DE69226259T2

DE69226259T2 - Gerät für optische platten

Info

Publication number: DE69226259T2
Application number: DE69226259T
Authority: DE
Inventors: Naoya Sony Corporation Biguchi; Kiyoshi Sony Corporatio Ohsato; Kamon Sony Corporation Uemura
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1991-11-20
Filing date: 1992-11-20
Publication date: 1998-11-19
Anticipated expiration: 2012-11-21
Also published as: WO1993010528A1; EP0569597A4; US5442615A; EP0569597B1; DE69226259D1; EP0569597A1

Description

Die Erfindung betrifft ein Gerät für optische Platten, insbesondere für die Anwendung in Computerspeichern, Aufzeichnungsgeräten für Musikinformationen und Aufzeichnungsgeräten für Bildinformationen.
Die in jüngerer Zeit wachsende Informationsmenge macht es erforderlich, für die Aufzeichnung oder Speicherung von Musik- und Bildinformationen für Computerspeicher, Compact Discs, Video Discs und dgl. optische Platten mit hoher Aufzeichnungsdichte einzusetzen.
Eine Möglichkeit zur Erzielung hoher Aufzeichnungsdichte besteht darin, die numerische Öffnung NA des Objektiv des optischen Abtasters für die optische Informationsaufzeichnung und -wiedergabe gegenüber derjenigen herkömmlicher Compact Discs und Video Discs zu vergrößern.
Wenn die numerische Apertur NA des Objektivs vergrößert wird, vergrößert sich die Koma- Aberration des auf der optischen Platte fokussierten Lichtpunkts, wenn die optische Platte eine Schräglage aufveist. Dadurch wird z.B. die Verformung der wiedergegebenen Wellenform verstärkt, Symbole werden miteinander verbunden, und es findet Übersprechen zwischen den Spuren auf der optischen Platte statt.
Wenn die Form des optischen Lichtpunkts auf der Informationsaufzeichnungsfläche der optischen Platte nicht nur in radialer Richtung sondern auch in Richtung der Aufzeichnungsspur merklich oval verformt ist und darüber hinaus die Richtung der Längsachse des ovalen Lichtpunkts mit der Ausdehnungsrichtung der Aufzeichnungsspur zusammenfällt, werden in dem reproduzierten Signal Zwischensignalinterferenzen erzeugt. Dies hat zur Folge, daß bei einer Aufzeichnung mit hoher Dichte zwei aufeinanderfolgende Pits näher beieinander liegen, so daß eine korrekte oder effektive Wiedergabe der aufgezeichneten In formation unmöglich wird.
Wenn die lange Achse des Ovals hingegen mit der radialen Richtung der optischen Platte zusammenfällt, tritt Übersprechen zwischen den Aufzeichnungsspuren auf. Dies hat zur Folge, daß bei einer Aufzeichnung mit hoher Dichte, bei der der Spurabstand kleiner wird, eine korrekte Wiedergabe der aufgezeichneten Information unmöglich wird.
Außerdem bewirkt eine Koma-Aberration in dem optischen Plattenwiedergabegerät, daß die Punktausbreitungsftinktion und die Linienausbreitungsfunktion des Lichtpunkts unsymmetrisch werden. Dise macht es unmöglich, die Verformung der Wiedergabewellenform z.B. mittels eines normalen festen Entzerrers mit drei Abgriffen effektiv zu korrigieren.
Dies bedeutet folgendes: Wenn die optische Platte z.B. als Compact Disc benutzt wird, besitzt sie ein transparentes Substrat mit einer Dicke von etwa 1,2 mm. Der Lichtstrahl wird durch das transparente Substrat auf die Informationsaufzeichnungsfläche geleitet und dort fokussiert. Aus dem von der Auizeichnungsfläche reflektierten Licht werden die Informationssignale reproduziert.
Wenn die Informationsaufzeichnungsfläche der optischen Platte relativ zur optischen Achse des Objektivs schräg liegt oder geneigt ist, tritt eine Koma-Aberration auf, die der dritten Potenz der numerischen Öffnung NA und etwa der ersten Potenz der Größe der Schräglage proportional ist.
Die Koma-Aberration wird durch die Zaidel-Aberrationskoeffizientengleichung folgendermaßen ausgedrückt:
Die Gleichung (1) wird in die folgende Gleichung (2) überführt
worin W3ld die ternäre Koma-Aberration, Td die Dicke des transparenten Substrats der optischen Platte, Nd das Brechungsverhältnis des transparenten Substrats der optischen Platte und NAO die numerische Apertur des Objektivs bedeuten.
Wenn NA gleich 0,6 ist und die numerische Apertur 1,33 mal so groß ist wie bei der Compact Disc, ist die erzeugte Koma-Aberration das 2,37 mal so groß, wenn die Schräglage der Platte ebenso groß ist wir bei der Compact Disc (numerische Apertur NA = 0,45). Mit anderen Worten, wenn bei der Compact Disc NA gleich 0,45 ist und als zulässige Schräglage ein Wert von 0,6º angenommen wird, wird hier der Wert für die zulässige Plattenschräglage erheblich kleiner, nämlich 0,25º.
Wegen der Verwindung oder Welligkeit der optischen Platte in radialer und tangentialer Richtung (Umfangsrichtung) und wegen der Neigung der optischen Platte durch Schräglage des Plattentellers relativ zu der entsprechenden Standardfläche ist es in der Praxis übrigens sehr schwierig, die Schräglage der Platte völlig zu beseitigen oder klein zu halten.
Wenn eine Wellenfläche durch Koma-Aberration oder dgl. verformt wird, ist die Lichtintensitätsverteilungs- oder -ausbreitungsfunktion des auf der optischen Platte fokussierten Lichtpunkts unsymmetrisch.
Fig. 1(A), 1(B) bis Fig. 4(A), 4(B) zeigen die Punktausbreitungsfunktion bzw. die Linienausbreitungsfunktion des Lichtpunkts auf der optischen Platte, wenn die optische Platte um 0º, 0,1º, 0,2º bzw. 0,3º geneigt ist. Aus den Figuren geht hervor, daß der Wert der Unsymmetrie um so größer wird, je größer die Schräglage der optischen Platte ist, weil die Verformung der Wellenfläche die "Seitenmaxima" der Lichtintensität des Lichtpunkts symmetrisch anhebt.
Der Anstieg nach oben, der in Fig. 1(A) bis Fig. 4(A) dargestellt ist, zeigt linear die Lichtintensität der jeweiligen Positionen des Lichtpunkts auf der ebenen Plattenfläche innerhalb der von dem Punkt beschienenen Fläche. Die in Fig. 1(13) bis Fig. 4(13) dargestellten Kurven zeigen Lichtintensität 0, -10, -20, -30, -40, -50 (Ordinatenachse in dB) an den Positionen -1,5, -1,0, -0,5, 0, 0,5, 1,0 bzw. 1,5 (Abszissenachse in um) einer imaginaren Linie, die durch das Zentrum des Lichtpunkts verläuft.
Die Plattenschräglage der optischen Platte in tangentialer Richtung erzeugt, wie oben beschrieben, durch den Anstieg der Seitenmaxima der Lichtintensitätsverteilungs- oder -ausbreitungsfunktionen eines Lichtpunkts. Infolgedessen wachsen die Interferenzen zwischen den Symbolen beträchtlich an.
Fig. 5(A) und 6(A) zeigen Beispiele von digitalen Signalen der Wiedergabesignal-Wellenformen (E FM-Wiedergabewellenformen), die erzeugt werden, wenn die Schräglage in tangentialer Richtung (Umfangstichtung der Platte) 0º bzw. 0,3º beträgt. Ein Vergleich der beiden Beispiele läßt erkennen, daß bei einer Plattenschräglage von 0,3º die Verformung der EFM-Wiedergabewellen formen größer ist als bei 0º. Dies führt zu einem Schließen der Augenmuster und erschwert das korrekte Abtasten der Signale.
Fig. 5(A) und Fig. 6(A) zeigen die Eingangssignale eines Entzerrers mit drei festen Abgriffen in dem optischen Plattengerät. Fig. 5(B) und Fig. 6(B) zeigen die Ausgangssignale des Entzerrers mit drei festen Abgriffen.
Wenn analoge Signale benutzt werden und die Plattenschräglage in tangentialer Richtung (Umfangsnchtungi größer wird, wird das C/N-Verhältnis kleiner, und es treten Gruppenverzöge rungsphänomene auf. Insbesondere bei Videodiscs besteht dann das Problem, daß auf dem Display ungleichmäßige Farben erscheinen.
Wenn eine Plattenschräglage in radialer Richtung vorliegt, tritt eine unsymmetrische Verteilungsfunktion des Lichtpunkts oder ein Anstieg der Seitenmaxima auf, die zu einem starken Übersprechen führt, weil die falsche Nachbarspur reproduziert wird.
Fig. 7 zeigt den Zusammenhang zwischen dem Übersprechen und der Plattenschräglage in radialer Richtung. Bei einer Schräglage von ±0 30 steigt das Übersprechen gegenüber einer Plattenschräglage von 0º um 15 (dB) an.
Das heißt, sowohl bei digitalen Signalen als auch bei analogen Signalen wächst das Übersprechen an, und das C/N-Verhältnis wird kleiner, wenn die Plattenschräglage in radialer Richtung größer wird. Insbesondere bei einer Videodisc usw. tritt das Problem auf, daß die Zeilensynchronisiersignale der Nachbarspur erscheinen (Das Zeilensynchronisiersignal der Nachbarspur wandert langsam in horizontaler Richtung).
Um diese Probleme von herkömmlichen optischen Plattengeräten zu beseitigen, wird ein Verfahren angewendet, bei dem die Neigung die gesamte Konstruktion des optischen Abtasters geneigt wird, um die Schräglage der Platte zu korrigieren. Dieses bekannte Gerät besitzt einen bewegbaren Teil zur Steuerung der Neigung des Abtasters. Dieser bewegbare Teil ist groß und schwer, so daß ein rasches und gutes Ansprechverhalten nur schwer zu erreichen ist.
In diesem Zusammenhang ist zu erwähnen, daß eine Schräglage von etwa 0,1º bis 0,2º, die während der Rotation der optischen Platte erzeugt wird, eine Frequenz von einigen 10 bis zu einigen 100 (Hz) hat, so daß es sehr schwierig ist, den schweren optischen Abtaster zu steuern und eine solche Schräglage der optischen Platte zu korrigieren.
Bei diesem bekannten Gerät wird ein Schräglagen-Servomotor eines in Fig. 8 dargestellten Entzerrers benutzt, mit dem die gesamte Konstruktion des optischen Abtasters relativ zu der optischen Platte in radialer Richtung geluppt wird, um die senhrechte Ausrichtung der optischen Achse zur Oberfläche der optischen Platte beizubehalten. Der Schräglagen-Servomotor korngiert die Verformung der Wiedergabewellenform also nur bei einer Schräglage in radialer Richtung.
Der Entzerrer EQ mit drei Abgriffen, der aus einem Transversalfilter-Entzerrer einer Entzerrer- Verzögerungsschaltung mit drei festen Abgriffen besteht, besitzt Verzögerungsschaltungen DL1 und DL2, Verstärkerschaltungen AM1, AM2 und AM3 mit fester Verstärkung und eine Addierschaltung AD 1. Die Verzögerungsschaltungen DL1 und DL2 verzögern die Eingangssignale sequentiell um den Einheitsverzögerungswert τ. Infolgedessen werden drei verzögerte Signale h(t- τ&sub1;), h(t) und h(t + τ&sub1;), deren Zeitlagen sequentiell um einen Einheitsverzögerungswert τ&sub1; differieren, in den Verstärkungsschaltungen AM1, AM2 und AM3 mit Gewichtungskoeffizienten a, 1 und a multipliziert und dann in der Addierschaltung ADI addiert. Das resultierende addierte Ausgangssignal H(t) ah(t - τ&sub1;) + h(t) + ah(t + τ&sub1;) wird an den Entzerrer EQ ausgegeben.
Es werde zunächst die Frequenzachse bei dieser bekannten Konstruktion betrachtet. Wenn die Modulationstransferfunktion (MTF), die die (durch die Ortsfrequenz definierte) Frequenzkennlinie des optischen Abtasters wiedergibt, bei einem Schrägiagenwinkel von 0º den in Fig. 9(A) dargestellten Verlauf hat, wird die MFT von dem Entzerrer EQ mit drei Abgriffen, der die in Fig. 9(C) dargestellte nach rechts ansteigende Frequenzkennlinie hat, korrigiert. Auf diese Weise wird, wie in Fig. 9(13) dargestellt, die Frequenzkennlinie dadurch verbessert, daß die Verstärkung etwa bei der halben Sperrfrequenz ansteigt.
Wenn die Übertragungsfunktion des Entzerrer EQ mit drei Abgriffen H(t) -ah(t - τ&sub1;) + h(t) - ah(t + τ&sub1;) ist, wird sie unter Verwendung der Ortsfrequenz f durch die Gleichung G(ω) = 1 - 2a cos (*&sub1;ω) ausgedrückt (ω = 2πf).
Wie Fig. 10(A1) bis Fig. 10(C) zeigen, läßt sich eine Verbesserung der Frequenzkennlinie des Entzerrers EQ mit drei Abgriffen als eine Überlagerung von Kurven der Ausbreitungsfunktion des Lichtpunkts begreifen. Das heißt, wenn die Linienausbreitungsfunktion des Lichtpunkts vor der Korrektur als linearer Wert der Linienausbreitungsftinktionskurve h(t) ausgedrückt wird, stellt sie eine symmetrische Ausbreitungs- oder Verteilungskurve dar mit dem Zeitpunkt t als Zentrum, wie dies in Fig. 10(A1) dargestellt ist. Sie läßt sich logarithmisch ausdrücken, wie dies in Fig. 10(B) dargestellt ist. In ähnlicher Weise kann die Linienausbreitungsfunktion h(t) des Lichtpunkts nach der Korrektur durch die in Fig. 10(A2) und Fig. 10(B2) gezeigten Ausbreitungskurven dargestellt werden.
An den Ausgängen des Entzerrers EQ mit drei Abgriffen müssen jedoch Lichtpunkte mit den Linienausbreitungsfrinktionen H(t) = -ah(t - τi) + h(t) - ah(t + t&sub1;) auftreten. Wie Fig. 10(C) zeigt, kann sie als Ausbreitungsfunktion H(t) (Fig. 10(B1)) bestimmt werden, die durch die Überlagerung von drei Linienausbreitungsfunktionen (h(t), -ah(t - τ&sub1;) und -ah(t + τ&sub1;) gebildet wird.
Die überlagerte Linienausbreitungsfunktionskurve h(t) subtrahiert zwei Linienausbreitungsfunk tionskurven -ah(t - τ&sub1;) und -ah(t + τ&sub1;) mit symmetrischen Seitenmaxima von der Linienausbreitungsfunktion h(t). Infolgedessen besitzt die resultierende Ausbreitungsfunktionskurve einen ansteigenden und einen abfallenden Abschnitt, die um den subtrahierten Betrag abrupter verlaufen als die Linienausbreitungsftinktionskurve h(t). Das heißt, daß die Frequenzkennlinie steiler verläuft und somit verbessert wird.
Wenn jedoch eine Schräglage der Platte auftritt, sind die Linienausbreitungsfunktionskurven -ah(t - τ&sub1;), h(t) und -ah(t + τ&sub1;) vor der Korrektur unsymmetrisch und haben wachsende Seitenmaxima, wie dies in Fig. 11(A1) und 11(B1), 11(A2) und 11(B2) und 11(C) dargestellt ist, die Fig. 10(A1) und 10(B1), 10(A2) und 10(B2) und 10(C) entsprechen.
Bei der Überlagerung dieser Ausbreitungsfunktionskurven gleichen die Linienausbreitungsfunktionskurven H(g) nach der Korrektur infolgedessen im wesentlichen der Linienausbreitungsfunktionskurve h(t) vor der Korrektur.
Man erkennt also, daß es unmöglich ist, mit Hilfe des Entzerrer EQ mit drei Abgriffen eine Korrektur der Plattenschräglage herbeizuführen.
Bei dem bekannten optischen Plattengerät treten, wie oben beschrieben, die folgenden Proble-
Erstens ist die Konstruktion zum mechanischen Kippen des optischen Abtasters kompliziert, und eine Senkung der Herstellkosten der Konstruktion ist schwierig.
Zweitens ist die Konstruktion zum mechanischen Kippen des optischen Abtasters schwer, so daß keine hohe Geschwindigkeit oder rasche Reaktion zu erwarten ist.
Drittens eine Schräglagenservosteuerung in tangentialer oder Umfangsrichtung nicht möglich.
Viertens ist der Entzerrer mit drei Abgriffen nicht in der Lage, die auf die Plattenschräglage zurückzuführende Verformung der Wiedergabewellenform hinreichend zu korrigieren.
Aus JP-A-60121546 und JP-A-61177650 ist ein optisches Plattengerät nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 bekannt.
Die vorliegende Erfindung entstand nach dem Studium der oben beschriebenen Probleme des bekannten optischen Plattengeräts. Es ist ein Ziel der Erfindung, diese Probleme wirksam zu lösen und ein optisches Plattengerät zur Verftigung zu stellen, das eine Informationsaufzeichnung mit höherer Aufzeichnungsdichte ermöglicht.
Dieses Ziel wird erfindungsgemäß durch ein optisches Plattengerät erreicht, wie es in Anspruch 1 definiert ist.
Gemäß vorliegender Erfindung wird die Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 mit der in dem Strahlengang angeordneten planparallelen transparenten Platte 54 so plaziert, daß ihre Neigung in Übereinstimmung mit der Neigung oder Schräglage der optischen Platte 42 verändert wird, so daß die Koma-Aberration beseitigt und die Verformung des auf der optischen Platte fo kussierten Lichtpunkts korrigiert wird. Dadurch wird die Neigung der transparenten planparallelen Platte 54 in radialer und tangentialer Richtung gesteuert und korrigiert. Die Neigung der planparallelen transparenten Platte 54 beispielsweise in radialer Richtung wird durch eine mechanische und eine optische Prozedur korrigiert. Die Neigung in tangentialer Richtung wird durch elektrische Maßnahmen so korrigiert, daß die Verformung der Wiedergabewellenform durch elektrische Signalverarbeitung korrigiert wird.
Wie oben beschrieben wurde, wird wenigstens eine der Neigungen der planparallelen transparenten Platte 54 in radialer oder tangentialer Richtung der optischen Platte 42 erfindungsgemäß durch eine kleine und im Vergleich zu einem Mechanismus zum Neigen der ganzen Konstruktion des optischen Abtasters leichte Bewegung gesteuert, so daß die Arbeitsgeschwindigkeit erhöht und der Aufbau des optischen Plattengeräts vereinfacht werden kann.
Die Neigungssteuerung der transparenten planparallelen Platte 54 kann durch einen aus einer Spule 59 und einem Magneten 60 bestehenden magnetischen Mechanismus gesteuert werden, so daß eine weitere Beschleunigung seiner Bewegung möglich ist.
Die Neigung der optischen Platte in radialer Richtung wird beispielsweise durch die Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 nach einem mechanischen und optischen Verfahren durchgefrihrt. Was die Neigung in tangentialer Richtung betrifft, so erfolgt die Korrektur durch elektrische Signalverarbeitung der reproduzierten verformten Welle, so daß die mechanische und optische Konstruktion miniaturisiert und gewichtssparend aufgebaut werden kann.
Bei der Plattenneigungs-Korrekturvorrichtung gemäß der Erfindung ist in dem Pfad des fokussierenden Lichtstrahls ein plattenförmiges transparentes Glied eingeftigt, das geneigt angeordnet ist und die durch die Schräglage der optischen Platte verursachte Koma-Aberration beseitigt. Deshalb ist das optische Plattengerät in der Lage, mit einem einfachen Aufbau eine Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche selbst bei relativ großer Neigung der optischen Platte mit Sicherheit zu verhindern, so daß die Aufzeichnungsdichte entsprechend verbessert wird und eine sichere Informationsaufzeichnung und Wiedergabe der aufgezeichneten Information möglich ist.
Bei dem optischen Plattengerät gemäß der Erfindung ist eine optische Kompensationsplatte oder eine elektrische Kompensationsschaltung vorgesehen, so daß selbst bei großer numerischer Apertur NA des Objektivs die durch eine Schräglage der Platte verursachte Koma-Aberration korrigiert oder die Verformung der reproduzierten Wellenform elektrisch korrigiert werden kann. Dies ermöglicht ein optisches Plattensystem mit hoher Aufzeichnungsdichte, das sehr ökonomisch ist und sehr zuverlässig arbeitet.
Es ist außerdem möglich, den zulässigen Wert der Plattenschräglage zu vergrößern, so daß Platten mit hoher Aufzeichnungsdichte preiswert hergestellt werden können.
Fig. 1(A) und 1(B) zeigen perspektivische Darstellungen und Kennlinien der Punktausbreitungsfunktion und der Linienausbreitungsfunktion bei einem Schräglagenwinkel von 0º,
Fig. 2(A) und 2(B) zeigen perspektivische Darstellungen und Kennlinien der Punktausbreitungsfunktion und der Linienausbreitungsftinktion bei einem Schräglagenwinkel von 0,1º,
Fig. 3(A) und 3(B) zeigen perspektivische Darstellungen und Kennlinien der Punktausbreitungsfunktion und der Linienausbreitungsfunktion bei einem Schräglagenwinkel von 0,2º,
Fig. 4(A) und 4(B) zeigen perspektivische Darstellungen und Kennlinien der Punktausbreitungsfunktion und der Linienausbreitungsftinktion bei einem Schräglagenwinkel von 0,30,
Fig. 5(A) und 5(B) zeigen Signalwellenformdiagramme, in denen das Augenmuster bei einer tangentialen Schräglage von 0º dargestellt ist,
Fig. 6(A) und 6(B) zeigen Signalwellenformdiagramme, in denen das Augenmuster bei einer tangentialen Schräglage von 0,3º dargestellt ist,
Fig. 7 zeigt eine Kennlinie der Abhängigkeit zwischen radialer Schräglage und Übersprechen.
Fig. 8 zeigt ein Blockschaltbild des Entzerrer mit drei Abgriffen,
Fig. 9(A) bis 9(C) zeigen Kennlinien zur Erläuterung der Eigenschaften des Entzerrers mit drei Abgriffen,
Fig. 10(A1) bis 10(C) zeigen Kennlinien zur Erläuterung des Entzerrers mit drei Abgriffen,
Fig. 11 (A1) bis 11(C) zeigen Kennlinien zur Erläuterung des Entzerrers mit drei Abgriffen,
Fig. 12 zeigt eine systematische Darstellung eines ersten Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 13 zeigt ein Diagramm zur Erläuterung des Prinzips zur Korrektur einer Koma-Aberration bei der Anordnung von Fig. 12,
Fig. 14 zeigt eine Frontansicht des der Blendenplatte 13 in Fig. 12,
Fig. 15 zeigt eine Frontansicht des Lichtempfangselements 14 in Fig. 12,
Fig. 16 zeigt eine systematische Ansicht eines zweiten Ausfuhrungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 17 zeigt eine Frontansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels der Blendenplatte 13 mit feinen Löchern,
Fig. 18 zeigt eine Frontansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels der Blendenplatte 13 mit Schlitzen,
Fig. 19 zeigt eine systematische Ansicht des dritten Ausftihrungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 20 zeigt eine perspektivische Darstellung des optischen Plattengeräts von Fig. 19,
Fig. 21 zeigt eine perspektivische Ansicht eines wichtigen Teils der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung,
Fig. 22 zeigt eine perspektivische Ansicht eines wichtigen Teils der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung, die eine Konstruktion nach Fig. 21 enthält,
Fig. 23 zeigt eine perspektivische Ansicht eines wichtigen Teils der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung, die eine Konstruktion nach Fig. 22 enthält,
Fig. 24 zeigt eine perspektivische Ansicht der Blattfeder der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung,
Fig. 25 zeigt eine perspektivische Ansicht eines anderen Ausführungsbeispiels der Blattfeder der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung,
Fig. 26 zeigt eine perspektivische Darstellung der Anordnung der Blattfeder in der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung,
Fig. 27 zeigt eine Darstellung des Korrekturvorgangs mit Hilfe der planparallelen transparenten Platte,
Fig. 28 zeigt eine systematische Ansicht eines Servoblocks in dem dritten Ausführungsbeispiel,
Fig. 29(A) bis 29(C) zeigen Darstellung des Sensors zur Detektierung des Neigungswinkels der transparenten planparallelen Platte,
Fig. 30 zeigt eine Kennlinie, aus der die Eigenschaften des Sensors zur Detektierung der Neigung der transparenten planparallelen Platte,
Fig. 31 zeigt eine systematische Ansicht der Konstruktion eines Schräglagen(Schrägstellung?)-Sensors,
Fig. 32 zeigt eine Seitenansicht des Schräglagensensors von Fig. 31,
Fig. 33 zeigt eine Kennlinie, in der das Schräglagen-Fehlersignal in Abhängigkeit von der Schräglage der Platte dargestellt ist,
Fig. 34 zeigt ein Blockschaltbild des vierten Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 35(A) bis 35(C) zeigen Kennliniendiagramme der Lichtausbreitungsfunktionen,
Fig. 36(A) bis 36(D) zeigen Kennlinien des in Fig. 34 dargestellten veränderbaren Entzerrers mit fünf Abgriffen,
Fig. 37(A) bis 37(C) zeigen Kennlinien der Gleichwert-Linienausbreitungsfunktionen eines Entzerrers,
Fig. 38 zeigt die Signaiwellenform von Augenmustern, die durch Korrektur mittels des Entzerrers mit drei Abgriffen gewonnen werden,
Fig. 39 zeigt ein Signalwellenformdiagramm, in dem Augenmuster dargestellt sind, die durch Korrektur mittels des veränderbaren Entzerrers mit fünf Abgriffen gewonnen werden,
Fig. 40 zeigt ein Kennliniendiagramm, in welchem die Abhängigkeit des Jitter-Histogramms des Entzerrers mit drei Abgriffen von der Plattenschräglage dargestellt ist,
Fig. 41 zeigt ein Kennliniendiagramm, in welchem die Abhängigkeit des jitter-Histogramms des Entzerrers mit fünf Abgriffen von der Plattenschräglage dargestellt ist,
Fig. 42 zeigt Kennlinien der Jitter-Varianz in Abhängigkeit von der tangentialen Schräglage,
Fig. 43(A) bis 43(C) zeigen Ansichten von Signalwellenformen, in denen Augenmuster bei einer tangentialen Schräglage von 0,3º dargestellt sind,
Fig. 44 zeigt ein Blockschaltbild des fünften Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 45 zeigt ein Blockdiagramm eines weiteren Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 46 zeigt ein Blockdiagramm eines weiteren Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung,
Fig. 47 zeigt ein Blockdiagramm eines weiteren Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung.
Anhand der anliegenden Zeichnungen werden verschiedene Ausführungsbeispiele der Erfindung im Detail erläutert.

(1) Erstes Ausführungsbeispiel

In Fig. 12 ist mit 1 die Gesamtstruktur eines Plattenwiedergabegeräts bezeichnet, das eine auf der optischen Platte 2 aufgezeichnete Information reproduziert. Die optische Platte 2 weist ein transparentes Substrat 3 auf, auf welchem eine Informationsaufzeichnungsfläche 4 ausgebildet ist, die durch eine Schutzschicht 5 geschützt wird.
Optische oder Lichtstrahlen LAL, die von der Seite des transparenten Substrats 3 eintreten, werden auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 der optischen Platte 2 fokussiert und ergeben einen reflektierten Lichtstrahl LA2. Auf der Basis dieses reflektierten Lichtstrahls LA2 kann die auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 aufgezeichnete Information reproduziert werden.
In dem Plattenwiedergabegerät 1 werden die Lichtstrahlen LA1 von einer Laserquelle 6 ausgesendet und in einer Kollimatorlinse 7 in parallele Lichtstrahlen umgewandelt. Die Lichtstrahlen LA1 werden durch ein Objektiv 8 auf die optische Platte 2 gerichtet.
In dem Plattenwiedergabegerät 1 werden die von der optischen Platte 2 reflektierten Lichtstrahlen LA2 durch das Objektiv 8 und den Kollimator 7 in dieser Reihenfolge zu einem Strahlentei-1er 9 geführt. Derstrahlenteiler 9 trennt die reflektierten Lichtstrahlen LA2 von den Lichtstrahlen LA1 und führt sie einem Lichtempfangselement 10 zu.
Das Plattenwiedergabegerät 1 extrahiert, wie oben beschrieben, aus den Ausgangssignalen SI des Lichtempfangselements 10 Taktsignale und führt auf der Basis dieser Taktsignale eine Verarbeitung durch, um die auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 aufgezeichnete Information zu reproduzieren. Das Objektiv 8 des Plattenwiedergabegeräts 1 kann mittels einer Servosteuerung auf der Basis des Ausgangssignals S1 des Lichtempfangselements 10 aufwärts und abwärts sowie nach rechts und nach links bewegt werden, um werden Spurfehler und Fokussierungsfehler des Plattenwiedergabegeräts 1 zu korrigieren.
Das Plattenwiedergabegerät 1 besitzt eine planparallele Platte 11 aus transparentem Material, die zwischen dem Kollimator 7 und dem Strahlenteiler 9 angeordnet ist. Durch Kippen der planparallelen Platte 11 wird die Koma-Aberration korrigiert.
Die Größe der Koma-Aberration kann durch den Koma-Aberrationskoeffizienten W31d bewertet werden. Der Koma-Aberrationskoeffizient W31d, der dann erzeugt wird, wenn die optische Platte 2 kippt, wird durch folgende Gleichung ausgedrückt
Hierin bedeuten Nd der Brechungsindex des transparenten Substrats 4, Td die Dicke des transparenten Substrats 4, θd der Neigungswinkel der optischen Platte 2 und NAO die Apertur des Objektivs 8.
Wenn die Neigung der optischen Platte 2 sehr klein ist, ändert sich nach Gleichung (1) der Wert der Koma-Aberration linear mit der Neigung.
Wenn in den Pfad des gebündelten oder fokussierten Lichtstrahls erfindungsgemäß die planparallele Platte 11 eingefügt ist, wird eine Koma-Aberration erzeugt. Der entsprechende Koma- Aberrationskoeffizient W31c wird durch die folgende Gleichung (5) ausgedrückt
Hierin bedeuten Nc der Brechungsindex der planparallelen Platte 11, Tc die Dicke der planparallelen Platte 11, θc die Neigung der planparallelen Platte 11 und NAc die numerische Apertur des Kollimators.
Wenn nun die planparallele Platte 1 geneigt wird, um den Wert der Koma-Aberration zu steuern, kann die auf der optischen Platte 2 erzeugte Koma-Aberration beseitigt und der Lichtpunkt auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 stets kreisförmig gehalten werden.
Wenn die planparallele Platte 11, wie in Fig. 13 dargestellt, geneigt wird, bewegt sich der Strahlpunkt P1 des optischen Strahls LA1 scheinbar auf den Punkt P2, so daß sich der optische Pfad ändert. Infolgedessen bewegt sich die Fokussierungsposition des Lichtstrahls LA1 auf der Seite der optischen Platte 2 von einem Punkt P3 zu einem Punkt P4.
Das heißt, durch Neigen der planparallelen Platte 11 kann die Koma-Aberration selbst dann beseitigt werden, wenn die optische Platte 2 geneigt ist.
In diesem Fall kann der Bewegungsabstand Ld des Strahlpunkts durch die folgende Gleichung (7) ausgedrückt werden
Deshalb ist der Lichtstrahl LAI, der von dem Objektiv 8 ausgeht, um einen Winkel θ1d geneigt, der durch die Gleichung (8) gegeben ist
Mit Fc ist hier die Brennweite des Kollimators 7 bezeichnet.
Wenn die optische Platte 2 um den Winkel θd geneigt ist, trifft der einfallende Lichtstrahl LA1 mit einem Neigungswinkel (θd - θ1d) auf die optische Platte 2. Der Koma-Aberrationskoeffizient W31d in der optischen Platte 2 ändert sich dabei auf den durch die folgende Gleichung (9) gegebenen Wert
Man erhält deshalb die folgende Gleichung (10), wobei die Beziehung zwischen den Gleichungen (5), (6), (8) und (9) benutzt wird
Es ist deshalb möglich, das Auftreten einer Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 zu verhindern, wenn die planparallele Platte 11 relativ zu der Neigung θd der optischen Platte 2 mit einer festen Vergrößerung geneigt wird, die durch das optische System des Plattenwiedergabegeräts 1 bestimmt wird.
Dies bedeutet in Kürze, daß das Auftreten von Koma-Aberrationen verhindert werden kann, wenn die Neigung der optischen Platte 2 detektiert wird und auf der Basis des Detektierungsergebnisses die planparallele Platte in der der Neigung oder Schräglage der optischen Platte 2 entgegengesetzten Richtung geneigt wird.
Es ist so, das Auftreten von Koma-Aberrationen zu verhindern, indem lediglich die planparallele Platte 11 des Plattenwiedergabegeräts 1 geneigt wird, d.h. jede Koma-Aberration läßt sich sicher und leicht verhindern, auch wenn die optische Platte stark schwankt.
Selbst wenn die optische Platte hohe Aufzeichnungsdichte hat, ist also eine effektive Reproduktion der aufgezeichneten Information mit Hilfe eines einfach aufgebauten Plattengeräts möglich.
Nach dem oben beschriebenen Korrekturprinzip ist zwischen dem Strahlenteiler 9 und dem Lichtempfangselement 10 der Strahlenteiler 12 angeordnet, der den reflektierten Lichtstrahl LA2 aufteilt.
In dem Plattenwiedergabegerät gemäß der Erfindung wird der abgetrennte reflektierte Lichtstrahl LA2 durch eine Blendenplatte 13 zu dem Lichtempfangselement 14 übertragen.
Wie Fig. 14 zeigt, kann die Blendenplatte 13 so ausgebildet sein, daß in der aus transparentem Material bestehenden planparallelen Platte eine kreisförmige Lichtabschirmregion AR in einer zu der Informationsaufzeichnungsfläche 4 konjugierten Position angeordnet wird.
Dies hat zur Folge, daß dann, wenn eine Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 auftritt, das Plattenwiedergabegerät 1 mit der beschriebenen Konstruktion eine mit der Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 übereinstimmende Koma-Aberration auf der Blendenplatte 13 erzeugen und die durchtretende Lichtmenge entsprechend der Größe der Koma-Aberration verändern kann.
Die Lichtempfangs fläche des Lichtempfangselements 14 ist, wie in Fig. 15 dargestellt, in vier Teile geteilt, die in Kombination ein Quadrat bilden. Sie ist so angeordnet, daß der zentrale Teil der Lichtabschirmregion AR der Blendenplatte 13 gegenüberliegt und die Richtungen der diagonalen Linien der Lichtempfangsfläche der radialen Richtung (Richtung quer zu den Aufzeichnungsspuren) bzw. der tangentialen Richtung (Richtung enilang der Aufzeichnungsspuren) entsprechen.
Subtraktionsschaltungen 15 und 16 subtrahieren die Ausgangssignale S1A und S1B der diagonalen Empfangsregionen ARA und ARB von den Ausgangssignalen S1C bzw. S1D der diagonalen Empfangsregionen ARC bzw. ARD und liefern die Subtraktionsergebnisse über Verstärkerschaltungen 17 und 18 an Spulen 19 bzw. 20.
Wenn den Spulen 19 und 20 ein vorbestimmter Treiberstrom zugeführt wird, kippen sie planparallele Platte 11 in radialer bzw. in tangentialer Richtung.
Wenn die planparallele Platte 11 des Plattenwiedergabegeräts 1 gekippt wird und dadurch das Auftreten einer Koma-Aberration auf der Blendenplatte 13 verhindert wird, kann das Auftreten einer Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 vermieden werden.
In dem Plattenwiedergabegerät 1 mit dem oben beschriebenen Aufbau wird dem von der Laserquelle ausgestrahlten Lichtstrahl LA1 von der planparallelen Platte 11 eine vorbestimmte Koma- Aberration mitgeteilt. Der Strahl wird dann von dem Kollimator 7 in einen parallelen Lichtstrahl umgewandelt, durchwandert das Objektiv 8 und wird auf der Informationsaufzeichnungs fläche 4 fokussiert. Der von der optischen Platte 2 reflektierte Lichtstrahl LA1 durchwandert den Strahlenteiler 9, das Objektiv 8 und die Kollimatorlinse 7 in der entgegengesetzten Reihenfolge des Lichtstrahls LAL. Nach der Trennung von dem Lichtstrahl LA1 wird der reflektierte Lichtstrahl LA2 zu dem Lichtempfangselement 10 geführt.
Auf diese Weise kann die auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 aufgezeichnete Information auf der Basis des Ausgangssignals S1 des Lichtempfangselements 10 reproduziert werden.
Der reflektierte Lichtstrahl LA2 wird außerdem durch den Strahlenteiler 12 zu der Blendenplatte 13 geleitet, wobei sein zentraler Bereich abgeschirmt wird, so daß sich die Menge des durchtretenden Lichts in Abhängigkeit von der Koma-Aberration ändert, und dann zu dem Lichtempfangselement 14 geführt.
In Subtrahierschaltungen 15 und 16 werden die Ausgangssignale S1A bis S1D des Lichtempfangselements 14 subtrahiert und dadurch die Koma-Aberration in der optischen Platte 2 detektiert.
Bei dem Plattenwiedergabegerät 1 gemäß der Erfindung wird die Neigung der planparallelen Platte 11 auf der Basis der Detektierungsergebnisse korrigiert, und die durch die Neigung der optischen Platte 2 erzeugte Koma-Aberration wird durch die Koma-Aberration der planparallelen Platte 11 korrigiert, so daß das Auftreten einer Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 4 wirksam vermieden werden kann.
Bei dem Plattenwiedergabegerät mit dem oben beschriebenen einfachen Aufbau wird die zwischen dem Kollimator und der Laserquelle angeordnete planparallele Platte geneigt, und die Koma-Aberration der planparallelen Platte löscht die Koma-Aberration der optischen Platte aus, so daß mit diesem einfachen Gerät jede Koma-Aberration zuverlässig korrigiert werden kann. Es ist deshalb möglich, die aufgezeichnete Information sicher und ohne Interferenz zwischen den codierten Signalen zu reproduzieren, selbst wenn die Informationsaufzeichnungsdichte auf der optischen Platte erhöht wird.

(2) Zweites Ausführungsbeispiel

In Fig. 16 sind die Teile, die Teilen von Fig. 12 entsprechen, mit den gleichen Bezugszeichen versehen wie dort. In dieser Zeichnungsfigur werden die Neigungen der optischen Platte 2 durch das Plattenwiedergabegerät nach dem zweiten Ausführungsbeispiel, das insgesamt mit 25 bezeichnet ist, direkt detektiert.
Das Plattenwiedergabegerät 25 besitzt eine lichtemittierende Diode 26. Der von dieser emittierte Lichtstrahl wird an der optischen Platte 2 reflektiert und zu dem Lichtempfangselement 14 geleitet.
Dadurch ändert sich die Lichtmenge des auf die Lichtempfangsregionen ARA bis ARD in dem Lichtempfangselement 14 des Plattenwiedergabegeräts 25 auftreffenden Lichtstrahls in Abhängigkeit von der Neigung der optischen Platte 2. Die Ausgangssignale der einzelnen Lichtempfangsregionen ARA bis ARD werden in den Subtrahierschaltungen 15 und 16 subtrahiert, so daß deren Ausgangssignale das Ergebnis der Detektierung der Neigung der optischen Platte in radia-1er Richtung und in Richtung der Aufzeichnungsspur beinhalten.
Auf einem Endbereich der planparallelen Platte 11 ist eine Spiegelfläche 11A ausgebildet. Der Lichtstrahl, der von einem lichtemittierenden Element 27 ausgestrahlt wird, das gegenüber der Spiegelfläche 11A installiert ist, wird an der Spiegelfläche 11A reflektiert und dem Lichtempfangselement 28 zugeführt.
Das Lichtempfangselement 28 hat den gleichen Aufbau wie das Lichtempfangselement 14, und die Ausgangssignäle der betreffenden Lichtempfangsregionen werden in den Subtrahierschaltungen 29 und 30 subtrahiert, um die Neigungen der planparallelen Platte 11 zu detektieren.
Die Subtrahierschaltungen 31 und 32 subtrahieren die Ausgangssignale der Subtrahierschaltungen 15, 30 bzw. 16, 29, die ihnen über Verstärkerschaltungen 33, 34 bzw. 35 und 36 zugeführt werden, um Neigungsfehler der optischen Platte 2 und der planparallelen Platte 11 zu detektieren, die in radialer Richtung bzw. in tangentialer Richtung (Richtung der Aufzeichnungsspur) gemessen werden und speisen die Spulen 20 und 19 auf der Basis der Detektierungsergebnisse.
Bei diesem optischen Plattengerät kann das Auftreten von Koma-Aberrationen auf der Informationsaufzeichnungsfläche verhindert werden, indem die planparallele Platte auf der Basis der Detektierungsergebnisse geneigt wird. Mit anderen Worten, es ist möglich, die Detektierungseergebnisse direkt zu gewinnen, so daß das Auftreten von Koma-Aberrationen im voraus verhindert werden kann.

(3) Ein weiteres Ausführungsbeispiel

Das erste und das zweite Ausführungsbeispiel des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung sind mit einer planparallelen Platte ausgestattet, die in radialer Richtung und in tangentialer Richtung (Richtung der Aufzeichnungsspur) gekippt werden kann. Es ist offensichtlich, daß die vorliegende Erfindung nicht auf diese Ausführungsformen des optischen Plattengeräts beschränkt ist und daß die planparallele Platte auch nur in einer dieser Richtungen, d. h. der radialen Richtung und der tangentialen Richtung (Richtung der Aufzeichnungsspur) gekippt werden kann.
Nach einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung kann, wie in Fig. 17 und 18 dargestellt, eine Blendenplatte verwendet werden, die zwei feine Löcher aufweist, die in einer Korrekturrichtung angeordnet sind, oder zwei Schlitze, die in einer Korrekturrichtung angeordnet sind, so daß das reflektierte Licht LA2 von den Lichtempfangsregionen nach Maßgabe der einzelnen feinen Löcher oder Schlitze aufgenommen wird.
Die planparallele Platte ist beim ersten und zweiten Ausführungsbeispiel des Plattenwiedergabegeräts zwischen der Kollimatorlinse und der Laserquelle angeordnet. Die Erfindung ist jedoch nicht auf diese spezielle Ausbildung des Plattenwiedergabegeräts beschränkt. Das heißt, die Stelle, an der die planparallele Platte eingefügt wird, kann unter verschiedenen Positionen in dem fokussierten oder gebündelten Lichtstrahl LA1 ausgewählt werden. So kann sie beispielsweise zwischen dem Objektiv und der optischen Platte angeordnet werden.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel wird der reflektierende Lichtstrahl LA2 von dem Lichtstrahl LAI in einer Position hinter der Kollimatorlinse getrennt, um eine Koma-Aberration zu detektieren. Die Erfindung ist jedoch nicht auf diese Konstruktion des Plattenwiedergabegeräts beschränkt. Es ist möglich, den reflektierten Lichtstrahl LA2 an verschiedenen Positionen von dem Lichtstrahl LA1 zu trennen, um die Koma-Aberration zu detektieren.
Weiterhin ist bei dem ersten und zweiten Ausführungsbeispiel eine einzelne planparallele Platte vorgesehen, die in radialer Richtung und in tangentialer Richtung gekippt werden kann. Es sei erwähnt, daß die Erfindung hierauf nicht beschränkt ist. Es können auch zwei planparallele Platten vorgesehen sein, die in radialer Richtung bzw. in Richtung der Aufzeichnungsspur gekippt werden.
Bei dem ersten und zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung wird der reflektierte Lichtstrahl LA2 zu dem Lichtempfangselement geführt und die aufgezeichnete Information durch die Änderung der Lichtmenge reproduziert. Die Erfindung ist jedoch nicht auf diese Anordnung beschränkt, sondern umfaßt auch Anordnungen mit einem fotografischen Element, das ein Bild der optischen Platte erzeugt, um die aufgezeichnete Information zu reproduzieren.
Bei einem bekannten Wiedergabesystem, bei dem mit Hilfe eines fotografischen Elements vergrößerte Bilder der Informationsaufzeichnungsfläche erzeugt werden, um die aufgezeichnete Information zu reproduzieren, tritt das Problem auf, daß die Reproduktion schwierig wird, wenn die optische Platte auch nur ein wenig gekippt oder geneigt ist. Die vorliegende Erfindung kann auf dieses bekannte System angewendet werden, um dieses Problem zu lösen und die aufgezeichnete Information effektiv zu reproduzieren.
Es sei darauf hingewiesen, daß das erste und das zweite Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Plattenwiedergabegerät betreffen, das ausschließlich für die Wiedergabe verwendbar ist. Die Erfindung ist jedoch nicht auf ein solches Plattenwiedergabegerät beschränkt sondern auf jedes optische Plattengerät anwendbar, bei dem ein Lichtstrahl mit einer vorbestimmten Zeitlage auf eine Informationsaufzeichnungsfläche gerichtet wird, um die gewünschte Information aufzuzeichnen und zu reproduzieren.

(4) Drittes Ausführungsbeispiel

Fig. 19 zeigt den Grundaufbau eines dritten Ausführungsbeispiels des optischen Plattengeräts gemaß der Erfindung. Fig. 20 zeigt das Erscheinungsbild des dritten Ausführungsbeispiels.
Das optische Plattengerät 41 nach dem dritten Ausführungsbeispiel tastet die auf der optischen Platte 42 aufgezeichnete Införmation ab.
Die optische Platte 42 besitzt ein transparentes Substrat oder ein transparentes Oberflächenteil 43, eine auf dem Oberflächenteil 43 ausgebildete Informationsaufzeichnungsfläche 44 und eine darauf angeordnete Schutzschicht 45.
Eine Lichtquelle 46, die beispielsweise von einem Halbleiterlaser gebildet wird, sendet einen Lichtstrahl LA11 aus, der über ein Linsensystem 47, ein Gitter 48, einen Strahlenteiler 49, einen Kollimator 50 und ein Objektiv 51 auf der Informationsaufzeichnungsfläche 44 der optischen Platte 42 fokussiert wird.
Das reflektierte Licht (z.B. Beugungslicht) LA12, das von der Informationsaufzeichnungsfläche 44 der optischen Platte 42 nach Maßgabe der aufgezeichneten Information reflektiert wird, wird von dem Strahlenteiler 49 getrennt und zu einer Lichtdetektierungseinheit 52 zur Wiedergabe der Informationssignale geleitet.
Zusätzlich zu den übrigen Konstruktionsteilen des optischen Plattengeräts ist zwischen der Kollimatorlinse 50 und dem Strahlenteiler 49 eine Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 angeordnet.
Diese Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 ist auf der Achse des Basisstrahls eines Lichtstrahls angeordnet, der in Richtung der optischen Platte 42 wandert. Mit anderen Worten, eine z. B. aus Flintglas mit einem hohen Brechungsindex hergestellte transparente planparallele Platte 54 der Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 ist in Richtung der Y-Achse des optischen Plattengeräts 41 angeordnet.
Diese planparallele Platte 53 kann sich um die erste und zweite Achse X bzw. Z, die sich senkrecht oder orthogonal kreuzen, d.h. in radialer Richtung und in tangentialer Richtung (Richtung der Aufzeichnungsspur) der optischen Platte drehen oder oszillieren und entsprechend der Neigung der optischen Platte 42 in ihrer radialen und tangentialen Richtung gesteuert werden.
Die transparente planparallele Platte 54 ist, wie in Fig. 21 bis 23 dargestellt, mittels einer scheibenförmigen Blattfeder 57 schwenkbar gelagert, deren Umfangsbereich zwischen zwei ringförmigen Basisteilen 55 und 56 aus einem ferromagnetischen Material, z. B. Eisen, sandwichartig eingefaßt ist.
Fig. 24 zeigt eine perspektivische Ansicht eines Beispiels für die Blattfeder 57, die durch Ausstanzen einer ringförmigen elastischen Metallplatte mit einem umlaufenden Ringteil 57A, einem mittleren Ringteil 578 und einem zentralen Ringteil 57C hergestellt ist. Der umlaufende Ringteil 57A und der mittlere Ringteil 578 sind beispielsweise durch Verbindungsteile 57Z1 und 57Z2 in Richtung der Z-Achse einstückig miteinander verbunden. Der mittlere Ringteil 57B und der zentrale Ringteil 57C sind durch Verbindungsteile 57X1 und 57X2 in Richtung der X-Achse miteinander verbunden, was dazu führt, daß der mittlere Ringteil 57B relativ zu dem umlaufenden Ringteil 57A um die X-Achse und die Z-Achse drehbar und der zentrale Ringteil 57C relativ zu dem umlaufenden Ringteil 57C schwingen kann.
Es ist auch möglich, die Blattfeder 57 beispielsweise durch Stanzen aus einer scheibenförmigen elastischen Metallplatte herzustellen, wie dies in Fig. 25 dargestellt ist. Die Blattfeder 57 besitzt ein Muster aus vier durchgehenden Öffnungen 57H1, 57H2, 57H3 und 57H4 in Form eines zunehmenden Mondes, wobei jede dieser durchgehenden Öffnungen wirbelförmig in regelmäßigem Abstand von der Peripherie der Blattfeder 57 zu ihrem Zentrum angeordnet sind. Auf diese Weise kann der zentrale Ringteil 57C relativ zu dem umlaufenden Ringteil 57A schwingen.
Zusätzlich ist ein Spiegelzylinder oder -spulenkörper 58 mit einer transparenten planparallelen Platte 54, die in seinem Innern koaxial angeordnet und befestigt ist, in den zentralen Ringteil 57C der Blattfeder 57 eingesetzt und dort befestigt, wie dies in Fig. 26 dargestellt ist.
Um die Peripherie des Spulenkörpers 58 ist eine Spule 59 gewickelt, die aus zwei Spulenteilen 59A und 59B besteht.
Auf der X-Achse und der Y-Achse sind Magnetpaare 60A1 und 60A1, 60B1 und 60B2 so angeordnet, daß sie sich in der Nahe der äußeren Peripherie in der betreffenden Spule 59A und 59B von Basisteilen 55 und 56 befinden und diesen gegenüberliegen, oder so, daß sie relativ zur radialen Richtung und tangentialen Richtung einander gegenüberliegen. Bei dieser Anordnung der Blattfeder dienen die Basisteile 55 und 56 aus ferromagnetischem Material als Joche für die Magneten.
Die Magnetpaare 60A1 und 60A2, 60B1 und 60B2, die einander zugewandt sind und die betreffenden Spulen 59A und 59B sandwichartig einfassen, sind so magnetisiert, daß die durch Auswahl der einzelnen Pole in Richtung senkrecht zu der optischen Grundachse entgegengesetzte Pole einander gegenüberliegen.
Durch geeignete Wahl der Stromrichtung für die Spulen 59A und 59B wird die Neigung der transparenten planparallelen Platte 54 in dem von den Magneten 60A1 und 60A2, 60B1 und 60B2 erzeugten Magnetfeld geändert. Diese Neigung ist die Neigung um die X-Achse und die Z- Achse in radialer Richtung und in tangentialer Richtung.
Die optische Strahlpunkt-Korrektureinnchtung 53 umfaßt einen Fotoreflektor 62 eines Sensors 61 zur Detektierung der Neigung der Korrektureinrichtung 53 oder des Neigungswinkels θc der transparenten planparallelen Platte 54. Der Fotoreflektor 62 umfaßt (nicht dargestellte) Fotodetektoren von lichtemittierenden Elementen, z. B. lichtemittierende Halbleiterdioden LED- oder PIN-Dioden.
An einem Befestigungsteil, z.B. den Basisteilen 55 und 56, sind zwei Paare von Fotoreflektoren 62 so angeordnet, daß sie auf der X-Achse und der Z-Achse einander gegenüberliegen und die bewegliche Spule 58 einschließen. An der Spule 58 sind reflektierende Spiegel 63 angeordnet, die einander zugewandt sind.
In der Nahe der optischen Platte 42 ist ein Sensor 64 zur Erfassung der Plattenschräglage angeordnet, wie dies in Fig. 19 dargestellt ist.
Die mit der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 ausgestattete optische Abtastvorrichtung 41 kann die Verformung der reproduzierten Signale verbessern, indem sie den optischen Strahlpunkt auf der Basis der Neigungen der optischen Platte 42 in radialer Richtung und tangentialer Richtung korrigiert.
Das heißt, der Koma-Aberrationskoeffizient W3ld, der durch eine Schräglage der optischen Platte 42 erzeugt wird, wird, wie oben erwähnt, durch die folgende Gleichung (11) ausgedrückt.
Aus dem obigen ergibt sich, daß die Größe der Koma-Aberrationen sich linear mit der Neigung der optischen Platte 42 ändert, wenn die Neigung sehr klein ist.
Wenn die transparente planparallele Platte 54 in den gebündelten Lichtstrahl eingefügt wird, wird ebenfalls eine Koma-Aberration erzeugt. Diese Koma-Aberration läßt sich durch die folgende Gleichung (12) ausdrücken:
Hierin bedeuten Nc den Brechungsindex der planparallelen Platte 54, Tc die Dicke der Platte 54, θc die Neigung der Platte 54 und NAC die numerische Apertur der Kollimatorlinse 50.
Wenn die planparallele Platte 54 gekippt wird, um die Größe der Koma-Aberration zu steuern und folgende Gleichung erfüllt ist,
(13) W3lc = -W31d
kann die auf der optischen Platte 42 erzeugte Koma-Aberration ausgelöscht und erreicht werden, daß die Form des Strahlpunkts auf der Informationsaufzeichnungsfläche 44 immer ein Kreis bleibt.
Wenn die transparente planparallele Platte 54, wie in Fig. 27 dargestellt, gekippt wird, ändert sich der Pfad des Lichtstrahls vor der optischen Platte 42 so, daß der Strahipunkt des Lichtstrahls von dem Punkt P1 zu dem Punkt P2 bewegt wird. Auf der Seite der optischen Platte 42 wird der Fokussierungspunkt des Lichtstrahls von dem Punkt P3 zu dem Punkt P4 bewegt.
Man erkennt, daß selbst dann, wenn die optische Platte 42 kippt, durch ein entsprechendes Kippen der transparenten planparallelen Platte 54 jede Koma-Aberration beseitigt werden kann.
Der Abstand Ld, über den sich der Strahlpunkt bewegt, wir durch die folgende Gleichung (14) ausgedrückt:
Dadurch wird der aus dem Objektiv 51 austretende Lichtstrahl LA1 um einen Winkel eid geneigt, der durch die folgende Gleichung (15) bestimmt werden kann.
worin Fc die Fokussierungsentfernung der Kollimatorlinse 22 bedeutet.
Wenn die optische Platte 42 um den Winkel θd gekippt wird, tritt der Strahl von der optischen Platte 42 mit einer Neigung (θd - θ1d) ein, und der Koma-Aberrationskoeffizient W3ld der optischen Platte 42 wird durch die folgende Gleichung (16) ausgedrückt:
Aus den Gleichungen (12), (13), (15) und (16) läßt sich die folgende Gleichung (17) gewinnen
Man erkennt, daß dann, wenn die optische Platte 42 um den Winkel θd gekippt wird, die planparallele Platte 54 mit einer durch das optische System des optischen Plattengeräts 41 bestimmten vorgegebenen Vergrößerung geneigt wird, so daß die Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 44 beseitigt wird.
Das heißt, das Auftreten einer Koma-Aberration auf der Informationsaufzeichnungsfläche 44 kann verhindert werden, indem lediglich die Neigung der optischen Platte 42 detektiert und die planparallele Platte 54 entsprechend dem Detektierungsergebnis in einer der Neigung der optischen Platte 42 entgegengesetzten Richtung gekippt wird.
Anhand des Blockdiagramms von Fig. 28 wird eine Servoschaltung erläutert, die diese Funktion ausführt. Diejenigen Teile und Komponenten in Fig. 28, die Teilen und Komponenten von Fig. 19 entsprechen, haben die gleichen Bezugszeichen wie dort, so daß in der folgenden Beschreibung auf ihre erneute Erläuterung verzichtet werden kann.
Ein Neigungssensor 64 detektiert die Größe der Neigung Od der optischen Platte 42. Dieser Neigungswert wird der Verarbeitungsschaltung 65 zugeführt, in der die Gleichung K θd mit einem Koeffizienten K berechnet wird, der durch die folgende Gleichung (18) ausgedrückt wird:
Das Ausgangssignal K θd und der von einem Sensor 51 zur Detektierung des Neigungswinkel der transparenten planparallelen Platte 54 ermittelte Neigungswinkel θc werden in einem Subtrahierer 66 subtrahiert. Das Ergebnis wird in einem Verstärker 58 phasenergänzt und verstärkt. Es wird den Spulen 59A und 59B der optischen Strahlpunkt-Korrektureinrichtung 53 aufgeprägt, um die Schräglage der transparenten planparallelen Platte 54 zu steuern.
Das heißt, wenn die Gleichung K θd = θc gewonnen oder die Gleichung (14) befriedigt ist oder die Gleichung (15) gilt und die Koma-Aberration des optischen Strahlpunkts auf der optischen Platte 42 durch die von der planparallelen Platte 54 verursachte Koma-Aberration ausgeglichen wird, so daß sie zu Null wird, wird das Ausgangssignal des Subtrahierers 66 gleich Null. Daraufhin wird der den Spulen 59A und 59B zugeführte Strom unterbrochen und die planparallele Platte 54 in der Schräglage fixiert.
Die Winkel θd und θc werden in radialer Richtung bzw. in tangentialer Richtung detektiert, und es fließt ein Strom durch die Spulen 59A und 59B, um die Neigungen in beiden Richtungen zu steuern.
Mit anderen Worten, wenn durch die Spulen 59A und/oder 59B ein Strom fließt, erzeugen die Magnetfelder der beiden Magneten 60A1 und 60A2 einander entgegengesetzte Kräfte um die Z- Achse der Spulen und die Magnetfelder der beiden Magneten 60B1 und 60B2 einander entgegengesetzte Kräfte um die X-Achse der Spulen, so daß die transparente planparallele Platte 54 um die durch die Stromrichtung bestimmten Neigungswinkel θc bzw. -θc gedreht wird und die Neigungen in radialer Richtung und in tangentialer Richtung gesteuert werden.
Fig. 29(A) bis 29(C) zeigen die Detektierung des Neigungswinkels θc der transparenten planparallelen Platte 54 mit Hilfe von Fotorefiektoren. Diese Zeichnungsfigur zeigt ein Paar von Fotoreflektoren 71 bzw. 72, die auf der X-Achse bzw. auf der Z-Achse angeordnet sind.
Fig. 29(B) zeigt die transparente planparallele Platte 54 in ihrer Position auf der Standardachse. Fig. 29(A) und 29(C) zeigen die Platte 54, wenn diese relativ zu der Z-Achse oder der X-Achse, die die Zeichenebene senkrecht schneidet, jeweils in entgegengesetzter Richtung um den Neigungswinkel θc gedreht ist. Auf der linken Seite von Fig. 29(A) und 29(C) sind die Fotoreflektoren 71 und 72 in einer Frontansicht dargestellt. In dieser Frontansicht sind ein lichtemittierendes Element LED und ein Fotodetektor 73 bzw. 74 erkennbar. Mit 75 ist der reflektierte Lichtpunkt des von der LED emittierten Lichtstrahls nach der Rückkehr von den reflektierenden Flächen 76 und 77 bezeichnet, die zusammen mit der planparallelen Platte 54 kippen können.
Wenn das optische Plattengerät mit dem beschriebenen Aufbau sich in der in Fig. 29(B) dargestellten Standardposition befindet und der reflektierte Lichtpunkt 75 gleichmäßig links und rechts auf den Detektor 74 auftrifft, sind die Detektor-Ausgangssignale S1 und S2 der beiden Reflektoren 71 und 72 gleich groß. Wenn dann die transparente planparallele Platte 54 nach einer Seite kippt, wie dies in Fig. 29 (A) oder 29(C) dargestellt ist, wird ein Bereich des auf die Fotodetektoren 71 und 72 auftreffenden reflektierten Lichtpunkts 75 größer als der andere, so daß S1 > S2 bzw. S1 < S2 wird. Die detektierten Ausgangssignale S1 und S2 werden in dem Subtrahierer 76 subtrahiert, und das Subtraktions-Ausgangssignal S3 wird als Prüfausgangssignal des Sensors 1 zur Detektierung des Neigungswinkels ausgegeben. Das in Fig. 30 durch eine starke Linie dargestellte Subtraktions- oder Detektor-Ausgangssignal S3 wird zu Null und kennzeichnet damit den Neigungswinkel θc = 0, wenn die durch gestrichelte Linien dargestellten Signale S1 und S2 gleich sind und die transparente planparallele Platte 54 sich auf der Standardachse befindet. Wenn sich der Neigungswinkel θc der transparenten planparallelen Platte 54 jedoch ändert, ändert sich das Detektor-Ausgangssignal S3 in einem Bereich von ±1.
Der Sensor 61 zur Detektierung der Schräglage oder Neigung liefert, wie oben beschrieben, das Detektor-Ausgangssignal S3 wird, das den Schräglagenwinkel θc der transparenten planparallelen Platte 54 ausdrückt.
In dem optischen Plattengerät gemäß der Erfindung kann auch ein Schräglagensensor 64 für die optische Platte 42 benutzt werden, der z. B. die in Fig. 31 und 32 dargestellte Konstruktion hat. Hier ist der Schräglagensensor mit einem Fotodetektor 81 ausgestattet, der z. B. aus einer PIN- Diode besteht und in radialer und tangentialer Richtung zweigeteilt ist, sowie mit einem lichtemittierendes Element 82 in Form einer Leuchtdiode (LED). Der Fotodetektor 81 und die LED 82 sind auf dem gemeinsamen Substrat 83 angeordnet, das z. B. in einem Formkörper 84 aus Harz installiert ist, der die Funktion einer Linse hat. Das lichtemittierende Element 82 sendet Licht zu der optischen Platte 42. Der von der optischen Platte reflektierte Lichtstrahl wird von dem Fotodetektor 81 aufgenommen.
Wenn sich der Fotodetektor 81 in der Standardposition befindet, trifft der reflektierte Lichtpunkt 84 genau ins Zentrum des zweigeteilten Fotodetektors 81. Wenn der Lichtpunkt sich zu einem der Enden des Fotodetektors 81 bewegt und sich in einem der beiden Teile befindet, bedeutet dies, daß die transparente planparallele Platte 54 eine Schräglage nach einer Seite hat. Die entsprechenden Ausgangssignale, die der von den beiden Teilen empfangenen Lichtmenge entsprechen, werden in der Subtrahier- oder Differenz-Berechnungsschaltung 85 berechnet. Auf diese Weise wird ein Detektorsignal oder ein Neigungsfehlersignal S4 abgetastet, das den Neigungswinkel θd in radialer oder tangentialer Richtung kennzeichnet.
Mit dem in Fig. 31 und 32 dargestellten Schräglagensensor 64 läßt sich ein Neigungsfehlersignal S4 gewinnen, das die Größe der Neigung θd der optischen Platte 42 in radialer oder tangentialer Richtung angibt, wie dies in Fig. 33 dargestellt ist.
Bei dem Ausführungsbeispiel von Fig. 31 sind die Teile des Neigungssensors 64 mit dem zweigeteilten Fotodetektor 81 in tangentialer Richtung und in radialer Richtung der optischen Platte 42 angeordnet, so daß der tangentiale Neigungswinkel und der radiale Neigungswinkel detektiert werden.
Anstelle des Fotodetektors 81 kann auch ein viergeteilter Fotodetektor verwendet werden, der in radialer und tangentialer Richtung unterteilt ist. In diesem Fall werden die Ausgangssignale der in den betreffenden Richtungen paarweise geteilten Abschnitte von zwei Differenz-Berechnungsschaltungen verarbeitet oder berechnet, so daß mit Hilfe nur eines Sensors die Neigungswinkel sowohl in tangentialer als auch in radialer Richtung ermittelt werden können.

(5) Viertes Ausführungsbeispiel

Bei dem oben beschriebenen dritten Ausführungsbeispiel, bei dem die Neigung der optischen Platte 42 oder die Schräglage der transparenten planparallelen Platte 54 der Lichtstrahlpunkt- Korrektureinrichtung 53 sowohl in radialer als auch in tangentialer Richtung ausgewertet werden, wird die Form der Strahlpunkte mechanisch und optisch korrigiert. Es ist jedoch auch möglich, beispielsweise die radiale Schräglage oder Koma-Aberration durch eine Neigung der transparenten planparallelen Platte 54 zu korrigieren. Was die tangentiale Schräglage betrifft, so kann die durch die Schräglagen verursachte Verformung der Wiedergabewellenform auch durch elektrische Signalverarbeitung korrigiert werden.
Bei der entsprechenden Konstruktion können wenigstens eine der in der Lichtstrahlpunkt-Kor rektureinrichtung 53 vorgesehenen Spulen sowie ein Magnetpaar und ein Paar von Fotoreflektoren entfallen. Die transparente planparallele Platte 54 kann so konstruiert sein, daß sie nur um eine Achse schwingt. Dadurch wird der mechanische Aufbau des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung einfach, kompakt und leicht.
Zur Realisierung dieser Funktionen kann das optische Plattengerät mit der in Fig. 34 dargestellten Filtereinrichtung 90 zur Bearbeitung der Schräglage in einer Richtung, z. B. in tangentialer Richtung, ausgestattet sein. In dieser Schaltung haben einige Teile die gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 31 bis 33. Die Schräglage in der anderen Richtung, d.h. in radialer Richtung wird mit Hilfe der gleichen Konstruktion verarbeitet wie bei dem dritten Ausführungsbeispiel, so daß in der folgenden Beschreibung eine Erläuterung dieser Konstruktion entfallen kann.
Bei dem vierten Ausführungsbeispiel wird, wie oben anhand von Fig. 31 bis 33 beschrieben, der von der optischen Platte 42 reflektierte Lichtstrahl durch ein System mit zweigeteiltem Fotodetektor in ein elektrisches Signal umgewandelt und der Pegel oder die Größe der Schräglage der optischen Platte 42 detektiert. Das so gewonnene elektrische Signal wird durch die Filtereinrichtung 90 auf der Basis eines Filterkoeffizienten gefiltert oder geformt, der durch die Größe der Neigung der optischen Platte 42 bestimmt ist. Aus dem resultierenden gefilterten Ausgangssignal werden die auf der optischen Platte 42 aufgezeichneten Daten reproduziert.
Die Filtereinrichtung 90 ist ein mehrstufiges transversales Filter. Die Filtereinrichtung 90 besitzt einen ersten Verarbeitungsschaltungsteil mit einem Transversalfilter 91 mit einem festen Gewichtungskoeffizienten als Filterkoeffizient zur Gewichtung der Größe der Plattenneigung und einer zweiten Verarbeitungsschaltung mit Transversalfiltern 92 und 93, deren Filterkoeffizient entsprechend der Größe der Plattenschräglage veränderbar ist.
Die Verzögerung τ&sub2; einer Verzögerungsschaltung des Transversalfilters wird durch die folgende Gleichung (19) gewonnen
Zusätzlich wird die Verzögerung τ&sub2; der Verzögerungsschaltung des Transversalfilters durch die folgende Gleichung (20) gewonnen
Hierin bedeuten λ die Wellenlänge der Lichtquelle, NA die numerische Apertur des Objektivs und ν die Lineargeschwindigkeit der optischen Platte.
Der veränderbare Filterkoeffizient der Verarbeitungsschaltung ist der Größe der Neigung der optischen Platte proportional.
Das Transversalfilter enthält eine Verarbeitungsschaltung mit mehreren nicht veränderbaren Futerkoeffizienten und eine Auswahleinrichtung zur Auswahl eines dieser nicht veränderbaren Filterkoeffizienten in Abhängigkeit von der Größe der Neigung der optischen Platte 42.
Bei dem in Fig. 34 dargestellten optischen Plattengerät wird die Sperrfrequenz fc der MTF des Lichtabtasters primär durch die folgende Gleichung (21) aus der Wellenlänge λ und der numerischen Apertur des Objektivs bestimmt
(21) fc = 2NA/λ
Wenn beispielsweise λ = 0,532 (um) und NA = 0,6 ist, wird hier fc gleich 2255,6/mm.
Das Transversalfilter 91 besteht aus Verzögerungsschaltungen 110 und 111 mit einer Einheitsverzögerungszeit τ&sub1;, Verstärkerschaltungen 112, 113 und 114 mit fester Verstärkung und mit Gewichtungskoeffizienten, die aufeinanderfolgend zu a, 1 und a gewählt sind, und einer Addierschaltung 115, die die Ausgangssignale der Verstärkerschaltungen 112, 113 und 114 addiert. Die Anordnung des Transversalfilters 91 ist mit derjenigen des anhand von Fig. 8 beschriebenen Entzerrers mit drei Abgriffen identisch.
Das Transversalfilter 92 ist in einer Stufe vor dem Transversalfilter 91 angeordnet und verbindet die Verzögerungsschaltung 116 mit der Einheitsverzögerung τ&sub0; mit einer Vorstufe des Transversalfilters 91. Es multipliziert das an dem Eingang der Verzögerungsschaltung 116 anliegende Signal in der Verstärkerschaltung 117, die einen veränderbaren Verstärkungsgrad aufweist, mit dem veränderbaren Gewichtungskoeffizienten b und liefert die in der Addierschaltung 115 addierte Zahl über eine Auswahlschaltung 118.
Das Transversalfilter 93 ist vor dem Transversalfilter 91 angeordnet und verbindet die Verzögerungsschaltung 119, das die Einheitsverzögerung τ&sub0; hat, mit einer nachgeordneten Stufe des Transversalfilters 91. Es multipliziert das am Eingang der Verzögerungsschaltung 119 anliegende Signal in der Verstärkerschaltung 120, die einen veränderbaren Verstärkungsgrad aufweist, mit dem veränderbaren Gewichtungskoeffizienten c und liefert das addierte Ergebnis über die Auswahlschaltung 118 an die Addierschaltung 115.
Das Transversalfilter 93 ist in einer nachgeordneten Stufe des Transversalfilters 91 angeordnet und verbindet die Verzögerungsschaltung 119, das die Einheitsverzögerung t&sub0; hat, mit einer nachgeordneten Stufe des Transversalfilters 91. Es multipliziert das am Eingang der Verzögerungsschaltung 119 anliegende Signal in der Verstärkerschaltung 120, die einen veränderbaren Verstärkungsgrad auiweist, mit dem veränderbaren Gewichtungskoeffizienten c und liefert das addierte Ergebnis über die Auswahlschaltung 118 an die Addierschaltung 115.
Das Auswahlsignal S11 für die Auswahlschaltung 118 wird in einem Komparator 121 erzeugt. Der Komparator vergleicht das Detektor-Ausgangssignal S12 des Schräglagensensor 64 mit einem Standardwert (Spannung) und liefert das Auswahlsignal S12, das eine logische 1 (oder 0) hat, wenn das Detektor-Ausgangssignal S12 positiv (oder negativ) wird. Wenn das Detektor-Ausgangssignal S12 des Schräglagensensors 64 positiv (oder negativ) ist, liefert die Auswahlschaltung 118 das Ausgangssignal der Verstärkerschaltung 120 (oder 117) mit veränderlichem Verstärkungsgrad an die Addierschaltung 115, so daß die Filterkennlinie der Filtereinrichtung 19 gesteuert und entsprechend geändert wird.
Das Verstärkungssteuersignal S13 für die Verstärkerschaltung 120 mit veränderbarem Verstärkungsgrad wird durch Verstärkung des Detektor-Ausgangssignals S12 des Schräglagensensors 64 in der Verstärkerschaltung 122 gewonnen. Das Verstärkungssteuersignal S14 für die Verstärkerschaltung 117 mit veränderbarem Verstärkungsgrad kann durch Invertieren des Verstärkungssteuersignals S13 in einer invertierenden Verstärkerschaltung 123 gewonnen werden.
Bei der oben beschriebenen Anordnung gemäß der Erfindung wird der Verzögerungswert der Filtereinrichtung 90 durch die folgende Prozedur bestimmt.
Die Verzögerung τ&sub2; der Filtereinrichtung 90 von Fig. 34 drückt die Verzögerung des originalen Signals (t = 0) aus und wird durch die Gleichung τ&sub2; = τ&sub1; + τ&sub0; bestimmt.
Die Verzögerung τ&sub2; ist nicht von der Art (kürzeste Wiederholungslänge der Pits) der Wiedergabesignale abhängig sondern nur von einem optischen Koeffizienten des optischen Abtasters.
Wenn die numerische Apertur eines Objektivs mit NA und die Wellenlänge der Lichtquelle mit λ bezeichnet wird, läßt sich der Mittenwert der Verzögerung τ&sub2; durch die folgende Gleichung (22) ausdrücken
Die Verzögerung τ&sub2; ist hier so gewählt, daß sie die durch die folgende Gleichung (23) gegebene Bedingung erfüllt, durch die die tatsächliche Wellenformung hinreichend beeinflußt wird.
Wenn beispielsweise die Wellenlänge λ = 0,532 (um) ist und NA = 0,6 ist, ist der Mittenwert der Verzögerung τ&sub2; gleich τ&sub2; = 0,73 (um), und der gewählte Verzögerungswert entspricht der Bedingung 0,54 (um) ≤ τ&sub2; ≤ 0,99 (um).
Der Verzögerungswert τ&sub2; ist in Gleichung (23) in Längeneinheiten ausgedrückt. In der praktischen elektrischen Schaltung ist er in Zeiteinheiten ausgedrückt. Wenn die Lineargeschwindigkeit mit v bezeichnet wird, kann der Verzögerungswert τ&sub2; umgewandelt werden, wie dies in der folgenden Gleichung (24) angegeben ist.
Der Mittenwert der Verzögerung τ&sub2; ist durch die folgende Gleichung (25) gegeben.
Wenn beispielsweise v = 6 (m/s), λ = 0,532 (um) und NA = 0,6 ist, wird der Mittenwert der Verzögerung τ&sub2; gleich 122 (ns). In der Praxis kann er jedoch gegenüber diesem Mittenwert verschoben werden, solange er nur in einem Bereich von 90 (ns) ≤ τ&sub2; ≤ 165 (ns) liegt.
Als nächstes wird ein Gewichtungskoeffizient nach der folgenden Prozedur bestimmt.
Um einen Gewichtungskoeffizienten für die Verzögerung t&sub2; zu gewinnen, verleiht man, wie in Fig. 34 dargestellt, den Abtastdaten h(t + τ&sub2;) einen Gewichtungskoeffizienten b und den. Abtastdaten h(t - τ&sub2;) einen Gewichtungskoeffizienten c.
Die Abtastdaten h(t + τ&sub2;) und h(t - τ²) werden nicht gleichzeitig benutzt, vielmehr wird in der Ausgangsschaltung eine von ihnen in Abhängigkeit von dem Vorzeichen des Detektor-Ausgangssignals S12 des Schräglagensensors 64 ausgewählt.
Die Werte der Gewichtungskoeffizienten b und c der Abtastdaten h(t + τ&sub2;) und h(t - τ&sub2;) werden auf den dem Absolutwert des Detektor-Ausgangssignals S12 des Schräglagensensors 64 proportionalen Wert eingestellt, und die Gewichtungskoeffizienten b und c der Abtastdaten h(t + τ&sub2;) und h(t - τ&sub2;) werden so geordnet, daß sie das originale Signal h(t) negativ aufwiegen.
Wie oben beschrieben wurde, hat ein von der Lichtquelle 46 ausgesendeter und von dem Objektiv 51 auf der optischen Platte 42 fokussierter Lichtpunkt auf der optischen Platte 42 eine gleichförmige Lichtverteilung. Die Lichtintensitätsverteilung der Beugungsbilder, die durch die kreisförmige Öffnung ohne Fokussierungsdifferenz gewonnen werden, läßt sich durch die folgende Gleichung (26) als primäre Bessel-Funktion ausdrücken, die in Fig. 35(A) dargestellt ist.
Sie wird als Luftring oder Luftscheibe bezeichnet, und ihre hellen Punkte liegen bei ν = 0, ν = 1,64π, ν = 2,69π und ν = 3,51π ... und ihre dunklen Punkte (I = 0) bei ν = 1,22π, ν = 2,23π, ν = 3,23π ...
Wenn die Lichtintensitätsverteilung auf der optischen Scheibe 42 durch die Gleichung (26) ausgedrückt wird (wobei die numerische Apertur des Objektivs des Abtasters mit NA, die Wellenlänge der Lichtquelle mit λ und die Länge auf der Platte 42 mit X bezeichnet wird), läßt sich die Beziehung zwischen ν und X durch die folgende Gleichung (27) ausdrücken:
Dementsprechend sind die durch die folgende Gleichung (28) ausgedrückten Punkte helle Punkte und die durch die Gleichung (29) ausgedrückten Punkte dunkle Punkte.
Der Verzögerungswert der Filtereinrichtung 90 (Fig. 34) wird dementsprechend als ein Wert bestimmt, der in dem Bereich von Gleichung (23) liegt.
Deshalb kann das Filterausgangssignal der Filtereinrichtung 90, wie in Fig. 35(B) dargestellt, durch eine sekundäre Punktintensitätsverteilung oder Punktausbreitungsfünktion IPSF ausgedrückt werden. Durch Gewichten der Punktintensitätsverteilungsfünktion oder Punktausbreitungsfünktion nach ihrer Projektion auf eine einzige Achse kann die Punktausbreitungsverteilung als ILSF (Linienausbreitungsfünktion) ausgedrückt werden.
Das System mit der optischen Platte 42 mit einer Achse oder Spur, entlang derer ein Lichtpunkt bewegt wird, um Signale auszulesen, das von einer solchen Linienausbreitungsfunktion Gebrauch macht, ermöglicht ein relativ leichtes Erfassen des Phänomens.
Die in Fig. 35(B) dargestellte Linienausbreitungsfünktion hat die in Fig. 35(A) dargestellte Kennlinie der Verteilung der Hell- und Dunkelpunkte. Sie nimmt in diesem Fall sehr kleine Werte an und wird selbst in den Dunkelpunkten nicht zu Null.
Wenn die optische Platte 42 jedoch, wie oben beschrieben, eine Schräglage auiweist und deshalb relativ zur optischen Achse des Objektivs geneigt ist, werden die in den Gleichungen (1) und (2) dargestellten Koma-Aberrationen und die in Fig. 2, 3 und 4 dargestellten unsymmetrischen Seitenmaxima erzeugt. Wie oben in Verbindung mit Fig. 5 und 6 erläutert wurde, läßt sich die Wellenverformung in dem Entzerrer mit drei Abgriffen nicht beseitigen.
Das in Fig. 34 dargestellte Ausführungsbeispiel ist als Entzerrer mit fünf Abgriffen aufgebaut, um unsymmetrische Abschnitte um τ&sub2; zu beseitigen, die sich mit dem Entzerrer mit drei Abgriffen nicht beseitigen lassen.
Das heißt, vor der Korrektur durch den Entzerrer mit fünf Abgriffen hat die linear dargestellte Ausbreitungsfünktion das in Fig. 36(A) dargestellte unsymmetrische Seitenmaximum. Wenn eine Überlagemngskorrektur der Seitenmaxima mit Hilfe des Entzerrers mit fünf Abgriffen vorgenommen wird, wie dies in Fig. 36(B) für den Fall dargestellt ist, daß der Koeffizient von h(t - τ&sub2;) gleich Null ist, erhalt man nach Korrektur durch den Entzerrer mit fünf Abgriffen die in Fig. 36(C) und 36(D) gezeigte lineare bzw. logarithmische Darstellung, die eine Kennlinie mit geringer Breite bildet. Man erkennt, daß die unsymmetrischen Seitenmaxima wirksamer beseitigt werden als mit dem Entzerrer mit drei Abgriffen.
Der Mittenwert der Unsymmetrie ist hier τ&sub2;, und dies ist auch der Verzögerungswert. Er wird durch die Gleichung (22) ausgedrückt.
Der Grund hierfür liegt darin, daß die Ausbreitungsfünktion auf der Oberfläche des Objektivs des Abtasters der optischen Platte 42 keine vollständig gleichförmige Verteilung zeigt sondern eine Gauß'sche Verteilung, die durch folgende Gleichung (30) ausgedrückt wird:
Wenn man davon ausgeht, daß die Spurrichtung der optischen Platte 42 die X-Richtung und der Radius des Objektivs r ist, wird nimmt ein Index r/ωx, der die Gleichförmigkeit der Ausbreitungsfünktion angibt, einen Wert von etwa 0,2 bis 0,8 an. Es ist vorstellbar, daß er behandelt werden kann wie die Beugung durch eine kreisförmige Öffnung mit fast gleichförmiger Ausbreitungsfunktion oder Intensitätsverteilung
Als nächstes werde die Wirkung des Gewichtungskoeffizienten betrachtet. Fig. 37(A), 37(13) und 37(C) zeigen Linienausbreitungsftinktionen in fünktioneller Darstellung für die Falle, daß die Plattenschräglage 0º, 0,1º, 0,2º bzw. 0,3º beträgt, und zwar für den Fall "optisches System allein", "fester Entzerrer mit drei Abgriffen" bzw. "veränderbarer Entzerrer mit fünf Abgriffen".
Wenn man den Fall "optisches System allein" von Fig. 37(A) mit dem Fall "fester Entzerrer mit drei Abgriffen" von Fig. 37(B) vergleicht, sieht man, daß das Verhältnis zwischen dem Wert der durch die Plattenschräglage vergrößerten Seitenmaxima und dem zentralen Spitzenwert und dem Wert der Plattenschräglage im wesentlichen zu eins proportional ist.
Wenn für den Koeffizient ein Wert gewählt wird, der der Größe der Plattenschräglage proportional ist, nachdem der Koeffizient für das Seitenmaximum einer Plattenschräglage von wenigstens beispielsweise 0,3º bestimmt wurde, erkennt man, daß es möglich ist, die Auswirkung der Unsymmetrie der Seitenmaxima zu verkleinern oder zu vergrößern. Wenn beispielsweise die Plattenschräglage 0º ist, wird der Koeffizient Null.
In dem Fall des "veränderbaren Entzerrers mit fünf Abgriffen", der in Fig. 37(C) dargestellt ist, kann der Gewichtungskoeffizient der Plattenschräglage proportional gemacht werden, wobei man als Ergebnis trotz der Plattenschräglage eine Verkleinerung des Seitenmaximums erhält.
Es genügt hier, einen d&r Werte +τ&sub2; und -τ&sub2; für die Gewichtungsprozedur zu verwenden. Die Auswahl von +τ&sub2; und -τ&sub2; wird entsprechend der Richtung der Plattenschräglage festgelegt. Er wird auf einer Seite gewählt, an der das Seitenmaximum ausgebildet wird.
Als nächstes sei das Ausführungsbeispiel der Erfindung mit praktischen Zahlen erläutert.
Die Konstanten des Lichtabtasters der optischen Platte sind
λ = 0,532 (um), NA = 0,6, r/ωx = 0,7, r/ωy = 0,7.
Die Konstanten des Entzerrers mit drei Abgriffen sind
τ&sub1; = 0,2 (um), A = -0,2.
Wenn τ&sub2; = 0,73 (um) und die Lineargeschwindigkeit 6 (m/s) ist, ist die zeitliche Verzögerung
τ&sub1; = 33 (ns), τ&sub2; = 122 (ns)
Hierin wird der Gewichtungskoeffizient, der durch die Plattenschräglage geändert werden soll, b = c = -2 θ :θ (θ(º)).
Wenn beispielsweise θ = 0,1º ist, erhält man b = c = -0,02.
Wenn θ = 0,2º ist, erhält man b = c = -0,04.
Wenn θ = 0,3º ist, erhält man b = c = -0,06.
In Fig. 38 und 39 sind die Augenmuster dargestellt, die man erhält, wenn die obigen Konstanten gewählt werden, der Wert der Plattenschräglage -0,3º bis +0.3º beträgt und nur der herkömmliche Entzerrer mit drei Abgriffen bzw. das veränderbare Transversalfilter mit fünf Abgriffen verwendet wird. Die Jitter-Histogramme sind in Fig. 40 und 41 dargestellt.
Fig. 42 zeigt eine Grafik, in der die Abszisse die Schräglage der optischen Platte in tangentialer Richtung und die Ordinate die schwankenden Streuwerte (Wert der Standardabweichung) angeben, die von einem Fenster T beherrscht wird. In der Grafik zeigt eine Kurve K1 den Fall ohne Entzerrer, die Kurve K2 den Fall mit dem Entzerrer mit drei Abgriffen und die Kurve K3 den Entzerrer mit fünf Abgriffen.
Aus Fig. 42 erkennt man, daß der Jitter relativ zu der Plattenschräglage erfindungsgemäß kleiner wird, so daß die Detektierung der Signale erleichtert wird.
Das Ausgangssigiial des veränderbaren Entzerrers gemäß der Erfindung, das durch die obigen Operationen gewonnen wird, wird einer (nicht dargestellten) Datenwiedergabeschaltung des optischen Plattengeräts 41 zugeführt. Auf diese Weise werden die auf der optischen Platte 42 gespeicherten Daten reproduziert.
Die Wiedergabewellenform (Augenmuster), die man bei einer tangentialen Schräglage von 0,3º mit dem optischen Plattengerät 41 erhält, ist, wie in Fig. 43(C) dargestellt, wenig verformt im Vergleich zu dem Augenmuster für den in Fig. 43(A) dargestellten Fall, in dem kein Entzerrer benutzt wird, oder zu dem Augenmuster für den in Fig. 43(B) dargestellten Fall, bei dem der herkömmliche Entzerrer mit drei Abgriffen verwendet wird. Dies führt dazu, daß die Signale leicht extrahiert werden können.
Bezüglich der elektrischen Korrektur durch die in Fig. 34 dargestellte Filtervorrichtung 90 lassen sich folgende Wirkungen erzielen.
Selbst bei einer großen numerischen Apertur NA des Objektivs kann man die Verformung der wiedergegebenen Welle, die durch die von der Plattenschräglage erzeugte Koma-Aberration verursacht wird, elektrisch korrigieren, so daß man ein optisches Plattensystem erhält, das billiger ist und eine hohe Aufzeichnungsdichte erlaubt.
Es ist zweitens möglich, die Verformung in der reproduzierten Wellenform elektrisch zu korrigieren, die von der durch die Plattenschräglage erzeugte Koma-Aberration aufgrund der großen numerischen Apertur NA verursacht wird, so daß man ein sehr zuverlässiges optisches Plattensystem mit hoher Aufzeichnungsdichte erhält.
Da die mögliche oder zulässige Plattenschräglage größer werden kann, ist es drittens möglich, ein optisches Plattengerät mit hoher Aufzeichnungsdichte zu schaffen, das mit einer optischen Platte arbeitet, die billig herzustellen ist, obwohl sie eine hohe Aufzeichnungsdichte besitzt.

(6) Weitere Ausführungsbeispiele

Fig. 44 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des in Fig. 34 dargestellten optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung. Diejenigen Teile, die Teilen von Fig. 34 entsprechen, haben die gleichen Bezugszeichen wie dort. Man sieht in Fig. 44, daß die Teile oder Glieder des in Fig. 8 dargestellten Entzerrers EQ mit drei Abgriffen fehlen. Das dargestellte Ausführungsbeispiel wird beispielsweise in einem Compact-Disc-Gerät verwendet.
Man erhält die in Fig. 44 dargestellte Filtereinrichtung 90, indem man die Verzögerungsschaltun gen 110 und 111 mit dem Einheitsverzögerungswert τ&sub1; mit den in Fig. 34 dargestellten Verzögerungsschaltungen 116 und 119 mit dem Einheitsverzögerungswert τ&sub0; kombiniert. Der Aufbau der Filtereinrichtung 90 ist mit dem Aufbau identisch, bei dem diese Verzögerungsschaltungen durch die Verzögerungsschaltungen 125 und 126 mit einem Einheitsverzögerungswert τ&sub2; (= τ&sub1;+τ&sub0;) ersetzt sind. Fig. 45 zeigt eine weitere Ausführungsform des Beispiels von Fig. 34. Die Konstruktion der Filtereinrichtung 90 in dem Ausführungsbeispiel von Fig. 45 entsteht dadurch, daß man die Verzögerungsschaltungen 110 und 111 mit dem Einheitsverzögerungswert τ&sub1; durch zwei Verzögerungsschaltungen 1101, 1102 und 1111, 1112 mit den Einheitsverzögerungswerten τa&sub1; bzw. τa&sub2; (τ&sub1; = τa&sub1;+τa&sub2;) in Fig. 34 ersetzt, wobei entsprechende Teile mit den gleichen Bezugszeichen versehen sind. Man erhält deshalb an den Abgriffen die Ausgangssignale h(t + τa&sub2;), h(t + τ a&sub1;), h(t), h(t - τa&sub1;), h(t - τa&sub2;) von fünf Abgriffen, obwohl der Entzerrer drei Abgriffe hat. Diese Ausgangssignale können den Addierschaltungen 115 über Verstärkerschaltungen a2, a1, 1, a1, a2 zugeführt werden.
Auf diese Weise läßt sich die Genauigkeit der Detektorsignale verbessern, indem lediglich die Zahl der Abgriffe des Entzerrers mit drei Abgriffen vergrößert wird.
Wenn die Zahl der Abgriffe des Entzerrers mit drei Abgriffen auf mehr als vier vergrößert wird, kann man die gleiche Wirkung erzielen wie bei den früheren Ausführungsbeispielen
Fig. 46 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des optischen Plattengeräts von Fig. 44, bei dem die entsprechenden Teile mit den gleichen Bezugszeichen versehen sind wie in Fig. 44. Gegenüber dem optischen Plattengerät von Fig. 44 sind die Verstärkerschaltungen 117 und 120 mit veränderbarem Verstärkungsgrad durch Verstärkerschaltungen 1171, 1172, 1173 und 1201, 1202, 1203 mit fester Verstärkung ersetzt, die den Verstärkungsgrad b1, b2, b3 bzw. c1, c2, c3 haben. Die Ausgangssignale dieser Verstärkerschaltungen 1171, 1172, 1173 und 1201, 1202, 1203 werden durch die Auswahlschaltungen 1174 und 1204 mit den Verstärkungssteuersignalen S14 und S13 ausgewählt, um Abgriff-Ausgangssignale zu gewinnen, die entsprechend den Auswahlsignalen aus den Auswahlschaltungen 1174 und 1204 gewichtet sind.
Mit der in Fig. 46 dargestellten Konstruktion des optischen Plattengeräts gemäß der Erfindung lassen sich die gleichen Funktionen und Wirkungen erzielen wie mit den in Fig. 44 dargestellten Verstärkerschaltungen 117 und 120 mit veränderlicher Verstärkung.
Fig. 45 zeigt weitere Varianten des Ausführungsbeispiels von Fig. 34. Man erhält die Filtereinrichtung 90 des in Fig. 45 dargestellten optischen Plattengeräts, indem man die veränderbaren Verstarkerschaltungen 117 und 120 von Fig. 34 durch die festen Verstärkerschaltungen 1171, 1172, 1173 und 1201, 1202, 1203 ersetzt, die den festen Verstarkungsgrad b1, b2, b3 bzw. cl, c2, c3 haben. Die Ausgangssignale der festen Verstärkerschaltungen 1171, 1172, 1173 und 1201, 1202, 1203 werden durch Auswahischaltungen 1174 und 1204 mit den Verstärkungssteuersigna len S14 und S13 ausgewählt. Die Auswahlschaltung 1174 und 1204 liefern Abgriff-Ausgangssignale, die entsprechend den Verstärkungsauswahlsignalen gewichtet sind.
Funktion und Wirkung des in Fig. 47 dargestellten Systems entsprechen den in Fig. 34 dargestellten Verstärkerschaltungen 117 und 120 mit veränderbarer Verstärkung.
Infolgedessen erreicht man erfindungsgemäß mit einer einfachen Konstruktion "ohne Entzerrer"im wesentlichen die gleichen Wirkungen wie bei dem oben beschriebenen optischen Plattengerät.
Bei den in Fig. 46 und 47 dargestellten Ausführungsbeispielen besitzen die Auswahlschaltungen 1174 und 1204 vier schaltbare Anschlüsse, einschließlich eines Eingangsanschlusses, dem kein Eingangssignal zugeführt wird. Was die Anzahl der Schaltstellungen betrifft, kann es nützlich sein, wenn zwei und weitere zwei eine Nullstufe enthalten.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf das optische Plattengerät 41 mit der oben beschriebenen Konstruktion beschränkt, sondern läßt sich auf verschiedene Konstruktionen anwenden.
Insbesondere lassen sich die betreffenden Verzögerungsschaltungen und Verstärkerschaltungen, die die in dem optischen Plattengerät gemäß der Erfindung verwendeten veränderbaren Entzerrer bilden, auf Systeme mit digitaler Signalverarbeitung oder mit analoger Signalverarbeitung anwenden.
Die vorliegende Erfindung läßt sich bei unterschiedlichen Typen von Informationsaufzeichnungs- oder -speichergeräten benutzen, wie Computerspeichern, Aufzeichnungsvorrichtungen für Musikinformationen und Speichergeräten für Bildinformationen.

Claims

1. Gerät (41) für optische Platten, in dem ein Lichtstrahl (LA11) einer Lichtquelle (46) durch ein Objektiv (51) und durch eine transparente Fläche (43) einer optischen Platte (41) auf eine Informationsaufzeichnungsfläche (44) der optischen Platte (41) gelenkt und dort fokussiert wird,

mit einer Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung (53) mit einer planparallelen transparenten Platte (54), die um eine erste Achse (X) drehbar gelagert ist, wobei die planparallele transparente Platte (54) in dem Lichtpfad des Lichtstrahls (LA11) angeordnet ist,

dadurch gekennzeichnet,

daß die planparallele transparente Platte (54) ferner um eine zweite Achse (Z) drehbar gelagert ist, wobei die erste und die zweite Achse (X, Z) eine Standardfläche für die Anordnung der optischen Platte (42) senkrecht kreuzen,

daß die Lichtstrahlpunkt-Korrektureinrichtung (53) ferner wenigstens zwei Paare aus jeweils einer Spule (59) und einem Magneten (60), die magnetisch in Beziehung zueinander stehen, wobei eine Spule und der zugehörige Magnet auf einer der Seiten der planparallelen transparenten Platte (54) angeordnet sind, sowie ein Befestigungsglied umfaßt, das der planparallelen transparenten Platte (54) gegenüberliegt,

wobei der Strom für die Spulen (59) in Abhängigkeit von der Neigung der optischen Platte (32) gegenüber der Standardfläche der Anordnung so gesteuert wird, daß die Neigung der planparallelen transparenten Platte (54) justiert und dementsprechend die Form des Strahlpunkts auf der lnformationsaufzeichnungsfläche (44) der optischen Platte (42) korrigiert wird.

2. Gerät für optische Platten nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Wiedergabeeinrichtung (62) zur Umwandlung des von der optischen Platte (42) reflektierten Lichts in ein elektrisches Signal mit Hilfe eines zweigeteilten Systems, um eine Neigung oder Schräglage der optischen Platte (42) durch Drehung um die erste Achse (X) oder die zweite Achse (Z) entlang der Standardfläche der optischen Platte (42) zu detektieren, wobei das elektrische Signal durch eine Filtereinrichtung (90) auf der Basis eines Filterkoeffizienten gefiltert wird, der entsprechend der Größe der Schräglage der optischen Platte (42) beschränkt ist, wobei das Ergebnis als Ausgangssignal ausgegeben und die auf der optischen Platte (42) aufgezeichnete Information entsprechend diesem Ausgangssignal wiedergegeben wird.

3. Gerät für optische Platten nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,

daß die Filtereinrichtung (90) aus einem mehrstufigen Transversalfilter (91-93) zusammengesetzt ist, wobei der Verzägerungswert τ&sub2; einer Verzägerungsschaltung des Transversalfilters (91-93) durch die folgende Gleichung eingeschränkt wird:

worin λ die Wellenlänge der Lichtquelle (46) und NA die numerische Apertur des Objektivs (51) bedeuteh.

Gerät für optische Platten nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrektureinrichtung (53) einen Fotoreflektor (64) zur Detektierung des Neigungswinkels der planparallelen transparenten Platte (54) aufweist.