JP4955303B2 - デジタル信号分析プログラム及び波形表示装置 - Google Patents
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Description
12 アナログ・デジタル変換回路
14 メモリ
16 DSP(デジタル・シグナル・プロセッサ)
18 表示装置
20 表示画面
21 表示ボタン
22 波形表示領域
23 マウス・カーソル
24 ビット選択手段
25 ビット選択モード選択メニュー
26 全ビット数表示欄
27 波形選択機能オン/オフ・メニュー
28 下位ビット・スキップ/ショー欄
30 スキップ/ショー下位ビット数指定欄
32 下位ビット数指定用の上下矢印
34 上位ビット・スキップ/ショー欄
36 スキップ/ショー上位ビット数指定欄
38 上位ビット数指定用の上下矢印
40〜50 ビット対応箱型オブジェクト
52 箱型オブジェクト用スライダ
54 ビット・パターン・プルダウン・メニュー
56 メニュー54のプルダウン例
80 ビット選択パターン・シフト・パラメータ指定オブジェクトの一例
84 ビット選択パターン・シフト・パラメータ指定オブジェクトの他の例
88 サーチするビット・パターンの入力用オブジェクトの一例
Claims (8)
- 被測定信号であるデジタル信号をサンプリングして得られるデータを用いて上記デジタル信号を分析するデジタル信号分析プログラムであって、
上記デジタル信号の任意のビットを選択するためのビット選択機能と、
上記デジタル信号の選択された上記ビットのみに関するアイパターン又はジッタ分析結果を表示させる機能とを波形表示装置に実行させるデジタル信号分析プログラム。 - 上記ビット選択機能が、
上記デジタル信号を複数の識別可能な波形から構成されるアイパターンとして表示する波形機能と、
表示した上記波形を選択することによって上記任意のビットを選択するための波形選択機能と
を有することを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。 - 上記ビット選択機能において、選択可能な所定ビット・パターンを提示することを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。
- 上記ビット選択機能において、上記デジタル信号中の選択又は非選択のビットとして連続する任意のビット数を指定できることを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。
- 上記ビット選択機能において、上記デジタル信号中の任意のビットを個別に指定できることを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。
- 上記ビット選択機能において、任意のビット選択パターンを指定するとともに、シフト・ビット数を指定することによって、上記デジタル信号中の選択されるビットを上記シフト・ビット数に応じて順次変更することを特徴とすることを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。
- 上記ビット選択機能において、任意のビット・パターンを指定でき、上記指定されたビット・パターンに該当する上記デジタル信号中のビット・パターンのビットが選択されることを特徴とする請求項1記載のデジタル信号分析プログラム。
- デジタル信号の任意のビットのジッタ分析結果又はアイパターンを表示する波形表示装置であって、
上記デジタル信号をサンプリングして得られるデータを記憶する記憶手段と、
記憶された上記データを用いて、上記デジタル信号の所望のビットを選択するためのビット選択手段と、
上記デジタル信号の選択された上記ビットのみに関する上記アイパターン又は上記ジッタ分析結果を表示する表示手段とを具える波形表示装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006138723A JP4955303B2 (ja) | 2006-03-23 | 2006-05-18 | デジタル信号分析プログラム及び波形表示装置 |
US11/689,994 US7729872B2 (en) | 2006-03-23 | 2007-03-22 | Digital signal analysis program and waveform display apparatus |
DE602007010253T DE602007010253D1 (de) | 2006-03-23 | 2007-03-23 | Analyseprogramm für digitale signale und anzeigegerät für wellenformen |
PCT/IB2007/000743 WO2007107871A2 (en) | 2006-03-23 | 2007-03-23 | Digital signal analysis program and waveform display apparatus |
EP07734073A EP1996952B1 (en) | 2006-03-23 | 2007-03-23 | Digital signal analysis program and waveform display apparatus |
CN2007800103006A CN101405605B (zh) | 2006-03-23 | 2007-03-23 | 数字信号分析程序和波形显示设备 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006081289 | 2006-03-23 | ||
JP2006081289 | 2006-03-23 | ||
JP2006138723A JP4955303B2 (ja) | 2006-03-23 | 2006-05-18 | デジタル信号分析プログラム及び波形表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007286025A JP2007286025A (ja) | 2007-11-01 |
JP4955303B2 true JP4955303B2 (ja) | 2012-06-20 |
Family
ID=38522805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006138723A Expired - Fee Related JP4955303B2 (ja) | 2006-03-23 | 2006-05-18 | デジタル信号分析プログラム及び波形表示装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7729872B2 (ja) |
EP (1) | EP1996952B1 (ja) |
JP (1) | JP4955303B2 (ja) |
CN (1) | CN101405605B (ja) |
DE (1) | DE602007010253D1 (ja) |
WO (1) | WO2007107871A2 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007056673A2 (en) * | 2005-11-04 | 2007-05-18 | Tektronix, Inc. | Wide-bandwidth spectrum analysis of transient signals using a real-time spectrum analyzer |
JP4737452B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2011-08-03 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | 信号発生装置 |
US7957462B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-06-07 | Anritsu Company | Integrated compact eye pattern analyzer for next generation networks |
US8995510B2 (en) * | 2008-03-25 | 2015-03-31 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for analyzing a signal under test |
JP5269457B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2013-08-21 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | 波形表示方法 |
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JP4857453B2 (ja) * | 2009-07-01 | 2012-01-18 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | パケットとシリアル・データの対応関係確認方法 |
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KR102373270B1 (ko) | 2015-05-22 | 2022-03-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 그 구동 방법 |
JP6613974B2 (ja) * | 2016-03-10 | 2019-12-04 | 富士通株式会社 | パケット監視プログラム、パケット監視装置、及びパケット監視方法 |
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JP7213905B2 (ja) * | 2021-03-24 | 2023-01-27 | アンリツ株式会社 | 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2006
- 2006-05-18 JP JP2006138723A patent/JP4955303B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-03-22 US US11/689,994 patent/US7729872B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-03-23 EP EP07734073A patent/EP1996952B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-03-23 WO PCT/IB2007/000743 patent/WO2007107871A2/en active Application Filing
- 2007-03-23 DE DE602007010253T patent/DE602007010253D1/de active Active
- 2007-03-23 CN CN2007800103006A patent/CN101405605B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101405605A (zh) | 2009-04-08 |
WO2007107871A2 (en) | 2007-09-27 |
EP1996952A2 (en) | 2008-12-03 |
JP2007286025A (ja) | 2007-11-01 |
US7729872B2 (en) | 2010-06-01 |
DE602007010253D1 (de) | 2010-12-16 |
US20070223569A1 (en) | 2007-09-27 |
EP1996952B1 (en) | 2010-11-03 |
CN101405605B (zh) | 2012-07-18 |
WO2007107871A3 (en) | 2007-12-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080312 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20101022 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20101022 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110204 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110215 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110516 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20110906 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120228 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120315 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150323 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |