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GEBIET DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich im Allgemeinen auf optische Sensoren
und insbesondere auf eine Integratorschaltung und ein Verfahren zum
Umsetzen eines photoerzeugten Eingangsstroms in ein Ausgangsspannungssignal.
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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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Optische
Sensoren werden in einer großen Anzahl
von Anwendungen verwendet, z. B. in Abtast- und Digitalisierungssystemen,
optischen Zeigevorrichtungen und Abbildungsvorrichtungen. Optische Sensoren
arbeiten im Allgemeinen durch das Erfassen elektromagnetischer Strahlung
und das Erzeugen eines elektrischen Signals, das der Intensität der elektromagnetischen
Strahlung entspricht, die auf den optischen Sensor einfällt. Im
Allgemeinen werden mehrere optische Sensoren verwendet, wobei sie
oft in Gruppen geometrisch angeordnet sind, wobei jeder einzelne
optische Sensor einem jeweiligen Bildpunkt der Gruppe entspricht.
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Jeder
optische Sensor umfasst typischerweise einen Photodetektor oder
eine Photodetektions-Vorrichtung, z. B. eine Photodiode oder einen Phototransistor,
um die elektromagnetische Strahlung in ein elektrisches Signal umzusetzen.
Ein spezifischer Typ des optischen Sensors enthält ferner eine Integratorschaltung,
die der Photodetektions-Vorrichtung zugeordnet ist. In einem derartigen Typ
des optischen Sensors erzeugt der Photodetektor einen Photostrom,
dessen Wert eine Funktion der elektromagnetischen Energie ist, die
auf den Photodetektor einfällt,
wobei dieser Photostrom durch die Integratorschaltung über die
Zeit integriert wird, d. h. umgesetzt wird, um eine Ausgangsspannung
zu erzeugen.
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Es
sind bereits optische Sensoren bekannt, die eine passive Integratorschaltung
enthalten. In einem derartigen passiven optischen Sensor sind die als
der Photodetektor verwendete Photodiode (ebenso wie ihre zugeordnete
Sperrschichtkapazität
und die mit ihr verbundene parasitäre Kapazität) anfangs auf eine hohe Sperrspannung
vorgespannt. Die Photodiode erzeugt einen Photostrom, der die Kapazität entlädt und dadurch
eine Abnahme der Spannung verursacht. Die Ausgangsspannung für diesen
Typ des optischen Sensors ist im Allgemeinen in Bezug auf die integrierte
Ladung nichtlinear, weil die Diodenkapazität eine Funktion der Diodenspannung
ist. Ein weiterer Nachteil des obigen passiven optischen Sensors
liegt in der Tatsache, dass die integrierende Kapazität (die in
diesem Fall durch die Kapazität
der Photodiode und die parasitäre
Kapazität
definiert ist) in erster Linie durch die Größe der Photodiode bestimmt
ist. Demgemäß kann die
Empfindlichkeit nicht vergrößert werden,
indem die Größe der Photodiode vergrößert wird,
weil die Kapazität
etwa proportional zunimmt.
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Es
sind außerdem
aktive optische Sensoren bekannt, die einen Photodetektor (typischerweise eine
Photodiode) umfassen, der an eine aktive Integratorschaltung gekoppelt
ist, die im Wesentlichen einen Operationsverstärker, der einen an eine Referenzspannung
gekoppelten nichtinvertierten Eingang, einen an die Photodiode gekoppelten
invertierenden Eingang und einen Ausgang besitzt, und einen integrierenden
Kondensator, der über
den Ausgang und den invertierenden Eingang des Operationsverstärkers geschaltet
ist, umfasst.
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Ein
verbesserter optischer Sensor und eine verbesserte Integratorschaltung
werden im
US-Patent Nr. 6.031.217 vorgeschlagen.
Gemäß diesem Patent
umfasst der optische Sensor einen Photodetektor (vorzugsweise eine
Photodiode), der eine Ausgabe besitzt, die proportional zur Intensität der auf den
Photodetektor einfallenden elektromagnetischen Strahlung ist, und
eine aktive Integratorschaltung, die mit dem Ausgang des Photodetektors
gekoppelt ist, um die Ausgabe des Photodetektors über die
Zeit zu integrieren, um ein elektrisches Ausgangssignal zu erzeugen.
Diese Integratorschaltung umfasst im Wesentlichen einen Operationsverstärker, der
einen nichtinvertierten Eingang, der an eine Referenzspannung gekoppelt
ist, einen invertierenden Eingang und einen Ausgang besitzt, wobei
der Photodetektor an den invertierenden Eingang des Verstärkers und
an die Referenzspannung gekoppelt ist. Die Integratorschaltung umfasst
ferner eine Vorrichtung zum Speichern der Integrierspannung, d.
h. einen Kondensator, die über
den Ausgang und den invertierenden Eingang des Operationsverstärkers geschaltet
ist, um ein akkumuliertes elektrisches Signal vom Photodetektor
zu speichern. Es ist ferner eine Umschalt-Schaltung vorgesehen,
um die aktive Integratorschaltung zeitlich zu steuern.
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Gemäß dem obigen
Patent wird die Integratorschaltung in einer derartigen Weise betrieben,
um eine Photodiode auf einem Pegel nahe bei Null vorgespannt zu
halten und dadurch alle zugeordneten Dunkelströme zu verringern. Indem der
Ausgang der Integratorschaltung vor dem Beginn jedes Integrationszyklus
auf etwa Null reinitialisiert wird, liegt die Ausgabe des Dunkelpegels
der Schaltung ausreichend nah bei Masse, so dass normalerweise die Wiederherstellung
der Grundlinie des Dunkelpegels nicht erforderlich ist. Das Ergebnis
ist eine niedrigere Variation des Dunkelpegels von Bildpunkt zu
Bildpunkt und außerdem
eine Verringerung der Dunkelstrom-Fehler bei erhöhten Temperaturen. Außerdem können in
Situationen mit variablen Temperaturen im Vergleich zu vergleichbaren
Techniken unter Verwendung von Photodioden, in denen eine Vorspannung in
Sperrrichtung anliegt, die Dunkelpegel-Ströme verringert und die Empfindlichkeit
vergrößert werden.
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Wie
oben erwähnt
worden ist, wird vor dem Beginn jedes Integrationszyklus der Ausgang
der Integratorschaltung auf etwa Null reinitialisiert. Die Spannung über dem
integrierenden Kondensator ist deshalb während der Reinitialisierung
Null, d. h. unter der Schwellenspannung eines Standard-MOS-Transistors.
Demgemäß liegt
ein Nachteil der im
US-Patent
Nr. 6.031.217 offenbarten Lösung in der Tatsache, dass
es nicht möglich
ist, den integrierenden Kondensator als einen Standard-MOS-Transistor
zu verwirklichen, d. h. einen Transistor, dessen Source- und Drain-Anschlüsse miteinander
verbunden sind. Deshalb müssen
Poly- oder Metallschichten verwendet werden, die sehr flächenineffizient
sind.
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Das
Aufrechterhalten einer Vorspannung von Null über der Photodiode besitzt
in der Tat den Vorteil der Verringerung aller zugeordneten Dunkelströme, wie
in dem obigen Patent beschrieben ist. Die Photodiode "benötigt" jedoch eine große Sperrspannung über sich,
damit sie bei ihrer Sammlung des photonen-erzeugten Stroms schnell
und effizient ist. Für
Anwendungen, die eine kurze Ansprechzeit und einen hohen Sammelwirkungsgrad
benötigen,
ist deshalb die im
US-Patent
Nr. 6.031.217 vorgeschlagene Lösung nicht angemessen.
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Ein
weiterer Nachteil der obigen Lösung
liegt in der Tatsache, dass der optische Sensor zwei separate Steuerleitungen
erfordert (die im
US-Patent Nr. 6.031.217 als
OSZERO und RUN bezeichnet sind), um den Operationsverstärker auf
Null einzustellen und um die Integratorschaltung zeitlich zu steuern. Es
ist im Allgemeinen bevorzugt, die Anzahl der externen Leitungen
auf einem Minimum zu halten, um die Anzahl der Verbindungen zu jedem
optischen Sensor zu verringern, die unvermeidlich Fläche auf dem
Chip erfordern.
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Demgemäß ist es
eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen optischen Sensor,
der einen Photodetektor umfasst, und eine Integratorschaltung, die
es möglich
macht, eine Standard-MOS-Komponente als den integrierenden Kondensator
zu verwenden, um dadurch zusätzliche
Prozessschritte, wie z. B. die Ausbildung einer zweiten Poly- oder
Metallschicht, zu vermeiden und die Chip-Fläche
in einer effizienteren Weise zu verwenden, zu schaffen.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Lösung zu
schaffen, die es erlaubt, eine relativ große Sperrspannung über einer
Photodiode aufrechtzuerhalten, um eine schnelle und effiziente Sammlung
der photonen-erzeugten Ladungen sicherzustellen.
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Es
ist eine noch weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Anzahl
der externen Verbindungen des optischen Sensors zu minimieren, um die
Verschwendung von Fläche
in Anwendungen zu vermeiden, die mehrere optische Sensoren erfordern,
wie z. B. im Fall optischer Abtast-Gruppen.
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Es
ist eine noch weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen
optischen Sensor zu schaffen, der bei niedrigen Spannungen betrieben
werden kann und der eine niedrige Verlustleistung zeigt.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Lösung zu
schaffen, die mehrere andere Anforderungen und Beschränkungen
erfüllt,
wie z. B. unter anderem einen großen Ausgangssignalhub, einen
hohen Integrationsgewinn, einen hohen Verstärkungsfaktor in beiden Betriebsarten
(Integration/Betrieb und Reinitialisierung) für die genaue Reinitialisierung
und Integration, eine Verstärkerstabilität, eine
niedrige Ausgangsimpedanz, um die folgenden Signalverarbeitungsstufen
anzusteuern, derartige Ausgangssignalpegel, damit Einzel-Durchgangstransistor-Schalter
in den folgenden Signalblöcken
verwendet werden können,
eine minimale parasitäre
Kapazität
am Photodiodeneingang und ein flächeneffizientes
Layout.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Gemäß einem
ersten Aspekt der Erfindung wird eine Integratorschaltung zur Verwendung
mit einem Photodetektor mit einem Ausgang, der ein elektrisches
Signal ausgibt, das proportional zu der auf den Photodetektor einfallenden
elektromagnetischen Strahlung ist, geschaffen, wie sie im Anspruch
1 definiert ist.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der Erfindung wird ein optischer Sensor zum Erzeugen
eines elektrischen Signals als Antwort auf elektromagnetische Strahlung
geschaffen, wie er im Anspruch 6 definiert ist.
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Gemäß der Erfindung
enthält
die Integratorschaltung eine Endstufe, die einen mit dem Ausgang des
Operationsverstärkers
verbundenen Gate-Anschluss und einen mit dem ersten Anschluss der
Vorrichtung zum Speichern der Integrierspannung verbundenen Ausgangsanschluss
umfasst, wobei die Umschalt-Schaltung umfasst:
eine erste Umschaltvorrichtung,
um den Gate-Anschluss der Endstufe während der Reinitialisierungsphase
an den invertierenden Eingang anzuschließen, und um den Gate-Anschluss
der Endstufe während
der Integrationsphase von dem invertierenden Eingang zu trennen;
und
eine zweite Umschaltvorrichtung, um den Ausgangsanschluss
der Endstufe während
der Reinitialisierungsphase auf das Referenzpotential zu bringen, und
um den Ausgangsanschluss der Endstufe während der Integrationsphase
von dem Referenzpotential zu trennen.
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Die
vorliegende Erfindung schafft eine Lösung, die es erlaubt, dass
Photodetektoren mit einer großen
Lichterfassungsfähigkeit
(ungeachtet der folglich großen
Kapazität
der Photodiode) verwendet werden. Falls der Photodetektor eine Photodiode
ist, erlaubt die Erfindung ferner, dass eine große Vorspannung über der
Photodiode angelegt wird, damit sie bei ihrer Sammlung des photonen-erzeugten Stroms
schnell und effizient ist, ohne dass dies zu Beschränkungen
der Niederspannungsversorgung führt,
die verwendet werden kann, um die Schaltung mit Energie zu versorgen.
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Außerdem muss
die Vorrichtung zum Speichern der Integrierspannung klein sein,
damit der Verstärkungsfaktor
der Photostrom-zu-Spannung-Ausgabe groß ist. Indem die Vorrichtung
zum Speichern der Integrierspannung um einen Rückkopplungsverstärker angeordnet
wird, wird der Photostrom auf die gewünschte Vorrichtung zum Speichern
der Integrierspannung gezwungen (anstatt in den großen parasitären Kondensator
der Photodiode). In der Tat erzwingt der Rückkopplungsverstärker, dass
die Eingangsspannung des Verstärkers konstant
bleibt, was verhindert, dass der Kondensator der Photodiode irgendeine
Ladung akkumuliert, und was den Strom zwingt, durch die Vorrichtung zum
Speichern der Integrierspannung zu fließen.
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Ein
weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung liegt in der Tatsache,
dass die Schaltung erlaubt, dass verschiedene Spannungen während der Reinitialisierungsphase
am Eingang und am Ausgang erzeugt werden, wobei sie folglich erlaubt,
dass eine Spannung (die im Wesentlichen gleich der Vorspannung des
Photodetektors ist) über
der Vorrichtung zum Speichern der Integrierspannung angelegt wird,
wobei die Spannung ausreichend ist, damit die Vorrichtung zum Speichern
der Integrierspannung aus einem als Kondensator geschalteten Standard-MOS-Transistor
ausgebildet ist, wobei die Spannung über der Schwellenspannung eines
derartigen Transistors liegt.
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Ein
noch weiterer Vorteil der Erfindung liegt in der Tatsache, dass
die Integratorschaltung bei einer niedrigen Spannung in einer optimalen
Weise betrieben werden kann. Weil der Ausgang der Integratorschaltung
während
der Reinitialisierung auf ein Referenzpotential, wie z. B. Masse
gebracht ist, während
eine ausreichende Spannung über
der Vorrichtung zum Speichern der Integrierspannung aufrechterhalten
wird, steigt in der Tat der Ausgang der Integratorschaltung während der
Integration von Masse linear an (falls der Photodetektor eine n-Wannen-Photodiode
ist). Die maximale Ausgangsspannung der Schaltung (in Bezug auf
Masse) ist folglich so definiert, dass sie der maximal zulässige lineare Ausgangsspannungs-Anstieg
am Ende der Integration ist. Für
eine Niederspannungsversorgung kann die maximale Ausgangsspannung
der Schaltung deshalb maximiert werden, was zu einer optimalen Konstruktion
führt.
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Außerdem steuert
der Ausgang der Integratorschaltung typischerweise nachfolgende
Signalverarbeitungsblöcke
an, die oft aus Multiplexern und anderen Schaltern bestehen. Um
die Fläche
(Signalverbindungen und Transistoren) in einer vollständig auf dem
Chip vorhandenen Schaltungsanordnung zu minimieren, müssen diese
Schalter Einzeltransistorschalter mit kleiner Fläche sein. Im Fall einer niedrigen
Versorgungsspannung muss die Gate-Ansteuerung dieser Schalter beträchtlich über eine
Schwellenspannung über
sowohl dem minimalen (in diesem Fall Masse) als auch dem maximalen
Signalhub (d. h. der maximalen Ausgangsspannung) gelangen können. Weil
der Ausgang der Integratorschaltung von Masse (immer noch im Fall
einer n-Wannen-Photodiode) linear ansteigt, kann diese Anforderung
mit der Schaltung der vorliegenden Erfindung leichter erfüllt werden.
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Außerdem ist
es normalerweise schwierig, eine Sourcefolger-Endstufe in einen
Rückkopplungsverstärker einzupassen,
um die Ausgangsimpedanz zu verringern. Die Ausführung dessen erfordert im Allgemeinen
eine zusätzliche
Zunahme der Versorgungsspannung oder eine Verringerung des Verstärkungsfaktors.
Wenn die Ausgangsimpedanz hoch ist, dann müssen in den folgenden Signalverarbeitungsblöcken Kompromisse
geschlossen werden, die eine zusätzliche
Schaltungsanordnung, Energie oder Leistungsnachteile erfordern.
Die vorliegende Erfindung erlaubt vorteilhaft, dass eine derartige
Sourcefolger-Endstufe verwendet wird.
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Weitere
Aspekte, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden
beim Lesen der folgenden ausführlichen
Beschreibung nicht einschränkender
Beispiele und Ausführungsformen
offensichtlich, die unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung
gegeben wird.
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KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
ein schematischer Blockschaltplan eines optischen Sensors, der einen
Photodetektor und eine Integratorschaltung gemäß einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung umfasst;
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2 ist
ein Stromlaufplan, der ein erstes Beispiel einer Integratorschaltung
gemäß der vorliegenden
Erfindung veranschaulicht; und
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3 ist
ein Stromlaufplan, der ein zweites Beispiel einer Integratorschaltung
gemäß der vorliegenden
Erfindung veranschaulicht.
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AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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1 ist
ein verallgemeinerter schematischer Blockschaltplan eines optischen
Sensors, der im Allgemeinen durch das Bezugszeichen 1 global bezeichnet
ist und der einen Photodetektor 10 und eine Integratorschaltung 20 umfasst.
Der hier veranschaulichte Photodetektor 10 umfasst eine
Photodiode 11 (wie z. B. eine n-Wannen-Photodiode, die
in einem p-Typ-Halbleitersubstrat ausgebildet ist), an der eine
Vorspannung in Sperrrichtung anliegt. Für die Zwecke dieser Beschreibung
enthält
der Begriff "Photodetektor" jeden Detektor,
der für
Strahlungsenergie empfindlich ist. Beispiele enthalten insbesondere
Photodioden, Photogatter und Phototransistoren. Das Bezugszeichen 12 bezeichnet
die Kapazität CPD der Photodiode. Der Photodetektor 10 besitzt
einen Ausgang 13, der an die Integratorschaltung 20 gekoppelt
ist.
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Die
Integratorschaltung 20 enthält einen Operationsverstärker 30,
der einen an den Photodetektor 10 gekoppelten invertierenden
Eingang 31, einen an eine Vorspannung VPD-BIAS ungleich
Null, die auf die gewünschte
Sperrspannung der Photodiode gesetzt ist, gekoppelten nichtinvertierenden
Eingang 32 und einen Ausgang 33 besitzt. Als nicht
einschränkende
Veranschaulichung beträgt
die Vorspannung des Photodetektors nominell 1,5 Volt.
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Eine
Vorrichtung 25 zum Speichern der Integrierspannung (mit
einem Kapazitätswert
CINT) ist in eine Verstärker-Gegenkopplungsschleife
geschaltet, d. h., sie besitzt einen ersten Anschluss (den Ausgang
der Integratorschaltung), der an den Ausgang 33 des Operationsverstärkers gekoppelt
ist, und einen zweiten Anschluss, der an den invertierenden Eingang 31 des
Operationsverstärkers
gekoppelt ist.
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Eine
Endstufe 40 ist zwischen den Ausgang 33 des Operationsverstärkers und
den ersten Anschluss der Vorrichtung 25 zum Speichern der
Integrierspannung geschaltet. Gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung ist diese Endstufe 40 eine Sourcefolger-Endstufe,
die einen an den Ausgang 33 des Operationsverstärkers gekoppelten
Gate-Anschluss 41 und einen an die Vorrichtung 25 zum Speichern
der Integrierspannung gekoppelten Ausgangsanschluss 42 (den
Source-Anschluss des Transistors 45) besitzt. Wie hierin
bereits oben erwähnt
worden ist, erlaubt diese Sourcefolger-Endstufe, dass die Ausgangsimpedanz
verringert ist.
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Wie
in 1 schematisch veranschaulicht ist, werden sowohl
der Operationsverstärker 30 als auch
die Endstufe 40 durch eine erste und eine zweite Versorgungsspannung
VSS (Masse) und VDD versorgt.
Ausschließlich
für den
Zweck der Veranschaulichung kann die Leistungsversorgung VDD – VSS so niedrig wie etwa 1,7 Volt bis zu etwa
5,5 Volt sein. An diese zwei Blöcke
ist außerdem
eine angemessene Vorspannung VBIAS angelegt.
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Die
Integratorschaltung 20 umfasst ferner eine Umschalt-Schaltung
zum zeitlichen Steuern der Integratorschaltung 20 und zum
Umschalten der Integratorschaltung zwischen einer Reinitialisierungsphase
und einer Integrationsphase. Während
der Reinitialisierungsphase wird der Operationsverstärker 30 auf
Null eingestellt und abgeglichen, während die Vorrichtung 25 zum
Speichern der Integrierspannung reinitialisiert wird (über der
Vorrichtung 25 eine Spannung, die im Wesentlichen gleich
der Vorspannung VPD-BIAS ist, angelegt ist).
Gleichzeitig wird der Ausgang OUT der Integratorschaltung auf eine
Referenzspannung (in diesem Fall das Massepotential VSS)
gebracht. Während
der Integrationsphase steigt der Ausgang OUT der Integratorschaltung
(der ein Spannungsausgang ist) entsprechend der Intensität der auf
den Photodetektor 10 einfallenden elektromagnetischen Strahlung
linear an. Gemäß dieser
Ausführungsform
und lediglich zur Ver anschaulichung steigt der Ausgang der Integratorschaltung
von VSS auf eine Maximalspannung, die etwa
gleich 0,6 Volt ist, linear an.
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Es
ist klar, dass die obige Erklärung
auf der Tatsache basiert, dass eine n-Wannen-Photodiode als der Photodetektor 10 verwendet
wird, wobei die Vorspannung des Photodetektors in der Nähe der positiven
Versorgung VDD liegt. Falls der Photodetektor 10 eine
in einem n-Typ-Halbleitersubstrat ausgebildete p-Wannen-Photodiode ist, ist die Architektur
der Integratorschaltung offensichtlich umgekehrt, wobei der Ausgang
der Integratorschaltung vom "Masse"-Potential (in einem
derartigen Fall VDD) linear abfällt.
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Gemäß der Ausführungsform
nach 1 enthält
die Umschalt-Schaltung eine erste Umschaltvorrichtung 51,
um den Ausgang 33 des Operationsverstärkers während der Reinitialisierungsphase
mit seinem invertierenden Eingang zu verbinden und um den Ausgang 33 des
Operationsverstärkers
während der
Integrationsphase von seinem invertierenden Eingang 31 zu
trennen. Die Umschalt-Schaltung
enthält
ferner eine zweite Umschaltvorrichtung 52, um den Ausgangsanschluss 42 der
Endstufe während der
Reinitialisierungsphase auf die Referenzspannung zu bringen und
um diesen Ausgangsanschluss 42 der Endstufe während der
Integrationsphase von der Referenzspannung zu trennen.
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Wie
in der Ausführungsform
nach 1 schematisch veranschaulicht ist, werden sowohl
die erste als auch die zweite Umschaltvorrichtung 51 und 52 durch
ein einziges Steuersignal RUN gesteuert. Während der Initialisierungsphase
(RUN befindet sich in einem tiefen Zustand) ist die Umschaltvorrichtung 51 geschlossen,
wobei dadurch der Ausgang 33 und der invertierende Eingang 31 des
Operationsverstärkers
verbunden sind, während
die Umschaltvorrichtung 52 offen ist, wobei der Ausgang
OUT der Integratorschaltung mittels einer Stromquelle, die mit der
Umschaltvorrichtung 52 in Reihe geschaltet ist, auf das
Massepotential VSS gebracht ist. Während der
Integration (RUN findet sich in einem hohen Zustand) ist die Umschaltvorrichtung 51 offen,
während die
Umschaltvorrichtung 52 geschlossen ist, wobei dadurch erlaubt
ist, dass der Ausgang OUT der Integratorschaltung von Masse als
eine Funktion der Beleuchtungsintensität des Photodetektors linear
ansteigt.
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Es
ist in dieser Stufe klar, dass die Spannung über der Vorrichtung 25 zum
Speichern der Integrierspannung immer größer als eine Schwellenspannung
eines Standard-CMOS-Transistors ist. Demgemäß kann die Vorrichtung 25 zum
Speichern der Integrierspannung vorteilhaft in der Form eines MOS-Transistors verwirklicht
sein, der in einem Akkumuliermodus betrieben wird, wobei die Source- und Drain-Anschlüsse (und
der Volumenanschluss) miteinander verbunden sind. Dies ist in dem
Sinn vorteilhaft, dass es erlaubt, beträchtlich Fläche einzusparen und die Speichervorrichtung 25 in
einem Standard-CMOS-Prozess herzustellen (bei dem keine zusätzliche
Poly- oder Metallschicht erforderlich ist). Es ist außerdem klar,
dass herkömmliche
Poly-Poly-, Metall-Poly- oder Metall-Metall-Kondensatoren trotzdem
verwendet werden können.
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Unter
Bezugnahme auf 2 wird nun ein mögliches
und vorteilhaftes Beispiel der Integratorschaltung 20 nach 1 ausführlicher
beschrieben. In diesem Beispiel ist der Operationsverstärker 30 ein Differentialverstärker, der
ein differentielles Transistorpaar MN6 und MN7 und eine halb-gefaltete
Kascodenstufe, die im Wesentlichen die Transistoren MP4, MP7, MP9
und MN26 umfasst, umfasst.
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Wie
im Stromlaufplan nach 2 veranschaulicht ist, bilden
die Gate-Anschlüsse der
Transistoren MN6 und MN7 den nichtinvertierenden Eingang 32 bzw.
den invertierenden Eingang 31 des Operationsverstärkers. Die
Source-Anschlüsse
der Transistoren MN6 und MN7 sind gemeinsam mit einer durch die
Vorspannung VBIAS gesteuerten Stromquelle
MN8 verbunden, (lediglich zum Zweck der Veranschaulichung liefert
diese Stromquelle – ebenso wie
die anderen Stromquellen – einen
Strom von etwa 0,3 μA).
Die Drain-Anschlüsse
der Transistoren MN6 und MN7 sind mit den Drain-Anschlüssen der Transistoren
MP4 bzw. MP7 verbunden, die einen Stromspiegel bilden. Die Transistoren
MP9 und MN26 sind Kascodentransistoren, die verwendet werden, um
die Knotenimpedanz und den Verstärkungsfaktor
zu vergrößern. Die
in Reihe geschalteten Transistoren MP22 und MP11 werden verwendet,
um eine angemessene Vorspannung für den Gate-Anschluss des Kascodentransistors
MP9 zu schaffen. Die Transistoren MP7, MP9 und MN26 sind mit einer weiteren
Stromquelle MN4, die durch die Vorspannung VBIAS gesteuert
wird, in Reihe geschaltet. Ähnlich
sind die Transistoren MP22 und MP11 ebenfalls mit einer durch die
Vorspannung VBIAS gesteuerten Stromquelle
MN16 in Reihe geschaltet.
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Wie
hierin oben kurz erwähnt
worden ist, enthält
die Endstufe 40 vorteilhaft einen Sourcefolger-Transistor 45 (den
Transistor MN42), dessen Gate- und Drain-Anschlüsse mit dem Ausgang 33 des
Operationsverstärkers
(dem Verbindungsknoten zwischen den Kascodentransistoren MP9 und
MN26) bzw. der positiven Versorgungsspannung VDD verbunden
sind.
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Die
erste Umschaltvorrichtung 51 ist ein einziger p-MOS-Transistor
MP18, der über
die Anschlüsse 33, 41 und 31 geschaltet
ist, während
die zweite Umschaltvorrichtung 52 ein einziger n-MOS-Transistor
MN25 ist, der zwischen den Source-Anschluss des Sourcefolger-Transistors 45 und eine
weitere Stromquelle MN24, die durch die Vorspannung VBIAS gesteuert
wird, geschaltet ist. Der Verbindungsknoten zwischen den Transistoren MN25
und MN24 bildet den Ausgang OUT der Integratorschaltung. Außerdem werden,
wie deutlich veranschaulicht ist, die Umschalttransistoren MP18
und MN25 beide durch das RUN-Steuersignal gesteuert, das sich während der
Reinitialisierung in einem tiefen Zustand und während der Integration in einem
hohen Zustand befindet.
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Die
Vorrichtung 25 zum Speichern der Integrierspannung ist
aus einem als Kondensator geschalteten Transistor MP30 ausgebildet,
wobei der Gate-Anschluss des Transistors MP30 mit dem invertierenden
Eingang 31 des Operationsverstärkers verbunden ist, während die
Drain-, Source- und Volumenanschlüsse dieses Transistors MP30
mit dem Ausgang OUT der Integratorschaltung gekoppelt sind. In diesem
Beispiel ist der zusätzliche
Transistor MP31 lediglich eine Reserve für eine Einstellung, falls diese
notwendig ist. Es sollte angegeben werden, dass sich der MOS-Transistor
MP30 in einem "umgekehrten" Akkumuliermodus
und nicht in einem normalen Inversionsmodus befindet.
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Ein
Kompensationskondensator 60 (der MOS-Transistor MN31) ist
ferner zwischen den Ausgang 33 des Operationsverstärkers und
Masse VSS geschaltet, um eine Hochfrequenzkompensation
für den
Operationsverstärker 30 zu
schaffen.
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2 zeigt
außerdem
zwei Überbrückungskondensatoren 71, 72,
die aus den MOS-Transistoren MP32 bzw. MN29 gebildet sind. Der Überbrückungskondensator 71 (der
Transistor MP32) ist über die
Versorgungsleitungen VDD und VSS geschaltet, während der Überbrückungskondensator 72 (der Transistor
MN29) über
den positiven Eingang (den nichtinvertierenden Eingang 32)
und Masse VSS geschaltet ist. Diese Überbrückungskondensatoren 71, 72 sind
eigentlich kein funktionaler Teil der Schaltung und können entfernt
werden.
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Als
eine vorteilhafte Ergänzung
für die
Schaltung, die soeben beschrieben worden ist, können zwei zusätzliche
Sourcefolger-Endstufen hinzugefügt werden,
um minimale und maximale elektrische Ausgangssignale bereitzustellen,
die die Bestimmung des optischen Sensors mit der kleinsten bzw.
größten Intensität in einer
Gruppe aus mehreren optischen Sensoren erlauben. Dies kann erreicht
werden, indem für
jeden optischen Sensor in der Gruppe erste und zweite Sour cefolger-Endstufen 91, 92 vorgesehen
werden, wie veranschaulicht ist, und indem ihre Ausgänge zusammen
mit einer einzigen externen Stromquelle (eine für jede Maximum/Minimum-Sourcefolger-Endstufe)
verbunden werden. Insbesondere umfasst die erste Sourcefolger-Endstufe 91 einen p-MOS-Transistor
MP29, dessen Source-Anschluss den MinOut-Ausgang bildet, der mit
einer (nicht veranschaulichten) externen Stromquelle verbunden ist, die
allen Sensoren der Gruppe gemeinsam ist. Der Gate-Anschluss des
Transistors MP29 ist mit dem Ausgang OUT der Integratorschaltung
verbunden, während
der Drain-Anschluss mit Masse VSS verbunden
ist. Ähnlich
umfasst die zweite Sourcefolger-Endstufe 92 einen n-MOS-Transistor MN21,
dessen Source-Anschluss den MaxOut-Ausgang bildet, der mit einer
weiteren (nicht veranschaulichten) externen Stromquelle verbunden
ist, die allen Sensoren der Gruppe gemeinsam ist. Der Gate-Anschluss
des Transistors MN21 ist mit dem Ausgang 33 des Operationsverstärkers verbunden,
während
der Drain-Anschluss mit der positiven Versorgungsspannung VDD verbunden ist.
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3 ist
ein weiteres mögliches
Beispiel der Integratorschaltung 20 nach 1.
Sie zeigt eine ein wenig vereinfachte Version des Stromlaufplans
nach 2. Insbesondere enthält dieses Beispiel die Überbrückungskondensatoren 71, 72 und
den Reservetransistor MP31 nicht, wobei die Vorspannungs-Transistoren
MP22 und MP11 konzeptionell auf einen einzigen Transistor MP22 verringert
sind (die Zwei-Transistor-Anordnung wird in 2 infolge von
Layout-Überlegungen
verwendet). Der Rest der Schaltung ist im Wesentlichen zu jenem
nach 2 ähnlich
und wird folglich nicht abermals beschrieben.
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An
der Schaltung nach 3 können einige weitere Modifikationen
vorgenommen werden. Es kann z. B. ein optionaler Block 80,
um die Photodetektor-Vorspannung
VPD-BIAS selbst zu erzeugen, im Bereich
jedes optischen Sensors ausgebildet sein, um die Anzahl der externen
Leitungen zu verringern und die VPD-BIAS-
und VBIAS-Leitungen zu eliminieren, weil
keine von diesen entscheidend ist. Die Herstellung dieser als Drähte anstelle
einer Schaltungsanordnung im Bildpunkt besitzt jedoch den Vorteil,
die Einsparung weiterer Fläche
zu erlauben.
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Außerdem verbessert
eine optionale zusätzliche
Stromquelle (der Transistor MN32), der direkt mit dem Source-Anschluss
des Sourcefolger-Transistors 45 verbunden ist, die Wirkung
dieses Sourcefolgers (des Transistors MN42) während des Übergangs von der Reinitialisierung
zum Betrieb, erfordert aber etwas Fläche.
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Nachdem
die Erfindung bezüglich
bestimmter spezifischer Ausführungsformen
beschrieben worden ist, ist es selbstverständlich, dass diese Ausführungsformen
nicht als Einschränkungen
der Erfindung beabsichtigt sind. In der Tat können ohne Abweichung vom Umfang
der beigefügten
Ansprüche verschiedene
Modifikationen und/oder Anpassungen für die Fachleute auf dem Gebiet
offensichtlich werden. Die vorgeschlagenen Ausführungsformen sind z. B. nicht
notwendigerweise auf optische Sensoren unter Verwendung von n-Wannen-Photodioden
eingeschränkt.
Wie bereits erwähnt
worden ist, können in
gleicher Weise p-Wannen-Photodioden
verwendet werden (dies erfordert eine komplementäre Schaltungsarchitektur).
Als Erweiterung können
außerdem Photodetektoren,
die zu Fotodioden funktional äquivalent
sind, verwendet werden.