidere er beholdervæggen forsynet med vinduer 21, gennem hvilke den proces, der finder sted i beholderens indre,kan følges.
25 Også bunden 4 er udformet med hulrum, således at et kølemedium tilledes gennem bunden via en tilgangs- og en afgangsstuds 13 henholdsvis 14.
Fire kobberelektroder 8 er ved hjælp af termiske isolatorer 9 fastgjort stående over bunden 4 symmetrisk om 30 dennes centrum. Hver elektrode 8 er via en terminal 10 forbundet til en ikke vist spændingskilde, og den nederste del af elektroden gennemstrømmes af et kølemedium via et tilgangs- og et afgangsrør 18 henholdsvis 19. Via en tantalskive 20 er hver elektrode 8 øverst i forbindelse med 35 en lodret stav 1 af ultrarent silicium.
Siliciumstavene 1 er to og to ved deres øverste ende indbyrdes forbundet ved hjælp af en ultraren siliciumstav 2. Stavene 1 er endvidere to og to indbyrdes adskilt af - 3 -
DK 154028 B
en termisk isolator 5 med i det væsentlige korsformet tværsnit. Isolatoren 5 er anbragt centralt i beholderen og har et indre hulrum, der gennemstrømmes af et kølemedium via indgangs- og afgangsrør 15 henholdsvis 16. I 5 den termiske isolator 5 findes også et føderør 17 for monosilan. I tre niveauer udgår fra føderøret 17 fire afgreningsrør, hvis udmundinger 6 er beliggende i isolatorens 5 fire yderpunkter i det pågældende niveau.
Gennem bunden 4 er endvidere ført et rør 22, gennem 10 hvilket en forvarmende hed luftstrøm kan ledes ind i be holderen.
I det følgende skal anvendelsen af det beskrevne apparat forklares.
Når de ultrarene siliciumstave 1, der skal tjene som 15 bærelegemer, er anbragt på kobberelektroderne 8 eller ret tere på tantalskiverne 20 og foroven indbyrdes forbundet ved hjælp af de tværgående stave 2, anbringes beholderen 3 over bunden 4, og afgangsstudsen 7 forbindes til en ventil i et ikke vist udsugningsaggregat, som kan evakuere 20 beholderen. Herefter udsuges luften i beholderen, til der er opnået et forudbestemt undertryk i beholderen.
Derefter lukkes udsugningsaggregatets ventil, og en hed luftstrøm indblæses i beholderen gennem røret 22, således at siliciumstavene 1 opvarmes. Når et positivt tryk er 25 opbygget i beholderen 3, åbnes ventilen igen, og stavene 1 opvarmes, til den forudbestemte temperatur nås. Samtidig er kølemedium ledet gennem beholdervæggen, bunden og den termiske isolator.
Når siliciumstavene 1 af luftstrømmen er bragt op på 30 den forudbestemte temperatur, påtrykkes de via kobberelek- troderne 8 en elektrisk strøm, således at stavenes 1 temperatur ved modstandsopvarmning bringes op over 800°C.
Herefter afbrydes den hede luftstrøm, og monosilan indføres gennem røret 17. Den indførte monosilans strømnings-35 hastighed styres ved hjælp af passende regulatorer, og det påses, at ensartede mængder strømmer ud gennem de fire udmundinger 6 i hvert niveau. Den i beholderen indførte monosilan udsættes for pyrolyse på de rødglødende, ultra- - 4 -
DK 154028 B
rene siliciumstave 1, hvorved der på disse stave afsættes ultrarent silicium.
På grund af den termiske isolators 5 udformning vil de ultrarene siliciumstave 1 ikke, selv om deres diameter 5 efterhånden vokser med afsætningen af yderligere materiale, blive udsat for strålevarme fra en eller flere af de øvrige stave 1, og stavene påvirkes derfor ikke af de homogene reaktioneri gasfasen. Den voksende diameter af stavene forbliver derfor ensartet i alle snit gennem stavene.
10 Da endvidere den homogene reaktion i gassen kan sty res, kan man opnå forøget produktivitet og udbytte med højere kvalitet.
I det følgende skal opfindelsen belyses nærmere ved nogle eksempler.
15 Eksempel 1
Fire bærelegemer i form af ultrarene siliciumstave, hver med en diameter på 5 mm og en længde på 1200 mm, blev placeret lodret og adskilt fra hinanden og en fælles symmetriakse i en pyrolysebeholder. De øverste ender af 20 bærelegemerne blev to og to forbundet indbyrdes ved hjælp af ultrarene siliciumstave med en diameter på 5 mm og en længde på 300 mm. Forbindelsesstavene havde en resistans på 5CL/Lcm. En termisk isolator som den på tegningen viste blev placeret mellem bærelegemerne. Efter forvarm-25 ning ved hjælp af en varm luftstrøm· fastholdes bærelege merne på en temperatur på omkring 850°C, og monosilan ledes ind i beholderen gennem de øvre, mellemste og nedre udmundinger 6. Monosilanen udsættes for pyrolyse på de rødglødende bærelegemer, og hastigheden, hvormed silicium 30 afsættes på legemerne, fastlægges til 4-8 m/min., som ved hidtil kendte processer af denne art, til diameteren af hver siliciumstav når 60 mm. Den tid, der medgår, til stavdiameteren når 60 mm, kan nedsættes omkring 10% i forhold til kendte fremgangsmåder.
35 De således fremstillede polykrystallinske silicium stave udsættes for en suspensionszonefusionsproces, og monokrystallisationen af disse stave blev forbedret med omkring 30%.
DK 154028B
- 5 -
Eksempel 2 Når ultrarene siliciumstave, hver med en diameter på 60 mm, fremstilles ved en pyrolysetemperatur på omkring 900°C og en afsætningshastighed på omkring 25% mere end 5 anført i eksempel 1, kan den til pyrolysen forbrugte tid afkortes med omkring 23%. Monokrystallisationen foregår i det væsentlige som anført i eksempel 1.
Eksempel 3
Ved fremstilling under de i eksempel 1 anførte betin-10 gelser af ultrarene siliciumstave med en diameter på 100 mm kan den til pyrolysen medgåede tid nedsættes omkring 25%. Der sker ikke, som ved den kendte fremgangsmåde, nogen forurening med pulverformet silicium dannet ved homogen reaktion i gasfasen.
15 Eksempel 4
Ultrarent silicium blev fremstillet i stave med en diameter på 60 mm, idet tolv bærelegemer blev udsat samtidigt for pyrolyse. Bærelegemerne var opdelt i fire grupper af en termisk isolator. En af grupperne - omfat-20 tende tre bærelegemer - var anbragt i separate rum i py- rolysebeholderen. Det viste sig,· at pyrolysetiden ved anvendelse af en termisk isolator kunne nedsættes omkring 6%, medens produktudbyttet øges omkring 4%.
Ifølge opfindelsen anbringes altså en kølet termisk 25 isolator mellem de rødglødende bærelegemer, således at in tet bærelegeme udsættes for strålevarme fra et andet bærelegeme. Den termiske isolator kan fremstilles af samme materiale som den beholder, hvori pyrolysen finder sted, og køles på samme måde som denne ved hjælp af vand eller 30 et andet kølemedium, hvis temperatur kan reguleres. Den termiske isolator skal hensigtsmæssigt have en tilstrækkelig højde til, at størstedelen af siliciumbærelegemerne afskærmes indbyrdes og foretrukket placeres således, at pyrolysebeholderen opdeles i ensartede rum. Hvor beholde-35 ren indeholder et større antal bærelegemer, kan det være tilstrækkeligt, at grupper af bærelegemer er indbyrdes
DK 154028 B
- 6 - termisk isoleret, altså uden at hvert legeme er adskilt fra alle de øvrige.
Tilførslen af monosilan bør ske ensartet i flere niveauer i beholderen.
5 Ved opfindelsen kan den homogene reaktion, der sædvan ligvis følger pyrolyse på rødglødende siliciumstave af monosilan, hindres eller hæmmes. Derfor kan diameteren af de voksende ultrarene siliciumstave blive ensartet, og mængden af afsat silicium pr. tidsenhed forøges. Da mæng-10 den af pulverformet silicium, der kunne iblandes stavene, reduceres væsentligt, bliver de fremstillede stave af højere kvalitet.

Claims (1)

  1. OK 154028B -1.- Apparat til fremstilling af ultrarene siliciumstave ved pyrolyse af monosilan på stavformede bærelegemer af ultrarent silicium og opvarmet til en temperatur, hvor de er rødglødende, hvilket apparat omfatter elektroder (8), 5 der bærer flere sådanne bærelegemer (1) inde i en pyro- lysebeholder (3), hvilke elektroder (8) tjener til at lede en elektrisk strøm direkte gennem bærelegemerne (1) for at opvarme disse, og hvilke elektroder (8) er fastgjort til beholderens (3) bund (4), kendetegnet 10 ved, at der på midten af bunden (4) er anbragt en radial tværsnitsform udvisende varmeisolator (5), som adskiller bærelegemerne (1) indbyrdes med ens afstande, hvorved udmundinger (6) for tilførsel af monosilanen er udformet i endekanterne af varmeisolatorens (5) varmeisolerende pla-15 der.
DK092078A 1977-03-02 1978-03-01 Apparat til fremstilling af siliciumstave DK154028C (da)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2147377A JPS53106626A (en) 1977-03-02 1977-03-02 Method of making high purity rod silicon and appratus therefor
JP2147377 1977-03-02

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DK92078A DK92078A (da) 1978-09-03
DK154028B true DK154028B (da) 1988-10-03
DK154028C DK154028C (da) 1989-02-13

Family

ID=12055935

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK092078A DK154028C (da) 1977-03-02 1978-03-01 Apparat til fremstilling af siliciumstave

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4150168A (da)
JP (1) JPS53106626A (da)
CA (1) CA1083728A (da)
DE (1) DE2808462C2 (da)
DK (1) DK154028C (da)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2912661C2 (de) * 1979-03-30 1982-06-24 Wacker-Chemitronic Gesellschaft Fuer Elektronik-Grundstoffe Mbh, 8263 Burghausen Verfahren zur Abscheidung von reinem Halbleitermaterial und Düse zur Durchführung des Verfahrens
US4681652A (en) * 1980-06-05 1987-07-21 Rogers Leo C Manufacture of polycrystalline silicon
US4559219A (en) * 1984-04-02 1985-12-17 General Electric Company Reducing powder formation in the production of high-purity silicon
FR2572312B1 (fr) * 1984-10-30 1989-01-20 Rhone Poulenc Spec Chim Procede de fabrication de barreaux de silicium ultra-pur
US4724160A (en) * 1986-07-28 1988-02-09 Dow Corning Corporation Process for the production of semiconductor materials
US4826668A (en) * 1987-06-11 1989-05-02 Union Carbide Corporation Process for the production of ultra high purity polycrystalline silicon
US4805556A (en) * 1988-01-15 1989-02-21 Union Carbide Corporation Reactor system and method for forming uniformly large-diameter polycrystalline rods by the pyrolysis of silane
US5118485A (en) * 1988-03-25 1992-06-02 Hemlock Semiconductor Corporation Recovery of lower-boiling silanes in a cvd process
US4921026A (en) * 1988-06-01 1990-05-01 Union Carbide Chemicals And Plastics Company Inc. Polycrystalline silicon capable of yielding long lifetime single crystalline silicon
US5177399A (en) * 1988-06-27 1993-01-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Color cathode ray tube apparatus
US5206559A (en) * 1989-08-04 1993-04-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Cathode ray tube which improves deflection aberration
US5225245A (en) * 1989-12-01 1993-07-06 Kawasaki Steel Corporation Chemical vapor deposition method for forming thin film
WO1992000245A1 (en) * 1990-06-27 1992-01-09 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd. Method of producing polycrystalline silicon rods for semiconductors and thermal decomposition furnace therefor
US5478396A (en) * 1992-09-28 1995-12-26 Advanced Silicon Materials, Inc. Production of high-purity polycrystalline silicon rod for semiconductor applications
US5382419A (en) * 1992-09-28 1995-01-17 Advanced Silicon Materials, Inc. Production of high-purity polycrystalline silicon rod for semiconductor applications
US6544333B2 (en) * 1997-12-15 2003-04-08 Advanced Silicon Materials Llc Chemical vapor deposition system for polycrystalline silicon rod production
WO1999031013A1 (en) * 1997-12-15 1999-06-24 Advanced Silicon Materials, Inc. Chemical vapor deposition system for polycrystalline silicon rod production
US5904981A (en) * 1998-05-27 1999-05-18 Tokuyama Corporation Polycrystal silicon rod having an improved morphyology
US6468886B2 (en) * 1999-06-15 2002-10-22 Midwest Research Institute Purification and deposition of silicon by an iodide disproportionation reaction
RU2155158C1 (ru) * 1999-10-07 2000-08-27 Институт химии высокочистых веществ РАН Способ получения моноизотопного кремния si28
KR100411180B1 (ko) 2001-01-03 2003-12-18 한국화학연구원 다결정실리콘의 제조방법과 그 장치
US7033561B2 (en) 2001-06-08 2006-04-25 Dow Corning Corporation Process for preparation of polycrystalline silicon
US6623801B2 (en) 2001-07-30 2003-09-23 Komatsu Ltd. Method of producing high-purity polycrystalline silicon
US6503563B1 (en) 2001-10-09 2003-01-07 Komatsu Ltd. Method of producing polycrystalline silicon for semiconductors from saline gas
US7732012B2 (en) * 2004-06-22 2010-06-08 Shin-Etsu Film Co., Ltd Method for manufacturing polycrystalline silicon, and polycrystalline silicon for solar cells manufactured by the method
JP5509578B2 (ja) * 2007-11-28 2014-06-04 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコン製造装置及び製造方法
WO2009120859A1 (en) * 2008-03-26 2009-10-01 Gt Solar, Inc. Gold-coated polysilicon reactor system and method
EP2271788A2 (en) * 2008-03-26 2011-01-12 GT Solar Incorporated Systems and methods for distributing gas in a chemical vapor deposition reactor
JP5481886B2 (ja) * 2008-03-27 2014-04-23 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコン製造装置
CA2721095A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-22 Hemlock Semiconductor Corporation Manufacturing apparatus for depositing a material and an electrode for use therein
WO2009128886A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-22 Hemlock Semiconductor Corporation Manufacturing apparatus for depositing a material and an electrode for use therein
AU2009236678B2 (en) * 2008-04-14 2014-02-27 Hemlock Semiconductor Corporation Manufacturing apparatus for depositing a material on an electrode for use therein
RU2011102451A (ru) 2008-06-23 2012-07-27 ДжиТи СОЛАР ИНКОРПОРЕЙТЕД (US) Точки соединения держателя и перемычки для трубчатых нитей накала в реакторе для химического осаждения из газовой фазы
JP5444860B2 (ja) * 2008-06-24 2014-03-19 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコン製造装置
US8399072B2 (en) * 2009-04-24 2013-03-19 Savi Research, Inc. Process for improved chemcial vapor deposition of polysilicon
US8540818B2 (en) * 2009-04-28 2013-09-24 Mitsubishi Materials Corporation Polycrystalline silicon reactor
CA2768171A1 (en) * 2009-07-14 2011-01-20 Hemlock Semiconductor Corporation A method of inhibiting formation of deposits in a manufacturing system
KR101115697B1 (ko) * 2009-12-02 2012-03-06 웅진폴리실리콘주식회사 에너지 효율을 높여주는 복사열 차단막을 갖는 화학기상증착 반응기
KR101033162B1 (ko) 2010-01-14 2011-05-11 (주)세미머티리얼즈 폴리실리콘 증착장치
US20110206842A1 (en) * 2010-02-25 2011-08-25 Vithal Revankar CVD-Siemens Reactor Process Hydrogen Recycle System
JP5637013B2 (ja) * 2010-03-04 2014-12-10 三菱マテリアル株式会社 トリクロロシラン製造装置及び製造方法
CN102190304B (zh) * 2010-03-08 2015-04-15 三菱综合材料株式会社 三氯硅烷制造装置
CN102190305B (zh) * 2010-03-15 2014-10-29 三菱综合材料株式会社 三氯硅烷制造装置
US10494714B2 (en) * 2011-01-03 2019-12-03 Oci Company Ltd. Chuck for chemical vapor deposition systems and related methods therefor
UA107875C2 (uk) 2011-03-30 2015-02-25 Viktor Grigorjevich Kolesnik СПОСІБ ВІДНОВЛЕННЯ КРЕМНІЮ І ТИТАНУ ШЛЯХОМ ГЕНЕРАЦІЇ ЕЛЕКТРОМАГНІТНИХ ВЗАЄМОДІЙ ЧАСТОК SiO2, FeTiO3 ТА МАГНІТНИХ ХВИЛЬ
JP5874469B2 (ja) * 2012-03-19 2016-03-02 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置及び成膜装置
US8871153B2 (en) 2012-05-25 2014-10-28 Rokstar Technologies Llc Mechanically fluidized silicon deposition systems and methods
DE102013204730A1 (de) * 2013-03-18 2014-09-18 Wacker Chemie Ag Verfahren zur Abscheidung von polykristallinem Silicium
US11015244B2 (en) 2013-12-30 2021-05-25 Advanced Material Solutions, Llc Radiation shielding for a CVD reactor
US10450649B2 (en) 2014-01-29 2019-10-22 Gtat Corporation Reactor filament assembly with enhanced misalignment tolerance
US10208381B2 (en) 2014-12-23 2019-02-19 Rec Silicon Inc Apparatus and method for managing a temperature profile using reflective energy in a thermal decomposition reactor
DE102015209008A1 (de) * 2015-05-15 2016-11-17 Schmid Silicon Technology Gmbh Verfahren und Anlage zur Zersetzung von Monosilan

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3011877A (en) * 1956-06-25 1961-12-05 Siemens Ag Production of high-purity semiconductor materials for electrical purposes
DE1061593B (de) * 1956-06-25 1959-07-16 Siemens Ag Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke
NL238464A (da) * 1958-05-29
NL251143A (da) * 1959-05-04
NL256255A (da) * 1959-11-02

Also Published As

Publication number Publication date
DK154028C (da) 1989-02-13
JPS53106626A (en) 1978-09-16
DE2808462A1 (de) 1978-09-07
DE2808462C2 (de) 1982-04-29
CA1083728A (en) 1980-08-12
JPS5645850B2 (da) 1981-10-29
DK92078A (da) 1978-09-03
US4150168A (en) 1979-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK154028B (da) Apparat til fremstilling af siliciumstave
DK153223B (da) Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af siliciumstave med ensartet tvaersnit
KR930011998B1 (ko) 실란을 열분해시켜 직경이 균일하게 큰 다결정질 로드를 제조하는 반응기 시스템 및 방법
EP1257684B1 (en) Method and apparatus for chemical vapor deposition of polysilicon
KR101708058B1 (ko) 다결정 실리콘의 제조 방법, 다결정 실리콘의 제조 장치, 및 다결정 실리콘
US6365225B1 (en) Cold wall reactor and method for chemical vapor deposition of bulk polysilicon
US20130276700A1 (en) Apparatus for producing polycrystalline silicon
US9150420B2 (en) Conical graphite electrode with raised edge
US4715317A (en) Method for producing of polycrystalline silicon and apparatus thereof
NO813770L (no) Hoeytrykks plasmaavsetning av silisium.
CN116377567B (zh) 一种碳化硅单晶的生长装置及生长方法
KR20140125354A (ko) 다결정 실리콘 봉의 제조 방법
CN116240624A (zh) 等离子辅助晶体生长装置和方法
WO2012101969A1 (ja) 多結晶シリコン製造用反応炉および多結晶シリコンの製造方法
JPS6156162B2 (da)
JPH06172093A (ja) 半導体級多結晶シリコン製造反応炉
CN212895082U (zh) 一种大尺寸公斤级碳化硅单晶生长用坩埚
JP2016510305A (ja) 多結晶シリコンの堆積法
US3342161A (en) Apparatus for pyrolytic production of semiconductor material
US3069244A (en) Production of silicon
CN220116722U (zh) 一种连续直拉单晶设备
CN118390156A (zh) 一种用于碳化硅单晶的生长装置
WO2012150153A1 (de) Verfahren zur herstellung von silicium

Legal Events

Date Code Title Description
PUP Patent expired