DE839112C - Eichnormalie zur Eichung und Kontrolle von kapazitiv arbeitenden elektrischen Feuchtigkeitsmessern - Google Patents

Description

• Gegenstand vorliegender Erfindung ist eine Eichnormalie für kapazitiv arbeitende Feuchtigkeitsmesser. Bei diesen Feruhtigkeitsmessern svSir wird bekanntlich der zu messende Gegenstand in ein Kondensatorenfeld gebracht und die durch die Feuchtigkei t hervorgerufene Dielektriz itätskonstantenänderung gemessen.
• In Abb. 1 sehen wir beispielsweise das zu messende Material zwischen den Belegen eines Kondensators, während in Abb. 2 die Kondensatorenbelege in einer Ebene angeordnet sind und das zu messende Material vor bzw. unter diesen liegt.
• Bei der Herstellung dieser elektrischen Feuchtigkeitsmesser und bei der Kontrolle der Eichung im Betrieb war es bisher erforderlich, zuerst ein Stück des zu messenden Materials auf 0%Feuchtigkeit auszutrocknen, um die absolute Dielektrizitätskonstante des Materials ohne Feuchtigkeit zu finden. Genau so mußten alle übrigen Werte auf diese \Veise, indem man ein Stück des betreffenden Materials austrocknet und mittels der Darrmethode den absoluten Wassergehalt hestimmt, ermittelt werden.
• I)ieses Verfahren ist bei einer serienmäßige Eichtung der Geräte überaus zeitraubend.
• Zweck vorliegender Erfidnung ist es deshalb, diesem Übelstand abzuhelfen und unveränderliche Normalien zu schaffen, welches erfidnungsgemäß in der Weise geschehen kann, daß man als Norinalie ein möglichst unhygroskopisches Material von entsprechender Stärke, wie z. B. Hartpapier, wählt. Hierdurch ist es möglich, Eichnormalien zu schaffen, welche geringe Feuchtigkeitsgrade genau nachbilden. Die Nachbildund größerer Feruchtigkeitsgrade kann dadurch geschehen, daß diese unhydroskopischen Platten mit Metallplatten ver-Sehen werden, wobei es gleichgültig ist, ol> man die Metallplatte einseitig oder zwischen zwei unhygroskopischen Platten anordnet.
• In der Abb. 3 sehen wir eine derartige Metallplatte einseitig mit un'hygroskopischem Stoff, in der Abb. 4 beiderseitig mit unhygroskopischem Stoff belegt. Durch entsprechende Stärke des unhygroskopischen Stoffes kann jeder beliebige Feuchtigkeitsgrad nachgebildet werden.
• Nach diesem Prinzip ist es auchmögllich, beliebig veränderliche Eichnormalien herzustellen, indem man in einer Metall- oder unhydgroskopischen Isolierplatte eine entsprechende Öffnung vorsieht, in welcher eine Metallplatte bin und her bewegt werden kann. Durch diese Veränderlichekeit der Metallplatte kann jeder gewünschte Feuchtigkeitsgrad nachgebildet werden und an einer Skala ablesbar gemacht werden. In der Abb. 5 sehen wir eine beispielsweise Ausführung eincr derartig veränderlichen Eichnormalie.

Claims (3)

1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Eichnormalie zur Eichung und Kontrolle von kapazitiv arbeitenden elektrischen Feuchtigrkeitsmessern, dadurch gekennzeichnet, daß als Normale ein unbygroskopisches Material entsprechender Stärke verwendet wird.
2. 2. Eichnormalie nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Nachbildung des Feucht igkeitsgra(les Metallphatten verwendet werden, die ein- oder mehrseitig mit unhygrn skopischem Material entsprechender Stärke umgeben sind.
3. 3. Eichnormalie nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallplatte zur Nachbildung leliehigrerFeuchtigkeitsgrade veränderlich angeordnet ist.