DE8237187U1

DE8237187U1 - Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von länglichen elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips

Info

Publication number: DE8237187U1
Application number: DE19828237187
Authority: DE
Original assignee: Multitest Elektronische Systeme 8200 Rosenheim De GmbH
Current assignee: Multitest Elektronische Systeme 8200 Rosenheim De GmbH
Priority date: 1982-05-10
Filing date: 1982-05-10
Publication date: 1985-10-24

Description

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Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips

^lü Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen und

Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere r\ integrierten Chips, mit einer Prüfanordnung, der die Bauteile über einen Führungskanal durch Schwerkrafteinwirkung zugeführt werden, mit einem Stop-Element im Füh-

!5 rungskanal, welches eine Durchlaß- und eine Stop-Position einnehmen kann.

Derartige Vorrichtungen sind bekannt {EP-OS 76 50 und ÜS-PS 37 27 757). Bei diesen bekannten Vorrichtungen trifft das Bauelement im freien Fall auf das als Metallzunge ausgebildete Stop-Element. Dadurch besteht bei empfindlichen integrierten Chips, insbesondere solchen aus Keramik, die Gefahr einer Beschädigung.

ν 25 Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Stoßbeschädigungen der Bauelemente beim Auftreffen auf das Stop-Element zu verhindern.

Die Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß dem Stop-Element im Führungskanal eine Abbremseinrichtung für die Bauelemente vorgeschaltet ist.

Die Abbremseinrichtung gewährleistet, daß die Bauelemente trotz des freien Falls im Prüfkanal nur nrit so geringer Geschwindigkeit auf das Stop-Element auftreffen, daß- eine

Beschädigung nicht auftreten kann.

Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung kann darin bestehen, daß das Stop-Element einen elastischen Puffer aufweist. Mit dieser Maßnahme wird die durch das Abbremsen der Bauelemente bewirkte Schonung der Bauelemente beim Auftreffen auf das Stop-Element noch unterstützt.

Die Abbremseinrichtung kann gemäß einer anderen zweckmäßigen Weiterbildung der Erfindung von einem in den , Führungskanal einschwenkbaren Bremshebel gebildet sein. Durch eine derartige Ausbildung der Abbremseinrichtung ist es möglich, Bauelemente unterschiedlicher Bauhöhe in gewünschter Weise abzubremsen.

Vorzugsweise sollte die Abbremseinrichtung elektromagnetisch betätigbar sein.

Eine andere zweckmäßige Ausgestaltung der Erfindung kann darin bestehen, daß der Abbremseinrichtung in Bewegungsrichtung der Bauelemente im Führungskanal eine Detektoranordnung vorgeschaltet ist, die bei Ansprechen auf ein sich vorbeibewegendes Bauelement die Abbremseinrichtung ^: 25 i-ⁿ Funktion setzt. Die Detektoranordnung erlaubt es, die Abbremseinrichtung in Bezug auf die Bewegung eines ankommenden Bauelementes gezielt zu steuern. Bei Ausbildung der Abbremseinrichtung als Bremshebel wird dieser beispielsweise zunächst vorgeschwenkt, um das Bauelement

2Q stärker abzubremsen und danach zurückgeschwenkt, um die Bremswirkung bis zum Auftreffen des Bauelementes auf das Stop-Element zu vermindern.

Als Detektoranordnung wird vorzugsweise eine optische gg Detektoranordnung, wie eine Lichtschranke, verwendet.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben.

Fig. 1 zeigt in einer perspektivischen Teilansicht eine Vorrichtung gemäß der Erfindung.

Fig. 2 zeigt eine Seitenschnittansicht eines Führungskanals der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung entsprechend der Schnittlinie IV - IV in Fig. 3.

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Fig. 3 zeigt einen Querschnitt durch den in Fig. 2 dargestellten Führungskanal im Bereich der Prüfan-( ) Ordnung.

In Fig. 1 ist eine Vorrichtung 1 gezeigt, die dazu dient. Bauteile, und zwar insbesondere integrierte Chips (IC), von einer diese Bauteile in einer Vielzahl enthaltenden Abgabeeinrichtung 2 an eine Aufnahmeeinrichtung abzuge-

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2Q bei jedoch nicht näher dargestellt ist. Die betreffenden Bauteile werden dabei in bzw. auf Magazinstangen angeliefert, die auf entsprechende Stangen 4 in der Abgabeeinrichtung 2 aufgesetzt werden oder die durch diese Stan gen 4 gebildet werden. An dieser Stelle sei bemerkt, daß ("Λ ok äi.^e Abgabeeinrichtung 2 bei der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung schräg angeordnet ist, so daß sich die in dieser Abgabeeinrichtung 2 enthaltenen Bauteile unter der Wirkung der Schwerkraft zu bewegen vermögen. In die betreffende Bewegungsbahn ist eine Vereinzelungsanordnung

2Q eingefügt, die jedoch hier nicht näher erläutert werden soll.

Zu der Vorrichtung gemäß Fig. 1 gehört neben der Abgabeeinrichtung 2 eine Führungsanordnung 3, die eine Wärmegjkammer sein kann und in der die einzelnen Bauteile, wie

* das in Fig. 1 mit 23 bezeichnete Bauelement, einer Prüfung unterzogen werden können. Die Prüfung erfolgt mittels eines Prüfadapters 43, auf dessen Funktionsweise im Zusammenhang mit Fig. 2 und 3 noch näher eingegangen werden wird. Dieser Prüfadapter 43 ist mit einer Meßanordnung 7 verbunden, beispielsweise über ein entsprechendes Verbindungskabel.

An die Führungsanordnung 3 schließt sich gemäß Fig. 1 im wesentlichen eine Weichenanordnung 10 an. Diese Weichenanordnung 10 ist gemäß Fig. 1 an einem Tragblock 9 ^ angebracht, der über eine Tragplatte 8 mit der Führungsanordnung 3 verbunden ist. Zu der Weichananordnung 10 gehören gemäß Fig. 1 zwei Weichenteile 11 und 12, die übereinander liegend angeordnet sind und die jeweils durch einen zugehörigen Elektromagneten verschiebbar sind. Außerdem gehört zu der Weichenanordnung 10 noch ein Endteil 13. Zu den Weichenteilen 11, 12 und dem Endteil 13 gehören Abführungskanäle 16, 17 und 18 für die Chips.

In Fig. 4 und JS ist ein Teil des in Fig. 1 mit 3 angedeuteten Bereiches gezeigt. Dieser Bereich umfaßt einen Führungskanal 40, in welchem die von einer hier nicht näher beschriebenen vereinzeiungsanordnung einzeln abgegebenen Bauteile einer Stillsetzanordnung zugeführt werden. In Fig. 2 ist diese Stillsetzanordnung als Stop-Element 41 angedeutet, das durch einen Elektromagneten gesteuert in seiner Längsrichtung hin— und herbewegbar ist und das an seinem vorderen Ende einen elastischen Puffer trägt. Auf diesem elastischen Puffer liegt gemäß Fig. 2 ein Bauelement 23 auf, welches zuvor von der Vereinzelung sanordnung abgegeben worden ist.

Oberhalb des in Fig. 2 angedeuteten Bauelementes 23 ist

eine Abi reinseinrichtung 42 angedeutet, bei der es sich um einen Abbremsnebel handelt/ der in Richtung des angedeuteten Pfeils schwenkbar ist. Mit diesem Hebel ist ein hier nicht näher dargestellter Elektromagnet ver-

bunden, der den Hebel infolge elektrischer Erregung

schnell in den Führungskanal 40 einschwenken und danach wieder herausziehen kann.

Die Bewegung der Äbbremseinrichtung 42 wird durch eine Detektoranordnung 44 gesteuert, die sich im oberen Teil des Führungskanals 40 befindet und bei der es sich um
eine Lichtdetektoranordnung handelt. Stellt- diese De-
^- tektoranordnung 44 das Passieren eines Sauelementes 23 fest, so wird der Abbremshebel in die Bewegungsbahn des betreffenden Bauelementes 23 eingeschwenkt, um dessen Bewegung abzubremsen. Durch das anschließende Zurückziehen des Abbremshebels wird dann das betreffende Bauelement 23 mit relativ geringer Geschwindigkeit an das Stop-Ele-•xnent 41 abgegeben, ohne von diesem anschließend wieder nach oben zurückzufedern.

Auf der linken Außenseite des in Fig. 2 ausschnittweise angedeuteten Führungskanals ist ein Prüfadapter 43 angedeutet, der mit Prüfkontakten versehen ist, die an
Qj 25 entsprechenden Anschlüssen des Bauelementes 23 in Anlage gebracht werden können. Die betreffenden Prüfkontakte verlaufen dabei in der gleichen Richtung wie die Anschlüsse des Bauelementes 23, wobei die betreffenden Prüfkontakte jedoch von den Anschlüssen des Bauelementes 23 zunächst einen Abstand haben können. Diese Prüfkontakte, die in Fig. 3 mit 51 bzw. 52 bezeichnet sind,
können zangenartig ausgebildet sein, um die Anschlüsse des Bauelementes 23 fest zu umgreifen. Nach erfolgter
Überprüfung des Bauelementes 23 können die Prüfkontakte 51 und 52 wieder auseinandergeführt werden, was in Fig.

durch Pfeile angedeutet ist. An dieser Steile sei angemerkt/ da£ die in Fig. 3 eingetragene Schnittlinie IV -IV die Schnittebene zeigt, in der der Führungskanal in Fig. 2 gezeigt ist. Im übrigen sei an dieser Stelle noch angemerkt, daß der in Fig. 2 und 3 gezeigte Bereich des Führungs- bzw. Prüfkanals Teil einer Wärmekammer sein kann, wobei auf das jeweilige Bauelement 23 beispielsweise ein Warmluftstrangeblasen wird.

2Q Die Arbeitsweise der hinsichtlich seiner einzelnen Elemente vorstehend näher erläuterten Vorrichtung kann so sein, daß die Vereinzelungsanordnung jeweils nur ein einzelnes Bauteil aus der Abgabeeinrichtung 2 freigibt und daß dieses Bauteil dann von selbst den Führungskanal

je 40 hinunterfällt, um dann anschließend mittels des Prüf- ₍ adapters 43 überprüft zu werden. Erst auf die anschlies- | sende Freigabe des betreffenden Bauteils von der betreffenden Stillsetzanordnung (Stop-Element 41) kann dann If die Vereinzelungsanordnung wieder in Betrieb gesetzt

„η werden, um ein weiteres Bauteil abzugeben. Die Weichenanordnung wird dabei durch die Meßanordnung 7 so gesteuert, daß die von der Stillsetzanordnung abgegebenen Bauteile an die Aufnahmeeinrichtung weitergeleitet werden, beispielsweise, um sie nach verschiedenen Qualitätskriterien zu sortieren.

Claims

Gebrauchsmusteranmeldung G 82 37 187.3 Multitest Elektronische Systeme GmbH NEUE ANSPRÜCHE

1. Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips, mit einer Prüfanordnung, der die Bauteile über einen Führungskanal durch Schwerkrafteinwirkung zugeführt werden, mit einem Stop-Element im Führungskanal, welches

eine Durchlaß- und eine Stop-Positior* einnehmen kann, /~\ dadurch gekennzeichnet, daß dem Stop-Element (41) im Führungskanal (40) eine Abbremseinrichtung (42) für die Bauelemente (23) vorgeschaltet ist.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Stop-Element (41) einen elastischen Puffer aufweist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abbremseinrichtung (42) von einem in den Führungskanal (4 0) einschwenkbaren Bremshebel gebildet ist.

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4. Vorrichtung nach einem der vorherstehenden Ansprüche, f dadurch gekennzeichnet/ daß die Äbbremseinrichtung (42)

1 elektromagnetisch betätigbar ist.

5 5- Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekenn— ; zeichnet, daß der Abbremseinrichtung (42) in Bewegungs-

' richtung der Bauelemente (23) im Führungskanal (4 0) eine

Detektoranordnung (44) vorgeschaltet ist, die bei Ansprechen auf ein sich vorbeibewegendes Bauelement (23) 10 die Äbbremseinrichtung (42) in Funktion setzt-

1 /-\

6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, I daß die Detektoranordnung (44) eine optische Detektor-

I anordnung ist.

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