DE69605757T2 - IC-Test-Gerät - Google Patents

IC-Test-Gerät

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Description

    HINTERGRUND DER ERFINDUNG (1) Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft eine IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung, die mit einer IC-Konstanttemperaturkammer zum Kühlen oder Erwärmen von ICs versehen ist. Sie betrifft insbesondere einen sich drehenden Mechanismus für IC-Halter in der Konstanttemperaturkammer.
  • (2) Beschreibung des Stands der Technik
  • Im allgemeinen unterzieht man frisch hergestellte integrierte Halbleiterschaltkreise (im weiteren als ICs bezeichnet) einer Reihe elektrischer Prüfungen, um die Verlässlichkeit der Schaltung und ihre elektrischen Eigenschaften zu bestimmen.
  • Fig. 6 zeigt eine perspektivische Außenansicht einer herkömmlichen IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung, bei der zum besseren Verständnis ein Deckel abgenommen ist. Die Vorrichtung ist in der veröffentlichten japanischen Patentschrift (Kokai) Nr. 7-24770 offenbart, die dem Anmelder dieses Patents gehört. In einem Eingabekorb sind zahlreiche zu prüfende ICs angeordnet und montiert, siehe Fig. 6. Nachdem ein Eingabekorb-Hebewerk 1a den Eingabekorb emporgehoben und angehalten hat, werden die ICs in zweidimensionaler Anordnung im Eingabekorb jedes für sich erfasst und von einer Eingangstransporteinheit 2a zum Eingang einer Konstanttemperaturkammer 7a bewegt. Ein Eingabeförderer 3a führt jedes anzuordnende IC zu einer IC-Einsetz- und Abnahmeposition direkt unter einem Mechanismus 4, in dem IC-Halter in einem ringförmigen Aufbau angeordnet sind. Im weiteren wird der Mechanismus 4 als IC-Halter-Anordnungsmechanismus bezeichnet. Der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 ist in der Konstanttemperaturkammer 7a bereitgestellt. Jedes derart angeordnete IC wird in einem leeren IC-Halter festgehalten. Die Konstanttemperaturkammer 7a kühlt oder erwärmt die ICs über eine vorbestimmte Zeitspanne und führt damit Temperaturprüfungen an den ICs aus. Im weiteren wird die Konstanttemperaturkammer als IC-Konstanttemperaturkammer bezeichnet. In diesem Zusammenhang bezeichnet das Bezugszeichen 8a ein Heißluftgebläse.
  • In der IC-Konstanttemperaturkammer 7a wird jedes vorgewärmte IC von dem IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 abgenommen und mit einem Greifer 5a in eine Prüfposition gebracht, abgesenkt und in einen IC-Sockel gedrückt. Nachdem ein IC- Prüfgerät die gewünschten elektrischen Prüfungen vorgenommen hat, wird das geprüfte IC vom IC-Sockel abgenommen und in eine Ausgabestellung gebracht. Anschließend wird das geprüfte IC von einem Ausgangsförderer 6a zu einem Auslass der IC-Konstanttemperaturkammer 7a befördert. Vom Auslass bewegt ein Kühlförderer 10a das IC zu einer äußeren Warteposition der IC-Konstanttemperaturkammer 7a. Nachdem das IC von einer Abkühl-Übertragungseinheit 9a weiterbewegt worden ist, wird es klassifiziert und von einer Ausgabe-Übertragungseinheit 11a in einen Ausgabekorb 16a oder 17a gelegt. In diesem Zusammenhang bedeuten die Bezugszeichen 12a und 13a leere Korbhebewerke, die Bezugszeichen 14a und 15a bezeichnen Ausgabehebewerke, und das Bezugszeichen 18a bezeichnet eine Korb-Übertragungseinheit.
  • Fig. 7 zeigt eine Querschnittsdarstellung der IC-Konstanttemperaturkammer 7a in der herkömmlichen IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung nach Fig. 6. Der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 in der IC-Konstanttemperaturkammer 7a, siehe Fig. 7, enthält eine Anzahl IC-Halter 4a, die mit gleichmäßigen Abständen ringförmig um eine waagrecht rotierende Welle 7b in der IC-Konstanttemperaturkammer 7a angeordnet und mit Rahmen aneinander befestigt sind. Der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 kann sich in einer senkrechten Ebene drehen. Ein IC 4c, das in die IC-Einsetz- oder -Entnahmeposition 4b direkt unter dem IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 gebracht wird, wird von einem Ansaug- und Einschließmechanismus im IC-Halter 4a an der tiefsten Position gegenüber dem IC 4c angesaugt und eingeschlossen. Während einer Haltezeitspanne, in der der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 sich einmal dreht, wird das IC 4c auf eine konstante Temperatur aufgeheizt, und zwar durch Wärmeleitung aus einer Wärmespeicherplatte (IC- Aufnahmeeinheit) im IC-Halter.
  • Fig. 8 zeigt eine Teil-Seitenansicht des Ansaug- und Einschließmechanismusin der IC-Konstanttemperaturkammer 7a. Jeder IC-Halter 4a im IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 besitzt einen Ansaug- und Einschließmechanismus 40, siehe Fig. 8, der das IC mit Unterdruck ansaugt und mechanisch einschließt. Der Ansaug- und Einschließmechanismus 40 hat einen einseitig befestigten Träger 42, der an einer sich drehenden Seitenplatte 41 des IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 befestigt ist, einen Gleitstab 43, der sich durch ein senkrechtes verlaufendes Loch (nicht dargestellt) im Träger 42 nach oben und unten bewegen kann, einen Haltearm 44, der den Gleitstab 43 an seinem oberen Ende hält, eine Schraubenfeder 45, die den Gleitstab 43 nach oben drückt, eine Gleitführungsschiene 46, die die Bewegung des Gleitstabs 43 führt, einen Spannmechanismus 47, der das IC 4c bei der Hin und Her gehenden Aufwärts- und Abwärtsbewegung des Gleitstabs 43 einschließt oder freigibt, und ein Ansaugkissen 49, das mit einem Luftabsaugloch (nicht dargestellt) verbunden ist, das sich durch den Gleitstab 43 erstreckt und sich in die IC-Aufnahmeeinheit 48 öffnet.
  • Gelangt ein IC 4c in die IC-Einsetz- oder -Entnahmeposition 4b direkt unter dem IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4, so wird ein Druckausübungsteil 51 des Ansaug- und Einschließmechanismus 40 entlang einer Gleitführungsschiene 52 abgesenkt, so dass ein am Ende des Druckausübungsteils 51 sitzendes elastisches Glied 51a auf die obere Endfläche des Gleitstabs 43 drückt und den Haltearm 44 absenkt. Beim Absenken wird der Spannmechanismus 47 geöffnet. Zugleich erfolgt beim Absenken des Gleitstabs 43 ein Luftabsaugvorgang durch das Luftabsaugloch 51b, so dass das IC von der IC-Aufnahmeeinheit 48 angesaugt wird, wenn das Ansaugkissen 49 das IC berührt. Bewegt sich hingegen das Druckausübungsteil 51 entlang der Gleitführungsschiene 52 nach oben, so bewegt sich der Spannmechanismus 47 nicht nach oben, sondern schließt das IC ein. Nach dem Ende des Luftabsaugvorgangs saugt das Ansaugkissen 49 das IC nicht mehr an.
  • Bei der beschriebenen IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung treten jedoch die folgenden Probleme auf.
  • (1) Nachdem sich der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 einmal gedreht hat, kann das vorgewärmte IC von der IC-Aufnahmeeinheit 48 abgenommen werden und in die Prüfposition übertragen werden. Muss jedoch die Testzyklusperiode für ein IC in einer IC-Prüfeinrichtung, d. h. die Taktperiode, in der der Greifer 5a eine Hin und Her gehende Bewegung ausführt, verkürzt werden, da die ICs schneller geprüft werden sollen, so erfolgt die Zufuhr des vorgewärmten IC zum Greifer 5a zur falschen Zeit, wenn nicht die aussetzende Drehung des IC- Halter-Anordnungsmechanismus 4 ebenfalls verkürzt wird. Wird die Geschwindigkeit der aussetzenden Drehung des IC-Halter- Anordnungsmechanismus 4 angehoben, so verkürzt sich unglücklicherweise die Vorwärmzeit (Haltezeit) des IC. Damit ist es bei der beschriebenen herkömmlichen IC-Konstanttemperaturkammer im Prinzip nicht möglich, die Vorwärmzeitdauer zu verlängern und zugleich die Taktperiode zu verkürzen.
  • Daher muss der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4, damit man genügend vorgewärmte ICs erhält, einen großen Durchmesser haben, so dass er eine große Zahl IC-Halter 4a aufnehmen kann. Damit wird die IC-Konstanttemperaturkammer 7a in der IC-Prüf- Handhabungsvorrichtung sehr groß. Dies ist nachteilig, weil die Temperatureinstellvorrichtung zu groß wird, um die Wärmekapazität zu halten.
  • (2) Jeder IC-Halter 4a ist mit dem Ansaug- und Einschließmechanismus 40 versehen, der aktiv auf das IC 4c zugreift, das in der IC-Einsetz- oder -Entnahmeposition 4b direkt unter dem IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 angeordnet ist. Zudem bewegt sich der Ansaug- und Einschließmechanismus 40 am Gleitstab 43 nach oben und unten, um den Unterdruck- Ansaugvorgang und den mechanischen Einschließvorgang auszuführen. Damit ist der IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 notwendig groß und kompliziert aufgebaut. Ferner benötigt ein schwerer IC-Halter-Anordnungsmechanismus 4 zusätzliche Antriebsleistung.
  • Aus DE-A-34 17 498 kennt man eine weitere Speichereinheit für ein IC-Prüfgerät.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Hinsichtlich der beschriebenen Schwierigkeiten besteht eine erste Aufgabe der Erfindung darin, eine IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung bereitzustellen, bei der man die Anzahl der vorgewärmten ICs vergrößern kann, wobei die Verkürzung der Taktperiode und die Verlängerung der Vorwärmdauer gleichzeitig erzielbar sind, und die den Platz gut ausnützt.
  • Eine zweite Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung bereitzustellen, die eineIC- Konstanttemperaturkammer enthält, in der der Ansaug- und Einschließmechanismus in der Haltevorrichtung des IC-Halters einfacher aufgebaut ist, und bei der die Teileanzahl und die Antriebsleistung geringer sind.
  • Zum Erfüllen der ersten Aufgabe wird gemäß einem ersten Merkmal der Erfindung wie beansprucht ein Mehrfachumdrehungs- Vorheizsystem bereitgestellt, umfassend eine Anzahl Planeten- IC-Halter, die jeweils IC-Halteteile auf einer Anzahl Flächen aufweisen. Sind K und M natürliche Zahlen größer gleich 2, und ist N eine Ganzzahl, so enthält eine IC-Konstanttemperaturkammer in einer erfindungsgemäßen IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung M Planeten-IC-Halter. Jeder der M Planeten-IC-Halter kann sich als Planet um seine eigene Welle drehen und besitzt K rotierende Flächen, die bezüglich der Planetenwelle symmetrisch sind. Die K Flächen wirken als IC-Halter. Die IC-Konstanttemperaturkammer enthält auch einen Planetenhalter- Anordnungsmechanismus, der sich um eine Sonnenwelle drehen kann. Auf dem Planetenhalter-Anordnungsmechanismus sind die M Planeten-IC-Halter in einer ringförmigen Anordnung mit gleichen Abständen um die Sonnenwelle untergebracht. Die M Planeten-IC-Halter können sich um die Sonnenwelle drehen. Die IC-Konstanttemperaturkammer enthält auch einen aussetzenden Dreh-Antriebsmechanismus, der den Planetenhalter-Anordnungs mechanismus aussetzend dreht, und zwar jeweils um einen Winkel, den man dadurch erhält, dass man 360º durch M teilt. Dreht sich jeder der M Planeten-IC-Halter um 360º um die Sonnenwelle, so dreht sich jeder Planeten-IC-Halter um seine eigenen Welle um den Winkel von
  • {N ± (1/k)} * 360º
  • Gemäß einem zweiten Merkmal der Erfindung umfasst jeder der M Planeten-IC-Halter Halteeinheiten, die die ICs dadurch halten, dass sie an den symmetrischen Drehflächen befestigt werden.
  • Gemäß einem dritten Merkmal der Erfindung umfasst jede der Halteeinheiten einen Luftansaugdurchgang, der eine IC- Ansaugöffnung hat, die sich auf eine zugehörige Fläche der K symmetrischen Drehflächen öffnet, und ein federbetätigtes IC-Spannblatt, das das zugehörige IC auf die entsprechende Fläche der K symmetrischen Drehflächen drückt.
  • Gemäß einem vierten Merkmal der Erfindung sind an einer IC-Anbring- oder Abnahmeposition direkt unter dem Planetenhalter-Anordnungsmechanismus bereitgestellt: eine Unterdruckansaugeinheit, die die ICs dadurch ansaugt, dass sie eine Auslassöffnung des Luftansaugdurchgangs in der Haltevorrichtung des Planeten-IC-Halters berührt, der der IC-Anbring- oder Abnahmeposition gegenübersteht; und ein Stellglied zum Drücken und Bewegen des federbetätigten Spannblatts, das direkt eine Antriebskraft für das federbetätigte Spannblatt liefert, die das federbetätigte Spannblatt ansteuert und das IC vom federbetätigten Spannblatt löst.
  • Gemäß dem ersten Merkmal der Erfindung führt in der IC- Konstanttemperaturkammer, die die M Planeten-IC-Halter enthält, die jeweils K IC-Halter haben, nach dem Einsetzen eines oder mehrerer ICs in einige IC-Halter in einem gewissen Planeten-IC- Halter der Planeten-IC-Halter eine Umdrehung um die Sonnenwelle aus, wenn sich der Planeten-IC-Halter-Anordnungsmechanismus einmal gedreht hat. Während der einen Umdrehung um die Sonnenwelle führt der Planeten-IC-Halter {N ± (1/k)} Umdrehungen um seine eigene Planetenwelle aus. Damit beträgt der Drehwinkel des Planeten-IC-Halters auf seiner eigenen Welle ±360º/K bezogen auf den Zustand vor der einen Umdrehung um die Sonnenwelle. Nach K Umdrehungen des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus hat der Drehwinkel des Planeten-IC-Halters um seine eigenen Planetenwelle den Wert 360º (= 0º) bezogen auf seinen ursprünglichen Wert angenommen, so dass sich der IC-Halter in seine Ursprungsposition zurückdreht, in der das IC eingesetzt wurde. Das vorgewärmte IC kann zu diesem Zeitpunkt entnommen werden.
  • Der IC-Halter dreht sich also nicht in seine Ursprungslage zurück, in der das IC eingesetzt wurde, nachdem der Planetenhalter-Anordnungsmechanismus eine Umdrehung vollführt hat, sondern der IC-Halter dreht sich erst dann in seine Ursprungslage zurück, wenn der Planetenhalter-Anordnungsmechanismus K (2) Umdrehungen ausgeführt hat. Damit kann man die Vorwärmdauer verlängern und die Anzahl der vorgewärmten ICs vergrößern, da jeder Planeten-IC-Halter K ICs tragen kann. Dadurch ist die Taktperiode verkürzbar, und die Raumausnutzung der IC-Konstanttemperaturkammer wird besser.
  • In der Erfindung sind die IC-Einsetzposition und die IC-Entnahmeposition bezüglich des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus gleich, damit kein Leerraum in den IC-Haltern entsteht. Wahlweise kann man auch eine IC-Entnahmeposition unmittelbar vor einer aussetzenden Übertragung an der IC- Einsetzposition vorsehen, oder eine IC-Entnahmeposition am Innenrand des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus und eine IC-Entnahmeposition am Außenrand des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus. In diesem Fall kann das Verhältnis zwischen der Umdrehung um die Sonnenwelle und der Umdrehung um die eigene Planetenwelle einen anderen Wert als N ± (1/K) annehmen.
  • Gemäß dem zweiten Merkmal der Erfindung haben die Planeten-IC-Halter Haltevorrichtungen, die die ICs halten, indem sie sie an den rotationssymmetrischen Flächen befestigen. Die vorzuwärmenden ICs berühren die Wäremspeicherteile der rotationssymmetrischen Flächen durch Oberflächenkontakt. Dadurch ist die Wärmeleitung sichergestellt und die Vorwärmzeit kann kürzer werden.
  • Gemäß dem dritten und vierten Merkmal der Erfindung hat die Haltevorrichtung ein Luftabsaugloch mit einer IC-Ansaugöffnung, die sich auf eine zugehörige Fläche der K rotationssymmetrischen Flächen öffnet, und ein federbetätigtes IC-Spannblatt, das ein IC gegen eine entsprechende Fläche der rotationssymmetrischen Flächen drückt. Das zugeführte IC wird mit Unterdruck an die IC-Ansaugöffnung gesaugt. Nun schließt das federbetätigte IC-Spannblatt das IC ein. Nach dem Einsetzen des IC wird der Ansaugvorgang beendet.
  • Kurz vor dem Abnehmen wird das von dem federbetätigten IC-Spannblatt eingeschlossene IC nochmals mit Unterdruck angesaugt. Anschließend öffnet das federbetätigte IC-Spannblatt, und zuletzt wird der Ansaugvorgang beendet und das IC entfernt. Insbesondere sind auf der rotationssymmetrischen Fläche eines jeden IC-Halters nur eine IC-Ansaugöffnung und dasfederbetätigteIC-Spannblatt (Federclip) bereitgestellt, so dass man eine einfache Anordnung erhält. Das Stellglied, das direkt die Freigabekraft liefert, indem es auf das federbetätigte IC-Spannblatt drückt, ist nicht auf der Seite des Planeten-IC-Halters bereitgestellt, sondern auf der feststehenden Seite der IC-Konstanttemperaturkammer. Damit müssen an den jeweiligen IC-Haltern keine Stellglieder montiert werden. Die Teileanzahl sinkt, und man kann die Antriebsleistung verringern. Zudem kann man den IC-Haltern im Planeten-IC- Halter zwei oder mehr Flächen geben.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Man versteht die genannten Aufgaben und Merkmale sowie weitere Aufgaben und Merkmale der Erfindung besser, wenn man die folgende Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen zusammen mit den beiliegendem Zeichnungen betrachtet.
  • Es zeigt:
  • Fig. 1 eine perspektivische Außenansicht einer IC-Prüf- Handhabungsvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
  • Fig. 2 eine Vorderansicht des allgemeinen Aufbaus einer IC-Konstanttemperaturkammer in der IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung in Fig. 1;
  • Fig. 3 eine senkrechte Querschnittsdarstellung eines Planetengetriebemechanismus in der IC-Konstanttemperaturkammer;
  • Fig. 4 eine Seitenansicht, die den Einsetzvorgang eines IC in oder den Entnahmevorgang eines IC aus dem Planeten-IC- Halter im Planeten-IC-Halter-Anordnungsmechanismus in der IC-Konstanttemperaturkammer mit Hilfe einer Unterdruck- Saugeinheit und eines geradlinig bewegten Stellglieds darstellt;
  • Fig. 5(a) eine Vorderansicht des Zustands, in dem das IC vom Planeten-IC-Halter im Planeten-IC-Halter-Anordnungsmechanismus in der IC-Konstanttemperaturkammer entfernt wird;
  • Fig. 5(b) eine Vorderansicht des Zustands, in dem das IC in den Planeten-IC-Halter im Planeten-IC-Halter-Anordnungsmechanismus in der IC-Konstanttemperaturkammer eingesetzt wird;
  • Fig. 6 eine perspektivische Außenansicht, bei der die Abdeckung von einer herkömmlichen IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung abgenommen ist, die in der veröffentlichten japanischen Patentschrift (Kokai) Nr. 7-24770 des Anmelders offenbart ist, der auch dieses Patent angemeldet hat;
  • Fig. 7 eine senkrechte Querschnittsdarstellung einer IC-Konstanttemperaturkammer in der IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung in Fig. 6; und
  • Fig. 8 eine Teilseitenansicht einer Ansaug- und Einschließvorrichtung in der IC-Konstanttemperaturkammer in Fig. 7.
  • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Es werden nun Ausführungsformen der Erfindung mit Bezug auf die anliegenden Zeichnungen beschrieben. In der Beschreibung bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder ähnliche Teile.
  • Fig. 1 zeigt eine perspektivische Ansicht der äußeren Erscheinung einer IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung:
  • Ähnlich wie die anhand von Fig. 6 beschriebene herkömmliche IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung ist die IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung gemäß dieser Ausführungsform der Erfindung mit einer Grundplatte ausgestattet, auf der ein Controller und weitere Einrichtungen montiert sind, sowie mit einem Eingabekorb-Hebewerk 1, einer Eingangstransporteinheit 2, einem Eingabeförderer 3, einer IC-Konstanttemperaturkammer 7, einem Heißluftgebläse (nicht dargestellt), einem Greifer 5, einem Ausgabeförderer 6 (in Fig. 1 nicht dargestellt), einem Kühlförderer 10 (in Fig. 1 nicht dargestellt), einer Abkühl-Übertragungseinheit 9 (in Fig. 1 nicht dargestellt), einer Ausgabe-Übertragungseinheit 11, leeren Korbhebewerken 12 und 13, Ausgabekorbhebewerke 14 und 15 und eine Korbübertragungseinheit 18, die mit einem Deckel 20 abgedeckt ist.
  • Fig. 2 zeigt eine Vorderansicht des allgemeinen Aufbaus der IC-Konstanttemperaturkammer in der IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung in Fig. 1. Die IC-Konstanttemperaturkammer 7 in dieser Ausführungsform besitzt beispielsweise, siehe Fig. 2, sechs Planeten-IC-Halter 71, die jeweils säulenförmig mit quadratischem Querschnitt gestaltet sind und jeweils vier Seitenflächen aufweisen, von denen jede als IC-Halter dient. Die IC-Konstanttemperaturkammer enthält auch einen Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72, bei dem die sechs Planeten-IC- Halter 71 ringförmig und mit gleichen Abständen, d. h. mit jeweils 60º Abstand, um eine sich drehende Welle 72a als Sonnenwelle angeordnet sind. Jeder der sechs Planeten-IC-Halter 71 kann sich um seine eigene Planetenwelle 71a drehen. Die IC-Konstanttemperaturkammer 7 enthält zudem einen Planetengetriebemechanismus 73, der den Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72 aussetzend jeweils 60º um die Drehwelle 72a dreht. Während jeweils einer Umdrehung um die Sonnenwelle 72a im Uhrzeigersinn dreht sich jeder Planeten-IC-Halter um seine eigene Planetenwelle 71a um 90º im Uhrzeigersinn.
  • Fig. 3 zeigt eine senkrechte Querschnittsdarstellung des Planetengetriebemechanismus 73 in der IC-Konstanttemperaturkammer 7. Der Planetengetriebemechanismus 73 besitzt Ausgleichsgetriebeanordnungen und eine Trägerplatte 73a, siehe Fig. 3. Die Trägerplatte 73a steht in der IC-Konstanttemperaturkammer 7 und ist an ihr befestigt. Der Planetengetriebemechanismus 73 enthält auch ein an der Sonnenwelle 72a befestigtes Sonnenrad 73b, das von der Trägerplatte 73a gehalten wird und sich drehen kann, eine verzahnte Drehplatte (eine verzahnte Verstärkungsplatte) 73c, die von der Sonnenwelle 72a gehalten wird und sich drehen kann, sechs Planetenräder 73d, die jeweils an einer Planetenwelle 71a befestigt sind und in das Sonnenrad 73b eingreifen. Jede Planetenwelle 71a ist in der Drehplatte 73c drehbar gehalten. Der Planetengetriebemechanismus 73 umfasst auch eine Antriebswelle 73f, die ein Antriebszahnrad 73e hat, das in die verzahnte Drehplatte (die verzahnte Verstärkungsplatte) 73c eingreift.
  • Jeder Planeten-IC-Halter 71 stellt eine Planetenstation dar, die säulenförmig ist und quadratischem Querschnitt hat. Der Planeten-IC-Halter 71 besteht aus Vorsprüngen 71b und vier Seitenplatten als Wärmespeicherteile (IC-Aufnahmeteile) 71c. Jeder der Vorsprünge 71b ist an der Planetenwelle 71a befestigt. Die Vorsprünge 7lb haben quadratische Form und liegen einander gegenüber. Jede Wärmespeicherplatte 71c überspannt einen Abstand zwischen den Vorsprüngen 71b. Jede Wärmespeicherplatte 71c besitzt einen IC-Halter H. Der IC-Halter H besitzt eine Haltevorrichtung, die ein IC 4c hält, indem es das IC an der Fläche S der Wärmespeicherplatte 71c befestigt. Die vier Flächen S sind bezüglich der Drehwelle 71a rotationssymmetrisch zueinander. Die Haltevorrichtung weist einen Luftabsaugdurchgang X1 mit einer zugespitzten Absaugöffnung A und einer Luftauslassöffnung B auf, und ein federbetätigtes IC-Spannblatt X2, d. h. einen Federclip, der das IC 4c zwischen dem Blatt X2 und der rotationssymmetrischen Fläche S einspannt. Die zugespitzte Absaugöffnung A öffnet sich ungefähr in der Mitte der rotationssymmetrischen Fläche S. Die Luftauslassöffnung B öffnet sich auf der rotationssymmetrischen Fläche S an einer Stelle nahe der Seite der verzahnten Drehplatte 73c.
  • Fig. 4 zeigt eine Teilquerschnittsdarstellung des Planetengetriebemechanismus 73 zum Erklären des Einsetz- bzw. Abnehmvorgangs eines IC in bzw. aus dem Planeten-IC-Halter. Fig. 3 und Fig. 4 zeigen, dass das federbetätigte IC-Spannblatt X2 einen nachgiebigen, gekrümmten Spitzenabschnitt C und einen Armabschnitt D aufweist, die aus einem Stück hergestellt sind. Eine Torsionsfeder E (siehe Fig. 4) drückt den nachgiebigen, gekrümmten Spitzenabschnitt C gegen die rotationssymmetrische Fläche S. In Fig. 4 ist die Torsionsfeder E als Schraubenfeder eingezeichnet; dies geschah jedoch nur zum Vereinfachen der Darstellung. In Wirklichkeit ist die Torsionsfeder E um eine Drehwelle F gewickelt, um die sich das federbetätigte IC-Spannblatt X2 dreht. Auf den Armabschnitt D wirkt eine Betätigungskraft von außen ein.
  • Am feststehenden Teil der IC-Konstanttemperaturkammer sind eine Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 und ein sich geradlinig bewegendes Stellglied Y2 bereitgestellt, siehe Fig. 4. Die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 ist an der IC-Entnahmeposition direkt unter dem Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72 angebracht, so dass die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 die Auslassöffnung B des Luftabsaugdurchgangs X1 berührt, die im IC-Halter H dem Mechanismus 72 gegenüber liegt. Damit saugt die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 das IC an. Das geradlinig wirkende Stellglied Y2 drückt auf das federbetätigte IC- Spannblatt X2 und bewegt es; das Stellglied liefert damit direkt die Betätigungskraft zum Freigeben des IC aus dem einspannten Zustand. Die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 arbeitet dann, wenn das IC 4c an der rotationssymmetrischen Fläche S befestigt oder von ihr abgenommen wird, und saugt das IC kurzzeitig an und hält es fest. Die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 hat ein Ansaugkissen 32, das nahe an der Auslassöffnung B des IC-Halters H angebracht ist, wobei die Normale der rotationssymmetrischen Fläche S des IC-Halters H direkt nach unten zeigt. Das Ansaugkissen 32 ist mit einer Unterdruckquelle verbunden und saugt aussetzend Luft an. Dies wird im weiteren ausführlich beschrieben.
  • Das geradlinig wirkende Stellglied Y2 besitzt eine erste Gleitführungsschiene 42, die ein erstes Gleitstück 43 gleitend führt, eine Unterdruck-Ansaugeinheit 45 zum Anheben eines IC, eine zweite Gleitführungsschiene 46, die ein zweites Gleitstück 47 gleitend führt, einen Betätigungsstößel 48 und eine Schraubenfeder 49. Die erste Gleitführungsschiene 42 ist an einem L-förmigen Winkel 41 befestigt und verläuft senkrecht. Das erste Gleitstück 43 wird auf der Gleitführungsschiene 42 gleitend nach oben und unten bewegt. Die Unterdruck-Ansaugeinheit 45, die das IC anhebt, ist mit einem Halter 44 am ersten Gleitstück 43 befestigt. Die zweite Gleitführungsschiene 46 ist am Halter 44 befestigt und verläuft senkrecht. Das zweite Gleitstück 47 wird auf der Gleitführungsschiene 46 gleitend nach oben und unten bewegt. Der Betätigungsstößel 48 dient dazu, auf den Armabschnitt D des federbetätigten IC-Spannblatts X2 zu drücken und das Spannblatt zu bewegen. Der Betätigungsstößel 48 berührt den Armabschnitt D direkt. Die Schraubenfeder 49 überspannt ein Teil zwischen der zweiten Gleitführungsschiene 46 und dem zweiten Gleitstück 47 und nimmt überschüssige Druck- und Bewegungsanteile des Betätigungsstößels 48 auf.
  • Es wird nun die Wirkungsweise der dargestellten Ausführungsform beschrieben.
  • Einsetzvorgang des IC
  • Die Drehung des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72, siehe Fig. 4 und Fig. 5 (b), wird zunächst in einem Zustand angehalten, in dem die Normale der rotationssymmetrischen Fläche S eines leeren IC-Halters H auf einem Planeten-IC-Halter 71 direkt nach unten zur IC-Einsetz- und Abnehmposition zeigt. Das geradlinig wirkende Stellglied Y2 an der Rückseite eines Förderers 60 in der vorgeschobenen Position wird direkt unter der rotationssymmetrischen Fläche S angeordnet. Das Ansaugkissen 32 steht der Auslassöffnung B der rotationssymmetrischen Fläche S gegenüber. Saugt die Unterdruck- Ansaugeinheit Y1 Luft an, so haftet das Ansaugkissen 32 an der Auslassöffnung B, und es wird nahe an der rotationssymmetrischen Fläche S über die IC-Ansaugöffnung A, den Luftabsaugdurchgang X1 und das IC Luft angesaugt. Nahezu gleichzeitig mit diesem Vorgang bewegt ein Zahnstangenantrieb oder ein ähnlicher Mechanismus das erste Gleitstück 43 im geradlinig wirkenden Stellglied Y2, so dass das IC 4c von einer Unterdruckansaugeinheit 45 zum Heben und Senken nach oben bewegt wird. Am Ende der Bewegung des ersten Gleitstücks 43 nach einem Hub L1 berührt das obere Ende des Betätigungsstößels 48 direkt den Armabschnitt D des federbetätigten IC-Spannblatts X2, drückt darauf und bewegt das federbetätigte IC-Spannblatt X2 so, dass es sich in der Abbildung im Gegenuhrzeigersinn gegen die Vorspannkraft der Torsionsfeder E bewegt und das IC aus dem eingeschlossenen Zustand freigibt.
  • Anschließend wird während eines Hubs der Länge L2 ein übermäßiges Drücken und Bewegen des Armabschnitts D durch den Betätigungsstößel 48 verhindert, da sich die Schraubenfeder 49 weiter ausdehnt. Am Ende dieser Periode bewegt sich das IC 4c auf der Unterdruckansaugeinheit 45 nahe an die rotationssymmetrische Fläche S, und der Absaugvorgang in der Unterdruckansaugeinheit 45 wird beendet. Dadurch wird das IC 4c auf der Unterdruckansaugeinheit 45 an die IC-Ansaugöffnung A gesaugt und haftet an der rotationssymmetrischen Fläche S. Bewegt sich nun das erste Gleitstück 43 wieder nach unten, so löst sich das Oberteil des Betätigungsstößels 48 vom Armabschnitt D, und das an der rotationssymmetrischen Fläche 5 haftende IC wird von der elastischen, gekrümmten Spitze C des federbetätigten IC-Spannblatts X2 eingeschlossen. Nach dem Einschluss wird der Absaugvorgang in der Unterdruckansaugeinheit Y1 beendet, und das Ansaugkissen 32 löst sich von der Auslassöffnung B.
  • Aussetzender Drehvorgang
  • Die Antriebswelle 73f dreht sich nun gegen den Uhrzeigersinn (Fig. 2), und die Sonnenwelle 72a wird im Uhrzeigersinn gedreht (siehe Fig. 2). Die mit dem Antriebszahnrad 73e kämmende Drehplatte 73c wird im Uhrzeigersinn gedreht (siehe Fig. 2), und das Sonnenrad 73b dreht sich ebenfalls im Uhrzeigersinn (Fig. 2). Die sechs Planetenräder 73d drehen sich zusammen mit der Drehung der Drehplatte 73c um die Sonnenwelle 72a, und sie drehen sich zugleich im Uhrzeigersinn um ihre eigenen Wellen (Fig. 2). Das Verhältnis der Ausgleichsgetriebeanordnung ist so festgelegt, dass sich in dieser Ausführungsform während einer aussetzenden Drehung jedes Planetenrad 73d um 60º im Uhrzeigersinn um die Sonnenwelle 72a und um 15º um seine eigene Welle dreht. In dieser Ausführungsform hat jedes Planetenrad 73d 64 Zähne und das Sonnenrad 73b 80 Zähne, so dass bei einer Umdrehung des Planetenrads 73d um die Sonnenwelle 72a das Sonnenrad 73b 1,6 Umdrehungen im Uhrzeigersinn ausführt und sich das Planetenrad 73d um 90º auf seiner eigenen Welle dreht. Führt das Planetenrad 73d vier Umdrehung um die Sonnenwelle 72a aus, so dreht es sich einmal um seine eigene Welle. Damit kehrt das in den IC-Halter H eingesetzte IC 4c nach 24 aussetzenden Umdrehungsvorgängen in seine Ausgangslage zurück, in der die Normale der rotationssymmetrischen Fläche S direkt nach unten zeigt. In dieser Zeitspanne wird die Temperatur des IC 4c im IC-Halter H durch Flächenkontakt ausreichend konstant gehalten.
  • IC-Abnahmevorgang
  • Kehrt das IC 4c wie beschrieben in seine Ausgangslage zurück, so ist das geradlinig wirkende Stellglied Y2 vorne am Förderer 60 direkt unter dem IC-Halter H angeordnet, und das Ansaugkissen 32 steht der Auslassöffnung B der rotationssymmetrischen Fläche S gegenüber, siehe Fig. 4 und Fig. 5 (a). Saugt die Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 Luft an, so wird das Ansaugkissen 32 an die Auslassöffnung B gesaugt und bewirkt, dass das zwischen der Fläche S und dem federbetätigten IC- Spannblatt X2 eingeschlossene IC 4c mit Unterdruck angesaugt wird. Da das erste Gleitstück 43 des geradlinig wirkenden Stellglieds Y2 nach oben gedrückt wird, berührt das obere Ende des Betätigungsstößels 48 nahezu gleichzeitig direkt den Armabschnitt D des federbetätigten IC-Spannblatts X2, drückt darauf und bewegt das federbetätigte IC-Spannblatt X2 so, dass es sich in der Abbildung im Gegenuhrzeigersinn gegen die Vorspannkraft der Torsionsfeder E bewegt und das IC aus dem eingeschlossenen Zustand freigibt. Nun saugt die Unterdruckansaugeinheit 45, die sich dem IC 4c genähert hat, das IC 4c an, und der Saugvorgang in der Unterdruck-Ansaugeinheit Y1 wird beendet. Bewegt sich nun das erste Gleitstück 43 wieder nach unten, so löst sich das Oberteil des Betätigungsstößels 48 vom Armabschnitt D, und das federbetätigte IC-Spannblatt X2 wird frei.
  • Im Zusammenhang damit wird in dieser Zeitspanne ein weiteres IC 4c aus einer Zufuhr-Unterdruckansaugeinheit 82 auf die Unterdruckansaugeinheit 45 im geradlinig wirkenden Stellglied Y2 an der Rückseite des Förderers 60 übertragen.
  • Die IC-Konstanttemperaturkammer 7 enthält die sechs Planeten-IC-Halter 71, die jeweils wie beschrieben den IC- Halter H mit vier Seitenflächen aufweisen. Nach dem Einsetzen eines IC in den IC-Halter in einem der Planeten-IC-Halter 71 beträgt der Drehwinkel eines jeden Planeten-IC-Halters 71 um seine eigene Planetenwelle nicht 360º, wenn der Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72 einmal gedreht wird. Erst wenn sich der Planetenhalter-Anordnungsmechanismus 72 viermal gedreht hat, dreht sich der Planeten-IC-Halter 71 das erste Mal um 360º um seine eigene Welle und nimmt wieder seine Einsetzposition an. Damit kann man erfindungsgemäß die Anzahl der Vorwärmabschnitte verglichen mit der herkömmlichen Vorrichtung vervierfachen, bei der die IC-Halter fest an der Randfläche des Halteranordnungsmechanismus bereitgestellt sind. Somit kann man eine ausreichende Vorwärmzeit sicherstellen und die Taktperiode verkürzen.
  • In der beschriebenen Ausführungsform ist der IC-Halter H so aufgebaut, dass ein IC auf jeder rotationssymmetrischen Fläche S gehalten wird. Der IC-Halter H ist jedoch nicht hierauf eingeschränkt, sondern er kann innerhalb des Bereichs der Erfindung so aufgebaut sein, dass er zwei oder mehr ICs auf jeder rotationssymmetrischen Fläche hält. Der Planeten-IC- Halter kann auch so aufgebaut sein, dass er wesentlich mehr als vier Flächen aufweist, so dass die Anzahl der vorgewärmten ICs weiter zunimmt. Es ist zudem möglich, sechs oder mehr Planeten-IC-Halter 71 bereitzustellen. Beispielsweise kann man innerhalb des Erfindungsbereichs zwölf IC-Halter vorsehen. Weiterhin ist es nicht immer erforderlich, die ICs auf allen rotationssymmetrischen Flächen zu halten; wahlweise kann man die ICs auch auf einigen Teilen der Flächen halten. Für die als IC-Halter dienenden Flächen muss man lediglich fordern, dass die Flächen S bezüglich der Welle 71a rotationssymmetrisch sind. Ist beispielsweise der Planeten-IC-Halter 71 aus einer Säule mit sechseckigem Querschnitt hergestellt, so müssen zwei, vier oder sechs rotationssymmetrische Flächen vorhanden sein. Zudem muss der Planeten-IC-Halter 71 nicht die Form einer Säule haben, sondern er kann auch plattenförmig sein, wobei beide Seitenflächen als rotationssymmetrische Flächen wirken.
  • Da die vorzuwärmenden ICs auch in dieser Ausführungsform die Wärmespeicherteile der rotationssymmetrischen Flächen durch Oberflächenkontakt berühren, ist die Wärmeleitung sichergestellt und die Vorwärmzeit kann kürzer werden.
  • In dieser Ausführungsform ist das federbetätigte IC- Spannblatt X2 einfach aufgebaut, wobei der Armabschnitt D von außen betätigt wird. Der Betätigungsstößel 48, der direkt auf den Armabschnitt D drückt und ihn bewegt, ist auf der feststehenden Seite der IC-Konstanttemperaturkammer bereitgestellt. Daher ist es nicht erforderlich, ein Stellglied - wie früher nötig - an jedem IC-Halter H zu montieren. Damit wird die Anzahl der Teile kleiner und die Antriebsleistung geringer. Anders ausgedrückt können die IC-Halter H selbst vereinfacht werden, so dass man einen Planeten-IC-Halter 71 mit zahlreichen IC-Haltern H realisieren kann.
  • Der beschriebene Planetengetriebemechanismus 73 besteht aus einer Ausgleichsgetriebeanordnung mit zwei Antriebsmotoren. Um dem Mechanismus auf einen Antriebsmotor umzustellen, kann man entweder die Antriebswelle 73f oder die Sonnenwelle 72a festhalten und nur das andere Teil antreiben. In diesen Fall vollführt der Planeten-IC-Halter eine oder mehrere Umdrehungen um seine eigene Welle während einer Umdrehung um die Drehwelle. Ist der Drehwinkel vor und nach der Umdrehung um die eigene Welle gleich, so stellt die Drehzahl kein ernsthaftes Problem dar. Es ist jedoch erwünscht, die Drehzahl zu senken, damit die Antriebsleistung geringer wird. Um die Ausgleichsgetriebeanordnung mit einem Antriebsmotor aufzubauen, könnte man auch die Antriebswelle 73f und die Sonnenwelle 72a mit einem Steuerriemen oder einem ähnlichen Teil verbinden.
  • Die erfindungsgemäße IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung ist wie beschrieben dadurch gekennzeichnet, dass die IC-Konstanttemperaturkammer eine Anzahl Planeten-IC-Halter umfasst, von denen jeder zahlreiche Flächen als IC-Halter aufweist. Dies hat die folgenden Auswirkungen.
  • (1) Nachdem sich der Planetenhalter-Anordnungsmechanismus K-mal gedreht hat, kehrt ein IC-Halter in die Einsetzposition des IC zurück, so dass die Verweilzeit zum Vorwärmen verlängert und die Anzahl der vorzuwärmenden ICs vergrößert werden kann. Man kann die Taktperiode verkürzen und die Raumausnutzung der IC-Konstanttemperaturkammer verbessern.
  • (2) Da der Planeten-IC-Halter Haltevorrichtungen hat, die das IC dadurch halten, dass es an einer rotationssymmetrischen Fläche befestigt wird, berührt das vorzuwärmende IC ein Wärmespeicherbauteil an der Seite der rotationssymmetrischen Fläche durch Oberflächenkontakt, so dass die Wärmeleitung sichergestellt ist und sich die Vorwärmzeit verkürzt.
  • (3) Die Anordnung ist insbesondere einfach aufgebaut, weil die rotationssymmetrische Fläche eines jeden IC-Halters mit einer IC-Ansaugöffnung und einem federbetätigten IC- Spannblatt versehen ist. Zusätzlich ist das Stellglied, das die Betätigungskraft zum Freigeben des IC aus seiner eingeschlossenen Lage liefert, indem es auf das federbetätigte IC-Spannblatt drückt und es bewegt, nicht auf der Seite des Planetenhalter-Anordnungsmechanismus bereitgestellt, sondern am feststehenden Teil der IC-Konstanttemperaturkammer angebracht. Daher ist es nicht nötig, ein Stellglied für jeden IC-Halter anzubringen. Die Teileanzahl wird damit geringer, und man benötigt weniger Antriebsleistung. Zudem wird es möglich, den IC-Halter im Planeten-IC-Halter mit wesentlich mehr als vier Flächen auszustatten.

Claims (4)

1. IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung, die mit einer IC-Konstanttemperaturkammer (7) zum Kühlen oder Erwärmen der ICs (4c) versehen ist, um Temperaturprüfungen der ICs auszuführen, wobei die IC-Konstanttemperaturkammer (7) umfasst:
zahlreiche Planeten-IC-Halter (71), wobei die Anzahl der Planeten-IC-Halter M ist, und sich jeder der Planeten- IC-Halter um seine eigene Planetenwelle (71a) drehen kann und eine Anzahl Drehflächen aufweist, die bezüglich der Planetenwelle symmetrisch sind, und die Anzahl der Flächen K ist, und die Flächen als IC-Halteteile wirken;
einen Planetenhalter-Anordnungsmechanismus (72), der sich um eine Sonnenwelle (72a) drehen kann und die zahlreichen Planeten-IC-Halter in einer ringförmigen Anordnung mit gleichen Abständen um die Sonnenwelle (72a) herum anordnet, wobei die zahlreichen Planeten-IC-Halter (71) um die Sonnenwelle kreisen können; und
einen sich diskontinuierlich drehenden Antriebsmechanismus (73), der den Planetenhalter-Anordnungsmechanismus (72) diskontinuierlich in Schritten von 360º/M dreht, wobei die diskontinuierliche Drehung abwechselnde Anhalteperioden und Drehperioden umfasst, so dass, wenn die zahlreichen Planeten-IC-Halter eine Umdrehung um die Sonnenwelle ausführen, die Anzahl der Umdrehungen eines jeden Planeten-IC-Halters um seine eigene Welle {N ± (1/K)} beträgt, wobei N eine beliebige Ganzzahl ist, damit
mindestens ein IC, das während einer der Anhalteperioden der diskontinuierlichen Drehung auf einer der Flächen befestigt wurde, während einer weiteren Anhalteperiode der diskontinuierlichen Drehung von der Fläche entfernt wird, nachdem sich der Planetenhalter- Anordnungsmechanismus während einer Zeitspanne um die Sonne gedreht hat, die dazu ausreicht, das IC für die Temperaturprüfung vorzuwärmen.
2. IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei jeder der zahlreichen Planeten-IC-Halter (71) eine Haltevorrichtung (X1) umfasst, die die ICs dadurch hält, dass sie an den symmetrischen Drehflächen (S) befestigt werden.
3. IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 2, wobei jede Haltevorrichtung einen Luftansaugdurchgang (X1) enthält, der eine IC-Ansaugöffnung (A) hat, die sich auf eine zugehörige Fläche der zahlreichen symmetrischen Drehflächen öffnet, und ein federbetätigtes IC-Spannblatt (X2), das das zugehörige IC auf die entsprechende Fläche der Anzahl symmetrischer Drehflächen (S) drückt.
4. IC-Prüf-Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 3, wobei an einer IC-Anbring- oder Abnahmeposition direkt unter dem Planetenhalter-Anordnungsmechanismus (72) bereitgestellt sind: eine Unterdruckansaugeinheit (Y1), die die ICs dadurch ansaugt, dass sie eine Auslassöffnung (B) des Luftansaugdurchgangs (X1) in der Haltevorrichtung des Planeten-IC-Halters berührt, der der IC-Anbring- oder Abnahmeposition gegenübersteht; und ein Stellglied zum Drücken und Bewegen des federbetätigten IC-Spannblatts, um das IC direkt aus seinem eingespannten Zustand zu entlassen.
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