JP7213905B2 - 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法 - Google Patents

Description

本発明は、各種デジタル機器や伝送システムが扱う被測定物からの被測定信号をサンプリングしてアイ波形を表示する波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法に関する。

従来、各種デジタル機器や伝送システムが扱う被測定物からの被測定信号をサンプリングしてアイ波形を表示する波形観測装置としては、例えば下記特許文献１に開示されるようなサンプリングオシロスコープが知られている。

この種のサンプリングオシロスコープは、例えば生産ラインにおいて、被測定物の性能を確認するため、被測定物からの被測定信号をサンプリングしてアイ波形を表示し、ジッタやマスクマージンなどを測定し、測定した値を評価する際に用いられる。

特開２０２０－０６４００６号公報

ところで、ネットワークを光でやり取りする光トランシーバなどの被測定物は、被測定信号としてのＰＡＭ信号が遷移するまでの立ち上がり時間、立ち下がり時間の特性、周波数特性などの特性を持っている。

しかしながら、従来のサンプリングオシロスコープでは、ＰＡＭ信号を被測定信号とする被測定物のマスクマージン試験を行う際、アイ波形に設定される基準マスクの領域内のピクセルに対応するサンプルのシンボル、すなわち、マスクマージン試験に違反するサンプルのシンボルがどの遷移から来ているか、違反サンプルのシンボルの遷移状態を確認することができなかった。例えば被測定信号がＰＡＭ４信号の場合、図 （ａ）に示すように、高い周波数の遷移（シンボル０→３→０→３→０→３の順番など、時間当たりの変化の多い遷移）の時にサンプリングされたサンプルが違反しているのか、図 （ｂ）に示すように、遅い周波数の遷移（シンボル０→０→０→３→３→３の順番など、時間当たりの変化が少ない遷移）の時にサンプリングされたサンプルが違反しているのかなどを確認することができなかった。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、違反サンプルのシンボルの遷移状態を確認することができる波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された波形観測装置は、マスクマージン試験の評価対象となるＰＡＭ信号をサンプリングして該ＰＡＭ信号の波形データを取得し、この取得した波形データに基づいて前記ＰＡＭ信号のアイパターンを表示画面に表示する波形観測装置１であって、
前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域の形とほぼ相似な形状で、前記ＰＡＭ信号のビットレートおよび振幅に対応した大きさのマスクを、前記ＰＡＭ信号の品質評価用の基準マスクとして設定するマスク設定手段４ｂと、
前記マスク設定手段にて設定された基準マスクを前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域と重なりあう位置に表示するマスク表示手段４ｃと、
前記ＰＡＭ信号の各サンプルを閾値との比較によりシンボル値に変換するシンボル解析手段４ｄと、
前記シンボル解析手段にて変換された前記ＰＡＭ信号の各サンプルに対応するシンボル値を保存するシンボル解析メモリ４ｅと、
前記基準マスクの領域内のピクセルに対応するサンプルを違反サンプルとして選択したときに、前記シンボル解析メモリから読み出される前記違反サンプルに対応するシンボル値とその前後のシンボル値の推移を前記表示画面に表示するシンボル遷移表示手段４ｇと、
前記違反サンプルのシンボル値を含む全体のシンボル数を設定する操作部２と、を備えたことを特徴とする。

本発明の請求項２に記載された違反サンプルのシンボル推移の表示方法は、マスクマージン試験の評価対象となるＰＡＭ信号をサンプリングして該ＰＡＭ信号の波形データを取得し、この取得した波形データに基づいて前記ＰＡＭ信号のアイパターンを表示画面に表示する波形観測装置１の違反サンプルのシンボル推移の表示方法であって、
前記波形観測装置のマスク設定手段４ｂが、前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域の形とほぼ相似な形状で、前記ＰＡＭ信号のビットレートおよび振幅に対応した大きさのマスクを、前記ＰＡＭ信号の品質評価用の基準マスクとして設定するステップと、
前記波形観測装置のマスク表示手段４ｃが、前記マスク設定手段にて設定された基準マスクを前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域と重なりあう位置に表示するステップと、
前記波形観測装置のシンボル解析手段４ｄが、前記ＰＡＭ信号の各サンプルを閾値との比較によりシンボル値に変換するステップと、
前記シンボル解析手段にて変換された前記ＰＡＭ信号の各サンプルに対応するシンボル値を前記波形観測装置のシンボル解析メモリ４ｅに保存するステップと、
前記基準マスクの領域内のピクセルに対応するサンプルを違反サンプルとして選択したときに、前記波形観測装置のシンボル遷移表示手段４ｇが、前記シンボル解析メモリから読み出される前記違反サンプルに対応するシンボル値とその前後のシンボル値の推移を前記表示画面に表示するステップと、
前記違反サンプルのシンボル値を含む全体のシンボル数を設定するステップと、を含むことを特徴とする。

本発明によれば、ＰＡＭ信号のマスクマージン試験を行うにあたって、表示画面上に表示される基準マスクの領域内の違反サンプルのシンボルの遷移状態を確認することができる。また、データ信号のシンボル遷移の周波数の傾向を直感的に把握することが可能となり、マスクマージン試験の結果から被測定物（例えば光トランシーバ）の設計への円滑なフィードバックが可能となる。

本発明に係る波形観測装置の概略構成を示すブロック図である。 波形観測対象となる被測定信号（ＰＡＭ２信号）の一例を示す図である。 （ａ）データ信号とサンプリングクロックとの関係を示す図、（ｂ）データ信号のサンプル値の一例を示す図である。 被測定信号（ＰＡＭ２信号）のアイパターンの一例を示す図である。 閾値との比較によりサンプル値をシンボル値に変換した一例を示す図である。 基準マスクの領域内で選択した違反サンプルの遷移状態の表示例を示す図である。 違反サンプルのシンボル推移の表示方法のフローチャートである。 （ａ）高い周波数の遷移の一例を示す被測定信号の一例を示す図、（ｂ）遅い周波数の遷移の一例を示す被測定信号の一例を示す図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

図１に示すように、波形観測装置１は、各種デジタル機器や伝送システムが扱う被測定物（例えば光トランシーバなどの測定対象）からのＰＡＭ信号（ＰＡＭｎ信号：ｎ＝２以上の正の整数）による被測定信号をサンプリングしてアイ波形を表示するサンプリングオシロスコープであり、規格によって定められた基準マスクの領域内に伝送波形が含まれないようにする試験（マスクマージン試験）を行うため、操作部２、波形データ取得部３、演算処理部４、表示部５を備えて概略構成される。

被測定信号は、図２に示すように、一定のシンボル長、周期Ｔごとに同じ波形を繰り返す周期信号（例えばＰＲＢＳパターン）によるＰＡＭ信号（ＰＡＭｎ信号：ｎ＝２以上の正の整数）である。被測定信号は、シンボル長、周期Ｔが操作部２の操作により予め後述するサンプリング制御部１２に設定される。

なお、波形観測装置１に入力される被測定信号は、例えばＮＲＺ信号（ＰＡＭ２信号）のときシンボル値として「０」、「１」の値を取り、ＰＡＭ３信号のときシンボル値として「０」、「１」、「２」の値を取り、ＰＡＭ４信号のときシンボル値として「０」、「１」、「２」、「３」の値を取るが、ＮＲＺ信号、ＰＡＭ３、ＰＡＭ４信号で一連の表示処理は変わらないので、一連の表示処理に関しては主に被測定信号がＮＲＺ信号の場合を図示して説明する。

操作部２は、波形観測および違反サンプルのシンボル推移の表示に必要な各種設定（例えば被測定信号のシンボル長、周期Ｔ、サンプリング間隔、基準マスクに関する情報など）、違反サンプルの選択、各種指示（測定開始・停止の指示など）をユーザの操作により行う。

波形データ取得部３は、例えば図２に示すような被測定信号としてのデータ信号ｘ（ｔ）を被測定物から受け、データ信号ｘ（ｔ）の波形データを取得するものであり、サンプリング部１１、サンプリング制御部１２、波形データメモリ１３を備える。

サンプリング部１１は、操作部２にて設定されたサンプリング間隔で被測定物のデータ信号ｘ（ｔ）をサンプリングするもので、サンプリングクロック発生器１１ａとＡ／Ｄ変換器１１ａから構成される。

サンプリングクロック発生器１１ａは、サンプリング制御部１２の制御により、図３（ａ）に示すように、被測定物のデータ信号ｘ（ｔ）をサンプリングするためのパルス信号であるサンプリングクロックＣ（ｓ）を発生する。

Ａ／Ｄ変換器１１ｂは、サンプリングクロック発生器１１ｂが発生するサンプリングクロックＣ（ｓ）に同期したタイミングで被測定物のデータ信号ｘ（ｔ）のサンプリングを行い、このサンプリングで得られたサンプル値をデジタルのデータＸ（ｋ）に順次変換する（例えば図３（ｂ）のＡ，Ｂ，Ｃ）。

サンプリング制御部１２は、サンプリングクロックＣ（ｓ）の発生タイミングが所定時間Δｔずつ変わるようにサンプリングクロック発生器１１ａを制御する。

波形データメモリ１３は、Ａ／Ｄ変換部１１ｂにて順次変換されたデータＸ（ｋ）の振幅（ｐｏｗｅｒ）・位置（ｉｎｄｅｘ）を保存する。

すなわち、上述した波形データ取得部３では、サンプリング制御部１２にてサンプリングクロックＣ（ｓ）の発生タイミングを所定量Δｔずつ変えながらデータ信号ｘ（ｔ）をＡ／Ｄ変換器１１ｂにてサンプリングクロックＣ（ｓ）のタイミングでサンプリングを複数周期行うことにより、データ信号ｘ（ｔ）のシンボル長分のサンプル値（例えばデータ信号ｘ（ｔ）の１つのシンボルにつき８サンプル）に基づくデジタルのデータＸ（ｋ）を取得し、取得したデータＸ（ｋ）の振幅・位置を波形データメモリ１３に保存する。

演算処理部４は、波形観測に関わる処理を統括するもので、アイパターン表示手段４ａ、マスク設定手段４ｂ、マスク表示手段４ｃ、シンボル解析手段４ｄ、シンボル解析メモリ４ｅ、マスク品質評価手段４ｆを備える。

アイパターン表示手段４ａは、波形データ取得部３にて取得したデータ信号ｘ（ｔ）の波形データに基づいてデータ信号ｘ（ｔ）のアイパターンを表示部５の表示画面に表示する。さらに説明すると、アイパターン表示手段４ａは、波形データメモリ１３に保存されたデータｘ（ｋ）の振幅・位置を参照して、表示部５の表示画面上の対応するピクセルの位置に対し、図４に示すようなデータ信号ｘ（ｔ）のアイパターンの描画を行う。アイパターンは、位置が一定の値で折り返って描画される。

マスク設定手段４ｂは、データ信号ｘ（ｔ）のアイパターンに関する品質評価用の基準マスクを設定する。基準マスクは、形状、横軸（時間軸）、縦軸（振幅軸）が規格や被測定物に応じて設定される。具体的に、基準マスクは、データ信号ｘ（ｔ）のアイパターンで囲まれた領域の外形とほぼ相似な形状（例えば上下の対向する２辺が平行な６角形、４角形、８角形などの多角形、菱形など）であり、横軸（時間軸）方向の大きさがデータ信号ｘ（ｔ）のビットレートに対応（例えば公称周期Ｔｃの０．６倍）し、縦軸（振幅軸）方向の大きさがデータ信号ｘ（ｔ）の振幅に対応（例えばＮＲＺ信号のデータ信号ｘ（ｔ）の公称振幅の１／２）したマスクである。

なお、基準マスクの形状データは、不図示のメモリに予め記憶されており、評価対象のデータ信号ｘ（ｔ）のビットレートや振幅を操作部２から入力し、その入力情報に対応した基準マスクを選択するのが好ましい。

また、ユーザが任意の形状のマスクの外形を決定するパラメータ（マスクの高さ、長さおよび前部、後部のエッジ角など）を操作部２の操作により設定登録しておき、この設定登録したパラメータに基づくマスクを選択することもできる。

マスク表示手段４ｃは、マスク設定手段４ｂにて設定された基準マスクを、表示部５の表示画面上のアイパターンの品質評価に適した特定位置に表示する。

このアイパターンに対する基準マスクの表示位置は、ＮＲＺ信号のデータ信号ｘ（ｔ）の場合、時間方向についてはアイパターンの中央ビットの半周期（Ｔｃ／２）の位置で、振幅方向についてはデータ信号ｘ（ｔ）のデータ「０」の設計電力ＷＬ（例えば０μＷ）とデータ「１」の設計電力ＷＨ（例えば１０００μＷ）の中心の電力（ＷＨ－ＷＬ）／２の位置に基準マスクのセンタ位置が一致するように設定する。

また、ＰＡＭ４信号のデータ信号ｘ（ｔ）の場合、時間軸方向については各アイパターンの中央ビットの半周期（Ｔｃ／２）の位置で、振幅方向についてはデータ「０」の設定電力ＷＬ（例えば０μＷ）とデータ「１」の設計電力ＷＭ１（例えば１０００μＷ）の中心の電力（ＷＭ１－ＷＬ）／２の位置、データ「１」の設定電力ＷＭ１（例えば１０００μＷ）とデータ「２」の設計電力ＷＭ２（例えば２０００μＷ）の中心の電力（ＷＭ２－ＷＭ１／２の位置、データ「２」の設計電力ＷＭ２（例えば２０００μＷ）とデータ「３」の設計電力ＷＨ（例えば３０００μＷ）の中心の電力（ＷＨ－ＷＭ２）／２の位置にそれぞれの基準マスクのセンタ位置が一致するように設定する。

シンボル解析手段４ｄは、閾値との比較に基づいて波形データメモリ１３の波形データの各サンプルをシンボル値に変換する。例えば波形データメモリ１３の波形データが図５の点線で示すＰＡＭ２（ＮＲＺ）信号の場合、波形データの各サンプルは閾値より大きければシンボル値「１」、閾値より小さければシンボル値「０」に変換され、結果として０１０１０１１１００００１１１のシンボル値に変換される。

なお、閾値は、周知の方法や任意の方法で計算して設定されるものであり、データ信号ｘ（ｔ）がＰＡＭ２（ＮＲＺ）信号であればシンボル値「０」、「１」に変換するための１つの閾値が設定され、ＰＡＭ３信号であればシンボル値「０」、「１」、「２」に変換するための２つの閾値が設定され、ＰＡＭ４信号であればシンボル値「０」、「１」、「２」、「３」に変換するための３つの閾値が設定される。

シンボル解析メモリ４ｅは、シンボル解析手段４ｄにて変換された波形データの各サンプルのシンボル値を保存する。

なお、波形データの各サンプルとシンボル値の対応はシンボル解析手段４ｄによって紐付けられてシンボル解析メモリ４ｅに保存されており、表示部５の表示画面上の表示ポイントを操作部２にて選択してサンプルの振幅・位置を指定すれば、指定したサンプルのシンボル値を取得することができる。

マスク品質評価手段４ｆは、データ信号ｘ（ｔ）に対する種々の品質評価処理として、例えばアイパターンとマスクを用いたマスクマージン試験が指定された場合、アイパターンを形成する波形データの所定数Ｐ個の表示ポイントのうち、基準マスクの領域内に入る数を計数し、その計数値に基づいてデータ信号ｘ（ｔ）の品質評価を行い、この品質評価の結果を表示部５の表示画面に表示する。

マスク品質評価手段４ｅは、操作部２の操作により、基準マスクの領域内の任意の表示ポイントを違反サンプルとして選択したときに、アイパターン表示手段４ａから違反サンプルが存在するピクセルに対応する振幅・位置の候補の取得し、この違反サンプルが存在するピクセルに対応する振幅・位置の候補に該当するサンプルの振幅・位置を波形データメモリ１３から取得し、このサンプルの属するシンボル値とその前後のシンボル値をシンボル解析メモリ４ｆから取得する。

シンボル遷移表示手段４ｇは、操作部２の操作により、基準マスクの領域内の任意の表示ポイントを違反サンプルとして選択したときに、マスク品質評価手段４ｅにて取得した違反サンプルと紐付けされるサンプルとその前後のサンプルのそれぞれのシンボル値の推移を表示部５の表示画面に表示する。

表示部５は、例えば液晶表示器などで構成され、データ信号ｘ（ｔ）の波形データに基づくアイパターン、マスク設定手段４ｂにて設定される基準マスク、データ信号ｘ（ｔ）のサンプルを含まないマスク領域、マスク品質評価手段４ｄによるデータ信号ｘ（ｔ）の品質評価の結果、マスクマージンの計算結果、違反サンプルを含むシンボル値の推移などを表示する。

次に、上記のように構成される波形観測装置１の動作として、マスクマージン試験における違反サンプルのシンボル推移の表示方法について図７のフローチャートを参照しながら説明する。

ユーザは、操作部２を操作し、波形観測および違反サンプルのシンボル推移の表示に必要な各種設定として、被測定信号のシンボル長、周期Ｔ、サンプリング周期、基準マスクに関する情報などを設定する（図７のＳＴ１）。

波形データ取得部３は、データ信号ｘ（ｔ）が入力されると、データ信号ｘ（ｔ）のシンボル長分のサンプルに基づくデジタルのデータＸ（ｋ）を取得し、取得したデータＸ（ｋ）の振幅・位置を波形データメモリ１３に保存する（図７のＳＴ２）。

そして、アイパターン表示手段４ａは、波形データ取得部３にて取得したデータ信号ｘ（ｔ）の波形データに基づいてデータ信号ｘ（ｔ）のアイパターンを表示部５の表示画面に表示する（図７のＳＴ３）。

続いて、マスク表示手段４ｃは、マスク設定手段４ｂは、データ信号ｘ（ｔ）のアイパターンに関する品質評価用の基準マスクがマスク設定手段４ｂにて設定されると、表示部５の表示画面上のアイパターンの品質評価に適した特定位置に基準マスクを表示する（図７のＳＴ４）。

また、シンボル解析手段４ｅは、予め操作部２にて設定された閾値との比較に基づいて波形データメモリ１３の波形データの各サンプルをシンボル値に変換し、変換した波形データの各サンプルのシンボル値をシンボル解析メモリ４ｆに保存する（図７のＳＴ５）。

その後、シンボル遷移表示手段４ｇは、ユーザが操作部２の操作により基準マスクの領域内の表示ポイントを違反サンプルとして選択すると（図７のＳＴ６）、選択した違反サンプルのシンボル値およびその前後のシンボル値をシンボル解析メモリ４ｆから読み出し、読み出したシンボル値の推移を表示部５の表示画面に表示する（図７のＳＴ７）。このシンボル値の推移は、少なくとも選択した違反サンプルのシンボル値およびその１つ前後のシンボル値を表示する。

例えば図６の［３－３－２］は、ＰＡＭ４信号のアイパターンにおいて、基準マスクＭ（図６の点線）の領域内の表示ポイントＨＰを違反サンプルとして選択したとき、選択した違反サンプルのシンボル値およびその１つ前後のシンボル値を表示しており、シンボル値が３→３→２の順に変化し、選択した違反サンプルがシンボル値：３に含まれるシンボル推移を示している。

なお、違反サンプルのシンボル値を含むシンボル推移の数は、ユーザが操作部２の操作により設定可能である。例えば違反サンプルのシンボル値を含む全体のシンボル数を１０シンボルに設定すれば、例えば０００００３３３３３といった長い周期のシンボル推移も確認することができる。

このように、本実施の形態では、ＰＡＭ信号のマスクマージン試験を行うにあたって、表示画面上に表示される基準マスクの領域内の違反サンプルを選択することにより、選択した違反サンプルのシンボルの遷移状態を確認することができる。すなわち、選択した違反サンプルがどのシンボル遷移に含まれているサンプルかを表示することで、取得したデータ信号ｘ（ｔ）が高い周波数の遷移（例えばシンボル０→３→０→３→０→３の順番など、時間当たりの変化の多い遷移）の時にサンプリングされたサンプルが違反しているのか、遅い周波数の遷移（例えばシンボル０→０→０→３→３→３など、時間当たりの変化が少ない遷移）のサンプルが違反しているかなどを確認することができる。

また、従来は、データ信号にシンボル遷移があったとしても、どのような周波数の遷移であるかが把握できなかったのに対し、本実施の形態によれば、データ信号のシンボル遷移の周波数の傾向を直感的に把握することが可能となり、マスクマージン試験の結果から被測定物（例えば光トランシーバ）の設計への円滑なフィードバックが可能となる。

ところで、上述した実施の形態では、ＮＲＺ信号を含む２以上のシンボルからなるＰＡＭ信号をデータ信号ｘ（ｔ）としているが、データ信号ｘ（ｔ）としてのＰＡＭ信号のシンボル数が多いほどシンボル遷移の組み合わせが増えるので、より効果を発揮することができる。

以上、本発明に係る波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

１ 波形観測装置
２ 操作部
３ 波形データ取得部
４ 演算処理部
４ａ アイパターン表示手段
４ｂ マスク設定手段
４ｃ マスク表示手段
４ｄ シンボル解析手段
４ｅ シンボル解析メモリ
４ｆ マスク品質評価手段
４ｇ シンボル遷移表示手段
５ 表示部
１１ サンプリング部
１１ａ サンプリングクロック発生器
１１ｂ Ａ／Ｄ変換器
１２ サンプリング制御部
１３ 波形データメモリ
Ｍ 基準マスク
ＨＰ 表示ポイント

Claims (2)

1. マスクマージン試験の評価対象となるＰＡＭ信号をサンプリングして該ＰＡＭ信号の波形データを取得し、この取得した波形データに基づいて前記ＰＡＭ信号のアイパターンを表示画面に表示する波形観測装置（１）であって、
   前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域の形とほぼ相似な形状で、前記ＰＡＭ信号のビットレートおよび振幅に対応した大きさのマスクを、前記ＰＡＭ信号の品質評価用の基準マスクとして設定するマスク設定手段（４ｂ）と、
   前記マスク設定手段にて設定された基準マスクを前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域と重なりあう位置に表示するマスク表示手段（４ｃ）と、
   前記ＰＡＭ信号の各サンプルを閾値との比較によりシンボル値に変換するシンボル解析手段（４ｄ）と、
   前記シンボル解析手段にて変換された前記ＰＡＭ信号の各サンプルに対応するシンボル値を保存するシンボル解析メモリ（４ｅ）と、
   前記基準マスクの領域内のピクセルに対応するサンプルを違反サンプルとして選択したときに、前記シンボル解析メモリから読み出される前記違反サンプルに対応するシンボル値とその前後のシンボル値の推移を前記表示画面に表示するシンボル遷移表示手段（４ｇ）と、
   前記違反サンプルのシンボル値を含む全体のシンボル数を設定する操作部（２）と、を備えたことを特徴とする波形観測装置。
2. マスクマージン試験の評価対象となるＰＡＭ信号をサンプリングして該ＰＡＭ信号の波形データを取得し、この取得した波形データに基づいて前記ＰＡＭ信号のアイパターンを表示画面に表示する波形観測装置（１）の違反サンプルのシンボル推移の表示方法であって、
   前記波形観測装置のマスク設定手段（４ｂ）が、前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域の形とほぼ相似な形状で、前記ＰＡＭ信号のビットレートおよび振幅に対応した大きさのマスクを、前記ＰＡＭ信号の品質評価用の基準マスクとして設定するステップと、
   前記波形観測装置のマスク表示手段（４ｃ）が、前記マスク設定手段にて設定された基準マスクを前記ＰＡＭ信号のアイパターンで囲まれる領域と重なりあう位置に表示するステップと、
   前記波形観測装置のシンボル解析手段（４ｄ）が、前記ＰＡＭ信号の各サンプルを閾値との比較によりシンボル値に変換するステップと、
   前記シンボル解析手段にて変換された前記ＰＡＭ信号の各サンプルに対応するシンボル値を前記波形観測装置のシンボル解析メモリ（４ｅ）に保存するステップと、
   前記基準マスクの領域内のピクセルに対応するサンプルを違反サンプルとして選択したときに、前記波形観測装置のシンボル遷移表示手段（４ｇ）が、前記シンボル解析メモリから読み出される前記違反サンプルに対応するシンボル値とその前後のシンボル値の推移を前記表示画面に表示するステップと、
   前記違反サンプルのシンボル値を含む全体のシンボル数を設定するステップと、を含むことを特徴とする違反サンプルのシンボル推移の表示方法。

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