DE880494C

DE880494C - Verfahren zum beruehrungslosen Messen der Dicke von bandfoermigem Gut

Info

Publication number: DE880494C
Application number: DEW5373A
Authority: DE
Inventors: A Theodor Dr Wuppermann
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1950-08-16
Filing date: 1951-03-14
Publication date: 1953-06-22
Also published as: FR1056782A; CH298170A; GB699000A; NL78246C; US2714669A; BE505261A

Description

Verfahren zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum berahrungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur Messung der Banddicke von sich bewegendem Gut, wie z. B. Walzgut, vor allem von Warmwalzgut.
Gemäß dem Patent 847 203 erfolgt das berührungslose Messen des bandförmigen Gutes unter Verwendung einer Strahlungsquelle, von iMeßempfängern und mit Hilfe von Vergleichslehren.
Hierbei wurde so verfahren, daß die Strahlen der 5 trahlungsquelle einerseits unmittelbar nur durch das zu messende Gut und anderseits nur durch eine Lehre, z. B. eine AIaßplatte, zu dem Meßempfänger geschiclSt werden und die Intensitätsunterschiede an diesen Meßröhren die Grundlage des Anzeigens der Dickenabweichung nach Ausmaß und Richtung bilden. An Stelle des zu messenden Gutes wird nach dessen Auslaufen eine entsprechende Platte in das betreffende Strahlenbündel geschoben, damit der Meßempfänger, z. B. ein Geiger-Müller-Zählrohr, stets gleichmäßlig beeinflußt wird. Hierzu benutzte man die Maßplatte in dem zum Vergleich dienenden Strahlenbündel, wodurch die beiden Strahlenbündel verhältnismäßig nahe beieinander zu liegen kommen. Hierbei ergab sich ferner, daß der zum Vergleich dienende Meßempfänger in einer wesentlich anderen Entfernung von der Strahlungsquelle als der andere hinter dem zu messenden Gut liegende Meßempfänger vorhanden war.
Es hat sich gezeigt, daß sich bei einer solchen Anordnung die Ansprüche an höchste Genauigkeit nicht erfüllen lassen und eine gewisse und ungleichmäßige Beeinträchtigung durch die auftretende Streustrahlung sich auf die Auswertung ungünstig und verschieden auswirkt.
Erfindungsgemäß wNerdendiese Nachteile gänzlich ausgeschaltet und Korrekturen überflüssig gemacht, indem Kdie Abstandsverhältnisse des zu messenden Gutes bzw. der Vergleichs lehre und auch der Meflempfänger zu Ider einzigen Strahlungsquelle gleich bzw. annähernd gleich gehalten werden. Insbesondere werden die durch das zu messende Gut un.d,durchEdile Vergleichslehre gehenden-Strahlell in solchen Richtungen geführt, daß die durch auftretende Streustrahlen gegenseitige Beeinträchtigung dier Messung gering wird und unbeachtlich bleiben kann. Beispielsweise läßt sich dies dadurch erreichen, daß die Strahlenbündel etwa in einem rechten Winkel zueinander verlaufen. Bei einer solchen Anordnung ist es ein leichtes, die Abstandsverhältnisse der entsprechenden Teile, wie einerseits die beiden Meliempfänger und anderseits das zu messende Gut und die Vergleichslehre, völlig i'dentisch zu halten. Die Anordnung des Vergleichsstrahlenbündels kann auch in jeder anderen beliebigen Richtung vorgesehen werden, sofern die Abstandsverhältnisse gegenüber denjenilgenldes Meß strahlenbündels mindestens annähernd gleich gehalten werden können.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren ergibt sich tder Vorteil, daß durch ;die Möglichkeit des Einhaltens absolut identischer Vergleichsbedingungen eine wesentlich genauere Auswertung der Veränderungen Ider Strahlungsintensität bei dem zu messenden Gut erzielt wird, so daß mit Hilfe der gesamten Vorrichtung unter größter Genauigkeit gearbeitet werden kann. Die Anzeige am Auswertungsgerät wird zuverlässiger und einwandfreier. Darüber hinaus können die beiden Strahlenbündel vollkommen bzw. nahezu frei von gegenseitigen Streustrahlungen gehalten werden, so daß auch diese Fehlerquelle sich nicht mehr im Endergebnis auswirken kann. Auch wenn sich die Strenstrahlungen nicht gänzlich vermeiden lassen, wird dadurch die erfindungsgemäße Anordnung der gleichen Abstände der zur Vorrichtung gehörenden Teile erreicht, daß etwa doch noch auftretende Streustrahlungen in beiden Fällen, d. h. beim unmittelbaren Meßstrahl und bei dem Vergleichsstrahl, in ihrer Auswirkung auf die Meßempfänger, z. B. die Geiger-Müller-Zählrnhre, gleich sind.
Beide Meßwege unterliegen also dem gleichen Einfluß, so daß bei der Differentialauswertung der beiden Strahlenbündel eine solche Beeinträchtigung sich nicht auswirkt.
Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung wird eine zweite Vergleichslehre bzw. eine Maß; platte verwendet, die statt des zu messenden Gutes, z. B. in den Walzpausen, an Ort und Stelle dieses Gutes in das Strahlenbündel tritt. Die Einfall- und Rückziehbewegung kann hierbei selbsttätig und in Abhängigkeit von der Lage Ides ,zu messenden Gutes erfolgen. Hierdurch wird nicht nur der dem zu messenden Gut, z. B. Walzgut, zugeordnete Meßempfänger gegen unmittelbare, unerwünscht hohe Beauf'schlagung während der Unterbrechungen im Walzgutdurchlauf abgeschirmt, sondern es werden beide Mleßempfänger in stetigSgleichmäßiger Weise beeinflußt gehalten, da die zweite Maßplatte im gleichen Abstand von der Strahlungsquelle wie die erste Maßplatte und in derselben Entfernung wie das zu messende Gut von der Strahlungsquelle sich befindet.
Die Zeichnung veranschaulicht ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes in schematisches Darstellung (Fig. I und 2).
Von der Strahlungsquelle I führt ein Strahlenbündel 2 durch das vorbeibewegte und zu messende Gut 3 und wirkt auf einen Meflempfänger 4, z. B. ein Geiger-Müller-Zählrohr. Das der Vergleichsmessung dienende Strahlenbündel 5 ist so gelegt, daß eine schädliche Beeinträchtigung Idurch Streustrahlen od. dgl. auf dem ersteren Strahlenbündel 2 sich nicht auswirken kann. In dem Beispiel liegt die Achse des Strahlenbündels 5 ungefähr im rechten Winkel zu dem Strahlenbündel 2. Das Strahlenbündel 5 gehtldurch die Vergleichslehre 6 zu dem Meßempfänger 7. Hierbei ist es erfindungsgemäß wesentlich, daß die Abstände des zu messenden Gutes 3 und der Vergleichslehre 6 von der Strahlungsquelle I gleich groß sind. Ferner sollen die Entfernungen der Meßempfänger 4 und 7 von der Strahlungsquelle I und auch von den Teilen 3 und 6 ebenfalls gleich gehalten werden. Durch die Wahrung dieser annähernd gleichen Abstände wird erreicht, daß etwa Udoch noch auftretende Streustrathlungen in beiden Fällen in ihrer Auswirkung auf die Meßempfänger gleich sind. In den Strahlengang Inzwischen der Strahlungsquelle 1 und Idem Meßempfänger 4 wird eine weitere Vergleichslehre bzw. eine Eichplatte 8 dann eingeführt, wenn das zu messende Gut 3 den Strahlengang verlassen hat.
Diese Eichplatte 8 bewegt sich an Ort und Stelle des zu messenden Gutes 3, sodaß" auch mit der Eichplatte stets die Abstandsverhältnisse gewahrt bleiben. Auf diese Weise erhält man identischeVergleichsbedinguiigen als Voraussetzung für eine hohe Genauiglseit in Ider Auswertung. Die Eichplatte 8 kann auf jede beliebige Weise selbsttätig in den Strahlengang bei ausgelaufenem Gut 3 gebracht werden, z. B. auf mechanischem Wege durch das Gut 3 selbst oder elektrisch durch einen Magneten od. sdgl. Beim Eintritt des Gutes 3 in die Meßvorrichtung wird die Platte 8 ebenso selbsttätig aus dem Meßstrahl zurückgezogen. In der Zeichnung ist die Vorrichtung Idurch einen um den Punkt 9 drehbaren Hebel 10 angedeutet, der zum selbsttätigen Vorschwenken in Berührung mit dem Gut 3 kommt.
Als Strahlungsquelle kann jede beliebige, zum Messen geeignete Strahlungsenergie verwendet werden, z. B. eine Röntgenröhre oder radioaktive Strahlungsquelle mit Gamma- oder Betastrahlen oder sonstige entsprechende Strahlungsenergien.

Claims

PATENTANSPRÜCHE I. Verfahren zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von laufendem Walzgut, vor allem Warmwalzgut, und unter Verwendung von Strahlungsquelle, Meßempfänger und Vergleichslehre, nach Patent S7 203, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstandsverhältnisse des zu messenden Gutes bzw. der Vergleichslehre und der Meßempfänger zu der Strahlungsquelle gleich bzw. annähernd gleich gehalten werden und eine einzige Strahlungsquelle verwendet wird.
2.Verfahren nach Anspruchs, dadurch gekennzeichnet, daß die Richtung der von der einzeigen Strahlungsquelle durch das zu messende Gut und die Vergleichslebre gehenden Strahlen mindestens so weit voneinander abgewinkelt ist, daß eine Beeinträchtigung der Messung durch auftretende Streustrahlen ausgeschlossen ist, vorzugsweise indem die Strahlenbündel etwa einen rechten Winkel oder darüber zueinander bilden.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, da durch gekennzeichnet, daß statt des zu messenden Gutes, z. B. in den Walzpausen, eine entsprechende Maß- oder Eichplatte an Ort und Stelleldieses Gutes in das Strahlenbündel tritt, deren Einfall- und Rückziehbewegung selbsttätig und in Abhängigkeit von der Lage des zu messenden Gutes erfolgt.