DE602005005093T2

DE602005005093T2 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Anzeige von Augenmustermessungen

Info

Publication number: DE602005005093T2
Application number: DE602005005093T
Authority: DE
Inventors: Thomas Eugene Corral de Tierra Waschura; James E. Corral de Tierra Waschura
Original assignee: Synthesis Research Inc
Current assignee: Synthesis Research Inc
Priority date: 2004-02-02
Filing date: 2005-01-25
Publication date: 2009-03-19
Anticipated expiration: 2025-01-26
Also published as: EP1560034A1; US7467336B2; DE602005005093D1; JP2005223911A; EP1560034B1; US20050246601A1; CA2495844A1; ATE388410T1

Description

Diese Erfindung betrifft Systeme, die mehrwertige signalelektrische oder optische Augendiagramm-Wellenformen von Hochgeschwindigkeits-Datenkommunikationsvorrichtungen, Teilkomponenten oder Verbindungen wie Oszilloskope, Jitteranalysatoren und Bitfehlerraten-Prüfer sowie eingebaute Prüfmerkmale in ATE-Ausrüstung und Kommunikationsvorrichtungen und -systemen messen.
Augendiagramme, bitsynchronisierte persistierende Überlagerungen von allen möglichen Bitübergängen in einem mehrwertigen Datenstrom, werden gewöhnlich verwendet, um die Qualität eines Datenstroms, der beispielsweise in digitalen Datenkommunikationen verwendet wird, einzustufen. Augendiagramme können unter Verwendung von gut verstandenen und allgemein angewandten Oszilloskopvorrichtungen und Oszilloskop-Abtastmerkmalen, die in anderen Analysatoren einschließlich von Jitteranalysatoren eingebaut sind, konstruiert werden. Außerdem wurde die Fähigkeit zum Zeichnen von Augendiagrammen unter Verwendung einer binären Entscheidungsschaltung und einer Fensterentscheidungsschaltung vor kurzem von dem gegenwärtigen Erfinder offenbart, zum Beispiel in den US-Patentanmeldungen Nr. 09/541970 und 10/099487.
Einige Augendiagramme haben schlechte Augenöffnungen, die definiert sind als eine kleine Öffnung in der Mitte des Auges mit Werten zwischen einer logischen eins und einer logischen null, wodurch eine logische Entscheidung eines hohen Pegels oder eines niedrigen Pegels sehr fehleranfällig werden. Kommunikationssignale mir derartigen Augendiagrammen sind für digitale Kommunikationen sehr schwierig zu verwenden.
Es gibt viele Gründe dafür, dass Bitübergänge in einem mehrwertigen Datenstrom von ihrem nominalen Weg von Bit zu Bit in Abwärtsrichtung des Datenstroms abweichen können. Diese Gründe umfassen, sind aber nicht darauf beschränkt, Nulllinienabweichung von logischen Nullen und logischen Einsen, im gesamten Signal hinzugefügte Störungen und Jitter in Datenbitübergängen. Einige dieser Gründe hängen von dem Datenwert und der unmittelbaren Datenwerthistorie ab, die übertragen werden, während andere Gründe vollständig von den Datenwerten und der unmittelbaren Historie unabhängig sind.
Konventionelle Techniken haben Augendiagramm-Abtastoszilloskope verwendet, um ein Augendiagramm zu zeichnen, wobei die nicht datenabhängigen Effekte entfernt wurden, indem der Durchschnitt einer Zahl von Abtastungen gebildet wurde und in den Durchschnitt nur Punkte aufgenommen wurden, die innerhalb des verwendeten Prüfmusters mit einem bestimmten Bitversatz (z. B. Triggerversatz) korrespondierten. Diese wurde als schlüsselfertige Merkmale in Abtastoszilloskope von Hewlett-Packard, Agilent Technologies und Tektronix implementiert und wurde allgemein in Laboratorien für Forschung und Entwicklung in weiteren manuellen Prüfvorrichtungen implementiert.
In den vorher erwähnten Techniken sind Oszilloskope erforderlich, um eine derartige Messung durchzuführen, was in Fällen, in denen ein Oszilloskop ansonsten nicht benötigt wird, die zusätzlichen Kosten eines Oszilloskops bedeutet, wenn Augendiagramme gewünscht werden, die die nicht datenabhängigen Effekte entfernen. Ein weiterer Nachteil der vorher erwähnten und analoger Techniken ist, dass die Menge der Abtastungen, die in dem Durchschnitt für individuelle Bitpositionen des geprüften mehrwertigen Datensignals enthalten sind, bei einer inhärenten effektiven Abtastgeschwindigkeit von unter 200 K Abtastungen/s fest ist und insbesondere nicht wie mit der Datenrate skaliert.
In Systemen, die vom gegenwärtigen Erfinder im Fachgebiet offenbart wurden, werden Augendiagramme gemessen und angezeigt, die entweder Einzelschwellenwert-Scheibenmodus-Komparatoren oder Fenstermodus-Komparatoren verwenden. Implementierungen dieser Konzepte resultieren in Augendiagrammen mit den gleichen Merkmalen wie reguläre Abtastoszilloskope ohne Hervorheben von datenabhängigen Effekten.
Wie beispielsweise im US-Patent Nr. 6715112 von Jungerman et al offenbart, können getriggerte Wellenformen ausgeführt werden, indem Bitfehlerraten-Messungen gegen einen Spannungsschwellenwert abgelenkt und die Ergebnisse differenziert werden, um die Spitze der Bitfehlerrate zu finden und um die Schwellenspannung des maximalen Bitfehlerratenwerts als den Spannungswert der getriggerten Wellenform zur Zeit von verschiedenen Erhöhungen zu verwenden. Getriggerte Wellenformen wie die von Jungerman offenbarten sind keine Augendiagramme. Sie überlagern nicht alle Arten von Bitübergängen in dem mehrwertigen Signal übereinander, um die Augenöffnung zu zeigen. Weiterhin ist Beschränken einer Vorrichtung zum Operieren mit einem „Fehlerleistungsanalysator", wie von Jungerman et al beschrieben, und unter Umständen, in denen eine Bitfehlerrate gemessen werden kann (z. B. wenn eine zweite Referenzkopie des in dem Test verwendeten Musters bekannt ist und damit synchronisiert wurde), keine wünschenswerte Einschränkung, und ein Verfahren, das keine derartige Einschränkung vornimmt, würde zweifellos eine beträchtliche Verbesserung sein.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
In der vorliegenden Erfindung werden Augendiagramme von mehrwertigen Signalen unter Verwendung von, unter anderen Elementen, einem gefensterten Komparators, einem abgeleiteten Mustertrigger und einem Ereigniszählers erzeugt. Dies kann beispielsweise erreicht werden, indem die Ergebnisse von Ereigniszählungsmessungen verarbeitet werden, die vorgenommen werden, während die Grenzen des gefensterten Komparators angeordnet werden, alle interessierenden Spannungsversatze und alle Zeitversatze innerhalb der Bitperiode oder mehrerer Bitperioden des Augendiagramms abzudecken, und wobei diese Verarbeitung beinhaltet, den abgeleiteten Mustertrigger zu verwenden, um jede Zählung einem geeigneten Bitversatz in dem Datenmuster des mehrwertigen Signals zuzuschreiben, und weiter beinhaltet, den mittleren Abtastwert für jeden Zeitversatz in der Bitperiode für alle Bitversatze in dem Datenmuster zu bestimmen, und weiter beinhaltet, jede mittlere Abtastung für alle Zeitversatze in der Bitperiode des Augendiagramms, die von allen zugeschriebenen Bits in dem Datenmuster des mehrwertigen Signals kommen, zu zeichnen/überlagern.
Diese Erfindung verwendet insbesondere keine Bitfehlerraten-Messtechniken, die erfordern, dass ein im Wesentlichen gleiches mehrwertiges Referenzsignal verfügbar ist sowie das zu prüfende mehrwertige Signal und ein Synchronisationsverfahren, um die Wellenformen miteinander zu verriegeln, so dass ein Signal als Referenz zum Messen von Bitfehlern in dem anderen verwendet werden kann.
Geräte, die geprüft werden, geben mehrwertige Signale aus. Diese Signale können geprüft werden, indem beispielsweise eine Augendiagramm-Repräsentation betrachtet wird. Augendiagramme zeigen Überlagerungen von allen möglichen Bitübergängen (z. B. hoch zu niedrig, niedrig zu hoch, hoch zu hoch und niedrig zu niedrig) in allen möglichen Historiezuständen. Nach der vorliegenden Erfindung enthält ein Verfahren zum Messen und Anzeigen von datenabhängigen Augendiagrammen: Erfassen von Ereigniszählungen bei verschiedenen Bitversatzen, erwünschten Zeitversatzen in der Bitperiode oder den -perioden und erwünschten Spannungsversatzen in der interessierenden Spannungsversatzregion; Entfernen der nicht datenabhängigen Effekte aus den erfassten Ereigniszählungen durch Durchschnittsbildung; Erzeugen eines zusammengesetzten Diagramms von gewünschten Zeitversatzen in der Bitperiode oder den -perioden und erwünschten Spannungsversatzen in der interessierenden Spannungsversatzregion und Anzeigen des Ergebnisses.
EP-A-1315327 offenbart eine Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften des Bitstroms von binären Impulsen. Die Vorrichtung verfügt über Steuerungsvorrichtungen zum Definieren eines Fensterkomparators und Logikvorrichtungen zum Akkumulieren und Abbilden von Zahlen, die aus einer Zählung der Anzahl, die die Bitimpulse auf Punkte im Inneren des Fensterkomparators fallen, abgeleitet werden, und Zeichnen eines Augendiagramms, das Eigenschaften des Bitstroms definiert.
EP-A-1460792 offenbart ein Verfahren und System zum Erzeugen eines Augendiagramms. Das Verfahren lenkt die Komponenten und den Signaldetektionsweg eines Binärdaten-Bitentscheidungsmechanismus, der verwendet wird, um die Bitfehlerrate des Bitstroms eines eingehenden oder angelegten Datensignals zu erhalten, um ein Augendiagramm zu erzeugen.
ERFASSEN VON EREIGNISZAHLUNGEN
Ereignisse sind ausgelöst, um gezählt werden, wenn die Spannung eines mehrwertigen Signals, das geprüft wird, in den Grenzbereich zwischen V_hi und V_low zu einem bestimmten Zeitpunkt fällt, der durch die steigende oder fallende Flanke eines variabel verzögerten Taktsignals plus eines etwaigen festen Verzögerungsversatzes in dem System definiert ist. Eine ausgelöste Zählung wird tatsächlich in einem Ereigniszähler höchstens einmal pro Taktperiode gezählt, so lange die Ereigniszählung nicht deaktiviert wurde. Die Ereigniszählung kann deaktiviert werden, weil der gegebene Bitversatz in dem mehrwertigen Signal, das geprüft wird, zum Zeitpunkt der Abtastung von geringem Interesse für eine gegebene Messung ist, oder aus praktischen Gründen, weil keine Messungen durchgeführt werden.
Die vorliegende Erfindung wählt einen von vielen möglichen Algorithmen zum Besuchen einer ausreichenden Zahl von Regionen aus, die die interessierenden Spannungsversatze und die Zeitversatze in einem oder mehr Bitperioden repräsentieren, um den interessierenden Augendiagrammbereich abzudecken. Ein Algorithmus, der in einer beispielhaften Ausführungsform eingesetzt wird, dient zum aufeinander folgenden Vornehmen von Ereignismessungen über die gleiche Zahl von aktivierten Taktbits bei einem gegebenen Zeitversatz in der Bitperiode oder den -perioden bei allen Spannungsversatzen in Inkrementen von V_delta (das die gewünschte Spannungsauflösung des Augendiagramms repräsentiert) von V_top bis V_bottom und mit Fenstergrößen von V_delta (definiert durch die Subtraktion von V_hi – V_lo) und, sobald diese Spalte von Messungen abgeschlossen ist, zum Inkrementieren des Zeitversatzes in der Bitperiode oder den -perioden um einen gewünschten Zeitinkrementbetrag T_delta der die gewünschte Zeitauflösung des Augendiagramms reflektiert; und zum Wiederholen des Prozesses für die nächste Spalte. Dieser Prozess wird dann für jede Spalte zwischen 0 und T_max (wobei T_max der Zeitbetrag ist, der in der X-Achse des Augendiagramms gezeigt werden soll) bei der gewünschten Inkrementauflösung von T_delta wiederholt.
Andere Algorithmen zum Erfassen von Ereigniszählungen können Optionen enthalten zum Erfassen von Daten in einer anderen Reihenfolge oder zum Optimieren, in welchen Bereichen die Erfassung tatsächlich durchgeführt wird, basierend auf verschiedenen Faktoren einschließlich von, aber nicht beschränkt auf, Bilderkennung des Augendiagramms, wodurch prädiziert werden kann, wo aktive mehrwertige Signalspannungen wahrscheinlich sind.
In einer beispielhaften Ausführungsform wird nach durchgeführter Erfassung eine Datenstruktur-Repräsentation konstruiert oder in anderer Weise von allen erfassten Ereigniszählungen abgeleitet. Diese kann die Form einer dreidimensionalen Speicheranordnung von Ereigniszählungswerten annehmen, ist aber nicht darauf beschränkt, wobei die Achsen der drei Dimensionen den Spannungsversatz, den Zeitversatz in der Bitperiode oder den -perioden und die Bitposition in dem Datenmuster, das durch das mehrwertige Signal repräsentiert wird, darstellen.
VERARBEITUNG VON ERFASSTEN DATEN
Verarbeitung der erfassten Ereigniszählungsdaten zum Entfernen von etwaigen nicht datenabhängigen Effekten aus den erfassten Ereignisdaten wird durchgeführt, indem eine neue Datenrepräsentation erzeugt wird, in der die mehrfachen Nichtnull-Ereigniszählungen der erfassten Daten, die in jeder Spalte von jeder Ebene der Ereigniszählungsdaten, die jeden Bitversatz in dem mehrwertigen Signaldatenmuster repräsentieren, vorkommen, verwendet werden, um den durchschnittlichen Spannungsversatz für jede Spalte für jeden Bitversatz der Datenmusterebene zu bestimmen. Dieser Prozess erzeugt eine einzelne Spannungswellenform, die durchschnittliche Spannungswellenform, des mehrwertigen Eingangssignals individuell für alle Bitversatze in dem Datenmuster.
Diese Daten können durch eine dreidimensionale Annordnung von booleschen Werten repräsentiert werden, wobei die Achsen der drei Dimensionen den Zeitversatz in der Bitperiode oder den -perioden, die Bitposition in dem Datenmuster, das durch das mehrwertige Signal repräsentiert wird, und den logischen Zustand (z. B. wahr oder falsch) davon, ob dieser Spannungsversatz in dem interessierenden Spannungsversatzbereich der durchschnittliche Spannungsversatz ist oder nicht, repräsentieren. Es ist zu beachten, dass diese logische Funktionalität in einer Datenstruktur, die mehr Repräsentationsbits als nur eine boolesche verwendet, realisiert werden könnte.
ÜBERLAGERUNG DES AUGENDIAGRAMMS
Die Augendiagramm-Anzeige ist eine zusammengesetzte Anzeige von überlagerten Mustern, die alle möglichen Bitübergänge in einem Datenmuster repräsentieren, das von dem mehrwertigen Signal von dem Gerät, das geprüft wird, stammt. In dieser Erfindung wird ein Augendiagramm, das datenabhängige Effekte betont, durch Überlagern von gemittelten Wellenformen konstruiert, die jeweils individuelle Bitübergangsarten in dem mehrwertigen Signal repräsentieren. Nach der Beendigung der Verarbeitung der erfassten Daten zum Entfernen von nicht datenabhängigen Effekten aus den individuellen Wellenformen durch Durchschnittsbildung können diese Wellenformen summiert werden, um ein Augendiagramm zu erzeugen.
Der Prozess der Überlagerung von mehreren Datenwellenform zum Zweck der Erzeugung eines Augendiagramms kann in vielen Weisen durchgeführt werden, die im Allgemeinen von Technikern verstanden werden, die im Fachgebiet der Bildbearbeitung und -zusammensetzung ausgebildet wurden. In einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird eine Datenstruktur erzeugt, die das Augendiagramm repräsentiert, das angezeigt werden soll, und die Ein/Aus-, Graustufen- oder farbigen Pixelrepräsentationen von allen Spannungsversatzen in der interessierenden Spannungsversatzregion und allen gewünschten Zeitversatzen in der Bitperiode oder den -perioden enthält. Dies erfolgt beispielsweise durch logische „ODER"-Operationen mit jedem gleich positionierten Bildpunkt von allen Datenebenen in der 3-dimensionalen Repräsentation, der mit jedem Bitversatz in dem Datenmuster korrespondiert, das in dem mehrwertigen Signal von dem geprüften Gerät gefunden wird. In dieser Weise ist ein Bildpunkt eine Farbe, wenn eines oder mehr der gemittelten Bitpositionen in dem mehrwertigen Signal durch den Spannungsversatz und Zeitversatz korrespondierend mit der Bildpunktposition gegangen sind.
Gleichermaßen kann eine Graustufen- oder farbige Repräsentation des Augendiagramms erzeugt werden, indem die Zahl der WAHREN gleich positionierten Bildpunkte in den verarbeiteten 3-dimensionalen Daten arithmetisch summiert werden. In diesen Fällen bedeuten Bildpunkte mit 1 Zählpunkt, dass eine Wellenformart an dieser Bildpunktposition vorhanden war; Bildpunkte mit 2 Zählpunkten bedeuten, dass zwei Wellenformarten an dieser Bildpunktposition vorhanden waren, usw. Diese Zählpunkte können dann verwendet werden, um die Helligkeit des Bildpunkts einzustellen, wobei eine Abstufung, Helligkeit oder Farbe verwendet werden kann, um die Zahl oder Population von gemittelten Wellenformen zu repräsentieren, die auf einer bestimmten Bildpunktposition vorhanden war, wobei jede Bildpunktposition einen bestimmten Spannungsversatz in der interessierenden Spannungsregion und einen bestimmten Zeitversatz in der Bitperiode oder den -perioden in der interessierenden Zeitregion repräsentiert.
ANZEIGE DES ERGEBNISSES
Nach der Erzeugung der Überlagerungsdaten kann das Ergebnis in einer Weise angezeigt werden, die bekannt und ähnlich zu anderen Augendiagramm-Anzeigen ist. Grafische Computeranzeigen jeder Art einschließlich, aber nicht darauf beschränkt, von Flachbildschirmen, Kathodenstrahlröhren, Ausdrucken sind alles Beispiele von Vorrichtungen, die zur Anzeige des Ergebnisses verwendet werden können, eines Augendiagramms, das datenabhängige Effekte betont.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, imstande zu sein, Augendiagramme zu messen und anzuzeigen, die datenabhängige Effekte betonen, durch Entfernen der nicht datenabhängigen Effekte durch Bearbeitung.
Eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, Augendiagramme anzuzeigen, die datenabhängige Effekte betonen, durch Entfernen der nicht datenabhängigen Effekte durch Bearbeitung unter Verwendung der Abtastfähigkeiten eines gefensterten Bitkomparators, eines abgeleiteten Mustertriggers und eines Ereigniszählers, die mit der Datenrate skalieren, anstelle eines Oszilloskops.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Anzeige von Augendiagrammen, die datenabhängige Effekte betonen, durch Entfernen der nicht datenabhängigen Effekte, während Messungen der Bitfehlerraten oder die kombinierten Elemente eines „Fehlerleistungsanalysators" nicht erforderlich sind.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Für ein weiteres Verständnis der Aufgaben und Vorteile der vorliegenden Erfindung sollte Bezug auf die folgende ausführliche Beschreibung genommen werden, in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen, in denen gleiche Teile gleiche Bezugsnummern haben und in denen:
1 ein ausführliches Blockdiagramm einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung unter Verwendung eines Trigger-Decodierers und Ereigniszählers zeigt;
2 ein Beispiel eines Augendiagramms eines mehrwertigen Signals zeigt;
3.a ein schematisches Diagramm eines Trigger-Decodierers zeigt, der mit einer Variante der bevorzugten Ausführungsform von 1 verwendet wird;
3.b ein schematisches Diagramm eines Trigger-Decodierers zeigt, der mit einer alternativen bevorzugten Ausführungsform von 1 verwendet wird;
4.a die Umwandlung von zweidimensionalen Anordnungen von Fensterzählungen in eine zweidimensionale Anordnung mit dem gemittelten Wert des mehrwertigen Signals zeigt;
4.b ein Beispiel des Ergebnisses der dargestellten Umwandlung von zweidimensionalen Anordnungen von Fensterzählungen in eine zweidimensionale Anordnung mit dem gemittelten Wert des mehrwertigen Signals zeigt;
5 ein Ablaufdiagramm zeigt, das die Schritte darstellt, die ausgeführt werden, wenn die Technik der vorliegenden Erfindung implementiert wird;
6 Verarbeitung und Überlagerung von zweidimensionalen Anordnungen von Fensterzählungen von vielen Bitversatzen in dem Datenmuster des mehrwertigen Signals zur Erzeugung des gewünschten Augendiagramms, das datenabhängige Effekte betont, zeigt; und
7 zeigt, wie eine solche neue Art von Augendiagrammen datenabhängige Effekte betont.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Die vorliegende Erfindung wird jetzt ausführlicher unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen, in denen beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung dargestellt sind, beschrieben. Die vorliegende Erfindung kann jedoch in vielen verschiedenen Formen ausgeführt werden und sollte nicht als auf die hier dargelegten Ausführungsformen beschränkt aufgefasst werden; vielmehr werden die Ausführungsformen bereitgestellt, damit diese Offenbarung gründlich und vollständig ist und die Erfindung vollständig an die Fachleute im Fachgebiet weitergibt.
1 zeigt ein Blockdiagramm einer Abtastschaltung 10, die die Messschaltung oder -vorrichtung 20 der vorliegenden Erfindung verwendet. Eine zu prüfende Vorrichtung 12 gibt ein mehrwertiges Signal 13 aus, das zu messen ist. Dieses mehrwertige Signal 13 wird einem gefensterten Komparator 14 präsentiert, wo es mit Spannungspegeln V_hi und V_lo verglichen wird. Wenn die Spannung des mehrwertigen Signals 13 größer als V_lo und kleiner als V_hi ist, stellt der gefensterte Komparator 14 ein logisches WAHR bereit. Es ist zu beachten, dass Komparatoren, die invertierte Logik verwenden, ebenfalls in dieser Erfindung verwendet werden könnten. Das Ergebnis dieses logischen Fenstervergleichs 15 wird einer Abtastvorrichtung 16 präsentiert, beispielsweise einem Flip-Flop in D-Ausführung, dessen Funktion es ist, den logischen Zustand WAHR oder FALSCH des Ausgangs des gefensterten Komparators 15 zu einem Zeitpunkt abzutasten, der durch die steigende (oder fallende oder beide) Flanke des Taktsignals oder Stroboskopsignals 21 gekennzeichnet ist, das dem Takteingang der Abtastvorrichtung 16 durch eine variable Verzögerungsschaltung 18 präsentiert wird.
Das Taktsignal 21 der vorliegenden Erfindung muss synchron zu den Bitperioden der Daten sein, die von dem mehrwertigen Signal 13 geführt werden, und kann die gleiche Datenrate oder jede feste ganzzahlige Teilung der Datenrate, die praktisch ist, aufweisen. In der beispielhaften Ausführungsform wird ein voller Bitratentakt (z. B. CLOCK) verwendet, der entweder von der geprüften Vorrichtung 12 oder von dem Stimulus oder anderer zugehöriger Elektronik stammen kann, die in dem Prüfsystem angeschlossen ist und zum Zweck der Erzeugung oder Wiederherstellung eines bitsynchronen Datenratentakts verwendet wird.
Zur Bewegung der Abtastzeit zu allen Bitversatzen in der Bitperiode der Daten, die in dem mehrwertigen Signal 13 geführt werden, wird eine variable Verzögerungsschaltung 18 in der beispiethaften Ausführungsform eingesetzt. Die variable Verzögerungsschaltung 18 empfangt das eingehende bitsynchronisierte Taktsignal 17 und gibt eine gleiche Kopie des bitsynchronisierten Taktsignals 21 mit einem eingefügten programmierten Verzögerungsbetrag 19 aus. Das variabel verzögerte Abtast-Taktsignal 21 wird als das Abtast-Stroboskopsignal zur Abtastvorrichtung 16 verwendet, um die Abtastvorrichtung 16 anzuweisen, das Signal 15 von dem gefensterten Komparator 14 abzutasten. Der Ausgang 22 der Abtastvorrichtung 16 ist ein logisches WAHR oder logisches FALSCH in Abhängigkeit davon, ob die Spannung des mehrwertigen Signals 13 zur Zeit der Abtastung innerhalb der Grenzen von V_hi und V_lo liegt.
Es wird von Fachleuten verstanden werden, dass es zahlreiche Konfigurationen von elektronischen Schaltungen gibt, die eingesetzt werden könnten, um gleichermaßen ein logisches Signal abzuleiten, das ein logisches WAHR oder logisches FALSCH in Abhängigkeit davon ist, ob die Spannung des mehrwertigen Signals 13 zur Zeit der Abtastung innerhalb der Grenzen von Vhi und Vlo liegt. Beispielsweise kann dies mit zwei Einzelschwellenwert-Spannugskomparatoren und einer logischen UND-Funktion bewirkt werden; dies kann mit zwei Einzelschwellenwert-Spannungskomparatoren, zwei Abtast-Flipflops und einer logischen UND-Funktion hinter der Abtastvorrichtung und mit anderen geeigneten Schaltungen durchgeführt werden. Die vorliegende Erfindung befasst sich mit diesen Variationen zur Erzeugung eines logischen WAHR oder logischen FALSCH in Abhängigkeit davon, ob die Spannung des mehrwertigen Signals zur Zeit der Abtastung innerhalb der Grenzen von V_hi und V_lo liegt, und daher fallen sie in den Rahmen dieser Offenbarung.
Das Signal 22, das ein logisches WAHR- oder logisches FALSCH-Signal in Abhängigkeit davon führt, ob die Spannung des mehrwertigen Signals 13 zur Zeit der Abtastung innerhalb der Grenzen von V_hi und V_lo liegt, wird dann als eine Zählungsfreigabe einer digitalen Zählvorrichtung 24, des Ereignisanordnungszählers, verwendet, der einen Zählwert 25 bei der nächsten steigenden Flanke des Taktsignals 21 inkrementieren wird. Das Taktsignal, das für die Verarbeitung nach der Abtastung eingesetzt wird, könnte entweder der variabel verzögerte Takt 21 oder, durch Nutzung spezieller Techniken zur Kompensation von möglichen Einrichtungs- und Haltevariationen, die vorkommen können, eine direkte Kopie des Eingangs-Taktsignals 17 sein. Zum Zählen kann der Ereignisanordnungszähler 24 außerdem weiter durch eine zusätzliche Zählungsfreigabefunktion 23 angesteuert werden, die die Ereigniszählung auf nur diejenigen Zellen beschränkt, wie durch eine Triggerverarbeitungsschaltung 26, beispielsweise ein Mikroprozessor, einen korrespondierenden Abschnitt von Software-Code, der von einem oder mehr Prozessoren ausgeführt wird, einem dedizierten Hardware-Teil (z. B. ASIC), logischen Schaltungen, einer Zustandsmaschine oder jeder anderen geeigneten Vorrichtung, die zur Verarbeitung von eingegebenen Daten imstande ist, bestimmt wurde. Wenn die vorliegende Erfindung als Software-Code implementiert wird, würden die Programmbefehle, die einen derartigen Software-Code bilden würden, auf einem computerlesbaren Medium gespeichert werden, beispielsweise einer Floppy-Diskette, einer CD, einer DVD, einem ZIP-Datenträger oder einer anderen geeigneten Speichervorrichtung. In der Anwendung würde das computerlesbare Medium dann in eine geeignete Lesevorrichtung (z. B. ein CD-ROM-Laufwerk) eingelegt werden, die mit dem einem oder mehr Prozessoren oder Ausführungsvorrichtungen verbunden ist, die dann bewirken würde, dass der eine oder mehr Prozessoren den gespeicherten Code ausführen und die korrespondierenden Operationen ausführen würden.
Der Ereignisanordnungszähler 24 kann aus einem einzelnen Zähler oder einer Vielzahl von Zählern bestehen, von denen jeder einen bestimmten Bitversatz in dem Datenmuster repräsentiert und jeder, wenn richtig freigegeben, an einer gegebenen Taktflanke als der Zähler zum Inkrementieren durch das Bitversatzsignal 28, das von der Triggerverarbeitungsschaltung 26 bereitgestellt wird, adressiert wird. In dieser Weise wird eine Version der Erfindung mit einem einzelnen Zähler hergestellt, wenn eine Triggerverarbeitungsschaltung 26 eine einzelne Bitposition in dem Datenmuster adressiert und Fensterereignisse nur inkrementiert werden, wenn der abgetastete Logikwert 22 des gefensterten Komparators für einen Bitversatz in dem Muster richtig ist, oder ein Mehrfach-Zähler gemäß der vorliegenden Erfindung wird hergestellt, dessen Triggerverarbeitungsschaltung 26 adressiert, welcher Zähler aus einer Anordnung von Zählern als ein Ergebnis des abgetasteten Logikwerts des gefensterten Komparators zu inkrementieren ist.
Die vorher erwähnte Ausführungsform erfordert die sequentielle Konstruktion von Ebenen von Wellenformdaten durch Operieren der Erfindung und Durchführen von Ereigniszählungen über den vollständigen Bereich von Spannungsversatzen in dem interessierenden Spannungsbereich und Zeitversatzen in den Bitversatzen innerhalb der interessierenden Bitperiode oder den -perioden für individuelle Bitversatze in der Datenperiode und anschließender Änderung des Bitversatzes in der Datenperiode und Wiederholung des Zyklus; während eine alternative Ausführungsform gleichzeitig Ereigniszählungen für mehrere Bitebenen von Datenmustern während eines einzelnen Durchlaufs der Spannungsversatze in der interessierenden Spannungsversatzregion und Zeitversatze in den Zeitversatzen in der interessierenden Bitperiode oder den -perioden erfassen kann. Die vorher erwähnte Messschaltung 20 verwendet weniger Hardware, erfordert aber mehr Durchlaufe durch die Daten, wohingegen die alternative Ausführungsform mehr Hardware-Ressourcen benutzt und effizienter ist.
Die Ereigniszähleranordnung 24 kann durch einen Prozessor 30 zwischen Erfassungsabtastperioden an jeder Fenster-Schwellenwerteinstellung und Verzögerungseinstellung zurückgesetzt werden. Die Dauer der Abtastperiode kann durch einem Takt-Abwärtszählungs-Zeitgeber 27 eingestellt werden, der die Zahl der Takte oder die Zahl der Takte, an denen ein bestimmter Bitübergang vorhanden ist, zählt. Diese Funktion dient zur Gewährleistung, dass die Zahl der Abtastungen, die an einem bestimmten Spannungsversatz, einer Zeitverzögerung und einer Bitposition in dem Datenmuster genommen werden, bekannt ist. Wenn eine neue Messung an einem neuen Spannungsversatz, einer Zeitverzögerung und einer Bitposition in dem Datenmuster gestartet wird, setzt eine Rücksetzfunktion 29 von dem Prozessor 30 gleichermaßen auch den Taktzählwert zurück.
Die Triggerverarbeitungsschaltung 26 der vorliegenden Erfindung stellt die Taktsynchronisation mit dem Datenmuster bereit, die erforderlich ist, um ein Augendiagramm 40 (2) zu zeichnen, das die datenabhängigen Effekte betont. Die Triggerverarbeitungsschaltung 26 muss die Zahl der Bitabtastungen in einem Datenmuster, die Musterlänge, kennen, und pflegt dann einen laufende Zählungsmodul dieser Zahl 31. Diese Zahl wird durch das Prüfmuster, das von der geprüften Vorrichtung verwendet wird, definiert und wird von dem Prozessor 30 programmiert. Basierend auf diesem laufenden Triggerzählungswert 31 werden die Taktzähler und die Ereigniszähleranordnung zum Zählen freigegeben oder nicht. Es gibt viele mögliche beispielhafte Ausführungsformen eines derartigen Triggerelements; zwei beispielhafte Ausführungsformen der Triggerverarbeitungsschaltung 26 nach der vorliegenden Erfindung werden hierin offenbart und ausführlich in 3 beschrieben.
Der Zählwert oder die Anordnung von Zählwerten 25 werden von dem Prozessor 30 nach jedem gefensterten Ereigniszähler-Messsatz bei einem gegebenen Spannungsversatz in der interessierenden Spannungsversatzregion und Zeitversatzen in der interessierenden Bitperiode oder den -perioden gelesen. Abhängig von der verwendeten Art von Ausführungsform können ein oder mehr Zählwerte 25 vorhanden sein, die nach jedem Messsatz zu lesen sind. Nachdem diese Werte von dem Prozessor 30 gelesen wurden, können sie für spätere Verarbeitungs-, Überlagerungs- und Anzeigefunktionen in dem Speichermittel des Prozessors 30 gespeichert werden.
Die Abtastschaltung 10 enthält außerdem ein Speicherelement 32, beispielsweise einen Direktzugriffsspeicher (RAM), einen Nur-Lese-Speicher (ROM), einen Flash-Speicher oder jedes geeignete flüchtige oder nichtflüchtige Speichermedium, und ein Anzeigeelement 34, beispielsweise einen Monitor, eine Kathodenstrahlröhre, einen Flachbildschirm, einen Drucker oder jede geeignete Anzeige- oder Präsentationsvorrichtung, die einer im Allgemeinen verfügbaren und gut verstandenen Speicher- oder Anzeigetechnologie entspricht.
2 zeigt ein beispielhaftes Augendiagramm 40, das eine geschlossene Augenöffnung 41 zu haben scheint und unter datenabhängigen Effekten leidet. Diese Darstellung ist das Ergebnis der Überlagerung von zahlreichen Spannungsabtastungen des mehrwertigen Signals von der geprüften Vorrichtung, die bei allen möglichen Zeitversatzen in den dargestellten Bitperioden genommen wurden. In diesem Beispiel werden ungefähr 3 und ein halb Bitperioden dargestellt. Die Aufgabe dieser Ausführungsform betont die datenabhängigen Effekte von 2 und ähnlicher Augendiagramme. Es ist außerdem die ausdrückliche Aufgabe dieser Erfindung, andere, bereits beschriebene Aufgaben dieser Erfindung zu erfüllen.
3a zeigt ein Blockdiagramm einer bevorzugten Ausführungsform der Triggerverarbeitungsschaltung 26 der vorliegenden Erfindung. In dieser Ausführungsform wird das Eingangs-Taktsignal 21 kontinuierlich von einem Taktzähler 50 gezählt. Der Zählwert 28 von dem Taktzähler 50 wird mit dem Musterlängenwert 31a verglichen, der von dem Prozessor 30 durch den Komparator 52 bereitgestellt wird. Wenn der Zählwert 28 gleich der Musterlänge 31a ist, wird ein Rücksetzsignal 53 erzeugt, das Zurücksetzen des Taktzählers 50 bewirkt, wodurch die Zählung des Taktsignals erneut initialisiert wird. In dieser Weise wird der Zählwert 28 seine Zählungen von 0 bis zur Musterlänge durchlaufen. Der Zählwert 28 wird dann auch als der Bitversatzwert verwendet, der dem Ereignisanordnungszähler 24 bereitgestellt wird, der diesen Zählwert 28 als einen Index verwendet, um zu wissen, welcher Zähler in der Anordnung von Zählern an der nächsten steigenden (oder fallenden) Flanke des angewandten Takts zu inkrementieren ist, wenn dies freigegeben ist.
Die in 3a beschriebene Triggerverarbeitungsschaltung 26 erfordert, dass der Prozessor 30 den Musterlängenwert 31a bereitstellt. Die Triggerverarbeitungsschaltung 26 gibt den Bitversatzwert 28, der von dem Ereignisanordnungszähler 24 zu verwenden ist, aus oder stellt ihn in anderer Weise bereit.
3b zeigt ein Blockdiagramm einer alternativen bevorzugten Ausführungsform der Triggerverarbeitungsschaltung 46 nach der vorliegenden Erfindung. In dieser Triggerverarbeitungsschaltung 46 sind sowohl die Musterlänge 31a als auch die Bitzahl 31b korrespondierend mit dem Bitversatz in dem Modulzähler des Triggerverarbeitungsschaltungs-Zählers 50 erforderlich. Diese Werte werden von dem Prozessor 30 bereitgestellt. Wie in der ersten Ausführungsform der Triggerverarbeitungsschaltung 26, die in 3a dargestellt ist, wird die Musterlänge 31a mit einem frei laufenden Taktzählerwert 28 verglichen, um zu bestimmen, warm der Zähler 50 zurückzusetzen ist, beispielsweise durch Erzeugen eines Rücksetzsignals 53 und Anlegen des Signals an den Zähler 50. In dieser Ausführungsform wird der frei laufende Taktzähler 50 die Zahl der Taktflanken von 0 bis zur Musterlänge zählen und dann erneut beginnen.
Der Wert des Taktzählers 28 wird von dem zweiten Komparator 54 auch mit der Bitzahl 31b verglichen, und wenn diese beiden Werte übereinstimmen, erzeugt der zweite Komparator 54 das Bit-Gattersignal 23, das anschließend von der Triggerverarbeitungsschaltung 46 bereitgestellt wird. Das Bit-Gattersignal 23 wird sowohl von dem Ereignisanordnungszähler 24 als auch von der Takt-Abwärtszählungsschaltung 27 verwendet, die in 1 dargestellt sind. Das Bit-Gattersignal 23 qualifiziert weiter, ob der Ereignisanordnungszähler, in dieser Ausführungsform ein einzelner Zähler, erwägt zu zählen, wenn das logische Ergebnis des abgetasteten Fenstervergleichs gültig ist oder nicht. Wenn das Taktzähler-Signal 28 nicht mit der interessierenden Bitzahl 31b übereinstimmt, aktiviert das Bit-Gattersignal 23 nicht das Zählen von Ereignissen.
4a. zeigt die Verarbeitung von erfassten Daten, um nicht datenabhängige Effekte zu entfernen. Die Darstellung zeigt, wie die rohen Ereigniszählungen 60 für eine bestimmte Bitposition in dem Datenmuster, das von dem mehrwertigen Signal 13 von der geprüften Vorrichtung 12 (1) geführt wird, verrauscht ist und viele Abtastungen 60 enthält, die viele Spannungsversatze (z. B. zwischen V_top und V_bottom) an jedem Zeitversatz (z. B. 0 bis Bitperiode) abdeckt. Diese Abtastungen 60, die von V_top bis V_bottom) für jeden Zeitversatz reichen, werden analysiert, um den Durchschnitt der Werte ungleich null zu finden, der in dieser Darstellung mit dem Buchstaben A gekennzeichnet ist. Es ist an diesem Spannungsversatz (z. B. A) zwischen V_bottom und V_top, dass der durchschnittliche Wert für alle Abtastungszählungen an dem bezeichneten Zeitversatz existiert. Zur Vervollständigung der Verarbeitung müssen ähnliche durchschnittliche Punkte „A" für alle Zeitversatze in der einen oder den mehreren interessierenden Bitperioden bestimmt werden. Sobald dies abgeschlossen ist, können die verarbeiteten Daten 62 konstruiert werden, die einen singulären Spannungsversatzwert für alle Zeitversatze in der einen oder den mehreren interessierenden Bitperioden aufweisen. Es ist die Erfassung von diesen verarbeiteten Datenstrukturen für verschiedene Bitversatzpositionen in dem Datenmuster, die von der Verarbeitung der erfassten Daten 60 ausgegeben werden.
4b. zeigt weiterhin die Eingabe 70 und Ausgabe 72 der Verarbeitung des erfassten Datenelements dieser Erfindung für einen Bitversatz in dem Datenmuster. In diesem Beispiel wird ein Bitversatz analysiert, der mit dem Datenmuster von 11010 korrespondiert. In der linken Wellenform 70 (z. B. Eingang) sind deutlich Störungen vorhanden, die in der gemittelten Wellenform 72 (z. B. Ausgang) an der rechten Seite entfernt sind.
5 zeigt ein Ablaufdiagramm, das das Abtastungs- und Anzeigeverfahren 100 nach einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. Obwohl es möglich ist, die Operationsschritte umzukehren, zu kombinieren oder anderweitig in verschiedener Weise zu ändern und trotzdem dasselbe Ergebnis zu erzielen, wird in dieser beispielhaften Ausführungsform der Verarbeitungsfluss verwendet, um die Erfindung auszuführen. Der Prozess beginnt in Schritt 102, in dem die Ereigniszählungen erfasst werden. Dies kann beispielsweise durch die Messschaltung 20 durchgeführt werden, die Spannungsversatze in der interessierenden Spannungsversatzregion abtastet, Zeitversatze in der einen oder den mehreren Bitperioden in der interessierenden Zeitversatzregion abtastet und durch verschiedene Bitversatze in dem Bitmuster geht, das von dem mehrwertigen Signal geführt wird, das von der geprüften Vorrichtung bereitgestellt wird, während sie Zählungen oder Anordnungen von Zählungen erfasst, die zur Erstellung eines Augendiagramms, das datenabhängige Effekte betont, verwendet werden sollen.
In Schritt 104 werden die vorher erfassten Daten verarbeitet, um Störungen oder andere Daten oder vorrichtungsabhängige Varianzen aus den Daten zu entfernen. Dies kann beispielsweise durchgeführt werden, indem der durchschnittliche Wert der erfassten (z. B. eingegebenen) Daten für jeden Bitversatz in dem Datenmuster bestimmt wird.
In Schritt 106 wird ein Überlagerungs-Augendiagramm erstellt, beispielsweise durch Überlagerung der Ergebnisse der verschiedenen gemittelten eingegebenen Datenwellenformen in einer geeigneten Weise, so dass sie auf einer korrespondierenden Anzeigevorrichtung angezeigt werden können.
In Schritt 108 wird das Augendiagramm auf einer geeigneten Anzeigevorrichtung präsentiert.
Andere beispielhafte Ausführungsformen nach dieser Erfindung können die Daten auf andere Weisen verarbeiten, einschließlich von, aber nicht beschränkt auf partielle Vervollständigung und partielle Aktualisierungen der Anzeige. Diese zusätzlichen Ausführungsformen werden als andere Mittel zum Zeichnen eines Augendiagramms, das datenabhängige Effekte betont, vorweggenommen.
6 zeigt weiter, wie gemittelte Wellenformen 110a–110n für verschiedene Bitversatze in dem Datenmuster überlagert werden, um ein gesamtes Augendiagramm 120 zu bilden, das datenabhängige Effekte betont. In diesem Diagramm werden 7 Bitversatze in dem Muster verwendet. Es ist klar, dass jede beliebige Zahl von Bitversatzen für diesen Zweck verwendet werden könnte.
7 zeigt eine Darstellung eines Augendiagramms 130, das datenabhängige Effekte betont. Dieses Diagramm sollte mit dem Diagramm von 2 verglichen werden. In diesem erzeugten Augendiagramm 130 wurden die Störungen, die in allen Übergängen des Signals vorhanden waren, Störungen, die nicht von den Daten abhängig waren, entfernt, so dass nur deutliche, scharfe Linien sichtbar sind, die die Ausmaße der datenabhängigen Variation in Bitübergängen des mehrwertigen Signals anzeigen.
Dieses Diagramm veranschaulicht ein Beispiel der Realisierung der ausgedrückten Aufgabe dieser Erfindung.
Zusammenfassend stellt die vorliegende Offenbarung eine Beschreibung einer Abtastungsschaltung einschließlich eines Fenster-Komparators, eines abgeleiteten Mustertriggers und eines Ereigniszählers zusammen mit anderen geeigneten Komponenten bereit, um individuell gemittelte Bitübergänge eines mehrwertigen Signals zu einer zusammengesetzten Augendiagramm-Anzeige zu überlagern. Um dies zu erreichen, wird ein Mustertrigger erzeugt, der die Wiederholungsrate des gesamten Musters, das geprüft wird, definiert. Dieser Mustertrigger wird verwendet, um zu definieren, welchem Bit gefensterte Ereigniszählungen zuzuordnen sind. Gefensterte Ereigniszählungen werden von dieser Erfindung erzeugt, indem die zwei Grenz-Schwellenwerte eines Fenster-Komparators über den Spannungsbereich, der die Spannungsausmaße des mehrwertigen Signals abdeckt, für Zeitversatz-Verzögerungen in der Bitperiode des mehrwertigen Signals bei jeder gewünschten Auflösung abgetastet werden und indem gezählt wird, wie oft das mehrwertige Signal bei den verschiedenen Fenster-Spannungsversatzen und -Zeitversatzen in das Fenster fällt. Erfasste Fenster-Ereigniszählungen für Spannungs- und Zeitversatz-Abtastungen werden individuell für zahlreiche Datenbitversatze, die von dem Mustertrigger abgeleitet wurden, gespeichert. Der Mittelwert jeder vertikalen Spalte von gefensterten Ereigniszählungen für alle Zeitversatze in einer Bitperiode und für alle Bitversatze, die von dem Mustertrigger abgeleitet wurden, wird bestimmt und auf einer Augendiagramm-Anzeige, die datenabhängige Effekte betont, gezeichnet/überlagert.

Claims

Messschaltung (20), umfassend: einen gefensterten Komparator (14), betriebsbereit zum Empfangen eines Eingangssignals (13) und zum Erzeugen eines Ausgangssignals (15), das einen ersten Wert hat, wenn das Eingangssignal (13) innerhalb eines erwünschten Spannungsbereichs liegt; eine Abtasteinrichtung (16), an den gefensterten Komparator (14) gekoppelt, betriebsbereit zum Abtasten des Ausgangssignals (15) und zum Erzeugen eines abgetasteten Signals (22) in programmierbaren Zeitintervallen (19), wobei das abgetastete Signal (22) einen ersten logischen Wert hat, wenn das abgetastete Signal (22) innerhalb des erwünschten Spannungsbereichs liegt; einen Ereignis-Array-Zähler (24), an die Abtasteinrichtung (16) gekoppelt, betriebsbereit zum Erzeugen eines Zählwertsignals (25), das die Anzahl der abgetasteten Eingänge innerhalb eines oder mehrerer programmierbarer Zeit-Offsets (19) und des erwünschten Spannungsbereichs repräsentiert; und eine Triggerverarbeitungsschaltung (26), an den Ereignis-Array-Zähler (24) gekoppelt, betriebsbereit zum Erzeugen eines Bit-Offset-Signals (28), das als Antwort auf ein Testmustersignal (31) das Zählen des Ereignis-Array-Zählers steuert (24).
Messschaltung (20) nach Anspruch 1, außerdem eine variable Verzögerungsschaltung (18) umfassend, die zum Variieren der Abtastzeitintervalle betriebsbereit ist.
Messschaltung (20) nach Anspruch 1, außerdem einen Prozessor (30) umfassend, der zum Entfernen von datenunabhängigen Werten am dem abgetasteten Signal (22) betriebsbereit ist.
Messschaltung (20) nach Anspruch 3, worin der Prozessor (30) die datenunabhängigen Werte aus dem abgetasteten Signal (22) entfernt, indem er den Mittelwert eines oder mehrerer abgetasteter Signale bestimmt.
Messschaltung (20) nach Anspruch 1, worin die Triggerverarbeitungsschaltung (26) außerdem mindestens einen Taktzähler und einen ersten Signalkomparator umfasst, wobei der Taktzähler das Bit-Offset-Signal (28) als Mitwort auf das programmierbare Taktsignal (19) erzeugt.
Messschaltung (20) nach Anspruch 5, worin die erste Signalkomparatorschaltung betriebsbereit ist zum Rücksetzen des mindestens einen Taktzählers, wenn das Bit-Offset-Signal (28) einem Musterlängensignal (31) äquivalent ist.
Messschaltung (20) nach Anspruch 6, worin das Musterlängensignal (31) vom Prozessor (30) bereitgestellt wird.
Messschaltung (20) nach Anspruch 5, außerdem einen zweiten Signalkomparator umfassend, betriebsbereit zum Erzeugen eines Bit-Gatter-Signals (23) als Antwort darauf, dass das Bit-Offset-Signal (28) einem Bit-Nummern-Signal (31) äquivalent ist.
Messschaltung (20) nach Anspruch 1, worin die Triggerverarbeitungsschaltung (26) außerdem einen Taktzähler, einen ersten Signalkomparator und einen zweiten Komparator umfasst, wobei der Taktzähler das Bit-Offset-Signal (28) als Antwort auf ein programmierbares Taktsignal (19) erzeugt, wobei der erste Signalkomparator betriebsbereit ist zum Rücksetzen des Taktzählers, wenn das Bit-Offset-Signal (28) gleich einem Musterlängensignal (31) ist, und wobei der zweite Signalkomparator betriebsbereit ist zum Erzeugen eines Bit-Gatter-Signals (23) als Antwort darauf, dass das Bit-Offset-Signal (28) gleich einem Bit-Nummern-Signal ist.
Messschaltung (20) nach Anspruch 9, worin das Bit-Gatter-Signal (23) den Betrieb des Ereignis-Array-Zählers (24) darauf beschränkt, nur Bitzellen zu zählen, wie sie von der Trigger-Verarbeitungsschaltung (26) bestimmt sind.
Messschaltung (20) nach Anspruch 2, worin die variable Verzögerungsschaltung (18) von einem Verzögerungssteuerungs-Verzögerungssignal (19) gesteuert wird.
Verfahren zum Erzeugen von datenabhängiger Information, umfassend: Sammeln von Ereigniszählungen an variablen Bit-Offsets, programmierbaren Zeit-Offsets in einer oder mehreren Bit-Perioden und erwünschten Spannungsbereichen; Entfernen von datenunabhängigen Auswirkungen aus den gesammelten Ereigniszählungen; Erzeugen eines zusammengesetzten Diagramms der programmierbaren Time-Offsets in der einen oder den mehreren Bit-Perioden von Interesse und der erwünschten Spannungs-Offsets in den erwünschten Spannungsbereichen; und Anzeigen des zusammengesetzten Diagramms.
Verfahren nach Anspruch 12, wo das Entfernen von datenunabhängigen Auswirkungen aus den gesammelten Ereigniszählungen außerdem das Bestimmen des Mittelwerts der gesammelten Ereigniszählungen über die eine oder mehreren Bit-Perioden und erwünschten Spannungsbereiche umfasst.
Verfahren nach Anspruch 12, worin das Erzeugen des zusammengesetzten Diagramms außerdem das Überlagern einer Vielzahl von Signalspuren in einer gegebenen Bitperiode und einem Spannungs-Offset-Bereich umfasst, wobei jede der Vielzahl von Signalspuren außerdem den Mittelwert der gesammelten Ereigniszählungen umfasst, die über die eine oder mehreren Bit-Perioden abgetastet wurden.